TWI798775B - 金屬遮罩的製作方法及金屬遮罩 - Google Patents

金屬遮罩的製作方法及金屬遮罩 Download PDF

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Abstract

一種金屬遮罩的製作方法，包含：提供基材定義有虛置圖案區及開口圖案區；形成導電圖案層於基材表面，導電圖案層包含第一導電圖案形成於虛置圖案區及第二導電圖案形成於開口圖案區，第一導電圖案包含多個第一子圖案，相鄰兩第一子圖案之間具有第一間隔空間以暴露部分基材表面，第一間隔空間具有第一間距；進行電鑄製程，於基材表面形成電鑄膜，電鑄膜具有鑄膜厚度，其中第一間距小於鑄膜厚度的兩倍，電鑄膜填滿第一間隔空間；以及將電鑄膜自基材及導電圖案層分離，其中，形成於虛置圖案區上的電鑄膜上具有多個凹槽。一種金屬遮罩亦被提供。

Description

金屬遮罩的製作方法及金屬遮罩
本發明是有關一種金屬遮罩的製作技術，尤其是一種以電鑄製程進行遮罩製作的金屬遮罩的製作方法及金屬遮罩。
有源矩陣有機發光二極體(Active Matrix Organic Light Emitting Diode，AMOLED)顯示器採用有機發光二極體(OLED)作為發光源，具有顯示反應速度快、超寬視角、超高對比度和飽和度、色域寬廣的優點。AMOLED面板在製程上需要採用有機發光材料作為發光源的有機成膜技術，其中真空蒸鍍法是目前最為成熟，也是現有絕大部分量產的小尺寸AMOLED產品採用的有機成膜技術。在蒸鍍過程中，需要使用精密金屬遮罩 (Fine pitch Metal Mask，FMM)用於鍍膜遮擋，產生像素圖形，然後在真空環境下將有機材料加熱使之蒸發並通過精密金屬遮罩在基板上選擇沉積成膜。精密金屬遮罩屬於AMOLED製程中的核心模具和耗材。
然而，精密金屬遮罩可能因為設計或是張網及雷射焊接時，產生皺摺(wrinkle)問題，導致蒸鍍時精密金屬遮罩無法與基板完整貼合，而影響蒸鍍品質。目前可藉由在精密金屬遮罩的部分區域形成虛置圖案(dummy pattern)來抑制皺摺的產生，然而，現有以電鑄技術製作具有虛置圖案的精密金屬遮罩時，需藉由多次的微影製程及電鑄製程，或者微影製程配合電鑄及蝕刻製程，才能製作具有虛置圖案的精密金屬遮罩，製程複雜且耗費產能。
本發明提供一種金屬遮罩的製作方法及金屬遮罩，其中，金屬遮罩可與基板完整貼合，而具有較佳的蒸鍍品質。
本發明所提供的金屬遮罩的製作方法，包含：提供基材，包含基材表面，基材表面定義有虛置圖案區及開口圖案區；形成導電圖案層於基材表面，導電圖案層包含第一導電圖案及第二導電圖案，第一導電圖案形成於虛置圖案區，第二導電圖案形成於開口圖案區，其中，第一導電圖案包含多個第一子圖案，相鄰兩第一子圖案之間具有第一間隔空間以暴露部分基材表面，且第一間隔空間具有一第一間距；進行電鑄製程，於基材表面形成電鑄膜，電鑄膜具有鑄膜厚度，其中第一間距小於鑄膜厚度的兩倍，電鑄膜覆蓋第一導電圖案及第二導電圖案，其中電鑄膜填滿第一子圖案之間的第一間隔空間；以及將電鑄膜自基材及導電圖案層分離，其中，形成於虛置圖案區上的電鑄膜上具有多個第一凹槽，形成於開口圖案區上的電鑄膜具有多個開孔。
在本發明的一實施例中，上述之第二導電圖案包含多個第二子圖案，每一第二子圖案包含側面，每一開孔包含第一內側壁，鑄膜厚度為側面至第一內側壁之間的距離。
在本發明的一實施例中，上述之相鄰的第二子圖案之間具有第二間隔空間以暴露部分基材表面，且第二間隔空間具有第二間距，第二間距大於鑄膜厚度的兩倍。
