TWI756322B - 中央處理單元插槽的複數電源與接地腳位導通檢測系統及其方法 - Google Patents
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Abstract
一種中央處理單元插槽的複數電源與接地腳位導通檢測系統及其方法，檢測電路板的針腳組插設於中央處理單元插槽，將檢測電路板的針腳組對應於中央處理單元插槽的腳位進行劃分，劃分後的區域包含一個電源腳位/針腳以及多個接地腳位/針腳，或是包含一個接地腳位/針腳以及多個電源腳位/針腳，以透過電阻分壓電路連接到類比數位轉換器以進行電源腳位/針腳以及接地腳位/針腳的導通檢測，藉此可以達成提供大量電源腳位以及接地腳位檢測便利性的技術功效。
Description
一種檢測系統及其方法，尤其是指一種透過電阻分壓電路進行中央處理單元插槽中複數電源與接地腳位導通檢測的檢測系統及其方法。
對於電源腳位以及接地腳位的測試，現有技術是透過在檢測電路板上設計下拉電阻(Pull-down resistor)電路以及上拉電阻(Pull-up resistor)電路分別與電源腳位以及接地腳位相連，然後使用檢測電路板上的輸入輸出針腳讀取輸入輸出針腳的狀態。
對於接地腳位的檢測，使用上拉電阻電路進行檢測，當接地腳位斷路時，檢測電路板會檢測到高電位訊號，即接地腳位斷路故障；對於電源腳位的檢測，使用下拉電阻電路進行檢測，當電源腳位斷路時，檢測電路板會檢測到低電位訊號，即電源腳位斷路故障。
使用下拉電阻電路以及上拉電阻電路檢測對於電源腳位以及接地腳位的檢測方式在電源腳位以及接地腳位數量不多的情況下是不會產生問
題，但是當電源腳位的電壓值小於1V時，採用下拉電阻電路的檢測方式將無法正確的檢測，需要採用類比數位轉換器進行檢測。
然而當電源腳位以及接地腳位數量眾多時(例如：中央處理單元插槽具有數量眾多的電源腳位以及接地腳位)，將會需要使用符合數量的輸入輸出針腳以及類比數位轉換器，單純使用下拉電阻電路、上拉電阻電路以及類比數位轉換器進行檢測，將需要數量眾多的元件才能實現，檢測電路板也會占用過多的空間不便檢測。
綜上所述，可知先前技術中長期以來一直存在對於大量電源腳位以及接地腳位檢測不便的問題，因此有必要提出改進的技術手段，來解決此一問題。
有鑒於先前技術存在對於大量電源腳位以及接地腳位檢測不便的問題，本發明遂揭露一種中央處理單元插槽的複數電源與接地腳位導通檢測系統及其方法，其中：本發明所揭露的中央處理單元插槽的複數電源與接地腳位導通檢測系統，其包含：中央處理單元插槽以及檢測電路板，檢測電路板更包含：針腳組以及多個類比數位轉換器。
中央處理單元插槽設置於主機板上，中央處理單元插槽分為多個待測區域，待測區域包含一個電源腳位以及多個接地腳位，或是待測區域包含一個接地腳位以及多個電源腳位。
檢測電路板的針腳組是插設於中央處理單元插槽以進行中央處理單元插槽的檢測，檢測電路板的針腳組分為多個檢測區域，檢測區域與待測區域一一對應，檢測區域包含一個電源針腳以及多個接地針腳，或是檢測區域包含一個接地針腳以及多個電源針腳。
檢測電路板的每一個類比數位轉換器與一個檢測區域對應，檢測電路板的類比數位轉換器是當檢測區域為一個電源腳位以及多個接地腳位時，電源針腳透過電源電阻連接到類比數位轉換器的類比數位轉換腳位，每一個接地針腳透過不同電導值的接地電阻連接到類比數位轉換器的類比數位轉換腳位，透過類比數位轉換器的類比數位轉換腳位所讀取到的電壓值以對對應的待測區域的一個電源腳位以及多個接地腳位進行導通檢測。
