TWI765753B - 柱狀微電極層的製造方法、柱狀微電極層以及膜電極組件 - Google Patents

柱狀微電極層的製造方法、柱狀微電極層以及膜電極組件 Download PDF

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Abstract

一種柱狀微電極層的製造方法，藉由在金屬電極基材上塗佈光刻膠並放置光罩以形成特定圖案樣式將放置於電漿刻蝕裝置中並藉由射頻電感耦合線圈和襯底射頻偏壓產生電漿對金屬電極基材進行電漿處理，以產生柱狀微電極用蝕刻液去除光刻膠將具有柱狀微電極的金屬電極基材置於真空室中，保持在3x10 -5托的基礎壓力下並在3x10 -3托的氬氣壓力下進行濺射，使金屬電極基材的柱狀微電極上沉積1奈米至2奈米厚度的觸媒層。具有沉積觸媒層的柱狀微電極具有超高表面積以及高效率的催化電極，以更有效率產生氫氣。

Description

柱狀微電極層的製造方法、柱狀微電極層以及膜電極組件
本發明涉及一種柱狀微電極層的製造方法、柱狀微電極層以及膜電極組件，特別是涉及一種用以水電解製氫之柱狀微電極層的製造方法(electrolysis for hydrogen production)，其具有超高表面積以及高效率的催化電極(catalyst electrode)。
由於二氧化碳所帶來的溫室效應日益顯著，造成地球環境的破壞及能源耗竭，對人類生活造成極大威脅，也使得環保意識逐漸受到重視。當今世界各國均著重進行能源結構轉型以及新興能源的開發，而其中氫能結合再生能源的方式已列入能源永續發展的重點項目之一。
目前產氫技術中，以高分子質子交換膜(PEM, Proton Exchange Membrane)形成的膜電極組件(MEA，Membrane Electrode Assembly)，或稱PEM水電解製氫技術可產生較純的氫氣，並且較為安全，除了氧氣外，沒有其他副產物。此種產氫技術是質子交換膜燃料電池（PEMFC）之逆反應工程。
PEM膜電極組件(Membrane Electrode Assembly, MEA)用低電壓直流輸入，膜電極組件的正負兩極電解去離子水，簡要的說，正極，也就是陽極處，將水分子電解成氫質子(H +)與氧氣(O 2)，氫質子(H +)溶在水裏透過質子交換膜(PEM)的牽引到達負極，也就是陰極，而得到電子，以產生氫氣。
其中電解器內的陽極觸媒是關鍵的元件，材料多為貴金屬，例如氧化鉑。1923 年 Adams 等人發明熔融法，利用氯鉑酸和硝酸鈉熔融得到的氧化鉑(Platinum Oxide)被證明是優良的催化劑。
近來因奈米科技發展，將只有數奈米的鉑鍍在炭黑或碳粉上，以大幅降低鉑的使用量。美國專利US20100102026A1提供一種在燃料電池用膜電極組件（MEA）的聚合物電解質膜（PEM）上形成奈米結構表面（NSS）的方法，其中通過等離子體在聚合物電解質膜上適當地形成奈米結構表面。
然而，由於上述技術是在聚合物電解質膜（PEM）上形成奈米結構表面（NSS），而聚合物電解質膜本體質地柔軟，無法精確地控制奈米結構的形狀、尺寸及表面積，且該奈米結構表面的截面積並不相同，在電解效率的提升上仍有進步的空間。
為使能更進一步瞭解本創作的特徵及技術內容，請參閱以下有關本創作的詳細說明與圖式，然而所提供的圖式僅用於提供參考與說明，並非用來對本創作加以限制。
本發明所要解決的技術問題在於，針對現有技術的不足提供一種柱狀微電極層的製造方法、柱狀微電極層以及膜電極組件，能有效控制金屬電極基材的形狀、尺寸與表面積，並且具有相比現有技術增加10萬倍的表面積，進而提高電解效率。
為了解決上述的技術問題，本發明所採用的其中一技術方案是一種柱狀微電極層的製造方法，以半導體微米製程開發，適於結合一質子交換膜，用於水電解製氫或燃料電池，其包括：提供一金屬電極基材，該金屬電極基材的一側塗佈一光刻膠；提供一光罩，該光罩形成一特定圖樣；利用光罩蝕刻技術曝光該光刻膠，以移除部分的該光刻膠，以形成一具有該特定圖樣的光刻膠硬化層；利用一電漿刻蝕技術通過該光刻膠硬化層，以在該金屬電極基材的表面形成多個柱狀微電極，直到移除該光刻膠硬化層，以形成一微電極金屬基材；將該微電極金屬基材放置於一真空室中，並保持在一基礎壓力下；以及利用在一電漿蝕刻氣體壓力下進行濺射，以在該柱狀微電極的表面上沉積一觸媒層，以形成一柱狀微電極層；其中，該些柱狀微電極直徑範圍介於10奈米至1000奈米，該些柱狀微電極的高度範圍介於5微米至20微米，其中定義該些柱狀微電極底端的面積總和除於未蝕刻前的該金屬電極基材的頂端表面積的比值百分比為面密度，該面密度範圍介於20%至90%。
