TWI773403B - 產生正反面插接訊號以測試連接介面之系統及方法 - Google Patents

Abstract

一種產生正反面插接訊號以測試連接介面之系統及方法，其透過測試裝置產生能夠模擬出以正向與反向插接待測裝置之連接介面的測試訊號組，使待測裝置之連接介面依據測試訊號組中之通道控制訊號選擇正向或反向插接時所使用的腳位以進行測試之技術手段，可以模擬正反向插接而無須實際改變插接方向，並達成增加測試效率的技術功效。

Description

產生正反面插接訊號以測試連接介面之系統及方法

一種介面測試系統及其方法，特別係指一種產生正反面插接訊號以測試連接介面之系統及方法。

工業4.0（Industry 4.0），又稱為第四次工業革命，其並不是單單創造新的工業技術，而是著重於將現有的工業技術、銷售流程與產品體驗統合，透過人工智慧技術建立具有適應性、資源效率和人因工程學的智慧工廠，並在商業流程及價值流程中整合客戶以及商業夥伴，以提供完善的售後服務，進而建構出一個有感知意識的新型智慧型工業世界。

隨著工業4.0的浪潮襲捲全球，製造業者無不以智能製造優化生產轉型，提升競爭力。智慧製造是架構在感測技術、網路技術、自動化技術、與人工智慧的基礎上，透過感知、人機互動、決策、執行、與回饋的過程，來實現產品設計與製造、企業管理與服務的智慧化。

而電子組裝業薄利多銷、產品價格競爭激烈的特性，讓業者追求對原物料及生產工具更有效的管控與最佳化，促使工廠生產資源效益最大化。其中，電子組裝業在組裝出商品後，需要對組裝出的商品進行一連串的測試以提高或維持商品的品質。

在上述的一連串測試中，包含商品之連接介面的測試。目前，測試商品之連接介面的方式大多使用轉接卡來進行，也就是將轉接卡插接於連接介面，並連接轉接卡與測試裝置後，使用測試裝置產生測試訊號並將測試訊號透過轉接卡傳送到連接介面，藉以對連接介面進行測試。

實際上，目前有部分的連接介面的插接方向並沒有限制，也就是不論外部裝置是由正向或反向插接到連接介面，外部裝置都可以正確的運作。因此，在連接介面的測試過程中，需要對正向插接與反向插接都進行相同的測試。如此，在測試的過程中，便需要翻轉轉接卡插接到連接介面的方向，增加了測試的時間，甚至，若轉接卡需要由測試人員進行翻轉，更會增加測試人員的工作負擔。

綜上所述，可知先前技術中長期以來一直存在測試正反向都能夠插接之連接介面時需要翻轉轉接卡之插接方向的問題，因此有必要提出改進的技術手段，來解決此一問題。

有鑒於先前技術存在測試正反向都能夠插接之連接介面時需要翻轉轉接卡之插接方向的問題，本發明遂揭露一種產生正反面插接訊號以測試連接介面之系統及方法，其中：

本發明所揭露之產生正反面插接訊號以測試連接介面之系統，至少包含：待測裝置，包含連接介面，連接介面包含第一組接腳及第二組接腳，第一組接腳包含第一通道控制腳位，第二組接腳包含第二通道控制腳位；測試裝置，插接於待測裝置，用以產生第一測試訊號組與第二測試訊號組，第一測試訊號組包含與第一通道控制腳位對應之第一通道控制訊號及與第二通道控制腳位對應之第二通道控制訊號，第二測試訊號組包含與第一通道控制腳位對應之第三通道控制訊號及與第二通道控制腳位對應之第四通道控制訊號，測試裝置亦用以傳送第一測試訊號組與第二測試訊號組至待測裝置，使待測裝置依據第一通道控制訊號及第二通道控制訊號選擇使用第一測試訊號組測試第一組接腳，及依據第三通道控制訊號與第四通道控制訊號選擇使用第二測試訊號組測試第二組接腳。

