TWI815413B - 測試裝置 - Google Patents

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TWI815413B TW111115551A TW111115551A TWI815413B TW I815413 B TWI815413 B TW I815413B TW 111115551 A TW111115551 A TW 111115551A TW 111115551 A TW111115551 A TW 111115551A TW I815413 B TWI815413 B TW I815413B
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Abstract

本發明的測試裝置包括測定部，該測定部針對將待測試設備所具有的複數個端子分組所得到的複數個端子組中的具有兩個以上的端子的至少一個端子組內的端子中的每一者的輸出值與複數個端子中的該至少一個端子組中的每一者的基準端子的輸出值的差分值進行測定，複數個端子組形成至少一個在兩個以上的端子組間輪流使用基準端子的連鎖關係，測定部在連鎖關係中的相鄰的兩個端子組之間，分別針對一個端子組使用另一端子組內的任一端子，來作為基準端子。

Description

測試裝置
本發明關於一種測試裝置。
在專利文獻1中，記載「各輸出銷的電壓是藉由將所測得之電壓差自第n個電壓測定單元V un依次累加而獲得」（第0007段）。 [先前技術文獻] (專利文獻) 專利文獻1:日本特開平8-62307號公報。
在本發明的第一態樣中，提供一種測試裝置。測試裝置可以包括測定部，該測定部針對將待測試設備所具有的複數個端子分組所得到的複數個端子組中的具有兩個以上的端子的至少一個端子組內的端子中的每一者的輸出值、與複數個端子中的該至少一個端子組中的每一者的基準端子的輸出值的差分值進行測定。
複數個端子組可以形成在兩個以上的端子組間輪流使用基準端子的至少一個連鎖關係。測定部可以在連鎖關係中的相鄰的兩個端子組之間，分別針對一個端子組使用另一端子組內的任一端子，來作為基準端子。
測定部可以對各連鎖關係中的一端的端子組內的端子中的每一者的輸出值進行測定。
測定部可以具有切換部，該切換部切換成針對一端的端子組內的端子中的每一者在第一測定範圍內測定輸出值或者在比第一測定範圍更窄的第二測定範圍內測定輸出值。
至少一個端子組中的每一者可以包括在任意的連鎖關係中。
測試裝置可以包括第二切換部，該第二切換部使連鎖關係中的一端與另一端反轉。
測定部可以具有切換部，該切換部切換成針對至少一個端子組內的端子中的每一者測定差分值或者測定輸出值。
切換部可以切換成針對至少一個端子組內的端子中的每一者測定差分值、在第一測定範圍內測定輸出值、或者在比第一測定範圍更窄的第二測定範圍內測定輸出值。
測定部可以具有增益可變的複數個放大部，該放大部將來自所對應之端子的輸出值與其他值的差分放大。測定部可以具有複數個輸出部，該輸出部輸出與放大後的值相應之測定值。各放大部的增益在由切換部切換為於第一測定範圍內測定輸出值時，小於未進行該切換時。
測試裝置可以包括第三切換部，該第三切換部切換成將複數個端子的任意端子連接於測定部。
測試裝置可以包括判斷部，該判斷部基於測定部的測定結果，判斷該待測試設備的優劣。
待測試設備可為具有控制顯示器的複數個像素的複數個端子的顯示器驅動器。輸出值可為以電壓的大小表示之值。
再者，上述發明內容並未列舉本發明的所有必要特徵。又，該等特徵組的次組合亦可構成發明。
以下，透過發明的實施方式說明本發明，但以下實施方式並不會限定申請專利範圍的發明。又，並非實施方式中所說明之特徵的全部組合均為發明的解決手段所必不可少的。
[1.測試系統1] 第1圖示出本實施方式的測試系統1。測試系統1包括待測試設備100及測試裝置200。
[1-1.待測試設備100] 待測試設備100具有複數個端子10，而來自端子10的輸出由測試裝置200測試。待測試設備100可以從各端子10進行複數個階度（作為一例，為256階度、1024階度或4096階度等）的輸出。待測試設備100可為具有控制顯示器（未圖示）的複數個像素的複數個端子10的顯示器驅動器。各端子可以輸出單端訊號。單端訊號可為藉由高於或低於某一基準（作為一例，為零）而表現出訊號值的訊號。各端子10與構成顯示器的像素的任一顯示顏色對應，待測試設備100中的端子10的排列可以對應於顯示器內的對應像素的排列。
複數個端子10可以藉由測試裝置200分組成複數個端子組11。例如，複數個端子10可以根據待測試設備100內的端子10的位置來分組。又，各端子組11中所包括的端子10彼此可以相互接近地配置於待測試設備100內。再者，各端子組11可以包括至少一個端子10。又，各端子組11可以包括相同數量的端子10，亦可以包括不同數量的端子10。
[1-2.測試裝置200] 測試裝置200測試待測試設備100的優劣。測試裝置200具有試驗控制器201、測定部202及判斷部203。
[1-2-1.試驗控制器201] 試驗控制器201控制測試裝置200的各部分，且使待測試設備100進行與測試條件相應之動作。例如，試驗控制器201可以藉由將試驗圖案訊號供給至待測試設備100，而使與所指定之階度相應的輸出值從至少部分的端子10以所需時序輸出。從端子10輸出的輸出值可以供給至用於傳輸輸出值的傳輸路徑Ch。再者，試驗控制器201可以藉由處理器等執行軟體來實現。
[1-2-2.測定部202] 測定部202可以經由傳輸路徑Ch與端子10連接。測定部202可以針對複數個端子組11中的具有兩個以上端子10的至少一個端子組11（亦稱為非代表端子組11H）內的端子10（亦稱為非代表端子10H）中的每一者的輸出值、與複數個端子10中的該非代表端子組11H中的每一者的基準端子10K的輸出值的差分值進行測定。每一非代表端子組11H的基準端子10K可以不同。針對一個非代表端子組11H的差分值測定中所使用之基準端子10K可為與該一個非代表端子組不同的端子組11的端子。再者，在本實施方式中，作為一例，來自端子10的輸出值可以作為相對於基準值（作為一例，為零）的差分來測定。又，來自端子10的輸出值可為以電壓的大小表示之值。