進一步地，還包括利用該光刻膠的厚度決定該些柱狀微電極的高度的步驟，其中，當完全移除該光刻膠硬化層時，該些柱狀微電極即達到特定高度，其中該光刻膠的厚度介於500奈米至1000奈米。
進一步地，電漿刻蝕技術的處理時間介於30分鐘至180分鐘。
進一步地，該基礎壓力介於2x10 -5托至3x10 -5托，該電漿蝕刻氣體壓力介於0.001托至1托。
進一步地，該觸媒層的厚度介於1奈米至2奈米。
為了解決上述的技術問題，本發明所採用的其中一技術方案是一種以請求項1到請求項10其中一項所製成的柱狀微電極層。
為了解決上述的技術問題，本發明所採用的其中一技術方案是一膜電極組件，用於一燃料電池或製氫設備，該膜電極組件包括：一高分子質子交換膜；以及至少一以請求項11所製成的柱狀微電極層，該柱狀微電極層設置於該高分子質子交換膜的一側。
本發明的有益效果在於，本發明所提供的柱狀微電極層的製造方法、柱狀微電極層以及膜電極組件，能在製氫設備/燃料電池的金屬電極表面上形成柱狀微電極，其中柱狀微電極是利用光刻和電感耦合離子體蝕刻在金屬電極表面形成，並利用濺射方式直接在柱狀微電極表面沉積觸媒層，以製造出用於製氫設備/燃料電池的膜電極組件之金屬電極，由於相比現有技術增加1000倍至10萬倍的表面積，因此觸媒層的表面積同樣增加1000倍至10萬倍，產氫效率能顯著性提高。
為使能更進一步瞭解本發明的特徵及技術內容，請參閱以下有關本發明的詳細說明與圖式，然而所提供的圖式僅用於提供參考與說明，並非用來對本發明加以限制。
以下是通過特定的具體實施例來說明本發明所公開的“柱狀微電極層的製造方法、柱狀微電極層以及膜電極組件”實施方式，本領域技術人員可由本說明書所公開的內容瞭解本發明的優點與效果。本發明可通過其他不同的具體實施例加以施行或應用，本說明書中的各項細節也可基於不同觀點與應用，在不悖離本發明的構思下進行各種修改與變更。另外，本發明的附圖僅為簡單示意說明，並非依實際尺寸的描繪，事先聲明。以下的實施方式將進一步詳細說明本發明的相關技術內容，但所公開的內容並非用以限制本發明的保護範圍。
應當可以理解的是，雖然本文中可能會使用到“第一”、“第二”、“第三”等術語來描述各種元件或者信號，但這些元件或者信號不應受這些術語的限制。這些術語主要是用以區分一元件與另一元件，或者一信號與另一信號。另外，本文中所使用的術語“或”，應視實際情況可能包括相關聯的列出項目中的任一個或者多個的組合。
[第一實施例]
在本發明第一實施例中，提供一種柱狀微電極層的製造方法。下面將結合圖1A至圖1F的製造過程、圖3的示意圖來說明本發明第一實施例的柱狀微電極層的製造方法。本發明第一實施例的柱狀微電極層的製造方法包括如下步驟:
步驟S101:提供一金屬電極基材11。如圖1A所示，將金屬電極基材11放置於一旋轉塗佈機(圖略)。金屬電極基材11的大小、材質、厚度並未限制，旋轉塗佈機的型號也並未限制。
步驟S102:於所述金屬電極基材11的表面塗佈一光刻膠12。如圖1B所示，將光刻膠12塗佈金屬電極基材11的表面。本實施例的光刻膠12可為正性光刻膠(Positive Photoresist)，並搭配一鹼性水溶液作為顯影液，以及水作為相對應的清洗液。鹼性水溶液可為氫氧化鉀(KOH)、氫氧化鈉(NaOH)，四甲基氫氧化銨(TMAH)。然而，本發明的光刻膠12的種類不在此限，例如也可以是負性光刻膠(Negative Photoresist)，並搭配二甲苯(C 8H 10)作為顯影液，以及乙酸丁脂(C 6H 12O 2)、乙醇(C 2H 5OH)、三氯乙烯(C 2HCl 3)作為相對應的清洗液。光刻膠12的厚度介於500nm-1000nm之間，光刻膠12的厚度取決於光刻膠12的多寡以及旋轉塗佈機旋轉時的轉速。光刻膠12的含量為1至5立方公分（c.c.）、旋轉塗佈機旋轉時的轉速介於1500 rpm至3000 rpm。
步驟S103:將經過步驟S102處理後的金屬電極基材11的表面放置一光罩13並曝光。如圖1C所示，放置一光罩13在含有光刻膠12的金屬電極基材11的表面，用一光線L曝光以開始光罩蝕刻技術(Photolithography Process)製作特定光刻樣式，該光罩13形成一特定圖樣。所述光罩13為現有技術，並非限制本發明之技術特徵，故不在此贅述。光罩蝕刻技術的處理時間介於30分鐘至180分鐘，所述光罩蝕刻技術的時間可視情況需求有所增減，光罩蝕刻技術的時間不在此限。