檢測電路板的每一個類比數位轉換器與一個檢測區域對應，檢測電路板的類比數位轉換器是當檢測區域為一個接地腳位以及多個電源腳位時，接地針腳透過接地電阻連接到類比數位轉換器的類比數位轉換腳位，每一個電源針腳透過不同電導值的電源電阻連接到類比數位轉換器的類比數位轉換腳位，透過類比數位轉換器的類比數位轉換腳位所讀取到的電壓值以對對應的待測區域的一個接地腳位以及多個電源腳位進行導通檢測。
本發明所揭露的中央處理單元插槽的複數電源與接地腳位導通檢測方法，其包含下列步驟：首先，提供中央處理單元插槽，中央處理單元插槽設置於主機板上，中央處理單元插槽分為多個待測區域，待測區域包含一個電源腳位以及多個接地腳位，或是待測區域包含一個接地腳位以及多個電源腳位；接著，提供檢測電路板，檢測電路板更包含針腳組以及多個類比數位轉換器：接著，針腳
組是插設於中央處理單元插槽以進行中央處理單元插槽的檢測，針腳組分為多個檢測區域，檢測區域與待測區域一一對應，檢測區域包含一個電源針腳以及多個接地針腳，或是檢測區域包含一個接地針腳以及多個電源針腳；接著，每一個類比數位轉換器與一個檢測區域對應，當檢測區域為一個電源腳位以及多個接地腳位時，電源針腳透過電源電阻連接到類比數位轉換器的類比數位轉換腳位，每一個接地針腳透過不同電導值的接地電阻連接到類比數位轉換器的類比數位轉換腳位，透過類比數位轉換器的類比數位轉換腳位所讀取到的電壓值以對對應的待測區域的一個電源腳位以及多個接地腳位進行導通檢測；最後，當檢測區域為一個接地腳位以及多個電源腳位時，接地針腳透過接地電阻連接到類比數位轉換器的類比數位轉換腳位，每一個電源針腳透過不同電導值的電源電阻連接到類比數位轉換器的類比數位轉換腳位，透過類比數位轉換器的類比數位轉換腳位所讀取到的電壓值以對對應的待測區域的一個接地腳位以及多個電源腳位進行導通檢測。
本發明所揭露的系統及方法如上，與先前技術之間的差異在於檢測電路板的針腳組插設於中央處理單元插槽，將檢測電路板的針腳組對應於中央處理單元插槽的腳位進行劃分，劃分後的區域包含一個電源腳位/針腳以及多個接地腳位/針腳，或是包含一個接地腳位/針腳以及多個電源腳位/針腳，以透過電阻分壓電路連接到類比數位轉換器以進行電源腳位/針腳以及接地腳位/針腳的導通檢測。
透過上述的技術手段，本發明可以達成提供大量電源腳位以及接地腳位檢測便利性的技術功效。
10:中央處理單元插槽
11:第一待測區域
12:第二待測區域
13:第三待測區域
14:第四待測區域
20:檢測電路板
21:針腳組
211:第一檢測區域
212:第二檢測區域
213:第三檢測區域
214:第四檢測區域
22:類比數位轉換器
31:電源腳位
311:第一電源腳位
312:第二電源腳位
313:第三電源腳位
314:第四電源腳位
315:第五電源腳位
316:第六電源腳位
317:第七電源腳位
318:第八電源腳位
41:接地腳位
411:第一接地腳位
412:第二接地腳位
413:第三接地腳位
414:第四接地腳位
415:第五接地腳位
416:第六接地腳位
417:第七接地腳位
418:第八接地腳位
419:第九接地腳位
51:電源針腳
511:第一電源針腳
512:第二電源針腳
513:第三電源針腳
514:第四電源針腳
515:第五電源針腳
516:第六電源針腳
517:第七電源針腳
518:第八電源針腳
61:接地針腳
611:第一接地針腳
612:第二接地針腳
613:第三接地針腳
614:第四接地針腳
615:第五接地針腳
616:第六接地針腳
617:第七接地針腳
418:第八接地針腳
619:第九接地針腳
71:電源電阻
711:第一電源電阻
712:第二電源電阻
713:第三電源電阻
714:第四電源電阻
715:第五電源電阻
72:接地電阻
721:第一接地電阻
722:第二接地電阻
