TWI763713B - 再生裝置及再生方法 - Google Patents

再生裝置及再生方法

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TWI763713B TW106132033A TW106132033A TWI763713B TW I763713 B TWI763713 B TW I763713B TW 106132033 A TW106132033 A TW 106132033A TW 106132033 A TW106132033 A TW 106132033A TW I763713 B TWI763713 B TW I763713B
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Abstract

一種再生裝置，係具備：光學系，係將重合光之剖面在正切方向及/或徑向方向上分割成複數領域，使用與已分割之領域相對應的複數重合光，分別生成給予了大約0°之相位差的第1訊號光與參考光之配對、給予了大約180°之相位差的第2訊號光與參考光之配對、給予了大約90°之相位差的第3訊號光與參考光之配對、給予了大約270°之相位差的第4訊號光與參考光之配對；和受光部，係將第1訊號光與參考光之配對所對應之訊號(I)、第2訊號光與參考光之配對所對應之訊號(J)、第3訊號光與參考光之配對所對應之訊號(K)、第4訊號光與參考光之配對所對應之訊號(L)，予以輸出；和電路，係將訊號(I)與訊號(J)之差分也就是訊號a、和訊號(K)與訊號(L)之差分也就是訊號b，進行演算，從訊號a及b藉由演算而獲得再生訊號。

Description

再生裝置及再生方法
[0001] 本技術係有關於將光碟等之光媒體予以再生時所被適用的再生裝置及再生方法。
[0002] 例如在再生多層光碟時，會發生訊號光量之降低，訊號之讀取發生錯誤的可能性會變高。為了解決此問題，利用光之干涉來增幅偵測訊號的同步檢波偵測法，已為人知(參照專利文獻1)。 　　[0003] 在專利文獻1中，作為將訊號光與參考光所干涉而成的光進行檢波的同步檢波方式，是針對各自的相位差分別為90°互異的4個訊號光-參考光之配對，而進行檢波。具體而言，是針對相位差分別為0°、90°、180°、270°的訊號光-參考光之配對，分別進行檢波。這些各檢波，係針對訊號光與參考光所干涉而成的光分別偵測其光強度而進行之。 　　[0004] 在同步檢波方式中，係可將隨應於參考光之光強度而被增幅的訊號光之成分，當作再生訊號而加以獲得。藉由如此增幅訊號光，就可改善再生訊號的SNR。 ［先前技術文獻］ ［專利文獻］ 　　[0005] 　　[專利文獻1]日本專利第4564948號公報
［發明所欲解決之課題］ 　　[0006] 在同步檢波方式中，若存在有訊號光與參考光之光路長差(相位偏置)θ，則無法獲得所期望之效果。θ中係有：光碟之面振所致之較為低頻的相位變動、和較高頻的相位變動。高頻的相位變動係起因於例如碟片表面之微小的凹凸(表面的粗糙)而發生。上述文獻中所記載的技術，難以防止此種高頻的相位變動之影響。 　　[0007] 因此，本技術之目的在於提供一種，採用同步檢波偵測方式，同時可降低高頻相位變動成分之影響的再生裝置及再生方法。 ［用以解決課題之手段］ 　　[0008] 本技術係為一種再生裝置，係具備： 　　光學系，係對在凸軌與凹軌之雙方中都有被記錄訊號的記錄媒體，照射由光源所發出之光而獲得反映出凸軌與凹軌之記錄訊號之雙方的訊號光，且從由光源所發出之光生成參考光，形成將訊號光與參考光予以重合而成的重合光，藉由光分割元件而將重合光之剖面在正切方向及/或徑向方向上分割成複數領域，使用與已分割之領域相對應的複數重合光，分別生成給予了大約0°之相位差的第1訊號光與參考光之配對、給予了大約180°之相位差的第2訊號光與參考光之配對、給予了大約90°之相位差的第3訊號光與參考光之配對、給予了大約270°之相位差的第4訊號光與參考光之配對；和 　　受光部，係將第1訊號光與參考光之配對所對應之受光訊號(I)、第2訊號光與參考光之配對所對應之受光訊號(J)、第3訊號光與參考光之配對所對應之受光訊號(K)、第4訊號光與參考光之配對所對應之受光訊號(L)，予以輸出；和 　　再生訊號生成電路，係將受光訊號(I)與受光訊號(J)之差分也就是差分訊號a、和受光訊號(K)與受光訊號(L)之差分也就是差分訊號b，進行演算，從差分訊號a及b藉由演算而獲得再生訊號。 　　[0009] 又，本技術係為一種再生方法，係對在凸軌與凹軌之雙方中都有被記錄訊號的記錄媒體，照射由光源所發出之光而獲得反映出凸軌與凹軌之記錄訊號之雙方的訊號光，且從由光源所發出之光生成參考光，形成將訊號光與參考光予以重合而成的重合光，藉由光分割元件而將重合光之剖面在正切方向及/或徑向方向上分割成複數領域； 　　使用與已分割之領域相對應的複數重合光，分別生成給予了大約0°之相位差的第1訊號光與參考光之配對、給予了大約180°之相位差的第2訊號光與參考光之配對、給予了大約90°之相位差的第3訊號光與參考光之配對、給予了大約270°之相位差的第4訊號光與參考光之配對； 　　藉由受光部，將第1訊號光與參考光之配對所對應之受光訊號(I)、第2訊號光與參考光之配對所對應之受光訊號(J)、第3訊號光與參考光之配對所對應之受光訊號(K)、第4訊號光與參考光之配對所對應之受光訊號(L)，予以輸出； 　　藉由再生訊號生成電路，將受光訊號(I)與受光訊號(J)之差分也就是差分訊號a、和受光訊號(K)與受光訊號(L)之差分也就是差分訊號b，進行演算，從差分訊號a及b藉由演算而獲得再生訊號。 ［發明效果］ 　　[0010] 若依據至少一個實施形態，則可將凸軌/凹軌記錄方式的光記錄媒體使用同步檢波偵測方式而良好地進行再生。在本技術中係可防止起因於像是碟片表面之凹凸這類的高頻的相位變動成分之影響。此外，並非一定限定於這裡所記載的效果，亦可為本技術中所記載之任一效果。
[0012] 以下所說明的實施形態，係為本技術的理想的具體例，係被賦予了技術性為理想的各種限定。然而，本技術的範圍，在以下說明中，只要沒有特別聲明是限定本技術之意旨的記載，就不限定於這些實施形態。 　　此外，本技術的說明，係按照下記的順序而進行。 　　＜1.關於同步檢波偵測方法之一例＞ 　　＜2.關於同步檢波偵測方法之另一例＞ 　　＜3.第1實施形態＞ 　　＜4.第2實施形態＞ 　　＜5.變形例＞ 　　[0013] ＜1.關於同步檢波偵測方法之一例＞ 　　說明同步檢波偵測方法之一例。以下係作為一例，說明所謂的相位分集方式所致之同步檢波偵測方法。 　　[0014] 「再生對象之光記錄媒體」 　　圖1係圖示，身為再生對象的光記錄媒體1之剖面結構圖。對被旋轉驅動的光記錄媒體1進行雷射光照射而進行記錄訊號之再生。光記錄媒體1係為，例如藉由記錄記號之形成而記錄下資訊的所謂追記型之光記錄媒體。 　　[0015] 如圖1所示，光記錄媒體1中，係從上層側起依序形成有覆蓋層2、記錄層(反射膜)3、基板4。此處，所謂「上層側」，係把來自再生裝置側的雷射光所入射的面當作上面時所指的上層側。亦即此時，對於光記錄媒體1，係從覆蓋層2側有雷射光會入射。 　　[0016] 於光記錄媒體1中，基板4係由例如聚碳酸酯等之樹脂所構成，在其上面側係被賦予了凹凸之剖面形狀。如此的基板4，係藉由例如使用了印模的射出成形等，而被生成。 　　[0017] 然後，對於上記已被賦予了凹凸形狀的基板4的上面側，以濺鍍等而形成記錄層3。此處，先前的同步檢波檢波中身為再生對象的光記錄媒體1之軌跡，係以不超過光學臨界值的通常之軌距，而被形成。亦即，記錄層3中的軌距，係被設定成比以「λ/NA/2」(λ係為再生波長，NA係為接物透鏡之開口數)來表示其理論值的光學臨界值還大。 　　[0018] 被形成在記錄層3之上層側的覆蓋層2，係例如將紫外線硬化樹脂以旋轉塗布法等加以塗布後，施以紫外線照射所致之硬化處理而被形成。覆蓋層2，係為了保護記錄層3而被設置。 　　[0019] 圖2係圖示了再生對象之光記錄媒體1的記錄面之結構。圖2A係將記錄面之一部分予以放大的平面圖，圖2B係將記錄面之一部分予以放大的斜視圖。