TWI814451B

TWI814451B - 摺疊式偵測裝置及用於摺疊式偵測裝置的影像訊號處理方法

Info

Publication number: TWI814451B
Application number: TW111122957A
Authority: TW
Inventors: 鄭松寶
Original assignee: 睿生光電股份有限公司
Priority date: 2022-06-21
Filing date: 2022-06-21
Publication date: 2023-09-01
Also published as: TW202401393A; US20230404498A1

Abstract

本揭露提供一種摺疊式偵測裝置及用於摺疊式偵測裝置的影像訊號處理方法。摺疊式偵測裝置用於開啟狀態及收合狀態。摺疊式偵測裝置包括第一偵測面板以及第二偵測面板。當摺疊式偵測裝置於開啟狀態時，於俯視摺疊式偵測裝置的方向上，第一偵測面板與第二偵測面板部分重疊。

Description

摺疊式偵測裝置及用於摺疊式偵測裝置的影像訊號處理方法

本揭露是有關於一種偵測裝置以及用於偵測裝置的影像訊號處理方法，且特別是有關於一種摺疊式偵測裝置及用於摺疊式偵測裝置的影像訊號處理方法。

在有大面積偵測需求的情況下，偵測裝置需要具有大偵測面積的偵測面板。舉例來說，在醫療、健檢或安檢等運用X光進行偵測的情況下，需加大偵測裝置的偵測面板的尺寸以符合需求。然而，由於偵測面板的面積變大，導致偵測裝置在移動或運輸時具有較高的難度外，受到外物碰撞而導致損壞的風險也較高。

因此，如何提供一種便於移動或運輸的偵測裝置，是本領域技術人員的研究重點之一。

本揭露提供一種能夠用於開啟狀態及收合狀態的摺疊式偵測裝置以及用於摺疊式偵測裝置的影像訊號處理方法。

本揭露的摺疊式偵測裝置用於開啟狀態及收合狀態。摺疊式偵測裝置包括第一偵測面板以及第二偵測面板。當摺疊式偵測裝置於開啟狀態時，於俯視摺疊式偵測裝置的方向上，第一偵測面板與第二偵測面板部分重疊。

在本揭露的影像訊號處理方法適用於摺疊式偵測裝置。摺疊式偵測裝置用於開啟狀態及收合狀態，其中摺疊式偵測裝置包括第一偵測面板以及第二偵測面板，其中影像訊號處理方法包括：將摺疊式偵測裝置調整為開啟狀態；由第一偵測面板依第一參數以產生第一校正影像訊號；由第二偵測面板依第二參數以產生第二校正影像訊號；以第一校正影像訊號以及第二校正影像訊號的其中之一為基準影像訊號並調整另一校正影像訊號以產生調整影像訊號；以及合併基準影像訊號與調整影像訊號。

基於上述，摺疊式偵測裝置用於開啟狀態及收合狀態。如此一來，於開啟狀態，摺疊式偵測裝置的第一偵測面板以及第二偵測面板適用於大面積偵測。於收合狀態，摺疊式偵測裝置能夠便於移動或運輸或小面積偵測。此外，影像訊號處理方法調整第一校正影像訊號以及第二校正影像訊號的其中之一，並合併第一校正影像訊號與第二校正影像訊號。如此一來，第一校正影像訊號與第二校正影像訊號可拼接成一大面積的影像訊號。

為讓本揭露的上述特徵和優點能更明顯易懂，下文特舉實施例，並配合所附圖式作詳細說明如下。

本揭露的部份實施例接下來將會配合附圖來詳細描述，以下的描述所引用的元件符號，當不同附圖出現相同的元件符號將視為相同或相似的元件。這些實施例只是本揭露的一部份，並未揭示所有本揭露的可實施方式。更確切的說，這些實施例只是本揭露的專利申請範圍中的範例。

本揭露通篇說明書與所附的權利要求中會使用某些詞彙來指稱特定元件。本領域技術人員應理解，電子裝置製造商可能會以不同的名稱來指稱相同的組件。本文並不意在區分那些功能相同但名稱不同的組件。在下文說明書與權利要求中，“含有”與“包括”等詞為開放式詞語，因此其應被解釋為“含有但不限定為…”之意。

本文中所提到的方向用語，例如：“上”、“下”、“前”、“後”、“左”、“右”等，僅是參考附圖的方向。因此，使用的方向用語是用來說明，而並非用來限制本揭露。在附圖中，各圖式繪示的是特定實施例中所使用的方法、結構及/或材料的通常性特徵。然而，這些圖式不應被解釋為界定或限制由這些實施例所涵蓋的範圍或性質。舉例來說，為了清楚起見，各膜層、區域及/或結構的相對尺寸、厚度及位置可能縮小或放大。

在本揭露一些實施例中，關於接合、連接的用語例如“接合”、“連接”、“互連”等，除非特別定義，否則可指兩個結構直接接觸，或者亦可指兩個結構並非直接接觸，其中有其它結構設於此兩個結構之間。且此關於接合、連接的之用語亦可包括兩個結構都可移動，或者兩個結構都固定的情況。此外，用語“耦接”包括任何直接或間接的電性連接手段。於直接電性連接的情況下，兩電路上元件的端點直接連接或以一導體線段互相連接，而於間接電性連接的情況下，兩電路上元件的端點之間具有開關、二極體、電容、電感、電阻、其他適合的元件、或上述元件的組合，但不限於此。

術語“大約”、“等於”、“相等”或“相同”、“實質上”或“大致上”一般解釋為在所給定的值或範圍的20%以內，或解釋為在所給定的值或範圍的10%、5%、3%、2%、1%或0.5%以內。