723:第三接地電阻
724:第四接地電阻
步驟101:提供中央處理單元插槽，中央處理單元插槽設置於主機板上，中央處理單元插槽分為多個待測區域，待測區域包含一個電源腳位以及多個接地腳位，或是待測區域包含一個接地腳位以及多個電源腳位
步驟102:提供檢測電路板，檢測電路板更包含針腳組以及多個類比數位轉換器
步驟103:針腳組是插設於中央處理單元插槽以進行中央處理單元插槽的檢測，針腳組分為多個檢測區域，檢測區域與待測區域一一對應，檢測區域包含一個電源針腳以及多個接地針腳，或是檢測區域包含一個接地針腳以及多個電源針腳
步驟104:每一個類比數位轉換器與一個檢測區域對應，當檢測區域為一個電源腳位以及多個接地腳位時，電源針腳透過電源電阻連接到類比數位轉換器的類比數位轉換腳位，每一個接地針腳透過不同電導值的接地電阻連接到類比數位轉換器的類比數位轉換腳位，透
過類比數位轉換器的類比數位轉換腳位所讀取到的電壓值以對對應的待測區域的一個電源腳位以及多個接地腳位進行導通檢測
步驟105:當檢測區域為一個接地腳位以及多個電源腳位時，接地針腳透過接地電阻連接到類比數位轉換器的類比數位轉換腳位，每一個電源針腳透過不同電導值的電源電阻連接到類比數位轉換器的類比數位轉換腳位，透過類比數位轉換器的類比數位轉換腳位所讀取到的電壓值以對對應的待測區域的一個接地腳位以及多個電源腳位進行導通檢測
第1圖繪示為本發明中央處理單元插槽的複數電源與接地腳位導通檢測系統的系統方塊圖。
第2圖繪示為本發明中央處理單元插槽的複數電源與接地腳位導通檢測系統的中央處理單元插槽及其待測區域示意圖。
第3圖繪示為本發明中央處理單元插槽的複數電源與接地腳位導通檢測系統的檢測電路板的針腳組示及其檢測區域意圖。
第4A圖以及第4B圖繪示為本發明中央處理單元插槽的複數電源與接地腳位導通檢測系統的電源針腳、接地針腳與類比數位轉換器的電路配置示意圖。
第5圖繪示為本發明中央處理單元插槽的複數電源與接地腳位導通檢測方法的方法流程圖。
以下將配合圖式及實施例來詳細說明本發明的實施方式，藉此對本發明如何應用技術手段來解決技術問題並達成技術功效的實現過程能充分理解並據以實施。
以下首先要說明本發明所揭露的中央處理單元插槽的複數電源與接地腳位導通檢測系統，並請參考「第1圖」所示，「第1圖」繪示為本發明中央處理單元插槽的複數電源與接地腳位導通檢測系統的系統架構示意圖。
本發明所揭露的中央處理單元插槽的複數電源與接地腳位導通檢測系統，其包含：中央處理單元插槽10以及檢測電路板20，檢測電路板20更包含：針腳組21以及類比數位轉換器22，且檢測電路板20的針腳組21是插設於中央處理單元插槽10以進行中央處理單元插槽10的檢測。
請參考「第2圖」所示，「第2圖」繪示為本發明中央處理單元插槽的複數電源與接地腳位導通檢測系統的中央處理單元插槽及其待測區域示意圖。
如「第2圖」所示，在中央處理單元插槽10中分為4個待測區域分別為第一待測區域11、第二待測區域12、第三待測區域13以及第四待測區域14，在此僅為舉例說明之，並不以此侷限本發明的應用範疇。
在第一待測區域11包含一個電源腳位31以及第一接地腳位411至第四接地腳位414；在第二待測區域12包含一個接地腳位41以及第一電源腳位311至第五電源腳位315；在第三待測區域13包含一個接地腳位41以及第六電源腳位316至第八電源腳位318；以及在第四待測區域14包含一個電源腳位31以及第五接地腳位415至第九接地腳位419，在此僅為舉例說明之，並不以此侷限本發明的應用範疇。
請參考「第3圖」所示，「第3圖」繪示為本發明中央處理單元插槽的複數電源與接地腳位導通檢測系統的檢測電路板的針腳組示及其檢測區域意圖。