步驟S104:移除經過步驟S103處理後的金屬電極基材11上的光罩13，並以化學溶劑(即為蝕刻液)去除不必要的光刻膠12區域，以形成一具有該特定圖樣的光刻膠硬化層(12a)。蝕刻液可為有機溶劑或是無機溶劑，蝕刻液的種類不在此限。如圖1D所示，將經光罩蝕刻技術處理後的金屬電極基材11以濕法去膠(wet chemical etching)方式，去除不必要的光刻膠12區域，使一光刻膠硬化層12a與多個凹槽120呈現於金屬電極基材11的表面。
S105:將經過步驟S104處理後的微電極金屬基材11a放置於一電漿刻蝕裝置30。如圖1E所示，將表面具有光刻膠硬化層12a與多個凹槽120的金屬電極基材11放置於電漿刻蝕裝置30(如圖3所示)，藉由一電漿E刻蝕去除光刻膠硬化層12a覆蓋以外的區域，使金屬電極基材11形成一微電極金屬基材11a並具有多個達成特定直徑與高度的柱狀微電極111及多個凹槽110。電漿蝕刻處理時間介於30分鐘至180分鐘。
如圖3所示，電漿刻蝕裝置30包含一殼體33，殼體33設有一射頻電感耦合線圈31、一襯底射頻偏壓32。射頻電感耦合線圈31能產生電漿E且於電漿刻蝕裝置30的襯底射頻偏壓32施加一13.56MHz射頻電源。電漿刻蝕裝置30為一現有技術，並非用來限制本發明之技術特徵，電漿刻蝕裝置30的裝配不在此限。
S106:將經過步驟S105處理後的微電極金屬基材11a去除光刻膠硬化層12a。如圖1F所示，利用電漿刻蝕技術通過該光刻膠硬化層12a，以在該金屬電極基材11的表面形成多個柱狀微電極111，直到移除該光刻膠硬化層12a，以形成微電極金屬基材11a。當完全移除該光刻膠硬化層12a時，該些柱狀微電極111即達到特定高度。即是光刻膠12的厚度越厚，所需要的蝕刻時間越久，則微電極金屬基材11a上的凹槽110會越深。凹槽110越深則代表該些柱狀微電極111的高度越高。因此當完全移除該光刻膠硬化層12a，則所需時間會影響該些柱狀微電極111的成形高度。柱狀微電極111的高度由電漿處理的時間決定，柱狀微電極111的面密度和直徑由光刻膠12和光罩蝕刻技術決定。將具有柱狀微電極111的微電極金屬基材11a置於真空室中，保持在3x10 -5托(torr)的基礎壓力下。隨後在3x10 -3torr的氬氣(即為電漿蝕刻氣體)壓力下進行濺射，並在電漿處理下，利用直流濺射(DC Sputtering)在微電極金屬基材11a的柱狀微電極111表面沉積1nm-2nm厚度的觸媒層50(如圖8所示)。觸媒層50的種類包含鉑(Pt)、銥(Ir)、鈷(Co)、鎳(Ni)、氧化鉑（PtO x）、氧化銥（IrO x）、氧化鈷（CoO x）、氧化鎳（NiO x）、鉑鎳合金(PtNi)、銥鎳合金(IrNi)、鉑鈷和金(PtCo)、銥鈷和金(IrCo)、鎳鈷和金(NiCo)，觸媒層50的種類不在此限。經處理後的微電極金屬基材11a，其表面上形成多個柱狀微電極111(如圖5所示)，以形成一柱狀微電極層11b。該微電極金屬基材11a具有多個柱狀微電極111，微電極金屬基材11a在相同參數下蝕刻出的每一個柱狀微電極111是具有相同形狀、相同尺寸及相同截面積，微電極金屬基材11a上的多個柱狀微電極111可視情況需要呈陣列狀，亦可為不規則排列。柱狀微電極111可為圓柱形、矩形、方形、角錐等。所述柱狀微電極111可以依照需求在同一微電極金屬基材11a上蝕刻出具有不同形狀、不同尺寸及不同截面積的柱狀微電極111。
面密度為在同一微電極金屬基材11a上，多個柱狀微電極111底端的面積總和除於未蝕刻前的金屬電極基材11的頂端表面積的比值百分比。在本實施例中，每一柱狀微電極111可以是具有相同的截面積。所以，面密度可以是，多個柱狀微電極111的截面積總和除於未蝕刻前的金屬電極基材11的頂端表面積的比值百分比。面密度範圍可以介於20%至90%，其中面密度較佳範圍可以介於40%至60%，具體的說，面密度較佳值可以為50%。理論上，面密度愈高，同一微電極金屬基材11a的多個柱狀微電極111的總表面積愈高，實際上，多個柱狀微電極111之間的間距也是影響製氫的參數。
