TWI793778B

TWI793778B - 飛時測距裝置以及飛時測距方法

Info

Publication number: TWI793778B
Application number: TW110136143A
Authority: TW
Inventors: 吳東佑; 柏堂宏; 萬昇
Original assignee: 神盾股份有限公司
Priority date: 2020-12-04
Filing date: 2021-09-29
Publication date: 2023-02-21
Also published as: TW202223432A; TWM621938U; TW202223330A; CN113791422A; CN113791421B; CN113791421A; CN113791422B; TWM621936U; US20220179079A1; US20220179078A1

Abstract

本發明提出一種飛時測距裝置以及飛時測距方法。飛時測距裝置包括光源、感測陣列以及時間至數位轉換器。光源朝感測目標依序發射多個雷射脈衝光。感測陣列用以感測經由感測目標反射多個雷射脈衝光所產生的多個反射脈衝光。時間至數位轉換器用以在連續的多個測距期間分別對多個感測單元的多個感測結果進行多次積分操作，以產生多個第一直方圖資料。控制電路對多個第一直方圖資料進行數學運算，以產生第二直方圖資料。多個測距期間彼此之間具有多個延遲期間，以使多個第一直方圖資料的多個起始時間為依序延遲多個時間長度。

Description

飛時測距裝置以及飛時測距方法

本發明是有關於一種測距技術，且特別是有關於一種飛時測距裝置以及飛時測距方法。

在目前的直接飛時測距(Direct Time of Flight，D-ToF)感測的應用中，時間至數位轉換器(Time-to-digital converter，TDC)的積分時間決定了測距裝置的距離精準度。對此，當測量總時間為固定值時，若積分時間越短，則換算出的距離解析度越高，因此測距的誤差可越小。由於時間至數位轉換器的積分時間越小，因此時間至數位轉換器所產生的直方圖的直條(bin)的數目將會增加。對此，直方圖的直條的數目增加將會需要更大的儲存空間來儲存每次時間至數位轉換器所量測的結果，因此導致測距裝置的處理晶片的成本以及晶片面積將會大幅增加。然而，若以測距裝置的處理晶片的成本為考量而增加時間至數位轉換器的積分時間，則會造成距離解析度下降且測量的誤差加大。特別是，在測距過程中，當兩個物件靠近時，測距裝置可能無法準確分辨出兩個物件的間隔空隙。

有鑑於上述問題，本發明提供一種飛時測距裝置以及飛時測距方法，可提供高精度的測距功能。

本發明的飛時測距裝置包括光源、感測陣列以及時間至數位轉換器。光源用以朝感測目標依序發射多個雷射脈衝光。感測陣列包括多個感測單元。感測陣列用以感測經由感測目標反射多個雷射脈衝光所產生的多個反射脈衝光。時間至數位轉換器耦接感測陣列。時間至數位轉換器用以在連續的多個測距期間分別對多個感測單元的多個感測結果進行多次積分操作，以產生多個第一直方圖資料。控制電路耦接光源、感測陣列以及時間至數位轉換器。控制電路用以對多個第一直方圖資料進行數學運算，以產生第二直方圖資料。多個測距期間彼此之間具有多個延遲期間。多個延遲期間的多個時間長度為依序遞增，以使多個第一直方圖資料的多個起始時間為依序延遲多個時間長度。

本發明的飛時測距方法包括以下步驟：透過光源朝感測目標依序發射多個雷射脈衝光；透過感測陣列的多個感測單元感測經由感測目標反射多個雷射脈衝光所產生的多個反射脈衝光；透過時間至數位轉換器在連續的多個測距期間分別對多個感測單元的多個感測結果進行多次積分操作，以產生多個第一直方圖資料；以及對多個第一直方圖資料進行數學運算，以產生第二直方圖資料。多個測距期間彼此之間具有多個延遲期間。多個延遲期間的多個時間長度為依序遞增，以使多個第一直方圖資料的多個起始時間為依序延遲多個時間長度。

