TWI736281B - 開機狀態通知方法 - Google Patents

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Abstract

一種開機狀態通知方法,適用於電腦,通知方法包含:對動態隨機存取記憶體基於開機參數執行訊號訓練以啟動電腦,取得動態隨機存取記憶體於電腦執行訊號訓練時的運行數值組,以及基於運行數值組計算並輸出開機穩定等級。

Description

開機狀態通知方法
本發明係關於一種開機狀態通知方法,特別係關於一種可以取得並輸出開機狀態的開機狀態通知方法。
現行的技術中,電腦在被啟動前會先對動態隨機存取記憶體等主機板上的裝置進行開機檢測,以確保電腦開機後可以正常運作,並且在檢測完成時便可以將主機板上電。
由於主機板上設有許多裝置元件,因此在進行開機檢測過程中,每一裝置元件皆具有對應的開機狀態。然而,現有的呈現開機狀態的技術並不精確,例如係以簡易除錯燈號(EZ Debug LED)呈現檢測進度(例如目前檢測到處理器、記憶體、顯示卡等的哪一個裝置元件);而若當檢測到其中一個裝置元件的開機狀態有異常時,則僅由除錯燈號(Debug LED)以代碼呈現哪一裝置元件的開機狀態有異常。
亦即,儘管簡易除錯燈號及除錯燈號可以協助使用者判知開機檢測的進度及結果,然而現有的技術仍無法提供更精確的開機檢測結果,使用者仍只能靠個人經驗判斷是否該調整開機參數,或是經調整後的開機參數對此次開機檢測的影響。因此,例如當使用者欲對動態隨機存取記憶體進行超頻操作,而將開機參數的時脈參數調整為超頻的時脈參數時,由於使用者無法精確判知過往的時脈參數對開機檢測的影響,便可能設定了過高的時脈參數,而此舉不但可能導致開機檢測失敗,更提高了動態隨機存取記憶體因過熱而受損的風險。
鑒於上述,本發明提供一種以滿足上述需求的開機狀態通知方法。
依據本發明一實施例的一種開機狀態通知方法,適用於一電腦,該通知方法包含:對一動態隨機存取記憶體基於一開機參數執行一訊號訓練以啟動該電腦;取得該動態隨機存取記憶體於該電腦執行該訊號訓練時的一運行數值組;以及基於該運行數值組計算並輸出一開機穩定等級。
綜上所述,依據本發明一或多個實施例所示的開機狀態通知方法,在對主機板上的裝置進行開機檢測後,不僅可以提供更精確的開機檢測結果,並且本發明所示的開機穩定等級更可以讓使用者判斷是否該調整開機參數。此外,依據本發明一或多個實施例所示的開機狀態通知方法,使用者可以判知經過調整後的開機參數對於開機檢測的影響,進而降低了來回調整開機參數再進行檢測的次數與時間。並且,當動態隨機存取記憶體的開機參數被調整以使動態隨機存取記憶體超頻時,更可以藉由本發明所示的開機穩定等級通知使用者目前超頻的狀態及穩定度,不僅可以避免使用者將開機參數調整到動態隨機存取記憶體無法乘載的數值,更可以降低主機板上的裝置元件在檢測的過程中因不適當的開機參數而受損的風險。
以上之關於本揭露內容之說明及以下之實施方式之說明係用以示範與解釋本發明之精神與原理,並且提供本發明之專利申請範圍更進一步之解釋。
以下在實施方式中詳細敘述本發明之詳細特徵以及優點,其內容足以使任何熟習相關技藝者了解本發明之技術內容並據以實施,且根據本說明書所揭露之內容、申請專利範圍及圖式,任何熟習相關技藝者可輕易地理解本發明相關之目的及優點。以下之實施例係進一步詳細說明本發明之觀點,但非以任何觀點限制本發明之範疇。
請參考圖1,圖1係依據本發明一實施例所繪示的開機狀態通知方法的流程圖。本發明所示的開機狀態通知方法適用於一電腦,且係用於呈現電腦在執行訊號訓練時的開機狀態的通知方法。
步驟S10:接收參數調整指令以調整開機參數。
亦即,電腦在已啟動的狀態時可以先接收由使用者輸入的一參數調整指令,以將電腦的一預設開機參數調整為電腦下次開機時的開機參數,其中預設開機參數可以是電腦出廠時預設的開機參數,或是先前依據參數調整指令所調整成的開機參數等。所述的開機參數例如是關聯於時脈、電壓、插槽配置等的參數,本發明不對開機參數的類型予以限制。
