TWI771807B - 光學檢測設備的機櫃結構 - Google Patents

Abstract

本發明主要揭示一種光學檢測設備的機櫃結構，其基礎結構包括：一下機櫃、一上機櫃、一主機設置機櫃、一桌面板、一進料機構、一篩檢平台、多個光學模組支撐機構、以及至少二出料機構。本發明之光學檢測設備的機櫃結構改善了習知技術的諸多缺陷，例如，將主機裝置安裝在該主機設置機櫃之中，則即使測試物覆有油性物質，也不用擔心油性物質、灰塵、碎屑等會落置所述主機裝置。再者，該下機櫃設有用以容設一氣閥單元的一凹入結構，可以有效防止該氣閥單元被裝料的船型桶撞擊損壞。進一步地，本發明將各個出料機構的料品傳送通道採直線式設計，同時將各個料品傳送通道的收料口鄰靠該篩檢平台的透明盤面，藉此方式有效防止各個出料機構於執行排料作業時發生卡料的狀況。

Description

光學檢測設備的機櫃結構

本發明為光學檢測設備之技術領域，尤指應用於光學檢測設備的一種機櫃結構，用以容置光學檢測設備之主機裝置、進料模組、篩檢平台、複數個光學檢測模組、以及出料模組。

機械視覺(Machine vision)為一種計算機視覺(Computer vision)，而光學檢測設備為機械視覺應用在工業生產製造的具體化實現，且已經廣泛地應用於檢測各種零件，其可檢測項目包括：顏色、尺寸大小、外形精確度、外觀瑕疵、表面瑕疵、異物灰塵等。進一步地，依據至少一檢測項目之檢測結果，現有的自動光學檢測設備還可以進行零件分類。

第1圖顯示習知的一種光學檢測設備的立體圖。習知的光學檢測設備1a包括一下機櫃1La、一上機櫃1Ua、介於該下機櫃1La與該上機櫃1Ua之間的一桌面板10a、一進料機構11a、一篩檢平台12a、複數個光學檢測模組(未圖示)、一第一出料機構13a、一第二出料機構14a、一主機裝置(未圖示)、以及包含一氣閥單元15a和至少二 高壓噴氣單元(未圖示)的一氣壓模組。並且，第2圖顯示下機櫃1La和桌面板10a的立體圖。如第1圖與第2圖所示，就目前市售的光學檢測設備1a的機櫃結構設計而言，主機裝置通常放置在下機櫃1La之中，且該篩檢平台12a和該複數個光學檢測模組皆容置於該上機櫃1Ua內部，並設置在該桌面板10a之上。另一方面，上機櫃1Ua內部設有二個高壓噴氣單元，其中一個鄰近該第一出料機構13a的收料口，另外一個則鄰近該第二出料機構14a的收料口。

正常工作時，先將測試物(例如：螺絲)倒入一整料設備2a之中，在經過一整料處理後，由該整料設備2a經由該進料機構11a而運送至該篩檢平台12a的一透明盤面之上。接著，在使該透明盤面定速轉動的情況下，利用複數個光學檢測模組完成每一個測試物的一光學檢測程序。在完成光學檢測程序之後，各個測試物經由該第一出料機構13a或該第二出料機構14a被送出該上機櫃1Ua之外，最終送入一對應料品集收單元，如良品集收單元和不良品集收單元。

習知的光學檢測設備1a雖然可以用於完成對於各種零件之尺寸大小、外形精確度、外觀瑕疵、表面瑕疵、異物灰塵等光學檢測項目，然而，該光學檢測設備1a在實際使用上仍顯示出以下多個缺點。

第一，放置在下機櫃1La內部的主機裝置容易堆積粉塵及髒污。再者，如第1圖與第2圖所示，若測試物覆有油性物質時(如螺絲覆有防鏽油與油污)，在該測試物執行光學檢測的過程中，油性 物質會滴落該桌面板10a，而後經由該桌面板10a上的鑽孔或縫隙滴在主機裝置之上，長久下來會導致主機裝置故障。

第二，該上機櫃1Ua具有多個門片1U1a，且每兩個門片1U1a設置在該上機櫃1Ua的同一側。在現有的光學檢測設備1a的設計中，如第1圖所示，所述兩個門片1U1a之中的左門片通常包含一深色壓克力板，無特殊用途，也沒有視窗功能。