如「第3圖」所示，在檢測電路板20的針腳組21中分為4個檢測區域分別為第一檢測區域211、第二檢測區域212、第三檢測區域213以及第四檢測區域214，在此僅為舉例說明之，並不以此侷限本發明的應用範疇。
在第一檢測區域211包含一個電源針腳51以及第一接地針腳611至第四接地針腳614；在第二檢測區域212包含一個接地針腳61以及第一電源針腳511至第五電源針腳515；在第三檢測區域213包含一個接地針腳61以及第六電源針腳516至第八電源針腳518；以及在第四檢測區域214包含一個電源針腳51以及第五接地針腳615至第九接地針腳619，在此僅為舉例說明之，並不以此侷限本發明的應用範疇。
值得注意的是，中央處理單元插槽10中的每一個待測區域分別與檢測電路板20的針腳組21中的每一個個檢測區域一一對應。
第一待測區域11與第一檢測區域211對應，且第一待測區域11的電源腳位31以及第一接地腳位411至第四接地腳位414亦與第一檢測區域211的電源針腳51以及第一接地針腳611至第四接地針腳614對應。
第二待測區域12與第二檢測區域212對應，且第二待測區域12的接地腳位41以及第一電源腳位311至第五電源腳位315亦與第二檢測區域212的接地針腳61以及第一電源針腳511至第五電源針腳515對應。
第三待測區域13與第三檢測區域213對應，且第三待測區域13的接地腳位41以及第六電源腳位316至第八電源腳位318亦與第三檢測區域213的接地針腳61以及第六電源針腳516至第八電源針腳518對應。
第四待測區域14與第四檢測區域214對應，且第四待測區域14的電源腳位31以及第五接地腳位415至第九接地腳位419亦與第四檢測區域214的電源針腳51以及第五接地針腳615至第九接地針腳619對應。
請參考「第4A圖」所示，「第4A圖」繪示為本發明中央處理單元插槽的複數電源與接地腳位導通檢測系統的電源針腳、接地針腳與類比數位轉換器的電路配置示意圖。
在「第4A圖」中僅以第一檢測區域211作為示意與說明，第四檢測區域214可以參考第一檢測區域211的說明，第一檢測區域211中的電源針腳51透過電源電阻71連接到類比數位轉換器22的類比數位轉換腳位221，第一檢測區域211中的第一接地針腳611透過具有第一電導值的第一接地電阻721連接到類比數位轉換器22的類比數位轉換腳位221，第一檢測區域211中的第二接地針腳612透過具有第二電導值的第二接地電阻722連接到類比數位轉換器22的類比數位轉換腳位221，第一檢測區域211中的第三接地針腳613透過具有第三電導值的第三接地電阻723連接到類比數位轉換器22的類比數位轉換腳位221，以及第一檢測區域211中的第四接地針腳614透過具有第四電導值的第四接地電阻724連接到類比數位轉換器22的類比數位轉換腳位221。
值得注意的是，第一接地電阻721的第一電導值、第二接地電阻722的第二電導值、第三接地電阻723的第三電導值以及第四接地電阻724的第四電導值皆為不相同的數值，且第一接地電阻721的第一電導值、第二接地電阻722的第二電導值、第三接地電阻723的第三電導值以及第四接地電阻724的第四電導值是依據等差數列依序與每一個接地針腳連接。
具體而言，第一接地電阻721的第一電導值為0.00001(對應的電阻值為100K歐姆)、第二接地電阻722的第二電導值為0.0000095(對應的電阻值為105.26K歐姆)、第三接地電阻723的第三電導值為0.000009(對應的電阻值為111.11K歐姆)以及第四接地電阻724的第四電導值為4歐姆0.0000085(對
應的電阻值為117.64K歐姆)，在此僅為舉例說明之，並不以此侷限本發明的應用範疇。
