TWI794848B - 縮短寬度之轉接裝置及使用該轉接裝置進行測試之系統 - Google Patents

Abstract

一種縮短寬度之轉接裝置及使用該轉接裝置進行測試之系統，其透過縮小插接到待測裝置之轉接裝置的寬度之技術手段，可以同時測試待測裝置之多個連接介面，並達成提高測試效率的技術功效。

Description

縮短寬度之轉接裝置及使用該轉接裝置進行測試之系統

一種轉接裝置及使用該轉接裝置之測試系統，特別係指一種縮短寬度之轉接裝置及使用該轉接裝置進行測試之系統。

工業4.0(Industry 4.0)，又稱為第四次工業革命，其並不是單單創造新的工業技術，而是著重於將現有的工業技術、銷售流程與產品體驗統合，透過人工智慧技術建立具有適應性、資源效率和人因工程學的智慧工廠，並在商業流程及價值流程中整合客戶以及商業夥伴，以提供完善的售後服務，進而建構出一個有感知意識的新型智慧型工業世界。

隨著工業4.0的浪潮襲捲全球，製造業者無不以智能製造優化生產轉型，提升競爭力。智慧製造是架構在感測技術、網路技術、自動化技術、與人工智慧的基礎上，透過感知、人機互動、決策、執行、與回饋的過程，來實現產品設計與製造、企業管理與服務的智慧化。

而電子組裝業薄利多銷、產品價格競爭激烈的特性，讓業者追求對原物料及生產工具更有效的管控與最佳化，促使工廠生產資源效益最大化。 其中，電子組裝業在組裝出商品後，需要對組裝出的商品進行一連串的測試以提高或維持商品的品質。

在上述之各種測試中，包含商品之連接介面的測試。目前，筆記型電腦、平板電腦、智慧型手機的主機板上通常配有多個連接介面，這些連接介面通常包含HDMI或USB介面。在測試主機板上之各個連接介面的過程中，可能需要將各個連接介面的轉接卡都插接在主機板上，因此，各種連接不同連接介面之轉接卡所佔用的寬度與面積的控制變得非常重要。

然而，市售的轉接卡通常都是橫向設計，往往佔用一定的寬度與面積，導致減少與所插接之連接介面相鄰之其他連接介面的轉接卡可佔用的寬度與面積，但實際上，連接介面被設置在主機板上的位置通常僅有小小的間隔。如「第1圖」所示，若待測裝置100(中之主機板)上包含三個連接介面110，若位於中間之連接介面的轉接卡101所佔用的寬度與面積過大，將可能遮蔽到位於左右之其他連接介面110，導致位於左右之連接介面110的轉接卡無法插接左右之連接介面110。如此，佔用寬度與面積過大的轉接卡將造成部分轉接卡無法插接到連接介面上，導致無法一次完成所有連接介面的測試，甚至需要暫停測試更換轉接卡，增加了測試所需的時間。

綜上所述，可知先前技術中長期以來一直存在轉接卡可能佔用過大的寬度與面積的問題，因此有必要提出改進的技術手段，來解決此一問題。

有鑒於先前技術存在轉接卡可能佔用過大的寬度與面積的問題，本發明遂揭露一種縮短寬度之轉接裝置及使用該轉接裝置進行測試之系統，其中：本發明所揭露之縮短寬度之轉接裝置，至少包含：電路板，電路板設有多條電路；連接端，設置於電路板之側面，包含多個訊號接腳；插接部，設置於電路板之短邊，用以由與短邊垂直之方向插接待測裝置之連接介面，藉以連接待測裝置與轉接裝置，插接部包含多個傳輸接腳，每個傳輸接腳透過電路與一個訊號接腳連接；其中，短邊之長度小於或等於連接介面之寬度，或短邊之長度小於連接介面之寬度與限制值之和。

本發明所揭露之使用上述轉接裝置進行測試之系統，至少包含：轉接裝置、待測裝置、與測試裝置，其中，測試裝置與連接端連接，用以透過轉接裝置傳送測試訊號及/或資料至待測裝置，藉以測試待測裝置。

