TWI768767B - 影像感測器 - Google Patents

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Abstract

本發明實施例提供一種影像感測器，影像感測器包括基板、第一光電二極體、第二光電二極體、中間層、導光結構及微透鏡層。第一光電二極體與第二光電二極體交替設置於基板中。每個第一光電二極體於上視圖中的面積小於每個第二光電二極體的面積。中間層設置於基板上。導光結構設置於中間層中且設置於第一光電二極體或第二光電二極體至少其中一者之上。導光結構的折射率大於中間層的折射率。微透鏡層設置於中間層上。

Description

影像感測器
本發明實施例是關於一種影像感測器，特別是關於一種具有導光結構的影像感測器。
如互補式金屬氧化物半導體影像感測器（complementary metal oxide semiconductor image sensor, CIS）的影像感測器廣泛用於各種影像擷取裝置，例如數位靜態影像相機（digital still-image camera）與數位視訊相機等。影像感測器的感光部分可偵測到周圍的顏色變化，且取決於感光部分所接收到的光線量可產生訊號電荷。此外，可傳輸並放大感光部分中所產生的訊號電荷以獲得影像訊號。
影像感測器應能夠快速擷取影像，且準確度、空間解析度與動態範圍應盡可能越高越好。然而，傳統影像感測器由於受限的動態範圍而面臨缺失場景細節或模糊現象或嚴重失真的問題。因此，仍需要一種能夠達到高動態範圍（high dynamic range, HDR）成像的影像感測器。
根據本發明的一些實施例，提供一種影像感測器。影像感測器包括基板、第一光電二極體、第二光電二極體、中間層、導光結構及微透鏡層。第一光電二極體與第二光電二極體交替設置於基板中。每個第一光電二極體於上視圖中的面積小於每個第二光電二極體的面積。中間層設置於基板上。導光結構設置於中間層中且設置於第一光電二極體或第二光電二極體至少其中一者之上。導光結構的折射率大於中間層的折射率。微透鏡層設置於中間層上。
根據本發明一些其他的實施例，亦提供另一種影像感測器。影像感測器包括基板、第一光電二極體、第二光電二極體、中間層、導光結構、彩色濾層陣列及微透鏡層。第一光電二極體與第二光電二極體交替設置於基板中。每個第一光電二極體於上視圖中的面積小於每個第二光電二極體的面積。中間層設置於基板上。導光結構設置於中間層中且設置於第一光電二極體或第二光電二極體至少其中一者之上。彩色濾層陣列具有複數個彩色濾層且設置於中間層上。微透鏡層設置於彩色濾層陣列上，且包括複數個微透鏡。彩色濾層各與兩鄰近的微透鏡重疊。
以下實施例中參照所附圖式提供詳細敘述。
以下詳述本發明實施例的影像感測器。為了說明的目的，以下詳細敘述中闡述許多特定細節與實施例以完整理解本發明實施例。以下詳細敘述中所述的特定元件與組態是用以清楚描述本發明實施例。然而，此述的例示性實施例顯然僅是為了說明而使用，本發明實施例的概念可以各種形式呈現而並非侷限於這些例示性實施例。
此外，為了清楚描述本發明實施例，不同實施例的圖式可使用類似及∕或相對應的數字，以表示類似及∕或相對應的元件。然而，並不表示不同的實施例之間有任何關連。應能理解的是，此例示性實施例的敘述可配合圖式一併理解，本發明實施例之圖式亦被視為本發明實施例說明之一部分。圖式並未以實際裝置及元件之比例繪示。此外，結構及裝置是以示意之方式繪示，以簡化圖式。
此外，當述及「一膜層位於另一膜層上方或之上」可指該膜層與其他膜層直接接觸之情形。或者，亦可能是該膜層與其他膜層不直接接觸之情形，在此情形中，該膜層與其他膜層之間設置有一或更多中間層。
此外，此說明書中使用了相對性的用語。例如，「下方」、「底部」、「上方」或「頂部」，以描述一個元件對於另一元件的相對位置。應能理解的是，如果將裝置翻轉使其上下顛倒，則所敘述在「下方」側的元件將會成為在「上方」側的元件。
應能理解的是，雖然在此可使用用語「第一」、「第二」、「第三」等來敘述各種元件、組件、區域、膜層、及/或部分，這些元件、組件、區域、膜層、及/或部分不應被這些用語限定。這些用語僅是用來區別不同的元件、組件、區域、膜層、及/或部分。因此，以下討論的第一元件、組件、區域、膜層、及/或部分可在不偏離本發明實施例之教示下被稱為第二元件、組件、區域、膜層、及/或部分。