基於上述，本發明的飛時測距裝置以及飛時測距方法可透過對具有不同延遲期間的多個第一直方圖資料進行數學運算，以產生具有時間精度較高的第二直方圖資料。

為讓本發明的上述特徵和優點能更明顯易懂，下文特舉實施例，並配合所附圖式作詳細說明如下。

為了使本發明之內容可以被更容易明瞭，以下特舉實施例做為本揭示確實能夠據以實施的範例。另外，凡可能之處，在圖式及實施方式中使用相同標號的元件/構件/步驟，係代表相同或類似部件。

圖1是本發明的一實施例的飛時測距裝置的示意圖。參考圖1，飛時測距裝置100包括飛時測距感測器110、控制電路120以及儲存裝置130。飛時測距感測器110包括感測陣列111、時間至數位轉換器(Time-to-digital converter，TDC)112以及光源113。控制電路120耦接時間至數位轉換器112、光源113以及儲存裝置130。時間至數位轉換器112耦接感測陣列111。在本實施例中，飛時測距感測器110可進行直接飛時測距(Direct Time of Flight，D-ToF)感測操作。感測陣列111可包括陣列排列的多個感測單元(感測像素)。在本實施例中，前述的多個感測單元可為多個單光子崩潰二極體(Single Photon Avalanche Diode，SPAD)。光源113可為雷射光源，並且用以發射雷射脈衝光，其中雷射脈衝光可為紅外線(Infrared，IR)雷射。

在本實施例中，控制電路120可為設置在飛時測距裝置100中的一種微控制器(Microcontroller Unit，MCU)，但本發明並不限於此。在一實施例中，控制電路120可為終端設備的中央處理器(Central Processing Unit，CPU)，並且飛時測距裝置100設置在終端設備上。在本實施例中，儲存裝置130可為設置在飛時測距裝置100中的記憶體(memory)，但本發明也不限於此。在一實施例中，儲存裝置130可為終端設備的儲存裝置。

在本實施例中，光源113可朝感測目標200發射雷射脈衝光。雷射脈衝光可發射至感測目標200的表面，並經由感測目標200的表面發生反射，以產生對應的反射脈衝光。感測陣列111的多個感測單元可感測經由感測目標200反射雷射脈衝光所產生的反射脈衝光，並且感測陣列111可輸出多個感測單元的感測結果至時間至數位轉換器112。基於單光子崩潰二極體的特性，每一個單光子崩潰二極體可在接收到一個或少數個光子後即產生感測信號，並且可將感測信號儲存至感測單元的儲存電容中。在本實施例中，時間至數位轉換器112可在連續的多個積分期間對單光子崩潰二極體的多個感測結果進行多次積分操作，以產生直方圖資料(histogram data)。直方圖資料可儲存在飛時測距感測器110的記憶體或是時間至數位轉換器112的緩衝器(buffer)中。在本實施例中，控制電路120可讀出直方圖資料，並且對直方圖資料進行分析，以根據直方圖資料來計算飛時測距裝置100與感測目標200之間的距離參數。

圖2是本發明的第一實施例的飛時測距方法的流程圖。參考圖1及圖2，飛時測距裝置100可執行如圖2的步驟S210~S230，以實現飛時測距操作。在步驟S210，飛時測距裝置100可透過光源113朝感測目標200發射雷射脈衝光。在步驟S220，飛時測距裝置100可透過感測陣列111的多個感測單元感測經由感測目標200反射雷射脈衝光所產生的反射脈衝光。在步驟S230，飛時測距裝置100可透過時間至數位轉換器112在連續的多個積分期間對多個感測單元的多個感測結果進行積分操作，以產生直方圖資料。值得注意的是，在本實施例中，前述的多個積分期間的至少一部分可具有不同時間長度，以使直方圖資料中的多個直條(bin)的至少一部分具有不同組距(bin width)。

