TWI787558B - 工件保持部旋轉單元及真空處理裝置 - Google Patents
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Abstract
本發明提供一種工件保持部旋轉單元,可應對真空處理的角度依賴性。本發明包括:旋轉軸20;旋轉輪40,能夠以所述旋轉軸20為中心進行旋轉;多個工件保持部60,能夠保持工件W,配置成在以所述旋轉軸20為中心的圓周上排列,且以能夠以相對於所述旋轉軸20的軸線傾斜的軸線為中心進行旋轉的方式設置於所述旋轉輪40;以及固定圓盤70,形成為以所述旋轉軸20為中心的圓盤狀,並且配置成與多個所述工件保持部60接觸,伴隨著所述旋轉輪40的旋轉使所述工件保持部60旋轉。
Description
本發明是有關於一種工件保持部旋轉單元及真空處理裝置的技術。
現有的工件保持部旋轉單元及真空處理裝置的技術如例如專利文獻1所記載。
在專利文獻1中,已揭示一種塗佈裝置(coating device),其是一面使小徑工具旋轉,一面進行塗佈。所述塗佈裝置包括:自轉夾具(jig),可保持小徑工具,並且進行旋轉(自轉);小公轉夾具,使自轉夾具以小公轉軸為中心而旋轉(小公轉);以及大公轉夾具,使小公轉夾具以大公轉軸為中心而旋轉(大公轉)。自轉夾具、小公轉夾具及大公轉夾具的軸線(旋轉中心線)配置成相互平行。又,在所述大公轉夾具等的側方,配置有靶材(target)。
在如上所述而構成的塗佈裝置中,一面使小徑工具進行自轉、小公轉及大公轉,一面利用自靶材發出的材料對小徑工具實施塗佈。藉由進行如上所述的自轉及公轉,可對小徑工具的整個表面實施塗佈。
但是,在專利文獻1所述的技術中,在使小徑工具進行旋轉(自轉及公轉(小公轉及大公轉))的情況下,雖然小徑工具的側面與靶材相向,但上表面不會與靶材相向。因此,在小徑工具的側面及上表面有可能產生塗佈不均,此方面存在改善的餘地。
例如,在濺鍍法中,存在根據自濺鍍靶材發出的成膜材料的粒子到達工件時的角度,所形成的膜的膜質不同的情況。又,在乾式蝕刻裝置、表面改質裝置等成膜裝置以外的電漿處理裝置中,亦存在根據電漿到達工件時的角度,處理特性或處理性能不同的情況。期望能夠應對此種真空處理中的角度依賴性的技術。
[現有技術文獻]
[專利文獻]
[專利文獻1]日本專利特開2007-77469號公報
本發明是鑒於如以上所述的狀況而完成者,其所欲解決之課題在於提供一種工件保持部旋轉單元及真空處理裝置,能夠應對真空處理的角度依賴性。
本發明所欲解決之課題如以上所述,為瞭解決所述課題,本發明的工件保持部旋轉單元包括:旋轉軸;旋轉部,能夠以所述旋轉軸為中心而旋轉;多個工件保持部,能夠保持工件,配置成在以所述旋轉軸為中心的圓周上排列,且以能夠以相對於所述旋轉軸的軸線傾斜的軸線為中心而旋轉的方式設置於所述旋轉部;以及旋轉驅動部,形成為以所述旋轉軸為中心的圓盤狀,並且配置成與多個所述工件保持部接觸,伴隨著所述旋轉部的旋轉,使所述工件保持部旋轉。
又,本發明的真空處理裝置包括所述工件保持部旋轉單元。
根據本發明,能夠應對真空處理的角度依賴性。
以下,將圖中的以箭頭U、箭頭D、箭頭L、箭頭R、箭頭F及箭頭B表示的方向,分別定義為上方向、下方向、左方向、右方向、前方向及後方向而進行說明。
以下,利用圖1及圖2,說明本實施形態的濺鍍裝置1的概況。
濺鍍裝置1是在真空中進行成膜處理的真空處理裝置(真空成膜裝置)。本實施形態的濺鍍裝置1中,設想加工用的工具,作為成為成膜對象的工件(處理品)W。濺鍍裝置1主要包括成膜室2、工件保持部旋轉單元3、馬達4、排氣裝置5、靶材(濺鍍靶材)6及加熱器(heater)7。
成膜室2形成用以對工件W實施成膜處理的空間。成膜室2形成為使軸線朝向上下方向的大致圓柱狀(參照圖2)。成膜室2形成為中空狀。
工件保持部旋轉單元3使後述工件保持部60旋轉。工件保持部旋轉單元3配置在成膜室2內。
馬達4(參照圖1)是用以驅動工件保持部旋轉單元3旋轉的驅動源。馬達4配置在成膜室2的外部。馬達4的動力經由適當的動力傳遞機構(例如軸等)而傳遞至工件保持部旋轉單元3。
排氣裝置5(參照圖1)藉由排出成膜室2內的空氣,而將成膜室2內調節成適合於成膜處理的真空度。
靶材6是成膜於工件W的材料(成膜材料)。靶材6形成為平板狀。靶材6配置在成膜室2內。靶材6是隔著工件保持部旋轉單元3而設置有一對。靶材6將板面配置成沿垂直方向。又,靶材6將板面配置成朝向成膜室2的中央(即,工件保持部旋轉單元3)。
加熱器7是用以對工件W進行加熱,而使成膜品質(均勻性等)提高的構件。加熱器7配置在成膜室2內。加熱器7是隔著工件保持部旋轉單元3而設置有一對。靶材6及加熱器7等間隔地配置在工件保持部旋轉單元3的周圍。
其次,對工件保持部旋轉單元3進行更具體的說明。
圖3及圖4所示的工件保持部旋轉單元3主要包括旋轉軸20、上部旋轉體30、旋轉輪40、安裝構件50、工件保持部60、固定圓盤70、限制部80及蓋體(cover)90。