「約（about）」與「大抵（substantially）」之用語通常表示在一給定值或範圍的10%之內，較佳是5%之內，或3%之內，或2%之內，或1%之內，且更佳是0.5%之內。在此給定的數量為大約的數量，亦即在沒有特定說明「約」或「大抵」的情況下，仍可隱含「約」或「大抵」之含義。
除非另外定義，在此使用的所有技術及科學用語具有與本發明所屬技術領域中具有通常知識者所通常理解的相同涵義。應能理解的是，這些在通用字典中定義的用語，應被解讀成具有與相關技術及本發明的背景或上下文一致的意思，而不應以理想化或過度正式的方式解讀，除非在本發明實施例有特別定義。
根據本發明的一些實施例，可透過在影像感測器的中間層中設置導光結構而達到高動態範圍的效果。具體而言，具有高光穿透率的導光結構可設置於大光電二極體之上以增加大光電二極體的靈敏度，而具有高衰減率的導光結構可設置於小光電二極體之上以減少小光電二極體的靈敏度。因此，可達到大光電二極體與小光電二極體較大的靈敏度比，進而實現更好的高動態範圍成像。
參照第1A圖，第1A是根據本發明的一些實施例的影像感測器10剖面圖。影像感測器10包括基板100、第一光電二極體102A、第二光電二極體102B、中間層104、導光結構106A與微透鏡層108。在一些實施例中，例如，基板100可以是晶圓或晶片，但本發明並非以此為限。在一些實施例中，基板100可以是如矽基板的半導體基板。再者，在一些實施例中，半導體基板也可為包括鍺的元素半導體、化合物半導體、合金半導體或前述之組合。化合物半導體包括氮化鎵（GaN）、碳化矽（SiC）、砷化鎵（GaAs）、磷化鎵（GaP）、磷化銦（InP）、砷化銦（InAs）及∕或銻化銦（InSb）。合金半導體包括矽鍺（SiGe）合金、磷砷化鎵（GaAsP）合金、砷化鋁銦（AlInAs）合金、砷化鋁鎵（AlGaAs）合金、砷化鎵銦（GaInAs）合金、磷化鎵銦（GaInP）合金及∕或磷砷化鎵銦（GaInAsP）合金。
第一光電二極體102A與第二光電二極體102B交替設置於基板100中。第一光電二極體102A的剖面面積小於第二光電二極體102B的剖面面積。再者，在影像感測器10的上視圖（未繪示）中，每個第一光電二極體102A的面積也小於每個第二光電二極體102B的面積。
中間層104設置於基板100上。在一些實施例中，中間層104可包括有機透明材料、介電材料、如矽的半導體材料、任何其他合適的透明材料或前述之組合。更具體而言，中間層104的材料對於波長介於200nm至1100nm之間的光可具有大於90%的光穿透率，或較佳可具有大於95%的光穿透率。在一些實施例中，介電材料包括氧化矽、氮化矽、氮氧化矽、任何其他合適的介電材料或前述之組合。可利用合適的沉積技術如旋轉塗佈（spin-on coating）製程、化學氣相沉積（chemical vapor deposition, CVD）、物理氣相沉積（physical vapor deposition, PVD）、原子層沉積（atomic layer deposition, ALD）、其他合適的沉積製程或前述之組合來形成中間層104。
在一些實施例中，中間層104的消光係數可介於約0.001至約0.01之間，例如約為0.005。在一些實施例中，中間層104的折射率可介於約1.2至約1.8之間，例如約為1.6。
導光結構設置於中間層104中且設置於至少一個第一光電二極體102A或第二光電二極體102B之上。詳細而言，在一些實施例中，導光結構可僅設置於至少一個第一光電二極體102A之上，或可僅設置於至少一個第二光電二極體102B之上。在其他實施例中，導光結構也可設置於至少一個第一光電二極體102A之上以及至少一個第二光電二極體102B之上。亦即，導光結構可同時設置於一或多個第一光電二極體102A之上以及一或多個第二光電二極體102B之上。
根據本發明的一些實施例，如第1A圖所示，導光結構106A可設置於中間層104中及部分的第一光電二極體102A之上，但本發明並非以此為限。應注意的是，關於導光結構配置的其他態樣將於下文與後續圖式中描述與繪示。