參考圖1、圖3A及圖3B，圖3A是本發明的第一實施例的積分時序圖，並且圖3B是本發明的第一實施例的直方圖資料的示意圖。舉例而言，如圖3A所示，在感測陣列111感測經由感測目標200反射雷射脈衝光所產生的反射脈衝光的過程中，時間至數位轉換器112可在時間t0至時間t12之間的連續的積分期間EP1~EP12對多個感測單元的多個感測結果進行積分操作，以產生如圖3B的直方圖資料310。在本實施例中，積分期間EP5~EP10可與積分期間EP1~EP4、EP11、EP12具有不同積分時間長度。例如，積分期間EP5~EP10的積分時間長度可短於積分期間EP1~EP4、EP11、EP12的積分時間長度。換言之，時間t4至時間t10之間的時間解析度可高於其他時間區間。

控制電路120可將圖3B的直方圖資料儲存至儲存裝置130中，並且可分析圖3B的直方圖資料。如圖3B所示，在連續的積分期間EP1~EP12對多個感測單元的多個感測結果可表示如圖3B的直方圖資料310的多個直條。由於時間t4至時間t10之間的多個直條的組距較窄，因此時間解析度較高。換言之，若感測陣列111接收到反射脈衝光的時間介於時間t4至時間t10之間，則本實施例的飛時測距裝置100可透過分析圖3B的直方圖資料310來取得具有距離精準度較高的距離參數的感測結果。

在本實施例中，控制電路120可根據圖3B的直方圖資料310的多個直條所分別對應的多個計數值來判斷感測陣列111接收到反射脈衝光的時間。並且，控制電路120可根據光源113發射雷射脈衝光(已知發射時間)以及感測陣列111接收到反射脈衝光的時間差來計算飛時測距裝置100與感測目標200之間的距離參數。在本實施例中，由於感測陣列111亦可能感測到環境光而輸出環境光的感測結果，因此控制電路120可判斷直方圖資料310的多個直條中是否有連續多個直條的多個計數值分別超過預設計數值，並且此連續多個直條的數量超過預設連續直條數量。若有，控制電路120可透過計算此連續多個直條的多個計數值來決定感測陣列111接收到反射脈衝光的時間。例如，控制電路120可將前述的連續多個計數值進行平均運算，以取得平均計數值。接著，控制電路120可根據平均計數值來計算光源113發射雷射脈衝光與感測陣列111感測到反射脈衝光的時間差(td)，並且根據此時間差計算對應的距離參數，例如D=td×c，其中D為距離參數，c為光速。或者是，在另一實施例中，控制電路120可判斷超過閾值的一直條作為判斷基準，並且分析此一直條的鄰近複數直條分布(前後鄰近直條)是否符合反射物光子分布。若此一直條的鄰近複數直條分布符合反射物光子分布，則控制電路120可透過計算此連續多個直條的多個計數值來決定感測陣列111接收到反射脈衝光的時間。又或者是，在又一實施例中，控制電路120亦可透過其他方式來分析直方圖資料310的多個直條，以決定反射脈衝光的時間，而本發明不限於上述提出的實施方式。

值得注意的是，積分期間EP1~EP12的多個積分時間長度可為預設，並且不限於圖3A所示的時間長度分布。在一實施例中，積分期間EP1~EP12的多個積分時間長度可包括多種時間長度設計而不限於圖3A的兩種。積分期間EP1~EP12的多個積分時間長度也可為漸進變化，例如時間長度逐漸增加或逐漸減少。甚至，積分期間的數量也不限於圖3A所示。在另一實施例中，控制電路120還可根據圖3B的直方圖資料310的分析及計算結果所取得的距離參數來動態調整在下一次感測操作中的另多個積分期間的多個時間長度。換言之，如圖3B所示，當控制電路120判斷積分期間EP4所對應的計數值為最高時，控制電路120可適應性調整積分期間EP1~EP12的多個積分時間長度。