電漿刻蝕裝置30中壓力保持在2x10 -5torr至3x10 -5torr的基礎壓力下，基礎壓力的範圍可以依據情況需求改變，故不在此限。電漿蝕刻氣體壓力介於0.001torr至1torr，射頻電感耦合線圈31的輸入功率為300瓦至1000瓦，襯底射頻偏壓32功率為100瓦到1000瓦。電漿蝕刻氣體包含以氬(Ar)、氧(O 2)、四氟化碳(CF 4)和氫(H 2)作為配方1、以氬(Ar)、1,1,2,2-四氟-1,2-二氯乙烷(C 2Cl 2F 4)和四氟化碳(CF 4)作為配方2。
配方1的電漿蝕刻氣體包含相對濃度70%的Ar、20%的O 2、5%的CF 4和5%的H 2，配方2的電漿蝕刻氣體包含相對濃度氬90%的Ar、5%的C 2Cl 2F 4和5%的CF 4。配方1與配方2的電漿蝕刻氣體所含的相對濃度，可依情況需求有所調整，故不在此限。
如表1A所示，表1A顯示本發明第一實施例利用光罩蝕刻技術製成的柱狀微電極111在不同直徑與高度下之總表面積的數據。經本發明處理後具有多個柱狀微電極111的微電極金屬基材11a，在10cm×10cm的條件下與未經處理的金屬電極基材11(即是表面平坦的金屬電極基材11)相比，本發明的具有多個柱狀微電極111的微電極金屬基材11a的總表面積能放大1000倍到100000倍。具有多個柱狀微電極111的微電極金屬基材11a，相比表面平坦的金屬電極基材11具有高達2.8x10 3倍的表面積，該柱狀微電極111的微電極金屬基材11a的面密度50%。 表1A
  Length (um) 5 6 7 8 9 10 11 12
Diameter(nm)                  
0.1   7.00E+03 8.40E+03 9.80E+03 1.12E+04 1.26E+04 1.40E+04 1.54E+04 1.68E+04
0.2   3.50E+03 4.20E+03 4.90E+03 5.60E+03 6.30E+03 7.00E+03 7.70E+03 8.40E+03
0.3   2.33E+03 2.80E+03 3.27E+03 3.73E+03 4.20E+03 4.67E+03 5.13E+03 5.60E+03
0.4   1.75E+03 2.10E+03 2.45E+03 2.80E+03 3.15E+03 3.50E+03 3.85E+03 4.20E+03
0.5   1.40E+03 1.68E+03 1.96E+03 2.24E+03 2.52E+03 2.80E+03 3.08E+03 3.36E+03
0.6   1.17E+03 1.40E+03 1.63E+03 1.87E+03 2.10E+03 2.33E+03 2.57E+03 2.80E+03
0.7   1.00E+03 1.20E+03 1.40E+03 1.60E+03 1.80E+03 2.00E+03 2.20E+03 2.40E+03
0.8   8.77E+02 1.05E+03 1.23E+03 1.40E+03 1.58E+03 1.75E+03 1.93E+03 2.10E+03
0.9   7.80E+02 9.36E+02 1.09E+03 1.25E+03 1.40E+03 1.56E+03 1.71E+03 1.87E+03
1   7.03E+02 8.43E+02 9.83E+02 1.12E+03 1.26E+03 1.40E+03 1.54E+03 1.68E+03
如表1B所示，表1B顯示本發明第一實施例利用光罩蝕刻技術製成的柱狀微電極111在不同直徑與高度下之總表面積的數據。經本發明處理後具有多個柱狀微電極111的微電極金屬基材11a，在10cm×10cm的條件下與未經處理的金屬電極基材11(即是表面平坦的金屬電極基材11)相比，本發明的具有多個柱狀微電極111的微電極金屬基材11a的總表面積能放大1000倍到100000倍。具有多個直徑為0.5nm及高度為17um的柱狀微電極111的微電極金屬基材11a，相比表面平坦的金屬電極基材11具有高達4.76x10 3倍的表面積。 表1B
  Length (um) 13 14 15 16 17 18 19 20
Diameter(nm)                  
0.1   1.82E+04 1.96E+04 2.10E+04 2.24E+04 2.38E+04 2.52E+04 2.66E+04 2.80E+04