在本發明的一實施例中，進行上述之電鑄製程時，第二間隔空間未被電鑄膜填滿，而保留多個開孔空間，作為電鑄膜的開孔。
在本發明的一實施例中，上述之第一凹槽介於兩相鄰第一子圖案之間。
在本發明的一實施例中，上述之第一凹槽具有開口部及溝底部，第一凹槽由開口部朝溝底部呈凹槽漸縮狀的V字輪廓。
本發明所提供的金屬遮罩，包含本體、開孔、第一凹槽、第二凹槽及第三凹槽。本體包含開口圖案部及虛置圖案部，本體包含相對的第一表面及第二表面；開孔形成於開口圖案部，開孔貫穿第一表面及第二表面，每一開孔包含第一內側壁；第一凹槽形成於虛置圖案部的第一表面；第二凹槽形成於虛置圖案部的第二表面，每一第一凹槽介於兩相鄰第二凹槽之間，且相鄰兩第二凹槽之間具有第一間距；第三凹槽形成於開口圖案部的第二表面，每一第三凹槽介於兩相鄰開孔之間，每一第三凹槽包含第二內側壁，第二內側壁及第一內側壁之間具有鑄膜厚度，其中第一間距小於鑄膜厚度的兩倍。
在本發明的一實施例中，上述之相鄰兩第三凹槽之間具有第二間距，第二間距大於鑄膜厚度的兩倍。
在本發明的一實施例中，上述之開孔的形狀選自圓形、矩形、方形、六角形及多邊形其中之一或其組合，且開孔呈矩陣排列。
在本發明的一實施例中，上述之第二凹槽呈矩形條狀，第二凹槽平行且間隔排列。
在本發明的一實施例中，上述之第一凹槽具有開口部及溝底部，第一凹槽由開口部朝溝底部呈凹槽漸縮狀的V字輪廓。
在本發明的一實施例中，上述之虛置圖案部的個數為多個，分別位於開口圖案部的相對兩側。
本發明使位於虛置圖案區上之導電圖案層中相鄰子圖案間的間距小於鑄膜厚度的兩倍，以便經由一次的電鑄製程形成電鑄膜作為金屬遮罩時，在金屬遮罩形成有具盲孔的虛置圖案部，以防止金屬金罩於張網或是進行雷射焊接時產生皺摺問題。
為讓本發明之上述和其他目的、特徵和優點能更明顯易懂，下文特舉實施例，並配合所附圖式，作詳細說明如下。
圖1A至圖1D所示是本發明一實施例金屬遮罩的製作方法的部分剖面示意圖，圖2A至圖2D所示是本發明一第一實施例金屬遮罩的製作方法的俯視示意圖。首先，提供基材10，如圖1A及圖2A所示，基材10包含基材表面101，基材表面101定義有虛置圖案區12及開口圖案區14，基材10的材質可選自玻璃、聚醯亞胺(PI)或聚酯(PET)其中之一。接著，如圖1B及圖2B所示，形成導電圖案層16於基材表面101，導電圖案層16的材料例如是銅、鎳或其它非金屬導電材料，導電圖案層16包含第一導電圖案18(標示於圖2B)及第二導電圖案20(標示於圖2B)，第一導電圖案18形成於虛置圖案區12，第二導電圖案20形成於開口圖案區14。於一實施例中，第一導電圖案18中經由多個第一子圖案181的排列建構多個第一間隔空間182，第二導電圖案20中經由多個第二子圖案201的排列建構有多個第二間隔空間202，其中經由第一間隔空間182及第二間隔空間202暴露部分的基材表面101，圖2B中僅對部分的第一子圖案181及第二子圖案201進行標示，於一實施例中，如圖2B所示，多個第一子圖案181沿第一方向D1排列，且每一第一子圖案181沿第二方向D2延伸，其中，相鄰兩第一子圖案181之間的第一間隔空間182在第一方向D1上具有第一間距S1，相鄰兩第二子圖案201之間的第二間隔空間202在第一方向D1及第二方向D2上各自具有第二間距S2及第二間距S2’。於一實施例中，多個第一子圖案181的形狀可為相同或相異，多個第二子圖案201的形狀可為相同或相異。
