CN211123046U - 多天线模拟耦合测试装置 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开一种多天线模拟耦合测试装置，包括手机主板、通道单元、至少一个衰减器及测试终端；所述手机主板上设有一个主天线测试座及至少一个辅天线测试座，所述主天线测试座经所述通道单元与所述测试终端电连接以模拟测试相应的主天线，每个辅天线测试座经一个衰减器及所述通道单元与所述测试终端电连接以模拟测试相应的辅天线。本实用新型的有益效果在于：通过第一测试通道与至少一个第二测试通道来模拟手机上多个天线共同工作下的耦合场景，使得手机无需在整机状态便可以实现对天线进行模拟测试，有效的缩短了测试周期。

Description

多天线模拟耦合测试装置

【技术领域】

本实用新型涉及天线测试技术领域，尤其涉及一种多天线模拟耦合测试装置。

【背景技术】

随着通讯技术的发展，尤其最近4G+和5G的技术成熟和应用，手机的数据传输速率也越来越高，为了满足数据传输的要求，目前手机上的通讯收发天线数量也由一个增加至两个或者两个以上，因此手机采用多天线收发方案以成为发展趋势。然而，在手机设置多个天线，使得天线的耦合工作场景更为复杂，为了保证手机能够正常的工作，手机在开发阶段必须对手机上的天线进行测试，以检验天线是否达到要求或者是否有其他异常。在现有技术中，手机在进行天线测试时，通常需要在天线暗室或者耦合箱体中进行，测试设备对环境要求较高，并且手机必须在整机状态下进行测试，使得测试时间较长。

鉴于此，实有必要提供一种多天线模拟耦合测试装置以克服上述缺陷。

【实用新型内容】

本实用新型的目的是提供一种多天线模拟耦合测试装置，旨在通过手机主板来模拟天线耦合来测试手机的天线，从而手机无需在整机状态下进行天线的模拟测试，有效减低手机用于天线测试的成本。

为了实现上述目的，本实用新型提供一种多天线模拟耦合测试装置，包括手机主板、通道单元、至少一个衰减器及测试终端；所述手机主板上设有一个主天线测试座及至少一个辅天线测试座，所述通道单元设有至少一个用来连接所述主天线测试座与所述衰减器的输入端及至少一个用来连接所述测试终端的输出端，其中一个输入端与所述主天线测试座电连接，其他的输入端分别经一个衰减器与一个辅天线测试座电连接，其中，所述辅天线测试座与所述衰减器的数量相同。

在一个优选实施方式中，每个衰减器的衰减值根据与该衰减器连接的辅天线测试座对应的辅天线的耦合效率设置。

在一个优选实施方式中，所述通道单元为功分器，通过所述主天线测试座、辅天线测试座、所述衰减器及所述功分器模拟主天线与至少一个辅天线耦合。

在一个优选实施方式中，所述通道单元为多刀多掷开关，通过所述主天线测试座、辅天线测试座、所述衰减器及所述多刀多掷开关模拟主天线与至少一个辅天线耦合。

在一个优选实施方式中，还包括与所述多刀多掷开关电连接的工控机，所述工控机用于根据所述主天线及至少一个所述辅天线的工作开始时间及时长控制所述多刀多掷开关不同通路的断开与连接。

在一个优选实施方式中，所述手机主板设有与所述主天线测试座相连的第一馈电点及至少一个与所述辅天线测试座一一相连的第二馈电点。

在一个优选实施方式中，还包括给所述手机主板供电的电源模块。

本实用新型提供的多天线模拟耦合测试装置通通道单元20及衰减器30来模拟手机200多天线同时工作下的耦合场景，使得手机无需在整机状态便可以实现对天线进行模拟测试，有效的缩短了测试周期。

为使实用新型的上述目的、特征和优点能更明显易懂，下文特举本实用新型较佳实施例，并配合所附附图，作详细说明如下。

【附图说明】

为了更清楚地说明本实用新型实施例的技术方案，下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍，应当理解，以下附图仅示出了本实用新型的某些实施例，因此不应被看作是对范围的限定，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他相关的附图。

图1为本实用新型提供的多天线模拟耦合测试装置的连接示意图。

图2为图1所示多天线模拟耦合测试装置所测试的手机的正视图。

【具体实施方式】

为了使本实用新型的目的、技术方案和有益技术效果更加清晰明白，以下结合附图和具体实施方式，对本实用新型进行进一步详细说明。应当理解的是，本说明书中描述的具体实施方式仅仅是为了解释本实用新型，并不是为了限定本实用新型。

请参阅图1及图2，本实用新型提供一种多天线模拟耦合测试装置 100，主要用于解决手机200需在整机状态下进行天线测试的问题。在本实施方式中，手机200上设有一个主天线2001与至少一个辅天线2002。

在本实用新型的实施例中，多天线模拟耦合测试装置100包括手机主板10、通道单元20、至少一个衰减器30及测试终端40，手机主板 10上设有主天线测试座101及至少一个辅天线测试座102，通道单元20 设有至少一个用于连接主天线测试座101与衰减器30的输入端201及至少一个用来连接测试终端40的输出端202，其中一个输出端202与主天线测试座101电连接以模拟主天线2001的信号输出，其他的输出端 202分别经一个衰减器30与一个辅天线测试座102电连接以通过信号衰减的方式来模拟一个辅天线2002的信号输出，如此每个输出端202可以将两个或者两个以上输入端201的信号输出合为一路后传给测试终端 40，如此手机200无需在整机状态便可以实现多天线的耦合测试，不仅有效的缩短了手机200的测试周期，同时也无需布置天线暗室或者耦合箱体，可以有效降低测试设备的采购成本。在一个具体实施方式中，测试终端40可以为手机综测仪。