圖4A是本發明的第一實施例的另一積分時序圖。圖4B是本發明的第一實施例的另一直方圖資料的示意圖。舉例而言，參考圖1、圖4A以及圖4B，如前所述，控制電路120可縮短在下一感測操作中接近於感測陣列111接收到反射脈衝光的時間的多個積分期間。延續圖3A及圖3B的說明，在下一感測操作中，控制電路120可縮短積分期間EP1’~EP12’的至少其中之一(即對應於前次感測計數值為最高的鄰近至少一個積分期間)，並且增長其他積分期間的時間長度。如圖4A所示，控制電路120可縮短積分期間EP3’~EP6’的時間長度，並且增長其他積分期間的時間長度。在感測陣列111下一次感測經由感測目標200反射雷射脈衝光所產生的反射脈衝光的過程中，時間至數位轉換器112可在時間t0’至時間t12’之間的連續的積分期間EP1’~EP12’對多個感測單元的多個感測結果進行積分操作，以產生如圖4B的直方圖資料410。

控制電路120可將圖4B的直方圖資料410儲存至儲存裝置130中，並且可分析圖4B的直方圖資料410。如圖4B所示，由於時間t2’至時間t6’之間的多個直條的組距較窄，因此時間解析度較高。換言之，若感測陣列111接收到反射脈衝光的時間介於時間t2’至時間t6’之間，則本實施例的飛時測距裝置100可透過分析圖4B的直方圖資料410來取得具有距離精準度較高的距離參數的感測結果。換言之，本實施例的飛時測距裝置100可透過自適應性地調整(動態調整)多個積分期間的至少一部份的時間長度，以有效增加感測結果的感測精度。

值得注意的是，在本實施例中，下一感測操作中的積分期間EP1’~EP12’的多個時間長度經調整後，積分期間EP1’~EP12’所對應的感測總時間長度可為不變。換言之，積分期間EP1~EP12所對應的感測總時間長度相同於積分期間EP1’~EP12’所對應的感測總時間長度，但本發明並不限於此。並且，下一感測操作中的積分期間EP1’~EP12’的多個時間長度經調整後，積分期間EP1’~EP12’的積分期間數量可為不變。換言之，積分期間EP1~EP12的積分期間數量相同於積分期間EP1’~EP12’的積分期間數量，但本發明並不限於此。換言之，若感測總時間長度以及積分期間數量可不變，則圖3B的直方圖資料310與圖4B的直方圖資料410可分別在儲存裝置130中而占有相同的儲存空間大小。如此一來，本實施例的飛時測距裝置100可無需增加儲存空間即可獲得具有距離精準度較高的距離參數的感測結果。

圖5是本發明的第二實施例的飛時測距方法的流程圖。參考圖5，參考圖1及圖5，飛時測距裝置100可執行如圖5的步驟S510~S540，以實現飛時測距操作。在步驟S510，飛時測距裝置100可透過光源113朝感測目標200依序發射多個雷射脈衝光。在本實施例中，光源113可以相同時間間隔發射多個雷射脈衝光。在步驟S520，飛時測距裝置100可透過感測陣列111的多個感測單元感測經由感測目標200分別反射多個雷射脈衝光所產生的多個反射脈衝光。在步驟S530，飛時測距裝置100可透過時間至數位轉換器112在連續的多個測距期間分別對多個感測單元的多個感測結果進行多次積分操作，以產生多個第一直方圖資料。在步驟S540，飛時測距裝置100可對多個第一直方圖資料進行數學運算，以產生第二直方圖資料。值得注意的是，前述的數學運算可例如是指累加運算、平均運算或差分運算等方式，而以下圖6及圖7實施例將以累加運算的方式來舉例說明之。

值得注意的是，前述的多個測距期間彼此之間具有多個延遲期間，以使多個第一直方圖資料的多個起始時間為依序延遲多個時間長度。並且，這些延遲期間的這些時間長度小於多個第一直方圖資料中的多個直條的多個組距。如此一來，第一直方圖資料分別的多個第一直條數量小於第二直方圖資料的直條數量，並且多個第一直方圖資料分別的多個第一組距大於第二直方圖資料的多個第二組距。

