CN116340079A - 一种测试治具及测试方法 - Google Patents
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- 238000012360 testing method Methods 0.000 title claims abstract description 210
- 238000010998 test method Methods 0.000 title claims abstract description 6
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 claims description 47
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 32
- 239000002390 adhesive tape Substances 0.000 abstract description 10
- 230000002159 abnormal effect Effects 0.000 description 3
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 3
- 238000003491 array Methods 0.000 description 1
- 230000009286 beneficial effect Effects 0.000 description 1
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 description 1
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Abstract
本申请公开了一种测试治具及测试方法,涉及服务器主板测试领域,包括:多个导电触片与多个开关;所有导电触片的第一端形成第一接口,所有导电触片的第二端形成第二接口,至少部分数量的导电触片上设置有开关;第一接口用于与测试设备的第一串行总线接口连接;第二接口用于与服务器主板上的第二串行总线接口连接;开关用于控制开关所属的导电触片的第一端与第二端连通或断开,测试人员通过改变开关状态来实现测试服务器主板上的串行总线接口的报错功能,无需使用胶带粘贴并覆盖测试设备的串行总线接口上的相关导电触片,提高了工作效率,解决了在先技术中工作效率低下的问题。
Description
技术领域
本申请属于服务器主板测试领域,具体涉及一种测试治具及测试方法。
背景技术
为了对服务器主板上的PCIE(peripheral component interconnect express,高速串行计算机扩展总线标准)总线接口(以下简称串行总线接口)的报错功能进行测试,需要一种测试治具。
在先技术中,测试人员使用胶带粘贴并覆盖测试设备的串行总线接口上的相关导电触片,然后将测试设备的串行总线接口与服务器主板上的串行总线接口直接连接,以对服务器主板上的串行总线接口的报错功能进行测试。
在实现本申请过程中,发明人发现在先技术中至少存在如下问题:由于为了对服务器主板上的串行总线接口的报错功能进行测试,需要测试人员使用胶带粘贴并覆盖测试设备的串行总线接口上的相关导电触片,导致工作效率低下。
发明内容
本申请旨在提供一种测试治具及测试方法,至少解决在先技术中由于为了对服务器主板上的串行总线接口的报错功能进行测试,需要测试人员使用胶带粘贴并覆盖测试设备的串行总线接口上的相关导电触片,导致工作效率低下的问题。
为了解决上述技术问题,本申请是这样实现的:
第一方面,本申请实施例提供了一种测试治具,所述测试治具包括:多个导电触片与多个开关;所有的所述导电触片的第一端形成第一接口,所有的所述导电触片的第二端形成第二接口,至少部分数量的所述导电触片上设置有所述开关;
所述第一接口用于与测试设备的第一串行总线接口连接,所述导电触片与所述第一串行总线接口的导电触片一一对应;
所述第二接口用于与服务器主板上的第二串行总线接口连接,所述导电触片与所述第二串行总线接口的导电触片一一对应;
所述开关用于控制所述开关所属的导电触片的第一端与第二端连通或断开。
第二方面,本申请实施例还提供了一种测试方法,应用于如第一方面所述的测试治具,所述方法包括:
将测试设备的第一串行总线接口与所述测试治具的第一接口连接,所述测试设备用于测试所述服务器主板上的第二串行总线接口的报错功能;
将所述测试治具的第二接口与所述第二串行总线接口连接;所述测试设备的开关的初始状态为开启状态;
选取所述测试治具的所有的开关中的第一开关,并将所述第一开关的开启状态变更为关闭状态;
在获取到表征所述第二串行总线接口的带宽由初始带宽降低为第一目标带宽的第一报错信息的情况下,确定所述第二串行总线接口的报错功能为正常。