此外，圖2B係表示，再生所需之雷射光所照射之一側的面，亦即，是從圖式的上側，照射再生所需之雷射光。光記錄媒體1中係被形成有凹軌G與凸軌L。此處，在本說明書中，係和BD(Blu-ray Disc：註冊商標)同樣地，將再生所需之雷射光先到達的一側，亦即將凸部側令作凹軌G，將凹部側令作凸軌L而稱呼之。 　　[0020] 身為再生對象的光記錄媒體1中，係在凹軌G與凸軌L之雙方，都形成有記號列。若令記號列為軌跡，則軌距Tp係可如圖2B所示般地定義為，凸軌L與凹軌G的形成間距。軌距Tp是被設定成超過光學臨界值的窄間距，藉此可謀求資訊記錄密度之提升。例如，光記錄媒體1中的凹軌G的形成間距，若設成和先前的光記錄媒體中的軌距(記號列的形成間距)相同，則光記錄媒體1係可提高成先前的大約2倍的資訊記錄密度。 　　[0021] 將凸軌L與凹軌G之間的落差(適宜稱作深度)，以d來表示。例如若令光記錄媒體1之折射率為n，則深度d係被設成「λ/8/n」。例如若為再生波長λ＝405nm、n＝1.5之條件，則可形成約33nm之深度d。 　　[0022] 此處，在光記錄媒體1中，凸軌L與凹軌G的形成間距係超過光學臨界值，因此記錄面上所被形成之再生光的光束點與凸軌L、凹軌G之關係，係為例如圖3所示。 　　[0023] 和先前同樣地，以凹軌G或凸軌L為對象而進行接物透鏡的循軌伺服控制。圖3中係例示了，以凹軌G為對象來進行接物透鏡的循軌伺服控制的情況。此情況下，可知對於被當作伺服對象的凹軌G的再生訊號，相鄰的2條凸軌L的記錄資訊會混合存在。 　　[0024] 亦即，在凸軌/凹軌記錄方法中，若軌距變窄，則會從相鄰軌跡產生串音。如圖4所示，將凹軌進行再生時，不只有凹軌的再生訊號f(t)，就連相鄰的凸軌的再生訊號g(t)也會混入。若令凹軌的再生訊號之相位φ＝0，則凸軌的相位Ψ＝4πnd/λ(λ係為波長，n係為光記錄媒體1的基板之折射率)。 　　[0025] 「相位分集方式所致之同步檢波偵測方法之一例」 　　在相位分集方式中，係使用彼此的相位差分別為90°互異的4個訊號光-參考光之配對。具體而言，在相位分集方式中，是針對相位差係分別被調整成大約0°、大約 180°、大約90°、大約270°的訊號光-參考光之配對，分別進行檢波。這些各檢波，係針對訊號光與參考光所干涉而成的光分別偵測其光強度而進行之。 　　[0026] 圖5係主要圖示了，在相位分集方式中所使用的光學系之構成。光記錄媒體1，係一旦被裝填至再生裝置，就藉由轉軸馬達而被旋轉驅動。光學系中係設有，作為再生所需之雷射光源的雷射(半導體雷射)10。由雷射10所射出的雷射光，係透過準直透鏡11而被轉成平行光後，透過1/2波長板12而入射至偏光分束器13。 　　[0027] 此時，偏光分束器13係被構成為例如，讓P偏光穿透並將S偏光予以反射。1/2波長板12的安裝角度(於雷射光的入射面內以光軸為中心的旋轉角度)係被調整成，使得穿透過偏光分束器13而被輸出的光(P偏光成分)與被反射而輸出的光(S偏光成分)之比率(亦即偏光分束器13所致之分光比)係為例如大約1：1。 　　[0028] 被偏光分束器13所反射的雷射光，係在透過1/4波長板14後，透過被2軸致動器16所保持的接物透鏡15而被聚光在光記錄媒體1的記錄層而照射。 　　[0029] 2軸致動器16，係可將接物透鏡15在聚焦方向(對光記錄媒體1接近遠離之方向)及循軌方向(光記錄媒體1的半徑方向：與上記聚焦方向正交的方向)上，可位移地加以保持。2軸致動器16中係具備聚焦線圈、循軌線圈，對這些聚焦線圈、循軌線圈係分別被供給有後述的聚焦驅動訊號FD、循軌驅動訊號TD。接物透鏡15，係依照聚焦驅動訊號FD、循軌驅動訊號TD而在聚焦方向、循軌方向上分別進行位移。 　　[0030] 來自光記錄媒體1之記錄層的反射光，係透過接物透鏡15及1/4波長板14而入射至偏光分束器13。入射至偏光分束器13的反射光(返路光)，係藉由1/4波長板14之作用與記錄層中的反射時之作用，其偏光方向會變成，相對於從雷射10側入射並被該偏光分束器13所反射的光(稱作往路光)的偏光方向，為90°不同。亦即，反射光係以P偏光而入射至偏光分束器13。因此，反射光係會穿透過偏光分束器13。此外，以下，將如此穿透過偏光分束器13的反映出光記錄媒體1之記錄訊號的反射光，稱為訊號光。 　　[0031] 於圖5中，從雷射10所射出並穿透過偏光分束器13的雷射光(P偏光)，係作為同步檢波偵測方式中的參考光而發揮機能。穿透過偏光分束器13的參考光，係在透過圖中的1/4波長板17後，被反射鏡18所反射，再次通過1/4波長板17而入射至偏光分束器13。 　　[0032] 此處，如此入射至偏光分束器13的參考光(返路光)，係藉由1/4波長板17之作用與反射鏡18上的反射時之作用，其偏光方向會變成與作為往路光的參考光為90°之不同(亦即變成S偏光)。因此，作為返路光的參考光，係在偏光分束器13中會被反射。 　　[0033] 在圖5中，係將如此在偏光分束器13中被反射的參考光，以虛線箭頭來表示。在圖5中，係將穿透過偏光分束器13的訊號光，以實線箭頭來表示。藉由偏光分束器13，這些訊號光與參考光是以被重合的狀態，而朝同方向射出。具體而言，以時，訊號光與參考光係以使它們光軸呈一致的方式而被重合的狀態，而朝同方向射出。此處，參考光係為所謂的相干光。 　　[0034] 從偏光分束器13所被輸出的訊號光與參考光之重合光，係入射至半分束器19。半分束器19，係將入射光以大約1：1之比率而分割成反射光與穿透光。 　　[0035] 穿透過半分束器19的訊號光與參考光之重合光，係透過1/2波長板20而被入射至偏光分束器21。另一方面，被半分束器19所反射的訊號光與參考光之重合光，係透過1/4波長板22而入射至偏光分束器23。 　　[0036] 1/2波長板20及1/4波長板22，係被設成可使偏光面做旋轉。因此，藉由組合1/2波長板20與偏光分束器21，就可調整被偏光分束器21所分歧的光量的比。同樣地，藉由1/4波長板22，就可調整被偏光分束器23所分歧的光量的比。 　　[0037] 被偏光分束器21及23所分別分歧的光之光量係被設成大約1：1。已被偏光分束器21所反射的光係入射至光偵測部24，已穿透過偏光分束器21的光亦入射至光偵測部25。已被偏光分束器23所反射的光係入射至光偵測部26，已穿透過偏光分束器23的光亦入射至光偵測部27。 　　[0038] 將從光偵測部24所輸出之受光訊號記作I，將從光偵測部25所輸出之受光訊號記作J，將從光偵測部26所輸出之受光訊號記作L，將從光偵測部27所輸出之受光訊號記作K。 　　[0039] 這些受光訊號I～L，係對減算器31a及31b做供給。對減算器31a，係供給受光訊號I及J，減算器31a係產生(a＝I-J)的差分訊號a，減算器31b係產生(b＝K-L)的差分訊號b。 　　[0040] 如圖6所示，上述的差分訊號a及b係被供給至演算電路32。演算電路32係具有：延遲電路33a及33b、乘算電路34a及34b、低通濾波器35a及35b、偏置(φ)設定電路36a及36b、以及加算器37。延遲電路33a係具有，相等於低通濾波器35a及偏置(φ)設定電路36a中所產生之延遲量的延遲時間。延遲電路33b係具有，相等於低通濾波器35b及偏置(φ)設定電路36b中所產生之延遲量的延遲時間。乘算電路34a之輸出及乘算電路34b之輸出係被供給至加算器37。在加算器37之輸出中，再生訊號會被取出。 　　[0041] 上述的再生裝置，係如以下所說明，可以獲得不受光記錄媒體1之面振等所致之參考光之相位偏誤(θ(t))之成分之影響的再生訊號。 　　[0042] 受光訊號I～L，係以下記的數式來表示。式中的各項之意義係如下記所示。 　　R：參考光成分 　　A：光記錄媒體的記錄面上所被形成的反射鏡面(凸軌部分)之反射成分 　　f：隨應於記錄記號之有/無的調變成分(取正負值) 　　t：取樣時間 　　φ：所欲讀取的記號與訊號光之平均相位之相位差。由使用者所推定而設置的值。 　　θ：訊號光與參考光之光路長差(主要起因於光記錄媒體1的面振而發生) 　　[0043] 如圖7所示，接物透鏡15與光記錄媒體1的訊號面若因面振而產生變化，則訊號光的光路長會改變。另一方面，參考光，係於反射鏡18上被反射，因此光路長不會改變。其結果為，訊號光及參考光之間的相位差會是與所設定之值有所偏誤的值。該相位偏誤之成分係為θ(t)。 　　[0044] 【數1】
