TWI726583B - 警示模組 - Google Patents
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Abstract
一種適於接收第一光線並發出第二光線的警示模組被提出。警示模組包括基板、光感測元件、訊號轉換電路以及至少一發光元件。光感測元件設置於基板上。當光感測元件偵測到第一光線會產生電流訊號。訊號轉換電路電性連接光感測元件與發光元件,且用以將電流訊號轉換成電壓訊號。電壓訊號用以使至少一發光元件發出第二光線,且第二光線的波長範圍不同於第一光線的波長範圍。
Description
本發明是有關於一種環境監控技術,且特別是有關於一種具有感測功能的警示模組。
隨著發光二極體的技術發展日趨成熟,紫外光源的應用也越來越廣泛,舉凡水質或空氣品質的監測、飲用水或醫療器材的消毒、餐具或食品加工器具的殺菌都可見其蹤跡。為了取得較佳的殺菌或消毒效果,所使用的紫外光波長也越來越短。然而,這類的紫外光,例如波長介於280奈米至315奈米的紫外光(即UV-B)、或波長介於100奈米至280奈米的紫外光(即UV-C),對於人體會產生不可輕忽的損害。因此,在廣泛應用紫外光源的同時,如何提升使用者對於非預期的紫外光照射的預警能力是十分重要的。
本發明提供一種具有即時示警功能的警示模組,其具有較佳的成本優勢。
本發明的警示模組適於接收第一光線並發出第二光線。警示模組包括基板、光感測元件、訊號轉換電路以及至少一發光元件。光感測元件設置於基板上。當光感測元件偵測到第一光線會產生電流訊號。訊號轉換電路電性連接光感測元件與至少一發光元件,且用以將電流訊號轉換成電壓訊號。電壓訊號用以使至少一發光元件發出第二光線,且第二光線的波長範圍不同於第一光線的波長範圍。
在本發明的一實施例中,上述的警示模組的第一光線的波長範圍介於100奈米至405奈米之間,且第二光線的波長範圍介於405奈米至700奈米之間。
在本發明的一實施例中,上述的警示模組更包括第一型半導體層、量子井層以及第二型半導體層。第一型半導體層具有第一半導體圖案與第二半導體圖案。量子井層設置於第一型半導體層上,且具有第一量子井圖案與第二量子井圖案。第二型半導體層設置於量子井層上,且具有第三半導體圖案與第四半導體圖案。光感測元件包括彼此重疊的第一半導體圖案、第一量子井圖案與第三半導體圖案。發光元件包括彼此重疊的第二半導體圖案、第二量子井圖案與第四半導體圖案。
在本發明的一實施例中,上述的警示模組的光感測元件更包括第一電極與第二電極。第一電極與第二電極設置於第一半導體圖案的同一側,且分別電性連接第一半導體圖案與第三半導體圖案。發光元件更包括第三電極與第四電極。第三電極與第四
電極設置於第二半導體圖案的同一側,且分別電性連接第二半導體圖案與第四半導體圖案。
在本發明的一實施例中,上述的警示模組更包括第三型半導體層以及第五電極。第三型半導體層重疊設置於光感測元件,且不重疊於發光元件。第二型半導體層位於第三型半導體層與第一型半導體層之間。第五電極設置於第三型半導體層上,且電性連接第三型半導體層。
在本發明的一實施例中,上述的警示模組的發光元件更包括波長轉換層,覆蓋發光元件的第二半導體圖案、第二量子井圖案與第四半導體圖案。
在本發明的一實施例中,上述的警示模組的訊號轉換電路包括轉阻放大器,電性連接於光感測元件與發光元件之間。
在本發明的一實施例中,上述的警示模組的訊號轉換電路更包括非反相放大器,電性連接於轉阻放大器的輸出端與發光元件之間。
在本發明的一實施例中,上述的警示模組更包括控制電路,電性連接於訊號轉換電路與至少一發光元件之間。至少一發光元件為多個發光元件,且電壓訊號傳遞至控制電路並產生驅動訊號,以致能至少部分的這些發光元件。
在本發明的一實施例中,上述的警示模組的基板為藍寶石基板。
基於上述,在本發明的一實施例的警示模組中,透過電
性連接於光感測元件與發光元件之間的訊號轉換電路,將光感測元件接收第一光線所產生的電流訊號轉換成用以驅使發光元件發出第二光線的電壓訊號,可有效提升警示模組之示警功能的即時性。另一方面,透過第二光線的波長範圍(例如可見光波段)不同於第一光線的波長範圍(例如紫外光波段),可讓使用者以更為直覺的方式辨識警示模組所提供的警示信號。
10、11、12、13、14:警示模組
100:基板
110:第一型半導體層
111:第一半導體圖案
112:第二半導體圖案
120:量子井層
121:第一量子井圖案
122:第二量子井圖案
130:第二型半導體層
131:第三半導體圖案
132:第四半導體圖案
140:未摻雜半導體層
141:第五半導體圖案
142:第六半導體圖案
150:歐姆接觸層
151、151A:第一歐姆接觸圖案
152:第二歐姆接觸圖案
160:絕緣層
170:第三型半導體層
200、200A:訊號轉換電路
210:轉阻放大器
210a:輸出端
220:非反相放大器
240:七段顯示器
250:控制電路
300:波長轉換層
A1、A2:陽極
B:基極
C:集極
C1:電容器
E:射極
E1:第一電極
E2、E2A:第二電極
E3:第三電極
E4:第四電極
E5:第五電極
K1、K2:陰極
L1:第一光線
L2:第二光線
L3:第三光線
LED、LED1、LED2:發光元件