在本申请实施例中,测试治具包括:多个导电触片与多个开关;所有的导电触片的第一端形成第一接口,所有的导电触片的第二端形成第二接口,至少部分数量的导电触片上设置有开关;第一接口用于与测试设备的第一串行总线接口连接,导电触片与第一串行总线接口的导电触片一一对应;第二接口用于与服务器主板上的第二串行总线接口连接,导电触片与第二串行总线接口的导电触片一一对应;开关用于控制开关所属的导电触片的第一端与第二端连通或断开,通过将测试设备的第一串行总线接口与测试治具的第一接口连接,然后将测试治具的第二接口与第二串行总线接口连接,选取测试治具的所有的开关中的第一开关,并将第一开关的开启状态变更为关闭状态,在获取到表征第二串行总线接口的带宽由初始带宽降低为第一目标带宽的第一报错信息的情况下,确定第二串行总线接口的报错功能为正常,以实现对服务器主板上的串行总线接口的报错功能进行测试,在此过程中,测试人员通过改变开关状态完成测试,不需要使用胶带粘贴并覆盖测试设备的串行总线接口上的相关导电触片,提高了工作效率,解决了在先技术中由于为了对服务器主板上的串行总线接口的报错功能进行测试,需要测试人员使用胶带粘贴并覆盖测试设备的串行总线接口上的相关导电触片,导致工作效率低下的问题。
附图说明
图1是本申请实施例提供的一种测试治具的一种示意图;
图2是本申请实施例提供的一种测试治具的另一种示意图;
图3是本申请实施例提供的另一种测试治具的一种示意图;
图4是本申请实施例提供的一种测试治具的使用场景示意图;
图5是本申请实施例提供的一种测试方法的步骤流程图;
图6是本申请实施例提供的一种测试方法的具体步骤流程图。
附图标记:
70-测试设备;71-第一串行总线接口;80-服务器的主板;81-第二串行总线接口;90-测试治具;91-导电触片;911-第一端;912-第二端;92-开关;93-第一接口;94-第二接口。
具体实施方式
下面将结合本申请实施例中的附图,对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例是本申请一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本申请中的实施例,本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本申请保护的范围。
本申请的说明书和权利要求书中的术语“第一”、“第二”等是用于区别类似的对象,而不用于描述特定的顺序或先后次序。应该理解这样使用的数据在适当情况下可以互换,以便本申请的实施例能够以除了在这里图示或描述的那些以外的顺序实施,且“第一”、“第二”等所区分的对象通常为一类,并不限定对象的个数,例如第一对象可以是一个,也可以是多个。此外,说明书以及权利要求中“和/或”表示所连接对象的至少其中之一,字符“/”,一般表示前后关联对象是一种“或”的关系。
需要说明的是,测试设备指的是PCIE卡,即一种具有PCIE接口的网络适配器,例如HCA卡(主机通道适配器)、RAID(Redundant Arrays of Independent Disks,磁盘阵列)卡等。
参照图1,本申请实施例提供的一种测试治具90,所述测试治具90包括:多个导电触片91与多个开关92;如图2所示,所有的所述导电触片91的第一端911形成第一接口93,所有的所述导电触片91的第二端912形成第二接口94,至少部分数量的所述导电触片91上设置有所述开关92;所述第一接口93用于与测试设备70的第一串行总线接口71连接,所述导电触片91与所述第一串行总线接口71的导电触片91一一对应;所述第二接口94用于与服务器主板80上的第二串行总线接口81连接,所述导电触片91与所述第二串行总线接口81的导电触片91一一对应;所述开关92用于控制所述开关92所属的导电触片91的第一端911与第二端912连通或断开。
在本申请实施例中,通过将测试设备70的第一串行总线接口71与测试治具90的第一接口93连接,然后将测试治具90的第二接口94与第二串行总线接口81连接,选取测试治具90的所有的开关92中的第一开关92,并将第一开关92的开启状态变更为关闭状态,在获取到表征第二串行总线接口81的带宽由初始带宽降低为第一目标带宽的第一报错信息的情况下,确定第二串行总线接口81的报错功能为正常,以实现对服务器主板80上的串行总线接口的报错功能进行测试,在此过程中,测试人员通过改变开关92状态完成测试,不需要使用胶带粘贴并覆盖测试设备70的串行总线接口上的相关导电触片91,提高了工作效率,解决了在先技术中由于为了对服务器主板80上的串行总线接口的报错功能进行测试,需要测试人员使用胶带粘贴并覆盖测试设备70的串行总线接口上的相关导电触片91,导致工作效率低下的问题。
在一些实施例中,如图1所示,测试治具90的全部数量的导电触片91上设置有开关92;在另一些实施例中,如图3所示,测试治具90的部分数量的导电触片91上设置有开关92,设置有开关92的导电触片91为在对服务器主板80上的串行总线接口的报错功能进行测试的过程中,需要将第一端911和第二端912断开的导电触片。