0.2   9.10E+03 9.80E+03 1.05E+04 1.12E+04 1.19E+04 1.26E+04 1.33E+04 1.40E+04
0.3   6.07E+03 6.53E+03 7.00E+03 7.47E+03 7.93E+03 8.40E+03 8.87E+03 9.33E+03
0.4   4.55E+03 4.90E+03 5.25E+03 5.60E+03 5.95E+03 6.30E+03 6.65E+03 7.00E+03
0.5   3.64E+03 3.92E+03 4.20E+03 4.48E+03 4.76E+03 5.04E+03 5.32E+03 5.60E+03
0.6   3.03E+03 3.27E+03 3.50E+03 3.73E+03 3.97E+03 4.20E+03 4.43E+03 4.67E+03
0.7   2.60E+03 2.80E+03 3.00E+03 3.20E+03 3.40E+03 3.60E+03 3.80E+03 4.00E+03
0.8   2.28E+03 2.45E+03 2.63E+03 2.80E+03 2.98E+03 3.15E+03 3.33E+03 3.50E+03
0.9   2.02E+03 2.18E+03 2.34E+03 2.49E+03 2.65E+03 2.80E+03 2.96E+03 3.11E+03
1   1.82E+03 1.96E+03 2.10E+03 2.24E+03 2.38E+03 2.52E+03 2.66E+03 2.80E+03
相比未經處理的金屬電極基材11，經本發明處理後具有多個柱狀微電極111的柱狀微電極層11b具有85%的產氫效率，而未經處理的金屬電極基材11具有僅僅67%的產氫效率。
藉由調整光刻膠12的厚度和光罩蝕刻技術處理時間可以形成具有不同直徑的柱狀微電極111，同時藉由調整電漿處理的時間可以形成具有不同高度的柱狀微電極111，以此調整柱狀微電極111的直徑、高度和面密度，即能將柱狀微電極111設計成特定的表面結構。柱狀微電極111的直徑範圍為10nm-1000nm，柱狀微電極111的高度範圍為5um-20um。如圖4所示，顯示了柱狀微電極111直徑和高度的可能分佈圖，相同高度的柱狀微電極111具有不同的直徑(D1、D2、D3、D4、D5、D6、D7、D8)，依表1A、1B分別代表0.1nm至1nm(並未將所有直徑尺寸詳列於圖4)。相同直徑的柱狀微電極111具有不同的高度(H1、H2、H3、H4、H5、H6、H7、H8)，依表1A、1B分別代表5um至20um(並未將所有高度尺寸詳列於圖4)。
圖5所揭示的微電極金屬基材11a上相鄰的柱狀微電極111的中心至中心間具有一距離W2，沿X軸方向兩兩相鄰的柱狀微電極111的中心至中心間具有相同距離W2。相鄰的柱狀微電極111的中心至中心間具有一距離W1，沿Y軸方向兩兩相鄰的柱狀微電極111的中心至中心間具有相同距離W1。
至少一柱狀微電極層11b可與一高分子質子交換膜(PEM, Proton Exchange Membrane)形成一膜電極組件(MEA，Membrane Electrode Assembly)，該柱狀微電極層11b設置於該高分子質子交換膜的一側。該膜電極組件可用於一燃料電池或製氫設備。
[第二實施例]
在本發明第二實施例中，提供一種柱狀微電極層的製造方法。下面將結合圖2A至圖2F的製造過程、圖3的示意圖來說明本發明第二實施例的柱狀微電極層的製造方法。需先說明的是，本實施例類似於上述第一實施例，所以兩個實施例的相同處則不再加以贅述（如金屬電極基材11、電漿刻蝕裝置30、柱狀微電極111、柱狀微電極層11b、觸媒層50等）。本發明第二實施例的柱狀微電極層的製造方法包括如下步驟:
步驟S201:提供一頂面覆有軟變形聚合物層22的金屬電極基材11。如圖2A所示，提供一金屬電極基材11，該金屬電極基材11表面上覆有一層軟變形聚合物層22，並壓印於奈米壓印模具21下。奈米壓印模具21的型號、大小、材料並未限制。奈米壓印模具21上形成一特定圖樣的孔槽210。軟變形聚合物層22可以是丙烯酸聚合物(acrylic polymer)、矽烷聚合物(Silane polymer)。軟變形聚合物層22的材質不在此限。