在本揭露中，厚度、長度與寬度的量測方式可以是採用光學顯微鏡（Optical Microscope，OM）量測而得，厚度或寬度則可以由電子顯微鏡中的剖面影像量測而得，但不以此為限。另外，任兩個用來比較的數值或方向，可存在著一定的誤差。此外，用語“給定範圍為第一數值至第二數值”、“給定範圍落在第一數值至第二數值的範圍內”表示所述給定範圍包括第一數值、第二數值以及它們之間的其它數值。若第一方向垂直於第二方向，則第一方向與第二方向之間的角度可介於80度至100度之間；若第一方向平行於第二方向，則第一方向與第二方向之間的角度可介於0度至10度之間。

說明書與權利要求中所使用的序數例如“第一”、“第二”等的用詞用以修飾元件，其本身並不意含及代表該，或該些，組件有任何之前的序數，也不代表某一元件與另一元件的順序、或是製造方法上的順序，該些序數的使用僅用來使具有某命名的元件得以和另一具有相同命名的元件能作出清楚區分。權利要求與說明書中可不使用相同用詞，據此，說明書中的第一構件在權利要求中可能為第二構件。須知悉的是，以下所舉實施例可以在不脫離本揭露的精神下，將數個不同實施例中的技術特徵進行替換、重組、混合以完成其他實施例。

須知悉的是，以下所舉實施例可以在不脫離本揭露的精神下，可將數個不同實施例中的特徵進行替換、重組、混合以完成其他實施例。各實施例間特徵只要不違背發明精神或相衝突，均可任意混合搭配使用。

除非另外定義，在此使用的全部用語（包含技術及科學用語）具有與本揭露所屬技術領域的技術人員通常理解的相同涵義。能理解的是，這些用語例如在通常使用的字典中定義用語，應被解讀成具有與相關技術及本揭露的背景或上下文一致的意思，而不應以一理想化或過度正式的方式解讀，除非在本揭露實施例有特別定義。

在本揭露的電子裝置可包括顯示裝置、背光裝置、天線裝置、感測/偵測裝置或拼接裝置，但不以此為限。電子裝置可為可彎折或可撓式電子裝置。顯示裝置可為非自發光型顯示裝置或自發光型顯示裝置。天線裝置可為液晶型態的天線裝置或非液晶型態的天線裝置，感測/偵測裝置可為感測電容、光線、熱能或超聲波的裝置，但不以此為限。在本揭露中，電子裝置可包括電子元件，電子元件可包括被動元件與主動元件，例如電容、電阻、電感、二極體、電晶體等。二極體可包括發光二極體或光電二極體。發光二極體可例如包括有機發光二極體（organic light emitting diode，OLED）、次毫米發光二極體（mini LED）、微發光二極體（micro LED）或量子點發光二極體（quantum dot LED），但不以此為限。拼接裝置可例如是顯示器拼接裝置或天線拼接裝置，但不以此為限。需注意的是，電子裝置可為前述之任意排列組合，但不以此為限。下文將以偵測裝置做為電子裝置或拼接裝置以說明本揭露內容，但本揭露不以此為限。

請同時參考圖1以及圖2A，圖1是依據本揭露一實施例所繪示的摺疊式偵測裝置處於第一狀態（例如開啟狀態）的俯視圖。圖2A是依據本揭露第一實施例所繪示的摺疊式偵測裝置處於第一狀態（例如開啟狀態）的側視圖。在本實施例中，摺疊式偵測裝置100能夠在第一狀態與第二狀態之間進行切換。摺疊式偵測裝置100在第一狀態的偵測面積大於摺疊式偵測裝置100在第二狀態的偵測面積。第一狀態例如是開啟狀態。第二狀態例如是收合狀態。換言之，摺疊式偵測裝置100在處於開啟狀態時可提供較大的偵測面積，或在處於收合狀態時可具有較小的偵測面積。處於開啟狀態的摺疊式偵測裝置100具有寬度W1、長度L1以及厚度H1。舉例來說，寬度W1大約是120公分，長度L1大約是70公分，厚度H1大約是1.5公分，但本揭露的尺寸不以此為限。在本實施例中，摺疊式偵測裝置100可以是基於醫療、健檢或安檢應用的X光（X-ray）偵測裝置，但本揭露不限於此。

在本實施例中，摺疊式偵測裝置100包括第一偵測面板110_1以及第二偵測面板110_2。當摺疊式偵測裝置100處於開啟狀態時，第一偵測面板110_1以及第二偵測面板110_2處於被展開的狀態，即第一偵測面板110_1以及第二偵測面板110_2的收光面朝同一方向。當摺疊式偵測裝置100處於收合狀態時，即第一偵測面板110_1以及第二偵測面板110_2的收光面朝不同方向，例如朝相反方向。第一偵測面板110_1以及第二偵測面板110_2能夠被用以偵測來自於摺疊式偵測裝置100外的光訊號。如此一來，在處於開啟狀態時，摺疊式偵測裝置100能夠適用於較大面積的偵測需求。

第一偵測面板110_1包括多數個第一偵測子像素，第二偵測面板110_2包括多數個第二偵測子像素。當摺疊式偵測裝置100處於開啟狀態時，於俯視摺疊式偵測裝置100的方向D上，第一偵測面板110_1以及第二偵測面板110_2可利用偵測子像素以產生第一影像訊號及第二影像訊號，在一實施例中，第一偵測面板110_1以及第二偵測面板110_2可同時產生第一影像訊號及第二影像訊號。本揭露中所揭露的第一影像訊號及第二影像訊號可用於在顯示裝置上以產生第一影像及第二影像。第一偵測面板110_1與第二偵測面板110_2部分重疊而形成重疊區OA。舉例來說，第一偵測面板110_1的至少一第一偵測子像素行或至少一第一偵測子像素列與第二偵測面板110_2的至少一第二偵測子像素行或至少一第二偵測子像素列位於重疊區OA。重疊區OA的寬度小於寬度W1。應注意的是，第一偵測面板110_1所產生的第一影像訊號對應於重疊區OA的部分影像訊號及/或第二偵測面板110_2所產生的第二影像訊號對應於重疊區OA的部分影像訊號可進行第一影像訊號以及第二影像訊號的至少其中之一的影像訊號處理。如此一來，基於重疊區OA，降低第一影像與第二影像於拼接時在視覺上有不連續的狀況。