旋轉軸20成為後述旋轉輪40的旋轉中心。旋轉軸20形成為大致圓柱狀。旋轉軸20是使軸線朝向鉛垂方向(上下方向)而配置。將外筒構件21以能夠一體旋轉的方式嵌合於旋轉軸20,所述外筒構件21以覆蓋旋轉軸20的側面的方式形成為圓筒狀。在外筒構件21的上端部,形成鍵(key)槽21a。
上部旋轉體30能夠與旋轉軸20一體地旋轉。上部旋轉體30在俯視時形成為圓形形狀。在上部旋轉體30的底面的中心,固定旋轉軸20的上端部。在上部旋轉體30的底面的中心附近,固定鍵構件31。藉由使所述鍵構件31與外筒構件21的鍵槽21a卡合,來限制上部旋轉體30與旋轉軸20的相對旋轉。即,上部旋轉體30能夠與旋轉軸20一體地旋轉。上部旋轉體30的上部能夠旋轉地支持於成膜室2的上表面。對上部旋轉體30,可傳遞馬達4(參照圖1)的動力。上部旋轉體30藉由來自馬達4的動力,可與旋轉軸20一併旋轉。
圖3至圖6所示的旋轉輪40是使後述工件保持部60以旋轉軸20為中心而旋轉(公轉)的構件。旋轉輪40主要包括凸台(boss)部41、肋(rib)42及外周部43。
凸台部41是形成於旋轉輪40的中心的部分。凸台部41形成為使軸線朝向鉛垂方向(上下方向)的大致圓筒狀。在凸台部41的中心,形成上下貫通凸台部41的貫通孔41a。
肋42是以自凸台部41,在旋轉輪40的徑向上朝向凸台部41的外側延伸的方式而形成的棒狀部分。肋42在凸台部41的周圍等間隔地形成有多個(本實施形態中為五個)(參照圖6)。
外周部43是支持後述工件保持部60的部分。外周部43在俯視時,形成為以凸台部41為中心的圓環狀。外周部43的內周面是在旋轉輪40的徑向上固定於肋42的外側的端部。如此一來,外周部43經由肋42而與凸台部41連接。再者,在本實施形態中,凸台部41、肋42及外周部43形成為一體。在外周部43,主要形成傾斜面43a及貫通孔43b。
圖5及圖6所示的傾斜面43a形成於外周部43的上表面。傾斜面43a形成為朝向相對於上下方向(旋轉軸20的軸線方向)傾斜的方向。具體地說,傾斜面43a形成為越朝向旋轉輪40的徑向外側,越向下方傾斜。
貫通孔43b是以上下貫通外周部43的方式而形成。貫通孔43b的上端形成為在傾斜面43a開口。貫通孔43b是以相對於傾斜面43a垂直地延伸的方式而形成。即,貫通孔43b形成為在相對於鉛垂方向(上下方向)傾斜的方向上延伸。更具體地說,貫通孔43b形成為越朝向上方,越向旋轉輪40的徑向外側延伸。貫通孔43b的下端(下側的開口部)藉由板狀的堵塞構件43c而堵塞。
如圖6所示,傾斜面43a及貫通孔43b沿外周部43的圓周方向等間隔地形成有多個。
如圖4所示,旋轉輪40設置於旋轉軸20(外筒構件21)。具體地說,使旋轉輪40的凸台部41(貫通孔41a)插通至旋轉軸20。此時,旋轉輪40與旋轉軸20以能夠一體地旋轉的方式而卡合。又,在旋轉軸20,以上下等間隔地排列有多個的方式設置有旋轉輪40。在圖1、圖3及圖4中,作為一例,圖示有兩個旋轉輪40。
圖4及圖5所示的安裝構件50是用以將後述工件保持部60安裝於旋轉輪40的構件。安裝構件50主要包括本體部51及凸緣(flange)部52。
本體部51是形成為圓筒狀的部分。本體部51的外徑形成為與旋轉輪40的貫通孔43b的內徑大致相同。
凸緣部52是圓盤狀的部分,以直徑自本體部51的上端部附近擴大的方式而形成。
本體部51是自上方插入至旋轉輪40的貫通孔43b。凸緣部52藉由適當的緊固構件(螺栓(bolt)等)而固定於旋轉輪40的傾斜面43a。如此一來,將安裝構件50設置於旋轉輪40的各貫通孔43b。安裝構件50(本體部51)的軸線配置成以與貫通孔43b相同的角度而傾斜。
工件保持部60可旋轉(自轉)地保持工件W。工件保持部60主要包括旋轉支持部61及被旋轉驅動部62。
旋轉支持部61保持工件W。旋轉支持部61主要包括保持部61a及支持部61b。
保持部61a是保持工件W的部分。保持部61a形成為具有底面(下表面)的大致圓筒狀(有底筒狀)。保持部61a的上部開口,可保持自所述開口插入的工件W。再者,保持部61a不僅可直接保持工件W,而且可經由適當的構件(保持工件W的蓋帽(cap)等)保持工件W。
支持部61b是經由安裝構件50支持於旋轉輪40的部分。支持部61b形成為大致圓柱狀。支持部61b的外徑形成為小於安裝構件50的內徑。支持部61b形成為自保持部61a的底面向下方突出。支持部61b及保持部61a形成於同一軸線上。
支持部61b是自上方插入至安裝構件50的本體部51。支持部61b經由適當的軸承構件61c,而能夠旋轉地支持於安裝構件50(本體部51)。藉由將支持部61b插入至本體部51,而以自旋轉輪40向上方突出的方式配置保持部61a。旋轉支持部61的軸線配置成以與安裝構件50(本體部51)的軸線相同的角度而傾斜。換言之,旋轉支持部61如圖1所示,配置成相對於配置在側方的靶材6的板面而傾斜。旋轉支持部61能夠以相對於旋轉軸20的軸線(上下方向)傾斜的軸線為中心而旋轉(自轉)。