本發明所揭露之產生正反面插接訊號以測試連接介面之方法，其步驟至少包括：透過待測裝置之連接介面連接待測裝置及測試裝置，連接介面包含第一組接腳及第二組接腳，第一組接腳包含第一通道控制腳位，第二組接腳包含第二通道控制腳位；測試裝置產生第一測試訊號組，並傳送第一測試訊號組至待測裝置，其中，第一測試訊號組包含與第一通道控制腳位對應之第一通道控制訊號及與第二通道控制腳位對應之第二通道控制訊號；待測裝置依據第一通道控制訊號及第二通道控制訊號選擇使用第一測試訊號組測試第一組接腳；測試裝置產生第二測試訊號組，並傳送第二測試訊號組至待測裝置，其中，第二測試訊號組包含與第一通道控制腳位對應之第三通道控制訊號及與第二通道控制腳位對應之第四通道控制訊號；待測裝置依據第三通道控制訊號與第四通道控制訊號選擇使用第二測試訊號組測試第二組接腳。

本發明所揭露之系統與方法如上，與先前技術之間的差異在於本發明透過測試裝置產生能夠模擬出以正向與反向插接待測裝置之連接介面的測試訊號組，使得待測裝置之連接介面依據測試訊號組中之通道控制訊號選擇正向或反向插接時所使用的腳位以進行測試，藉以解決先前技術所存在的問題，並可以達成增加測試效率的技術功效。

以下將配合圖式及實施例來詳細說明本發明之特徵與實施方式，內容足以使任何熟習相關技藝者能夠輕易地充分理解本發明解決技術問題所應用的技術手段並據以實施，藉此實現本發明可達成的功效。

本發明可以由測試裝置產生能夠模擬正插與反插待測裝置的測試訊號組，使得待測裝置依據測試訊號組中的通道控制訊號選擇連接介面的腳位（pin），並依據測試訊號組中的其他訊號對被選擇的腳位進行測試。

本發明所提之測試訊號組包含但不限於電源訊號、接地訊號、差分訊號、通道控制訊號、輔助訊號；本發明所提之連接介面為不論公接頭為正面或反面都可以插接到對應母接頭的介面，例如通用序列匯流排（USB）的type-C介面。

以下先以「第1A圖」本發明所提之產生正反面插接訊號以測試連接介面之系統架構圖來說明本發明的系統運作。如「第1A圖」所示，本發明之系統含有測試裝置110、待測裝置130。其中，測試裝置110與待測裝置130可以是計算設備。

測試裝置110可以與待測裝置130連接。更詳細的，測試裝置110可以使用支援待測裝置130之連接介面131的連接線連接測試裝置110與待測裝置130，也就是將連接線插接到測試裝置110的連接介面（圖中未示）與待測裝置130的連接介面131上；測試裝置110也可以直接插接於待測裝置130的連接介面131。

測試裝置110負責產生測試訊號組，也負責將所產生的測試訊號組傳送到與測試裝置110連接的待測裝置130。測試裝置110所產生之測試訊號組與待測裝置130上連接測試裝置110的連接介面131對應，也就是說，測試裝置110所產生之測試訊號組中所包含的訊號種類與數量隨著測試裝置110所連接之待測裝置130的連接介面131不同而有不同。

測試裝置110所產生的測試訊號組至少包含兩種，分別為模擬正向（在本發明中亦稱為第一方向）插接的第一測試訊號組與模擬反向（在本發明中亦稱為第二方向）插接的第二測試訊號組，在部分的實施例中，測試訊號組還可以包含模擬使用所有腳位的第三測試訊號組。測試訊號組中包含一個或多個用來表示測試訊號組為第一/第二測試訊號組或其他測試訊號組的控制訊號。