透過上述的配置，以使得第一檢測區域211與類比數位轉換器22之間形成電阻分壓電路，藉此透過類比數位轉換器22的類比數位轉換腳位221所讀取到的電壓值以對對應的第一待測區域11的電源腳位31以及第一接地腳位411至第四接地腳位414進行導通檢測。
類比數位轉換器22的類比數位轉換腳位221所讀取到的電壓值是透過對照故障腳位與電壓值對照表以進行第一待測區域11的電源腳位31以及第一接地腳位411至第四接地腳位414的導通檢測，上述故障腳位與電壓值對照表為電壓值與故障腳位相互對應的表格，上述電壓值之間的電壓差值大於2倍的類比數位轉換器的誤差值，且為了能精確的進行檢測，類比數位轉換器22至少為12位元的類比數位轉換器。
具體而言，假設類比數位轉換器22所使用的參考電壓為1200mV，該類比數位轉換器22所讀取到電壓值的誤差即是1200mV/4095=0.293mV，而電壓值之間的電壓差值大於2倍的類比數位轉換器的誤差值，亦即該類比數位轉換器22電壓值之間的電壓差值大於0.586mV，在此僅為舉例說明之，並不以此侷限本發明的應用範疇。
假設類比數位轉換器22的類比數位轉換腳位221所讀取到的電壓值為324.324mV(即第一電壓值)，將第一電壓值對照故障腳位與電壓值對照表即可檢測出第一接地腳位411為不導通；假設類比數位轉換器22的類比數位轉換腳位221所讀取到的電壓值為320mV(即第二電壓值)，將第二電壓值對照故障腳位與電壓值對照表即可檢測出第二接地腳位412為不導通；假設類比
數位轉換器22的類比數位轉換腳位221所讀取到的電壓值為315.788mV(即第三電壓值)，將第三電壓值對照故障腳位與電壓值對照表即可檢測出第三接地腳位413為不導通；假設類比數位轉換器22的類比數位轉換腳位221所讀取到的電壓值為311.688mV(即第四電壓值)，將第四電壓值對照故障腳位與電壓值對照表即可檢測出第四接地腳位414為不導通；假設類比數位轉換器22的類比數位轉換腳位221所讀取到的電壓值為255.32mV(即第五電壓值)，將第五電壓值對照故障腳位與電壓值對照表即可檢測出為腳位導通正常，在此僅為舉例說明之，並不以此侷限本發明的應用範疇。
請參考「第4B圖」所示，「第4B圖」繪示為本發明中央處理單元插槽的複數電源與接地腳位導通檢測系統的電源針腳、接地針腳與類比數位轉換器的電路配置示意圖。
在「第4B圖」中僅以第二檢測區域212作為示意與說明，第三檢測區域213可以參考第二檢測區域212的說明，第二檢測區域212中的接地腳位61透過接地電阻72連接到類比數位轉換器22的類比數位轉換腳位221，第二檢測區域212中的第一電源針腳511透過具有第一電導值的第一電源電阻711連接到類比數位轉換器22的類比數位轉換腳位221，第二檢測區域212中的第二電源針腳512透過具有第二電導值的第二電源電阻712連接到類比數位轉換器22的類比數位轉換腳位221，第二檢測區域212中的第三電源針腳513透過具有第三電導值的第三電源電阻713連接到類比數位轉換器22的類比數位轉換腳位221，第二檢測區域212中的第四電源針腳514透過具有第四電導值的第四電源電阻714連接到類比數位轉換器22的類比數位轉換腳位221，以及第二檢測區域
212中的第五電源針腳515透過具有第五電導值的第五電源電阻715連接到類比數位轉換器22的類比數位轉換腳位221。
值得注意的是，第一電源電阻711的第一電導值、第二電源電阻712的第二電導值、第三電源電阻713的第三電導值、第四電源電阻714的第四電阻以及第五電源電阻715的第五電導值皆為不相同的數值，且第一電源電阻711的第一電導值、第二電源電阻712的第二電導值、第三電源電阻713的第三電導值、第四電源電阻714的第四電阻以及第五電源電阻715的第五電導值是依據等差數列依序與每一個電源針腳連接。