可选地,在一些实施例中,在所述开关92为开启状态的情况下,所述开关92所属的导电触片91的第一端911与第二端912连通;在所述开关92为关闭状态的情况下,所述开关92所属的导电触片91的第一端911与第二端912断开。
通过本申请实施例可以实现,通过改变开关92的状态来控制开关92所属的导电触片91的第一端911与第二端912连通或断开,即在开关92为开启状态的情况下,开关92所属的导电触片91的第一端911与第二端912连通;在将开关92由开启状态变更为关闭状态后,开关92所属的导电触片91的第一端911与第二端912断开,以实现断开测试设备70的第一串行总线接口71的相关导电触片91与服务器主板80上的第二串行总线接口81的相关导电触片91之间的信道。
需要说明的是,通过关闭在对服务器主板80上的串行总线接口的报错功能进行测试的过程中,需要将第一端911和第二端912断开的导电触片91的开关92,以断开测试设备70的第一串行总线接口71的相关导电触片91与服务器主板80上的第二串行总线接口81的相关导电触片91之间的信道。
可选地,在一些实施例中,设置有所述开关92的导电触片91的类型包括第一发送导电触片91、第二发送导电触片91、第一接收导电触片91、第二接收导电触片91;所述第一发送导电触片91用于传输所述第二串行总线接口81向所述第一串行总线接口71发送的正电压的差分信号;所述第二发送导电触片91用于传输所述第二串行总线接口81向所述第一串行总线接口71发送的负电压的差分信号;所述第一接收导电触片91用于传输所述第一串行总线接口71向所述第二串行总线接口81发送的正电压的差分信号;所述第二接收导电触片91用于传输所述第一串行总线接口71向所述第二串行总线接口81发送的负电压的差分信号。
通过本申请实施例可以实现,通过改变第一发送导电触片91的开关92状态,以控制第一发送导电触片91的第一端911和第二端912连通或断开,使得第二串行总线接口81向第一串行总线接口71发送正电压的差分信号的传输信道连通或断开;通过改变第二发送导电触片91的开关92状态,以控制第二发送导电触片91的第一端911和第二端912连通或断开,使得第二串行总线接口81向第一串行总线接口71发送负电压的差分信号的传输信道连通或断开;通过改变第一接收导电触片91的开关92状态,以控制第一接收导电触片91的第一端911和第二端912连通或断开,使得第一串行总线接口71向第二串行总线接口81发送正电压的差分信号的传输信道连通或断开;通过改变第二接收导电触片91的开关92状态,以控制第二接收导电触片91的第一端911和第二端912连通或断开,使得第一串行总线接口71向第二串行总线接口81发送负电压的差分信号的传输信道连通或断开。
可选地,在一些实施例中,所述测试治具90的类型包括允许传输四路差分信号、允许传输八路差分信号、允许传输十六路差分信号中的任一种。
通过本申请实施例可以实现,在第二串行总线接口81为X4(带宽为允许传输四路差分信号)的情况下,使用允许传输四路差分信号的测试治具90测试第二串行总线接口81的报错功能;在第二串行总线接口81为X8(带宽为允许传输八路差分信号)的情况下,使用允许传输八路差分信号的测试治具90测试第二串行总线接口81的报错功能;在第二串行总线接口81为X16(带宽为允许传输十六路差分信号)的情况下,使用允许传输十六路差分信号的测试治具90测试第二串行总线接口81的报错功能。
需要说明的是,每一路差分信号包括四个差分信号,分别为第二串行总线接口81向第一串行总线接口71发送的正电压的差分信号、第二串行总线接口81向第一串行总线接口71发送的负电压的差分信号、第一串行总线接口71向第二串行总线接口81发送的正电压的差分信号、第一串行总线接口71向第二串行总线接口81发送的负电压的差分信号,每个导电触片91提供传输一个对应的差分信号的信道。
可选地,在一些实施例中,所述第一接口93为插槽结构,所述第二接口94为插头结构。
需要说明的是,测试设备70的第一串行总线接口71为插头结构,服务器主板80上的第二串行总线接口81为插槽结构。
通过本实施例可以实现,测试设备70的第一串行总线接口71的插头结构与测试治具90的第一接口93的插槽结构契合,以使得测试治具90的第一接口93与测试设备70的第一串行总线接口71可以连接,服务器主板80上的第二串行总线接口81的插槽结构与测试治具90的第二接口94的插头结构契合,以使得测试治具90的第二接口94与服务器主板80上的的第二串行总线接口81可以连接。
可选地,在一些实施例中,所述开关92为拨码开关92。
通过本实施例可以实现,测试人员通过拨动拨码开关92,控制拨码开关92所属的导电触片91的第一端911和第二端912连通或断开,即将拨码开关92拨动至“ON”的位置,控制拨码开关92所属的导电触片91的第一端911和第二端912连通;将拨码开关92拨动至“OFF”的位置,控制拨码开关92所属的导电触片91的第一端911和第二端912断开。