第三，如第1圖所示，所述氣壓模組的氣閥單元15a設於該下機櫃1La的一外壁面，以便利於連接一高壓氣體供應裝置，如高壓氣體幫浦。實務經驗指出，此氣閥單元15a容易被裝料的船型桶撞擊而損壞。

第四，如第1圖所示，在現有的光學檢測設備1a的設計中，穩壓裝置通常容置在下機櫃1La內部，且不包含任何露出於下機櫃1La外部的操作面板或顯示面板。故此，操作人員必須打開該下機櫃1La才能夠對穩壓裝置進行參數設定或開關控制。

第五，在現有的光學檢測設備1a的設計中，該第一出料機構13a和該第二出料機構14a皆包括至少一排料管，且該排料管通常採彎道設計。故而，實務經驗指出，在運送已完成光學檢測的測試物的過程中，採彎道設計的排料管容易發生卡料狀況，且操作人員及/或工程人員實難以立即拆解該第一出料機構13a或該第二出料機構14a從而排除所述卡料狀況。

第六，如第1圖與第2圖所示，在現有的光學檢測設備1a的設計中，上機櫃1Ua的牆面或門片1U1a都高於桌面板10a。因此， 若測試物掉落在該桌面板10a之上，操作人員及/或工程人員實必須用手去撿出或是用磁鐵去吸出所述測試物。可想而知，這樣的設計造成操作人員及/或工程人員不利於清潔掉落在該桌面板10a之上的測試物。

第八，在現有的光學檢測設備1a的設計中，良品分料口及不良品分料口皆在篩檢平台12a的透明盤面下方處承接(料品)。因此，在一特殊情況下(例如吹氣尾氣或倒料)容易在使測試物被高壓噴氣單元送入錯誤的分料口，造成混料。

第九，在現有的光學檢測設備1a的設計中，所述篩檢平台12a的玻璃透明盤面是需要經常更換的。值得說明的是，由於各個光學檢測模組的支撐機構、該第一出料機構13a及該第二出料機構12a皆採固定連接式設計，因此，在更換玻璃透明盤面的過程中，前述之多個機構便成為更換玻璃透明盤面時的障礙。在此情況下，為了順利完成玻璃透明盤面的更換作業，工程人員多半會選擇拆除部分的支撐機構及/或出料機構。

由前述說明可知，習知的光學檢測設備1a在櫃體結構的設計方面仍顯示出許多有待改善之處。有鑑於此，本案之發明人係極力加以研究發明，而終於研發完成本發明之一種光學檢測設備的機櫃結構。

本發明之主要目的在於提供一種光學檢測設備的機櫃結構，其基礎結構包括：一下機櫃、一上機櫃、一主機設置機櫃、一桌面板、一進料機構、一篩檢平台、多個光學模組支撐機構、以及至少二出料機構。本發明之光學檢測設備的機櫃結構改善了習知技術的諸多缺陷，例如，將主機裝置安裝在該主機設置機櫃之中，則即使測試物覆有油性物質，也不用擔心油性物質、灰塵、碎屑等會落至所述主機裝置。再者，至少有一個光學模組支撐機構具有可收折結構之特徵，且進一步地，本發明將各個出料機構的料品傳送通道採直線式設計，同時將各個料品傳送通道的收料口鄰靠該篩檢平台的透明盤面，藉此方式有效防止各個出料機構於執行排料作業時發生卡料的狀況。

為達成上述目的，本發明提出所述光學檢測設備的機櫃結構之一實施例，其包括：一下機櫃；一上機櫃，疊置於該下機櫃之上；一主機設置機櫃，疊置於該上機櫃之上，且該主機設置機櫃之一第一側開設有一容置槽用以容置至少一主機裝置；一桌面板，介於該下機櫃與該上機櫃之間，且該桌面板之一機構安裝面顯露於該上機櫃內部；一進料機構，鄰設於該上機櫃之一第一側，用以透過開設於該上機櫃的該第一側的一進料窗口將已完成整列處理的複數個測試物依序地輸入該上機櫃之中；一篩檢平台，容置於該上機櫃之中，且設置在該桌面板的該機構安裝面之上； 複數個光學模組支撐機構，容置於該上機櫃之中，且設置在該桌面板的該機構安裝面之上，用於個別連接至少一光學檢測模組；一第一出料機構，設置於該上機櫃內，且包括鄰靠該篩檢平台之一透明盤面的至少一收料口、一直線式傳送通道以及延伸露出於該上機櫃之外的出料口；以及一第二出料機構，設置於該上機櫃內，且包括鄰靠所述透明盤面的一收料口、一直線式傳送通道以及延伸露出於該上機櫃之外的一出料口；其中，至少一個所述光學模組支撐機構具有一可收折結構。