具體而言，第一電源電阻711的第一電導值為0.00001(對應的電阻值為100K歐姆)、第二電源電阻712的第二電導值為0.0000095(對應的電阻值為105.26K歐姆)、第三電源電阻713的第三電導值為0.000009(對應的電阻值為111.11K歐姆)以及第四電源電阻714的第四電導值為4歐姆0.0000085(對應的電阻值為117.64K歐姆)，在此僅為舉例說明之，並不以此侷限本發明的應用範疇。
透過上述的配置，以使得第二檢測區域212與類比數位轉換器22之間亦形成電阻分壓電路，藉此透過類比數位轉換器22的類比數位轉換腳位221所讀取到的電壓值以對對應的第二待測區域12的接地腳位41以及第一電源腳位311至第五電源腳位315進行導通檢測。
類比數位轉換器22的類比數位轉換腳位221所讀取到的電壓值是透過對照故障腳位與電壓值對照表以進行第二待測區域12的接地腳位41以及第一電源腳位311至第五電源腳位315的導通檢測，上述故障腳位與電壓值為電壓值與故障腳位相互對應的表格，上述電壓值之間的電壓差值大於2倍的類比
數位轉換器的誤差值，且為了能精確的進行檢測，類比數位轉換器22至少為12位元的類比數位轉換器。
具體而言，假設類比數位轉換器22所使用的參考電壓為1200mV，該類比數位轉換器22所讀取到電壓值的誤差即是1200mV/4095=0.293mV，而電壓值之間的電壓差值大於2倍的類比數位轉換器的誤差值，亦即該類比數位轉換器22電壓值之間的電壓差值大於0.586mV，在此僅為舉例說明之，並不以此侷限本發明的應用範疇。
假設類比數位轉換器22的類比數位轉換腳位221所讀取到的電壓值為324.324mV(即第一電壓值)，將第一電壓值對照故障腳位與電壓值對照表即可檢測出第一電源腳位311為不導通；假設類比數位轉換器22的類比數位轉換腳位221所讀取到的電壓值為320mV(即第二電壓值)，將第二電壓值對照故障腳位與電壓值對照表即可檢測出第二電源腳位312為不導通；假設類比數位轉換器22的類比數位轉換腳位221所讀取到的電壓值為315.788mV(即第三電壓值)，將第三電壓值對照故障腳位與電壓值對照表即可檢測出第三電源腳位313為不導通；假設類比數位轉換器22的類比數位轉換腳位221所讀取到的電壓值為311.688mV(即第四電壓值)，將第四電壓值對照故障腳位與電壓值對照表即可檢測出第四電源腳位314為不導通；假設類比數位轉換器22的類比數位轉換腳位221所讀取到的電壓值為255.32mV(即第五電壓值)，將第八電壓值對照故障腳位與電壓值對照表即可檢測出為腳位導通正常，在此僅為舉例說明之，並不以此侷限本發明的應用範疇。
請參考「第5圖」所示，「第5圖」繪示為本發明中央處理單元插槽的複數電源與接地腳位導通檢測方法的方法流程圖。
首先，提供中央處理單元插槽，中央處理單元插槽設置於主機板上，中央處理單元插槽分為多個待測區域，待測區域包含一個電源腳位以及多個接地腳位，或是待測區域包含一個接地腳位以及多個電源腳位(步驟101)；接著，提供檢測電路板，檢測電路板更包含針腳組以及多個類比數位轉換器(步驟102)：接著，針腳組是插設於中央處理單元插槽以進行中央處理單元插槽的檢測，針腳組分為多個檢測區域，檢測區域與待測區域一一對應，檢測區域包含一個電源針腳以及多個接地針腳，或是檢測區域包含一個接地針腳以及多個電源針腳(步驟103)；接著，每一個類比數位轉換器與一個檢測區域對應，當檢測區域為一個電源腳位以及多個接地腳位時，電源針腳透過電源電阻連接到類比數位轉換器的類比數位