TWI788717B

TWI788717B - 電子裝置

Info

Publication number: TWI788717B
Application number: TW109136865A
Authority: TW
Inventors: 林俊賢
Original assignee: 群創光電股份有限公司
Priority date: 2020-10-23
Filing date: 2020-10-23
Publication date: 2023-01-01
Also published as: TW202218511A

Abstract

一種電子裝置包括顯示面板。顯示面板包括面內區，且面內區包括像素電路、至少二第一備援線與至少一第一備援線。至少二第一備援線位於像素電路的周邊，且沿著第一方向延伸。至少一第二備援線位於像素電路的周邊，且沿著第二方向延伸。第一方向與第二方向不同。

Description

電子裝置

本揭露實施例關於一種電子裝置，特別是關於一種具有備援線的電子裝置。

習知之電子裝置的訊號線(例如掃描線、資料線、電源線或訊號驅動線等)可能會因為微粒(particle)或靜電放電(electrostatic discharge, ESD)而導致缺陷(defect)問題的發生，因此需要透過修補訊號線來排除缺陷問題。然而，由於目前的修補方式較為費時且修補設計較為複雜。因此，需要一種新的修補設計改善前述的問題。

本揭露實施例提供一種，包括顯示面板。顯示面板包括面內區，且面內區包括像素電路、至少二第一備援線與至少一第一備援線。至少二第一備援線位於像素電路的周邊，且沿著第一方向延伸。至少一第二備援線位於像素電路的周邊，且沿著第二方向延伸。第一方向與第二方向不同。

為讓本揭露之目的、特徵或優點能更明顯易懂，下文特舉出實施例，並配合所附圖式，做詳細之說明。為了使讀者能容易瞭解及圖式的簡潔，本揭露中的多張圖式可能只繪出整個裝置的一部分，且圖式中的特定元件並非依照實際比例繪圖。

本揭露說明書提供不同的實施例來說明本揭露不同實施方式的技術特徵。其中，實施例中的各元件之配置、數量及尺寸係為說明之用，並非用以限制本揭露。另外，若實施例與圖式中元件標號出現重覆，係為了簡化說明，並非意指不同實施例之間的關聯性。

再者，說明書與權利要求書中所使用的序數例如“第一”、“第二”等的用詞，以修飾權利要求書的元件，其本身並不意含及代表該請求組件有任何之前的序數，也不代表某一請求元件與另一請求元件的順序、或是製造方法上的順序，該些序數的使用僅用來使具有某命名的一請求元件得以和另一具有相同命名的請求元件能作出清楚區分。

在本揭露中，各實施例間特徵只要不違背發明精神或相衝突，均可任意混合搭配使用。

第1圖為依據本揭露之一實施例之電子裝置的示意圖。在一實施例中，電子裝置100可以包含液晶(liquid crystal, LC)、有機發光二極體(organic light emitting diode, OLED)、無機發光二極體(light emitting diode, LED)、量子點(quantum dot, QD)、螢光材料、磷光材料、其他適合的材料或上述材料的組合，但本揭露不限於此。無機發光二極體可例如包括次毫米發光二極體(mini light emitting diode, mini LED)、微發光二極體(micro light emitting diode, micro LED)或量子點發光二極體(quantum dot light emitting diode, QLED/QDLED)，但本揭露不限於此。

在一些實施例中，電子裝置100可以是顯示裝置、天線裝置、感測裝置、觸控電子裝置(touch display)、曲面電子裝置(curved display)或非矩形電子裝置(free shape display)，也可以是可彎折或可撓式拼接電子裝置，但不以此為限。天線裝置可例如是液晶天線，但不以此為限。

需注意的是，電子裝置100可為前述之任意排列組合，但不以此為限。此外，電子裝置100的外型可為矩形、圓形、多邊形、具有彎曲邊緣的形狀或其他適合的形狀。電子裝置100可以具有驅動系統、控制系統、光源系統、層架系統等周邊系統以支援顯示裝置或天線裝置。