Figure 02_image001
【數2】
Figure 02_image003
【數3】
Figure 02_image005
【數4】
Figure 02_image007
[0045] 減算器31a之差分訊號a(＝I-J)及減算器31b之差分訊號b(＝K-L)，係表示成以下的式子。 　　[0046] 【數5】
Figure 02_image009
【數6】
Figure 02_image011
[0047] 如圖8A所示，在不進行同步檢波偵測的通常之偵測中，再生訊號之DC成分也是會對應於背景之反射鏡部分而呈現。在同步檢波偵測的情況下，如圖8B所示，反射鏡部分所對應之DC成分係會因為上述的參考光之光路長差所對應之相位θ而彎曲。 　　[0048] 為了求出該相位θ，將圖8B所示的差分訊號a及b，分別供給至低通濾波器35a及35b。藉由低通濾波器35a及35b，如圖8C所示，可求出cosθ(t)及sinθ(t)。亦即，於數式(5)及數式(6)中，f係為相應於記錄記號之有/無的調變成分(取正負值)，因此可想成函數f所被乘算的項係消失，留下sinθ及cosθ的項。 　　[0049] 由於(tanθ＝sinθ/cosθ)，因此藉由(arctanθ＝θ)而求出θ，設定φ(偏置)，於乘算電路34a中，將 (cos(φ-θ(t))乘算至a，於乘算電路34b中，將(sin(φ-θ(t))乘算至b。然後，藉由加算器37，將這些乘算輸出予以加算。從加算器37所得的再生訊號，係為以下的式子所示。 　　[0050] 【數7】
Figure 02_image013
[0051] 由此數式可知，在再生訊號中，θ(t)之成分係會消失，而成為穩定的訊號。此外，作為同步檢波偵測方式，也有進行反射鏡18之位置控制，將伴隨面振所產生的訊號光與參考光之相位差予以抵銷的方法，但若依據相位分集方式，則可省略此種反射鏡18之位置控制所需之構成。然後可得知，可獲得訊號光之成分是被參考光之成分所增幅的再生結果。亦即，光記錄媒體1的記錄訊號係被增幅而被偵測，這點可謀求SNR之改善。此外，相位分集方式的用語係意味著，藉由計算差分訊號a及b的平方和 (a2 ＋b2 )或平方和的平方根，以求出再生訊號的方式。在本說明書中，如上述，即使對於將(cos(φ-θ(t))乘算至a，於乘算電路34b中，將(sin(φ-θ(t))乘算至b的演算，也是使用相位分集方式的用語。 　　[0052] 想定將如上述的凸軌/凹軌記錄之光記錄媒體以圖9A所示的光學系進行再生，將軌距Tp改變時的再生訊號(凹軌之再生訊號或凸軌之再生訊號)之顫動，藉由模擬而求出的結果，示於圖9B之圖形。此外，顫動係為表示再生性能的指標之一，亦可使用顫動以外的指標。 　　[0053] 如圖9A所示，來自雷射二極體41的雷射光係通過透鏡42、偏光分束器43及接物透鏡44而照射至光記錄媒體1的訊號面。來自訊號面的反射光係被偏光分束器43所反射，透過透鏡45而被供給至光偵測部46。從光偵測部46獲得再生訊號。圖9A所示的再生光學系，係不使用上述的同步檢波偵測。 　　[0054] 模擬係用下記的計算條件而進行。此外，假設沒有面振，使用會使軌跡間串音減少的再生方法。 　　λ＝405nm，NA＝0.85，rim＝65%/65%，凹軌負載＝50% 　　傾斜＝90°，記號反射率＝0%，記號寬＝0.9Tp，線密度＝25GB恆定 　　[0055] 圖9B所示的圖形，係針對(Mrr(意味著反射鏡，d＝0)、(d＝0.125λ)、(d＝0.15λ)、(d＝0.175λ))之每一者，表示顫動之值對Tp之變化。例如在(Tp＝0.22)時，關於反射鏡以外之凹軌的深度，可使顫動變少。再者，即使凹軌的深度不同，顫動的變化仍可為大約相同。 　　[0056] 圖10係圖示了，將凸軌/凹軌記錄之光記錄媒體1利用同步檢波偵測而進行再生時的模擬結果。如圖10A所示，設置有反射鏡47，來自光記錄媒體1的反射光(訊號光)與反射鏡47的反射光(參考光)係透過透鏡45而被供給至光偵測部46。 　　[0057] 使用圖10A所示的光學系時的模擬之結果，示於圖10B。模擬的計算條件，係和圖9B相同。圖10B所示的圖形，係針對(Mrr(意味著反射鏡，d＝0)、 (d＝0.1λ)、(d＝0.125λ＝λ/8)、(d＝0.15λ)、(d＝0.175λ))之每一者，表示顫動之值對Tp之變化。 　　[0058] 例如在(Tp＝0.15)時，相較於反射鏡，可使顫動變少。然而，隨著深度d之值，顫動之值的變化係有參差。亦即，在(d＝0.125λ＝λ/8)時，可大幅改善顫動，相對於此，在(d＝0.175λ)時，顫動係為過大。甚至，在(d＝0.1λ)及(d＝0.15λ)時的顫動之值，係難謂十分良好。令d＝λ/8的情況下，在凹軌的再生訊號與凸軌的再生訊號之間可使其產生90°的相位差，因此可使串音減少，可使顫動變得良好。 　　[0059] 如上述，只有在特定的凹軌之深度d的情況下，才能獲得良好的再生性能，這在光記錄媒體1之設計上，產生了限制。而且，d＝λ/8之值，係為比較大的值，在凹軌間的凸軌中記錄記號的層面上，難謂理想。再者，在d較大的情況下，在光碟成型時要使落差的壁的面沒有傾斜，而被漂亮地形成，是有困難的。。因此，d之值不被限定成(λ/8)，較為理想。 　　[0060] ＜2.關於同步檢波偵測方法之另一例＞ 　　為了改良這點，使用和圖5相同的再生光學系，並使用和圖6所示相同的再生訊號生成電路。從圖5的光偵測部24～27之每一者所輸出的受光訊號I～L所形成的差分訊號係被供給至如圖11所示之構成的再生訊號生成電路。 　　[0061] 再生訊號生成電路，係由減算器31a及31b、和演算電路40所成。對減算器31a，係供給受光訊號I及J，減算器31a係產生(a＝I-J)的差分訊號a，演算電路31b係產生(b＝K-L)的差分訊號b。減算器31a的差分訊號a及減算器31b的差分訊號b係被供給至演算電路40。 　　[0062] 演算電路40係具有：延遲電路33a及33b、乘算電路34a及34b、低通濾波器35a及35b、偏置(Ψ)設定電路39a及39b、以及減算器50。延遲電路33a係具有，相等於低通濾波器35a及偏置(Ψ)設定電路39a中所產生之延遲量的延遲時間。延遲電路33b係具有，相等於低通濾波器35b及偏置(Ψ)設定電路39b中所產生之延遲量的延遲時間。乘算電路34a之輸出及乘算電路34b之輸出係被供給至減算器50。在減算器50之輸出中，再生訊號會被取出。 　　[0063] 偏置(Ψ)設定電路39a及39b，係如以下所說明，相當於串音成分與訊號光之平均相位之相位差的值(Ψ)，是由使用者來推定而設置的固定值。例如凹軌G與凸軌L之落差，亦即，深度d所相應的相位之偏置，會被設定。再生對象之光記錄媒體1的深度d之值，係為預先已知，因此可設定偏置Ψ。 　　[0064] 在上述的同步檢波方式的另一例中，如以下所說明，不受光記錄媒體1之面振等所致之參考光之相位偏誤(θ(t))之成分之影響，而且，可獲得軌跡間串音已被去除的再生訊號。如參照圖3及圖4所說明，在凸軌/凹軌記錄方法中，若軌距變窄，則會從相鄰軌跡產生串音。如圖4所示，將凹軌進行再生時，不只有凹軌的再生訊號f(t)，就連相鄰的凸軌的再生訊號g(t)也會混入。若令凹軌的再生訊號之相位φ＝0，則凸軌的相位Ψ＝4πnd/λ(λ係為波長，n係為光記錄媒體1的基板之折射率)。 　　[0065] 使用圖5所示的再生光學系而求出受光訊號I～L。和上述的數式同樣地，式中的各項之意義係如下記所示。 　　R：參考光成分 　　A：光記錄媒體的記錄面上所被形成的反射鏡面(凸軌部分)之反射成分 　　f：隨應於記錄記號之有/無的調變成分(取正負值) 　　g：來自相鄰軌跡的串音成分 　　t：取樣時間 　　φ：所欲讀取的記號與訊號光之平均相位之相位差。由使用者所推定而設置的值。 　　θ：訊號光與參考光之光路長差(主要起因於光記錄媒體1的面振而發生) 　　Ψ：串音成分與訊號光之平均相位之相位差。由使用者所推定而設置的值。 　　[0066] 【數8】