轉換腳位，每一個接地針腳透過不同電導值的接地電阻連接到類比數位轉換器的類比數位轉換腳位，透過類比數位轉換器的類比數位轉換腳位所讀取到的電壓值以對對應的待測區域的一個電源腳位以及多個接地腳位進行導通檢測(步驟104)；最後，當檢測區域為一個接地腳位以及多個電源腳位時，接地針腳透過接地電阻連接到類比數位轉換器的類比數位轉換腳位，每一個電源針腳透過不同電導值的電源電阻連接到類比數位轉換器的類比數位轉換腳位，透過類比數位轉換器的類比數位轉換腳位所讀取到的電壓值以對對應的待測區域的一個接地腳位以及多個電源腳位進行導通檢測(步驟105)。
綜上所述，可知本發明與先前技術之間的差異在於檢測電路板的針腳組插設於中央處理單元插槽，將檢測電路板的針腳組對應於中央處理單元插槽的腳位進行劃分，劃分後的區域包含一個電源腳位/針腳以及多個接地腳位/針腳，或是包含一個接地腳位/針腳以及多個電源腳位/針腳，以透過電阻分壓
電路連接到類比數位轉換器以進行電源腳位/針腳以及接地腳位/針腳的導通檢測。
藉由此一技術手段可以來解決先前技術所存在對於大量電源腳位以及接地腳位檢測不便的問題，進而達成提供大量電源腳位以及接地腳位檢測便利性的技術功效。
雖然本發明所揭露的實施方式如上，惟所述的內容並非用以直接限定本發明的專利保護範圍。任何本發明所屬技術領域中具有通常知識者，在不脫離本發明所揭露的精神和範圍的前提下，可以在實施的形式上及細節上作些許的更動。本發明的專利保護範圍，仍須以所附的申請專利範圍所界定者為準。
10‧‧‧中央處理單元插槽
20‧‧‧檢測電路板
21‧‧‧針腳組
22‧‧‧類比數位轉換器
Claims (10)
- 一種中央處理單元插槽的複數電源與接地腳位導通檢測系統，其包含：一中央處理單元插槽，所述中央處理單元插槽設置於主機板上，所述中央處理單元插槽分為多個待測區域，所述待測區域包含一個電源腳位以及多個接地腳位，或是所述待測區域包含一個接地腳位以及多個電源腳位；及一檢測電路板，所述檢測電路板更包含：一針腳組，所述針腳組是插設於所述中央處理單元插槽以進行所述中央處理單元插槽的檢測，所述針腳組分為多個檢測區域，所述檢測區域與所述待測區域一一對應，所述檢測區域包含一個電源針腳以及多個接地針腳，或是所述檢測區域包含一個接地針腳以及多個電源針腳；及多個類比數位轉換器，每一個類比數位轉換器與一個檢測區域對應，當所述檢測區域為一個電源腳位以及多個接地腳位時，所述電源針腳透過電源電阻連接到所述類比數位轉換器的類比數位轉換腳位，每一個接地針腳透過不同電導值的接地電阻連接到所述類比數位轉換器的類比數位轉換腳位，透過所述類比數位轉換器的類比數位轉換腳位所讀取到的電壓值以對對應的所述待測區域的一個電源腳位以及多個接地腳位進行導通檢測；或當所述檢測區域為一個接地腳位以及多個電源腳位時，所述接地針腳透過接地電阻連接到 所述類比數位轉換器的類比數位轉換腳位，每一個電源針腳透過不同電導值的電源電阻連接到所述類比數位轉換器的類比數位轉換腳位，透過所述類比數位轉換器的類比數位轉換腳位所讀取到的電壓值以對對應的所述待測區域的一個接地腳位以及多個電源腳位進行導通檢測。
- 如申請專利範圍第1項所述的中央處理單元插槽的複數電源與接地腳位導通檢測系統，其中每一個接地針腳透過不同電導值的接地電阻連接到所述類比數位轉換器的類比數位轉換腳位，每一個接地電阻的電導值是依據等差數列依序與每一個接地針腳連接；及每一個電源針腳透過不同電導值的電源電阻連接到所述類比數位轉換器的類比數位轉換腳位，每一個電源電阻的電導值是依據等差數列依序與每一個電源針腳連接。
- 如申請專利範圍第1項所述的中央處理單元插槽的複數電源與接地腳位導通檢測系統，其中所述類比數位轉換器至少為12位元的類比數位轉換器。