在一實施例中，電子裝置100可以是顯示裝置，但本揭露不限於此。請參考第1圖，電子裝置100可以包括顯示面板110。顯示面板110可以包括面內區120與周邊區180。面內區120可以是顯示面板110的顯示區，且面內區120可以包括像素122、第一備援線140、第一備援線150與第二備援線160。像素122包含像素電路130以及與像素電路130電性連接的發光單元LD，如第2圖所示。電子裝置100還可以包括資料線DL與掃描線GL，根據一些實施例，資料線DL與掃描線GL可設置於面內區120中，並延伸至周邊區180中。根據一些實施例，像素122可以是資料線DL與掃描線GL所圍起來的區域。

第一備援線140與第一備援線150可以位於像素電路130的周邊，且沿著第一方向延伸。舉例來說，第一備援線140與第一備援線150可以大致平行設置，且第一備援線140與第一備援線150分別位於像素電路130的相對兩側，但本揭露不限於此。

第二備援線160位於像素電路130的周邊，且沿著第二方向延伸。在本實施例中，第一方向可以與第二方向不同。在一些實施例中，第一方向可以是Y方向，而第二方向可以是X方向，但本揭露不限於此。在一些實施例中，第一方向可以是X方向，而第二方向可以是Y方向。在本實施例中，Y方向可以是資料線DL大致延伸的方向；X方向可以是掃描線GL大致延伸的方向。

在一些實施例中，面內區120還可以包括第二備援線170。也就是說，面內區120也可以具備至少二條第二備援線，例如第二備援線160與第二備援線170。另外，第二備援線170也位於像素電路130的周邊，且沿著第二方向延伸。舉例來說，第二備援線160與第二備援線170也可以大致平行設置，且第二備援線160與第二備援線170分別位於像素電路130的相對兩側，但本揭露不限於此。

在一些實施例中，周邊區180可以是顯示面板110的非顯示區，且周邊區180可以包括電子裝置100所使用的驅動電路，例如掃描驅動電路(scan driving circuit)、資料驅動電路(data driving circuit)、時序控制電路(timing control circuit)等，但本揭露不限於此。

另外，在第1圖中，第一備援線140、第一備援線150、第二備援線160、第二備援線170是位於面內區120，且於面內區120內分別以第一方向或第二方向延伸，但本揭露不限於此。在一些實施例中，第一備援線140、第一備援線150、第二備援線160、第二備援線170也可以延伸至周邊區180內，也具有相同的效果。

在一些實施例中，第一備援線140和第一備援線150與第二備援線160和第二備援線170可以為不同層，例如第一備援線140和第一備援線150與第二備援線160和第二備援線170可以是使用不同層的金屬層製作。舉例來說，第二備援線160和第二備援線170例如設置於第一層且使用第一金屬層製作，第一備援線140和第一備援線150例如設置於第二層且使用第二金屬層製作，其中上述第一層與第二層為不同層，本揭露不限於此。在一些實施例中，第二備援線160和第二備援線170可以與掃描線GL為同一層，亦即，第二備援線160、第二備援線170與掃描線GL可以在同一製程中產生。同理，第一備援線140和第一備援線150可以與資料線DL為同一層，亦即，第一備援線140、第一備援線150與資料線DL可以在同一製程中產生。另外，第一備援線140和第一備援線150與第二備援線160和第二備援線170可以電性連接。舉例來說，第一備援線140和第一備援線150與第二備援線160和第二備援線170可以於交會處透過接觸孔(contact via)172進行電性連接，但本揭露不限於此。

此外，在電子裝置100未進行修補操作前，第一備援線140、第一備援線150、第二備援線160、第二備援線170也可以設置成具備靜電放電防護功能，但本揭露不限於此。

第2圖為第1圖之電子裝置之虛線框190的放大示意圖。請參考第2圖，電子裝置100還可以包括電源線PL與點亮控制線EML。另外，像素電路130可以包括開關M1、開關M2、開關M3、電容C1。根據一些實施例，電源線PL可以延第一方向延伸，且電性連接像素電路130。點亮控制線EML可以延第二方向延伸，且電性連接像素電路130。