再者,作為軸承構件61c,可使用任意的構件。例如,可適當選擇滾珠軸承(ball bearing)、滑動軸承(sliding bearing)等任意的構件。又,亦可針對一個支持部61b,設置多個軸承構件61c。
又,支持部61b的軸線的傾斜角度(後述傾斜角度α(參照圖5))可任意設定。例如,支持部61b可設定為相對於旋轉軸20或靶材6(以鉛垂方向為基準)傾斜20°~80°。
被旋轉驅動部62是與後述固定圓盤70接觸的部分。被旋轉驅動部62在自旋轉支持部61的軸線方向觀察時形成為大致圓形的平板狀。在被旋轉驅動部62的中心形成貫通孔62a。被旋轉驅動部62的貫通孔62a在旋轉輪40的上方,與旋轉支持部61的保持部61a嵌合。因此,被旋轉驅動部62能夠與旋轉支持部61一體地旋轉。
如此一來,工件保持部60經由安裝構件50,設置於旋轉輪40的外周部43。又,工件保持部60是以沿外周部43(即,在以旋轉軸20為中心的圓周上)排列的方式設置有多個。
圖3至圖5及圖7所示的固定圓盤70是用以使工件保持部60旋轉的構件。固定圓盤70在俯視時,形成為圓形的板狀(圓盤狀)。在固定圓盤70的中心,形成貫通孔70a。
如圖4所示,固定圓盤70經由固定構件71及軸承構件72,設置於旋轉軸20。具體地說,在固定圓盤70的內側(貫通孔70a),經由固定構件71而固定軸承構件72的外輪。將所述軸承構件72的內輪插通至旋轉軸20,並固定於旋轉軸20。如上所述,固定圓盤70經由軸承構件72而能夠相對旋轉地設置於旋轉軸20。固定圓盤70是在旋轉輪40的上方,與旋轉輪40空開適當的間隔而設置。即,固定圓盤70是以與各旋轉輪40相對應的方式,設置與旋轉輪40相同的數量。固定圓盤70的外周端部配置成與設置於相對應的旋轉輪40的工件保持部60的被旋轉驅動部62接觸。
再者,作為軸承構件72,可使用任意的構件。例如,可適當選擇滾珠軸承、滾柱軸承、滑動軸承等任意的構件。
固定圓盤70及被旋轉驅動部62是以如下的方式構成:藉由工件保持部60以旋轉軸20為中心而旋轉(公轉),而將用以使工件保持部60自轉的動力傳遞至工件保持部60。例如,固定圓盤70及被旋轉驅動部62可藉由具有相互咬合的齒的齒輪(例如,傘形齒輪等)而形成。由此,固定圓盤70可使工件保持部60連續地旋轉(自轉)(特別是在工件W與靶材6相向的狀態下,使所述工件W連續地旋轉)。此外,固定圓盤70及被旋轉驅動部62只要是能夠相互接觸而傳遞動力的構成即可。例如,亦可為如下的構成,即,利用齒輪、鏈條(chain)與鏈輪(sprocket)的組合、孔部與突起部的組合等咬合結構來傳遞動力的結構,以及利用接觸面彼此的摩擦力來傳遞動力的構成等。
又,固定圓盤70與被旋轉驅動部62亦可經由不含機械機構的介入物而接觸。此時,旋轉部即固定圓盤70與工件保持部60的一部分即被旋轉驅動部62相接觸,而不介入機械機構。
又,固定圓盤70及被旋轉驅動部62並不限於如齒輪之類使動力連續地傳遞,而使工件保持部60連續地旋轉的構件。例如,固定圓盤70及被旋轉驅動部62亦可藉由利用凸輪(cam)等間歇地傳遞動力,而使工件保持部60間歇地旋轉(自轉)。
限制部80限制固定圓盤70的旋轉。限制部80主要包括第一限制構件81及第二限制構件82。
第一限制構件81固定於各固定圓盤70。第一限制構件81是使矩形形狀的板材彎曲而形成。具體地說,第一限制構件81包括水平延伸的左部81a、自左部81a的右端向鉛垂上方延伸的中途部81b、以及自中途部81b的上端向右方延伸的右部81c。如上所述,第一限制構件81形成為固定圓盤70的徑向外側的部分(右部81c)高於徑向內側的部分(左部81a)。因此,可避免與工件保持部60、工件W發生干擾。
第一限制構件81的左部81a藉由適當的緊固構件(螺栓等)而固定於固定圓盤70的上表面的右端部附近。第一限制構件81的右部81c是以自固定圓盤70向右方突出的方式而配置。在右部81c,形成缺口部81d。
第二限制構件82與第一限制構件81卡合。第二限制構件82形成為大致圓柱狀。第二限制構件82使軸線朝向鉛垂方向(上下方向)而配置。第二限制構件82的上端部經由支架(bracket)82a固定於成膜室2的上表面。第二限制構件82與設置於各固定圓盤70的第一限制構件81的缺口部81d卡合。更具體地說,在第一限制構件81的缺口部81d,嵌入第二限制構件82,而限制固定圓盤70的旋轉。
如上所述,藉由設置於固定圓盤70的第一限制構件81與固定於成膜室2的第二限制構件82卡合,來限制固定圓盤70的旋轉。因此,即使旋轉軸20旋轉,固定圓盤70也不會旋轉。
圖3至圖5所示的蓋體90覆蓋工件保持部60。蓋體90是使板狀的構件適當彎曲而形成。蓋體90配置成自側方(固定圓盤70的徑向外側)及上方覆蓋工件保持部60。在蓋體90,形成貫通孔91。可經由貫通孔91,使保持於工件保持部60的工件W露出至蓋體90的外側。蓋體90藉由適當的方法而固定於旋轉輪40。
其次,說明利用馬達4的動力而使工件保持部旋轉單元3運行的情形。