Figure 02_image015
【數9】
Figure 02_image017
【數10】
Figure 02_image019
【數11】
Figure 02_image021
[0067] 然後，使用圖11所示的再生訊號生成電路進行演算。減算器31a之差分訊號a(＝I-J)及減算器31b之差分訊號b(＝K-L)，係表示成以下的式子。 　　[0068] 【數12】
Figure 02_image023
【數13】
Figure 02_image025
[0069] 如上述，藉由低通濾波器35a及35b，求出cosθ(t)及sinθ(t)。亦即，於數式(12)及數式(13)中，f係為相應於記錄記號之有/無的調變成分(取正負值)，g為來自相鄰軌跡的串音成分，因此可想成函數f及g所被乘算的項係消失，留下sinθ及cosθ的項。由於(tanθ＝sinθ/cosθ)，因此藉由(arctanθ＝θ)而求出θ，藉由偏置(Ψ)設定電路39a及39b而設定Ψ(偏置)，於乘算電路34a中，將(sin(Ψ-θ(t))乘算至a，於乘算電路34b中，將(cos(Ψ-θ(t))乘算至b。然後，藉由減算器50，將這些乘算輸出予以合成。從減算器50所得的再生訊號，係為以下的式子所示。 　　[0070] 【數14】
Figure 02_image027
[0071] 如式(14)所示，在再生訊號中，θ(t)之成分係會消失，而成為穩定的訊號。除此以外，在再生訊號中，不含相鄰軌跡的再生訊號成分g(t)，軌跡間串音係被去除。 　　[0072] 使用和圖10A所示的光學系相同的光學系時的模擬之結果，示於圖12。模擬的計算條件，係和圖9B及圖10B相同。圖12所示的圖形，係針對(Mrr(意味著反射鏡，d＝0)、(d＝0.1λ)、(d＝0.125λ＝λ/8)、(d＝0.15λ)、 (d＝0.175λ))之每一者，表示顫動之值對Tp之變化。 　　[0073] 由圖12的圖形可知，關於反射鏡以外的所有d之值，可減少顫動。上述的圖10B的情況下，只有在 (d＝0.125λ＝λ/8)時，可大幅改善顫動，相對於此，在同步檢波方式的另一例中，即使d為其他值的情況下，仍可同樣地大幅改善顫動。 　　[0074] ＜3.第1實施形態＞ 　　本技術的第1實施形態之概要，係如圖13所示，將訊號光與參考光所重合而成的光束的剖面以光分割元件28分割成複數例如3個領域，獲得各領域所對應之複數通道的再生訊號。藉由光分割元件28進行分割之際，係可以使用例如，在通過接物透鏡，而抵達光偵測器的光路中，配置將複數領域予以分離所需之光路轉換元件，將已被光路轉換元件所分離的複數射束，以不同的光偵測器予以受光的方法。作為光路轉換元件，係可使用全像光學元件等之繞射元件、或微透鏡陣列、微稜鏡等之折射元件等。作為獲得每一領域之再生資訊訊號的方法，係除了藉由光分割元件28進行分割的方法以外，也還可使用藉由將光偵測部的光偵測器予以分割以使光偵測器帶有光分割元件之機能的方法。 　　[0075] 光瞳分割，係在正切方向及/或徑向方向上被進行。例如如圖14所示，將光瞳在正切方向上分割成3個領域A、B、C。3分割之比率，係被設成例如(4：3：4)。藉由光瞳分割之光分割元件28而被分離的3個領域所對應之訊號(適宜稱作通道1之訊號、通道2之訊號及通道3之訊號)，係含有不同的頻率成分。亦即，中央之領域B所對應的通道2之訊號，係含有較多的低頻頻率成分，兩側之領域A及C之每一者所對應的通道1之訊號及通道3之訊號，係含有較多的高頻頻率成分。3個再生訊號係分別被供給至同步檢波方式的訊號處理部29a、29b、29c。訊號處理部29a、29b、29c中係分別設有適應等化器電路。訊號處理部29a、29b、29c之輸出係於加算電路30中進行合算而可獲得去除了例如起因於碟片表面之微小的凹凸的相位變動成分的再生訊號。 　　[0076] 「光學系之構成」 　　參照圖15說明本技術的第1實施形態的光學構成。其係和上述的圖5所示之相位分集方式中所使用的光學系之構成為相同之構成，對應的部分係標示同一元件符號。此外，再生光之光路係以實線表示，參考光之光路係以虛線表示。 　　[0077] 光記錄媒體1，係一旦被裝填至再生裝置，就藉由轉軸馬達而被旋轉驅動。光學系中係設有，作為再生所需之雷射光源的雷射(半導體雷射)60。由雷射60所射出的雷射光，係透過偏光分束器13、1/4波長板14、接物透鏡15而以聚光在光記錄媒體1的記錄層3的方式，進行照射。 　　[0078] 來自記錄層3的反射光(返路光)，係透過接物透鏡15及1/4波長板14後，入射至偏光分束器13。入射至偏光分束器13的反射光，係藉由1/4波長板14之作用與記錄層3中的反射時之作用，其偏光方向會變成，相對於從雷射60側入射並穿透過該偏光分束器13的光(往路光)的偏光方向，為90°不同。亦即，反射光係以S偏光而入射至偏光分束器43。因此，身為返路光的反射光係在偏光分束器13中被反射。 　　[0079] 來自雷射60的雷射光入射至偏光分束器13時，其一部分例如1/2之光量會被反射，透過1/4波長板17及透鏡61而入射至反射鏡18。已被反射鏡18所反射的成分係通過透鏡61及1/4波長板17而對偏光分束器13作為參考光而入射。上述的返路光與參考光之重合光係被入射至，作為光分割元件的全像光學元件100。 　　[0080] 藉由全像光學元件100，來自偏光分束器13的重合光，係在光碟1的正切方向上被分割成含有頻帶不同之訊號的複數例如3個領域。來自全像光學元件100的光係入射至半分束器19。半分束器19，係將入射光以大約1：1之比率而分割成反射光與穿透光。 　　[0081] 穿透過半分束器19的返路光與參考光之重合光，係透過1/2波長板20而被入射至偏光分束器21。另一方面，被半分束器19所反射的返路光與參考光之重合光，係被反射鏡62所反射然後透過1/4波長板22而入射至偏光分束器23。 　　[0082] 1/2波長板20及1/4波長板22，係被設成可使偏光面做旋轉。因此，藉由組合1/2波長板20與偏光分束器21，就可調整被偏光分束器21所分歧的光量的比。同樣地，藉由1/4波長板22，就可調整被偏光分束器23所分歧的光量的比。 　　[0083] 被偏光分束器21及23所分別分歧的光之光量係被設成大約1：1。穿透過偏光分束器21的光係透過透鏡而分別入射至作為光偵測部的光偵測器PD11 、PD12 、PD13 。又，被偏光分束器21所反射的光係透過反射鏡28而分別入射至光偵測器PD21 、PD22 、PD23 。穿透過偏光分束器23的光係透過透鏡而分別入射至光偵測器PD31 、PD32 、PD33 。又，被偏光分束器23所反射的光係透過反射鏡29而分別入射至光偵測器PD41 、PD42 、PD43 。 　　[0084] 若與圖5所示的光學系做對應，則從光偵測器PD11 、PD12 、PD13 所被輸出之3個受光訊號係成為J1 ～J3 ，從光偵測器PD21 、PD22 、PD23 所被輸出之3個受光訊號係成為I1 ～I3 ，從光偵測器PD31 、PD32 、PD33 所被輸出之3個受光訊號係成為K1 ～K3 ，從光偵測器PD41 、PD42 、PD43 所被輸出之3個受光訊號係成為L1 ～L3 。 　　[0085] 「電性構成」 　　這些受光訊號所被供給的再生訊號處理電路之全體構成，示於圖16。受光訊號L1 、J1 、K1 、L1 係被供給至前處理電路101，受光訊號L2 、J2 、K2 、L1 係被供給至前處理電路102，受光訊號L3 、J3 、K3 、L3 係被供給至前處理電路103。前處理電路101、102及103之每一者，係進行差動演算與偵測相位旋轉演算與偵測相位偏置之處理。對前處理電路101、102及103係共通地供給著抽出相位(θ)71。為了獲得抽出相位71，關於來自光偵測器PD11 ～PD43 的電性訊號，形成(I＝I1 ＋I2 ＋I3 )的加算訊號、(J＝J1 ＋J2 ＋J3 )的加算訊號、K(＝K1 ＋K2 ＋K3 )的加算訊號、以及 L(＝L1 ＋L2 ＋L3 )的加算訊號。然後，形成差分訊號 a(＝I-J)及差分訊號b(＝K-L)，使用低通濾波器，將低通濾波器之輸出加以演算，可使用如此構成。 　　[0086] 前處理電路101所輸出的差分訊號a’1 及b’1 、前處理電路102所輸出的差分訊號a’2 及b’2 、前處理電路103所輸出的差分訊號a’3 及b’3 、係對後處理電路104做供給。後處理電路104，係也還進行內插及適應等化器之處理。後處理電路104之輸出係被供給至維特比偵測器105，從維特比偵測器105可獲得再生資料。 　　[0087] 本技術的第1實施形態中的前處理電路101～103，係具有彼此相同的構成(參照圖17)。亦即，使用抽出相位來控制變動(擾動主因)所致之訊號品質降低。對差分訊號a及b，使用抽出相位實施演算。其結果為，可將下記的式(15)及數式(16)所表示的訊號a’及b’予以獨立讀出。 　　[0088] 【數15】