在本實施例中，摺疊式偵測裝置100還包括第一蓋板120_1以及第二蓋板120_2。第一蓋板120_1在第一偵測面板110_1上。第一蓋板120_1能夠保護第一偵測面板110_1以降低第一偵測面板110_1受到刮傷或碰撞而造成的損傷。第二蓋板120_2在第二偵測面板110_2上。第二蓋板120_2能夠保護第二偵測面板110_2以降低第二偵測面板110_2受到刮傷或碰撞而造成的損傷。

此外，第一蓋板120_1也能夠降低第一偵測面板110_1接收到環境中的可見光的機率。第二蓋板120_2也能夠降低第二偵測面板110_2接收到環境中的可見光的機率。

進一步來說，第一偵測面板110_1包括第一光轉換層（未示出），第一光轉換層設置在第一蓋板與多數個第一偵測子像素之間。第二偵測面板110_2包括第二光轉換層（未示出），第二光轉換層設置在第二蓋板與多數個第二偵測子像素之間。第一光轉換層以及第二光轉換層可分別接收第一光（例如X光）並提供第二光（例如可見光）。因此，第一偵測面板110_1中的多數個第一偵測子像素可偵測第一光轉換層所提供的第二光。第二偵測面板110_2中的多數個第二偵測子像素可偵測第二光轉換層所提供的第二光。第一蓋板120_1覆蓋於第一偵測面板110_1上。因此，第一蓋板120_1可減少外界的可見光影響到第一偵測面板110_1而降低第一影像訊號受到影響的風險。第二蓋板120_2覆蓋於第二偵測面板110_2上。因此，第二蓋板120_2可減少外界的可見光影響到第二偵測面板110_2而降低第二影像訊號受到影響的風險。此外，第一蓋板120_1以及第二蓋板120_2對X光的穿透性的影響較少。換言之，第一蓋板120_1以及第二蓋板120_2較不會影響X光的穿透，也較不會降低第一影像訊號以及第二影像訊號受到影響的風險。在本實施例中，第一蓋板120_1以及第二蓋板120_2各包括碳纖維板，但本揭露不限於此。

在本實施例中，當摺疊式偵測裝置100處於所述開啟狀態時，第二蓋板120_2未與第一蓋板120_1重疊。第一蓋板120_1與第二蓋板120_2可共平面。第一蓋板120_1與第一偵測面板110_1之間的具有第一間距D1。第二蓋板120_2與第二偵測面板110_2之間的具有第二間距D2。第一偵測面板110_1與第二偵測面板110_2部分重疊。因此，第一間距不等於第二間距。以本實施例為例，第一間距大於第二間距，但本揭露並不以此為限。

摺疊式偵測裝置100還包括訊號傳輸結構130。訊號傳輸結構130耦接於第一偵測面板110_1以及第二偵測面板110_2。訊號傳輸結構130包括訊號連接板131_1、訊號連接板131_2、訊號傳輸線132_1、訊號傳輸線132_2以及控制板133，但本揭露並不以此為限。訊號連接板131_1耦接於第一偵測面板110_1。訊號傳輸線132_1耦接於訊號連接板131_1與控制板133之間。訊號連接板131_2耦接於第二偵測面板110_2。訊號傳輸線132_2耦接於訊號連接板131_2與控制板133之間。當摺疊式偵測裝置100處於開啟狀態時，控制板133透過訊號連接板131_1以及訊號傳輸線132_1接收第一影像訊號，並透過訊號連接板131_2以及訊號傳輸線132_2接收第二影像訊號。控制板133可基於對應於重疊區OA的影像訊號來對第一影像訊號與第二影像訊號進行影像訊號處理，從而降低第一影像與第二影像於拼接時在視覺上有不連續的狀況。

在本實施例中，訊號連接板131_1、訊號連接板131_2、訊號傳輸線132_1、訊號傳輸線132_2以及控制板133的至少其中之一可以是由設置於可撓性基板的電路來實現。控制板133例如是包括中央處理單元（Central Processing Unit，CPU），或是其他可程式化之一般用途或特殊用途的微處理器（Microprocessor）、數位訊號處理器（Digital Signal Processor，DSP）、可程式化控制器、特殊應用積體電路（Application Specific Integrated Circuits，ASIC）、可程式化邏輯裝置（Programmable Logic Device，PLD）或其他類似裝置或這些裝置的組合的電路板，其可載入並執行電腦程式的電路板，但本揭露不限於此。

在本實施例中，摺疊式偵測裝置100還包括機殼CS1、機殼CS2以及摺疊結構140。第一偵測面板110_1被設置於機殼CS1內。第二偵測面板110_2被設置於機殼CS2內。進一步來說，摺疊結構140與機殼CS1以及機殼CS2進行樞接。因此，摺疊式偵測裝置100能夠透過摺疊結構140而在第一狀態（例如開啟狀態）及第二狀態（例如收合狀態）之間切換。在本實施例中，控制板133可設置於機殼CS2內。在一些實施例中，控制板133可設置於機殼CS1內。