當馬達4驅動時,藉由馬達4的動力而使得旋轉軸20旋轉。旋轉輪40與旋轉軸20一體地旋轉。藉此,設置於旋轉輪40的外周部43的工件保持部60以旋轉軸20為中心而旋轉(公轉)。
另一方面,固定圓盤70藉由限制部80而限制了旋轉,所述固定圓盤70是能夠相對旋轉地設置於旋轉軸20。因此,固定圓盤70不會伴隨著旋轉軸20的旋轉而旋轉。
工件保持部60的被旋轉驅動部62一面與固定的(不旋轉的)固定圓盤70接觸,一面以旋轉軸20為中心而旋轉(公轉)。藉此,工件保持部60一面以旋轉軸20為中心而旋轉(公轉),一面以所述工件保持部60的軸線為中心而旋轉(自轉)(參照圖2)。
又,工件保持部60在以旋轉軸20為中心而旋轉(公轉)的情況下,在自工件保持部60的外側向旋轉軸20的方向上觀察時(換言之,如圖4及圖5所示的穿過旋轉軸20,且與旋轉軸20平行的剖面觀察時)的傾斜角度α始終為固定。再者,所謂傾斜角度α,是指在圖4及圖5所示的剖面(自以旋轉軸20為中心的虛擬圓的圓周方向觀察的剖面)中,相對於旋轉軸20的軸線和靶材6的板面的角度。在本實施形態中,旋轉軸20的軸線及靶材6的板面在上下方向(鉛垂方向)上平行,因此傾斜角度α在圖4及圖5所示的剖面中,成為相對於沿上下方向(鉛垂方向)的虛擬線X的角度。所謂自以旋轉軸20為中心的虛擬圓的圓周方向觀察的剖面,亦可表達為自以旋轉軸20為中心的虛擬圓的圓周上觀察的剖面。
因此,若工件保持部60以旋轉軸20為中心而旋轉(公轉),則在工件W與靶材6相向的位置,在成膜材料的粒子自靶材6與工件W碰撞而成膜得較厚的成膜區域內,工件保持部60(工件W)相對於靶材6的傾斜角度α為大致固定。此外,藉由此時以工件保持部60的軸線為中心而自轉,可使形成於工件W的整個露出面的膜的膜質均勻化。
其次,說明利用如上所述而構成的濺鍍裝置1的成膜品的製造方法(濺鍍方法)。
如圖8所示,本實施形態的成膜品的製造方法主要包括工件保持步驟S1、排氣步驟S2、工件加熱步驟S3及成膜步驟S4。
工件保持步驟S1是使工件保持部60保持工件W的步驟。在工件保持步驟S1中,操作員將工件W插入至工件保持部60的保持部61a,藉由所述工件保持部60而保持工件W。
排氣步驟S2是排出成膜室2內的空氣的步驟。在排氣步驟S2中,當使排氣裝置5運行時,排出成膜室2內的空氣。藉由適當控制排氣裝置5,而將成膜室2內調節成適合於成膜處理的真空度。
工件加熱步驟S3是對工件W進行加熱的步驟。在工件加熱步驟S3中,當使馬達4驅動時,使工件保持部旋轉單元3運轉,而開始工件保持部60的旋轉(公轉及自轉)。又,在工件加熱步驟S3中,使加熱器7運轉,而將保持於工件保持部60的工件W加熱至適當的溫度為止。
成膜步驟S4是對工件W實施成膜處理的步驟。在成膜步驟S4中,繼續使工件保持部旋轉單元3運轉。又,在成膜步驟S4中,對成膜室2內供給濺鍍氣體(例如,Ar等惰性氣體)。藉由在所述狀態下對靶材6施加負的電壓或高頻(射頻(Radio Frequency,RF))的電壓,而產生輝光放電。由此,藉由使濺鍍氣體離子化,使所述離子與靶材6的表面高速碰撞,而敲出構成靶材6的成膜材料的粒子(濺鍍粒子)。自靶材6敲出的成膜材料的粒子附著於工件W的表面。藉由使所述粒子堆積於工件W的表面,可形成薄膜。如此一來,可製造已實施成膜處理的工件W(成膜品)。
再者,在本實施形態中,為了方便,已依次說明工件保持步驟S1、排氣步驟S2、工件加熱步驟S3及成膜步驟S4,但成膜品的製造方法不一定限定於此。例如,亦可調換一部分步驟的順序(例如,調換排氣步驟S2與工件加熱步驟S3的順序等),或同時進行所述步驟(例如,同時進行排氣步驟S2與工件加熱步驟S3等)。
此處,利用圖9(a)及圖9(b),說明如下的情形:藉由使用濺鍍裝置1的成膜品的製造方法,來抑制形成於工件W的薄膜的不均的產生。再者,在圖9(a)及圖9(b)中,為了便於說明,簡化工件W的形狀,而圖示為圓柱狀的工件W。
作為比較例,如圖9(a)所示,假設如下的情況:工件W未傾斜,以朝向鉛垂方向的軸線為中心而自轉。此時,工件W進行自轉,故工件W的整個側面與配置於工件W的側方的靶材6相向。藉此,可使來自靶材6的成膜材料的粒子附著於工件W的整個側面。
另一方面,即使工件W自轉,由於工件W的上表面不與靶材6相向,因此來自靶材6的成膜材料的粒子亦難以附著於工件W的上表面。即,在工件W的側面及上表面,有可能所形成的薄膜產生不均。
特別是在藉由濺鍍(濺鍍法)的成膜處理中,形成於工件W的側面與上表面的薄膜的壓縮應力(內部應力)會產生差,藉由所述壓縮應力的差,有可能導致薄膜的密接性及均質性的下降等。
與此相對,在本實施形態中,如圖9(b)所示,構成為工件W以相對於靶材6傾斜的軸線為中心而自轉。此時,不僅工件W的側面,而且上表面亦可與靶材6相向。因此,在工件W的側面與上表面,可抑制所形成的薄膜產生不均。又,在工件W的側面與上表面,可抑制薄膜的壓縮應力產生差,從而可實現薄膜的密接性及均質性的提高。
以下,利用圖10及圖11,說明藉由本實施形態的濺鍍裝置1(成膜品的製造方法)而成膜的工具的評估的一例。