舉例來說，當連接介面131為USB type-C的介面時，測試裝置110所產生的測試訊號組中包含兩個控制訊號。在第一測試訊號組中，一個控制訊號（在本發明中也被稱為第一通道控制訊號）固定具有有效電壓，另一個控制訊號（在本發明中也被稱為第二通道控制訊號）的電壓固定趨近於零（即對於連接介面131而言電壓可以視為零）；而在第二測試訊號組中，一個控制訊號（在本發明中也被稱為第三通道控制訊號）的電壓固定趨近於零，另一個控制訊號（在本發明中也被稱為第四通道控制訊號）固定具有有效電壓；另外，在第三測試訊號組中，兩個控制訊號（在本發明中也被稱為第五與第六通道控制訊號）的電壓都固定趨近於零。其中，有效電壓為電流通過符合USB規範之下拉電阻後所產生的電壓。

測試裝置110也可以接收待測裝置130所傳回之與第一測試訊號組對應的第一回應訊號組及與第二測試訊號組對應的第二回應訊號組，也可以依據所接收到的第一回應訊號組與第二回應訊號組產生測試結果。測試裝置110可以使用習知方式產生測試結果，例如比對第一回應訊號組/第二回應訊號組與相對應之預期訊號，並依據比對結果產生測試結果，但本發明並不以此為限。

待測裝置130包含一個或多個連接介面131，連接介面131可以提供測試裝置110連接。其中，連接介面131可以包含兩組接腳，當測試裝置110與待測裝置130都以正向（第一方向）插接時，連接介面131可以第一組接腳接收資料或訊號，而測試裝置110或待測裝置130其中之一以反向（第二方向）插接時，連接介面131可以第二組接腳接收資料或訊號。

一般而言，第一組接腳與第二組接腳通常不包含連接介面131的所有接腳，在大部分的實施例中，第一組接腳與第二組接腳所包含的接腳數相同且兩兩對應，也就是兩組接腳平分連接介面131的所有接腳，使得相同功能的接腳都有兩個或偶數個，但本發明並不以此為限，例如，兩組接腳也可以共用部分的接腳，例如共用傳送/接收控制訊號的腳位並平分其他的腳位等。以實際的例子來說，當連接介面131為USB type-C的介面時，連接介面131將共有24個接腳，其中，第一組接腳與第二組接腳各有12個接腳，分別為兩個接地腳位、六個差分訊號腳位、兩個電源腳位、一個通道控制腳位及一個輔助訊號腳位。

要說明的是，連接介面131包含通道控制腳位，其中，通道控制腳位的數量與測試裝置110所產生之測試訊號組中之通道控制訊號的數量相同。例如，在連接介面131為USB type-C的介面時，第一組接腳所包含之通道控制腳位（在本發明中也以第一通道控制腳位表示）及第二組接腳所包含之通道控制腳位（在本發明中也以第二通道控制腳位表示）分別對應第一測試訊號組中之第一及第二通道控制訊號，也分別對應第二測試訊號組中之第三及第四通道控制訊號，亦與第三測試訊號組中之第五及第六通道控制訊號對應，也就是說，第一通道控制腳位可以接收第一、第三、第五通道控制訊號，第二通道控制腳位可以接收第二、第四、第六通道控制訊號。

待測裝置130負責透過連接介面131接收第一測試訊號組與第二測試訊號組，並負責依據所接收到之第一測試訊號組中的第一通道控制訊號及第二通道控制訊號選擇使用第一組接腳，及依據第一測試訊號組對第一組接腳進行測試；待測裝置130也負責依據所接收到之第二測試訊號組中的第三及第四通道控制訊號選擇使用第二組接腳，並依據第二測試訊號組對第二組接腳進行測試。更詳細的，連接介面131可以依據所接收到之第一通道控制訊號及第二通道控制訊號選擇讓第一組接腳所接收到之訊號通過連接介面131而使待測裝置130接收到第一測試訊號組的部分訊號（有效訊號），並可以使用所接收到的訊號對連接介面131所選擇的第一組接腳進行測試；相似的，連接介面131也可以依據所接收到之第三通道控制訊號及第四通道控制訊號選擇讓第二組接腳所接收到之訊號通過連接介面131而使待測裝置130接收到第二測試訊號組的部分訊號（有效訊號），並可以使用所接收到的訊號對連接介面131所選擇的第二組接腳進行測試。