Figure 02_image029
[0089] 【數16】
Figure 02_image031
[0090] 如圖17所示，受光訊號Ii (i＝1、2、或3)及Ji 係對減算器31a做供給，受光訊號Ki 及Li 係對減算器31b做供給。減算器31a係產生(ai ＝Ii -Ji )的差分訊號ai ，減算器31b係產生(bi ＝Ki -Li )的差分訊號bi 。 　　[0091] 偏置設定電路72及73係被設置，分別輸出對應於再生對象之光碟而被設定的偏置φ及Ψ。如上述，φ係為所欲讀取的記號與訊號光之平均相位之相位差，Ψ係為串音成分與訊號光之平均相位之相位差。這些偏置，係由使用者所推定而設置的值。 　　[0092] 抽出相位71之輸出及偏置設定電路72之輸出係被供給至減算器74，從減算器74獲得(Ψ-θ)之相位。訊號產生電路76及77，係分別產生與(Ψ-θ)之相位同步的正弦波及餘弦波。差分訊號ai 與來自訊號產生電路76的正弦波係被供給至乘算電路78，乘算電路78之輸出訊號係被供給至減算器80。差分訊號bi 與來自訊號產生電路77的餘弦波係被供給至乘算電路79，乘算電路79之輸出訊號係被供給至減算器80。在減算器80之輸出中，式(15)所示的差分訊號a’i 係被取出。 　　[0093] 抽出相位71之輸出及偏置設定電路73之輸出係被供給至減算器75，從減算器75獲得(φ-θ)之相位。訊號產生電路81及82，係分別產生與(φ-θ)之相位同步的正弦波及餘弦波。差分訊號a與來自訊號產生電路81的正弦波係被供給至乘算電路83，乘算電路83之輸出訊號係被供給至減算器85。差分訊號b與來自訊號產生電路82的餘弦波係被供給至乘算電路84，乘算電路84之輸出訊號係被供給至減算器85。在減算器85之輸出中，式(16)所示的差分訊號b’i 係被取出。 　　[0094] 差分訊號a’i 及b’i 係對圖18所示的後處理電路做供給。後處理電路104係含有：後處理電路1041 、後處理電路1042 及後處理電路1043 。後處理電路1041 、後處理電路1042 及後處理電路1043 之輸出訊號，係對加算器95做供給。這些後處理電路，係彼此具有相同構成，因此於圖18中係只表示後處理電路1041 的具體構成。 　　[0095] 差分訊號a’1 及b’1 係對內插電路91a及91b做供給。對內插電路91a及91b，係被供給著相位誤差偵測電路92之輸出。內插電路91a及91b係被設計成例如PLL(Phase Locked Loop)電路之構成，為了補正相位誤差而被設置。內插電路91a及91b的輸出訊號係對適應等化器93a及93b做供給。適應等化器91a及91b，係被設計成例如FIR(Finite Impulse Response)濾波器之構成，FIR濾波器的抽頭係數係被振幅誤差偵測電路94之輸出所控制。適應等化器93a，係根據差分訊號a’1 而進行PR(Partial Response)適應等化處理。適應等化器93b，係根據差分訊號b’1 而進行PR適應等化處理。 　　[0096] 適應等化器93a之輸出訊號ya與適應等化器93b之輸出訊號yb係被供給至加算器95。加算器95之輸出訊號yc(＝ya＋yb)係被輸入至維特比偵測器105。維特比偵測器105，係對已被PR等化的等化訊號yc進行最大似然解碼處理而獲得2值化資料(RF訊號)。係被構成為，使用以所定之長度的連續位元為單位而被構成的複數狀態、和藉由它們之間的遷移而被表示的分枝所構成的維特比偵測器，從所有可能的位元序列之中，可高效率地偵測出所望之位元序列。 　　[0097] 在實際的電路中，係準備了：對各狀態而將抵達一種稱為路徑度量暫存器之該狀態為止的部分響應序列與訊號之路徑度量加以記憶的暫存器、將抵達一種稱為路徑記憶體暫存器之該狀態為止的位元序列的流程加以記憶的暫存器這2個暫存器。然後還準備了，對各分枝而計算一種稱為分枝度量單元之該位元上的部分響應序列與訊號之路徑度量的演算單元。 　　[0098] 在該維特比偵測器105中，係將各式各樣的位元序列，藉由通過狀態之路徑的一者，而以一對一之關係建立對應。又，似乎會通過這些路徑的部分響應序列、與實際的訊號(RF訊號)之間的路徑度量，係將構成上記路徑的狀態間遷移，亦即，分枝中的前述之分枝度量，予以依序加算而獲得。 　　[0099] 然後，在選擇會使路徑度量呈最小的路徑時，一面比較在該各狀態下抵達的2個以下之分枝所擁有的路徑度量之大小，一面依序選擇路徑度量較小之路徑，藉此而可實現之。藉由將該選擇資訊傳輸至路徑記憶體暫存器，將抵達各狀態的路徑以位元序列加以表現的資訊，就被記憶。路徑記憶體暫存器之值，係一面被依序更新而一面最終會收斂於使路徑度量呈最小的位元序列，因此將該結果予以輸出。 　　[0100] 再者，在維特比偵測器105中所被設置的PR(Partial Response)摺積器中，進行維特比偵測之結果的摺積處理而生成目標訊號Zk。此目標訊號Zk，係由於是將2值偵測結果進行摺積而成，因此是沒有雜訊的理想訊號。例如在PR(1, 2, 2, 2, 1)的情況下，每一通道時脈的脈衝響應係為(1, 2, 2, 2, 1)。限制長度度係為5。然後，在PR(1, 2, 3, 3, 3, 2, 1)的情況下，每一通道時脈的脈衝響應係為(1, 2, 3, 3, 3, 2, 1)。 　　[0101] 然後，從來自加算器95的等化訊號yc、與目標訊號Zk，於相位誤差偵測電路92及振幅誤差偵測電路94中分別求出相位誤差及等化誤差。以使得等化誤差之平方呈最小的方式，適應性地決定構成適應等化器93a、93b的FIR濾波器之每一者的抽頭係數。 　　[0102] 構成適應等化器93a、93b的FIR濾波器之一例，示於圖19。適應等化器93a係為具有：延遲元件110-1～110-n、係數乘算器111-0～111-n、加算器64的具有n＋1段之抽頭的濾波器。係數乘算器111-0～111-n，係分別對各時點之輸入x，進行抽頭係數C0～Cn之乘算。係數乘算器111-0～111-n之輸出係在加算器64中被加算而被當成輸出ya而取出。抽頭係數，係預先被設定為初期值。 　　[0103] 為了進行適應型之等化處理，抽頭係數C0～Cn之控制係被進行。為此而設置有，將等化誤差et、和各抽頭輸入予以輸入而進行演算的演算器112-0～112-n。又設置有，將各演算器112-0～112-n之輸出進行積分的積分器113-0～113-n。在演算器112-0～112-n之每一者中係進行例如-1＊et＊x之演算。＊係意味著乘算。該演算器112-0～112-n之輸出係在積分器113-0～113-n中被積分，藉由該積分結果，而將係數乘算器111-0～111-n的抽頭係數C0～Cn加以變更控制。此外，進行積分器113-0～113-n之積分的理由是，為了調整係適應係數控制的響應性。 　　[0104] 「第1實施形態的效果」 　　若依據所述之第1實施形態，則可以將起因於碟片表面之微小凹凸等而產生的變動主因所致之相位偏誤加以補正，可期待訊號yb會接近於來自凸軌的串音成分，可期待訊號yc會接近於去除了串音成分的凹軌之訊號。如此一來，可期待藉由適應等化而使訊號品質變得較為良好。 　　