综上所述,在本申请实施例中,测试治具90包括:多个导电触片91与多个开关92;所有的导电触片91的第一端911形成第一接口93,所有的导电触片91的第二端912形成第二接口94,至少部分数量的导电触片91上设置有开关92;第一接口93用于与测试设备70的第一串行总线接口71连接,导电触片91与第一串行总线接口71的导电触片91一一对应;第二接口94用于与服务器主板80上的第二串行总线接口81连接,导电触片91与第二串行总线接口81的导电触片91一一对应;开关92用于控制开关92所属的导电触片91的第一端911与第二端912连通或断开,参照图4,通过将测试设备70的第一串行总线接口71与测试治具90的第一接口93连接,然后将测试治具90的第二接口94与第二串行总线接口81连接,选取测试治具90的所有的开关92中的第一开关92,并将第一开关92的开启状态变更为关闭状态,在获取到表征第二串行总线接口81的带宽由初始带宽降低为第一目标带宽的第一报错信息的情况下,确定第二串行总线接口81的报错功能为正常,以实现对服务器主板上的串行总线接口的报错功能进行测试,在此过程中,测试人员通过改变开关状态完成测试,不需要使用胶带粘贴并覆盖测试设备的串行总线接口上的相关导电触片,提高了工作效率,解决了在先技术中由于为了对服务器主板上的串行总线接口的报错功能进行测试,需要测试人员使用胶带粘贴并覆盖测试设备的串行总线接口上的相关导电触片,导致工作效率低下的问题。
下面结合附图,通过具体的实施例及其应用场景对本申请实施例提供的测试方法进行详细地说明。
图5是本申请实施例提供的一种测试方法的步骤流程图,应用于前述的测试治具,如图5所示,该方法可以包括:
步骤101、将测试设备的第一串行总线接口与所述测试治具的第一接口连接。
其中,所述测试设备用于测试所述服务器主板上的第二串行总线接口的报错功能。
在本申请实施例中,通过将测试设备的第一串行总线接口与测试治具的第一接口连接,实现测试设备的第一串行总线接口的导电触片与测试治具的第一接口的导电触片一一对应的连接。
具体地,在一些实施例中,通过将测试设备的第一串行总线接口的插头结构插入测试治具的第一接口的插槽结构实现将测试设备的第一串行总线接口与测试治具的第一接口连接。
步骤102、将所述测试治具的第二接口与所述第二串行总线接口连接。
其中,所述测试设备的开关的初始状态为开启状态。
在本申请实施例中,通过将测试治具的第二接口与第二串行总线接口连接,实现测试治具的第二接口的导电触片与服务器主板上的第二串行总线接口的导电触片一一对应的连接。
具体地,在一些实施例中,通过将测试治具的第二接口的插头结构插入服务器主板上的第二串行总线接口的插槽结构实现将测试治具的第二接口与第二串行总线接口连接。
步骤103、选取所述测试治具的所有的开关中的第一开关,并将所述第一开关的开启状态变更为关闭状态。
在本申请实施例中,通过选取测试治具的所有的开关中的第一开关,并将第一开关的开启状态变更为关闭状态,以断开第一开关所属的导电触片的第一端和第二端。
具体地,在一些实施例中,在开关为拨码开关的情况下,将拨码开关由“ON”的位置拨动至“OFF”的位置,控制拨码开关所属的导电触片的第一端和第二端断开。
步骤104、在获取到表征所述第二串行总线接口的带宽由初始带宽降低为第一目标带宽的第一报错信息的情况下,确定所述第二串行总线接口的报错功能为正常。
在本申请实施例中,通过在获取到表征第二串行总线接口的带宽由初始带宽降低为第一目标带宽的第一报错信息的情况下,确定第二串行总线接口的报错功能为正常,以实现测试服务器主板上的第二串行总线接口的报错功能。
需要说明的是,在执行步骤101至步骤103之后,在没有获取到表征第二串行总线接口的带宽由初始带宽降低为第一目标带宽的第一报错信息的情况下,确定第二串行总线接口的报错功能为异常。
综上所述,在本申请实施例中,通过将测试设备的第一串行总线接口与测试治具的第一接口连接,然后将测试治具的第二接口与第二串行总线接口连接,选取测试治具的所有的开关中的第一开关,并将第一开关的开启状态变更为关闭状态,在获取到表征第二串行总线接口的带宽由初始带宽降低为第一目标带宽的第一报错信息的情况下,确定第二串行总线接口的报错功能为正常,以实现对服务器主板上的串行总线接口的报错功能进行测试,在此过程中,测试人员通过改变开关状态完成测试,不需要使用胶带粘贴并覆盖测试设备的串行总线接口上的相关导电触片,提高了工作效率,解决了在先技术中由于为了对服务器主板上的串行总线接口的报错功能进行测试,需要测试人员使用胶带粘贴并覆盖测试设备的串行总线接口上的相关导电触片,导致工作效率低下的问题。
图6是本申请实施例提供的一种测试方法的具体步骤流程图,应用于前述的测试治具,如图6所示,该方法可以包括:
步骤201、将测试设备的第一串行总线接口与所述测试治具的第一接口连接。
其中,所述测试设备用于测试所述服务器主板上的第二串行总线接口的报错功能。
本步骤的实现方式与上述“步骤101”实现过程类似,此处不再赘述。
步骤202、将所述测试治具的第二接口与所述第二串行总线接口连接。
其中,所述测试设备的开关的初始状态为开启状态。