待測裝置130也可以透過連接介面131接收第三測試訊號組，並依據所接收到之第三測試訊號組中的第五通道控制訊號及第六通道控制訊號選擇測試連接介面131的一個或多個輔助訊號腳位。

待測裝置130也可以產生與所接收到之第一測試訊號組/第二測試訊號組/第三測試訊號組對應的第一回應訊號組/第二回應訊號組/第三回應訊號組，並可以將所產生之第一回應訊號組/第二回應訊號組/第三回應訊號組傳送至測試裝置110。

另外，本發明之系統也可以如「第1B圖」本發明所提之另一種產生正反面插接訊號以測試連接介面之系統架構圖所示，含有測試裝置110、轉接裝置120、待測裝置130。其中，測試裝置110與待測裝置130的運作方式大致與在「第1A圖」中所描述的相同，以下僅描述差異處。

轉接裝置120可以提供測試裝置110連接，並可以插接到待測裝置130的連接介面131上，藉以將測試裝置110所產生的測試訊號組轉送到連接介面131。更詳細的，轉接裝置120可以包含連接端、插接端及電路，其中，連接端可以透過實體線路（如排線或其他連接線）與測試裝置110連接，插接端可以插入待測裝置130中，同時，連接端也可以透過電路與插接端連接，使得連接端所接收到的測試訊號組可以透過電路傳送到插接端，且插接端所接收到的回應訊號組也可以透過電路傳送到連接端。

也就是說，測試裝置110並不一定直接與待測裝置130連接，也可以透過轉接裝置120間接的與待測裝置130連接，如此，測試裝置110可以透過轉接裝置120將測試裝置110所產生的測試訊號組傳送到待測裝置130，及可以接收轉接裝置120所轉送之待測裝置130所產生的第一/第二/第三回應訊號組。

在部分的實施例中，轉接裝置120可以依據接收自待測裝置130之第一測試訊號組中的第一通道控制訊號及第二通道控制訊號選擇將與連接介面131中之第一通道控制腳位連接之電路與下拉電阻連接，藉以產生出以正向（第一方向）插入待測裝置130的實際電路結構；轉接裝置120也可以依據接收自待測裝置130之第二測試訊號組中的第三通道控制訊號及第四通道控制訊號選擇將與連接介面131中之第二通道控制腳位連接之電路與下拉電阻連接，藉以產生出以反向（第二方向）插入待測裝置130的實際電路結構。

接著以一個實施例來解說本發明的運作系統與方法，並請參照「第2A圖」本發明所提之產生正反面插接訊號以測試連接介面之方法流程圖。在本實施例中，假設待測裝置130為筆記型電腦或平板電腦，待測裝置130的連接介面131為USB type-C介面，但本發明並不以此為限。

在測試開始時，需要透過待測裝置130的連接介面131連接待測裝置130與測試裝置110（步驟201）。在本實施例中，假設測試人員可以使用實體線路直接連接待測裝置130的連接介面131與測試裝置110，也可以使用排線連接轉接裝置120的連接端與測試裝置110，並可以將轉接裝置120的插接端插入待測裝置130，使得測試裝置110可以透過轉接裝置120與待測裝置130電性連接。

