TWI728411B - 用於工具機之主軸的檢測裝置以及工具機之主軸的檢測方法 - Google Patents

用於工具機之主軸的檢測裝置以及工具機之主軸的檢測方法 Download PDF

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Abstract

一種用於工具機之主軸的檢測裝置，其中主軸包括一插槽。檢測裝置包括一接觸殼體、一主殼體、一感測元件以及一處理模組。接觸殼體具有一第一腔體，且第一腔體具有一內表面。主殼體連接於接觸殼體，且具有連通於第一腔之一第二腔體。感測元件設置於第一腔體內，且連接於內表面。處理模組設置於第二腔體內，且電性連接於感測元件。當接觸殼體插置於主軸之插槽時，感測元件用以檢測接觸殼體之一應變量，並產生一檢測訊號。處理模組依據檢測訊號，產生一判斷訊號。

Description

用於工具機之主軸的檢測裝置以及工具機之主軸的檢測方法
本揭露主要關於一種檢測裝置以及檢測方法，尤指一種用於工具機之主軸的檢測裝置以及工具機之主軸的檢測方法。
用於切削或是鑽孔等用途之工具機一般具有一主軸，且一刀具可拆卸地設置於主軸上。主軸可用以旋轉刀具，藉由刀具的旋轉可使得刀具能對一標的物進行切削或是鑽孔。
然而，由於刀具會於使用過程中磨損，因此需要時常更換刀具。於刀具更換的過程中有可能會有切削或是鑽孔的過程中所產生之碎屑跑至主軸中。當新的刀具安裝於主軸中，位於刀具與主軸之間的碎屑會造成刀具傾斜，並造成刀具旋轉時產生大量的震動，進而可能造成主軸的損壞。
一般的檢測方式，使將刀具的表面塗上一檢測漆，並將刀具插置於主軸內後拔出。藉由刀具上之檢測漆是否被主軸刮除來檢測是否主軸內是否具有碎屑。然而，上述之檢測方式並不精準，時常具有誤判之情況，需要提供工具機之主軸的檢測改進方案。
本揭露提供一種用於工具機之主軸的檢測裝置，可即時地檢測工具機之主軸，以防止一刀具設置於不良狀態之主軸上時造成主軸之損壞，或是影響工具機所製作之產品的良率。
本揭露提供一種用於工具機之主軸的檢測裝置，其中主軸包括一插槽。檢測裝置包括一接觸殼體、一主殼體、一感測元件以及一處理模組。接觸殼體具有一第一腔體，且第一腔體具有一內表面。主殼體連接於接觸殼體，且具有連通於第一腔之一第二腔體。感測元件設置於第一腔體內，且連接於內表面。處理模組設置於第二腔體內，且電性連接於感測元件。當接觸殼體插置於主軸之插槽時，感測元件用以檢測接觸殼體之一應變量，並產生一檢測訊號。處理模組依據檢測訊號，產生一判斷訊號。
於一些實施例中，接觸殼體為一錐形結構。插槽具有一連接面，且接觸殼體具有一外表面。於一些實施例中，當接觸殼體插置於主軸之插槽時，外表面接觸於連接面。
於一些實施例中，處理模組依據檢測訊號以及一量化數據取得一接觸率。接觸率對應於外表面與連接面之間的接觸面積。於一些實施例中，連接面以及外表面為錐形。
於一些實施例中，用於工具機之主軸的檢測裝置更包括一顯示模組。顯示模組電性連接於處理模組，且用以顯示對應於判斷訊號之一顯示訊號。
於一些實施例中，用於工具機之主軸的檢測裝置更包括一無線傳輸模組。無線傳輸模組電性連接於處理模組，且用以以無線的方式傳輸判斷訊號。
於一些實施例中，用於工具機之主軸的檢測裝置，更包括一扣合元件，設置於接觸殼體。當接觸殼體插置於主軸之插槽時，扣合元件扣合於插槽內。
於一些實施例中，感測元件為一應變感測器，且感測元件之電阻值對應於應變量。感測元件為一長條形結構，且沿一環狀路徑延伸。