請參考圖2B，圖2B是依據本揭露第二實施例所繪示的摺疊式偵測裝置處於開啟狀態的側視圖。在本實施例中，摺疊式偵測裝置200包括第一偵測面板210_1、第二偵測面板210_2以及第三偵測面板210_3。當摺疊式偵測裝置200處於第一狀態（例如開啟狀態）時，第一偵測面板210_1、第二偵測面板210_2以及第三偵測面板210_3被展開。第一偵測面板210_1、第二偵測面板210_2以及第三偵測面板210_3能夠被用以偵測來自於摺疊式偵測裝置200的一側的光訊號。如此一來，在處於開啟狀態時，摺疊式偵測裝置200能夠適用於大面積偵測。於俯視摺疊式偵測裝置200的方向D上，第一偵測面板210_1、第二偵測面板210_2以及第三偵測面板210_3可產生第一影像訊號、第二影像訊號及第三影像訊號。在一實施例中，第一偵測面板210_1、第二偵測面板210_2以及第三偵測面板210_3可同時產生第一影像訊號、第二影像訊號及第三影像訊號。本揭露中所揭露的第一影像訊號、第二影像訊號及第三影像訊號可用於在顯示裝置上以產生第一影像、第二影像及第三影像。在本實施例中，處於開啟狀態的摺疊式偵測裝置200具有寬度W2、長度以及厚度H2。

在一實施例中，第一偵測面板210_1包括多數個第一偵測子像素。第二偵測面板210_2包括多數個第二偵測子像素。第三偵測面板210_3包括多數個第三偵測子像素。當摺疊式偵測裝置200處於開啟狀態時，於俯視摺疊式偵測裝置200的方向D上，第一偵測面板110_1、第二偵測面板110_2以及第三偵測面板210_3可同時利用各自的偵測子像素以產生第一影像訊號、第二影像訊號及第三影像訊號。第二偵測面板210_2與第一偵測面板210_1部分重疊於重疊區OA1。第二偵測面板210_2與第三偵測面板210_3部分重疊於重疊區OA2。舉例來說，第一偵測面板210_1的至少一第一偵測子像素行或至少一第一偵測子像素列與第二偵測面板210_2的至少一第二偵測子像素行或至少一第二偵測子像素列位於重疊區OA1。第三偵測面板210_3的至少一第三偵測子像素行或至少一第三偵測子像素列與第二偵測面板210_2的至少一第二偵測子像素行或至少一第二偵測子像素列位於重疊區OA2。第一偵測面板210_1所產生的第一影像訊號對應於重疊區OA1的部分影像訊號及/或與第二偵測面板210_2所產生的第二影像訊號對應於重疊區OA1的部分影像訊號可進行第一影像訊號以及第二影像訊號的至少其中之一的影像訊號處理。第三偵測面板210_3所產生的第三影像訊號對應於重疊區OA2的部分影像訊號及/或第二偵測面板210_2所產生的第二影像訊號對應於重疊區OA2的部分影像訊號可進行第三影像訊號以及第二影像訊號的至少其中之一的影像訊號處理。如此一來，基於重疊區OA1、重疊區OA2，可降低第一影像、第二影像與第三影像之間於拼接時在視覺上有不連續的狀況。

在本實施例中，摺疊式偵測裝置200還包括第一蓋板220_1、第二蓋板220_2以及第三蓋板220_3。第一蓋板220_1在第一偵測面板210_1上。第二蓋板220_2在第二偵測面板210_2上。第三蓋板220_3在第三偵測面板210_3上。同前所述，第一蓋板220_1、第二蓋板220_2以及第三蓋板220_3能降低第一偵測面板210_1、第二偵測面板210_2及第三偵測面板210_3受到刮傷或碰撞而造成的損傷，也能夠降低第一偵測面板210_1、第二偵測面板210_2及第三偵測面板210_3接收到環境中的可見光的機率，於此不再重述。

在本實施例中，當摺疊式偵測裝置200處於所述開啟狀態時，第二蓋板220_2未與第一蓋板220_1以及第三蓋板220_3重疊。在本實施例中，當摺疊式偵測裝置200處於所述開啟狀態時，第一蓋板220_1、第二蓋板220_2以及第三蓋板220_3可共平面。

在本實施例中，摺疊式偵測裝置200包括訊號傳輸結構230。訊號傳輸結構230耦接於第一偵測面板210_1、第二偵測面板210_2以及第三偵測面板210_3。訊號傳輸結構230包括訊號連接板231_1、訊號連接板231_2、訊號連接板231_3、訊號傳輸線232_1、訊號傳輸線232_2、訊號傳輸線232_3以及控制板233，本揭露不限於此。訊號連接板231_1耦接於第一偵測面板110_1。訊號傳輸線232_1耦接於訊號連接板231_1與控制板233之間。訊號連接板231_2耦接於第二偵測面板210_2。訊號傳輸線232_2耦接於訊號連接板231_2與控制板233之間。訊號連接板231_3耦接於第三偵測面板210_3。訊號傳輸線232_3耦接於訊號連接板231_2與訊號連接板231_3之間。訊號傳輸線、訊號連接板與控制板之間的耦接情況可依設置需求而調整，本揭露不限於此。當摺疊式偵測裝置200處於開啟狀態時，控制板233透過訊號連接板231_1以及訊號傳輸線232_1接收第一影像訊號，透過訊號連接板231_2以及訊號傳輸線232_2接收第二影像訊號，並透過連接板231_3、訊號傳輸線232_3接收第三影像訊號。控制板233會利用第一影像訊號對應於重疊區OA1的部分影像訊號及/或與第二影像訊號對應於重疊區OA1的部分影像訊號來進行第一影像訊號以及第二影像訊號的至少其中之一的影像訊號處理。控制板233會利用第三影像訊號對應於重疊區OA2的部分影像訊號及/或第二影像訊號對應於重疊區OA2的部分影像訊號來進行第三影像訊號以及第二影像訊號的至少其中之一的影像訊號處理。如此一來，基於重疊區OA1、重疊區OA2，控制板233可降低第一影像、第二影像與第三影像之間於拼接時在視覺上有不連續的狀況。