在待測裝置130與測試裝置110連接後，測試裝置110可以產生第一測試訊號組，並可以將所產生的第一測試訊號組傳送到待測裝置130（步驟210）。在本實施例中，若測試裝置110直接與待測裝置130連接，則測試裝置110可以產生能夠模擬出以第一方向（正向）插接待測裝置130之連接介面131的第一測試訊號組，也就是說，測試裝置110可以產生能夠讓連接介面131所包含之第一通道控制腳位上存在有效電壓之第一通道控制訊號及讓連接介面131所包含之第二通道控制腳位上之電壓趨近於零的第二通道控制訊號；而若測試裝置110透過轉接裝置120間接與待測裝置130連接，則測試裝置110同樣可以如上述產生能夠模擬出以第一方向（正向）插接連接介面131的第一測試訊號組，使得轉接裝置120可以經由插接端將第一測試訊號組傳送給連接介面131；另外，測試裝置110也可以產生表示以第一方向（正向）插接連接介面131的第一通道控制訊號與第二通道控制訊號，使得轉接裝置120依據所接收到之第一通道控制訊號與第二通道控制訊號判斷須模擬第一方向（正向）插接連接介面131時，將與連接介面131中之第一通道控制腳位連接的電路與轉接裝置120上的下拉電阻連接，且讓與連接介面131中之第二通道控制腳位連接的電路成為斷路，同時，讓第一測試訊號組中的其他訊號分別通過電路而被傳送到連接介面131。

在待測裝置130的連接介面131接收到測試裝置110所產生的第一測試訊號組後，連接介面131可以依據所接收到之第一測試訊號組中的第一通道控制訊號與第二通道控制訊號選擇使用第一測試訊號組測試連接介面131的第一組接腳（步驟220）。在本實施例中，假設連接介面131包含4x2的多工器（multiplexer, MUX），多工器可以依據第一通道控制訊號及第二通道控制訊號由通過第一組接腳或通過第二組接腳之差分訊號腳位的差分訊號中選擇通過第一組接腳之差分訊號通過連接介面131使得待測裝置130可以接收到第一測試訊號組中的差分訊號，並可以使用所接收到的差分訊號對連接介面131的第一組接腳進行測試。

在測試裝置110將所產生的第一測試訊號組傳送到待測裝置130（步驟210）後，測試裝置110可以產生第二測試訊號組，並可以將所產生的第二測試訊號組傳送到待測裝置130（步驟230）。在本實施例中，與產生第一測試訊號組相似的，若測試裝置110直接與待測裝置130連接，則測試裝置110可以產生能夠模擬出以第二方向（反向）插接待測裝置130之連接介面131的第二測試訊號組，也就是可以產生能夠讓連接介面131所包含之第一通道控制腳位上之電壓趨近於零的第三通道控制訊號及讓連接介面131所包含之第二通道控制腳位上存在有效電壓之第四通道控制訊號；而若測試裝置110透過轉接裝置120間接與待測裝置130連接，則測試裝置110同樣可以如上述產生第二測試訊號組，使得轉接裝置120可以經由插接端將第二測試訊號組傳送給連接介面131；另外，測試裝置110也可以產生表示以第二方向（反向）插接連接介面131的第三通道控制訊號與第四通道控制訊號，使得測試裝置120依據第三通道控制訊號與第四通道控制訊號選擇將與連接介面131中之第二通道控制腳位連接的電路與轉接裝置120上的下拉電阻連接，且讓與連接介面131中之第一通道控制腳位連接的電路成為斷路，同時讓讓第二測試訊號組中的其他訊號通過電路而被傳送到連接介面131。

在待測裝置130的連接介面131接收到測試裝置110所產生的第二測試訊號組後，連接介面131可以依據所接收到之第二測試訊號組中的第三通道控制訊號與第四通道控制訊號選擇使用第二測試訊號組測試連接介面131的第二組接腳（步驟250）。在本實施例中，假設連接介面131所包含的多工器可以依據第三通道控制訊號及第四通道控制訊號選擇讓來自第二組接腳之差分訊號通過連接介面131使得待測裝置130可以接收到第二測試訊號組中的差分訊號，並可以使用所接收到的差分訊號對連接介面131的第二組接腳進行測試。