本揭露提供了一種以及工具機之主軸的檢測方法包括：將一檢測裝置插置於一工具機之一主軸內；藉由該檢測裝置之一感測元件檢測該檢測裝置之一接觸殼體之一應變量，並產生一檢測訊號；以及藉由一處理模組依據該檢測訊號以及一量化數據取得一接觸率。
於一些實施例中，量化數據依據下列方法取得：將具有一第一接觸殼體之一第一檢測裝置插置於該主軸內，且藉由該第一檢測裝置之一感測元件檢測該第一接觸殼體，並取得一第一應變量，其中該第一接觸殼體與該主軸之一連接面具有第一接觸率；將具有一第二接觸殼體之一第二檢測裝置插置於該主軸內，且藉由該第二檢測裝置之一感測元件檢測該第二接觸殼體，並取得一第二應變量，其中該第一接觸殼體與該主軸之一連接面具有第二接觸率；以及依據上述第一接觸率、上述第一應變量、上述第二接觸率、以及上述第二應變量形成該量化數據。
於一些實施例中，該等接觸率為該等應變量之等效值。於一些實施例中，該感測模組依據該接觸率取得一判斷訊號。
綜上所述，本揭露之檢測裝置可即時地對工具機之主軸進行檢測，進而減少主軸損壞的機率，或是提高工具機所製作之產品的良率。
以下之說明提供了許多不同的實施例、或是例子，用來實施本揭露之不同特徵。以下特定例子所描述的元件和排列方式，僅用來精簡的表達本揭露，其僅作為例子，而並非用以限制本揭露。例如，第一特徵在一第二特徵上或上方的結構之描述包括了第一和第二特徵之間直接接觸，或是以另一特徵設置於第一和第二特徵之間，以致於第一和第二特徵並不是直接接觸。
於此使用之空間上相關的詞彙，例如上方或下方等，僅用以簡易描述圖式上之一元件或一特徵相對於另一元件或特徵之關係。除了圖式上描述的方位外，包括於不同之方位使用或是操作之裝置。此外，圖式中之形狀、尺寸、厚度、以及傾斜之角度可能為了清楚說明之目的而未依照比例繪製或是被簡化，僅提供說明之用。
第1圖為根據一些實施例中本揭露之工具機A1以及檢測裝置1的剖視圖。第2圖為根據一些實施例中本揭露之檢測裝置1的前視圖。工具機A1可為一切削機或是一鑽孔機，但並不以此為限。工具機A1可包括一主軸A10。一刀具(圖未示)可插置於主軸A10之插槽A11內，且工具機A1可經由主軸A10旋轉刀具。刀具可用以切削一標的物，或是對標的物進行鑽孔。因此，若插槽A11與刀具連接之一連接面A12磨損，或是有鐵屑等碎屑M1(如第4圖所示)附著於連接面A12上，可能會導致刀具無法正確地連接於主軸A10。當主軸A10旋轉刀具時，可能使刀具產生震動，進而導致刀具無法正確地對標的物進行加工，或是造成主軸A10之損壞。
檢測裝置1用以插置於工具機A1之主軸A10，並可藉由檢測裝置1之檢測結果來判斷插槽A11之連接面A12是否良好或是插槽A11內是否有鐵屑等碎屑M1附著。
檢測裝置1可包括一接觸殼體10、一扣合元件20、一限位元件30、一主殼體40、多個感測元件50、以及一處理模組60。接觸殼體10可為一錐形結構。接觸殼體10可由金屬材質所製成，例如鋼。當檢測裝置1插置於主軸A10之插槽A11時，接觸殼體10接觸於插槽A11。
接觸殼體10可具有一尖端11以及一結合端12。接觸殼體10可由結合端12至尖端11逐漸變窄。接觸殼體10可沿一中心軸AX1延伸，且可以中心軸AX1為中心旋轉。換句話說，中心軸AX1可通過接觸殼體10之中心。此外，中心軸AX1可通過尖端11以及結合端12之中心。