需特別注意的是,步驟S10可以係選擇性地執行。亦即,若電腦於接續的步驟S20係以預設開機參數執行訊號訓練,或是以先前已調整過的開機參數執行訊號訓練,則可以省略步驟S10並直接執行步驟S20。
步驟S20:對動態隨機存取記憶體基於開機參數執行訊號訓練以啟動電腦。
電腦可於收到上電訊號時對其動態隨機存取記憶體(Dynamic Random Access Memory,DRAM)上的數個記憶體顆粒晶片基於開機參數執行訊號訓練,以供於訓練完成後啟動電腦。
步驟S30:取得動態隨機存取記憶體於電腦執行訊號訓練時的運行數值組。
詳言之,動態隨機存取記憶體包含多個記憶體顆粒晶片,在電腦被啟動後,可以取得在上述訊號訓練期間內動態隨機存取記憶體在運行時的運行數值組,而運行數值組即包含關聯於該些記憶體顆粒晶片的多個運行數值,其中取得運行數值組的方法將於後連同圖3進一步詳述。
步驟S40:基於運行數值組計算並輸出開機穩定等級。
電腦在啟動後,即可分別對應於該些記憶體顆粒晶片的多個權重值對該些運行數值進行加權運算,以計算得並輸出開機穩定等級,其中開機穩定等級可以是輸出到電腦的顯示器顯示、輸出到連接電腦的喇叭/耳機以語音的方式呈現、輸出到電腦的記憶體儲存或是輸出到其他裝置等,本發明不對開機穩定等級的輸出對象予以限制。
請參考圖2,圖2係繪示圖1的步驟S10(接收參數調整指令以調整開機參數)的細部流程圖,其中步驟S10可以包含子步驟S101~S103。
步驟S101:進入基本輸入輸出系統介面。
亦即,電腦在已啟動狀態時可以進入一基本輸入輸出系統(Basic Input/Output System,BIOS)介面,並且較佳係由電腦的顯示器呈現該基本輸入輸出系統介面。
步驟S102:於基本輸入輸出系統介面接收參數調整指令。
步驟S103:依據參數調整指令調整開機參數。
請一併參考步驟S102及S103,電腦呈現基本輸入輸出系統介面以接收參數調整指令,並且即可進一步基於參數調整指令調整開機參數。舉例而言,開機參數例如包含電腦主機板上的一處理器及動態隨機存取記憶體之間的一時脈參數,且時脈參數係用以調整該處理器及該動態隨機存取記憶體之間的一工作頻率。因此,當使用者欲使動態隨機存取記憶體超頻時,其可以輸入參數調整指令以將例如是預設的時脈參數調整為該時脈參數,並據以檢測該處理器及該動態隨機存取記憶體之間的工作頻率。
請參考圖3及圖4,其中圖3係繪示圖1的步驟S30(取得動態隨機存取記憶體於電腦執行訊號訓練時的運行數值組)的細部流程圖;圖4係繪示對動態隨機存取記憶體執行訊號訓練的示例圖,其中步驟S30可以包含子步驟S301~S305。在以下說明中,係以第i記憶體顆粒晶片表示各記憶體顆粒晶片,且輸入此第i記憶體顆粒晶片的訊號為第i訓練訊號,而由其輸出的訊號則為第i結果訊號。
步驟S301:將第i訓練訊號輸入至第i記憶體顆粒晶片,以供此第i記憶體顆粒晶片輸出第i結果訊號,其中i為大於0且小於或等於記憶體顆粒晶片之總數的整數,且當i大於等於2時,以第(i-1)結果訊號做為第i訓練訊號。
步驟S302:判斷第i記憶體顆粒晶片是否基於第i訓練訊號輸出對應的第i結果訊號。
需特別注意的是,此述的第i訓練訊號較佳係對應開機參數的開機訊號。如圖4所示,動態隨機存取記憶體DRAM包含多個記憶體顆粒晶片IC1~IC8,且電腦會對每一個記憶體顆粒晶片執行訊號訓練。意即,在圖4所繪示的例子中,i為大於0且小於或等於8的整數,然而圖4所示記憶體顆粒晶片IC1~IC8的數量僅為示例,本發明不對記憶體顆粒晶片的數量予以限制。
請一併參考步驟S301及S302,以記憶體顆粒晶片IC1為例,i為1的第一訓練訊號Si1會被輸入至該些記憶體顆粒晶片IC1~IC8中的第一個記憶體顆粒晶片IC1,並且若第一訓練訊號Si1係記憶體顆粒晶片IC1可乘載的訊號,則記憶體顆粒晶片IC1會依據第一訓練訊號Si1輸出對應的第一結果訊號So1,並且第一結果訊號So1即可做為第二訓練訊號Si2被輸入至記憶體顆粒晶片IC2,若第二訓練訊號Si2係記憶體顆粒晶片IC2可乘載的訊號,則記憶體顆粒晶片IC2會依據第二訓練訊號Si2輸出對應的第二結果訊號So2,並且第二結果訊號So2即可做為輸入記憶體顆粒晶片IC3的第三訓練訊號Si3,以此類推,即可繼續依序由記憶體顆粒晶片IC3執行至記憶體顆粒晶片IC8,直到記憶體顆粒晶片IC8輸出對應的第八結果訊號So8。