此處，複數個端子組11可以形成在兩個以上的端子組11間輪流使用基準端子10K的至少一個連鎖關係。在第1圖中，作為一例，所有端子組11在圖中的上下方向形成一個連鎖關係。再者，當兩個端子組11形成連鎖關係時，在該兩個端子組11間輪流使用基準端子10K可以是針對一個端子組11使用另一端子組11內的端子10來作為基準端子10K。連鎖關係中的相鄰的端子組11彼此可以相互相鄰地配置於待測試設備100內，換言之，可以對應於顯示器中的相互相鄰的像素。
測定部202可以在形成端子組11的連鎖關係時，在連鎖關係中的相鄰的兩個端子組11間，分別針對一個端子組11使用另一端子組11內的任一端子10來作為基準端子10K，來進行差分值的測定。
又，測定部202可以進一步測定各連鎖關係中的一端的端子組11（亦稱為代表端子組11D）內的端子10（亦稱為代表端子10D）中的每一者的輸出值。代表端子組11D可為與非代表端子組11H不同的端子組11。作為一例，代表端子10D相對於待測試設備100的所有端子10的比例可為1/64至1/4。
如此，針對連鎖關係的一端的代表端子組11D內的端子10測定輸出值，在連鎖關係中輪流使用基準端子，來測定差分值，藉此，能夠針對連鎖關係中所包括的各非代表端子組11H內的端子10算出輸出值。在本實施方式中，作為一例，非代表端子組11H中的每一者可以包括在任意的連鎖關係中。例如，非代表端子組11H中的每一者可以包括在任意一個連鎖關係中。當包括一個非代表端子組11H而形成複數個連鎖關係時，該一個非代表端子組11H亦可以分別包括在該複數個連鎖關係中。
再者，為了算出連鎖關係中的非代表端子組11H內的端子10的輸出值，例如，針對該非代表端子組11H內的非代表端子10H的差分值，在連鎖關係中的一端側依次將針對相鄰的各非代表端子組11H內的基準端子10K測定之差分值以及針對連鎖關係中的一端的代表端子組11D內的基準端子測定之輸出值累加即可。
測定部202可以將測定結果供給至判斷部203。例如，測定部202可以將差分值或訊號值的類比值轉換為數位值，並供給至判斷部203。
[1-2-3.判斷部203] 判斷部203基於測定部202的測定結果，判斷待測試設備100的優劣。判斷部203可以基於所測得之差分值，判斷待測試設備100的優劣，例如可以基於非代表端子10H中的每一者的差分值是否在第一基準範圍內，判斷待測試設備100的優劣。又，判斷部203亦可以進一步基於代表端子10D中的每一者的輸出值是否在第二基準範圍內及代表端子10D中的每一者的輸出值之間的差分值是否在第三基準範圍內中的至少一者，判斷待測試設備100的優劣。判斷部203可以輸出表示待測試設備100的優劣之判斷結果。再者，判斷部203可以藉由處理器等執行軟體來實現。
根據以上測試裝置200，針對具有兩個以上的端子10的非代表端子組11H內的端子10中的每一者的輸出值與該非代表端子組11H的基準端子10K的輸出值的差分值進行測定，來進行測試。因此，針對非代表端子組11H內的兩個以上的端子10，可以使用共同的基準端子10K測定差分值，來進行測試。由此，與輪流使用各端子10作為其他端子10的基準端子10K來測定差分值時不同，能夠減少用於根據差分值算出輸出值之累加次數，故能夠容易地算出輸出值。又，藉由減少累加次數，能夠減少包括於差分值或輸出值的測定中產生之雜訊而算出之輸出值的數量，故能夠提高使用所算出之輸出值時的測試精度。
又，藉由利用差分值的測定結果進行測試，能夠減少測定輸出值之次數以及進而因雜訊的影響而測定異常值之次數，故能夠提高測試精度。又，無需為進行減少異常值的影響之平均化而增加測定次數，故能夠縮短測試時間。
又，形成在兩個以上的端子組11間輪流使用基準端子10K的至少一個連鎖關係，且在連鎖關係中的相鄰的兩個端子組11之間，分別針對一個端子組11使用另一端子組11內的任一端子10，來作為基準端子10K。因此，能夠對連鎖關係中所包括的各組依次算出來自端子10的輸出值。
又，針對位於各連鎖關係的一端的代表端子組11D內的端子10中的每一者的輸出值進行測定，因此，能夠利用該輸出值的差分值，算出連鎖關係中所包括的各端子組11內的各端子10的輸出值。
又，非代表端子組11H中的每一者包括在任意的連鎖關係中，因此，能夠針對非代表端子組內的端子10中的每一者算出輸出值。
[1-3.測定部202的構成例] 第2圖至第4圖一併示出測定部202及端子10。
在本構成例中，作為一例，待測試設備100具有1536個端子10，在第2圖至第4圖中，示出以其中連接於傳輸路徑Ch (1)～Ch (32)之32個端子10（亦稱為端子10 (1)～10 (32)）為測定對象之部分測定部202的構成。針對32個端子10中的每一個，測定部202可以在不同基板（未圖示）上具有同樣的構成。傳輸路徑Ch (n)可以將來自各端子10 (n)的輸出值供給至測定部202。再者，端子10 (1)等的記載中的下標的括號內的數字1～32可以表示所對應之傳輸路徑Ch的編號。下標中的括號內的n可以表示1～32的任一整數。在本構成例中，端子10的個數及測定部202中的各構成的個數亦可為其他數量。
端子10 (1)～10 (32)可以分組成各包括四個端子10的八個端子組11（亦稱為端子組11 G1～11 G8）。再者，下標G1～G8表示端子組11的編號。又，各端子組11中的端子10的個數可以對應於下述放大部220的聚集個數。
端子組11 G1～11 G8可以形成輪流使用基準端子10K的單一連鎖關係。連鎖關係的一端的端子組11 G8可為代表端子組11D，其他端子組11 G1～11 G7可為非代表端子組11H。
端子組11 G1內的端子10 (1)～10 (4)的基準端子10K可為端子組11 G2內的端子10 (5)。同樣地，端子組11 G2內的端子10 (5)～10 (8)的基準端子10K可為端子組11 G3內的端子10 (9)。端子組11 G3內的端子10 (9)～10 (12)的基準端子10K可為端子組11 G4內的端子10 (13)。端子組11 G4內的端子10 (13)～10 (16)的基準端子10K可為端子組11 G5內的端子10 (17)。端子組11 G5內的端子10 (17)～10 (20)的基準端子10K可為端子組11 G6內的端子10 (21)。端子組11 G6內的端子10 (21)～10 (24)的基準端子10K可為端子組11 G7內的端子10 (25)。端子組11 G7內的端子10 (25)～10 (28)的基準端子10K可為端子組11 G8內的端子10 (29)。