在本實施例中，摺疊式偵測裝置200還包括機殼CS1、機殼CS2、機殼CS3以及摺疊結構240_1、摺疊結構240_2。第一偵測面板210_1被設置於機殼CS1內。第二偵測面板210_2被設置於機殼CS2內。第三偵測面板210_3被設置於機殼CS3內。進一步來說，摺疊結構240_1與機殼CS1以及機殼CS2進行樞接，摺疊結構240_2與機殼CS2以及機殼CS3進行樞接，但本揭露不限於此。

因此，摺疊式偵測裝置200能夠透過摺疊結構240_1、摺疊結構240_2展開第一偵測面板210_1、第二偵測面板210_2以及第三偵測面板210_3而處於第一狀態（例如開啟狀態）。摺疊式偵測裝置200能夠透過摺疊結構240_1、摺疊結構240_2收合第一偵測面板210_1以及第三偵測面板210_3而處於第二狀態（例如收合狀態）。在一實施例中，摺疊式偵測裝置200能夠透過摺疊結構240_1展開第一偵測面板210_1以及第二偵測面板210_2，並透過摺疊結構240_2收合第三偵測面板210_3而處於第三狀態。在另一實施例中，摺疊式偵測裝置200能夠透過摺疊結構240_1展開第三偵測面板210_3以及第二偵測面板210_2，並透過摺疊結構240_2收合第一偵測面板210_1而處於第四狀態。

請同時參考圖2A以及圖3A，圖3A是依據本揭露第一實施例所繪示的摺疊式偵測裝置處於第二狀態（例如收合狀態）的側視圖。在本實施例中，當摺疊式偵測裝置100處於收合狀態時，機殼CS1以及機殼CS2透過摺疊結構140被疊合。因此，於俯視所述摺疊式偵測裝置100的方向D上，第一偵測面板110_1以及第二偵測面板110_2位於第一蓋板120_1與第二蓋板120_2之間。第一蓋板120_1與第二蓋板120_2至少部分重疊。

此外，處於收合狀態的摺疊式偵測裝置100具有最大寬度W1’以及厚度H1’。應注意的是，最大寬度W1’大約是寬度W1的二分之一在加上重疊區OA的寬度WOA。當摺疊式偵測裝置100處於收合狀態時，最大寬度W1’小於摺疊式偵測裝置100處於開啟狀態時的寬度W1，摺疊式偵測裝置100能夠便於移動或運輸及/或降低受到外物碰撞而導致損壞的風險。

處於收合狀態的摺疊式偵測裝置100的長度大致上等於處於開啟狀態的摺疊式偵測裝置100的長度L1。厚度H1’大約是厚度H1的2倍。自開啟狀態切換至收合狀態後，摺疊式偵測裝置100的厚度大約增加1.5公分，但本揭露不限於此。雖然厚度H1’大於厚度H1，但對於移動或運輸處於收合狀態的摺疊式偵測裝置100的便利性影響較小。

在本實施例中，當摺疊式偵測裝置100處於收合狀態時，第一偵測面板110_1以及第二偵測面板110_2的其中之一仍可用於產生影像訊號。也就是說，當摺疊式偵測裝置100處於收合狀態時，仍可用於產生第一影像訊號以及第二影像訊號的其中之一。因此，處於收合狀態的摺疊式偵測裝置100仍可適用於小面積的偵測。

請同時參考圖2B以及圖3B，圖3B是依據本揭露第二實施例所繪示的摺疊式偵測裝置處於收合狀態的側視圖。在本實施例中，當摺疊式偵測裝置200處於收合狀態時，機殼CS1、機殼CS2、機殼CS3透過摺疊結構240_1、摺疊結構240_2被疊合，使得機殼CS1位於機殼CS2與機殼CS3之間，但本揭露不限於此。因此，於俯視所述摺疊式偵測裝置200的方向D上，第一偵測面板210_1、第二偵測面板210_2以及第三偵測面板210_3位於第二蓋板220_2與第三蓋板220_3之間。第三蓋板220_3與第二蓋板220_2至少部分重疊。因此，當摺疊式偵測裝置200處於收合狀態時，第三蓋板220_3與第二蓋板220_2仍可保護第一偵測面板210_1、第二偵測面板210_2以及第三偵測面板210_3。

此外，處於收合狀態的摺疊式偵測裝置200具有最大寬度W2’以及厚度H2’。應注意的是，最大寬度W2’可大約是寬度W2的三分之一並加上重疊區OA1的寬度WOA1以及重疊區OA2的寬度WOA2。因此，當處於收合狀態的摺疊式偵測裝置200能夠便於移動或運輸及/或降低受到外物碰撞而導致損壞的風險。

厚度H2’大約是厚度H2的3倍。自開啟狀態切換至收合狀態後，摺疊式偵測裝置200的厚度大約增加3公分，但本揭露不限於此。雖然厚度H2’大於厚度H2，但對於降低移動或運輸處於收合狀態的摺疊式偵測裝置200的便利性影響較小。

在本實施例中，當摺疊式偵測裝置200處於收合狀態時，第二偵測面板210_2以及第三偵測面板210_3的其中之一仍可用於產生影像訊號。也就是說，當摺疊式偵測裝置200處於收合狀態時，仍可用於產生第二影像訊號以及第三影像訊號的其中之一。因此，處於收合狀態的摺疊式偵測裝置200能夠適用於小面積的偵測。