本步骤的实现方式与上述“步骤102”实现过程类似,此处不再赘述。
需要说明的是,具体地,在一些实施例中,串行总线接口的导电触片说明如下表(表1)所示:
表1
如表1所示,X1(带宽为允许传输一路差分信号)型号的串行总线接口包括导电触片A1至A18、导电触片B1至B18;X4(带宽为允许传输四路差分信号)型号的串行总线接口包括导电触片A1至A32、导电触片B1至B32;X8(带宽为允许传输八路差分信号)型号的串行总线接口包括导电触片A1至A49、导电触片B1至B49;X16(带宽为允许传输十六路差分信号)型号的串行总线接口包括导电触片A1至A82、导电触片B1至B82。
可选地,在一些实施例中,所述初始带宽为允许传输至少八路差分信号,在“步骤202”之后,所述方法还包括如下步骤(步骤205、步骤206):
步骤205、选取所述测试治具的所有的开关中的第二开关,并将所述第二开关的开启状态变更为关闭状态。
在本申请实施例中,通过选取测试治具的所有的开关中的第二开关,并将第二开关的开启状态变更为关闭状态,以断开第二开关所属的导电触片的第一端和第二端。
步骤206、在获取到表征所述第二串行总线接口的带宽由初始带宽降低为第二目标带宽的第二报错信息的情况下,确定所述第二串行总线接口的报错功能为正常。
其中,所述第二目标带宽为允许传输四路差分信号。
在本申请实施例中,通过在获取到表征所述第二串行总线接口的带宽由允许传输至少八路差分信号的初始带宽降低为允许传输四路差分信号的第二目标带宽的第二报错信息的情况下,确定第二串行总线接口的报错功能为正常,以完成测试服务器主板上的第二串行总线接口的报错功能。
通过执行步骤205至步骤206可以实现,将第二开关的开启状态变更为关闭状态,在获取到表征所述第二串行总线接口的带宽由允许传输至少八路差分信号的初始带宽降低为允许传输四路差分信号的第二目标带宽的第二报错信息的情况下,确定第二串行总线接口的报错功能为正常,以测试服务器主板上的第二串行总线接口的报错功能。
具体地,参照表1,在一些实施例中,第二开关包括导电触片A33上的开关、导电触片A34上的开关、导电触片B34上的开关、导电触片B35上的开关,通过将导电触片A33上的开关、导电触片A34上的开关、导电触片B34上的开关、导电触片B35上的开关均由开启状态变更为关闭状态,使得传输第4路差分信号(4信号对)的4号信道断开,此时获取到第二串行总线接口的带宽由初始带宽降低为第二目标带宽X4(带宽为允许传输四路差分信号)的第二报错信息,初始带宽可以为允许传输八路差分信号、允许传输十六路差分信号中的任一种。因此,测试服务器主板上的X8(带宽为允许传输八路差分信号)型号的串行总线接口、测试服务器主板上的X16(带宽为允许传输十六路差分信号)型号的串行总线接口均可以使用此方法测试报错功能。
可选地,在一些实施例中,所述初始带宽为允许传输十六路差分信号,在“步骤202”之后,所述方法还包括如下步骤(步骤207、步骤208):
步骤207、选取所述测试治具的所有的开关中的第三开关,并将所述第三开关的开启状态变更为关闭状态。
在本申请实施例中,通过选取测试治具的所有的开关中的第三开关,并将第三开关的开启状态变更为关闭状态,以断开第三开关所属的导电触片的第一端和第二端。
步骤208、在获取到表征所述第二串行总线接口的带宽由初始带宽降低为第三目标带宽的第三报错信息的情况下,确定所述第二串行总线接口的报错功能为正常。
其中,所述第三目标带宽为允许传输八路差分信号。
在本申请实施例中,通过在获取到表征所述第二串行总线接口的带宽由允许传输十六路差分信号的初始带宽降低为允许传输八路差分信号的第三目标带宽的第三报错信息的情况下,确定第二串行总线接口的报错功能为正常,以完成测试服务器主板上的第二串行总线接口的报错功能。
通过执行步骤207至步骤208可以实现,将第三开关的开启状态变更为关闭状态,在获取到表征所述第二串行总线接口的带宽由允许传输十六路差分信号的初始带宽降低为允许传输八路差分信号的第三目标带宽的第三报错信息的情况下,确定第二串行总线接口的报错功能为正常,以测试服务器主板上的第二串行总线接口的报错功能。
具体地,参照表1,在一些实施例中,第三开关包括导电触片A50上的开关、导电触片A51上的开关、导电触片B52上的开关、导电触片B53上的开关,通过将导电触片A50上的开关、导电触片A51上的开关、导电触片B52上的开关、导电触片B53上的开关均由开启状态变更为关闭状态,使得传输第8路差分信号(8信号对)的8号信道断开,此时获取到第二串行总线接口的带宽由初始带宽降低为第三目标带宽X8(带宽为允许传输八路差分信号)的第三报错信息,初始带宽可以为允许传输十六路差分信号。因此,测试服务器主板上的X16(带宽为允许传输十六路差分信号)型号的串行总线接口可以使用此方法测试报错功能。
步骤203、选取所述测试治具的所有的开关中的第一开关,并将所述第一开关的开启状态变更为关闭状态。
本步骤的实现方式与上述“步骤103”实现过程类似,此处不再赘述。
可选地,在一些实施例中,在“步骤203”之前,所述方法还包括如下步骤(步骤209、步骤210):