測定部202可以具有複數個放大部220（亦稱為放大部220 (n)）及複數個輸出部221（亦稱為輸出部221 (n)），在本構成例中，作為一例，針對每一傳輸路徑Ch，可以具有放大部220及輸出部221。又，測定部202可具有一個或複數個切換部222（亦稱為切換部222 (n)）。
[1-3-1.放大部220] 各放大部220 (n)將來自所對應之端子10 (n)的輸出值與其他值的差分放大。各放大部220 (n)針對所對應之輸出部221 (n)供給放大後的值。各放大部220的增益是可變的。
在本構成例中，作為一例，各放大部220 (n)可為運算放大器等的差動放大器，可以每四個聚集配置在基板上。針對各放大部220 (n)的非反轉輸入端子，可以經由所對應之傳輸路徑Ch (n)輸入端子10 (n)的輸出值。例如，在第2圖中，將放大部220 (1)～220 (4)聚集，並針對該等非反轉輸入端子經由傳輸路徑Ch (1)～Ch (4)輸入端子組11 G1內的端子10 (1)～10 (4)的輸出值。同樣地，在第3圖中，將放大部220 (5)～220 (8)聚集，並針對該等非反轉輸入端子經由傳輸路徑Ch (5)～Ch (8)輸入端子組11 G2內的端子10 (5)～10 (8)的輸出值。並且，在第4圖中，將放大部220 (29)～220 (32)聚集，並針對該等非反轉輸入端子經由傳輸路徑Ch (29)～Ch (32)輸入端子組11 G8內的端子10 (29)～10 (32)的輸出值。再者，在圖中，為進行簡化，針對反轉輸入端子附上意指反轉之圓圈，以與非反轉輸入端子加以區分。
輸入至各放大部220 (n)的反轉輸入端子之值在測定端子10 (n)的輸出值時，作為一例，可為接地電壓等的基準值，在測定差分值時，可為基準端子10K的輸出值。該等值可以由切換部222 (n)進行切換。
[1-3-2.輸出部221] 各輸出部221 (n)輸出與由所對應之放大部220 (n)放大後的值相應之測定值。在本構成例中，作為一例，輸出部221可為16位元等的AD轉換器，可以將放大後的類比值轉換為數位值，並作為測定值進行輸出。輸出部221可以將測定值供給至判斷部203。
[1-3-3.切換部222] 一個或複數個切換部222 (n)切換針對連接於所對應之傳輸路徑Ch (n)之端子10 (n)的測定模式。例如，各切換部222可以與任一端子組11內的端子一一對應，且針對所對應之端子組11內的端子10切換測定模式。在本構成例中，作為一例，測定部202具有與端子10 (1)～10 (32)相同數量的切換部222 (1)～220 (32)，而該等切換部222 (1)～220 (32)可以針對各端子組11內的端子10 (1)～10 (32)切換測定模式。
各切換部222可以在測定差分值之差動測定模式、第一測定範圍內測定輸出值之大振幅測定模式、比第一測定範圍更窄的第二測定範圍內測定輸出值之高感度測定模式中的至少兩個之間切換測定模式。再者，在高感度測定模式下，可以在相互幅度相等且上下限值不同的複數個（在本構成例中，作為一例，為四個或五個）第二測定範圍中的任一範圍內測定輸出值。複數個第二測定範圍中的每一者的至少一部分可以包含在第一測定範圍內。又，複數個第二測定範圍可以相互部分重合。
在本構成例中，作為一例，如第2圖及第3圖所示，與端子組11 G1 ～G7的端子10 (1)～10 (28)、即非代表端子組11H內的各非代表端子10H對應之各切換部222 (1)～222 (28)可以針對該端子組11 G1～11 G7內的端子10 (1)～10 (28)中的每一者切換成以差動測定模式、大振幅測定模式及高感度測定模式中的哪一種進行測定。藉此，利用各切換部222 (1)～222 (28)切換成測定差分值或測定輸出值。再者，各切換部222 (1)～222 (28)亦可以在差動測定模式與大振幅測定模式或高感度測定模式的兩個模式之間進行切換。各切換部222 (1)～222 (28)可以在以高感度測定模式進行測定時，進一步切換成在複數個第二測定範圍中的任意範圍內測定輸出值。
又，如第4圖所示，與端子組11 G8的端子10 (29)～10 (32)、即代表端子組11D內的各代表端子10D對應之各切換部222 (29)～222 (32)針對該端子組11 G8內的端子10 (29)～10 (32)中的每一者切換成以大振幅測定模式及高感度測定模式中的任意者進行測定。各切換部222 (29)～222 (32)可以在以高感度測定模式進行測定時，進一步切換成在複數個第二測定範圍中的任意範圍內測定輸出值。
各切換部222 (n)可以具有多工器223 (n)及變更部224 (n)，且可以根據接收到指示應使用的測定模式之訊號（亦稱為測定模式指示訊號），而切換測定模式。測定模式指示訊號可以根據由使用者在測試程式中描述的條件設置，從試驗控制器201供給至切換部222。
[1-3-3(1).多工器223]
多工器223(n)根據測定模式指示訊號，切換所對應之放大部220(n)的反轉輸入端子的連接處。
(與非代表端子10H對應之多工器223)
與作為非代表端子10H之端子10(1)~10(28)對應之多工器223(n)在接地電壓GND、四個基準電壓Vref1~Vref4中的任一個、及與連接於所對應之傳輸路徑Ch(n)之端子10(在本構成例中，作為一例，為端子10(n))的端子組11對應之基準端子10K的輸出值的傳輸路徑Ch之間切換連接處。
例如，多工器223(n)可以在由測定模式指示訊號指示應用大振幅測定模式時，將接地電壓GND連接於所對應之放大部220(n)的反轉輸入端子。藉此，在放大部220(n)及輸出部221(n)中，能夠測定以接地電壓GND為基準之端子10(n)的輸出電壓。
又，多工器223(n)可以在由測定模式指示訊號指示應用差動測定模式時，將與所對應之端子10(n)的端子組11對應之基準端子10K的輸出值的傳輸路徑Ch連接於所對應之放大部220(n)的反轉輸入端子。藉此，在放大部220(n)及輸出部221(n)中，能夠測定以基準端子10K的輸出值為基準之端子10(n)的輸出電壓、即端子10(n)的輸出值與基準端子10K的輸出值的差分值。
又，多工器223(n)可以在由測定模式指示訊號指示應用高感度測定模式時，將基準電壓Vref1~Vref4中 由測定模式指示訊號指示之任一基準電壓連接於所對應之放大部220(n)的反轉輸入端子。藉此，在放大部220(n)及輸出部221(n)中，能夠測定以基準電壓Vref1~Vref4為基準之端子10(n)的輸出電壓。