當判斷其中一個記憶體顆粒晶片未輸出對應的結果訊號時,則表示該記憶體顆粒晶片無法承載關聯於該開機參數的訓練訊號,因此接續步驟S303:重新上電。亦即,當電腦無法依據該開機參數正常運行時,可以將電腦以可運行的預設開機參數重新開機。
請繼續參考步驟S302,若判斷每一該些記憶體顆粒晶片IC1~IC8皆輸出對應的第i結果訊號(即排序最後的記憶體顆粒晶片IC8輸出對應的第八結果訊號So8),則表示該些記憶體顆粒晶片IC1~IC8可以乘載關聯於該開機參數的對應的第i訓練訊號,並可以接續步驟S304。
步驟S304:基於訓練訊號及結果訊號之間的變異值取得運行數值。
亦即,每一個輸入記憶體顆粒晶片的第i訓練訊號及其輸出的第i結果訊號之間皆具有一變異值,例如是頻率差、時間差、訊號強度差等,甚至是第i結果訊號對第i訓練訊號的比值(例如,頻率比值、訊號強度比值等),電腦會依據每一個變異值賦予對應的運行數值,並以運行數值代表記憶體顆粒晶片的運行狀況。
步驟S305:以該些運行數值組成運行數值組。
換言之,每一個記憶體顆粒晶片皆有對應的運行數值用以代表其運行狀況,該些運行數值即可組成運行數值組,而運行數值組則用以表示包含該些記憶體顆粒晶片IC1~IC8的動態隨機存取記憶體DRAM的運行狀態。
請參考圖5,圖5係繪示圖1的步驟S40(基於運行數值組計算並輸出開機穩定等級)的細部流程圖,其中步驟S40包含子步驟S401~S403。
步驟S401:將每一運行數值乘上對應的權重值,以取得對應於該些記憶體顆粒晶片的多個加權值。
亦即,每一個記憶體顆粒晶片可以具有不同的權重值,因此可以將每一個記憶體顆粒晶片的運行數值乘上對應的權重值,以更凸顯每一個記憶體顆粒晶片的重要程度以及其運作狀態。舉例而言,在對該些運行數值進行加權運算之前,電腦更可以先基於每一個記憶體顆粒晶片的讀寫速度取得該些權重值,且讀寫速度越快可以有越高的權重值,然此述的讀寫速度僅為示例,本發明不對權重值的取得及分配方式予以限制。
步驟S402:將該些加權值加總,並以該些加權值的總和做為開機穩定等級。
亦即,電腦會將每一個運行數值乘上對應的權重值以得到每一個記憶體顆粒晶片的加權值,再將該些加權值相加,並以加權值的總和做為開機穩定等級。此外,電腦亦可以將加權值的總和除以權重值的總和以取得加權平均數,並以此加權平均數做為開機穩定等級。換言之,開機穩定等級可以由數值、比例值、百分比值等數值表示。
步驟S403:輸出開機穩定等級。
如圖1的步驟S40的說明,開機穩定等級可以是輸出到電腦的顯示器以供顯示,當開機穩定等級是以顯示器顯示時,開機穩定等級的呈現方式可以如圖6a、6b及6c所示,其中圖6a、6b及6c係繪示開機穩定等級的表示示圖。亦即,在取得例如為圖6a~6c所示的開機穩定等級後,即可將開機穩定等級輸出至電腦的顯示器,因此顯示器即可顯示如圖6a及6b所示包含部分面積PA1、PA2的圖型F1、F2,或是圖6c所示的比例值R,顯示器更可一併顯示圖型F1、F2以及比例值R,以提供更詳盡的訊號訓練的資訊。
詳細而言,開機穩定等級的呈現方式可以是以一圖型呈現,並且以圖型的一部分面積對應該圖型的整體面積的比例呈現開機穩定等級。以圖6a為例,開機穩定等級的圖型F1係以線條的累計條數及長度表示其部分面積PA1,而圖型F1的整體面積A1即為虛線三角框所佔的面積。
詳細而言,部分面積PA1可以用以表示某次執行訊號訓練後,基於運行數值組取得的加權數值的總和,而整體面積A1即為在完全理想的訊號訓練中,基於運行數值組取得的加權數值的總和,其中所述的完全理想的訊號訓練例如為每一個記憶體顆粒晶片所接收的訓練訊號及輸出的結果訊號之間不具有變異值,或僅具有可忽略的變異值。
據此,開機穩定等級的呈現方式即可藉由部分面積PA1對應整體面積A1的比例,呈現該次訊號訓練的結果與完全理想的訊號訓練的結果之間的差距,並且當開機穩定等級越高(即該次訊號訓練的過程越穩定),則部分面積PA1所佔的面積也越大。