接觸殼體10可為一中空結構。接觸殼體10可具有一外表面13、一延伸面14以及一第一腔體15。外表面13之形狀配合於連接面A12之形狀。當檢測裝置1插置於主軸A10之插槽A11時，外表面13接觸於連接面A12。於本實施例中，連接面A12以及外表面13為可錐形。外表面13之直徑可由結合端12至尖端11逐漸變短。延伸面14連結於外表面13。延伸面14可為一環狀表面且可為一圓柱形。延伸面14可沿一延伸方向D1延伸。當檢測裝置1插置於主軸A10之插槽A11時，延伸面14位於插槽A11之外。
第一腔體15可具有一內表面151。第一腔體15以及內表面151可為圓柱形，且可沿延伸方向D1延伸。中心軸AX1可通過第一腔體15之中心。於本實施例中，外表面13以及延伸面14可環繞於第一腔體15。
扣合元件20設置於接觸殼體10之尖端11。當接觸殼體10插置於主軸A10之插槽A11時，扣合元件20扣合於插槽A11內。於本實施例中，主軸A10具有一卡固元件A13，且扣合元件20具有一扣合槽21。當接觸殼體10插置於主軸A10之插槽A11時，卡固元件A13位於扣合槽21內。藉由扣合元件20以及卡固元件A13，使得檢測裝置1可拆卸地設置於主軸A10。此外，卡固元件A13可提供一拉力於扣合元件20，使得外表面13可緊貼於連接面A12。
限位元件30設置於接觸殼體10。於本實施例中，限位元件30可環繞且連接於延伸面14。限位元件30可為一圓柱狀結構。於本實施例中，限位元件30可包括一限位槽31。當接觸殼體10插置於主軸A10之插槽A11時，限位元件30抵接於主軸A10，且主軸A10之部分可位於限位槽31內，以限制檢測裝置1與主軸A10之間的轉動。
上述檢測裝置1之接觸殼體10、扣合元件20及/或限位元件30可對應於一刀具之接觸殼體10、扣合元件20及/或限位元件30。
主殼體40設置於連接於接觸殼體10之結合端12。主殼體40可沿延伸方向D1延伸。主殼體40可為一中空結構。主殼體40可具有一第二腔體41，連通於第一腔體15。第一腔體15可為圓柱形，且中心軸AX1可通過第一腔體15之中心。
第3圖為根據一些實施例中本揭露之接觸殼體10以及感測元件50之仰視圖。感測元件50設置於第一腔體15內，且連接於內表面151。感測元件50為一長條形結構，且沿一環狀路徑P1延伸。於本實施例中，感測元件50具有多個，且沿環型路徑間隔排列。環狀路徑P1可為於垂直於中心軸AX1之一平面上。
於第3圖中，繪製了6個感測元件50，然而感測元件50之數目並不予以限制。檢測裝置1可具有一個感測元件50或是一個以上之感測元件50。於一些實施例中，感測元件50可為一環型結構，沿環狀路徑P1延伸。檢測裝置1可具有兩個或是三個以上之感測元件50。
本實施例中，感測元件50鄰近於結合端12。然而，感測元件50位於內表面151上之位置並不予以限制。於一些實施例中，感測元件50鄰近於尖端11。於一些實施例中，感測元件50位於尖端11以及結合端12之間。於一些實施例中，檢測裝置1可包括多個感測元件50沿延伸方向D1排列於內表面151上。
處理模組60設置於第二腔體41內，且電性連接於感測元件50。於一些實施例中，處理模組60可包括一處理器(process chip)以及一電路板。處理器可設置於電路板上。當接觸殼體10插置於主軸A10之插槽A11時，感測元件50用以檢測接觸殼體10之一應變量，並產生一檢測訊號。處理模組60依據檢測訊號，產生一判斷訊號。