在圖10中,表示藉由本實施形態的濺鍍裝置1而成膜的工具(以下稱為「本申請工具」)、與作為比較例而利用現有公知的方法來成膜的工具(以下稱為「比較例」)的關於壽命的評估的一例。
此處,作為本實施形態中的濺鍍條件,是藉由利用RF電源的RF濺鍍法,在濺鍍靶材中使用AlCr系合金,利用反應性濺鍍而進行成膜,所述反應性濺鍍的濺鍍氣體是使用使氬氣中含有氮氣的混合氣體。
再者,作為評估的對象的工具是「R0.5超硬球頭銑刀(ball end mill)」。所述工具是母材為WC-Co合金的「超硬材料(超硬合金)」,且實施有AlCrN系的成膜(塗佈)。
又,作為評估試驗,利用所述兩種工具而進行切削加工。成為切削加工的對象的材料種類(被切削材料種類)是SUS420J2(HRC55)。加工條件是轉速為30,000(min-1
),進給速度為1,500(mm/min),切入Rd(XY):0.05(mm)。
又,作為評估時的壽命的基準(用以判斷工具壽命的工具的磨損量),設定有兩種類型的基準,即,(A):磨損量0.005(mm)、(B):磨損量0.01(mm)。圖10的橫軸表示加工距離,縱軸表示磨損量。
如圖10所示,當將壽命基準設為(A):磨損量0.005(mm)時,比較例的壽命為104.8(m),與此相對,本申請工具的壽命為200.1(m)。即,可知當將壽命基準設為(A):磨損量0.005(mm)時,本申請工具與比較例相比,工具壽命延長至約2倍。
又,當將壽命基準設為(B):磨損量0.01(mm)時,比較例的壽命為109.8(m),與此相對,本申請工具的壽命為293.5(m)。即,可知當將壽命基準設為(B):磨損量0.01(mm)時,本申請工具與比較例相比,工具壽命延長至約3倍。
圖11中,表示本申請工具與比較例的關於缺損的產生的評估的一例。
再者,作為關於缺損的產生的評估,已比較在與圖10所示的示例相同的條件下進行有200(m)的切削加工時的工具的缺損的產生次數。評估次數(切削加工的次數)為十次,在切削加工後,利用工廠顯微鏡以20倍的倍率觀察工具。當不論缺損的大小,確認到缺損時,作為已產生缺損而計數。
其結果為,如圖11所示,在比較例中,十次評估次數之中,八次確認到缺損的產生。與此相對,在本申請工具中,十次評估次數之中,僅兩次確認到缺損的產生。即,可知本申請工具的缺損的產生率為比較例的四分之一。
如上所述,可知藉由本實施形態的濺鍍裝置1(成膜品的製造方法)而成膜的工具,藉由薄膜(塗佈)的密接性及均質性的提高,可實現壽命的延長及缺損的產生的抑制。
再者,在本實施形態中,作為真空處理裝置(真空成膜裝置)的一例,已例示進行濺鍍的裝置(濺鍍裝置1),但本發明並不限於此,此外亦可應用於各種真空處理。例如,可廣泛應用於利用粒子的物理運動的物理氣相沈積法(物理蒸鍍法:物理氣相沈積(Physical Vapor Deposition,PVD))、利用化學反應的化學氣相沈積法(化學蒸鍍法:化學氣相沈積(chemical vapor deposition,CVD))。尤其,在成膜裝置中,在存在如針對成膜材料到達工件時的角度而膜質不同般的角度依賴性的情況下,本發明有效。
再者,在PVD中,作為對蒸鍍源進行加熱使其蒸發而進行成膜的蒸發系統,有真空蒸鍍、分子束蒸鍍、離子鍍(ion plating)、離子束蒸鍍、電漿雷射沈積(plasma laser deposition,PLD)等。又,作為如本實施形態中所例示的濺鍍系統,有常規濺鍍(conventional sputtering)、磁控濺鍍(magnetron sputtering)、離子束濺鍍(ion beam sputtering)、電子迴旋共振(Electron Cyclotron Resonance,ECR)濺鍍、反應性濺鍍(導入反應性氣體(O2、N2等),進行氧化物和氮化物的成膜的濺鍍)等。又,亦可根據工件W的材料,使用利用RF(高頻)電源的RF濺鍍。
又,在CVD中,有常規(conventional)CVD、熱CVD、光CVD、電漿CVD、磊晶(epitaxial)CVD、及有機金屬化學氣相沉積(Metal Organic Chemical Vapor Deposition,MOCVD)。
又,作為藉由本實施形態而形成於工件W的薄膜,是特別假設包含AlCrN、AlN、TiCrN、TiN、TiAlN、TiAlCrN、Al2O3之中的至少一者的由單層或多層構成的薄膜,但亦可形成其他任意的薄膜。
又,除了所述成膜材料以外,亦可適當加入添加物。例如,作為添加劑,可加入Nb、Ta、Mo、V、Y、Si等。
另外,作為真空處理裝置,除成膜裝置以外,亦可將本發明應用於乾式蝕刻裝置、表面改質裝置等電漿處理裝置。在此種電漿處理裝置中,存在根據電漿到達工件時的角度,而處理特性或處理性能不同的情況,在所述情況下本發明有效。
如上所述,本實施形態的成膜品的製造方法包括:
工件保持步驟S1,以能夠以第一旋轉軸(旋轉軸20)為中心而公轉,且能夠以第二旋轉軸(工件保持部60)為中心而自轉的方式保持工件W,所述第二旋轉軸(工件保持部60)相對於靶材6(濺鍍靶材)傾斜;以及