步骤209、获取所述测试设备的状态。
在本申请实施例中,通过获取测试设备的状态,有利于判断测试设备的状态是否正常。
步骤210、在所述测试设备的状态为正常的情况下,进入所述选取所述测试治具的所有的开关中的第一开关,并将所述第一开关的开启状态变更为关闭状态的步骤。
在本申请实施例中,通过在测试设备的状态为正常的情况下,进入选取测试治具的所有的开关中的第一开关,并将第一开关的开启状态变更为关闭状态的步骤,有利于提高对服务器主板上的第二串行总线接口的报错功能进行测试的成功率。
通过执行步骤209至步骤210可以实现,获取测试设备的状态,在测试设备的状态为正常的情况下,进入选取测试治具的所有的开关中的第一开关,并将第一开关的开启状态变更为关闭状态的步骤,确保测试设备的状态不干扰对服务器主板上的第二串行总线接口的报错功能的测试,有利于提高对服务器主板上的第二串行总线接口的报错功能进行测试的成功率。
步骤204、在获取到表征所述第二串行总线接口的带宽由初始带宽降低为第一目标带宽的第一报错信息的情况下,确定所述第二串行总线接口的报错功能为正常。
本步骤的实现方式与上述“步骤104”实现过程类似,此处不再赘述。
可选地,在一些实施例中,“步骤204”可以包括如下子步骤(子步骤2041、子步骤2042):
子步骤2041、获取所述服务器的基板管理控制器系统的第一日志文件的内容。
在本申请实施例中,通过获取服务器的基板管理控制器系统的第一日志文件的内容,可以判断第一日志文件的内容中是否包括第一报错信息。
具体地,在一些实施例中,通过测试人员查看在基板管理控制器系统的界面上展示的第一日志文件的内容,来获取服务器的基板管理控制器系统的第一日志文件的内容。
子步骤2042、在所述第一日志文件的内容包括所述第一报错信息的情况下,确定所述第二串行总线接口的报错功能为正常。
在本申请实施例中,通过在第一日志文件的内容包括第一报错信息的情况下,确定第二串行总线接口的报错功能为正常,来完成对服务器主板上的第二串行总线接口的报错功能的测试。
需要说明的是,在执行步骤201、步骤202、步骤203、步骤2041之后,在第一日志文件的内容不包括第一报错信息的情况下,确定第二串行总线接口的报错功能为异常。
通过执行子步骤2041和子步骤2042可以实现,通过获取服务器的基板管理控制器系统的第一日志文件的内容,在第一日志文件的内容包括第一报错信息的情况下,确定第二串行总线接口的报错功能为正常,以获得对服务器主板上的第二串行总线接口的报错功能进行测试的测试结果。
可选地,在一些实施例中,“步骤204”可以包括如下子步骤(子步骤2043、子步骤2044):
子步骤2043、获取所述服务器的操作系统的第二日志文件的内容。
在本申请实施例中,通过获取服务器的操作系统的第二日志文件的内容,可以判断第二日志文件的内容中是否包括第一报错信息。
具体地,在一些实施例中,通过测试人员进入第二日志文件的操作系统目录下,获得第二日志文件,再打开第二日志文件,以获取第二日志文件的内容。
子步骤2044、在所述第二日志文件的内容包括所述第一报错信息的情况下,确定所述第二串行总线接口的报错功能为正常。
在本申请实施例中,通过在第二日志文件的内容包括第一报错信息的情况下,确定第二串行总线接口的报错功能为正常,来完成对服务器主板上的第二串行总线接口的报错功能的测试。
需要说明的是,在执行步骤201、步骤202、步骤203、步骤2043之后,在第二日志文件的内容不包括第一报错信息的情况下,确定第二串行总线接口的报错功能为异常。
通过执行子步骤2043和子步骤2044可以实现,通过获取服务器的操作系统的第二日志文件的内容,在第二日志文件的内容包括第一报错信息的情况下,确定第二串行总线接口的报错功能为正常,以获得对服务器主板上的第二串行总线接口的报错功能进行测试的测试结果。
可选地,在一些实施例中,所述初始带宽为允许传输至少四路差分信号;所述第一目标带宽为允许传输一路差分信号。
在本申请实施例中,通过在获取到表征所述第二串行总线接口的带宽由允许传输至少四路差分信号的初始带宽降低为允许传输一路差分信号的第一目标带宽的第一报错信息的情况下,确定第二串行总线接口的报错功能为正常,以完成测试服务器主板上的第二串行总线接口的报错功能。
具体地,参照表1,在一些实施例中,第一开关包括导电触片A19上的开关、导电触片A20上的开关、导电触片B20上的开关、导电触片B21上的开关,通过将导电触片A19上的开关、导电触片A20上的开关、导电触片B20上的开关、导电触片B21上的开关均由开启状态变更为关闭状态,使得第1路差分信号(1信号对)的1号信道断开,此时获取到第二串行总线接口的带宽由初始带宽降低为第一目标带宽X1(带宽为允许传输一路差分信号)的第一报错信息,初始带宽可以为允许传输四路差分信号、允许传输八路差分信号、允许传输十六路差分信号中的任一种。因此,测试服务器主板上的X4(带宽为允许传输四路差分信号)型号的串行总线接口、测试服务器主板上的X8(带宽为允许传输八路差分信号)型号的串行总线接口、测试服务器主板上的X16(带宽为允许传输十六路差分信号)型号的串行总线接口均可以使用此方法测试报错功能。