於本實施例中，當接觸殼體10插置於主軸A10之插槽A11時，卡固元件A13對扣合元件20時加一拉力，以使得外表面13抵接於插槽A11之連接面A12，並進而導致接觸殼體10產生變形。由於感測元件50固定於接觸殼體10之內表面151，因此接觸殼體10之變形會導致感測元件50之變形。於本實施例中，感測元件50可為一應變感測器。接觸殼體10之變形可導致感測元件50之長度改變，感測元件50之長度改變會導致感測元件50之電阻值改變。因此，藉由偵測感測元件50之電阻值可推導出接觸殼體10之應變量。換句話說，檢測訊號可對應偵測感測元件50之電阻值。處理模組60可依據感測元件50之電阻值可推導出接觸殼體10之應變量，並產生一判斷訊號。
於第1圖中，主軸A10於一良好狀態。插槽A11之連接面A12與接觸殼體10之外表面13之間並未具有碎屑M1，此外，插槽A11之連接面A12可良好地貼附於外表面13。此時，主軸A10之一旋轉軸AX2與檢測裝置1之中心軸AX1重合，因此主軸A10可穩定地驅動檢測裝置1以旋轉軸AX2為中心旋轉。
第4圖為本揭露之檢測裝置1於一檢測過程中之示意圖。於第4圖中，主軸A10於一不良狀態。如第4圖所示，當主軸A10之插槽A11之連接面A12上附著一碎屑M1，導致檢測裝置1相對於插槽A11傾斜，並使得部分之外表面13與連接面A12分離。換句話說，檢測裝置1之中心軸AX1相對於主軸A10之旋轉軸AX2傾斜。於一些實施例中，當主軸A10之插槽A11之連接面A12受到磨損，或是連接面A12本身具有瑕疵，亦可造成部分之外表面13與連接面A12分離，或是檢測裝置1之中心軸AX1相對於主軸A10之旋轉軸AX2傾斜。
於本實施例中，當部分之外表面13與連接面A12分離時，第4圖之卡固元件A13之拉力造成接觸殼體10之變形量不同於第1圖之卡固元件A13之拉力造成接觸殼體10之變形量。此外，第4圖之感測元件50之電阻值不同於第1圖之感測元件50的電阻值。因此，處理模組60可依據感測元件50之電阻值(檢測訊號)來判斷主軸A10之狀態(例如良好狀態或是不良狀態)。
一般而言，當碎屑M1的體積或數量越多，或是連接面A12之瑕疵越大，將會造成檢測裝置1之中心軸AX1與主軸A10之旋轉軸AX2之間的角度越大，或者外表面13與連接面A12接觸的比率越小。此時，若一刀具裝設於主軸A10上，且主軸A10旋轉刀具時，刀具所產生之震動越大，進而造成刀具無法正確地對標的物進行加工，或是造成主軸A10之損壞。
於本實施例中，為了能精確地測量主軸A10之狀態。處理模組60可依據檢測訊號以及一量化數據取得一接觸率，且判斷訊號可包括上述接觸率。上述接觸率對應於外表面13與連接面A12之間的接觸面積。於本實施例中，接觸率可為接觸面積與外表面13之比率。舉例而言，當接觸率為100%，代表外表面13完整地與連接面A12接觸。當接觸率為80%，可代表外表面13有20%的面積不與連接面A12接觸。當接觸率為60%，可代表外表面13有40%的面積不與連接面A12接觸。
舉例而言，當主軸A10處於一良好狀態時，中心軸AX1可與旋轉軸AX2重合。接觸率可於一良好範圍內。上述良好範圍可為75%至100%的範圍之間。當主軸A10處於一正常狀態(normal range)時，接觸率於一尚可範圍時。上述尚可範圍可於50%至100%的範圍之間。當主軸A10處於良好狀態或是尚可狀態時，使用者可不需對主軸A10進行維修或是清理。
舉例而言，當主軸A10處於一不良狀態時，中心軸AX1相對於旋轉軸AX2傾斜。接觸率可於一不良範圍內。上述不良範圍可小於50%。使用者應盡快對主軸A10進行維修或是清理。