接著，進行電鑄製程，將形成有導電圖案層16的基材10置於電鑄槽中作為陰極體，以於導電圖案層16上形成一具有預定之鑄膜厚度T的電鑄膜22，如圖1C及圖2C所示，其中，第一間距S1小於鑄膜厚度T的兩倍，第二間距S2大於鑄膜厚度T的兩倍，電鑄膜22可以用鎳鐵(Ni-Fe)合金的銦鋼(Invar)製成。除了鎳鐵合金之外，電鑄膜22還可以由選自鎳鎢(Ni-W)合金及鎳鈷(Ni-Co)合金的材料製成，然而，電鑄膜22的材料並不限於此。電鑄膜22例如覆蓋第一導電圖案18(包含第一子圖案181)、第二導電圖案20(包含第二子圖案201)，其中，由於第一間距S1小於鑄膜厚度T的兩倍，因此電鑄膜22在覆蓋第一子圖案181的同時亦會填滿第一間隔空間182(標示於圖1B及圖2B)，於一實施例中，形成在第一間隔空間182的電鑄膜22會具有類似盲孔的第一凹槽24，第一凹槽24沿第二方向D2延伸且介於兩相鄰的第一子圖案181之間，第一凹槽24具有開口部241及溝底部242，第一凹槽24由開口部241朝溝底部242呈凹槽漸縮狀的V字輪廓。
其中，由於第二間距S2大於鑄膜厚度T的兩倍，因此電鑄膜22在覆蓋第二導電圖案20時，第二間隔空間202(標示於圖1B及圖2B)未被電鑄膜22完全填滿，而保留有開孔空間221。於一實施例中，請參閱圖1C所示，每一開孔空間221包含有第一內側壁222，每一第二子圖案201包含一側面203，鑄膜厚度T可由側面203至第一內側壁222之間的距離界定。
之後，將電鑄膜22自基材10及導電圖案層16分離，如圖1D及圖2D所示，形成於基材10之虛置圖案區12(標示於圖1A及2A)上的電鑄膜22具有多個第一凹槽24；形成於基材10之開口圖案區14(標示於圖1A及2A)上的電鑄膜22具有多個開孔221a，其中電鑄膜22上的開孔221a即來自第二間隔空間202未被電鑄膜22完全填滿所保留的開孔空間221，如此構成一具有開孔221a的金屬遮罩30。
圖3A至圖3D所示是本發明一第二實施例金屬遮罩的製作方法的俯視示意圖，第二實施例與第一實施例的差異主要在於第一導電圖案18A之第一子圖案181A的排列，如圖3A及圖3B所示，導電圖案層16A形成於基材10的基材表面101，導電圖案層16A之第一導電圖案18A形成於虛置圖案區12，導電圖案層16A之第二導電圖案20形成於開口圖案區14，其中第一導電圖案18A的多個第一子圖案181A沿第二方向D2排列，且每一第一子圖案181A沿第一方向D1延伸，相鄰兩第一子圖案181A之間在第二方向D2上具有第一間距S1，第一間距S1小於鑄膜厚度T的兩倍。如圖3C所示，進行電鑄製程時，形成在相鄰兩第一子圖案181A之間(即第一間隔空間182A)的電鑄膜22A會形成一類似盲孔的第一凹槽24A，如圖3C所示，第一凹槽24A沿第一方向D1延伸且介於兩相鄰的第一子圖案181A(標示於圖3B)之間。之後，將電鑄膜22A自基材10及導電圖案層16A分離，如圖3D所示，形成於基材10之虛置圖案區12(標示於圖3B)上的電鑄膜22A具有多個第一凹槽24A，形成於基材10之開口圖案區14(標示於圖3B)上的電鑄膜22A具有多個開孔221a，如此電鑄膜22A可供作為金屬遮罩30A。又基材10、導電圖案層16A與電鑄膜22A的材質已揭示於第一實施例中，於此不再贅述。