請同時參考圖2A以及圖4，圖4是依據本揭露的一實施例所繪示的影像訊號處理方法的流程圖。圖4示例出摺疊式偵測裝置處於開啟狀態時的影像訊號處理方法。影像訊號處理方法S100例如適用於摺疊式偵測裝置100。在步驟S110中，第一偵測面板110_1依第一參數以產生第一校正影像訊號。在步驟S120中，第二偵測面板110_2依第二參數以產生第二校正影像訊號。在本實施例中，基於第一參數，第一校正影像訊號所產生的第一校正影像會具有較佳的亮度均勻性。基於第二參數，第二校正影像訊號所產生的第二校正影像會具有較佳的亮度均勻性。

在步驟S130中，摺疊式偵測裝置100以第一校正影像訊號以及第二校正影像訊號的其中之一為作為基準影像訊號並調整另一校正影像訊號以產生調整影像訊號。由於第一偵測面板110_1以及第二偵測面板110_2的敏感度可能不同，第一校正影像訊號的參考亮度以及第二校正影像訊號的參考亮度可能會不一致。舉例來說，參考亮度可以是平均亮度、最大亮度以及最低亮度的至少其中之一。在本實施例中，控制板133可以第一校正影像訊號以及第二校正影像訊號的其中之一作為基準影像訊號並調整另一校正影像訊號的參考亮度以產生調整影像訊號。舉例來說，例如以第一校正影像訊號作為基準影像訊號並調整第二校正影像訊號的參考亮度以產生調整影像訊號，透過步驟S130的調整，摺疊式偵測裝置100能夠使基準影像訊號的參考亮度以及調整影像訊號的參考亮度大致相同。

在步驟S140中，摺疊式偵測裝置100合併基準影像訊號與調整影像訊號。在本實施例中，控制板133會合併基準影像訊號與調整影像訊號以產生合併影像訊號。

請同時參考圖2A以及圖5，圖5是依據本揭露一實施例所繪示的影像訊號處理的示意圖。在本實施例中，第一偵測面板110_1以及第二偵測面板110_2各包括多個感測區域，每個感測區域可例如包括至少一個偵測子像素，但本揭露不限於此。當第一偵測面板110_1及第二偵測面板110接收到相同的X光強度時，理想上各個感測區域可呈現出相同的亮度結果；當接收到不同的X光強度時，各個感測區域可呈現出不同的亮度結果。但如前所述，由於第一偵測面板110_1及第二偵測面板110_2的製程差異，當接收到相同的X光強度時，第一偵測面板110_1及第二偵測面板110_可能呈現出不同的亮度結果。舉例來說，第一偵測面板110_1及第二偵測面板110_2接收到相同的X光強度時，第一偵測面板110_1的感測區域SR1_1~SR1_9可呈現不同的參考亮度。第二偵測面板110_2的感測區域SR2_1~SR2_9可呈現不同的參考亮度。感測區域SR1_1~SR1_9、感測區域SR2_1~SR2_9的參考亮度以數值「1」~「5」來表示。舉例來說，數值越小可代表參考亮度就越低；數值越大可代表參考亮度就越高，但本揭露不限於此。感測區域SR1_1~SR1_9、感測區域SR2_1~SR2_9分別對應於不同的至少一偵測子像素。在本實施例中，感測區域SR1_7、感測區域SR1_8感測區域SR1_9與感測區域SR2_1、感測區域SR2_2、感測區域SR2_3對應於重疊區OA。

由於感測區域SR1_1~SR1_9在相同的X光強度照射下可呈現不同的參考亮度，因此需要透過第一參數來校正第一偵測面板110_1以產生第一校正影像訊號。由於感測區域SR2_1~SR2_9在相同的X光強度照射下可呈現不同的參考亮度，需要透過第二參數來校正第二偵測面板110_2以產生第二校正影像訊號，而可使摺疊式偵測裝置100呈現較正確的影像。

在本實施例中，前述第一參數可以是對應於第一偵測面板110_1的第一查找表（Look-up table，LUT）。前述第二參數可以是對應於第二偵測面板110_2的第二查找表。第一查找表以及第二查找表可被整合為整合查找表LUT1。感測區域SR1_1~SR1_9、感測區域SR2_1~SR2_9的參考亮度被整合以產生對應於感測區域SR1_1~SR1_6、感測區域SR2_1~SR2_9的整合查找表LUT1。整合查找表LUT1的參數P1_1~P1_6、參數P2_1~P2_9與感測區域SR1_1~SR1_6、感測區域SR2_1~SR2_9相對應。舉例來說，若以參考亮度最大值（例如數值5）為基準，整合查找表LUT1的參數P1_1~P1_6、參數P2_1~P2_9分別是使感測區域SR1_1~SR1_6、感測區域SR2_1~SR2_9的參考亮度到達數值「5」的調整值（或稱，補償值）。舉例來說，感測區域SR1_1的參考亮度是數值「1」，則參數P1_1的數值為「4」（即5-1=4）。感測區域SR1_2的參考亮度是數值「5」，則參數P1_2的數值為「0」（即5-5=0），依此類推。因此，第一偵測面板110_1依參數P1_1~P1_6產生第一校正影像訊號CIMG1（也為基準影像訊號BIMG）。第二偵測面板110_2依參數P1_1~P1_6產生第二校正影像訊號CIMG2（也為調整影像訊號MIMG）。如此一來，第一校正影像訊號CIMG1的參考亮度與第二校正影像訊號CIMG2的參考亮度大致相同。