本發明所揭露之轉接裝置及系統如上，與先前技術之間的差異在於本發明透過縮小插接到待測裝置之轉接裝置的寬度，使轉接裝置的寬度小於或等於待測裝置之連接介面的寬度，或小於連接介面之寬度與連接介面間之間距的總和，藉以解決先前技術所存在的問題，並可以達成提高測試效率的技術功效。

100:待測裝置

101:轉接卡

110:連接介面

110a~110c:連接介面

111:寬度

112a、112b:間距

200:測試裝置

300:轉接裝置

310:電路板

311:固定孔

320:連接端

322:防呆部

330:插接部

第1圖為習知之使用轉接裝置進行測試之系統架構圖。

第2圖為本發明所提之使用縮短寬度之轉接裝置進行測試之系統架構圖。

第3A圖為本發明所提之縮短寬度之轉接裝置之元件示意圖。

第3B圖為本發明所提之另一種縮短寬度之轉接裝置之元件示意圖。

以下將配合圖式及實施例來詳細說明本發明之特徵與實施方式，內容足以使任何熟習相關技藝者能夠輕易地充分理解本發明解決技術問題所應用的技術手段並據以實施，藉此實現本發明可達成的功效。

本發明可以收窄轉接裝置連接待測裝置時所佔用的寬度。其中，轉接裝置與測試待測裝置之測試裝置連接。

以下先以「第2圖」本發明所提之使用縮短寬度之轉接裝置進行測試之系統架構圖來說明本發明的系統運作。如「第2圖」所示，本發明之系統含有待測裝置100、測試裝置200、及轉接裝置300。

待測裝置100為包含一個或多個連接介面110的裝置，如電腦(包含筆記型電腦與平板電腦)、智慧型手機等。連接介面110通常是使用通用序列匯流排(Universal Serial Bus,USB)的type-C介面，但本發明並不以此為限，例如，連接介面110也可以是使用高畫質多媒體介面(High Definition Multimedia Interface,HDMI)或其他type的USB介面。

也就是說，待測裝置100可以包含一個或多種連接介面，以實際的例子來說，待測裝置100可以包含一個USB type-C的連接介面，也可以包含一個或多個USB type-C的連接介面及一個或多個HDMI的連接介面。其中，每一個連接介面110都具有一定的寬度111，且不同的連接介面110間存在間距，如在連 接介面110a與110b間及連接介面110b與110c之間，分別存在間距112a與間距112b。

待測裝置100負責透過連接介面110接收轉接裝置300所轉送之由測試裝置200所發出的測試資料及/或訊號，並可以依據所接收到之測試資料及/或訊號進行對應運作。在部分的實施例中，待測裝置100也可以在運作後產生回應資料及/或訊號，並可以透過轉接裝置300將所產生之回應資料及/或訊號傳送給測試裝置200。

測試裝置200負責測試待測裝置100。更詳細的，測試裝置200可以與轉接裝置300連接，並可以傳送測試資料及/或訊號給轉接裝置300，藉以透過轉接裝置300對待測裝置100進行測試。

測試裝置200也可以接收轉接裝置300所傳送之回應資料及/或訊號，並可以習知之測試方式，依據所傳送之測試資料及/或訊號與所接收到之回應資料/或訊號產生測試結果。

測試裝置200可以是電腦等計算設備，但本發明並不以此為限。一般而言，測試裝置200可以透過現有之各種實體線路與轉接裝置300連接，上述之實體線路包含但不限於使用PATA/SATA介面之排線(如連接主機板與軟碟機或硬碟機之排線)、使用RS-232介面之連接線等。

轉接裝置300負責連接測試裝置200與待測裝置100，並負責將測試裝置200所傳送之測試資料及/或訊號轉送到待測裝置100，也可以將測試裝置200傳送的回應資料及/或訊號轉送到測試裝置200。其中，轉接裝置300更可以如「第3A圖」本發明所提之縮短寬度之轉接裝置之元件示意圖所示，包含電路板310、連接端320、插接部330。