圖4是本發明一實施例金屬遮罩的剖面結構示意圖，如圖4所示，金屬遮罩30包含本體32、開孔221a、第一凹槽24、第二凹槽34及第三凹槽36。本體32的材質例如可為銦鋼(Invar)、鎳鎢(Ni-W)合金、鎳鈷(Ni-Co)合金或鎳鐵(Ni-Fe)合金，本體32包含虛置圖案部38及開口圖案部40，本體32包含相對的第一表面321及第二表面322；多個開孔221a形成於開口圖案部40，開孔221a貫穿第一表面321及第二表面322，每一開孔221a包含第一內側壁222，開孔221a的形狀可選自圓形、矩形、方形、六角形及多邊形其中之一或其組合，且開孔221a可呈矩陣排列；第一凹槽24形成於本體32之位在虛置圖案部38的第一表面321，於一實施例中，每一第一凹槽24具有開口部241及溝底部242，第一凹槽24由開口部241朝溝底部242呈凹槽漸縮狀的V字輪廓；第二凹槽34形成於本體32之位在虛置圖案部38的第二表面322，於一實施例中，第二凹槽34呈矩形條狀，第二凹槽34平行且間隔排列，每一第一凹槽24介於兩相鄰第二凹槽34之間，且相鄰兩第二凹槽34之間具有第一間距S1；第三凹槽36形成於本體32之位在開口圖案部40的第二表面322，每一第三凹槽36介於兩相鄰開孔221a之間，每一第三凹槽36包含第二內側壁361，第二內側壁361及開孔221a的第一內側壁222之間具有鑄膜厚度T，其中第一間距S1小於鑄膜厚度T的兩倍，又相鄰兩第三凹槽36之間具有第二間距S2，第二間距S2大於鑄膜厚度T的兩倍。
圖5A及圖5B所示分別是本發明金屬遮罩不同態樣示意圖，如圖5A所示，金屬遮罩30B之本體32上設有一開口圖案部40及兩虛置圖案部38，兩虛置圖案部38分別位於開口圖案部40的相對兩側，其中開口圖案部40具有多個開孔221a，虛置圖案部38具有多個盲孔42(即上述之第一凹槽24)；如圖5B所示，金屬遮罩30C之本體32上設有兩開口圖案部40及三虛置圖案部38，虛置圖案部38分別位於本體32的相對兩端以及兩開口圖案部40之間，其中開口圖案部40具有多個開孔221a，虛置圖案部38具有多個盲孔42(即上述之第一凹槽24)。
在本發明實施例金屬遮罩的製作方法中，使位於虛置圖案區上之導電圖案層中相鄰子圖案間的間距小於鑄膜厚度的兩倍，以便經由一次的電鑄製程形成電鑄膜作為金屬遮罩時，在金屬遮罩形成有具盲孔的虛置圖案部，以防止金屬金罩於張網或是進行雷射焊接時產生皺摺問題，進而使金屬遮罩與基板可完整貼合，而具有較佳的蒸鍍品質。
雖然本發明已以實施例揭露如上，然其並非用以限定本發明，本發明所屬技術領域中具有通常知識者，在不脫離本發明之精神和範圍內，當可作些許之更動與潤飾，因此本發明之保護範圍當視後附之申請專利範圍所界定者為準。
10:基材 101:基材表面 12:虛置圖案區 14:開口圖案區 16、16A:導電圖案層 18、18A:第一導電圖案 181、181A:第一子圖案 182、182A:第一間隔空間 20:第二導電圖案 201:第二子圖案 202:第二間隔空間 203:側面 D1:第一方向 D2:第二方向 S1:第一間距 S2、S2’:第二間距 22、22A:電鑄膜 221:開孔空間 221a:開孔 222:第一內側壁 T:鑄膜厚度 24、24A:第一凹槽 241:開口部 242:溝底部 30、30A、30B、30C:金屬遮罩 32:本體 321:第一表面 322:第二表面 34:第二凹槽 36:第三凹槽 361:第二內側壁 38:虛置圖案部 40:開口圖案部 42:盲孔
圖1A至圖1D所示是本發明一實施例金屬遮罩的製作方法的部分剖面示意圖。 圖2A至圖2D所示是本發明一第一實施例金屬遮罩的製作方法的俯視示意圖。 圖3A至圖3D所示是本發明一第二實施例金屬遮罩的製作方法的俯視示意圖。 圖4是本發明一實施例金屬遮罩的剖面結構示意圖。 圖5A及圖5B所示分別是本發明金屬遮罩不同態樣示意圖。