此外，在重疊區OA中，感測區域SR1_7的位置與感測區域SR2_1的位置彼此重疊。感測區域SR1_8的位置與感測區域SR2_2的位置彼此重疊。感測區域SR1_9的位置與感測區域SR2_3的位置彼此重疊。對應於重疊區OA的感測區域SR1_7~SR1_9與感測區域SR2_1~SR2_3能夠用於拼接第一校正影像訊號CIMG1（即基準影像訊號BIMG）與第二校正影像訊號CIMG2（即調整影像訊號MIMG）時的對位依據。如此一來，在合併第一校正影像訊號CIMG1（即基準影像訊號BIMG）與第二校正影像訊號CIMG2（即調整影像訊號MIMG）時，可降低第一校正影像訊號CIMG1（即基準影像訊號BIMG）所產生的第一影像與第二校正影像訊號CIMG2（即調整影像訊號MIMG）所產生的第二影像於拼接處在視覺上有不連續的現象。

上述的影像訊號處理可適用於處於開啟狀態的摺疊式偵測裝置100。

在本實施例中，因應於第一偵測面板110_1、第二偵測面板110_2的不同製程差異，可以不同的參考亮度作為基準，而可產生不同的整合查找表LUT1~LUTn。

請同時參考圖2A以及圖6，圖6是依據本揭露另一實施例所繪示的影像訊號處理的示意圖。以第一偵測面板110_1為例，第一偵測面板110_1包括感測區域SR1_1~SR1_9，感測區域SR1_1~SR1_9分別包括至少一個偵測子像素。感測區域SR1_1~SR1_9的參考亮度以數值「1」~「5」來表示。舉例來說，數值越小可代表參考亮度就越低；數值越大可代表參考亮度就越高，但本揭露不限於此。由於第一偵測面板110_1及第二偵測面板110_2的製程差異，當接收到相同的X光強度時，第一偵測面板110_1的不同感測區域及/或第二偵測面板110的不同感測區域可能呈現出不同的亮度結果。舉例來說，第一偵測面板110_1及第二偵測面板110_2接收到相同的X光強度時，感測區域SR1_1~SR1_9、感測區域SR2_1~SR2_9所呈現的參考亮度可能不一致。因此，感測區域SR1_1~SR1_9的參考亮度可先被整合以產生對應於感測區域SR1_1~SR1_9的查找表LUT1_1。查找表LUT1_1的參數P1_1~P1_9分別與感測區域SR1_1~SR1_9相對應。在一實施例中，查找表LUT1的參數P1_1~P1_9可分別使感測區域SR1_1~SR1_9在相同的X光強度時其參考亮度到達數值「3」的調整值，但本揭露不以數值「3」為限。舉例來說，感測區域SR1_1的參考亮度是數值「1」，則參數P1_1是數值「2」（即3-1=2）。感測區域SR1_2的參考亮度是數值「5」，則參數P1_2是數值「-2」（即3-5=-2），依此類推。因此，感測區域SR1_1~SR1_9的參考亮度大致上等於「3」。第一偵測面板110_1依參數P1_1~P1_9產生第一校正影像訊號CIMG1。如此一來，第一校正影像訊號CIMG1的參考亮度大致上等於「3」。

因應於第一偵測面板110_1的製程差異，可以不同的參考亮度作為基準，而可產生不同的查找表LUT1_1~LUT1_n。上述的影像訊號處理可適用於處於收合狀態的摺疊式偵測裝置100。

相似於第一偵測面板110_1的操作，在相同的X光強度時，第二偵測面板110_2的感測區域SR2_1~SR2_9的參考亮度大致上等於「2」。

應注意的是，第一偵測面板110_1與X光光源之間的距離可能不同於第二偵測面板110_2與X光光源之間的距離。因此，第一偵測面板110_1所偵測到的X光強度與第二偵測面板110_2所偵測到的X光強度可能不同。以本實施例為例，第一偵測面板110_1與X光光源之間的距離略大於第二偵測面板110_2與X光光源之間的距離，因此，即便在相同的X光強度照射時，第一偵測面板110_1與第二偵測面板110_2的參考亮度也可能存在著差異。因此，當合併第一校正影像訊號CIMG1與第二校正影像訊號CIMG2時，摺疊式偵測裝置100可以第二偵測面板110_2的第二校正影像訊號CIMG2作為基準影像訊號BIMG，並產生整合查找表LUTC以調整第一偵測面板110_1的第一校正影像訊號CIMG1以產生調整影像訊號MIMG。以本實施例為例，整合查找表LUTC的多個參數分別是使感測區域SR1_1~SR1_9的參考亮度從數值「3」調整至數值「2」。因此，整合查找表LUTC的上述多個參數都是數值「-1」（即2-3=-1）。經調整後，基準影像訊號BIMG以及調整影像訊號MIMG的參考亮度大致等於數值「2」。

此外，在重疊區OA中，對應於重疊區OA的感測區域SR1_7~SR1_9與感測區域SR2_1~SR2_3能夠用於拼接基準影像訊號BIMG與調整影像訊號MIMG時的對位依據。如此一來，在合併基準影像訊號BIMG與調整影像訊號MIMG時，可降低基準影像訊號BIMG與調整影像訊號MIMG所產生的影像於拼接處在視覺上有不連續的現象。

綜上所述，本揭露的摺疊式偵測裝置能夠用於開啟狀態及收合狀態。如此一來，於開啟狀態，摺疊式偵測裝置的第一偵測面板以及第二偵測面板適用於大面積偵測。於收合狀態，摺疊式偵測裝置能夠便於移動或運輸。影像訊號處理方法使第一偵測面板依第一參數以產生第一校正影像訊號，使第二偵測面板依第二參數以產生第二校正影像訊號，以第一校正影像訊號以及第二校正影像訊號的其中之一為基準影像訊號BIMG並調整另一校正影像訊號以產生調整影像訊號MIMG，並且合併基準影像訊號BIMG與調整影像訊號MIMG。如此一來，可降低由基準影像訊號BIMG與調整影像訊號MIMG所產生的影像於拼接成的合併影像時在視覺效果有不連續的現象。