相似地,請參考圖6b,開機穩定等級的圖型F2例如為圖中所示的條狀圖,而開機穩定等級的呈現方式即可藉由部分面積PA2(即圖中灰色區塊)對應整體面積A2的比例呈現。
此外,如圖6c所示,開機穩定等級亦可以是以數值呈現,且較佳係以比例值R方式呈現。例如,在某次執行訊號訓練後,基於運行數值組取得的加權數值的總和例如為「80」;而在完全理想的訊號訓練中,因每一個記憶體顆粒晶片所接收的訓練訊號及輸出的結果訊號之間不具有變異值,故在完全理想的訊號訓練所得的加權數值的總和可以以數值「100」表示。據此,開機穩定等級即可以如圖6c所示的比例值R表示,用以代表該次訊號訓練與完全理想的訊號訓練之間的相對差距。
需特別注意的是,本發明所示的開機穩定等級的呈現方式僅為示例,亦即開機穩定等級可以是由圓餅圖、金字塔圖等可以呈現比例的圖型表示。而當開機穩定等級是以語音方式呈現時,則開機穩定等級可以是以語音的音量大小、不同的語音音效、或包含比例值的語音內容等的方式呈現,本發明不對開機穩定等級的呈現方式予以限制。
綜上所述,依據本發明一或多個實施例所示的開機狀態通知方法,在對主機板上的裝置進行開機檢測後,不僅可以提供更精確的開機檢測結果,並且本發明所示的開機穩定等級更可以讓使用者判斷是否該調整開機參數。此外,依據本發明一或多個實施例所示的開機狀態通知方法,使用者可以藉由判知經過調整後的開機參數對於開機檢測的影響,進而降低來回調整開機參數並再次進行檢測的次數與時間。並且,當動態隨機存取記憶體的開機參數被調整以使動態隨機存取記憶體超頻時,更可以藉由本發明所示的開機穩定等級通知使用者目前超頻的狀態及穩定度,不僅可以避免使用者將開機參數調整到動態隨機存取記憶體無法乘載的數值(開機參數),更可以降低主機板上的裝置元件在檢測的過程中因不適當的開機參數而過熱或受損的風險。
雖然本發明以前述之實施例揭露如上,然其並非用以限定本發明。在不脫離本發明之精神和範圍內,所為之更動與潤飾,均屬本發明之專利保護範圍。關於本發明所界定之保護範圍請參考所附之申請專利範圍。
DRAM:動態隨機存取記憶體 IC1-IC8:記憶體顆粒晶片 Si1:第一訓練訊號 Si2:第二訓練訊號 Si3:第三訓練訊號 So1:第一結果訊號 So2:第二結果訊號 So8:第八結果訊號 F1、F2:圖型 A1、A2:整體面積 PA1、PA2:部分面積 R:比例值
圖1係依據本發明一實施例所繪示的開機狀態通知方法的流程圖。 圖2係繪示圖1的步驟S10的細部流程圖。 圖3係繪示圖1的步驟S30的細部流程圖。 圖4係繪示對動態隨機存取記憶體執行訊號訓練的示例圖。 圖5係繪示圖1的步驟S40的細部流程圖。 圖6a、6b及6c係繪示開機穩定等級的表示示圖。
S10、S20、S30、S40

Claims (9)

  1. 一種開機狀態通知方法,適用於一電腦,該通知方法包含:對一動態隨機存取記憶體基於一開機參數執行一訊號訓練以啟動該電腦,其中該訊號訓練係以該電腦於收到一上電訊號時所產生的一訓練訊號所執行,且該訓練訊號對應於該開機參數;取得該動態隨機存取記憶體於該電腦執行該訊號訓練時的一運行數值組;以及基於該運行數值組計算並輸出一開機穩定等級,其中該動態隨機存取記憶體包含數個記憶體顆粒晶片,該運行數值組包含分別關聯於該些記憶體顆粒晶片的多個運行數值,且該些運行數值係用於代表該些記憶體顆粒晶片的運行狀況,基於該運行數值組計算並輸出該開機穩定等級包含:基於分別對應於該些記憶體顆粒晶片的多個權重值對該些運行數值進行加權運算,以計算出該開機穩定等級,並輸出該開機穩定等級。
  2. 如請求項1所述的通知方法,其中基於分別對應於該些記憶體顆粒晶片的該些權重值對該些運行數值進行加權運算,以計算出該開機穩定等級包含:將每一該些運行數值乘上對應的每一該些權重值,以取得對應於該些記憶體顆粒晶片的多個加權值;以及將該些加權值加總,並以該些加權值的總和做為該開機穩定等級。
  3. 如請求項1所述的通知方法,其中在基於該些權重值對該些運行數值進行加權運算之前,該通知方法更包含:基於每一該些記憶體顆粒晶片的讀寫速度取得該些權重值。