此處，基準電壓Vref1~Vref4可以均為高於接地電壓GND的電壓，且可以逐漸增大。藉此，在高感度測定模式下的輸出值的測定範圍、即複數個(此處為四個)第二測定範圍中的每一者逐漸增大。再者，在本構成例中，作為一例，基準電壓Vref1~Vref4是以接地電壓GND及基準電壓Vref1~Vref4為等間隔之方式設定為固定值，但基準電壓Vref1~Vref4亦可以分別是可變的。
再者，在本構成例中，作為一例，如第2圖所示，向多工器223(1)~223(4)指示應用差動測定模式，而與端子10(1)~10(4)的端子組11G1對應之基準端子10(5)的傳輸路徑Ch(5)連接於放大部220(1)~220(4)的反轉輸入端子。
又，如第3圖所示，向多工器223(5)~223(8)指示應用差動測定模式，而與端子10(5)~10(8)的端子組11G2對應之基準端子10(9)的傳輸路徑Ch(9)連接於放大部220(5)~220(8)的反轉輸入端子。
之後，同樣地，在本構成例中，分別向多工器223(9)~223(12)、223(13)~223(16)、223(17)~223(20)、223(21)~223(24)、223(25)~223(29)指示應用差動測定模式，而與端子組11G2~11G7對應之基準端 子10(13)、10(17)、10(21)、10(25)、10(29)的傳輸路徑Ch(13)、Ch(17)、Ch(21)、Ch(25)、Ch(29)分別連接於放大部220(9)~220(12)、220(13)~220(16)、220(17)~220(20)、220(21)~220(24)、220(25)~220(29)的反轉輸入端子。
(與代表端子10D對應之多工器223)
與代表端子10D(29)~10D(32)對應之多工器223(n)可以在接地電壓GND與五個基準電壓Vref11~Vref15中的任一者之間切換連接處。
例如，多工器223(n)可以在由測定模式指示訊號指示應用大振幅測定模式時，將接地電壓GND連接於所對應之放大部220(n)的反轉輸入端子。藉此，在放大部220(n)及輸出部221(n)中，能夠測定以接地電壓GND為基準之端子10(n)的輸出電壓。
又，多工器223(n)可以在由測定模式指示訊號指示應用高感度測定模式時，將基準電壓Vref11~Vref15中由測定模式指示訊號指示之任一基準電壓連接於所對應之放大部220(n)的反轉輸入端子。藉此，在放大部220(n)及輸出部221(n)中，能夠測定以基準電壓Vref11~Vref15為基準之端子10(n)的輸出電壓。
此處，基準電壓Vref11~Vref15可以均為高於接地電壓GND的電壓，且可以逐漸增大。藉此，在高感度測定模式下的輸出值的測定範圍、即複數個(此處為五個)第二測定範圍中的每一者逐漸增大。再者，在本構成例中，作為一例，基準電壓Vref11～Vref15是以接地電壓GND及基準電壓Vref11～Vref15為等間隔之方式設定為固定值，但基準電壓Vref11～Vref15亦可以分別是可變的。基準電壓Vref11～Vref15中的任一者亦可以等於基準電壓Vref1～Vref4中的任一者。
在本構成例中，作為一例，如第4圖所示，向多工器223 (29)～223 (32)指示應用高感度測定模式，而基準電壓Vref15連接於放大部220 (29)～220 (32)的反轉輸入端子。
再者，基準電壓Vref1～Vref4、Vref11～Vref15的電壓源（未圖示）可以在複數個基板之間共用，而未搭載於與32個端子10分別對應之上述基板的任一者上，且能夠針對該等基板上的各放大部220的反轉輸入端子供給基準電壓。取而代之，基準電壓Vref1～Vref4、Vref11～Vref15的電壓源亦可以搭載於與32個端子10 (1)～10 (32)對應之上述基板上，且能夠針對該基板上的各放大部220 (1)～220 (32)的反轉輸入端子供給基準電壓Vref1～Vref4、Vref11～Vref15。此時，基準電壓Vref1～Vref4、Vref11～Vref15亦可以根據基板的接地電位而變動。
[1-3-3(2).變更部224] 變更部224 (n)是根據測定模式指示訊號而變更放大部220 (n)的增益。變更部224 (n)可以在藉由切換部222 (n)而應用大振幅測定模式時，使增益小於未應用大振幅測定模式時（在本構成例中，作為一例，為應用高感度測定模式或差動測定模式時）。應用大振幅測定模式時的增益可為應用其他測定模式時的增益的十分之一，作為一例，前者的增益可為0.2，後者的增益可為2。
藉此，當藉由切換部222 (n)而應用大振幅測定模式時，即當切換成在第一測定範圍內測定輸出值時，放大部220 (n)的增益小於未進行該切換時，其結果是，大振幅測定模式下的測定範圍、即第一測定範圍較大，而能夠在更大的測定範圍內進行測定。
另一方面，當藉由切換部222 (n)而應用高感度測定模式時，即當切換成在第二測定範圍內測定輸出值時，放大部220 (n)的增益較大，其結果是，能夠以高感度進行測定，又，高感度測定模式下的測定範圍、即四個第二測定範圍中的每一者小於大振幅測定模式下的測定範圍、即第一測定範圍。再者，在本實施方式中，如上所述，複數個第二測定範圍中的每一者藉由利用多工器223選擇基準電壓Vref1～Vref4而逐漸增大，但可以均落入第一測定範圍內之大小。
又，當由切換部222 (n)切換成應用差動測定模式時，放大部220 (n)的增益較大，其結果是，能夠以高感度進行測定，而差動測定模式下的測定範圍的大小是與第二測定範圍相同的大小。
根據以上測定部202，因為針對作為代表端子10D之端子10 (29)～10 (32)中的每一者切換成利用大振幅測定模式在第一測定範圍內測定輸出值或者利用高感度測定模式在比該第一測定範圍更窄的第二測定範圍內測定輸出值，所以能夠確實地測定包含在第一測定範圍內之輸出值，且以高感度測定包含在第二測定範圍內之輸出值。
又，因為切換成針對作為非代表端子10H之端子10 (1)～10 (28)中的每一者測定差分值或者測定輸出值，所以能夠針對非代表端子10H適當地測定輸出值，而非差分值。
又，因為進一步切換成針對作為非代表端子10H之端子10 (1)～10 (28)中的每一者在第一測定範圍內測定輸出值或者在比該第一測定範圍更窄的第二測定範圍內測定輸出值，所以亦能夠針對非代表端子10H確實地測定包含在第一測定範圍內之輸出值，且以高感度測定包含在第二測定範圍內之輸出值。