於前述本發明之光學檢測設備的機櫃結構的實施例中，該上機櫃之一第二側設有二個門片，且二個所述門片之其一係由一金屬板件加工製成，從而具有可吸附磁鐵性質。

於前述本發明之光學檢測設備的機櫃結構的實施例中，該上機櫃之一第二側設有二個門片，且二個所述門片上其中之一更進一步具有一夾具，進而方便於所述門片上夾附物件。

於前述本發明之光學檢測設備的機櫃結構的實施例中，該下機櫃具有用以容置一穩壓裝置的一容置空間，且該下機櫃的一第二側具有一門片與一操作面板，該操作面板上具有耦接該穩壓裝置的至少一顯示單元以及複數個電性單元。

在一可行實施例中，本發明之光學檢測設備的機櫃結構可進一步包括一第三出料機構，其具有：一第一段傳送通道，設置於該上機櫃內，且包括鄰靠所述透明盤面的一收料口； 一第二段傳送通道，設置於該下機櫃內，且透過該桌面板連接該第一段傳送通道；以及一第三段傳送通道，設置於該下機櫃內，且以其一端連接該第二段傳送通道；其中，該第三段傳送通道之另一端延伸露出於該下機櫃之外，且具有一出料口。

於前述本發明之光學檢測設備的機櫃結構的實施例中，該第一出料機構、該第二出料機構與該第三出料機構皆具有一排料檢視單元，且該排料檢視單元包括一檢視窗孔以及覆蓋該檢視窗孔的一可掀式透明蓋。

於前述本發明之光學檢測設備的機櫃結構的實施例中，該上機櫃之一第三側設有一第一門片與一第二門片，該第一門片的長度大於該第二門片的長度，且該第三側還設有一矮檔牆，該矮檔牆在該第二門片處於一關門狀態時位於該第二門片下方處。

於前述本發明之光學檢測設備的機櫃結構的實施例中，該桌面板開設有至少一排料口，且至少一料品收集裝置容置於該下機櫃之中，用以對應於該至少一排料口，從而收集自所述排料口掉落的所述測試物。

於前述本發明之光學檢測設備的機櫃結構的實施例中，該第一出料機構、該第二出料機構與該第三出料機構之中的至少一個具有一可彎折結構。

<本發明>

1:光學檢測設備

1L:下機櫃

1L1:凹入結構

1LA:容置空間

1LS1:第一側

1LS2:第二側

1LSd:門片

1LSf:操作面板

1U:上機櫃

1UW:進料窗口

1US1:第一側

1US2:第二側

1US3:第三側

1US4:第四側

1USd:門片

1Ud1:第一門片

1Ud2:第二門片

1Ud3:矮檔牆

1H:主機設置機櫃

1HA:容置槽

1HS1:第一側

10:桌面板

101:排料口

11:進料機構

12:篩檢平台

13:第一出料機構

131:收料口

132:直線式傳送通道

133:出料口

14:第二出料機構

141:收料口

142:直線式傳送通道

143:出料口

14S:可彎折啟/閉結構

151:氣閥單元

152:高壓噴氣單元

16:第三出料機構

161:收料口

162:第一段傳送通道

163:第二段傳送通道

164:第三段傳送通道

165:出料口

1VW:排料檢視單元

17:料品收集裝置

1S:光學模組支撐機構

1S1:可收折結構

2:主機裝置

<習知>

1a:光學檢測設備

1La:下機櫃

1Ua:上機櫃

1U1a:門片

10a:桌面板

11a:進料機構

12a:篩檢平台

13a:第一出料機構

14a:第二出料機構

15a:氣閥單元

2a:整料設備

第1圖顯示習知的一種光學檢測設備的立體圖；第2圖顯示習知的光學檢測設之一下機櫃和一桌面板的立體圖；第3圖顯示本發明之一種光學檢測設備的立體圖；第4圖顯示本發明之光學檢測設備的一上機櫃的第一立體圖；第5圖顯示本發明之光學檢測設備的一上機櫃的第二立體圖；第6圖顯示本發明之光學檢測設備的一上機櫃的第三立體圖；第7圖顯示本發明之光學檢測設備的一下機櫃的第一立體圖；第8圖顯示本發明之光學檢測設備的一下機櫃的第二立體圖；第9圖顯示本發明之光學檢測設備的一下機櫃的第三立體圖；第10圖顯示下機櫃的上視圖；第11圖顯示本發明之光學檢測設備的一組光學模組支撐機構的收折操作圖；以及第12圖顯示本發明之光學檢測設備的一第二出料機構的彎折操作圖。