在一些實施例中，導光結構106A可包括如丙烯酸酯聚合物（acrylate polymers）的有機材料。例如，丙烯酸酯聚合物可由甲基丙烯酸甲酯（methyl methacrylate）、乙基甲基丙烯酸酯（ethyl methacrylate）、甲基丙烯酸正丁酯（N-butyl methacrylate）、甲基丙烯酸仲丁酯（sec-butyl methacrylate）、甲基丙烯酸叔丁酯（tert-butyl methacrylate）、丙烯酸甲酯（methyl acrylate）、丙烯酸異丙酯（isopropyl acrylate）、甲基丙烯酸環己酯（cyclohexyl methacrylate）、2-甲基環己基甲基丙烯酸酯（2-methyl cyclohexyl methacrylate）、丙烯酸二環戊烯酯（dicyclopentenyl acrylate）、丙烯酸雙環戊酯（dicyclopentanyl acrylate）、甲基丙烯酸二環戊烯酯（dicyclopentenyl methacrylate）、甲基丙烯酸二環戊酯（dicyclopentanyl methacrylate）、甲基丙烯酸二環戊氧基乙酯（dicyclopentanyloxyethyl methacrylate）、甲基丙烯酸異莰酯（isobornyl methacrylate）、丙烯酸環己酯（cyclohexyl acrylate）、2-甲基環己基丙烯酸酯（2-methylcyclohexyl acrylate）、丙烯酸二環戊氧基乙酯（dicyclopentanyloxyethyl acrylate）、丙烯酸異莰酯（isobornyl acrylate）、甲基丙烯酸苯酯（phenyl methacrylate）、丙烯酸苯酯（phenyl acrylate）、苄基丙烯酸酯（benzyl acrylate）、2-羥乙基甲基丙烯酸酯（2-hydroxyethyl methacrylate）或前述之組合所形成。再者，導光結構106A可更包括額外的有機材料以將導光結構106A的消光係數與折射率調整至所欲範圍之內。在一些實施例中，額外的有機材料可包括丙二醇烷基醚醋酸酯類（propylene glycol alkyl ether acetates）、含甲氧基的有機酯（methoxy-containing organic ester）或前述之組合。例如，丙二醇烷基醚醋酸酯類可包括丙二醇甲醚醋酸酯（propylene glycol methyl ether acetate）、丙二醇乙醚醋酸酯（propylene glycol ethyl ether acetate）、丙二醇丙醚醋酸酯（propylene glycol propyl ether acetate）以及丙二醇丁醚醋酸酯（propylene glycol butyl ether acetate）或前述之組合。例如，含甲氧基的有機酯可包括甲氧基乙酸甲酯（methyl methoxy acetate）、甲氧基乙酸乙酯（ethyl methoxy acetate）、甲氧基乙酸丙酯（propyl methoxy acetate）、甲氧基乙酸丁酯（butyl methoxy acetate）、2-甲氧基丙酸甲酯（methyl 2-methoxypropionate）、2-甲氧基丙酸乙酯（ethyl 2-methoxypropionate）、2-甲氧基丙酸丙酯（propyl 2-methoxypropionate）、2-甲氧基丙酸丁酯（butyl 2-methoxypropionate）、3-甲氧基丙酸甲酯（methyl 3-methoxypropionate）、3-甲氧基丙酸乙酯（ethyl 3-methoxypropionate）、3-甲氧基丙酸丙酯（propyl 3-methoxypropionate）、3-甲氧基丙酸丁酯（butyl 3-methoxypropionate）或前述之組合。
在一些實施例中，可於中間層104中形成導光結構106A的開口（未繪示）並接著利用任何合適的製程如光學微影製程沉積導光結構106A的材料而形成導光結構106A。例如，光學微影製程可包括塗佈、曝光（exposure）、顯影（developing）、其他合適的製程或前述之組合。接著，可利用任何合適的平坦化製程如化學機械研磨（chemical mechanical polishing, CMP）來移除導光結構106A過多的材料，使得中間層104與導光結構106A的頂表面齊平。
導光結構106A使用有機材料是有益的，因為取決於設計需求而改變個別有機材料的含量可調整導光結構106A的折射率或消光係數。再者，與利用物理氣相沉積形成有機材料以外材料的常規製程相比，使用有機材料也可降低形成導光結構106A的製程複雜度。