又，因為當未切換成在第一測定範圍內測定輸出值時，增益較大，所以能夠在高感度測定模式及差動測定模式下以高感度進行測定。又，因為在高感度測定模式及差動測定模式下會獲取到放大後的測定結果，所以能夠相對減少附加於測定結果中的雜訊，從而提高測試精度。
[2.動作] 第5圖示出測試裝置200的動作。測試裝置200是藉由步驟S11～S29的處理而針對待測試設備100進行測試。
在步驟S11中，試驗控制器201針對各端子10設定輸出對象的階度及輸出時序。作為一例，當首次進行步驟S11時，試驗控制器201可以將階度設定為最小值。當第二次及之後進行步驟S11時，試驗控制器201可以將階度設定為較上次步驟S11大一級的值。試驗控制器201可以將非代表端子10H及其基準端子10K的輸出時序設為下述步驟S13的處理時序，並且將代表端子10D的輸出時序設為下述步驟S15的處理時序。藉此，端子10以步驟S13、S15的時序進行輸出。
在步驟S13中，測定部202針對非代表端子組11H內的非代表端子10H中的每一者的輸出值與和該非代表端子組11H對應之共同的基準端子10K的輸出值的差分值進行測定。測定部202可以在連鎖關係中的相鄰的兩個端子組11之間，分別針對一個端子組11使用另一端子組11內的任一端子10，來作為基準端子10K。測定部202可以在作為顯示器驅動器的待測試設備100的複數個端子10中與在顯示器內的相互相鄰的像素對應之端子10之間測定差分值。測定部202可以使未圖示之記憶裝置記憶非代表端子10H中的每一者的差分值。
在步驟S15中，測定部202測定代表端子10D中的每一者的輸出值。測定部202可以測定各連鎖關係中的一端的端子組11內的端子10中的每一者的輸出值。測定部202可以在大振幅測定模式下進行測定，亦可以在高感度測定模式下進行測定。作為一例，測定部202可以在第一測定範圍內利用大振幅測定模式進行測定後，在複數個第二測定範圍中的包括在大振幅測定模式下測得之輸出值的第二測定範圍內，利用高感度測定模式進行測定。測定部202可以使記憶裝置記憶代表端子10D中的每一者的輸出值。再者，步驟S15的處理可以與步驟S13並行地同時進行。在該情況下，與依次進行步驟S13、S15的處理時相比，測試時間得以縮短。
在步驟S17中，試驗控制器201判斷是否已經針對所有階度進行測定。當判斷出針對一個以上的階度未進行測定時（步驟S17中為No），可以使處理移至步驟S11。藉此，利用步驟S11～15，使複數個端子10進行各階度的輸出，並進行測定。當判斷出已針對所有階度進行測定時（步驟S17中為Yes），可以使處理移至步驟S21。
在步驟S21中，判斷部203可以從記憶裝置讀取各階度下的測定結果，且比較非代表端子10H的差分值與第一基準範圍的邊界值。第一基準範圍可為由以下式(1)或式(2)所示之範圍。式中，a可為正實數。a的值可固定，而不依賴於測定差分值時的輸出對象的階度，亦可為根據階度而不同的值。 －a≦差分值≦a  （式(1)） |差分值|≦a  （式(2)）
當使用式(1)進行比較時，判斷部203可以將所測得之複數個差分值分別與第一基準範圍的上限值a、下限值－a進行比較，亦可以將所測得之複數個差分值中最大及最小的差分值與第一基準範圍的上限值a、下限值－a進行比較。又，當使用式(2)進行比較時，判斷部203可以算出所測得之複數個差分值的絕對值，且與第一基準範圍的上限值a分別進行比較，亦可以將所算出之絕對值的最大值與上限值a進行比較。
在步驟S23中，判斷部203可以比較代表端子10D的輸出值與第二基準範圍的邊界值。第二基準範圍可為由以下式(3)所示之範圍。再者，式中，b、c可為實數。b、c的值可以根據測定輸出值時的輸出對象的階度來設定。 b≦輸出值≦c  （式(3)）
判斷部203可以將所測得之複數個輸出值與第二基準範圍的上下限值b、c分別進行比較，亦可以將所測得之複數個輸出值中的最大及最小的輸出值與第二基準範圍的上限值b、下限值c進行比較。
在步驟S25中，判斷部203可以比較代表端子10D的輸出值之間的差分值與第三基準範圍的邊界值。第三基準範圍可為由以下式(4)或式(5)所示之範圍，判斷部203可以與上述步驟S21同樣地進行判斷。式中，d可為正實數，可以與式(1)、式(2)的a為相同的值，亦可為不同的值。d的值可以是固定的，而不依賴於測定差分值時的輸出對象的階度，亦可以根據階度的不同而為不同的值。 －d≦差分值≦d  （式(4)） |差分值|≦d  （式(5)）
在步驟S29中，判斷部203判斷在步驟S21～S25中的每一者中的差分值或輸出值是否在基準範圍內。藉此，基於非代表端子10H各自的差分值是否在第一基準範圍內，判斷待測試設備100的優劣。又，進一步基於代表端子10D各自的輸出值是否在第二基準範圍內、及代表端子10D中的每一者的輸出值之間的差分值是否在第三基準範圍內，判斷待測試設備100的優劣。
判斷部203可以基於各階度下的測定結果進行判斷。在本實施方式中，作為一例，判斷部203可以判斷於針對各階度反復進行之步驟S21～S25中的每一者中的差分值或輸出值是否在範圍內。
當判斷出在步驟S21～S25中的一個以上的步驟中的差分值或輸出值為範圍外時（步驟S29中為No），判斷部203可以將待測試設備100視為不良品，並輸出Fail判斷。當判斷出在所有步驟S21～S25中的差分值或輸出值均在範圍內時（步驟S29中為Yes），判斷部203可以將待測試設備100視為良品，並輸出Pass判斷。
根據以上動作，針對非代表端子10H中的每一者測定以基準端子10K的輸出值為基準之差分值，且基於所測得之差分值是否在第一基準範圍內，判斷待測試設備100的優劣，因此，可以將於端子10間輸出值的差分值在第一基準範圍外的待測試設備100視為不良。又，藉由利用差分值的測定結果進行測試，能夠減少測定輸出值之次數以及進而因雜訊的影響而測定異常值之次數，故能夠提高測試精度。又，無需為進行減少異常值的影響之平均化而增加測定次數，故能夠縮短測試時間。又，並非必須藉由測定或算出來獲取所有端子10的輸出值，便能夠進行測試，故能夠進一步縮短測試時間。
又，因為在與顯示器內的相互相鄰的像素對應之端子10之間測定差分值，故能夠將未能針對相互相鄰的像素進行適當的輸出而容易被識別出顯示不均之待測試設備100視為不良。
又，因為進一步測定複數個端子10中代表端子10D中的每一者的輸出值，且進一步基於該代表端子10D中的每一者的輸出值是否在第二基準範圍內、及該代表端子10D各自的輸出值之間的差分值是否在第三基準範圍內，來判斷優劣，故能夠進一步提高測試精度。