於一些實施例中，量化數據可經由量測之方式取得。首先，使用者可先製備與主軸A10之連接面A12具有不同接觸率之接觸殼體(例如第一接觸殼體、第二接觸殼體、第三接觸殼體、第四接觸殼體、以及第五接觸殼體)。於一些實施例中，量化數據所使用的接觸殼體可為標準件。舉例而言，使用者可製備與主軸A10之連接面A12具有第一接觸率(例如100%接觸率)之一第一接觸殼體、具有第二接觸率(例如75%接觸率)之一第二接觸殼體、具有第三接觸率(例如50%接觸率)之一第三接觸殼體、具有第四接觸率(例如25%接觸率)之一第四接觸殼體、以及具有第五接觸率(例如0%接觸率)之一第五接觸殼體。
之後將具有一第一接觸殼體之檢測裝置1插置於插槽A11內進行測量，並取得感測元件50之第一電阻值(或第一應變量)。將具有第二接觸殼體之檢測裝置1插置於插槽A11內進行測量，並取得感測元件50之第二電阻值(或第二應變量)。將具有第三接觸殼體之檢測裝置1插置於插槽A11內進行測量，並取得感測元件50之第三電阻值(或第三應變量)。將具有第四接觸殼體之檢測裝置1插置於插槽A11內進行測量，並取得感測元件50之第四電阻值(或第四應變量)。將具有第五接觸殼體之檢測裝置1插置於插槽A11內進行測量，並取得感測元件50之第五電阻值(或第五應變量)。
於本實施例中，可藉由上述對應於第一接觸率之第一電阻值(第一應變量)、對應於第二接觸率之第二電阻值(第二應變量)、對應於第三接觸率之第三電阻值(第三應變量)、對應於第四接觸率之第四電阻值(第四應變量)、以及對應於第五接觸率之第五電阻值(第五應變量)，可形成一量化數據。
因此，當使用者實際利用檢測裝置1對一主軸A10進行檢測時，檢測訊號對應之電阻值(或應變量)與上述量化數據之第一至第五電阻值(或應變量)進行比對。即可推算出接觸殼體10之外表面13與主軸A10之連接面A12之間的接觸率。
於一些實施例中，上述藉由量測所取得之量化數據可形成一公式。量化數據可經由感測元件50之電阻率(或是應變量)與接觸率的公式取得。該等接觸率為該等應變量之等效值。於一些實施例中，感測元件50之電阻率(或是應變量)可正比於接觸率。
於一些實施例中，可藉由至少兩組不同接觸率之接觸殼體及其對應之電阻值(應變量)形成上述量化數據。
據此，當處理模組60分析檢測訊號時，可取得感測元件50之電阻率(或是應變量)。之後處理模組60將感測元件50之電阻率與量化數據作一比對即可推算接觸殼體10之外表面13與主軸A10之連接面A12之間的接觸率。
於一些實施例中，判斷訊號更包括一判斷值。處理模組60可依據接觸率產生上述判斷值。舉例而言，上述判斷值對應於主軸A10之良好狀態、尚可狀態、或是不良狀態。當接觸率為75%以上時，判斷值可為1，且對應於主軸A10之良好狀態。當接觸率為50%以上且小於75%時，判斷值可為2，且對應於主軸A10之尚可狀態。當接觸率為小於50%時，判斷值可為3，且對應於主軸A10之不良狀態。
舉例而言，如第5圖所示，第一接觸率為100%，量測到的應變量為82.72με；第二接觸率為75%，量測到的應變量為64.74με；第三接觸率為50%，量測到的應變量為42.83με；第四接觸率為25%，量測到的應變量為21.22με；以及第五接觸率為0%，量測到的應變量為1.31με。藉由上述數值，求得一公式：
Figure 02_image001
後續可藉由檢測裝置1量測到主軸的應變量，處理模組60透過量化數據求得的公式，來計算主軸目前的接觸率。舉例來說，若藉由檢測裝置1量測到的主軸的應變量為77.65με，則處理模組60計算出接觸率為92.51%。