開關M1與電源線PL電性連接。在一實施例中，開關M1可以是薄膜電晶體(thin film transistor, TFT)，但本揭露不限於此。進一步來說，開關M1的一電極可以與電源線PL電性連接，以透過電源線PL接收一電源VDD。開關M2與開關M1電性連接。在一實施例中，開關M2可以是薄膜電晶體，但本揭露不限於此。另外，開關M2的閘極可以與點亮控制線EML電性連接，以透過點亮控制線EML接收點亮控制信號EM。

電容C1與開關M1電性連接。進一步來說，電容C1的第一端可以電性連接開關M1的閘極，電容C1的第二端可以電性連接開關M1的一電極，例如源極(source)。

開關M3與開關M1電性連接。在一實施例中，開關M3可以是薄膜電晶體，但本揭露不限於此。根據一些實施例，掃描線GL與資料線DL可分別與像素電路130電性連接。進一步來說，像素電路130中的開關M3的閘極可以與掃描線GL電性連接，以透過掃描線GL接收掃描信號GS，且像素電路130中的開關M3的一電極(例如源極)可以與資料線DL電性連接，以透過資料線DL接收資料信號DS。

發光單元LD與開關M2電性連接。進一步來說，發光單元LD的第一端(例如陽極端)電性連接開關M2的一電極，發光單元LD的第二端(例如陰極端)電性連接一參考電壓VSS(例如接地電壓)。在本實施例中，發光單元LD可以是有機發光二極體(OLED)、無機發光二極體(LED)、次毫米發光二極體(mini LED)、微發光二極體(micro LED)、量子點發光二極體(QLED/QD-LED)或上述之組合，但本揭露不限於此。

在一些實施例中，第一備援線140和第一備援線150與資料線DL在第三方向上不重疊。在本實施例中，第三方向可以與第一方向和第二方向不同。在一些實施例中，第三方向可以是Z方向(例如顯示面板110的俯視(top view)方向)，但本揭露不限於此。換句話說，第三方向可以與第一方向及第二方向大致垂直。另外，第二備援線160及第二備援線170與掃描線GL也在第三方向(例如顯示面板110的俯視方向)上不重疊。此外，第二備援線160及第二備援線170與點亮控制線EML也在第三方向(例如顯示面板110的俯視方向)上不重疊。

在一些實施例中，第一備援線140和第一備援線150、第二備援線160、第二備援線170可以與電源線PL電性連接，以作為降低阻值的用途，但本揭露不限於此。

上述實施例已說明了電子裝置100內之各元件的配置關係。以下將列舉一些實施例，來說明電子裝置100發生缺陷時如何進行修補操作。

第3圖為依據本揭露之另一實施例之電子裝置之修補操作的示意圖。請參考第3圖，假設當電子裝置100之資料線DL的位置310上被微粒或靜電放電擊傷而發生缺陷時，可以例如使用雷射光源的雷射光束於電子裝置100之位置320與位置330上對資料線DL進行切割操作，例如進行雷射切割(laser cutting)操作，以將對應位置320與位置330的資料線DL切斷，進而將資料信號DS與位置310上的缺陷進行隔離。如此，可以使此像素122成為一暗點。

另外，例如使用雷射光源的雷射光束於電子裝置100之位置340和位置350上對資料線DL與第二備援線160和第二備援線170進行焊接操作，例如進行雷射焊接(laser welding)操作，使資料線DL於位置340和位置350上與第一備援線140、第二備援線160和第二備援線170電性連接，以及例如使用雷射光源的雷射光束於電子裝置100之位置360、位置362、位置364、位置366、位置368和位置370上對第二備援線160和第二備援線170進行雷射切割操作，以將對應位置360、位置362、位置364、位置366、位置368和位置370的第二備援線160與第二備援線170切斷。如此一來，資料線DL所傳送之資料信號DS可以經由信號傳輸路徑380進行傳送，以便達到修補的效果，並使資料信號DS的傳輸可以維持正常運作且可以傳送至下一個像素122中的像素電路130。