此外，在一些實施例中，導光結構106A於剖面圖中可具有長方形或梯形形狀。再者，在一些實施例中，導光結構106A側壁與頂表面之間的角度θ 1­可為約65度至約90度之間，例如為約75度或約80度。在導光結構106A具有固定的頂表面面積的情況下，可透過改變導光結構106A的角度θ 1­來調整導光結構106A的體積，進而根據設計需求調整導光結構106A的光衰減效率以達到所欲的效果。
在一些實施例中，導光結構106A的消光係數可為約0.1至約0.3之間，例如約為0.2。導光結構106A的折射率大於中間層104的折射率。在一些實施例中，導光結構106A的折射率可為約1.4至約2.0之間，例如約為1.7。具有較高折射率的導光結構106A可使入射光進入導光結構106A而非導光結構106A附近的中間層104。此外，具有上述範圍之內的消光係數的導光結構106A可降低設置於導光結構106A之下第一光電二極體102A的靈敏度，進而增加第二光電二極體102B與第一光電二極體102A的靈敏度比且達到高動態範圍的效果。
微透鏡層108設置於中間層104上。在一些實施例中，微透鏡層108可包括複數個微透鏡108M，且微透鏡108M可各設置於一個第一光電二極體102A之上與一個第二光電二極體102B之上。在一些實施例中，微透鏡層108的材料可為透明材料。更具體而言，微透鏡層108的材料對於波長介於200nm至1100nm之間的光可具有大於90%的光穿透率，或較佳可具有大於95%的光穿透率。例如，微透鏡層108的材料可包括環氧樹脂（epoxy resin）、聚矽氧樹脂（silicone resin）、聚氨酯（polyurethane）、任何其他合適的材料或前述之組合。可沉積微透鏡層108的材料並接著圖案化微透鏡層108的材料而形成微透鏡層108。微透鏡層108的微透鏡108M可形成具有所欲的形狀，例如第1A圖所示的圓頂形（dome shape）。
再次參照第1A圖，在一些實施例中，影像感測器10可更包括設置於中間層104與微透鏡層108之間的彩色濾層陣列110。彩色濾層陣列110可具有複數個彩色濾層110A、110B與110C。如第1A圖所示，在一些實施例中，彩色濾層110A、110B與110C可各與微透鏡層108中兩鄰近的微透鏡108M重疊。再者，在一些實施例中，彩色濾層110A、110B與110C可各對應至位於一個微透鏡108M之下的一個第一光電二極體102A，以及另一個相鄰的微透鏡108M之下的一個第二光電二極體102B。亦即，在這些實施例中，彩色濾層110A、110B與110C的配置與微透鏡108M的配置偏置（offset），使得各個彩色濾層110A、110B與110C不會對應至相同微透鏡108M之下的一個第一光電二極體102A與一個第二光電二極體102B。在第1A圖所示的實施例中，導光結構106A的底表面可與第一光電二極體102A接觸，且導光結構106A的頂表面也可與彩色濾層陣列110接觸。
在一些實施例中，彩色濾層110A、110B與110C可具有彼此不同的顏色。例如，彩色濾層110A、110B與110C的顏色可為紅色、綠色、藍色或白色。可利用塗佈、曝光與顯影製程於不同步驟依序形成彩色濾層陣列110。或者，可利用噴墨印刷（ink-jet printing）形成彩色濾層陣列110。
再次參照第1A圖，影像感測器10可更包括鈍化層112。鈍化層112可順應地沉積於微透鏡層108上，以覆蓋個別微透鏡108M的全部表面。鈍化層112的材料可與微透鏡層108的材料相似或相同，於此不再重複說明。然而，在一些實施例中，鈍化層112的折射率可小於微透鏡層108的折射率，使得入射光可以漸進式的方式進入影像感測器10。鈍化層112也可保護微透鏡層108。
再次參照第1A圖，影像感測器10可更包括設置於中間層104中的線路層114。線路層114可為金屬線路，用於分別內連接第一光電二極體102A、第二光電二極體102B、電晶體（未繪示）與裝置的周邊電路及外部。在一些實施例中，線路層114的材料可包括銀（Ag）、鋁（Al）、金（Au）、銅（Cu）、鈮（Nb）、鎳（Ni）、鈦（Ti）、鎢（W）、銀合金、鋁合金、金合金、銅合金、鈮合金、鎳合金、鈦合金、鎢合金或前述之組合。