參考圖6，圖6是本發明的第二實施例的直方圖資料的示意圖。舉例而言，時間至數位轉換器112可在連續的三個測距期間(未重疊)分別對感測陣列111的多個感測單元的多個感測結果進行多次積分操作，以產生如圖6所示的三個第一直方圖資料610~630，其中時間a0至時間a14為用於表示第一直方圖資料610~630在不同測距期間中的相對時間的時序關係。在此範例中，連續的三個測距期間分別與光源113朝感測目標200依序發射三個雷射脈衝光的時間同步。在第一測距期間，時間至數位轉換器112所產生的第一直方圖資料610可在時間a0至時間a12之間具有六個直條。在第二測距期間，時間至數位轉換器112所產生的第一直方圖資料620可在時間a1至時間a13之間具有六個直條。在第三測距期間，時間至數位轉換器112所產生的第一直方圖資料630可在時間a2至時間a14之間具有六個直條。第一測距期間分別的多個積分期間具有相同時間長度，以使第一直方圖資料610~630中的每個直條具有相同組距，即例如時間長度t(例如時間a0至時間a2的時間長度)。第一測距期間與第二測距期間之間可具有時間長度為t/2的延遲期間(例如時間a0至時間a1的時間長度)，並且第二測距期間與第三測距期間之間可具有時間長度為t/2的延遲期間(例如時間a1至時間a2的時間長度)。

在此範例中，控制電路120可累加第一直方圖資料610~630，以產生第二直方圖資料640，其中第二直方圖資料640可在時間a0至時間a14之間具有十二個直條。換言之，第一直方圖資料610~630分別的多個直條數量小於第二直方圖資料640的直條數量，並且第一直方圖資料610~630分別的多個組距大於第二直方圖資料640的多個組距。因此，相較於第一直方圖資料610~630，控制電路120可根據第二直方圖資料640來計算飛時測距裝置100與感測目標200之間具有距離精準度較高的距離參數的感測結果。如圖6所示，控制電路120可透過第二直方圖資料640來判斷時間a5至時間a6之間具有最高的計數值，並進一步計算距離參數。相較於第一直方圖資料610，控制電路120僅可透過第一直方圖資料610來判斷時間a4至時間a6之間具有最高的計數值。

從另一角度而言，若多個相同延遲期間的時間長度為t/M，則第二直方圖資料的時間解析度可提升約為M倍，以使經由第二直方圖資料計算的距離參數的距離精準度也可提升約為M倍。然而，本發明的延遲期間的時間長度並不限於上述說明。在一實施例中，多個延遲期間的多個時間長度也可為等比例增加或為非等比例增加。

圖7是本發明的第三實施例的直方圖資料的示意圖。參考圖1及圖7，時間至數位轉換器112可在連續的兩個測距期間(未重疊)分別對感測陣列111的多個感測單元的多個感測結果進行多次積分操作，以產生如圖7所示的兩個第三直方圖資料710~720，其中時間b0至時間b13為用於表示第三直方圖資料710~720在不同測距期間中的相對時間的時序關係。在此範例中，連續的兩個測距期間分別與光源113朝感測目標200依序發射兩個雷射脈衝光的時間同步。在一測距期間，時間至數位轉換器112所產生的第三直方圖資料710可在時間b0至時間b12之間具有八個直條。在下一測距期間，時間至數位轉換器112所產生的第三直方圖資料720可在時間b1至時間b13之間具有八個直條。

值得注意的是，在本實施例中，多次積分操作的每一次的連續的多個積分期間的至少一部分可具有不同時間長度，以使第三直方圖資料710、720中分別的多個直條的至少一部分具有不同組距。如圖7所示，第三直方圖資料710中的時間b0至時間b2、時間b6至時間b8、時間b8至時間b10以及時間b10至時間b12可具有時間長度t’的組距，並且第三直方圖資料710中的時間b2至時間b3、時間b3至時間b4、時間b4至時間b5以及時間b5至時間b6可具有時間長度t’/2的組距。第三直方圖資料720中的時間b1至時間b3、時間b3至時間b5、時間b5至時間b7以及時間b11至時間b13可具有時間長度t’的組距，並且第三直方圖資料720中的時間b7至時間b8、時間b8至時間b9、時間b9至時間b10以及時間b10至時間b11可具有時間長度t’/2的組距。並且，兩個測距期間之間可具有時間長度為t’的延遲期間(例如時間b0至時間b1的時間長度)。值得注意的是，在一實施例中，兩個測距期間之間也可不具有延遲期間(即t’=0)。