為了能夠更清楚地描述本發明所提出之一種光學檢測設備的機櫃結構，以下將配合圖式，詳盡說明本發明之較佳實施例。

第3圖顯示本發明之一種光學檢測設備的立體圖。如第3圖所示，本發明之光學檢測設備1包含一下機櫃1L、一上機櫃1U以及一主機設置機櫃1H。請同時參閱第4圖、第5圖與第6圖，分別顯示上機櫃1U的第一、第二和第三立體圖。依據本發明之設計，該上機櫃1U疊置於該下機櫃1L之上，且該主機設置機櫃1H疊置於該上機櫃1U之上。值得注意的是，該主機設置機櫃1H之一第一側1HS1開設有一 容置槽1HA用以容置至少一主機裝置2。值得說明的是，由於該主機設置機櫃1H是疊置於該上機櫃1U上方處，因此即使測試物覆有油性物質時(如螺絲覆有防鏽油與油污)，在該測試物執行光學檢測的過程中也不用擔心油性物質、灰塵、碎屑等會落至所述主機裝置2。可想而知，本發明這樣的設計可以大幅延長主機裝置2的使用壽命。

更詳細地說明，於本發明之光學檢測設備1的結構中，一桌面板10介於該下機櫃1L與該上機櫃1U之間，且該桌面板10之一機構安裝面顯露於該上機櫃1U內部。並且，如第3圖、第4圖與第5圖所示，一進料機構11鄰設於該上機櫃1U之一第一側1US1，用以透過開設於該上機櫃1U的該第一側1US1的一進料窗口1UW將已完成整列處理的複數個測試物依序地輸入該上機櫃1U之中。再者，一篩檢平台12容置於該上機櫃1U之中，且設置在該桌面板10的該機構安裝面之上。另一方面，複數個光學模組支撐機構1S容置於該上機櫃1U之中，且設置在該桌面板10的該機構安裝面之上，用於個別連接至少一光學檢測模組。特別說明的是，依據測試物種類的不同，安裝在上機櫃1U之中的光學模組支撐機構1S之數量也會有所不同，故此，第5圖僅是示範性地顯示出數組光學模組支撐機構1S。

請同時參閱第7圖、第8圖與第9圖，其分別顯示下機櫃1L的第一、第二和第三立體圖。並且，請再同時參閱第10圖，其顯示下機櫃1L的上視圖。依據本發明之設計，一第一出料機構13設置於該上機櫃1U內，且其包括鄰靠該篩檢平台12之一透明盤面121的至少一收料口131(圖中顯示兩個)、一直線式傳送通道132以及延伸露出 於該上機櫃1U之外的一出料口133。另一方面，該第二出料機構14設置於該上機櫃1U內，且包括鄰靠所述透明盤面121的一收料口141、一直線式傳送通道142以及延伸露出於該上機櫃1U之外的一出料口143。在可行的實施例中，本發明之光學檢測設備的機櫃結構1可進一步包括：一第三出料機構16。如第6圖與第9圖所示，該第一段傳送通道162設置於該上機櫃1U內，且包括鄰靠所述透明盤面121的一收料口161。並且，該第二段傳送通道163設置於該下機櫃1L內，且透過該桌面板10連接該第一段傳送通道162。另一方面，該第三段傳送通道164設置於該下機櫃1L內，且以其一端連接該第二段傳送通道163；其中，該第三段傳送通道164之另一端延伸露出於該下機櫃1L之外，且具有一出料口165。

依據本發明之設計，各個出料機構(13,14,16)的料品傳送通道(132,142,162,163,164)係採直線式設計，同時將各個料品傳送通道的收料口鄰靠該篩檢平台12的該透明盤面121，藉此設計有效防止各個出料機構(13,14,16)於執行排料作業時發生卡料的狀況。補充說明的是，該第一出料機構13、該第二出料機構14與該第三出料機構16皆具有一排料檢視單元(13V,14V,16V)，且各所述排料檢視單元(13V,14V,16V)包括一檢視窗孔以及覆蓋該檢視窗孔的一可掀式透明蓋。應可理解，工程人員或操作人員可掀開該可掀式透明蓋，之後透過開設在傳送通道(132,142,165)的檢視窗孔檢查通道中是否卡料。若通道內發生卡料，亦可透過檢視窗孔排除卡料。