成膜步驟S4,一面進行以所述第一旋轉軸為中心的公轉、及以所述第二旋轉軸為中心的自轉,一面利用所述靶材6,對所述工件W進行成膜。
藉由如上所述而構成,可抑制形成於工件W的薄膜的不均的產生。例如,如本實施形態,藉由將工件保持部60設為能夠以相對於靶材6傾斜的軸線為中心而旋轉(自轉),可不僅容易地對工件W的側面,而且容易對上表面實施成膜處理。藉此,可抑制所形成的薄膜的不均的產生,甚至可實現薄膜(塗佈)的密接性及均質性的提高。
又,在所述工件保持步驟S1中,所述工件W是以如下的方式被保持,即,與所述靶材6相向的狀態下的相對於所述靶材6的傾斜角度α為固定。
藉由如上所述而構成,而在多個工件保持部60,在相對於靶材6以固定的角度傾斜的狀態下實施成膜處理,所述靶材6配置在旋轉輪40的徑向外側。藉此,可抑制由工件W的處理面的角度引起的依賴性(因傾斜角度α的變化所引起的不均等不良情況)產生。
又,所述成膜步驟S4是利用高頻濺鍍對所述工件W進行成膜。
藉由如上所述而構成,可改善所形成的膜的膜質。
又,所述成膜步驟S4是利用反應性濺鍍對所述工件進行成膜。
藉由如上所述而構成,可將反應性氣體與靶材6的構成物質的生成物質(例如,氧化物、氮化物等)形成為薄膜。
又,所述工件保持步驟S1使用加工用的工具作為所述工件W。
藉由如上所述而構成,可對具有複雜形狀的加工用的工具,亦適當地實施成膜處理。
又,所述成膜步驟S4是針對所述工件W形成膜,所述膜包括AlCrN、AlN、TiCrN、TiN、TiAlN、TiAlCrN、Al2
O3
之中的至少一者,由單層或多層構成。
藉由如上所述而構成,可針對工件W形成硬質膜,使耐磨損性、耐熱性等提高。
又,所述成膜步驟S4是在藉由以所述第一旋轉軸為中心的公轉而使所述工件W與所述靶材6相向的狀態下,使所述工件W以所述第二旋轉軸為中心而連續地自轉。
藉由如上所述而構成,可實現薄膜(塗佈)的均質性的提高。
又,本實施形態的濺鍍裝置1包括:
旋轉軸20;
靶材6(濺鍍靶材),配置在所述旋轉軸20的側方;
旋轉輪40(旋轉部),能夠以所述旋轉軸20為中心而旋轉;
多個工件保持部60,能夠保持工件W,以排列於以所述旋轉軸20為中心的圓周上的方式而配置,以能夠以相對於所述靶材6傾斜的軸線為中心而旋轉的方式設置於所述旋轉輪40;以及
固定圓盤70(旋轉驅動部),形成為以所述旋轉軸20為中心的圓盤狀,並且以與多個所述工件保持部60接觸的方式而配置,伴隨著所述旋轉輪40的旋轉,使所述工件保持部60旋轉。
藉由如上所述而構成,藉由一面使工件保持部60旋轉,一面對工件W利用靶材6實施成膜處理,可抑制形成於工件W的薄膜的不均的產生。例如,如本實施形態,藉由將工件保持部60,設為能夠以相對於靶材6傾斜的軸線為中心而旋轉(自轉),可不僅容易地對工件W的側面,而且容易對上表面實施成膜處理。藉此,可抑制所形成的薄膜的不均的產生,甚至可實現薄膜(塗佈)的密接性及均質性的提高。
又,本實施形態的成膜品的製造方法是利用所述濺鍍裝置1來製造成膜品。
藉由如上所述而構成,可抑制所形成的薄膜的不均的產生,甚至可實現薄膜(塗佈)的密接性及均質性的提高。
又,本實施形態的工件保持部旋轉單元3包括:
旋轉軸20;
旋轉輪40(旋轉部),能夠以所述旋轉軸20為中心而旋轉;
多個工件保持部60,能夠保持工件W,以排列於以所述旋轉軸20為中心的圓周上的方式而配置,以能夠以相對於所述旋轉軸20的軸線傾斜的軸線為中心而旋轉的方式,設置於所述旋轉輪40;以及
固定圓盤70(旋轉驅動部),形成為以所述旋轉軸20為中心的圓盤狀,並且以與多個所述工件保持部60接觸的方式而配置,伴隨著所述旋轉輪40的旋轉,使所述工件保持部60旋轉。
藉由如上所述而構成,在應用於成膜裝置的情況下,藉由一面使工件保持部60旋轉,一面對工件W實施成膜處理,可抑制形成於工件W的薄膜的不均的產生。例如,如本實施形態,藉由將工件保持部60設為能夠以相對於旋轉軸20傾斜的軸線為中心而旋轉(自轉),可不僅容易地對工件W的側面,而且容易對上表面實施成膜處理。藉此可抑制所形成的薄膜的不均的產生,甚至可實現薄膜(塗佈)的密接性及均質性的提高。又,在應用於成膜裝置以外的電漿處理裝置的情況下,可針對電漿到達工件時的角度的依賴性,實現處理特性或處理性能的穩定化。
特別是在本實施形態中,設為如下的構成:藉由與多個工件保持部60接觸的圓盤狀的固定圓盤70,而使多個工件保持部60旋轉(自轉)。在如上所述的構成中,多個工件保持部60保持著朝向旋轉輪40的徑向外側以固定的角度傾斜的姿勢而自轉及公轉。即,在多個工件保持部60,在應用於濺鍍裝置的情況下,以相對於靶材6以固定的角度傾斜的狀態實施成膜處理,所述靶材6配置在旋轉輪40的徑向外側。藉此,可抑制由工件W的處理面的角度引起的依賴性(因傾斜角度α的變化所引起的不均等不良情況)產生。
又,所述旋轉軸20形成為能夠利用來自馬達4(動力源)的動力而旋轉,
所述旋轉輪40以能夠與所述旋轉軸20一體地旋轉的方式設置於所述旋轉軸20,