又，針對具有兩個以上的端子10之非代表端子組11H內的端子10中的每一者的輸出值與和該端子組11對應之共同的基準端子10K的輸出值的差分值進行測定，來進行測試。因此，針對非代表端子組11H內的兩個以上的端子10，可以使用共同的基準端子10K測定差分值，來進行測試。由此，與輪流使用各端子10作為其他端子10的基準端子10K來測定差分值時不同，能夠減少用於根據差分值算出輸出值之累加次數，故能夠容易地算出輸出值。又，藉由減少累加次數，能夠減少包括於差分值或輸出值的測定中產生之雜訊而算出之輸出值的數量，故能夠提高使用所算出之輸出值時的測試精度。
又，形成在兩個以上端子組11間輪流使用基準端子10K的至少一個連鎖關係，且在連鎖關係中的相鄰的兩 個端子組11之間，分別針對一個端子組11使用另一端子組11內的任一端子10，來作為基準端子10K。因此，能夠對連鎖關係中所包括的各組依次算出來自端子10的輸出值。
又，針對位於各連鎖關係的一端的代表端子組內的端子10中的每一者的輸出值進行測定，因此，能夠利用該輸出值的差分值，算出連鎖關係中所包括的各端子組11內的各端子10的輸出值。
[3.變化例]
第6圖示出變化例(1)的測試系統1A。再者，在本變化例(1)及下述變化例(2)中，針對與第1圖至第5圖所示之測試系統1的動作大致相同的元件標註同一符號，並省略其說明。測試系統1A的測試裝置200A進而包括一個或複數個切換部222A。
一個或複數個切換部222A為第三切換部的一例，切換成將複數個端子10的任意端子10連接於測定部202。在本構成例中，作為一例，在測定部202中，可以針對每一傳輸路徑Ch設置切換部222A，且可以分別選取複數個端子的任一個連接於傳輸路徑Ch。在該情況下，可以將以相同的測定時序連接於傳輸路徑Ch之複數個端子10分組成複數個端子組11。切換部222A可為4輸入1輸出等的多工器。
再者，在本變化例(1)中，亦可以代替基準電壓Vref1~Vref4的至少一個，而將傳輸路徑Ch(m)(其中，m為滿足n≠m之1~32的任一整數)連接於測定部202中的多工器223 (n)（參考第2至4圖）的輸入端子。藉此，能夠以更多的其他端子組11內的端子10為基準端子10K，在差動測定模式下測定差分值。
根據以上變化例(1)，由於利用切換部222A切換成將複數個端子10的任意端子10連接於測定部202，故能夠在複數個端子10之間共用放大部220及輸出部221，從而簡化測定部202的構成。
第7圖示出變化例(2)的測定部202C。再者，第7圖所示之測定部202C為以連接於一個傳輸路徑Ch (n)之端子10 (n)為測定對象之部分，測定部202C可以針對每一傳輸路徑Ch具有相同的構成。測定部202C可以具有增益固定的兩個放大部220C (n)、220D (n)、及切換部222C (n)。
放大部220C (n)將來自端子10 (n)的輸出值與接地電壓的差分放大，並供給至切換部222C (n)。放大部220D (n)將來自端子10 (n)的輸出值與從多工器223供給之其他值的差分放大，並供給至切換部222C (n)。其他值可為連接於傳輸路徑Ch (m)之端子10 (m)的輸出值、基準電壓Vref1～Vref4或接地電壓。
放大部220D (n)的增益可以大於放大部220C (n)的增益，例如放大部220D (n)的增益可為放大部220C (n)的增益的10倍。在本變化例中，作為一例，放大部220D (n)的增益為2，放大部220C (n)的增益為0.2。
切換部222C (n)進而具有多工器225 (n)。多工器225 (n)將放大部220C (n)、220D (n)的任一者的輸出端子連接於輸出部221 (n)。多工器225 (n)可以根據測定模式指示訊號進行切換，可以在應用大振幅測定模式時，將放大部220C (n)連接於輸出部221 (n)，在應用高感度測定模式及差動測定模式時，將放大部220D (n)連接於輸出部221 (n)。
根據以上變化例(2)，亦可與上述實施方式同樣地，當未切換為利用大振幅測定模式於第一測定範圍內測定輸出值時，增益較大，因此，能夠在高感度測定模式及差動測定模式下以高感度進行測定。又，由於會獲取到放大後的測定結果，因此，能夠相對減少附加於測定結果中的雜訊，從而提高測試精度。
[4.其他變化例] 再者，在上述實施方式及變化例中，以端子組11的連鎖關係中的任一側為一端，以該一端的端子組11為代表端子組11D進行了說明，但連鎖關係中的一端側與另一端側亦可以反轉。例如，測試裝置200可以包括使連鎖關係中的一端與另一端反轉之切換部222E。切換部222E為第二切換部的一例，可以在連鎖關係中的相鄰的兩個端子組11之間，分別切換成以一個端子組11內的端子10作為針對另一端子組11的基準端子10K或者以另一端子組11內的端子10作為針對一個端子組11的基準端子10K。作為一例，與端子組11 Gi（其中，i為整數）內的任一端子10 (n)對應之切換部222E Gi可以將與連鎖關係中的兩側相鄰的端子組11 Gi －1、11 Gi ＋1內的基準端子10K Gi －1、10K Gi ＋1連接之傳輸路徑Ch Gi －1、Ch Gi ＋1分別連接於放大部220 (n)的反轉輸入端子。在該情況下，能夠利用反轉前後的測定結果，進一步提高測試精度。
又，針對判斷部203利用非代表端子10H相關的差分值進行優劣判斷的情況進行了說明，但亦可以進一步利用根據差分值及代表端子10D的輸出值算出之輸出值進行判斷。例如，判斷部203可以針對非代表端子10H中的每一者算出輸出值，且進一步基於所算出之輸出值是否在基準範圍內進行判斷。
又，將輸出值設為以電壓的大小表示之值進行了說明，但亦可以設為以電流的大小表示之值。在該情況下，待測試設備100可為發光二極體(Light Emitting Diode, LED)驅動器。
本發明的各種實施方式可以參考流程圖及方塊圖來記載，此處，方塊可表示：(1)執行操作之過程的階段、或(2)具有執行操作之作用之裝置的部分。特定的階段及部分可以藉由專用電路、與儲存於電腦可讀取記憶媒體上之電腦可讀取指令一起供給之可程式電路、及/或與儲存於電腦可讀取記憶媒體上之電腦可讀取指令一起供給之處理器來實現。專用電路可以包括數位及/或類比硬體電路，且可以包括積體電路(Integrated Circuits, IC)及/或離散電路。可程式電路可以包括可重組的硬體電路，該可重組的硬體電路包括邏輯AND、邏輯OR、邏輯XOR、邏輯NAND、邏輯NOR、及其他邏輯操作、正反器、暫存器、現場可程式閘陣列(Field Programmable Gate Arraym, FPGA)、可程式邏輯陣列(Programmable Logic Array, PLA)等的記憶體元件等。