如前文所述，根據本發明的實施例，影像感測器10可包括設置於中層間104中及設置於至少一個第一光電二極體102A（即，小光電二極體）之上的導光結構106A。導光結構106A的折射率大於中間層104的折射率，且導光結構106A可具有高光衰減率。因此，可降低部分的第一光電二極體102A（即，小光電二極體）的靈敏度，且可增加第二光電二極體102B（即，大光電二極體）與第一光電二極體的靈敏度比。利用本發明實施例所提供的影像感測器10可實現高動態範圍成像。
接著，參照第1B圖，第1B圖是根據本發明的其他實施例的影像感測器20剖面圖。第1B圖中的影像感測器20與第1A圖中的影像感測器10相似，但導光結構106A設置於所有的第一光電二極體102A之上。如此一來，可進一步增加第二光電二極體102B與第一光電二極體102A的靈敏度比以達到更好的高動態範圍效果。
接著，參照第1C圖，第1C圖是根據本發明的其他實施例的影像感測器30剖面圖。第1C圖中的影像感測器30與第1A圖中的影像感測器10相似，但影像感測器30包括導光結構106B而非導光結構106A。根據本發明的一些實施例，如第1C圖所示，導光結構106B可設置於中間層104中且設置於部分的第二光電二極體102B（即，大光電二極體）之上。此外，在一些實施例中，導光結構106B的消光係數可小於導光結構106A的消光係數，因此導光結構106B可具有較好的光穿透效率。
在一些實施例中，導光結構106B可包括如樹脂聚合物的有機材料。例如，樹脂聚合物可包括環氧樹脂；如聚甲基丙烯酸甲酯（polymethyl methacrylate, PMMA）的丙烯酸酯聚合物；各種樹脂如聚二甲基矽氧烷（polydimethylsiloxane, PDMS）、聚氨酯（polyurethane）、聚碳酸酯（polycarbonate, PC）、聚酯（polyester）、聚酮（polyketone）、聚醯亞胺（polyimide, PI）、聚乙烯醇（polyvinyl alcohol）、氟樹脂（fluororesin）與聚烯烴（polyolefin）；或前述之組合。在一些特定的實施例中，導光結構106B可由聚二甲基矽氧烷（PDMS）、聚甲基丙烯酸甲酯（PMMA）、聚碳酸酯（PC）或前述之組合所形成。導光結構106B的形成方法與導光結構106A的形成方法相似或相同，於此不再重複說明。
導光結構106B使用有機材料是有益的，因為取決於設計需求而改變有機材料的組成可調整導光結構106B的折射率或消光係數。再者，如以上所述，與利用物理氣相沉積形成有機材料以外材料的常規製程相比，使用有機材料也可降低形成導光結構106B的製程複雜度。
此外，在一些實施例中，導光結構106B於剖面圖中可具有長方形或梯形形狀。再者，在一些實施例中，導光結構106B側壁與頂表面之間的角度θ 2­可為約65度至約90度之間，例如為約75度或約80度。在導光結構106B具有固定的頂表面面積的情況下，可透過改變導光結構106B的角度θ 2來調整導光結構106B的體積，進而根據設計需求調整導光結構106B的光穿透效率以達到所欲的效果。
在一些實施例中，導光結構106B的消光係數可為約0.001至約0.01之間，例如約為0.005。導光結構106B的折射率大於中間層104的折射率。在一些實施例中，導光結構106B的折射率可為約1.4至約2.0之間，例如約為1.7。具有較高折射率的導光結構106B可使入射光進入導光結構106B而非導光結構106B附近的中間層104。此外，具有上述範圍之內的消光係數的導光結構106B可增加設置於導光結構106B之下第二光電二極體102B的靈敏度，進而增加第二光電二極體102B與第一光電二極體102A的靈敏度比且達到所欲的高動態範圍效果。
接著，參照第1D圖，第1D圖是根據本發明的其他實施例的影像感測器40剖面圖。第1D圖中的影像感測器40與第1C圖中的影像感測器30相似，但導光結構106B設置於所有的第二光電二極體102B之上。如此一來，可進一步增加第二光電二極體102B與第一光電二極體102A的靈敏度比以達到更好的高動態範圍效果。
接著，參照第1E圖，第1E圖是根據本發明的其他實施例的影像感測器50剖面圖。第1E圖中的影像感測器50與第1A圖中的影像感測器10相似，但影像感測器50更包括導光結構106B。導光結構106B可設置於中間層104中且設置於部分的第二光電二極體102B之上。應注意的是，在第1E圖所示的實施例中，導光結構106A與106B可分別設置於相同彩色濾層之下部分的第一光電二極體102A與部分的第二光電二極體102B之上。亦即，導光結構106A與106B可設置於部分的彩色濾層之下而非所有彩色濾層之下。例如，如第1E圖所示，導光結構106A與106B可設置於彩色濾層110A及∕或110C之下的第一光電二極體102A與第二光電二極體102B之上，而導光結構106A與106B可不設置於彩色濾層110B之下的第一光電二極體102A與第二光電二極體102B之上。