電路板310通常呈狹長狀，例如具有長邊與短邊的矩形，又如，具有長軸與短軸的橢圓形或各種多邊形等，但電路板310的形狀並不以上述為限。

電路板310的短邊或寬度通常小於或等於插接部330所插接之待測裝置100的連接介面110的寬度與一個限制值的和，也就是說，電路板310的短邊或寬度可以小於或等於待測裝置100之連接介面110的寬度，或電路板310的短邊或寬度介於待測裝置100之連接介面110的寬度111與待測裝置100之連接介面110的寬度與限制值的和之間。其中，需要特別說明的是，本發明所提之限制值小於待測裝置100上轉接裝置300之插接部330所插接之連接介面110的寬度與該連接介面相鄰之其他連接介面間之間距總和的平均值、或小於插接部330所插接之連接介面110與該連接介面相鄰之其他連接介面間之較小間距，例如，若插接部330插接連接介面110b，則限制值為間距112a與間距112b之和的1/2(或間距112a與間距112b之較小者)，而若插接部330插接連接介面110a或110c，則限制值為間距112a或間距112b。

電路板310上設置有多條電路(圖中未示)，藉以透過電路連接插接部330與連接端320。若電路板310為單層電路板，則電路可以被設置在電路板310的表面，而若電路板310為多層電路板，電路除了可以設置在電路板310的表面外，也可以設置在電路板310的夾層中，但電路板310並不以上述為限。

電路板310上也可以設置一個或多個固定孔311，固定孔311將電路板310固定於轉接裝置300之預定位置，防止在轉接裝置300透過插接部330插接到待測裝置100時，電路板310朝插接的反向移動，造成插接部330縮入轉接裝 置300中，導致插接部330無法與待測裝置100緊密結合進而產生訊號或資料無法正確地被傳遞的問題。

連接端320通常設置於電路板310的側面，包含多個訊號接腳(pin)(圖中未示)，每一個訊號接腳與設置於電路板310上的一條電路連接，且不同訊號接腳所連接的電路都不相同。

一般而言，連接端320可以包含母端插槽，母端插槽設置於電路板310上，且連接端320的訊號接腳可以穿過母端插槽並與電路板310上的電路連接。在部分的實施例中，母端插槽上可以如「第3B圖」所示，包含防呆部322，藉以避免連接測試裝置200與轉接裝置300的實體線路在與連接端320連接時以錯誤的方向連接。

但實務上，連接端320並不一定需要包含母端插槽，例如，連接端320也可以是公端插頭，使得測試裝置200以母端插槽與連接端320連接；又如，連接端320也可能不包含公端插頭或母端插槽，而僅以裸露的訊號接腳與測試裝置200連接，也就是測試裝置200以多根資料/訊號線分別連接每一個訊號接腳。

插接部330設置於電路板310上，更詳細的，當電路板310為矩形時，插接部330通常設置於電路板310的短邊；而電路板310不為矩形時，插接部330可以設置於電路板310之邊緣，例如，當電路板310為橢圓形時，插接部330可以設置在電路板310的長軸與電路板310之邊緣的交點。

插接部330包含多個傳輸接腳，每一個傳輸接腳與設置於電路板310上的一條電路連接，且不同傳輸接腳所連接的電路都不相同。如此，透過設 置於電路板310上的電路，插接部330所包含的每一個不同傳輸接腳都可以與連接端320所包含的不同訊號接腳電性連接。

值得一提的是，在本發明中，插接部330的正面與反面均可與待測裝置100連接(也就是若插接部330可使用正面插接待測裝置100，則插接部330亦可以與正面插接待測裝置100之方向垂直且通過插接部330的直線為軸心，將轉接裝置300轉動180度後，插接部330同樣可以插接待測裝置100)，測試裝置200可以透過控制訊號模擬插接部330以正面或反面與待測裝置100連接。例如，產生具有特定電壓之選擇訊號的控制訊號使得待測裝置100依據選擇訊號判斷插接部330以正面或反面插接。