在本申请实施例中,通过将测试设备的第一串行总线接口与测试治具的第一接口连接,然后将测试治具的第二接口与第二串行总线接口连接,选取测试治具的所有的开关中的第一开关,并将第一开关的开启状态变更为关闭状态,在获取到表征第二串行总线接口的带宽由初始带宽降低为第一目标带宽的第一报错信息的情况下,确定第二串行总线接口的报错功能为正常,以实现对服务器主板上的串行总线接口的报错功能进行测试,在此过程中,测试人员通过改变开关状态完成测试,不需要使用胶带粘贴并覆盖测试设备的串行总线接口上的相关导电触片,提高了工作效率,解决了在先技术中由于为了对服务器主板上的串行总线接口的报错功能进行测试,需要测试人员使用胶带粘贴并覆盖测试设备的串行总线接口上的相关导电触片,导致工作效率低下的问题。
综上所述,在本申请实施例中,测试治具包括:多个导电触片与多个开关;所有的导电触片的第一端形成第一接口,所有的导电触片的第二端形成第二接口,至少部分数量的导电触片上设置有开关;第一接口用于与测试设备的第一串行总线接口连接,导电触片与第一串行总线接口的导电触片一一对应;第二接口用于与服务器主板上的第二串行总线接口连接,导电触片与第二串行总线接口的导电触片一一对应;开关用于控制开关所属的导电触片的第一端与第二端连通或断开,通过将测试设备的第一串行总线接口与测试治具的第一接口连接,然后将测试治具的第二接口与第二串行总线接口连接,选取测试治具的所有的开关中的第一开关,并将第一开关的开启状态变更为关闭状态,在获取到表征第二串行总线接口的带宽由初始带宽降低为第一目标带宽的第一报错信息的情况下,确定第二串行总线接口的报错功能为正常,以实现对服务器主板上的串行总线接口的报错功能进行测试,在此过程中,测试人员通过改变开关状态完成测试,不需要使用胶带粘贴并覆盖测试设备的串行总线接口上的相关导电触片,提高了工作效率,解决了在先技术中由于为了对服务器主板上的串行总线接口的报错功能进行测试,需要测试人员使用胶带粘贴并覆盖测试设备的串行总线接口上的相关导电触片,导致工作效率低下的问题。
需要说明的是,在本文中,术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含,从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者装置不仅包括那些要素,而且还包括没有明确列出的其他要素,或者是还包括为这种过程、方法、物品或者装置所固有的要素。在没有更多限制的情况下,由语句“包括一个……”限定的要素,并不排除在包括该要素的过程、方法、物品或者装置中还存在另外的相同要素。此外,需要指出的是,本申请实施方式中的方法和装置的范围不限按示出或讨论的顺序来执行功能,还可包括根据所涉及的功能按基本同时的方式或按相反的顺序来执行功能,例如,可以按不同于所描述的次序来执行所描述的方法,并且还可以添加、省去、或组合各种步骤。另外,参照某些示例所描述的特征可在其他示例中被组合。
上面结合附图对本申请的实施例进行了描述,但是本申请并不局限于上述的具体实施方式,上述的具体实施方式仅仅是示意性的,而不是限制性的,本领域的普通技术人员在本申请的启示下,在不脱离本申请宗旨和权利要求所保护的范围情况下,还可做出很多形式,均属于本申请的保护之内。
Claims (13)
1.一种测试治具,其特征在于,所述测试治具包括:多个导电触片与多个开关;所有的所述导电触片的第一端形成第一接口,所有的所述导电触片的第二端形成第二接口,至少部分数量的所述导电触片上设置有所述开关;
所述第一接口用于与测试设备的第一串行总线接口连接,所述导电触片与所述第一串行总线接口的导电触片一一对应;
所述第二接口用于与服务器主板上的第二串行总线接口连接,所述导电触片与所述第二串行总线接口的导电触片一一对应;
所述开关用于控制所述开关所属的导电触片的第一端与第二端连通或断开。
2.根据权利要求1所述的测试治具,其特征在于,
在所述开关为开启状态的情况下,所述开关所属的导电触片的第一端与第二端连通;
在所述开关为关闭状态的情况下,所述开关所属的导电触片的第一端与第二端断开。
3.根据权利要求1所述的测试治具,其特征在于,设置有所述开关的导电触片的类型包括第一发送导电触片、第二发送导电触片、第一接收导电触片、第二接收导电触片;
所述第一发送导电触片用于传输所述第二串行总线接口向所述第一串行总线接口发送的正电压的差分信号;
所述第二发送导电触片用于传输所述第二串行总线接口向所述第一串行总线接口发送的负电压的差分信号;
所述第一接收导电触片用于传输所述第一串行总线接口向所述第二串行总线接口发送的正电压的差分信号;
所述第二接收导电触片用于传输所述第一串行总线接口向所述第二串行总线接口发送的负电压的差分信号。
4.根据权利要求1至3任一项所述的测试治具,其特征在于,所述测试治具的类型包括允许传输四路差分信号、允许传输八路差分信号、允许传输十六路差分信号中的任一种。