所述固定圓盤70能夠相對旋轉地設置於所述旋轉軸20,
更包括限制部80,所述限制部80限制所述固定圓盤70的旋轉。
藉由如上所述而構成,藉由對固定圓盤70進行固定(限制旋轉),而使得旋轉輪40與固定圓盤70相對旋轉,可藉由所述相對旋轉而使工件保持部60旋轉(自轉)。又,藉由利用限制部80限制固定圓盤70的旋轉,可防止固定圓盤70與旋轉軸20一併旋轉,從而能夠使工件保持部60以穩定的速度(固定的速度)旋轉。
又,所述旋轉輪40、設置於所述旋轉輪40的所述工件保持部60、及使所述工件保持部60旋轉的所述固定圓盤70沿所述旋轉軸20的軸線方向設置有多個。
藉由如上所述而構成,可一次使多個工件W旋轉,能夠提高成膜處理的效率。
又,所述工件保持部60包括:
旋轉支持部61,保持所述工件W,並且能夠旋轉地支持於所述旋轉輪40;以及
被旋轉驅動部62,固定於所述旋轉支持部61,以與所述固定圓盤70接觸的方式而配置。
藉由如上所述而構成,藉由將旋轉支持部61及被旋轉驅動部62形成為分開的構件,可抑制各個零件的形狀的複雜化。
又,所述旋轉支持部61經由軸承構件61c而可旋轉地支持於所述旋轉輪40。
藉由如上所述而構成,可使工件保持部60順滑地旋轉。藉此,可實現工件保持部60的旋轉所需的驅動力的削減。
又,所述旋轉支持部61配置成將下部插通至所述旋轉輪40,並且上部自所述旋轉輪40朝向上方突出,
所述被旋轉驅動部62在所述旋轉輪40的上方設置於所述旋轉支持部61。
藉由如上所述而構成,可將用以使工件保持部60旋轉(自轉)的機構(被旋轉驅動部62)配置在比較高的位置(旋轉輪40的上方),從而可使所述機構的維護性提高。
又,本實施形態的濺鍍裝置1(真空處理裝置)包括所述工件保持部旋轉單元3。
藉由如上所述而構成,藉由一面使工件保持部60旋轉,一面對工件W實施成膜處理,可抑制形成於工件W的薄膜的不均的產生。
再者,本實施形態的旋轉輪40是旋轉部的一實施形態。
又,本實施形態的固定圓盤70是旋轉驅動部的一實施形態。
又,本實施形態的靶材6是濺鍍靶材的一實施形態。
又,本實施形態的馬達4是動力源的一實施形態。
又,本實施形態的旋轉軸20及工件保持部60是第一旋轉軸及第二旋轉軸的一實施形態。
又,本實施形態的濺鍍裝置1是真空處理裝置的一實施形態。
以上,已說明本發明的一實施形態,但本發明並不限定於所述實施形態,在申請專利範圍內所記載的發明的技術思想範圍內可進行適當的變更。
例如,在本實施形態中,已例示加工用的工具(切削加工、磨削加工、研磨等機械加工用的工具)作為工件W的一例,但本發明並不限定於此。即,成為成膜的對象的工件W可任意選擇。例如,作為工件W的其他例,可設想衝頭(punch)零件(用以鑽孔的刀)、壓鑄(die cast)用的模具的零件、切割器(cutter)的刀等各種物品。
又,工件W的形狀並無限定,可使用任意形狀的工件。例如,不僅亦可為在一個方向上延伸地長的棒狀、柱狀、稜柱狀的構件,而且亦可為具有複雜的立體形狀的構件。又,亦可將具有複雜的表面形狀的構件(例如,工具的刀尖等)設為工件W。
又,在本實施形態中,在相對於旋轉軸20和靶材6傾斜的狀態下保持著工件W,但所述傾斜的角度及方向可任意變更。例如,藉由使旋轉輪40與貫通孔43b的傾斜角度不同的其他旋轉輪40更換,可變更工件保持部60的傾斜角度α(甚至工件W的傾斜角度α)。又,並不限於旋轉輪40,亦可藉由更換其他構件(例如,安裝構件50),來變更工件W的傾斜角度α。
又,在本實施形態中,已圖示說明如下的情形,即,旋轉輪40、設置於旋轉輪40的工件保持部60、及與工件保持部60相對應的固定圓盤70是上下排列兩個(兩層)而配置,但所述旋轉輪40等的個數並無限定。即,亦可在濺鍍裝置1設置僅一個、或設置三個以上的所述旋轉輪40等。
再者,在本實施形態中,將所述旋轉輪40等配置成自側方觀察時與上下鄰接的其他旋轉輪40等不重疊。例如,如圖4所示,設置於下方(下層)的旋轉輪40、工件保持部60及固定圓盤70是配置成位於較設置於上方(上層)的旋轉輪40等更靠下方的位置。如上所述,藉由以自側方觀察時不重疊的方式配置兩者,可提高自側方的維護性。
又,在本實施形態中,已例示如下的構成,即,在工件保持部旋轉單元3的周圍配置靶材6及加熱器7,但本發明並不限定於此。例如,亦可進而設置離子槍(ion gun),而進行前處理(例如,打入氬離子而去除工件W表面的氧化物等)。又,亦可根據工件W的種類等,不使用加熱器7而進行成膜處理。
又,在本實施形態中,已例示馬達4作為動力源的一例,但本發明並不限於此。即,亦可使用其他動力源(發動機、致動器等)。
又,工件保持部60的旋轉(公轉及自轉)的速度(轉速)可適當設定。例如,設定為:在工件保持部60藉由以旋轉軸20為中心的旋轉(公轉)而通過靶材6的正面的期間(與靶材6相向的期間),所述工件保持部60自轉至少一圈(360°)以上。藉此,可使來自靶材6的成膜材料,附著於工件W的整個區域,從而可進一步提高薄膜的密接性及均質性。