在此需说明的是，每个衰减器30的衰减值根据与该衰减器连接的辅天线测试座102对应的辅天线2002的耦合效率设置。具体地，手机 200上的每个辅天线2002的耦合效率均不相同且低于主天线2001的耦合效率，为此每个衰减器30的衰减值也均不相同以能模拟每个辅天线 2002与主天线2001的耦合工作场景，同时每个衰减器30的规格与对应辅天线2002和主天线2001的耦合效率差值对应，例如手机200上设有一个主天线2001及一个辅天线2002，辅天线2002的耦合效率比主天线 2001的耦合效率低3db，如此手机主板10上设有主天线测试座101及一个辅天线测试座102并形成一个第一测试通道与一个第二测试通道，且第二测试通道上的衰减器30为3db衰减器30。在本实施方式中，为了方便调节衰减器30的衰减值，每个衰减器30均为可调式衰减器，如此可以根据实际的测试要求来调整天线的耦合环境，使得测试更为方便。

在本实施方式中，手机主板10设有用来连接对应主天线2001的并与主天线测试座101相连的第一馈电点及至少一个用来连接对应对应辅天线2002的并与对应辅天线测试座102一一相连的第二馈电点，如此机主板10无需进行任何更改便可直接用来进行测试，方便在生产流水线上操作使用，提高了测试效率，也提高了手机200的生产效率，进而降低了生产成本。此外，需说明的是，手机主板10、通道单元20、衰减器30及测试终端40之间均是通过传导线进行连接，以杜绝外界的干扰。

进一步的，在一个实施例中，通道单元20可以为功分器，功分器设置有一个输出端202，此时，多天线模拟耦合测试装置100通过至少一个衰减器300及功分器来模拟测试主天线2001与所有辅天线2002共同工作下的耦合场景。通道单元20也可以为多刀多掷开关，多刀多掷开关设置有至少两个输出端202，且每个输出端202与两个或者两个以上的输入端201相连，如此，通道单元20可以模拟任意两个天线共同工作下的耦合场景，亦即，耦合场景可以根据需要进行相应的调整，使得测试结果更加接近真实的使用场景，从可以提高测试的准确性。

优选的，天线模拟耦合测试装置100还包括与多刀多掷开关电连接的工控机，工控机可以根据主天线及至少一个辅天线的工作开始时间及时长控制多刀多掷开关不同通路的断开与连接。具体地，在手机工作过程中，实现不同的功能或使用不同的软件对于天线的使用场景要求不同，不同场景下，主天线和各个辅天线开始工作的时间以及需要进行工作的时长均不相同，工控机根据手机当前使用功能对天线的要求控制多刀多掷开关不同通路的断开与连接，实现模拟测试多个功能或场景下天线的耦合情况。使用多刀多掷开关能够实现对手机的不同使用场景或功能下天线耦合情况的测试，可以有效提高测试效率。

进一步的，在一个实施例中，多天线模拟耦合测试装置100还包括给手机主板10供电的电源模块(图未示)，电源模块可以为锂电池，也可以为与供电线路相连的电源转换接头。

综上所述，本实用新型的实施例通过通道单元20及衰减器30来模拟手机200多天线同时工作下的耦合场景，使得使得手机200无需在整机状态便可以实现对天线进行模拟测试，有效的缩短了测试周期，同时结构比较简单，无需布置天线暗室或者耦合箱体，可以有效降低测试成本，从而有效缩短手机的研发周期及生产周期，进而降低了手机的生产成本。

本实用新型并不仅仅限于说明书和实施方式中所描述，因此对于熟悉领域的人员而言可容易地实现另外的优点和修改，故在不背离权利要求及等同范围所限定的一般概念的精神和范围的情况下，本实用新型并不限于特定的细节、代表性的设备和这里示出与描述的图示示例。

Claims (7)

1.一种多天线模拟耦合测试装置，其特征在于，包括手机主板、通道单元、至少一个衰减器及测试终端；所述手机主板上设有主天线测试座及至少一个辅天线测试座，所述通道单元设有至少一个用于连接所述主天线测试座与所述衰减器的输入端及至少一个用来连接所述测试终端的输出端，其中一个输入端与所述主天线测试座电连接，其他的输入端分别经一个衰减器与一个辅天线测试座电连接，其中，所述辅天线测试座与所述衰减器的数量相同。

2.根据权利要求1所述的多天线模拟耦合测试装置，其特征在于，每个衰减器的衰减值根据与该衰减器连接的所述辅天线测试座对应的辅天线的耦合效率设置。

3.根据权利要求1所述的多天线模拟耦合测试装置，其特征在于，所述通道单元为功分器，通过所述主天线测试座、辅天线测试座、所述衰减器及所述功分器模拟主天线与至少一个辅天线耦合。

4.根据权利要求1所述的多天线模拟耦合测试装置，其特征在于，所述通道单元为多刀多掷开关，通过所述主天线测试座、辅天线测试座、所述衰减器及所述多刀多掷开关模拟主天线与至少一个辅天线耦合。

5.根据权利要求4所述的多天线模拟耦合测试装置，其特征在于，还包括与所述多刀多掷开关电连接的工控机，所述工控机用于根据所述主天线及至少一个所述辅天线的工作开始时间及时长控制所述多刀多掷开关不同通路的断开与连接。

6.根据权利要求1所述的多天线模拟耦合测试装置，其特征在于，所述手机主板设有与所述主天线测试座相连的第一馈电点及至少一个与所述辅天线测试座一一相连的第二馈电点。

7.根据权利要求1所述的多天线模拟耦合测试装置，其特征在于，还包括给所述手机主板供电的电源模块。

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