在第3圖中，電子裝置100之資料線DL上發生缺陷的位置310為本揭露的一種實施範例，不用於限制本揭露的實施態樣。發生缺陷的位置可以是資料線DL的其他位置，而缺陷發生於其他位置的修補方式可以參考第3圖之實施例的說明，故在此不再贅述。如此，也可以達到相同的修補效果。

第4圖為依據本揭露之另一實施例之電子裝置之修補操作的示意圖。請參考第4圖，假設當電子裝置100之掃描線GL的位置410上被微粒或靜電放電擊傷而發生缺陷時，可以例如使用雷射光源的雷射光束於電子裝置100之位置420和位置430上對掃描線GL進行雷射切割操作，以將對應位置420和位置430的掃描線GL切斷，進而將掃描信號GS與位置410上的缺陷進行隔離。如此，可以將此像素122成為一暗點。

另外，例如使用雷射光源的雷射光束於電子裝置100之位置440和位置450上對掃描線GL與第一備援線140和第一備援線150進行雷射焊接操作，使掃描線GL可以於位置440和位置450上與第一備援線140和第一備援線150以及第二備援線160電性連接，以及例如使用雷射光源的雷射光束於電子裝置100之位置460、位置462、位置464、位置466、位置468和位置470上對第一備援線140和第一備援線150進行雷射切割操作，以將對應位置460、位置462、位置464、位置466、位置468和位置470的第一備援線140與第一備援線150切斷。如此一來，掃描線GL所傳送之掃描信號GS可以經由信號傳輸路徑480進行傳送，以便達到修補的效果，並使掃描信號GS的傳輸可以維持正常運作且可以傳送至下一個像素122中的像素電路130。

在第4圖中，電子裝置100之掃描線GL上發生缺陷的位置410為本揭露的一種實施範例，不用於限制本揭露的實施態樣。發生缺陷的位置可以是掃描線GL的其他位置，而缺陷發生於其他位置的修補方式可以參考第4圖之實施例的說明，故在此不再贅述。如此，也可以達到相同的修補效果。

第5圖為依據本揭露之另一實施例之電子裝置之修補操作的示意圖。請參考第5圖，假設當電子裝置100之點亮控制線EML的位置510上被微粒或靜電放電擊傷而發生缺陷時，可以例如使用雷射光源的雷射光束於電子裝置100之位置520和位置530上對點亮控制線EML進行雷射切割操作，以將對應位置520和位置530的點亮控制線EML切斷，進而將點亮控制信號EM與位置510上的缺陷進行隔離。如此，可以將此像素122成為一暗點。

另外，例如使用雷射光源的雷射光束於電子裝置100之位置540和位置550上對點亮控制線EML與第一備援線140和第一備援線150進行雷射焊接操作，使點亮控制線EML可以於位置540和位置550上與第一備援線140和第一備援線150以及第二備援線160電性連接，以及例如使用雷射光源的雷射光束於電子裝置100之位置560、位置562、位置564、位置566、位置568和位置570上對第一備援線140和第一備援線150進行雷射切割操作，以將對應位置560、位置562、位置564、位置566、位置568和位置570的第一備援線140與第一備援線150切斷。如此一來，點亮控制線EML所傳送之點亮控制信號EM可以經由信號傳輸路徑580進行傳送，以便達到修補的效果，並使點亮控制信號EM的傳輸可以維持正常運作且可以傳送至下一個像素122中的像素電路130。

在第5圖中，電子裝置100之點亮控制線EML上發生缺陷的位置510為本揭露的一種實施範例，不用於限制本揭露的實施態樣。發生缺陷的位置可以是點亮控制線EML的其他位置，而缺陷發生於其他位置的修補方式可以參考第5圖之實施例的說明，故在此不再贅述。如此，也可以達到相同的修補效果。

由上述內容可知，當電子裝置100的資料線DL、掃描線GL或點亮控制線EML被微粒或靜電放電擊傷而發生缺陷時，可以於電子裝置100之顯示面板110的面內區120透過第一備援線140、第一備援線150、第二備援線160、第二備援線170進行修補，可以減少修補時間、減少修補設計的複雜度、或增加使用上的便利性。