  4. 如請求項1所述的通知方法,其中輸出該開機穩定等級包含:以一圖型的一部分面積對應該圖型的一整體面積的比例呈現該開機穩定等級;以及輸出以該圖型呈現的該開機穩定等級至該電腦的一顯示器,以供該顯示器顯示至少包含該部分面積的該圖型。
  5. 如請求項1所述的通知方法,其中輸出該開機穩定等級包含: 以一比例值呈現該開機穩定等級;以及輸出以該比例值呈現的該開機穩定等級至該電腦的一顯示器,以供該顯示器顯示該比例值。
  6. 如請求項1所述的通知方法,其中該開機參數包含該電腦的一處理器及該動態隨機存取記憶體之間的一時脈參數,用以調整該處理器及該動態隨機存取記憶體之間的一工作頻率,以使該動態隨機存取記憶體超頻。
  7. 如請求項1所述的通知方法,其中該運行數值組關聯於對該些記憶體顆粒晶片執行該訊號訓練的結果,取得該運行數值組包含:將第i訓練訊號輸入至該些記憶體顆粒晶片中的第i記憶體顆粒晶片,以供此第i記憶體顆粒晶片輸出第i結果訊號,其中i為大於0且小於或等於該些記憶體顆粒晶片之總數的整數,且當i大於等於2時,以第(i-1)結果訊號做為該第i訓練訊號;判斷該第i記憶體顆粒晶片是否基於該第i訓練訊號輸出對應的該第i結果訊號;以及 當判斷該第i記憶體顆粒晶片輸出該第i結果訊號時,基於該第i訓練訊號及該第i結果訊號之間的一變異值取得該運行數值,其中該運行數值與該變異值呈逆相關,其中在每一該些記憶體顆粒晶片皆輸出對應的第i結果訊號並取得多個運行數值後,以該些運行數值組成該運行數值組。
  8. 如請求項1所述的通知方法,其中在對該動態隨機存取記憶體基於該開機參數執行該訊號訓練前,該通知方法更包含:依據一參數調整指令調整該開機參數。
  9. 如請求項8所述的通知方法,其中接收該參數調整指令包含:進入一基本輸入輸出系統介面;以及於該基本輸入輸出系統介面接收該參數調整指令。
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Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
TW498202B (en) * 2000-01-04 2002-08-11 Via Tech Inc Feedback structure adaptable to different memory module load
TW200943026A (en) * 2008-04-11 2009-10-16 Asustek Comp Inc Computer system and method for automatically overclocking
TW201044168A (en) * 2009-06-11 2010-12-16 Asustek Comp Inc Method for tuning parameter in memory and computer ststem using the method

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
TW498202B (en) * 2000-01-04 2002-08-11 Via Tech Inc Feedback structure adaptable to different memory module load
TW200943026A (en) * 2008-04-11 2009-10-16 Asustek Comp Inc Computer system and method for automatically overclocking
TW201044168A (en) * 2009-06-11 2010-12-16 Asustek Comp Inc Method for tuning parameter in memory and computer ststem using the method

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