如第1圖及第2圖所示，檢測裝置1可更包括一顯示模組70以及一無線傳輸模組80。顯示模組70電性連接於處理模組60，且用以顯示對應於判斷訊號之一顯示訊號。於一些實施例中，顯示模組70可包括一顯示面板71。顯示面板71可用以顯示對應於判斷訊號之一顯示畫面。於一些實施例中，顯示模組70可包括一顯示裝置。顯示模組70可用以顯示對應於判斷訊號之一顯示畫面。上述顯示畫面可顯示接觸殼體10之外表面13與主軸A10之連接面A12之間的接觸率。
於一些實施例中，顯示模組70可包括多個判斷燈72。顯示模組70可依據判斷訊號之判斷值啟動或是關閉至少一判斷燈72。上述判斷燈72可對應於主軸A10之良好狀態、尚可狀態、或是不良狀態。因此，藉由顯示模組70，使用者可及時地得知主軸A10之狀態，並可判斷是否對主軸A10進行維修或是清理。
無線傳輸模組80電性連接於處理模組60，且用以以無線的方式傳輸判斷訊號。舉例而言，無線傳輸模組80可產生對應於判斷訊號之一無線訊號。一外部終端裝置(圖未示)可接收上述無線訊號。於一些實施例中，外部終端裝置可為一電腦、一伺服器、或是一移動式電子裝置。因此，藉由無線傳輸模組80，使用者可於外部終端裝置對於不同工具機A1之主軸A10進行紀錄以及分析。
綜上所述，本揭露之檢測裝置可即時地對工具機之主軸進行檢測，進而減少主軸損壞的機率，或是提高工具機所製作之產品的良率。
本揭露雖以各種實施例揭露如上，然而其僅為範例參考而非用以限定本揭露的範圍，任何熟習此項技藝者，在不脫離本揭露之精神和範圍內，當可做些許的更動與潤飾。因此上述實施例並非用以限定本揭露之範圍，本揭露之保護範圍當視後附之申請專利範圍所界定者為準。
1:檢測裝置 10:接觸殼體 11:尖端 12:結合端 13:外表面 14:延伸面 15:第一腔體 151:內表面 20:扣合元件 21:扣合槽 30:限位元件 31:限位槽 40:主殼體 41:第二腔體 50:感測元件 60:處理模組 70:顯示模組 71:顯示面板 72:判斷燈 80:無線傳輸模組 A1:工具機 A10:主軸 A11:插槽 A12:連接面 A13:卡固元件 AX1:中心軸 AX2:旋轉軸 D1:延伸方向 P1:環狀路徑 M1:碎屑
當結合附圖閱讀時，可從以下詳細描述中良好地理解本揭露的各方面。應注意的是，根據本產業的一般作業，圖式並未必按照比例繪製。事實上，可能任意的放大或縮小元件的尺寸，以做清楚的說明。 第1圖為根據一些實施例中本揭露之工具機以及檢測裝置的剖視圖。 第2圖為根據一些實施例中本揭露之檢測裝置的前視圖。 第3圖為根據一些實施例中本揭露之接觸殼體以及感測元件之仰視圖。 第4圖為本揭露之檢測裝置於一檢測過程中之示意圖。 第5圖為量化數據之接觸率和應變量的關係圖。
1:檢測裝置
10:接觸殼體
13:外表面
14:延伸面
15:第一腔體
151:內表面
20:扣合元件
21:扣合槽
30:限位元件
40:主殼體
41:第二腔體
50:感測元件
60:處理模組
80:無線傳輸模組
A1:工具機
A10:主軸
A11:插槽
A12:連接面
A13:卡固元件
AX1:中心軸
AX2:旋轉軸
D1:延伸方向

Claims (15)