在本實施例中，控制電路120可累加第三直方圖資料710、720，以產生第四直方圖資料730，其中第四直方圖資料730可在時間b0至時間a13之間具有十三個直條，並且第四直方圖資料730的每一個直條都具有時間長度t’/2的組距。如圖7所示，第四直方圖資料730的直條數量大於第三直方圖資料710、720分別的多個直條數量，並且第四直方圖資料730的整體時間精度高於第三直方圖資料710、720分別的整體時間精度。因此，相較於第三直方圖資料710、720，控制電路120可根據第四直方圖資料730來計算飛時測距裝置100與感測目標200之間具有距離精準度較高的距離參數的感測結果。

值得注意的是，本實施例可適用於上述第一實施例。例如上述圖3B以及圖4B的兩個測距期間之間也可具有延遲期間或無延遲期間。控制電路120可將圖3B以及圖4B的直方圖資料310、410進行累加，以取得整體時間精度更高的直方圖資料。並且，本實施例也可適用於上述第二實施例。例如上述圖6的直方圖資料610~630個別的多個直條的至少一部份可具有不同組距，因此控制電路120可透過將具有不同組距的直方圖資料610~630進行累加，來取得整體時間精度更高的直方圖資料。

綜上所述，本發明的飛時測距裝置以及飛時測距方法可透過動態調整時間至數位轉換器在一測距期間的多個積分期間的時間長度，及/或可將彼此的積分期間的起始時間具有延遲期間的多次測距期間進行數學運算，以取得整體時間精度更高的直方圖資料。換言之，本發明的飛時測距裝置以及飛時測距方法無須增加儲存空間及/或無須改變感測總時間長度，即可取得整體時間精度更高的直方圖資料，以便於可進一步計算具有距離精準度較高的距離參數。

雖然本發明已以實施例揭露如上，然其並非用以限定本發明，任何所屬技術領域中具有通常知識者，在不脫離本發明的精神和範圍內，當可作些許的更動與潤飾，故本發明的保護範圍當視後附的申請專利範圍所界定者為準。

100:飛時測距裝置 110:飛時測距感測器 111:感測陣列 112:時間至數位轉換器 113:光源 120:控制電路 130:儲存裝置 200:感測目標 310、410、610~640、710~730:直方圖資料 S210~S230、S510~S540:步驟 EP1~EP12、EP1’~EP12’:積分期間 t0~t12、t0’~t12’、a0~a14、b0~b13:時間

圖1是本發明的一實施例的飛時測距裝置的示意圖。圖2是本發明的第一實施例的飛時測距方法的流程圖。圖3A是本發明的第一實施例的積分時序圖。圖3B是本發明的第一實施例的直方圖資料的示意圖。圖4A是本發明的第一實施例的另一積分時序圖。圖4B是本發明的第一實施例的另一直方圖資料的示意圖。圖5是本發明的第二實施例的飛時測距方法的流程圖。圖6是本發明的第二實施例的直方圖資料的示意圖。圖7是本發明的第三實施例的直方圖資料的示意圖。