步驟S202:開始加壓金屬電極基材11。如圖2B所示，對放置於奈米壓印模具21下具有軟變形聚合物層22的金屬電極基材11開始加壓。對奈米壓印模具21所施加的壓力介於1公斤(kg)至10公斤(kg)。
步驟S203:加壓後的擠壓成型聚合物層22a包含一聚合物底層220以及多個突起部221。如圖2C所示，將奈米壓印模具21從金屬電極基材11表面脫模，在擠壓成型聚合物層22a的表面形成了一聚合物底層220以及多個突起部221。聚合物底層220為較薄的區域，突起部221為較厚的區域。
步驟S204:以電漿刻蝕裝置30以蝕刻擠壓成型聚合物層22a。如圖2D所示，將具有擠壓成型聚合物層22a的金屬電極基材11放置於電漿刻蝕裝置30以一電漿E進行奈米蝕刻技術，以蝕刻具有擠壓成型聚合物層22a區域。
步驟S205:以電漿刻蝕裝置30蝕刻未有擠壓成型聚合物層22a區域的金屬電極基材11直至特定高度。如圖2E所示，將經步驟S204處裡過後的金屬電極基材11繼續以電漿E蝕刻，以去除擠壓成型聚合物層22a區域直至特定高度，以形成一微電極金屬基材11a，微電極金屬基材11a上具有多個柱狀微電極111。因聚合物底層220為較薄的區域，會先被蝕刻去除，突起部221為較厚的區域，雖會被蝕刻但依然存在於金屬電極基材11上。
步驟S206:以電漿刻蝕裝置30以蝕刻剩餘的擠壓成型聚合物層22a區域(即是突起部221)。如圖2F所示，將經步驟S205處裡過後的微電極金屬基材11a繼續蝕刻，直到完全移除該擠壓成型聚合物層22a區域(即為突起部221)，以形成不具有突起部221的微電極金屬基材11a，並去除微電極金屬基材11a之柱狀微電極111表面上突起部221。
如表2A所示，表2A顯示本發明第二實施例利用奈米蝕刻技術技術製成的柱狀微電極111在不同直徑與高度下之總表面積的數據。經本發明處理後具有柱狀微電極111的微電極金屬基材11a，在10cm×10cm的條件下與未經處理的金屬電極基材11(即是表面平坦的金屬電極基材11)相比，本發明的具有多個柱狀微電極111的微電極金屬基材11a的總表面積能放大1000倍到100000倍。在具有多個直徑為0.05nm及高度為10um柱狀微電極111的微電極金屬基材11a，相比表面平坦的金屬電極基材11具有高達2.8x10 4倍的表面積。具有多個直徑為0.05nm及高度為17um柱狀微電極111的微電極金屬基材11a，相比表面平坦的金屬電極基材11具有高達4.76x10 4倍的表面積。 表2A
  Length (um) 5 6 7 8 9 10 11 12
Diameter(nm)                  
0.01   7.00E+04 8.40E+04 9.80E+04 1.12E+05 1.26E+05 1.40E+05 1.54E+05 1.68E+05
0.02   3.50E+04 4.20E+04 4.90E+04 5.60E+04 6.30E+04 7.00E+04 7.70E+04 8.40E+04
0.03   2.33E+04 2.80E+04 3.27E+04 3.73E+04 4.20E+04 4.67E+04 5.13E+04 5.60E+04
0.04   1.75E+04 2.10E+04 2.45E+04 2.80E+04 3.15E+04 3.50E+04 3.85E+04 4.20E+04
0.05   1.40E+04 1.68E+04 1.96E+04 2.24E+04 2.52E+04 2.80E+04 3.08E+04 3.36E+04
0.06   1.17E+04 1.40E+04 1.63E+04 1.87E+04 2.10E+04 2.33E+04 2.57E+04 2.80E+04
0.07   1.00E+04 1.20E+04 1.40E+04 1.60E+04 1.80E+04 2.00E+04 2.20E+04 2.40E+04
0.08   8.75E+03 1.05E+04 1.23E+04 1.40E+04 1.58E+04 1.75E+04 1.93E+04 2.10E+04
0.09   7.78E+03 9.33E+03 1.09E+04 1.24E+04 1.40E+04 1.56E+04 1.71E+04 1.87E+04
0.1   7.00E+03 8.40E+03 9.80E+03 1.12E+04 1.26E+04 1.40E+04 1.54E+04 1.68E+04