18:第一導電圖案
181:第一子圖案
20:第二導電圖案
201:第二子圖案
203:側面
S1:第一間距
S2:第二間距
22:電鑄膜
221:開孔空間
222:第一內側壁
T:鑄膜厚度
24:第一凹槽
241:開口部
242:溝底部

Claims (9)

  1. 一種金屬遮罩的製作方法，包含：提供一基材，包含一基材表面，該基材表面定義有至少一虛置圖案區及至少一開口圖案區；形成一導電圖案層於該基材表面，該導電圖案層包含一第一導電圖案及一第二導電圖案，該第一導電圖案形成於該至少一虛置圖案區，該第二導電圖案形成於該至少一開口圖案區，其中，該第一導電圖案包含多個第一子圖案，相鄰兩該些第一子圖案之間具有一第一間隔空間以暴露部分該基材表面，且該第一間隔空間具有一第一間距；進行一電鑄製程，於該基材表面形成一電鑄膜，該電鑄膜具有一鑄膜厚度，其中該第一間距小於該鑄膜厚度的兩倍，該電鑄膜覆蓋該第一導電圖案及該第二導電圖案，其中該電鑄膜填滿相鄰兩該些第一子圖案之間的該第一間隔空間，且形成於該至少一虛置圖案區上的該電鑄膜具有多個第一凹槽，分別介於兩相鄰該些第一子圖案之間，其中，每一該些第一凹槽具有一開口部及一溝底部，每一該些第一凹槽由該開口部朝該溝底部呈凹槽漸縮狀的V字輪廓；以及將該電鑄膜自該基材及該導電圖案層分離，其中，形成於該至少一開口圖案區上的該電鑄膜具有多個開孔。
  2. 如請求項1所述的金屬遮罩的製作方法，其中，該第二導電圖案包含多個第二子圖案，每一該些第二子圖案包含一側面，每一該些開孔包含一第一內側壁，該鑄膜厚度為該側面至該第一內側壁之間的距離。
  3. 如請求項2所述的金屬遮罩的製作方法，其中，相鄰兩該些第二子圖案之間具有一第二間隔空間以暴露部分該基材表面，且該第二間隔空間具有一第二間距，該第二間距大於該鑄膜厚度的兩倍。
  4. 如請求項3所述的金屬遮罩的製作方法，其中，進行該電鑄製程時，該第二間隔空間未被該電鑄膜填滿，而保留多個開孔空間，作為該電鑄膜的該些開孔。
  5. 一種金屬遮罩，包含：一本體，包含至少一開口圖案部及至少一虛置圖案部，該本體包含相對的一第一表面及一第二表面；多個開孔形成於該至少一開口圖案部，該些開孔貫穿該第一表面及該第二表面，每一該些開孔包含一第一內側壁；多個第一凹槽形成於該至少一虛置圖案部的該第一表面，其中，每一該些第一凹槽具有一開口部及一溝底部，每一該些第一凹槽由該開口部朝該溝底部呈凹槽漸縮狀的V字輪廓；多個第二凹槽形成於該至少一虛置圖案部的該第二表面，每一該些第一凹槽介於兩相鄰該些第二凹槽之間，且相鄰兩該些第二凹槽之間具有一第一間距；以及多個第三凹槽形成於該至少一開口圖案部的該第二表面，每一該些第三凹槽介於兩相鄰該些開孔之間，每一該些第三凹槽包含一第二內側壁，該第二內側壁及該第一內側壁之間具有一鑄膜厚度，其中該第一間距小於該鑄膜厚度的兩倍。
  6. 如請求項5所述的金屬遮罩，其中，相鄰兩該些第三凹槽之間具有一第二間距，該第二間距大於該鑄膜厚度的兩倍。
  7. 如請求項5所述的金屬遮罩，其中，該些開孔的形狀選自圓形、矩形、方形、六角形及多邊形其中之一或其組合，且該些開孔呈矩陣排列。
  8. 如請求項5所述的金屬遮罩，其中，該些第二凹槽呈矩形條狀，該些第二凹槽平行且間隔排列。
  9. 如請求項5所述的金屬遮罩，其中，該至少一虛置圖案部的個數為多個，分別位於該至少一開口圖案部的相對兩側。
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