如此，透過本發明，測試裝置110可以分別產生能夠模擬出以正向與反向插接待測裝置130之連接介面的測試訊號組，藉以在不改變實際插接方向的情況下對連接介面進行正向與反向插接的測試。

上述實施例中，還可以如「第2B圖」之流程所示，在待測裝置130接收到第一測試訊號組並藉以完成對連接介面131所包含之第一組接腳的測試（步驟220）後，可以產生與所接收到之第一測試訊號組對應的第一回應訊號組，並可以將所產生之第一回應訊號組傳送給測試裝置110（步驟225）。

且在待測裝置130接收到第二測試訊號組並藉以完成對連接介面130所包含之第二組接腳的測試（步驟220）後，可以產生與所接收到之第二測試訊號組對應的第二回應訊號組，並可以將所產生之第二回應訊號組傳送給測試裝置110（步驟255）。

測試裝置110在接收到待測裝置130所傳送之第一回應訊號組與第二回應訊號組後，可以依據所接收到之第一回應訊號組與第二回應訊號組產生測試結果（步驟290）。

另外，上述實施例，也可以包含如「第2C圖」所示之流程，在測試裝置110將所產生的第二測試訊號組傳送到待測裝置130（步驟230）後，測試裝置110可以產生第三測試訊號組，並可以將所產生的第三測試訊號組傳送到待測裝置130（步驟260）。

待測裝置130的連接介面131在接收到第三測試訊號後，可以依據所接收到之第三測試訊號組中的第五通道控制訊號與第六通道控制訊號選擇測試連接介面131的輔助訊號腳位（步驟270）。在本實施例中，連接介面131可以依據第五及第六通道控制訊號選擇讓輔助訊號腳位上之輔助訊號通過連接介面131，使得待測裝置130接收到輔助訊號，藉以對輔助訊號腳位進行測試。

在待測裝置130接收到第三測試訊號組並完成對連接介面131所包含之輔助訊號腳位的測試（步驟270）後，可以產生與所接收到之第三測試訊號組對應的第三回應訊號組，並可以將所產生之第三回應訊號組傳送給測試裝置110（步驟275），測試裝置110可以在接收到待測裝置130所傳送之第一回應訊號組、第二回應訊號組、及第三回應訊號組後，依據所接收到之第一回應訊號組、第二回應訊號組、與第三回應訊號組產生測試結果（步驟295）。

綜上所述，可知本發明與先前技術之間的差異在於具有由測試裝置產生能夠模擬出以正向與反向插接待測裝置之連接介面的測試訊號組，使待測裝置之連接介面依據測試訊號組中之通道控制訊號選擇正向或反向插接時所使用的腳位以進行測試之技術手段，藉由此一技術手段可以解決先前技術所存在測試正反向都能夠插接之連接介面時需要翻轉轉接卡之插接方向的問題，進而達成增加測試效率的技術功效。

再者，本發明之產生正反面插接訊號以測試連接介面之方法，可實現於硬體、軟體或硬體與軟體之組合中，亦可在電腦系統中以集中方式實現或以不同元件散佈於若干互連之電腦系統的分散方式實現。

雖然本發明所揭露之實施方式如上，惟所述之內容並非用以直接限定本發明之專利保護範圍。任何本發明所屬技術領域中具有通常知識者，在不脫離本發明所揭露之精神和範圍的前提下，對本發明之實施的形式上及細節上作些許之更動潤飾，均屬於本發明之專利保護範圍。本發明之專利保護範圍，仍須以所附之申請專利範圍所界定者為準。