請再次參閱第1圖、第7圖和第8圖，依據本發明之設計，該下機櫃1L之一第一側1LS1設有一凹入結構1L1，使一氣壓模組的一氣閥單元151設置於該凹入結構1L1之中，且透過至少一管線而連接設置再該上機櫃1U之中的複數個高壓噴氣單元152。應可理解，每個出料機構(13,14,16)的收料口(131,141,161)處各設有一個所述高壓噴氣單元152，用以藉由噴出高壓氣體的方式，將透明盤面121上的測試物吹進對應的收料口(131,141,161)，從而經由對應的傳送通道(132,142,162)而被傳送至對應的料品集收區。

補充說明的是，如第3圖與第4圖所示，該上機櫃1U之一第二側1US2設有二個門片1USd，且二個所述門片1USd之其一係由一金屬板件加工製成，從而具有可吸附磁鐵性質。換句話說，本發明將光學檢測設備的操作側(即，上機櫃1U的第二側1US2)的左門片1USd做成金屬門面，可以吸附磁鐵，如此可以利用磁鐵將文件、單據等物件夾附在上機櫃1U的門片1USd上，增加利用性。此外，亦可於二個所述門片1USd其中之一的外側門表面設置有一夾具(未圖式)，進而方便於所述門片上夾附文件、單據等物件，增加利用性。

另一方面，如第7圖、第8圖與第9圖所示，該下機櫃1L具有用以容置一穩壓裝置的一容置空間1LA，且該下機櫃1L的一第二側1LS2具有一門片1LSd與一操作面板1LSf，該操作面板1LSf上具有耦接該穩壓裝置的至少一顯示單元以及複數個電性單元。換句話說，本發明將電源穩壓裝置改置放在機台下方空間(即，下機櫃1L的容置空間1LA)之中，並外顯出控制開關(即，電性單元)、電流表和電壓表 (即，顯示單元)，以方便操作人員控制該電源穩壓裝置以及監控該電源穩壓裝置的電流、電壓狀態。

更進一步地說明，如第6圖所示，該上機櫃1U之一第三側1US3設有一第一門片1Ud1與一第二門片1Ud2，該第一門片1Ud1的長度大於該第二門片1Ud2的長度，且該第三側1US3還設有一矮檔牆1Ud3，該矮檔牆1Ud3在該第一門片1Ud1處於一關門狀態時位於該第一門片1Ud1下方處。在有矮檔牆1Ud3的設計下，若桌面板10上掉落有測試物，則操作人員在上機櫃1U的所有門片打開的情況下，僅須用風槍直接將測試物往沒有矮牆設計的該上機櫃1U之側(如第一側1US1)吹去，即可清理掉所有掉落在桌面板10上的該些測試物。補充說明的是，在可行的實施例中，如第6圖所示，也可以讓該上機櫃1U之一第四側1US4同時具有矮檔牆1Ud3之設計。

進一步地，為了便利操作人員清除掉落在桌面板10上的該些測試物，如第6圖與第9圖所示，本發明在該桌面板10開設有至少一排料口101，且至少一料品收集裝置17容置於該下機櫃1L之中，用以對應於該至少一排料口101，從而收集自所述排料口101掉落的所述測試物。另一方面，由於篩檢平台12的玻璃透明盤面121是需要經常更換的，因此本發明特別設計令該複數個光學模組支撐機構1S係至少一個具有一可收折結構，且同時設計令該第一出料機構13、該第二出料機構14與該第三出料機構16之中的至少一個具有一可彎折結構。第11圖顯示一組光學模組支撐機構1S的收折操作圖。如第11圖所示，所述光學模組支撐機構1S具有一可收折結構1S1；在該可收折 結構1S1的輔助下，可以將光學模組支撐機構1S的一段向上收折，從而縮短所述光學模組支撐機構1S的整體長度，以利於人員進行篩檢平台12的玻璃透明盤面121之更換作業。另一方面，第12圖顯示第二出料機構14的彎折操作圖。如第8圖與第12圖所示，在一實施例中，本發明設計令第二出料機構14之所述直線式傳送通道142具有一可彎折啟/閉結構14S；在該可彎折啟/閉結構14S的輔助下，可以將第二出料機構14的直線式傳送通道142的一段向上彎折，以利於人員進行篩檢平台12的玻璃透明盤面121之更換作業。