透過在部分的第一光電二極體102A與部分的第二光電二極體102B之上同時設置導光結構106A與106B，可減少第一光電二極體102A的靈敏度且增加第二光電二極體102B的靈敏度。因此，可增加第二光電二極體102B與第一光電二極體102A的靈敏度比以達到更好的高動態範圍效果。
接著，參照第1F圖，第1F圖是根據本發明的其他實施例的影像感測器60剖面圖。第1F圖中的影像感測器60與第1E圖中的影像感測器50相似，但導光結構106A與106B設置於所有的第一光電二極體102A與第二光電二極體102B之上。同時，導光結構106A與106B可設置於所有的彩色濾層110A、110B與110C之下。以此方式，可進一步增加第二光電二極體102B與第一光電二極體102A的靈敏度比，進而提供更好的高動態範圍效果。
參照第2A與2B圖，第2A圖是根據本發明的一些實施例的影像感測器10上視圖，且第2B圖是根據本發明的一些實施例的影像感測器10放大上視圖。應注意的是，第1A圖的剖面圖是沿著第2A圖的線段A-A’所擷取。此外，第2A與2B圖中，為了簡潔起見而省略了鈍化層112。
在一些實施例中，如第2A圖所示，影像感測器10可由最小重複單位116所形成。最小重複單位116可為四個微透鏡108M所定義並以2x2排列的感測器陣列。最小重複單位116的放大示意圖繪示於第2B圖。在一些實施例中，彩色濾層110A、110B與110C可具有長方形形狀、正方形形狀或前述之組合。如第2B圖所示，最小重複單位116中，彩色濾層110A具有正方形形狀、彩色濾層110B具有長方形形狀或正方形形狀，且彩色濾層110C具有長方形形狀，但本發明並非以此為限。在由其他微透鏡108M定義並以2x2排列的最小重複單位116的實施例中，彩色濾層110A也可具有長方形形狀且彩色濾層110C也可具有正方形形狀。
如先前所述，第2B圖中，彩色濾層110A、110B與110C可各與兩鄰近的微透鏡108M重疊。此外，任兩鄰近的彩色濾層110A、110B與110C可具有不同的顏色。
總結以上，根據本發明的一些實施例，影像感測器可具有設置於至少一個第一光電二極體（即，小光電二極體）或第二光電二極體（即，大光電二極體）之上的導光結構。更具體而言，具有高光穿透率的導光結構可設置於中間層中且設置於大光電二極體之上以增加大光電二極體的靈敏度，且具有高光衰減率的導光結構可設置於中間層中且設置於小光電二極體之上以減少小光電二極體的靈敏度。因此，可達到大光電二極體與小光電二極體較大的靈敏度比，且具有較高靈敏度比的影像感測器可實現高動態範圍成像。
雖然已詳述本發明的一些實施例及其優點，應能理解的是，在不背離如本發明之保護範圍所定義的發明之精神與範圍下，可作各種更動、取代與潤飾。例如，本發明所屬技術領域中具有通常知識者應能輕易理解在不背離本發明的範圍內可改變此述的許多部件、功能、製程與材料。再者，本申請的範圍並不侷限於說明書中所述之製程、機器、製造、物質組成、方法與步驟的特定實施例。本發明所屬技術領域中具有通常知識者可從本發明輕易理解，現行或未來所發展出的製程、機器、製造、物質組成、方法或步驟，只要可以與此述的對應實施例實現大抵相同功能或達成大抵相同結果者皆可根據本發明實施例使用。因此，本發明之保護範圍包括上述製程、機器、製造、物質組成、方法或步驟。
10,20,30,40,50,60:影像感測器 100:基板 102A:第一光電二極體 102B:第二光電二極體 104:中間層 106A,106B:導光結構 108:微透鏡層 108M:微透鏡 110:彩色濾層陣列 110A,110B,110C:彩色濾層 112:鈍化層 114:線路層 116:最小重複單位 A-A’:線段 θ 1,θ 2:角度
搭配所附圖式閱讀後續的詳細敘述與範例將能更全面地理解本發明實施例，其中： 第1A至1F圖是根據本發明的各種實施例的影像感測器剖面圖。 第2A圖是根據本發明的一些實施例的影像感測器上視圖。 第2B圖是根據本發明的一些實施例的影像感測器放大上視圖。
10:影像感測器
100:基板
102A:第一光電二極體
102B:第二光電二極體
104:中間層
106A:導光結構