5.根据权利要求1至3任一项所述的测试治具,其特征在于,所述第一接口为插槽结构,所述第二接口为插头结构。
6.根据权利要求1至3任一项所述的测试治具,其特征在于,所述开关为拨码开关。
7.一种测试方法,其特征在于,应用于如权利要求1至6任一项所述的测试治具,所述方法包括:
将测试设备的第一串行总线接口与所述测试治具的第一接口连接,所述测试设备用于测试所述服务器主板上的第二串行总线接口的报错功能;
将所述测试治具的第二接口与所述第二串行总线接口连接;所述测试设备的开关的初始状态为开启状态;
选取所述测试治具的所有的开关中的第一开关,并将所述第一开关的开启状态变更为关闭状态;
在获取到表征所述第二串行总线接口的带宽由初始带宽降低为第一目标带宽的第一报错信息的情况下,确定所述第二串行总线接口的报错功能为正常。
8.根据权利要求7所述的方法,其特征在于,所述初始带宽为允许传输至少四路差分信号;所述第一目标带宽为允许传输一路差分信号。
9.根据权利要求8所述的方法,其特征在于,所述初始带宽为允许传输至少八路差分信号,在所述将所述测试治具的第二接口与所述第二串行总线接口连接之后,所述方法还包括:
选取所述测试治具的所有的开关中的第二开关,并将所述第二开关的开启状态变更为关闭状态;
在获取到表征所述第二串行总线接口的带宽由初始带宽降低为第二目标带宽的第二报错信息的情况下,确定所述第二串行总线接口的报错功能为正常;所述第二目标带宽为允许传输四路差分信号。
10.根据权利要求8所述的方法,其特征在于,所述初始带宽为允许传输十六路差分信号,在所述将所述测试治具的第二接口与所述第二串行总线接口连接之后,所述方法还包括:
选取所述测试治具的所有的开关中的第三开关,并将所述第三开关的开启状态变更为关闭状态;
在获取到表征所述第二串行总线接口的带宽由初始带宽降低为第三目标带宽的第三报错信息的情况下,确定所述第二串行总线接口的报错功能为正常;所述第三目标带宽为允许传输八路差分信号。
11.根据权利要求7所述的方法,其特征在于,在所述选取所述测试治具的所有的开关中的第一开关,并将所述第一开关的开启状态变更为关闭状态之前,所述方法还包括:
获取所述测试设备的状态;
在所述测试设备的状态为正常的情况下,进入所述选取所述测试治具的所有的开关中的第一开关,并将所述第一开关的开启状态变更为关闭状态的步骤。
12.根据权利要求7所述的方法,其特征在于,所述在获取到表征所述第二串行总线接口的带宽由初始带宽降低为第一目标带宽的第一报错信息的情况下,确定所述第二串行总线接口的报错功能为正常,包括:
获取所述服务器的基板管理控制器系统的第一日志文件的内容;
在所述第一日志文件的内容包括所述第一报错信息的情况下,确定所述第二串行总线接口的报错功能为正常。
13.根据权利要求7所述的方法,其特征在于,所述在获取到表征所述第二串行总线接口的带宽由初始带宽降低为第一目标带宽的第一报错信息的情况下,确定所述第二串行总线接口的报错功能为正常,包括:
获取所述服务器的操作系统的第二日志文件的内容;
在所述第二日志文件的内容包括所述第一报错信息的情况下,确定所述第二串行总线接口的报错功能为正常。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN202310323166.6A CN116340079A (zh) | 2023-03-29 | 2023-03-29 | 一种测试治具及测试方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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CN202310323166.6A CN116340079A (zh) | 2023-03-29 | 2023-03-29 | 一种测试治具及测试方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
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CN116340079A true CN116340079A (zh) | 2023-06-27 |
Family
ID=86892708
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
CN202310323166.6A Pending CN116340079A (zh) | 2023-03-29 | 2023-03-29 | 一种测试治具及测试方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
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CN (1) | CN116340079A (zh) |
-
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