- 如申請專利範圍第1項所述的中央處理單元插槽的複數電源與接地腳位導通檢測系統，其中所述類比數位轉換器的類比數位轉換腳位所讀取到的電壓值對照一故障腳位與電壓值對照表以檢測出所述待測區域中無法導通的電源腳位或是接地腳位。
- 如申請專利範圍第4項所述的中央處理單元插槽的複數電源與接地腳位導通檢測系統，其中所述故障腳位與電壓值為電壓值與故障腳位相互對應的表格，且電壓值之間的電壓差值大於2倍的類比數位轉換器的誤差值。
- 一種中央處理單元插槽的複數電源與接地腳位導通檢測方法，其包含下列步驟：提供一中央處理單元插槽，所述中央處理單元插槽設置於主機板上，所述中央處理單元插槽分為多個待測區域，所述待測區域包含一個電源腳位以及多個接地腳位，或是所述待測區域包含一個接地腳位以及多個電源腳位；提供一檢測電路板，所述檢測電路板更包含一針腳組以及多個類比數位轉換器：所述針腳組是插設於所述中央處理單元插槽以進行所述中央處理單元插槽的檢測，所述針腳組分為多個檢測區域，所述檢測區域與所述待測區域一一對應，所述檢測區域包含一個電源針腳以及多個接地針腳，或是所述檢測區域包含一個接地針腳以及多個電源針腳；每一個類比數位轉換器與一個檢測區域對應，當所述檢測區域為一個電源腳位以及多個接地腳位時，所述電源針腳透過電源電阻連接到所述類比數位轉換器的類比數位轉換腳位，每一個接地針腳透過不同電導值的接地電阻連接到所述類比數位轉換器的類比數位轉換腳位，透過所述類比數位轉換器的類比數位轉換腳位所讀取到的電壓值以對對應的所述待測區域的一個電源腳位以及多個接地腳位進行導通檢測；及當所述檢測區域為一個接地腳位以及多個電源腳位時，所述接地針腳透過接地電阻連接到所述類比數位轉換器的類比數位 轉換腳位，每一個電源針腳透過不同電導值的電源電阻連接到所述類比數位轉換器的類比數位轉換腳位，透過所述類比數位轉換器的類比數位轉換腳位所讀取到的電壓值以對對應的所述待測區域的一個接地腳位以及多個電源腳位進行導通檢測。
- 如申請專利範圍第6項所述的中央處理單元插槽的複數電源與接地腳位導通檢測方法，其中每一個接地針腳透過不同電導值的接地電阻連接到所述類比數位轉換器的類比數位轉換腳位，每一個接地電阻的電導值是依據等差數列依序與每一個接地針腳連接；及每一個電源針腳透過不同電導值的電源電阻連接到所述類比數位轉換器的類比數位轉換腳位，每一個電源電阻的電導值是依據等差數列依序與每一個電源針腳連接。
- 如申請專利範圍第6項所述的中央處理單元插槽的複數電源與接地腳位導通檢測方法，其中所述類比數位轉換器至少為12位元的類比數位轉換器。
- 如申請專利範圍第6項所述的中央處理單元插槽的複數電源與接地腳位導通檢測方法，其中所述類比數位轉換器的類比數位轉換腳位所讀取到的電壓值對照一故障腳位與電壓值對照表以檢測出所述待測區域中無法導通的電源腳位或是接地腳位。
- 如申請專利範圍第9項所述的中央處理單元插槽的複數電源與接地腳位導通檢測方法，其中所述故障腳位與電壓值為電壓值與故障腳位相互對應的表格，且電壓值之間的電壓差值大於2倍的類比數位轉換器的誤差值。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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Publications (2)
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Country Status (1)
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