110:測試裝置 120:轉接裝置 130:待測裝置 131:連接介面 步驟201:透過待測裝置之連接介面連接待測裝置及測試裝置 步驟210:測試裝置產生第一測試訊號組，並傳送第一測試訊號組至待測裝置 步驟220:待測裝置依據第一測試訊號組中之第一通道控制訊號及第二通道控制訊號選擇使用第一測試訊號組測試第一組接腳 步驟225:待測裝置產生對應第一測試訊號組之第一回應訊號組，並傳送第一回應訊號組至測試裝置 步驟230:測試裝置產生第二測試訊號組，並傳送第二測試訊號組至待測裝置 步驟250:待測裝置依據第二測試訊號組中之第三通道控制訊號及第四通道控制訊號選擇使用第二測試訊號組測試第二組接腳 步驟255:待測裝置產生對應第二測試訊號組之第二回應訊號組，並傳送第二回應訊號組至測試裝置 步驟260:測試裝置產生第三測試訊號組，並傳送第三測試訊號組至待測裝置 步驟270:待測裝置依據第三測試訊號組中之第五通道控制訊號及第六通道控制訊號選擇測試通訊介面之輔助訊號腳位 步驟275:待測裝置產生對應第三測試訊號組之第三回應訊號組，並傳送第三回應訊號組至測試裝置 步驟290:測試裝置依據第一回應訊號組及第二回應訊號組產生測試結果 步驟295:測試裝置依據第一回應訊號組、第二回應訊號組及第三回應訊號組產生測試結果

第1A圖為本發明所提之產生正反面插接訊號以測試連接介面之系統架構圖。 第1B圖為本發明所提之另一種產生正反面插接訊號以測試連接介面之系統架構圖。 第2A圖為本發明所提之產生正反面插接訊號以測試連接介面之方法流程圖。 第2B圖為本發明所提之產生測試結果之方法流程圖。 第2C圖為本發明所提之測試輔助訊號腳位之方法流程圖。

步驟201:透過待測裝置之連接介面連接待測裝置及測試裝置

步驟210:測試裝置產生第一測試訊號組，並傳送第一測試訊號組至待測裝置

步驟220:待測裝置依據第一測試訊號組中之第一通道控制訊號及第二通道控制訊號選擇使用第一測試訊號組測試第一組接腳

步驟230:測試裝置產生第二測試訊號組，並傳送第二測試訊號組至待測裝置

步驟250:待測裝置依據第二測試訊號組中之第三通道控制訊號及第四通道控制訊號選擇使用第二測試訊號組測試第二組接腳

Claims (10)