  1. 一種用於工具機之主軸的檢測裝置，其中該主軸包括一插槽，且該檢測裝置包括：一接觸殼體，具有一第一腔體，且該第一腔體具有一內表面；一主殼體，連接於該接觸殼體，且具有連通於該第一腔體之一第二腔體；一感測元件，設置於該第一腔體內，且連接於該內表面；以及一處理模組，設置於該第二腔體內，且電性連接於該感測元件，其中當該接觸殼體插置於該主軸之該插槽時，該感測元件用以檢測該接觸殼體之一應變量，並產生一檢測訊號，且該處理模組依據該檢測訊號，產生一判斷訊號。
  2. 如申請專利範圍第1項所述之用於工具機之主軸的檢測裝置，其中該接觸殼體為一錐形結構。
  3. 如申請專利範圍第1項所述之用於工具機之主軸的檢測裝置，其中該插槽具有一連接面，且該接觸殼體具有一外表面，當該接觸殼體插置於該主軸之該插槽時，該外表面接觸於該連接面。
  4. 如申請專利範圍第3項所述之用於工具機之主軸的檢測裝置，其中該處理模組依據該檢測訊號以及一量化數據取得一接觸率，其中該接觸率對應於該外表面與該連接面之間的接觸面積。
  5. 如申請專利範圍第3項所述之用於工具機之主軸的檢測裝置，其中該連接面以及該外表面為錐形。
  6. 如申請專利範圍第1項所述之用於工具機之主軸的檢測裝置，更包括一顯示模組，電性連接於該處理模組，且用以顯示對應於該判斷訊號之一顯示訊號。
  7. 如申請專利範圍第1項所述之用於工具機之主軸的檢測裝置，更包括一無線傳輸模組，電性連接於該處理模組，且用以以無線的方式傳輸該判斷訊號。
  8. 如申請專利範圍第1項所述之用於工具機之主軸的檢測裝置，更包括一扣合元件，設置於該接觸殼體，其中當該接觸殼體插置於該主軸之該插槽時，該扣合元件扣合於該插槽內。
  9. 如申請專利範圍第1項所述之用於工具機之主軸的檢測裝置，其中該感測元件為一應變感測器，且該感測元件之電阻值對應於該應變量。
  10. 如申請專利範圍第1項所述之用於工具機之主軸的檢測裝置，其中該感測元件為一長條形結構，且沿一環狀路徑延伸。
  11. 一種工具機之主軸的檢測方法，包括：將一檢測裝置插置於一工具機之一主軸內；藉由該檢測裝置之一感測元件檢測該檢測裝置之一接觸殼體之一應變量，並產生一檢測訊號，其中該接觸殼體具有一第一腔體，該第一腔體具有一內表面，且該感測元件設置於該第一腔體內並連接於該內表面；以及藉由一處理模組依據該檢測訊號以及一量化數據取得一接觸率。
  12. 如申請專利範圍第11項所述之工具機之主軸的檢測方法，其中該量化數據依據下列方法取得：將具有一第一接觸殼體之一第一檢測裝置插置於該主軸內，且藉由該第一檢測裝置之一感測元件檢測該第一接觸殼體，並取得一第一應變量，其中該第一接觸殼體與該主軸之一連接面具有第一接觸率；將具有一第二接觸殼體之一第二檢測裝置插置於該主軸內，且藉由該第二檢測裝置之一感測元件檢測該第二接觸殼體，並取得一第二應變量，其中該第一接觸殼體與該主軸之一連接面具有第二接觸率；以及依據上述第一接觸率、上述第一應變量、上述第二接觸率、以及上述第二應變量形成該量化數據。
  13. 如申請專利範圍第11項所述之工具機之主軸的檢測方法，其中該等接觸率為該等應變量之等效值。
  14. 如申請專利範圍第11項所述之工具機之主軸的檢測方法，其中該感測模組依據該接觸率取得一判斷訊號。
  15. 如申請專利範圍第11項所述之工具機之主軸的檢測方法，其中該檢測裝置更包括一主殼體，連接於該接觸殼體，且具有連通於該第一腔體之一第二腔體，其中該處理模組設置於該第二腔體內，且電性連接於該感測元件。
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