電腦可讀取記憶媒體可以包括任意的有形設備，該任意的有形設備可以儲存由適當的設備執行之指令，其結果是，具有儲存於其中之指令之電腦可讀取記憶媒體包括一種產品，該產品包含可執行的指令，以創建用於執行於流程圖或方塊圖中指定之操作的手段。作為電腦可讀取記憶媒體的示例，可以包括電子記憶媒體、磁記憶媒體、光記憶媒體、電磁記憶媒體、半導體記憶媒體等。作為電腦可讀取記憶媒體的更具體的示例，可以包括軟式（註冊商標）磁碟、磁片(diskette)、硬碟、隨機存取記憶體(Random Access Memory, RAM)、唯讀記憶體（Read Only Memory, ROM）、可抹除可程式化唯讀記憶體（EPROM(Erasable Programmable Read Only Memory)或快閃記憶體）、電子可抹除可程式化唯讀記憶體(Electrically Erasable Programmable Read Only Memory, EEPROM)、靜態隨機存取記憶體(static random access memory, SRAM)、光碟唯讀記憶體(Compact Disc Read Only Memory, CD-ROM)、數位多用途光碟(Digital Video Disk, DVD)、藍光（RTM）光碟、記憶棒、積體電路卡等。
電腦可讀取指令可以包括以一個或複數個程式設計語言的任意組合記述之原始碼或目標碼中的任一者，該程式設計語言包括如組譯器指令、指令集架構（Instruction Set Architecture, ISA）指令、機器指令、機器相關指令、微碼、韌體指令、狀態設定資料、或Smalltalk（註冊商標）、JAVA（註冊商標）、C＋＋等物件導向程式設計語言、及「C」程式設計語言或同樣的程式設計語言般之先前的程序式程式設計語言。
電腦可讀取指令是在本地或經由區域網路(Local Area Network, LAN)、網際網路等廣域網路(Wide Area Network, WAN)被提供至通用電腦、特殊用途電腦、或者可程式化資料處理裝置的處理器或可程式電路，可執行電腦可讀取指令，以創建用於執行於流程圖或方塊圖中指定之操作的手段。作為處理器的示例，包括電腦處理器、處理單元、微處理器、數位訊號處理器、控制器、微控制器等。
第8圖示出可全部或部分具象化本發明的複數個態樣之電腦2200的一例。安裝於電腦2200中之程式能夠使電腦2200作為與本發明的實施方式的裝置相關聯之操作或該裝置的一個或複數個部分而發揮功能，或者能夠使其執行該操作或該一個或複數個部分，及/或能夠使電腦2200執行本發明的實施方式的過程或該過程的階段。此種程式可以藉由CPU 2212執行，以使電腦2200執行與本說明書中所記載之流程圖及方塊圖的方塊中的一部分或全部相關聯之特定操作。
本實施方式的電腦2200包括CPU 2212、RAM 2214、圖形控制器2216及顯示設備2218，該等由主機控制器2210相互連接。電腦2200又包括如通信介面2222、硬式磁碟機2224、DVD-ROM驅動器2226及IC卡驅動器般之輸入/輸出單元，該等經由輸入/輸出控制器2220而連接於主機控制器2210。電腦又包括如ROM 2230及鍵盤2242般之既有的輸入/輸出單元，該等經由輸入/輸出晶片2240而連接於輸入/輸出控制器2220。
CPU 2212按照儲存於ROM 2230及RAM 2214內之程式來動作，由此控制各單元。圖形控制器2216獲取於RAM 2214內所提供之框架緩衝器等或其自身中由CPU 2212生成之影像資料，且使影像資料顯示於顯示設備2218上。
通信介面2222經由網路與其他電子設備通信。硬式磁碟機2224儲存被電腦2200內的CPU 2212所使用之程式及資料。DVD-ROM驅動器2226從DVD-ROM 2201讀取程式或資料，且經由RAM 2214將程式或資料提供至硬式磁碟機2224。IC卡驅動器從IC卡讀取程式及資料，及/或將程式及資料寫入至IC卡。
ROM 2230在其中儲存啟動時由電腦2200執行之開機程式等、及/或儲存依賴於電腦2200的硬體之程式。輸入/輸出晶片2240還可以將各種輸入/輸出單元經由平行埠、串列埠、鍵盤埠、滑鼠埠等連接於輸入/輸出控制器2220。
程式由如DVD-ROM 2201或IC卡般之電腦可讀取記憶媒體提供。程式是從電腦可讀取記憶媒體讀取，安裝於電腦可讀取記憶媒體的一例、即硬式磁碟機2224、RAM 2214或ROM 2230中，且由CPU 2212執行。該等程式內所記述之資訊處理被電腦2200讀取，而使程式與上述各種類型的硬體資源之間協作。裝置或方法可以藉由按照電腦2200的使用來實現資訊的操作或處理而構成。
例如，當於電腦2200及外部設備間執行通信時，CPU 2212可以執行加載至RAM 2214中之通信程式，且基於通信程式所記述之處理，命令通信介面2222進行通信處理。通信介面2222在CPU 2212的控制下，讀取儲存於如RAM 2214、硬式磁碟機2224、DVD-ROM 2201或IC卡般之記錄媒體內所提供之發送緩衝處理區域中之發送資料，將所讀取之發送資料發送至網路，或將從網路接收之接收資料寫入至記錄媒體上所提供之接收緩衝處理區域等。
又，CPU 2212可以使儲存在硬式磁碟機2224、DVD-ROM驅動器2226（DVD-ROM 2201）、IC卡等的外部記錄媒體中之檔案或資料庫的全部或必要部分被RAM 2214讀取，而對RAM 2214上的資料執行各種類型的處理。接著，CPU 2212將處理後的資料寫回至外部記錄媒體。
如各種類型的程式、資料、表及資料庫般之各種類型的資訊可以儲存於記錄媒體中，並接受資訊處理。CPU 2212可以針對從RAM 2214讀取之資料執行本公開全文所記載之各種類型的處理，包括由程式的指令序列指定之各種類型的操作、資訊處理、條件判斷、條件分支、無條件分支、資訊的檢索/置換等，且將結果寫回至RAM 2214。又，CPU 2212可以檢索記錄媒體內的檔案、資料庫等中的資訊。例如，當各自具有與第二屬性的屬性值相關聯之第一屬性的屬性值之複數個條目儲存於記錄媒體內時，CPU 2212可以從該複數個條目中檢索指定第一屬性的屬性值且符合條件之條目，讀取儲存在該條目內之第二屬性的屬性值，由此，獲取滿足預定條件之與第一屬性相關聯之第二屬性的屬性值。