1. 一種產生正反面插接訊號以測試連接介面之方法，該方法至少包含下列步驟： 透過一待測裝置之一連接介面連接該待測裝置及一測試裝置，該連接介面包含一第一組接腳（pin）及一第二組接腳，該第一組接腳包含一第一通道控制腳位，該第二組接腳包含一第二通道控制腳位； 該測試裝置產生一第一測試訊號組，並傳送該第一測試訊號組至該待測裝置，其中，該第一測試訊號組包含與該第一通道控制腳位對應之一第一通道控制訊號及與該第二通道控制腳位對應之一第二通道控制訊號； 該待測裝置依據該第一通道控制訊號及該第二通道控制訊號選擇使用該第一測試訊號組測試該第一組接腳； 該測試裝置產生一第二測試訊號組，並傳送該第二測試訊號組至該待測裝置，其中，該第二測試訊號組包含與該第一通道控制腳位對應之一第三通道控制訊號及與該第二通道控制腳位對應之一第四通道控制訊號；及 該待測裝置依據該第三通道控制訊號與該第四通道控制訊號選擇使用該第二測試訊號組測試該第二組接腳。
2. 如請求項1所述之產生正反面插接訊號以測試連接介面之方法，其中該方法更包含該測試裝置產生一第三測試訊號組並傳送該第三測試訊號至該待測裝置，該第三測試訊號組包含與該第一通道控制腳位對應之一第五通道控制訊號及與該第二通道控制腳位對應之一第六通道控制訊號，該待測裝置依據該第五通道控制訊號及該第六通道控制訊號選擇測試該連接介面之至少一輔助訊號腳位之步驟。
3. 如請求項1所述之產生正反面插接訊號以測試連接介面之方法，其中該方法更包含該待測裝置產生與該第一測試訊號組對應之一第一回應訊號組，並傳送該第一回應訊號組至該測試裝置，該待測裝置產生與該第二測試訊號組對應之一第二回應訊號組，並傳送該第二回應訊號組至該測試裝置，及該測試裝置依據該第一回應訊號組及該第二回應訊號組產生測試結果之步驟。
4. 如請求項1所述之產生正反面插接訊號以測試連接介面之方法，其中插接該測試裝置於該待測裝置之該連接介面上之步驟更包含連接該測試裝置及一轉接裝置，並插接該轉接裝置於該待測裝置上之步驟。
5. 如請求項1所述之產生正反面插接訊號以測試連接介面之方法，其中該測試裝置產生該第一測試訊號組之步驟包含產生具有效電壓之該第一通道控制訊號及電壓趨近於零之該第二通道控制訊號，以模擬該測試裝置以第一方向插接於該待測裝置之步驟，且該測試裝置產生該第二測試訊號組之步驟包含產生電壓趨近於零之該第三通道控制訊號及具有效電壓之該第四通道控制訊號，以模擬該測試裝置以第二方向插接於該待測裝置之步驟。
6. 一種產生正反面插接訊號以測試連接介面之系統，該系統至少包含： 一待測裝置，包含一連接介面，該連接介面包含一第一組接腳及一第二組接腳，該第一組接腳包含一第一通道控制腳位，該第二組接腳包含一第二通道控制腳位；及 一測試裝置，插接於該待測裝置，用以產生一第一測試訊號組與一第二測試訊號組，該第一測試訊號組包含與該第一通道控制腳位對應之一第一通道控制訊號及與該第二通道控制腳位對應之一第二通道控制訊號，該第二測試訊號組包含與該第一通道控制腳位對應之一第三通道控制訊號及與該第二通道控制腳位對應之一第四通道控制訊號，該測試裝置亦用以傳送該第一測試訊號組與該第二測試訊號組至該待測裝置，使該待測裝置依據該第一通道控制訊號及該第二通道控制訊號選擇使用該第一測試訊號組測試該第一組接腳，及依據該第三通道控制訊號與該第四通道控制訊號選擇使用該第二測試訊號組測試該第二組接腳。
7. 如請求項6所述之產生正反面插接訊號以測試連接介面之系統，其中該測試裝置更用以產生一第三測試訊號組並傳送該第三測試訊號至該待測裝置，該第三測試訊號組包含與該第一通道控制腳位對應之一第五通道控制訊號及與該第二通道控制腳位對應之一第六通道控制訊號，該待測裝置依據該第五通道控制訊號及該第六通道控制訊號選擇測試該連接介面之至少一輔助訊號腳位。
8. 如請求項6所述之產生正反面插接訊號以測試連接介面之系統，其中該待測裝置更用以產生與該第一測試訊號組對應之一第一回應訊號組，並傳送該第一回應訊號組至該測試裝置，及用以產生與該第二測試訊號組對應之一第二回應訊號組，並傳送該第二回應訊號組至該測試裝置，該測試裝置更用以依據該第一回應訊號組及該第二回應訊號組產生測試結果。
9. 如請求項6所述之產生正反面插接訊號以測試連接介面之系統，其中該系統更包含一轉接裝置，提供該測試裝置連接，並插接該待測裝置，該轉接裝置用以將該測試裝置所產生之該第一測試訊號組及該第二測試訊號組轉送到該待測裝置。
10. 如請求項9所述之產生正反面插接訊號以測試連接介面之系統，其中該轉接裝置是依據該第一通道控制訊號及該第二通道控制訊號選擇將與該第一通道控制腳位連接之電路與一下拉電阻連接，且該轉接裝置是依據該第三通道控制訊號及該第四通道控制訊號選擇將與該第二通道控制腳位連接之電路與該下拉電阻連接。

Images