雖然本揭露已以實施例揭露如上，然其並非用以限定本揭露，任何所屬技術領域中具有通常知識者，在不脫離本揭露的精神和範圍內，當可作些許的更動與潤飾，故本揭露的保護範圍當視後附的申請專利範圍所界定者為準。

100、200:摺疊式偵測裝置 110_1、210_1:第一偵測面板 110_2、210_2:第二偵測面板 120_1、220_1:第一蓋板 120_2、220_2:第二蓋板 130、230:訊號傳輸結構 131_1、131_2、231_1、231_2、231_3:訊號連接板 132_1、132_2、232_1、232_2、232_3:訊號傳輸線 133、233:控制板 140、240_1、240_2:摺疊結構 210_3:第三偵測面板 220_3:第三蓋板 BIMG:基準影像訊號 CIMG1:第一校正影像訊號 CIMG2:第二校正影像訊號 CS1、CS2、CS3:機殼 D:方向 D1:第一間距 D2:第二間距 H1、H1’、H2、H2’:厚度 L1:長度 LUT1~LUTn、LUTC:整合查找表 LUT1_1~LUT1_n:查找表 MIMG:調整影像訊號 OA、OA1、OA2:重疊區 P1_1~P1_9、P2_1~P2_9:參數 S100:影像訊號處理方法 S110~S140:步驟 SR1_1~SR1_9、SR2_1~SR2_9:感測區域 W1、W1’、W2、W2’、WOA1、WOA2:寬度

圖1是依據本揭露一實施例所繪示的摺疊式偵測裝置處於開啟狀態的俯視圖。圖2A是依據本揭露第一實施例所繪示的摺疊式偵測裝置處於開啟狀態的側視圖。圖2B是依據本揭露第二實施例所繪示的摺疊式偵測裝置處於開啟狀態的側視圖。圖3A是依據本揭露第一實施例所繪示的摺疊式偵測裝置處於收合狀態的側視圖。圖3B是依據本揭露第二實施例所繪示的摺疊式偵測裝置處於收合狀態的側視圖。圖4是依據本揭露一實施例所繪示的影像訊號處理方法的流程圖。圖5是依據本揭露一實施例所繪示的影像訊號處理的示意圖。圖6是依據本揭露另一實施例所繪示的影像訊號處理的示意圖。

100:摺疊式偵測裝置

110_1:第一偵測面板

110_2:第二偵測面板

120_1:第一蓋板

120_2:第二蓋板

130:訊號傳輸結構

131_1、131_2:訊號連接板

132_1、132_2:訊號傳輸線

133:控制板

140:摺疊結構

CS1、CS2:機殼

D:方向

D1:第一間距

D2:第二間距

H1:厚度

OA:重疊區

W1:寬度

Claims

一種摺疊式偵測裝置，用於開啟狀態及收合狀態，其中所述摺疊式偵測裝置包括：第一偵測面板；以及第二偵測面板，其中，當所述摺疊式偵測裝置於所述開啟狀態時，於俯視所述摺疊式偵測裝置的方向上，所述第一偵測面板與所述第二偵測面板部分重疊。
如請求項1所述的摺疊式偵測裝置，更包括：第一蓋板，在所述第一偵測面板上；以及第二蓋板，在所述第二偵測面板上。
如請求項2所述的摺疊式偵測裝置，其中於所述開啟狀態時，所述第一蓋板未與所述第二蓋板重疊。
如請求項2所述的摺疊式偵測裝置，其中所述第一蓋板與所述第二蓋板包括碳纖維板。
如請求項2所述的摺疊式偵測裝置，其中於所述收合狀態時，於俯視所述摺疊式偵測裝置的方向上，所述第二蓋板與所述第一蓋板至少部分重疊。
如請求項1所述的摺疊式偵測裝置，其中於所述開啟狀態時，所述第一偵測面板與所述第二偵測面板產生影像訊號。
如請求項1所述的摺疊式偵測裝置，其中於所述收合狀態時，所述第一偵測面板與所述第二偵測面板的其中之一產生影像訊號。
如請求項1所述的摺疊式偵測裝置，更包括：訊號傳輸結構，耦接於所述第一偵測面板與所述第二偵測面板。
一種摺疊式偵測裝置的影像訊號處理方法，其中所述摺疊式偵測裝置用於開啟狀態及收合狀態，其中所述摺疊式偵測裝置包括第一偵測面板以及第二偵測面板，其中所述影像訊號處理方法包括：將所述摺疊式偵測裝置調整為所述開啟狀態；由所述第一偵測面板依第一參數以產生第一校正影像訊號；由所述第二偵測面板依第二參數以產生第二校正影像訊號；以所述第一校正影像訊號以及所述第二校正影像訊號的其中之一為基準影像訊號並調整另一校正影像訊號以產生調整影像訊號；以及合併所述基準影像訊號與所述調整影像訊號。
如請求項9所述的影像訊號處理方法，其中以所述第一校正影像訊號以及所述第二校正影像訊號的其中之一為所述基準影像訊號並調整另一校正影像訊號以產生調整影像訊號的步驟包括：以所述第一校正影像訊號以及所述第二校正影像訊號的其中之一為所述基準影像訊號並調整另一校正影像訊號的參考亮度，其中所述參考亮度是平均亮度、最大亮度以及最低亮度的至少其中之一。