S510~S540:步驟

Claims

一種飛時測距裝置，包括：一光源，用以朝一感測目標依序發射多個雷射脈衝光；一感測陣列，包括多個感測單元，感測經由該感測目標反射該些雷射脈衝光所產生的多個反射脈衝光；以及一時間至數位轉換器，耦接該感測陣列，在連續的多個測距期間分別對該些感測單元的多個感測結果進行多次積分操作，以產生多個第一直方圖資料，一控制電路，耦接該光源、該感測陣列以及該時間至數位轉換器，對該些第一直方圖資料進行數學運算，以產生一第二直方圖資料，其中該些測距期間彼此之間具有多個延遲期間，以使該些第一直方圖資料的多個起始時間為依序延遲多個時間長度，其中在該些測距期間的每一個中，該感測陣列感測該些反射脈衝光的其中一個，以產生該些第一直方圖資料的其中一個，並且該些第一直方圖資料的每一個包括多個直條。
如請求項1所述的飛時測距裝置，其中該些延遲期間的多個時間長度為等比例增加。
如請求項1所述的飛時測距裝置，其中該些延遲期間的多個時間長度為非等比例增加。
如請求項1所述的飛時測距裝置，其中該些測距期間分別的多個積分期間具有相同時間長度，以使該些第一直方圖資料中的多個直條具有相同組距。
如請求項1所述的飛時測距裝置，其中該光源以相同時間間隔發射該些雷射脈衝光。
如請求項1所述的飛時測距裝置，其中該控制電路根據該第二直方圖資料來計算該飛時測距裝置與該感測目標之間的一距離參數。
如請求項6所述的飛時測距裝置，其中該控制電路根據該第二直方圖資料的多個直條所分別對應的多個計數值來判斷該光源發射該些雷射脈衝光至該感測陣列接收到該些反射脈衝光的一時間差。
如請求項7所述的飛時測距裝置，其中該控制電路判斷該第二直方圖資料的該些直條中是否有連續多個直條的該些計數值分別超過一預設計數值，並且該連續多個直條的數量超過一預設連續直條數量，以計算該感測陣列接收到該些反射脈衝光的一時間。
如請求項1所述的飛時測距裝置，其中該些延遲期間的該些時間長度小於該些第一直方圖資料中的多個直條的多個組距，其中該些第一直方圖資料分別的多個第一直條數量小於該第二直方圖資料的一第二直條數量，並且該些第一直方圖資料分別的多個第一組距大於該第二直方圖資料的多個第二組距。
如請求項1所述的飛時測距裝置，其中該些感測單元為多個單光子崩潰二極體。
一種飛時測距方法，包括：透過一光源朝一感測目標依序發射多個雷射脈衝光；透過一感測陣列的多個感測單元感測經由該感測目標反射該些雷射脈衝光所產生的多個反射脈衝光；透過一時間至數位轉換器在連續的多個測距期間分別對該些感測單元的多個感測結果進行多次積分操作，以產生多個第一直方圖資料；以及對該些第一直方圖資料進行數學運算，以產生一第二直方圖資料，其中該些測距期間彼此之間具有多個延遲期間，以使該些第一直方圖資料的多個起始時間為依序延遲多個時間長度，其中在該些測距期間的每一個中，該感測陣列感測該些反射脈衝光的其中一個，以產生該些第一直方圖資料的其中一個，並且該些第一直方圖資料的每一個包括多個直條。
如請求項11所述的飛時測距方法，其中該些延遲期間的多個時間長度為等比例增加。
如請求項11所述的飛時測距方法，其中該些延遲期間的多個時間長度為非等比例增加。
如請求項11所述的飛時測距方法，其中該些測距期間分別的多個積分期間具有相同時間長度，以使該些第一直方圖資料中的多個直條具有相同組距。
如請求項11所述的飛時測距方法，其中該光源以相同時間間隔發射該些雷射脈衝光。
如請求項11所述的飛時測距方法，還包括：根據該第二直方圖資料來計算一飛時測距裝置與該感測目標之間的一距離參數。
如請求項16所述的飛時測距方法，其中計算該距離參數的步驟包括：根據該第二直方圖資料的多個直條所分別對應的多個計數值來判斷該光源發射該些雷射脈衝光至該感測陣列接收到該些反射脈衝光的一時間差。
如請求項17所述的飛時測距方法，其中計算該時間差的步驟包括：判斷該第二直方圖資料的該些直條中是否有連續多個直條的該些計數值分別超過一預設計數值，並且該連續多個直條的數量超過一預設連續直條數量，以計算該感測陣列接收到該些反射脈衝光的一時間。
如請求項11所述的飛時測距方法，其中該些延遲期間的該些時間長度小於該些第一直方圖資料中的多個直條的多個組距，其中該些第一直方圖資料分別的多個第一直條數量小於該第二直方圖資料的一第二直條數量，並且該些第一直方圖資料分別的多個第一組距大於該第二直方圖資料的多個第二組距。
如請求項11所述的飛時測距方法，其中該些感測單元為多個單光子崩潰二極體。