[0105] 說明關於本技術的一實施形態進行模擬之一例的結果(圖20)。模擬條件係如以下所示。 　　碟片容量：33.4GB 　　Tp＝0.32μm(凹軌及凹軌間之軌距) 　　溝深度：λ/8 　　記號反射率：0.3(無相位) 　　凹軌孤立記錄(凸軌中不記錄)、凹軌再生之例子 　　評價指標：MLSE 　　[0106] MLSE(Maximum Liklihood Sequence Error)，係使用相對於使用已被維特比偵測之資料而被設定的目標位準的實際訊號之位準的差，計算對應於錯誤機率的指標而成。MLSE之值越小表示越為良好的再生。 　　[0107] 圖20係表示模擬結果的圖形。橫軸係表示碟片凹凸之標準差，縱軸係表示MLSE。於圖20中，特性161係表示先前的同步檢波偵測法時的MLSE之值，特性162係表示本技術的第1實施形態的MLSE之值。又，特性163係表示先前的BD(Blu-ray Disc：註冊商標)之情況，特性164係表示先前的BD(Blu-ray Disc：註冊商標)中和本技術同樣地，在再生光之光路中插入全像光學元件而藉由適應等化器進行了處理的情況。 　　[0108] 在先前的BD(Blu-ray Disc：註冊商標)中，不受碟片表面之凹凸所致的相位變動之影響，相對於此，在同步檢波偵測法中，會受到相位變動之影響而降低再生訊號之品質。然而，若依據本技術的第1實施形態，則可較為減少所述的相位變動之影響。 　　[0109] 說明關於本技術的一實施形態進行模擬之另一例的結果(圖21)。模擬條件係如以下所示。 　　碟片容量：35GB 　　Tp＝0.16μm(凸軌及凹軌間之軌距) 　　溝深度：λ/8 　　記號反射率：0.3(無記號相位) 　　凹軌再生之例子 　　評價指標：MLSE 　　[0110] 圖21係將先前的同步檢波偵測法(有相位變動，對凸軌及凹軌做記錄時)的MLSE之值，與本技術的第1實施形態(有相位變動，對凸軌及凹軌做記錄時)的MLSE之值，與先前的同步檢波偵測法(無相位變動，只對凸軌做記錄(孤立記錄)，將凹軌進行再生時)的MLSE之值，加以比較而表示。由圖21可知，可將相位變動所致之訊號品質劣化，改善到與先前的同步檢波偵測法(無相位變動，只對凹軌記錄(孤立記錄))相同程度。 　　[0111] 「第1實施形態的變形例1」 　　在上述的說明中，係將被碟片1的記錄層3所反射的返回光之光瞳在正切方向上做分割，但亦可如圖22所示，在徑向方向上將光瞳做分割。例如，將光瞳在徑向方向上分割成3個領域A、B、C。3分割之比率，係被設成例如(4：3：4)。使用在徑向方向上將光瞳做2分割的全像光學元件來進行與第1實施形態相同之處理時的模擬結果，示於圖23。 　　[0112] 模擬條件係如以下所示。 　　碟片容量：35GB 　　Tp＝0.16μm(凸軌及凹軌間之軌距) 　　溝深度：λ/8 　　記號反射率：0.3(無記號相位) 　　凹軌再生之例子 　　評價指標：e-MLSE 　　[0113] 圖23係將先前的同步檢波偵測法的e-MLSE之值、與和本技術的第1實施形態同樣地，在正切方向上進行光瞳分割(tan分割)時的e-MLSE之值、與在徑向方向上做光瞳分割(rad分割)時的e-MLSE之值，加以比較而表示。由圖23可知，即使在徑向方向上進行了光瞳分割的情況下，仍可比先前的同步檢波偵測法更為良好地進行訊號再生。 　　[0114] 「第1實施形態的變形例2」 　　亦可取代第1實施形態光學系(參照圖15)中的偏光分束器21、23及反射鏡28、29，改成如圖24所示般地使用沃拉斯吞稜鏡115及116。藉由沃拉斯吞稜鏡115及116而可分別獲得已被賦予相位差的光。沃拉斯吞稜鏡115及116之輸出光係分別被光偵測器PD11 ～PD43 轉換成電性訊號。然後，藉由和上述相同之訊號處理，而獲得再生訊號。 　　[0115] 「第1實施形態的變形例3」 　　如圖25所示，亦可將全像光學元件100，配置在半分束器19之射出側與1/2波長板20之間。在圖15的構成中，在偏光分束器13與半分束器15之間，配置有全像光學元件100。因此，在圖25的構成中，穿透過半分束器19的重合光之光瞳，係被進行3分割。 　　[0116] 穿透過偏光分束器21的光係被3個光偵測器PD11 、PD12 、P1D3 所受光，被偏光分束器21所反射的光係被3個光偵測器PD21 、PD22 、PD23 所受光。另一方面，穿透過偏光分束器23的光係未被分割，因此被光偵測器PD3所受光；被偏光分束器23所反射的光係未被分割，因此被光偵測器PD4所受光。 　　[0117] 將光偵測器PD11 ～PD23 之每一者的受光訊號進行演算，而獲得3個差動訊號。又，將光偵測器PD3、PD4之受光訊號進行演算，而獲得1個差動訊號。藉由對這些差動訊號實施上述的適應等化器處理，而獲得再生訊號。此時，作為訊號Ki是使用訊號K，作為訊號Li是使用訊號L。 　　[0118] 此外，亦可使用，將反射參考光的反射鏡18藉由致動器而往與參考光之光軸平行的方向做位移的參考光伺服機。例如將從光偵測器PD3及PD4之受光訊號所被形成之差動訊號當作目標值(例如0)而進行伺服。 　　[0119] 「第1實施形態的變形例4」 　　光分割元件亦可將重合光做2分割。如圖26所示，在偏光分束器13與半分束器19之間，配置有全像光學元件200。全像光學元件200，係和上述的全像光學元件100同樣地，在正切方向上具有已被3分割之領域。分割比也和全像光學元件100同樣地，被設成(4：3：4)。 　　[0120] 然後，將中央之領域B中所含之光成分的受光訊號(通道2)視為第1通道，將左右之領域A及C之各自中所含之光成分的受光信号(通道1及通道3)所加算而成之訊號，視為第2通道。此外，已加算之訊號，係亦可將各個光偵測器所受光之訊號予以加算而獲得，亦可藉由共通之光偵測器將領域B及C中所含之光成分予以受光。 　　[0121] 例如從光偵測器PD11 及PD12 係輸出2個受光訊號J1 、J2 ，從光偵測器PD21 及PD22 係輸出2個受光訊號I1 、I2 ，從光偵測器PD31 及PD32 係輸出2個受光訊號K1 、K2 ，從光偵測器PD41 及PD42 係輸出2個受光訊號L1 、L2 。 　　[0122] 將光偵測器PD11 ～PD42 之每一者的受光訊號進行演算，而獲得4個差動訊號。藉由對這些差動訊號實施上述的適應等化器處理，而獲得再生訊號。 　　[0123] 「第1實施形態的變形例5」 　　如圖27所示，亦可將全像光學元件200，配置在半分束器19之射出側與1/2波長板20之間。因此，在圖27的構成中，穿透過半分束器19的重合光之光瞳，係被進行2分割。 　　[0124] 穿透過偏光分束器21的光係被2個光偵測器PD11 、PD12 所受光，被偏光分束器21所反射的光係被2個光偵測器PD21 、PD22 所受光。另一方面，穿透過偏光分束器23的光係未被分割，因此被光偵測器PD3所受光；被偏光分束器23所反射的光係未被分割，因此被光偵測器PD4所受光。 　　[0125] 將光偵測器PD11 、PD23 之每一者的受光訊號進行演算，而獲得2個差動訊號。又，將光偵測器PD3、PD4之受光訊號進行演算，而獲得1個差動訊號。藉由對這些差動訊號實施上述的適應等化器處理，而獲得再生訊號。 　　[0126] 此外，亦可使用，將反射參考光的反射鏡18藉由致動器而往與參考光之光軸平行的方向做位移的參考光伺服機。例如將從光偵測器PD3及PD4之受光訊號所被形成之差動訊號當作目標值(例如0)而進行伺服。 　　[0127] 圖28係圖示，使用圖27所示的再生光學系，以適應等化器處理形成了再生訊號時的FIR濾波器的抽頭係數之一例。橫軸係表示抽頭位置，縱軸係表示抽頭係數之值。171係為第1通道(＝通道2)的抽頭係數之值所連結成的線，172係為第2通道(＝通道1＋通道3)(左右之領域)的抽頭係數之值所連結成的線。然後，173係表示這些二個抽頭係數之值的加算而成的值。 　　[0128] (通道1＋通道3)的抽頭係數，係呈現低通濾波器之傾向。 　　中央之領域所對應之通道2，係呈現將δ函數及(通道1＋通道3)予以抵銷的傾向。這被認為是，相位變動(雜訊)有被抵銷之意思。 　　