如表2B所示，表2B顯示本發明第二實施例利用奈米蝕刻技術技術製成的柱狀微電極111在不同直徑與高度下之總表面積的數據。經本發明處理後具有多個柱狀微電極111的微電極金屬基材11a，在10cm×10cm的條件下與未經處理的金屬電極基材11(即是表面平坦的金屬電極基材11)相比，本發明的具有多個柱狀微電極111的微電極金屬基材11a的總表面積能放大1000倍到100000倍。在具有多個直徑為0.5nm及高度為17um柱狀微電極111的微電極金屬基材11a，相比表面平坦的金屬電極基材11具有高達4.76x10 4倍的表面積。 表2B
  Length (um) 5 6 7 8 9 10 11 12
Diameter(nm)                  
0.01   1.82E+05 1.96E+05 2.10E+05 2.24E+05 2.38E+05 2.52E+05 2.66E+05 2.80E+05
0.02   9.10E+04 9.80E+04 1.05E+05 1.12E+05 1.19E+05 1.26E+05 1.33E+05 1.40E+05
0.03   6.07E+04 6.53E+04 7.00E+04 7.47E+04 7.93E+04 8.40E+04 8.87E+04 9.33E+04
0.04   4.55E+04 4.90E+04 5.25E+04 5.60E+04 5.95E+04 6.30E+04 6.65E+04 7.00E+04
0.05   3.64E+04 3.92E+04 4.20E+04 4.48E+04 4.76E+04 5.04E+04 5.32E+04 5.60E+04
0.06   3.03E+04 3.27E+04 3.50E+04 3.73E+04 3.97E+04 4.20E+04 4.43E+04 4.67E+04
0.07   2.60E+04 2.80E+04 3.00E+04 3.20E+04 3.40E+04 3.60E+04 3.80E+04 4.00E+04
0.08   2.28E+04 2.45E+04 2.63E+04 2.80E+04 2.98E+04 3.15E+04 3.33E+04 3.50E+04
0.09   2.02E+04 2.18E+04 2.33E+04 2.49E+04 2.64E+04 2.80E+04 2.96E+04 3.11E+04
0.1   1.82E+04 1.96E+04 2.10E+04 2.24E+04 2.38E+04 2.52E+04 2.66E+04 2.80E+04
藉由調整軟變形聚合物層22的軟硬程度和對奈米壓印模具21所施加的壓力可以形成具有不同直徑的柱狀微電極111，同時藉由調整電漿處理的時間可以形成具有不同高度的柱狀微電極111，以此調整柱狀微電極111的直徑、高度和面密度，即能將柱狀微電極111設計成特定的表面結構。柱狀微電極111的直徑範圍為10nm-1000nm，柱狀微電極111的高度範圍為5um-20um。
[實施例的有益效果]
本發明的有益效果在於，本發明所提供的柱狀微電極層的製造方法、柱狀微電極層以及膜電極組件，能在製氫設備/燃料電池的膜電極組件之金屬電極表面上形成柱狀微電極，其中柱狀微電極是利用光刻和電感耦合離子體蝕刻在金屬電極表面形成，並利用濺射方式直接在柱狀微電極表面沉積觸媒層，以製造出用於製氫設備/燃料電池的膜電極組件之金屬電極，由於相比現有技術增加1000倍至10萬倍的表面積，因此觸媒層的表面積同樣增加1000倍至10萬倍，產氫效率能顯著性提高。以上所公開的內容僅為本發明的優選可行實施例，並非因此侷限本發明的申請專利範圍，所以凡是運用本發明說明書及圖式內容所做的等效技術變化，均包含於本發明的申請專利範圍內。
110、120:凹槽 11:金屬電極基材 11a:微電極金屬基材 11b:柱狀微電極層 111:柱狀微電極 12:光刻膠 12a:光刻膠硬化層 13:光罩 21:奈米壓印模具 210:孔槽 22:軟變形聚合物層 22a:擠壓成型聚合物層 220:聚合物底層 221:突起部 30:電漿刻蝕裝置 31:射頻電感耦合線圈 32:襯底射頻偏壓 33:殼體 50:觸媒層 D1、D2、D3、D4、D5、D6、D7、D8:直徑 H1、H2、H3、H4、H5、H6、H7、H8:高度 W1、W2:距離 L:光線 E:電漿