1:濺鍍裝置
2:成膜室
3:工件保持部旋轉單元
4:馬達
5:排氣裝置
6:靶材(濺鍍靶材)
7:加熱器
20:旋轉軸
21:外筒構件
21a:鍵槽
31:鍵構件
30:上部旋轉體
40:旋轉輪
41:凸台部
41a、43b、62a、70a、91:貫通孔
42:肋
43:外周部
43a:傾斜面
43c:堵塞構件
50:安裝構件
51:本體部
52:凸緣部
60:工件保持部
61:旋轉支持部
61a:保持部
61b:支持部
61c、72:軸承構件
62:被旋轉驅動部
70:固定圓盤
71:固定構件
80:限制部
81:第一限制構件
81a:左部
81b:中途部
81c:右部
81d:缺口部
82:第二限制構件
82a:支架
90:蓋體
α:傾斜角度
B:後方向
D:下方向
F:前方向
L:左方向
R:右方向
S1:工件保持步驟
S2:排氣步驟
S3:工件加熱步驟
S4:成膜步驟
U:上方向
W:工件
X:虛擬線
圖1是表示濺鍍裝置的概略結構的A-A剖面示意圖。
圖2是所述濺鍍裝置的概略結構的平面剖面示意圖。
圖3是表示成膜室的內部結構的前視剖面圖。
圖4是表示成膜室的內部結構的前視剖面放大圖。
圖5是表示工件保持部的周邊的前視剖面圖。
圖6是表示旋轉輪的構成的平面圖。
圖7是表示固定圓盤及限制部的構成的平面圖。
圖8是表示成膜品的製造方法的各步驟的圖。
圖9(a)是表示在工件未傾斜的狀態下實施成膜處理的情形的示意圖。圖9(b)是表示在工件傾斜的狀態下實施成膜處理的情形的示意圖。
圖10是表示關於本申請工具的壽命的評估的一例的圖。
圖11是表示關於本申請工具產生缺損的評估的一例的圖。
1:濺鍍裝置
2:成膜室
3:工件保持部旋轉單元
20:旋轉軸
21:外筒構件
21a:鍵槽
30:上部旋轉體
31:鍵構件
40:旋轉輪
41:凸台部
41a、70a:貫通孔
42:肋
43:外周部
50:安裝構件
60:工件保持部
70:固定圓盤
71:固定構件
72:軸承構件
80:限制部
81:第一限制構件
82:第二限制構件
82a:支架
90:蓋體
α:傾斜角度
D:下方向
L:左方向
R:右方向
U:上方向
W:工件
X:虛擬線
Claims (9)
- 一種工件保持部旋轉單元,包括:旋轉軸;旋轉部,能夠以所述旋轉軸為中心進行旋轉;多個工件保持部,設置於所述旋轉部,能夠保持工件,配置成在以所述旋轉軸為中心的圓周上排列,能夠以相對於所述旋轉軸的軸線傾斜的軸線為中心進行旋轉,沿所述傾斜的軸線的方向上保持所述工件的一端側,並且能夠以所述旋轉軸為中心而始終面向徑向外側的方式保持所述工件的另一端側;以及旋轉驅動部,形成為以所述旋轉軸為中心的圓盤狀,並且配置成與多個所述工件保持部接觸,且伴隨著所述旋轉部的旋轉使所述工件保持部旋轉,所述旋轉部、多個所述工件保持部及所述旋轉驅動部設置在沿所述旋轉軸的方向劃分的多個層中,並且設置在所述多個層的每一層的所述工件保持部配置於與以所述旋轉軸為中心具有相同半徑的圓周上。
- 如申請專利範圍第1項所述的工件保持部旋轉單元,其中所述旋轉軸形成為能夠利用來自動力源的動力進行旋轉,所述旋轉部以能夠與所述旋轉軸一體地旋轉的方式設置於所述旋轉軸,所述旋轉驅動部能夠相對旋轉地設置於所述旋轉軸,所述工件保持部旋轉單元更包括限制所述旋轉驅動部的旋轉 的限制部。
- 如申請專利範圍第1項或第2項所述的工件保持部旋轉單元,其中所述旋轉部、設置於所述旋轉部的所述工件保持部、及使所述工件保持部旋轉的所述旋轉驅動部沿著所述旋轉軸的軸線方向設置有多個。
- 如申請專利範圍第1項或第2項所述的工件保持部旋轉單元,其中所述工件保持部包括:旋轉支持部,保持所述工件,並且能夠旋轉地支持於所述旋轉部;以及被旋轉驅動部,固定於所述旋轉支持部,且以與所述旋轉驅動部接觸的方式配置。
- 如申請專利範圍第4項所述的工件保持部旋轉單元,其中所述旋轉支持部經由軸承構件而能夠旋轉地支持於所述旋轉部。
- 如申請專利範圍第4項所述的工件保持部旋轉單元,其中所述旋轉支持部以如下方式配置:下部插通至所述旋轉部,且上部自所述旋轉部朝向上方突出,所述被旋轉驅動部在所述旋轉部的上方設置於所述旋轉支持部。
- 如申請專利範圍第1項所述的工件保持部旋轉單元,更包括:限制部,包含沿著所述旋轉軸的軸線的方向延伸而限制每一 所述多個層的所述旋轉驅動部的旋轉的部分。
- 一種工件保持部旋轉單元,包括:旋轉軸;旋轉部,能夠以所述旋轉軸為中心進行旋轉;多個工件保持部,能夠保持工件,配置成在以所述旋轉軸為中心的圓周上排列,且以能夠以相對於所述旋轉軸的軸線傾斜的軸線為中心進行旋轉的方式設置於所述旋轉部;旋轉驅動部,形成為以所述旋轉軸為中心的圓盤狀,並且配置成與多個所述工件保持部接觸,且伴隨著所述旋轉部的旋轉使所述工件保持部旋轉;以及限制部,限制所述旋轉驅動部的旋轉。
- 一種真空處理裝置,包括如申請專利範圍第1項至第8項中任一項所述的工件保持部旋轉單元。
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