抽頭係數的和，係若以平均來看，看起來像是δ函數。因此，可截除較低頻側的相位雜訊，因此相位分離偵測係被良好地進行。 　　[0129] ＜4.第2實施形態＞ 　　第2實施形態，係和第1實施形態同樣地，進行光瞳分割，藉由參考光伺服而將相位變動成分予以去除。圖29係圖示了第2實施形態的再生光學系。亦即，再生光學系，係和第1實施形態相同之構成，已被全像光學元件100所分割的3個重合光，係被光偵測器PD11 ～PD43 所受光。 　　[0130] 圖30係圖示了，將來自光偵測器PD11 ～PD43 的電性訊號加以處理的電性構成。訊號I1 、I2 、I3 係被供給至加算器181，進行(I＝I1 ＋I2 ＋I3 )之加算處理，訊號J1 、J2 、J3 係被供給至加算器182，進行(J＝J1 ＋J2 ＋J3 )之加算處理。同樣地，藉由加算器183而進行K(＝K1 ＋K2 ＋K3 )之加算處理，藉由加算器184而進行L(＝L1 ＋L2 ＋L3 )之加算處理。 　　[0131] 加算器181之輸出I及加算器182之輸出J係被供給至減算器185，獲得差分訊號a(＝I-J)。加算器183之輸出K及加算器184之輸出L係被供給至減算器186，獲得差分訊號b(＝K-L)。差分訊號a及b係被供給至參考光伺服用之相位(θ)抽出電路187。相位(θ)抽出電路187之輸出係被供給至致動器，藉此而使反射鏡18被位移。作為相位(θ)抽出電路187，係使用如上述的低通濾波器，將低通濾波器之輸出加以演算，可使用如此構成。所述的第2實施形態係具有以下特徵：可將壓抑面振等之低頻之相位變動的參考光伺服所需之相位抽出機能，不改變光學系就予以追加之。 　　[0132] 「第2實施形態的變形例」 　　如圖31所示，亦可只將穿透過偏光分束器19的光，以全像光學元件100進行分割。對於被偏光分束器19所反射的光，不進行光瞳分割。因此，藉由8個光偵測器(PD11 、PD12 、…光偵測器PD3、光偵測器PD4)而將光轉換成電性訊號。 　　[0133] 圖32係圖示了，將來自光偵測器PD11 ～PD4的電性訊號加以處理的電性構成。訊號I1 、I2 、I3 係被供給至加算器181，進行(I＝I1 ＋I2 ＋I3 )之加算處理，訊號J1 、J2 、J3 係被供給至加算器182，進行(J＝J1 ＋J2 ＋J3 )之加算處理。 　　[0134] 加算器181之輸出I及加算器182之輸出J係被供給至減算器185，獲得差分訊號a(＝I-J)。訊號K及訊號L係被供給至減算器186，獲得差分訊號b(＝K-L)。差分訊號a及b係被供給至參考光伺服用之相位(θ)抽出電路187。相位(θ)抽出電路187之輸出係被供給至致動器，藉此而使反射鏡18被位移。作為相位(θ)抽出電路187，係使用如上述的低通濾波器，將低通濾波器之輸出加以演算，可使用如此構成。 　　[0135] 此外，於第2實施形態中也是，亦可使用將光瞳做2分割的全像光學元件，亦可使用在徑向方向上將光瞳做分割的全像光學元件。 　　[0136] ＜5.變形例＞ 　　以上雖然具體說明了本技術的實施形態，但並非被上述的各實施形態所限定，基於本技術的技術思想而可做各種變形。例如，雷射光源之波長，係亦可為405nm以外。 　　[0137] 又，上述的實施形態的構成、方法、工程、形狀、材料及數值等，係只要不脫離本技術的主旨，都可以彼此互相組合。 　　[0138] 此外，本技術係亦可採取如以下之構成。 　　(1) 　　一種再生裝置，係具備： 　　光學系，係對在凸軌與凹軌之雙方中都有被記錄訊號的記錄媒體，照射由光源所發出之光而獲得反映出前記凸軌與前記凹軌之記錄訊號之雙方的訊號光，且從前記由光源所發出之光生成參考光，形成將前記訊號光與前記參考光予以重合而成的重合光，藉由光分割元件而將前記重合光之剖面在正切方向及/或徑向方向上分割成複數領域，使用與已分割之領域相對應的複數重合光，分別生成給予了大約0°之相位差的第1訊號光與參考光之配對、給予了大約180°之相位差的第2訊號光與參考光之配對、給予了大約90°之相位差的第3訊號光與參考光之配對、給予了大約270°之相位差的第4訊號光與參考光之配對；和 　　受光部，係將前記第1訊號光與參考光之配對所對應之受光訊號(I)、前記第2訊號光與參考光之配對所對應之受光訊號(J)、前記第3訊號光與參考光之配對所對應之受光訊號(K)、前記第4訊號光與參考光之配對所對應之受光訊號(L)，予以輸出；和 　　再生訊號生成電路，係將前記受光訊號(I)與前記受光訊號(J)之差分也就是差分訊號a、和前記受光訊號(K)與前記受光訊號(L)之差分也就是差分訊號b，進行演算，從前記差分訊號a及b藉由演算而獲得再生訊號。 　　(2) 　　如(1)所記載之再生裝置，其中，若令前記光分割元件之分割數為N，則前記受光部係將分別為N以下之個數的前記受光訊號(I)及前記受光訊號(J)、與分別為N以下之個數的前記受光訊號(K)及前記受光訊號(L)，予以輸出。 　　(3) 　　如(1)所記載之再生裝置，其中，若令前記光分割元件之分割數為N，則關於前記受光訊號(I)及前記受光訊號(J)之配對、與前記受光訊號(K)及前記受光訊號(L)之配對之一方而輸出N以下之個數的訊號。 　　(4) 　　如(1)所記載之再生裝置，其中，前記差分訊號a及前記差分訊號b係分別被供給至適應等化器電路，前記適應等化器電路之輸出係被合成，藉此而形成再生訊號。 　　(5) 　　如請求項4所記載之再生裝置，其中，前記適應等化器電路，係從等化目標訊號與等化訊號求出等化誤差，將該等化誤差，當作適應等化所需之控制訊號而供給。 　　(6) 　　如(1)所記載之再生裝置，其中，對前記差分訊號a及差分訊號b，預先給予相位偏置。 　　(7) 　　如請求項6所記載之再生裝置，其中，前記相位偏置係被設成大約等於(Ψ＝4πnd/λ)(n係為折射率，d係為前記凸軌及凹軌間的落差，λ係為光的波長)。 　　(8) 　　如(1)所記載之再生裝置，其中，前記參考光係藉由，將前記由光源所發出之光藉由反射鏡反射而被生成。 　　(9) 　　一種再生方法，係 　　對在凸軌與凹軌之雙方中都有被記錄訊號的記錄媒體，照射由光源所發出之光而獲得反映出前記凸軌與前記凹軌之記錄訊號之雙方的訊號光，且從前記由光源所發出之光生成參考光，形成將前記訊號光與前記參考光予以重合而成的重合光，藉由光分割元件而將前記重合光之剖面在正切方向及/或徑向方向上分割成複數領域； 　　使用與已分割之領域相對應的複數重合光，分別生成給予了大約0°之相位差的第1訊號光與參考光之配對、給予了大約180°之相位差的第2訊號光與參考光之配對、給予了大約90°之相位差的第3訊號光與參考光之配對、給予了大約270°之相位差的第4訊號光與參考光之配對； 　　藉由受光部，將前記第1訊號光與參考光之配對所對應之受光訊號(I)、前記第2訊號光與參考光之配對所對應之受光訊號(J)、前記第3訊號光與參考光之配對所對應之受光訊號(K)、前記第4訊號光與參考光之配對所對應之受光訊號(L)，予以輸出； 　　藉由再生訊號生成電路，將前記受光訊號(I)與前記受光訊號(J)之差分也就是差分訊號a、和前記受光訊號(K)與前記受光訊號(L)之差分也就是差分訊號b，進行演算，從前記差分訊號a及b藉由演算而獲得再生訊號。