圖1A至圖1F為本發明第一實施例的金屬電極基材表面上形成柱狀微電極的製造過程的示意圖。
圖2A至圖2F為本發明第二實施例的金屬電極基材表面上形成柱狀微電極的製造過程的示意圖。
圖3為電漿刻蝕裝置在金屬電極基材的聚合物電極膜表面上形成柱狀微電極的示意圖。
圖4為製氫設備/燃料電池的柱狀微電極之直徑與高度之設計分布範圍示意圖。
圖5為製氫設備/燃料電池的柱狀微電極之表面結構示意圖。
圖6為利用濺射或化學噴塗方式在製氫設備/燃料電池的聚合物電極膜上鍍上觸媒層之示意圖。
11a:微電極金屬基材
110:凹槽
111:柱狀微電極

Claims (9)

  1. 一種柱狀微電極層的製造方法，以半導體微米製程開發，適於結合一質子交換膜，用於水電解製氫或燃料電池，其包括：提供一金屬電極基材，該金屬電極基材的一側塗佈一光刻膠；提供一光罩，該光罩形成一特定圖樣；利用光罩蝕刻技術曝光該光刻膠，以移除部分的該光刻膠，以形成一具有該特定圖樣的光刻膠硬化層；利用一電漿刻蝕技術通過該光刻膠硬化層，以在該金屬電極基材的表面形成多個柱狀微電極，直到移除該光刻膠硬化層，以形成一微電極金屬基材；將該微電極金屬基材放置於一真空室中，並保持在一基礎壓力下；以及利用在一電漿蝕刻氣體壓力下進行濺射，以在該些柱狀微電極的表面上沉積一觸媒層，以形成一柱狀微電極層；其中，該些柱狀微電極直徑範圍介於10奈米至1000奈米，該些柱狀微電極的高度範圍介於5微米至20微米，其中定義該些柱狀微電極底端的面積總和除於未蝕刻前的該金屬電極基材的頂端表面積的比值百分比為面密度，該面密度範圍介於20%至90%；其中該基礎壓力介於2x10-5托至3x10-5托，該電漿蝕刻氣體壓力介於0.001托至1托。
  2. 如請求項1所述的柱狀微電極層的製造方法，還包括利用該光刻膠的厚度決定該些柱狀微電極的高度的步驟，其中，該光刻 膠的厚度介於500奈米至1000奈米。
  3. 如請求項2所述的柱狀微電極層的製造方法，其中該電漿刻蝕技術的處理時間介於30分鐘至180分鐘。
  4. 如請求項3所述的柱狀微電極層的製造方法，其中該觸媒層的厚度介於1奈米至2奈米。
  5. 一種柱狀微電極層的製造方法，以半導體微米製程開發，適於結合一質子交換膜，用於水電解製氫或燃料電池，其包括：提供一金屬電極基材，該金屬電極基材的一側設有一軟變形聚合物層；提供一奈米壓印模具，並在該奈米壓印模具形成一特定圖樣，將該奈米壓印模具壓印於該軟變形聚合物層，並對該奈米壓印模具施加一介於1公斤至10公斤的壓力後脫模，以形成一擠壓成型聚合物層，該擠壓成型聚合物層具有多個突起部及一聚合物底層；利用電漿蝕刻該擠壓成型聚合物層，並在該金屬電極基材的表面蝕刻形成多個柱狀微電極，直到完全移除該擠壓成型聚合物層，以形成一微電極金屬基材；將該微電極金屬基材放置於一真空室中，並保持在一基礎壓力下；以及利用在一電漿蝕刻氣體壓力下進行濺射，以在該些柱狀微電極的表面上沉積一觸媒層，以形成一柱狀微電極層；其中，該些柱狀微電極直徑範圍介於10奈米至1000奈米，該些柱狀微電極的高度範圍介於5微米至20微米，其中定義該些柱狀微電極底端的面積總和除於未蝕刻前的該金屬電極基材的 頂端表面積的比值百分比為面密度，該面密度範圍介於20%至90%；其中該基礎壓力介於2x10-5托至3x10-5托，該電漿蝕刻氣體壓力介於0.001托至1托。
  6. 如請求項5所述的柱狀微電極層的製造方法，其中該電漿刻蝕技術的處理時間介於30分鐘至180分鐘。
  7. 如請求項6所述的柱狀微電極層的製造方法，其中該觸媒層的厚度介於1奈米至2奈米。
  8. 一種柱狀微電極層，其包括：一金屬電極基材；以及多個柱狀微電極，該些柱狀微電極位於該金屬電極基材的一表面；其中該金屬電極基材用以蝕刻出該些柱狀微電極，該些柱狀微電極的直徑範圍介於10奈米至1000奈米，該些柱狀微電極的高度範圍介於5微米至20微米，其中定義該些柱狀微電極底端的面積總和除於未蝕刻前的該金屬電極基材的頂端表面積的比值百分比為面密度，該面密度範圍介於20%至90%。
  9. 一膜電極組件，用於一燃料電池或製氫設備，該膜電極組件包括：一高分子質子交換膜；以及至少一以請求項8所製成的柱狀微電極層，該至少一柱狀微電極層設置於該高分子質子交換膜的一側。
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