以上所說明之程式或軟體模組可以儲存在電腦2200上或電腦2200周邊的電腦可讀取記憶媒體。又，連接於專用通信網路或網際網路之伺服器系統內所提供之如硬碟或RAM般之記錄媒體可以作為電腦可讀取記憶媒體，由此，將程式經由網路提供至電腦2200。
以上，利用實施方式對本發明進行了說明，但本發明的技術範圍並不限於上述實施方式所記載之範圍。熟悉該領域者應明白，可以針對上述實施方式實施各種變更或改良。由申請專利範圍的記載可知，此種實施變更或改良後的形態亦可以包含於本發明的技術範圍內。
應注意，只要未特別明示「之前」、「先於」等，且並非於之後的處理中使用之前的處理的輸出，申請專利範圍、說明書及圖式中所示之裝置、系統、程式及方法中的動作、程序、步驟及階段等各處理的執行順序便可以利用任意順序實現。關於申請專利範圍、說明書及圖式中的動作流程，為方便起見，使用「首先」、「其次」等進行了說明，但並不表示必須按照該順序實施。
1,1A:測試系統
10,10(1)~10(8),10(29)~10(32):端子/基準端子
10D:代表端子
10H:非代表端子
10K:基準端子
11,11G1,11G2,11G8:端子組
11D:代表端子組
11H:非代表端子組
100:待測試設備
200,200A:測試裝置
201:試驗控制器
202,202C:測定部
203:判斷部
220,220 (1)～220 (8),220 (29)～220 (32),220C (n),220D (n):放大部 221,221 (1)～221 (8),221 (29)～221 (32),221 (n):輸出部 222,222 (1)～222 (8),222 (29)～222 (32),222A,222C (n):切換部 223,223 (1)～223 (8),223 (29)～223 (32),223 (n),225,225 (n):多工器 224,224 (1)～224 (8),224 (29)～224 (32):變更部 2200:電腦 2201:DVD-ROM 2210:主機控制器 2212:CPU 2214:RAM 2216:圖形控制器 2218:顯示設備 2220:輸入/輸出控制器 2222:通信介面 2224:硬式磁碟機 2226:DVD-ROM驅動器 2230:ROM 2240:輸入/輸出晶片 2242:鍵盤 Ch,Ch (1)～Ch (9),Ch (29)～Ch (32),Ch (m),Ch (n):傳輸路徑 GND:接地電壓 S11,S13,S15,S17,S21,S23,S25,S29:步驟 Vref1～Vref4,Vref11～Vref15:基準電壓
第1圖示出實施方式的測試系統1。 第2圖一併示出測定部202及端子10。 第3圖一併示出測定部202及端子10。 第4圖一併示出測定部202及端子10。 第5圖示出測試裝置200的動作。 第6圖示出變化例(1)的測試系統1A。 第7圖示出變化例(2)的測定部202C。 第8圖示出可全部或部分具象化本發明的複數個態樣的電腦2200的一例。
國內寄存資訊(請依寄存機構、日期、號碼順序註記) 無 國外寄存資訊(請依寄存國家、機構、日期、號碼順序註記) 無
1:測試系統
10:端子
10D:代表端子
10H:非代表端子
10K:基準端子
11:端子組
11D:代表端子組
11H:非代表端子組
100:待測試設備
200:測試裝置
201:試驗控制器
202:測定部
203:判斷部
Ch:傳輸路徑

Claims (12)

  1. 一種測試裝置，其包括測定部，該測定部針對將待測試設備所具有的複數個端子分組所得到的複數個端子組中的具有兩個以上的端子的至少一個端子組內的端子中的每一者的輸出值與前述複數個端子中的該至少一個端子組中的每一者的基準端子的輸出值的差分值進行測定；其中，前述複數個端子組形成在兩個以上的端子組間輪流使用前述基準端子的至少一個連鎖關係，前述測定部在前述連鎖關係中的相鄰的兩個端子組之間，分別針對一個端子組使用另一端子組內的任一端子，來作為前述基準端子。
  2. 如請求項1所述之測試裝置，其中，前述測定部對前述至少一個連鎖關係的各者中的一端的端子組內的端子中的每一者的輸出值進行測定。
  3. 如請求項2所述之測試裝置，其中，前述測定部具有切換部，該切換部切換對前述一端的端子組內的端子中的每一者在第一測定範圍內測定輸出值或者在比前述第一測定範圍更窄的第二測定範圍內測定輸出值。
  4. 如請求項3所述之測試裝置，其中，前述測定部具有：增益可變的複數個放大部，其將來自所對應之端子的輸出值與其他值的差分放大；及， 複數個輸出部，其輸出與放大後的值相應之測定值；且，各放大部的增益在由前述切換部切換為於前述第一測定範圍內測定前述輸出值時，小於未進行該切換時。
  5. 如請求項1至4中任一項所述之測試裝置，其中，前述至少一個端子組中的每一者包括在任意的前述連鎖關係中。
  6. 如請求項1至4中任一項所述之測試裝置，包括第二切換部，該第二切換部使前述連鎖關係中的一端與另一端反轉。
  7. 如請求項1或2所述之測試裝置，其中，前述測定部具有切換部，該切換部切換成針對前述至少一個端子組內的端子中的每一者測定前述差分值或者測定輸出值。
  8. 如請求項7所述之測試裝置，其中，前述切換部切換成針對前述至少一個端子組內的端子中的每一者測定前述差分值、在第一測定範圍內測定輸出值、或者在比前述第一測定範圍更窄的第二測定範圍內測定輸出值。
  9. 如請求項8所述之測試裝置，其中，前述測定部具有：增益可變的複數個放大部，其將來自所對應之端子的輸出值與其他值的差分放大；及，複數個輸出部，其輸出與放大後的值相應之測定值； 且，各放大部的增益在由前述切換部切換為於前述第一測定範圍內測定前述輸出值時，小於未進行該切換時。
  10. 如請求項1至4中任一項所述之測試裝置，包括第三切換部，該第三切換部切換成將前述複數個端子的任意端子連接於前述測定部。
  11. 如請求項1至4中任一項所述之測試裝置，包括判斷部，該判斷部基於前述測定部的測定結果，判斷前述待測試設備的優劣。
  12. 如請求項1至4中任一項所述之測試裝置，其中，前述待測試設備為具有控制顯示器的複數個像素的前述複數個端子的顯示器驅動器，前述輸出值為以電壓的大小表示之值。
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