[0139]1‧‧‧光記錄媒體2‧‧‧覆蓋層3‧‧‧記錄層4‧‧‧基板10‧‧‧雷射11‧‧‧準直透鏡12‧‧‧1/2波長板13‧‧‧偏光分束器14‧‧‧1/4波長板15‧‧‧接物透鏡16‧‧‧2軸致動器17‧‧‧1/4波長板18‧‧‧反射鏡19‧‧‧半分束器20‧‧‧1/2波長板21‧‧‧偏光分束器22‧‧‧1/4波長板23‧‧‧偏光分束器24‧‧‧光偵測部25‧‧‧光偵測部26‧‧‧光偵測部27‧‧‧光偵測部28‧‧‧光分割元件29a、29b、29c‧‧‧訊號處理部30‧‧‧加算電路31a、31b‧‧‧減算器32‧‧‧演算電路33a、33b‧‧‧延遲電路34a、34b‧‧‧乘算電路35a、35b‧‧‧低通濾波器36a、36b‧‧‧偏置(φ)設定電路37‧‧‧加算器40‧‧‧演算電路41‧‧‧雷射二極體42‧‧‧透鏡43‧‧‧偏光分束器44‧‧‧接物透鏡45‧‧‧透鏡46‧‧‧光偵測部47‧‧‧反射鏡50‧‧‧減算器60‧‧‧雷射二極體61‧‧‧透鏡62‧‧‧反射鏡71‧‧‧抽出相位72‧‧‧偏置設定電路73‧‧‧偏置設定電路74‧‧‧減算器75‧‧‧減算器76‧‧‧訊號產生電路77‧‧‧訊號產生電路78‧‧‧乘算電路79‧‧‧乘算電路80‧‧‧減算器81‧‧‧訊號產生電路82‧‧‧訊號產生電路83‧‧‧乘算電路84‧‧‧乘算電路85‧‧‧減算器91a、91b‧‧‧內插電路92‧‧‧相位誤差偵測電路93a、93b‧‧‧適應等化器94‧‧‧振幅誤差偵測電路95‧‧‧加算器100、200‧‧‧全像光學元件101‧‧‧前處理電路102‧‧‧前處理電路103‧‧‧前處理電路104、1041、1042、1043‧‧‧後處理電路105‧‧‧維特比偵測器111-0～111-n‧‧‧係數乘算器112-0～112-n‧‧‧演算器113-0～113-n‧‧‧積分器114‧‧‧加算器115‧‧‧沃拉斯吞稜鏡116‧‧‧沃拉斯吞稜鏡181‧‧‧加算器182‧‧‧加算器183‧‧‧加算器184‧‧‧加算器185‧‧‧減算器186‧‧‧減算器187‧‧‧相位(θ)抽出電路TD‧‧‧循軌驅動訊號FD‧‧‧聚焦驅動訊號PD‧‧‧光偵測器Zk‧‧‧目標訊號
[0011] 　　[圖1]身為再生對象的光記錄媒體之剖面結構的說明圖。 　　[圖2]身為再生對象的光記錄媒體的記錄面之結構的說明圖。 　　[圖3]記錄面上所被形成之再生光的光束點與凸軌、凹軌之關係的略線圖。 　　[圖4]光記錄媒體的再生狀態之說明中所使用的略線圖。 　　[圖5]再生裝置中所使用的光學系之構成的略線圖。 　　[圖6]使用相位分集方式的再生裝置的訊號生成系的區塊圖。 　　[圖7]用來說明光記錄媒體之再生狀態的略線圖。 　　[圖8]用來說明相位分集方式的略線圖。 　　[圖9]表示模擬之光學系的略線圖及將凸軌與凹軌之落差設定成互異值時，以模擬而求出軌距與顫動之關係之結果的圖形。 　　[圖10]表示模擬之光學系的略線圖及將凸軌與凹軌之落差設定成互異值時，以模擬而求出軌距與顫動之關係之結果的圖形。 　　[圖11]同步檢波方式的訊號生成系的區塊圖。 　　[圖12]以模擬而求出同步檢波方式的訊號生成系中的軌距與顫動之關係之結果的圖形。 　　[圖13]本技術的第1實施形態的概略說明中所使用的區塊圖。 　　[圖14]光分割元件之一例的略線圖。 　　[圖15]本技術的第1實施形態的光學系之說明中所使用的略線圖。 　　[圖16]本技術的第1實施形態的電性系之說明中所使用的區塊圖。 　　[圖17]本技術的第1實施形態中的前處理電路之說明中所使用的區塊圖。 　　[圖18]本技術的第1實施形態中的後處理電路之說明中所使用的區塊圖。 　　[圖19]FIR濾波器之一例的區塊圖。 　　[圖20]表示模擬結果的圖形。 　　[圖21]表示模擬結果的圖形。 　　[圖22]光分割元件之另一例之說明中所使用的略線圖。 　　[圖23]表示模擬結果的圖形。 　　[圖24]第1實施形態的變形例的光學系之說明中所使用的略線圖。 　　[圖25]第1實施形態的變形例的光學系之說明中所使用的略線圖。 　　[圖26]第1實施形態的變形例的光學系之說明中所使用的略線圖。 　　[圖27]第1實施形態的變形例的光學系之說明中所使用的略線圖。 　　[圖28]第1實施形態的FIR濾波器的抽頭係數之一例的圖形。 　　[圖29]本技術的第2實施形態的光學系之說明中所使用的略線圖。 　　[圖30]本技術的第2實施形態的電性系之說明中所使用的區塊圖。 　　[圖31]第2實施形態的變形例的光學系之說明中所使用的略線圖。 　　[圖32]第2實施形態的變形例的電性系之說明中所使用的區塊圖。
1‧‧‧光記錄媒體
13‧‧‧偏光分束器
14‧‧‧1/4波長板
15‧‧‧接物透鏡
17‧‧‧1/4波長板
18‧‧‧反射鏡
19‧‧‧半分束器
20‧‧‧1/2波長板
21‧‧‧偏光分束器
22‧‧‧1/4波長板
23‧‧‧偏光分束器
28‧‧‧反射鏡
29‧‧‧反射鏡
60‧‧‧雷射二極體
61‧‧‧透鏡
62‧‧‧反射鏡
100‧‧‧全像光學元件
PD11~PD43‧‧‧光偵測器

Claims (9)

  1. 一種再生裝置，係具備：光學系，係對在凸軌與凹軌之雙方中都有被記錄訊號的記錄媒體，照射由光源所發出之光而獲得反映出前記凸軌與前記凹軌之記錄訊號之雙方的訊號光，且從前記由光源所發出之光生成參考光，形成將前記訊號光與前記參考光予以重合而成的重合光，藉由光分割元件而將前記重合光之剖面在正切方向及/或徑向方向上分割成複數領域，使用與已分割之領域相對應的複數重合光，分別生成給予了大約0°之相位差的第1訊號光與參考光之配對、給予了大約180°之相位差的第2訊號光與參考光之配對、給予了大約90°之相位差的第3訊號光與參考光之配對、給予了大約270°之相位差的第4訊號光與參考光之配對；和受光部，係將前記第1訊號光與參考光之配對所對應之受光訊號(I)、前記第2訊號光與參考光之配對所對應之受光訊號(J)、前記第3訊號光與參考光之配對所對應之受光訊號(K)、前記第4訊號光與參考光之配對所對應之受光訊號(L)，予以輸出；和再生訊號生成電路，係將前記受光訊號(I)與前記受光訊號(J)之差分也就是差分訊號a、和前記受光訊號(K)與前記受光訊號(L)之差分也就是差分訊號b，進行演算，從前記差分訊號a及b藉由演算而獲得前記已分割之複數領域之每一者所對應之複數再生訊號； 前記複數再生訊號係含有不同的頻率成分。
  2. 如請求項1所記載之再生裝置，其中，若令前記光分割元件之分割數為N，則前記受光部係將分別為N以下之個數的前記受光訊號(I)及前記受光訊號(J)、與分別為N以下之個數的前記受光訊號(K)及前記受光訊號(L)，予以輸出。
  3. 如請求項1所記載之再生裝置，其中，若令前記光分割元件之分割數為N，則關於前記受光訊號(I)及前記受光訊號(J)之配對、與前記受光訊號(K)及前記受光訊號(L)之配對之一方而輸出N以下之個數的訊號。
  4. 如請求項1所記載之再生裝置，其中，前記差分訊號a及前記差分訊號b係分別被供給至適應等化器電路，前記適應等化器電路之輸出係被合成，藉此而形成再生訊號。
  5. 如請求項4所記載之再生裝置，其中，前記適應等化器電路，係從等化目標訊號與等化訊號求出等化誤差，將該等化誤差，當作適應等化所需之控制訊號而供給。
  6. 如請求項1所記載之再生裝置，其中，對前記差分訊號a及差分訊號b，預先給予相位偏置。
  7. 如請求項6所記載之再生裝置，其中，前記相位偏置係被設成大約等於(Ψ=4πnd/λ)(n係為折射率，d係為前記凸軌及凹軌間的落差，λ係為光的波長)。
  8. 如請求項1所記載之再生裝置，其中，前記參考光係藉由，將前記由光源所發出之光藉由反射鏡反射而被生成。
  9. 一種再生方法，係對在凸軌與凹軌之雙方中都有被記錄訊號的記錄媒體，照射由光源所發出之光而獲得反映出前記凸軌與前記凹軌之記錄訊號之雙方的訊號光，且從前記由光源所發出之光生成參考光，形成將前記訊號光與前記參考光予以重合而成的重合光，藉由光分割元件而將前記重合光之剖面在正切方向及/或徑向方向上分割成複數領域；使用與已分割之領域相對應的複數重合光，分別生成給予了大約0°之相位差的第1訊號光與參考光之配對、給予了大約180°之相位差的第2訊號光與參考光之配對、給予了大約90°之相位差的第3訊號光與參考光之配對、給予了大約270°之相位差的第4訊號光與參考光之配對；藉由受光部，將前記第1訊號光與參考光之配對所對應之受光訊號(I)、前記第2訊號光與參考光之配對所對應之受光訊號(J)、前記第3訊號光與參考光之配對所對應之受光訊號(K)、前記第4訊號光與參考光之配對所對應之受 光訊號(L)，予以輸出；藉由再生訊號生成電路，將前記受光訊號(I)與前記受光訊號(J)之差分也就是差分訊號a、和前記受光訊號(K)與前記受光訊號(L)之差分也就是差分訊號b，進行演算，從前記差分訊號a及b藉由演算而獲得前記已分割之複數領域之每一者所對應之複數再生訊號；前記複數再生訊號係含有不同的頻率成分。
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