108:微透鏡層
108M:微透鏡
110:彩色濾層陣列
110A,110B,110C:彩色濾層
112:鈍化層
114:線路層
θ1:角度

Claims (10)

  1. 一種影像感測器，包括：一基板；多個第一光電二極體與多個第二光電二極體，該些光電二極體與該些第二光電二極體交替設置於該基板中，其中每個該些第一光電二極體於上視圖中的面積小於每個該些第二光電二極體的面積；一中間層，設置於該基板上；一導光結構，設置於該中間層中且設置於該些第一光電二極體或該些第二光電二極體至少其中一者之上，其中該導光結構的折射率大於該中間層的折射率，其中該導光結構的折射率介於1.4至2.0之間；以及一微透鏡層，設置於該中間層上。
  2. 如請求項1所述之影像感測器，其中該導光結構的一側壁與一頂表面之間的角度介於65度至90度之間，且該導光結構於剖面圖中具有一長方形或梯形的形狀。
  3. 如請求項1所述之影像感測器，其中：該導光結構設置於該些第一光電二極體的至少其中一者之上；該導光結構的消光係數介於0.1至0.3之間。
  4. 如請求項1所述之影像感測器，其中：該導光結構設置於該些第二光電二極體的至少其中一者之上；該導光結構的消光係數介於0.001至0.01之間。
  5. 如請求項1所述之影像感測器，其中：該導光結構設置於該些第一光電二極體的至少其中一者之上以及設置於該些第二光電二極體的至少其中一者之上； 設置於該些第一光電二極體的該至少其中一者之上的該導光結構具有介於0.1至0.3之間的消光係數；且設置於該些第二光電二極體的該至少其中一者之上的該導光結構具有介於0.001至0.01之間的消光係數。
  6. 如請求項1所述之影像感測器，更包括一彩色濾層陣列，該彩色濾層陣列具有複數個彩色濾層且設置於該中間層與該微透鏡層之間，其中：該微透鏡層包括複數個微透鏡；該些微透鏡各設置於該些第一光電二極體其中一者之上與該些第二光電二極體其中一者之上；且該些彩色濾層各與兩鄰近的微透鏡重疊。
  7. 如請求項6所述之影像感測器，其中：該些彩色濾層各對應至位於該些微透鏡的其中一者之下的該些第一光電二極體其中一者，以及各對應至位於該些微透鏡的另一者之下的該些第二光電二極體其中一者，該些微透鏡的該另一者鄰近於該些微透鏡的該其中一者；任兩鄰近的彩色濾層具有不同的顏色；且該些彩色濾層於上視圖中具有一長方形形狀、一正方形形狀或前述之組合。
  8. 如請求項1所述之影像感測器，更包括一鈍化層，該鈍化層設置於該微透鏡層上。
  9. 一種影像感測器，包括：一基板；多個第一光電二極體與多個第二光電二極體，該些光電二極體 與該些第二光電二極體交替設置於該基板中，其中每個該些第一光電二極體於上視圖中的面積小於每個該些第二光電二極體的面積；一中間層，設置於該基板上；一導光結構，設置於該中間層中且設置於該些第一光電二極體或該些第二光電二極體至少其中一者之上，其中該導光結構的折射率介於1.4至2.0之間；一彩色濾層陣列，具有複數個彩色濾層且設置於該中間層上；以及一微透鏡層，設置於該彩色濾層陣列上，其中該微透鏡層包括複數個微透鏡，且其中該些彩色濾層各與兩鄰近的微透鏡重疊。
  10. 如請求項9所述之影像感測器，其中：該導光結構的折射率大於該中間層的折射率；該些微透鏡各設置於該些第一光電二極體其中一者之上與該些第二光電二極體其中一者之上；該些彩色濾層各對應至位於該些微透鏡的其中一者之下的該些第一光電二極體其中一者，以及各對應至位於該些微透鏡的另一者之下的該些第二光電二極體其中一者，該些微透鏡的該另一者鄰近於該些微透鏡的該其中一者；且任兩鄰近的彩色濾層具有不同的顏色。
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Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2010062438A (ja) * 2008-09-05 2010-03-18 Toshiba Corp 固体撮像装置およびその設計方法
US8698266B2 (en) * 2005-09-12 2014-04-15 Intellectual Ventures Ii Llc Image sensor with decreased optical interference between adjacent pixels