綜上所述，本揭露實施例之電子裝置，透過在電子裝置之顯示面板的面內區設置至少二第一備援線與至少一第一備援線，其中至少二第一備援線位於像素電路的周邊，且沿著第一方向延伸，而至少一第二備援線位於像素電路的周邊，且沿著第二方向延伸。如此一來，當電子裝置被微粒或靜電放電擊傷而發生缺陷時，可以於面內區透過第一備援線及/或第二備援線進行修補，以減少修補時間、減少修補設計的複雜度、或增加使用上的便利性。

本揭露雖以實施例揭露如上，然其並非用以限定本揭露的範圍，任何所屬技術領域中具有通常知識者，在不脫離本揭露之精神和範圍內，當可做些許的組合、更動與潤飾，因此本揭露之保護範圍當視後附之申請專利範圍所界定者為準。

100:電子裝置 110:顯示面板 120:面內區 122:像素 130:像素電路 140,150:第一備援線 160,170:第二備援線 172:接觸孔 180:周邊區 190:虛線框 310,320,330,340,350,360,362,364,366,368,370,410,420,430,440,450,460,462,464,466,468,470,510,520,530,540,550,560,562,564,566,568,570:位置 380,480,580:信號傳輸路徑 M1,M2,M3:開關 C1:電容 LD:發光單元 DL:資料線 PL:電源線 GL:掃描線 EML:點亮控制線 DS:資料信號 GS:掃描信號 EM:點亮控制信號 VDD:電源 VSS:參考電壓 X,Y,Z:方向

第1圖為依據本揭露之一實施例之電子裝置的示意圖。第2圖為第1圖之電子裝置之虛線框190的放大示意圖。第3圖為依據本揭露之一實施例之電子裝置之修補操作的示意圖。第4圖為依據本揭露之一實施例之電子裝置之修補操作的示意圖。第5圖為依據本揭露之一實施例之電子裝置之修補操作的示意圖。

100:電子裝置

110:顯示面板

120:面內區

122:像素

140,150:第一備援線

160,170:第二備援線

172:接觸孔

180:周邊區

190:虛線框

DL:資料線

GL:掃描線

Claims

一種電子裝置，其特徵在於，包括：一顯示面板，包括一面內區，該面內區包括：一像素電路；至少二第一備援線，位於該像素電路的周邊，且沿著一第一方向延伸；以及至少一第二備援線，位於該像素電路的周邊，且沿著一第二方向延伸；其中，該第一方向與該第二方向不同。
如請求項1所述之電子裝置，其特徵在於，該至少二第一備援線與該至少一第二備援線為不同層。
如請求項2所述之電子裝置，其特徵在於，該顯示面板更包括一電源線，其中該至少二第一備援線和該至少一第二備援線與該電源線電性連接。
如請求項2所述之電子裝置，其特徵在於，該至少一第二備援線的數量為二條。
如請求項4所述之電子裝置，其特徵在於，該顯示面板更包括一資料線，其中該至少二第一備援線的其中之一和該至少二第二備援線與該資料線電性連接。
如請求項5所述之電子裝置，其特徵在於，該至少二第一備援線與該資料線在該顯示面板的俯視方向上不重疊。
如請求項1所述之電子裝置，其特徵在於，更包括：一掃描線，沿著該第二方向延伸，且電性連接該像素電路；以及一點亮控制線，沿著該第二方向延伸，且電性連接該像素電路。
如請求項7所述之電子裝置，其特徵在於，該至少二第一備援線和該至少一第二備援線與該掃描線電性連接。
如請求項7所述之電子裝置，其特徵在於，該至少二第一備援線和該至少一第二備援線與該點亮控制線電性連接。
如請求項7所述之電子裝置，其特徵在於，該至少一第二備援線與該掃描線在該顯示面板的俯視方向上不重疊。
如請求項7所述之電子裝置，其特徵在於，該至少一第二備援線與該點亮控制線在該顯示面板的俯視方向上不重疊。