如此，上述係已完整且清楚地說明本發明所揭示的一種光學檢測設備的機櫃結構。必須加以強調的是，上述之詳細說明係針對本發明可行實施例之具體說明，惟該實施例並非用以限制本發明之專利範圍，凡未脫離本發明技藝精神所為之等效實施或變更，均應包含於本案之專利範圍中。

1:光學檢測設備

1L:下機櫃

1L1:凹入結構

1LS1:第一側

1U:上機櫃

1UW:進料窗口

1US1:第一側

1US2:第二側

1H:主機設置機櫃

1HA:容置槽

1HS1:第一側

10:桌面板

11:進料機構

13:第一出料機構

151:氣閥單元

2:主機裝置

Claims (9)

1. 一種光學檢測設備的機櫃結構，包括：一下機櫃；一上機櫃，疊置於該下機櫃之上；一主機設置機櫃，疊置於該上機櫃之上，且該主機設置機櫃之一第一側開設有一容置槽用以容置至少一主機裝置；一桌面板，介於該下機櫃與該上機櫃之間，且該桌面板之一機構安裝面顯露於該上機櫃內部；一進料機構，鄰設於該上機櫃之一第一側，用以透過開設於該上機櫃的該第一側的一進料窗口將已完成整列處理的複數個測試物依序地輸入該上機櫃之中；一篩檢平台，容置於該上機櫃之中，且設置在該桌面板的該機構安裝面之上；複數個光學模組支撐機構，容置於該上機櫃之中，且設置在該桌面板的該機構安裝面之上，用於個別連接至少一光學檢測模組；一第一出料機構，設置於該上機櫃內，且包括鄰靠該篩檢平台之一透明盤面的至少一收料口、一直線式傳送通道以及延伸露出於該上機櫃之外的一出料口；以及一第二出料機構，設置於該上機櫃內，且包括鄰靠所述透明盤面的一收料口、一直線式傳送通道以及延伸露出於該上機櫃之外的一出料口；其中，至少一個所述光學模組支撐機構具有一可收折結構。
2. 如請求項1所述之光學檢測設備的機櫃結構，其中，該上機櫃之一第二側設有二個門片，且二個所述門片之其一係由一金屬板件加工製成，從而具有可吸附磁鐵性質。
3. 如請求項1所述之光學檢測設備的機櫃結構，其中，該上機櫃之一第二側設有二個門片，且二個所述門片上其中之一更進一步具有一夾具，進而方便於所述門片上夾附物件。
4. 如請求項1所述之光學檢測設備的機櫃結構，其中，該下機櫃具有用以容置一穩壓裝置的一容置空間，且該下機櫃的一第二側具有一門片與一操作面板，該操作面板上具有耦接該穩壓裝置的至少一顯示單元以及複數個電性單元。
5. 如請求項1所述之光學檢測設備的機櫃結構，更包括一第三出料機構，其具有：一第一段傳送通道，設置於該上機櫃內，且包括鄰靠所述透明盤面的一收料口；一第二段傳送通道，設置於該下機櫃內，且透過該桌面板連接該第一段傳送通道；以及一第三段傳送通道，設置於該下機櫃內，且以其一端連接該第二段傳送通道；其中，該第三段傳送通道之另一端延伸露出於該下機櫃之外，且具有一出料口。
6. 如請求項5所述之光學檢測設備的機櫃結構，其中，該第一出料機構、該第二出料機構與該第三出料機構皆具有一排料檢視單元，且該排料檢視單元包括一檢視窗孔以及覆蓋該檢視窗孔的一可掀式透明蓋。
7. 如請求項1所述之光學檢測設備的機櫃結構，其中，該上機櫃之一第三側設有一第一門片與一第二門片，該第一門片的長度大於該第二門片的長度，且該第三側還設有一矮檔牆，該矮檔牆在該第一門片處於一關門狀態時位於該第一門片下方處。
8. 如請求項1所述之光學檢測設備的機櫃結構，其中，該桌面板開設有至少一排料口，且至少一料品收集裝置容置於該下機櫃之中，用以對應於該至少一排料口，從而收集自該至少一排料口掉落的所述測試物。
9. 如請求項1所述之光學檢測設備的機櫃結構，其中，該第一出料機構、該第二出料機構與該第三出料機構之中的至少一個具有一可彎折結構。

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