TW201630177A (zh) * 2015-02-10 2016-08-16 佳能股份有限公司 固態影像感測器及包括此固態影像感測器的攝像設備
CN108269811A (zh) * 2016-12-30 2018-07-10 豪威科技股份有限公司 高动态范围彩色图像传感器及相关的方法

Family Cites Families (13)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100748325B1 (ko) * 2001-06-28 2007-08-09 매그나칩 반도체 유한회사 이미지센서
US7875948B2 (en) * 2008-10-21 2011-01-25 Jaroslav Hynecek Backside illuminated image sensor
JP4978614B2 (ja) * 2008-11-25 2012-07-18 ソニー株式会社 固体撮像装置
MX2012005169A (es) * 2009-11-05 2012-09-12 Hiok Nam Tay Matriz optimizada de guías de luz para un sensor de imagen.
US10325947B2 (en) * 2013-01-17 2019-06-18 Semiconductor Components Industries, Llc Global shutter image sensors with light guide and light shield structures
KR102149937B1 (ko) 2013-02-22 2020-09-01 삼성전자주식회사 광전 소자 및 이미지 센서
US20150216486A1 (en) * 2014-01-31 2015-08-06 Kabushiki Kaisha Toshiba Nuclear medical imaging apparatus and controlling method
JP6780503B2 (ja) * 2014-12-18 2020-11-04 ソニー株式会社 固体撮像素子、および電子装置
KR102570346B1 (ko) * 2016-10-20 2023-08-25 에스케이하이닉스 주식회사 쉴드들을 가진 이미지 센서 및 그 제조 방법
US10665626B2 (en) * 2018-04-25 2020-05-26 Omnivision Technologies, Inc. High dynamic range image sensors
JP2020115515A (ja) * 2019-01-17 2020-07-30 ソニーセミコンダクタソリューションズ株式会社 撮像装置及び電子機器
TWI688088B (zh) * 2019-07-24 2020-03-11 晶相光電股份有限公司 影像感測裝置及影像感測系統
US11362121B2 (en) * 2020-01-28 2022-06-14 Omnivision Technologies, Inc. Light attenuation layer fabrication method and structure for image sensor

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US8698266B2 (en) * 2005-09-12 2014-04-15 Intellectual Ventures Ii Llc Image sensor with decreased optical interference between adjacent pixels
JP2010062438A (ja) * 2008-09-05 2010-03-18 Toshiba Corp 固体撮像装置およびその設計方法
TW201630177A (zh) * 2015-02-10 2016-08-16 佳能股份有限公司 固態影像感測器及包括此固態影像感測器的攝像設備
CN108269811A (zh) * 2016-12-30 2018-07-10 豪威科技股份有限公司 高动态范围彩色图像传感器及相关的方法

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