另外，本發明之系統也可以包含固定機台，固定機台可以在轉接裝置300與待測裝置100連接時，例如轉接裝置300插接到待測裝置100上時，固定轉接裝置300與待測裝置100的相對位置，使轉接裝置300插接在待測裝置100之連接介面上時能夠與待測裝置100保持平行，同時能夠維持連接的穩定性。例如，固定機台可以夾持轉接裝置300，但本發明並不以此為限，其他各種能夠維持轉接裝置300與待測裝置100之相對位置的機制都可以作為本發明之固定機台被使用。

如此，透過本發明，寬度收窄的轉接裝置300同樣可以透過連接插接部330與連接端320的電路，將測試裝置200傳送到連接端320的測試資料及/或訊號由插接部330轉送給待測裝置100，藉以完成對待測裝置100的測試，同時也避免阻礙或占用其他轉接卡插接到待測裝置之其他連接介面上的位置，如此，在測試時可以同時測試待測裝置100的所有連接介面，進而提高測試效率。

綜上所述，可知本發明與先前技術之間的差異在於具有縮小插接到待測裝置之轉接裝置的寬度，使轉接裝置的寬度小於或等於待測裝置之連接介面的寬度，或小於連接介面之寬度與連接介面間之間距的總和之技術手段，藉由此一技術手段可以來解決先前技術所存在轉接卡可能佔用過大的寬度與面積的問題，進而達成提高測試效率的技術功效。

再者，本發明之使用縮短寬度之轉接裝置進行測試之系統，可實現於硬體或硬體與軟體之組合中，亦可以不同元件散佈於若干互連之電腦系統的分散方式實現。

雖然本發明所揭露之實施方式如上，惟所述之內容並非用以直接限定本發明之專利保護範圍。任何本發明所屬技術領域中具有通常知識者，在不脫離本發明所揭露之精神和範圍的前提下，對本發明之實施的形式上及細節上作些許之更動潤飾，均屬於本發明之專利保護範圍。本發明之專利保護範圍，仍須以所附之申請專利範圍所界定者為準。

300:轉接裝置

310:電路板

311:固定孔

320:連接端

330:插接部

Claims (8)

1. 一種縮短寬度之轉接裝置，係與一待測裝置連接，該轉接裝置至少包含：一電路板，該電路板設有多條電路；一連接端，設置於該電路板之一側，包含多個訊號接腳(pin)；及一插接部，設置於該電路板之一短邊，用以由與該短邊垂直之方向插接該待測裝置之一連接介面，藉以連接該待測裝置與該轉接裝置，該插接部包含多個傳輸接腳，每一該傳輸接腳透過一該電路與一該訊號接腳連接，且該插接部之正面與反面均可與該連接介面連接；其中，該短邊之長度小於或等於該連接介面之寬度，或該短邊之長度小於該連接介面之寬度與一限制值之和。
2. 如請求項1所述之縮短寬度之轉接裝置，其中該限制值小於該連接介面與設置於該待測裝置上與該連接介面相鄰之其他兩連接介面之間距總和之平均或小於該連接介面與設置於該待測裝置上與該連接介面相鄰之其他兩連接介面之較小間距。
3. 如請求項1所述之縮短寬度之轉接裝置，其中該連接端包含一母端插槽，該母端插槽設置於該電路板上，該些訊號接腳穿過該母端插槽。
4. 如請求項3所述之縮短寬度之轉接裝置，其中該母端插槽更包含一防呆部。
5. 如請求項1所述之縮短寬度之轉接裝置，其中該電路板更設置至少一固定孔，用以將該電路板固定於該轉接裝置。
6. 一種使用如請求項1之轉接裝置進行測試之系統，該系統更包含一測試裝置，該測試裝置與該連接端連接，用以透過該轉接裝置傳送測試訊號及/或資料至該待測裝置，藉以測試該待測裝置。
7. 如請求項6所述之使用轉接裝置進行測試之系統，其中該系統更包含一固定機台，用以於該轉接裝置與該待測裝置連接時，固定該轉接裝置與該待測裝置之相對位置。
8. 如請求項6所述之使用轉接裝置進行測試之系統，其中該待測裝置更用以透過該轉接裝置傳送一回應訊號及/或資料至該測試裝置，使該測試裝置依據該回應訊號及/或資料產生測試結果。

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