OPA、OPA1:運算放大器
PSD、PSD1:光感測元件
R1、R2、R3:電阻器
S1、S2:直流電壓源
圖1是本發明的第一實施例的警示模組的示意圖。
圖2是圖1的警示模組的剖視示意圖。
圖3是本發明的第二實施例的警示模組的剖視示意圖。
圖4是本發明的第三實施例的警示模組的剖視示意圖。
圖5是本發明的第四實施例的警示模組的示意圖。
圖6是本發明的第五實施例的警示模組的示意圖。
在附圖中,為了清楚起見,放大了層、膜、面板、區域等的厚度。應當理解,當諸如層、膜、區域或基板的元件被稱為在另一元件「上」或「連接到」另一元件時,其可以直接在另一元件上或與另一元件連接,或者中間元件可以也存在。相反,當元件被稱為「直接在另一元件上」或「直接連接到」另一元件時,
不存在中間元件。如本文所使用的,「連接」可以指物理及/或電性連接。再者,「電性連接」可為二元件間存在其它元件。
現將詳細地參考本發明的示範性實施例,示範性實施例的實例說明於所附圖式中。只要有可能,相同元件符號在圖式和描述中用來表示相同或相似部分。
圖1是本發明的第一實施例的警示模組的示意圖。圖2是圖1的警示模組的剖視示意圖。特別說明的是,為清楚呈現與說明起見,圖2僅繪示出圖1的光感測元件PSD、發光元件LED與基板100。請參照圖1及圖2,警示模組10包括基板100、光感測元件PSD、發光元件LED以及訊號轉換電路200。光感測元件PSD與發光元件LED設置於基板100上。訊號轉換電路200電性連接於光感測元件PSD與發光元件LED之間。在本實施例中,基板100例如是藍寶石(sapphire)基板、氮化鎵基板、矽晶圓(silicon wafer)基板、碳化矽(silicon carbide)基板或高分子基板,但不以此為限。
警示模組10適於接收第一光線L1並發出第二光線L2,且第一光線L1的波長範圍不同於第二光線L2的波長範圍。具體而言,光感測元件PSD適於接收來自周遭環境的第一光線L1而產生電流訊號,此電流訊號經由訊號轉換電路200直接轉換成可用以驅使發光元件LED發出第二光線L2的電壓訊號。舉例而言,第一光線L1的波長範圍可介於100奈米至405奈米之間,且第二光線L2的波長範圍可介於405奈米至700奈米之間。在本實施例
中,第一光線L1例如是波長介於280奈米至315奈米之間的紫外線(即UV-B),而第二光線L2例如是波長介於495奈米至570奈米之間的綠光,但本發明不以此為限。在其他實施例中,第一光線L1也可以是波長介於100奈米至280奈米之間的紫外線(即UV-C)。
值得一提的是,對人體有害的紫外線(尤其是UV-B與UV-C波段)在照射警示模組10的光感測元件PSD後所形成的電流訊號,可經由訊號轉換電路200轉換成一電壓訊號。發光元件LED在此電壓訊號(例如順向偏壓)的驅動下可發出可見光線(例如綠光)。也就是說,警示模組10在感測到對人體有害的紫外線時,可立即產生人眼可視覺的可見光線,以達到示警的目的。不僅可有效提升警示模組10之示警功能的即時性,還可讓使用者以更為直覺的方式辨識警示模組10所提供的警示信號。
進一步而言,警示模組10更包括依序設置於基板100上的第一型半導體層110、量子井層120以及第二型半導體層130。在本實施例中,第一型半導體層110例如是N型半導體層,第二型半導體層130例如是P型半導體層,但本發明不以此為限。根據其他實施例,第一型半導體層110與第二型半導體層130也可分別是P型半導體層與N型半導體層。P型半導體層與N型半導體層的材質可包括氮化鎵(GaN)、氮化鋁鎵(AlGaN)、氮化銦鎵(InGaN)、氮化鋁銦鎵(AlInGaN)至少其中之一摻雜II族元素或IV族元素所構成,其中本實施例是以氮化鎵(GaN)作為舉例
說明。
另一方面,量子井層120例如是交替堆疊的多個能井層(未繪示)與多個能障層(未繪示),其中能障層的能隙大於能井層的能隙。亦即,本實施例的量子井層120可以是多重量子井(multiple quantum wells)結構。在本實施例中,能障層的材質例如是氮化鎵(GaN),而能井層的材質例如是氮化銦鎵(InGaN),但本發明不以此為限。警示模組10更包括未摻雜半導體層140,設置於基板100與第一型半導體層110之間。在本實施例中,未摻雜半導體層140的材質例如是氮化鎵(GaN),但本發明不以此為限。
進一步而言,成膜於基板100上的第一型半導體層110、量子井層120、第二型半導體層130以及未摻雜半導體層140可透過多道微影蝕刻製程(photolithography and etching process,PEP)而形成對應的多個半導體圖案。舉例而言,在本實施例中,第一型半導體層110可形成第一半導體圖案111與第二半導體圖案112。第二型半導體層130可形成第三半導體圖案131與第四半導體圖案132。量子井層120可形成第一量子井圖案121與第二量子井圖案122。未摻雜半導體層140可形成第五半導體圖案141與第六半導體圖案142。需說明的是,在本實施例中,每一半導體層在微影蝕刻製程後所形成的半導體圖案數量是以兩個為例進行示範性地說明,但本發明並不以此為限。在其他實施例中,每一半導體層所形成之半導體圖案的數量也可根據實際的應用需求而調
整。
值得注意的是,在基板100的法線方向上相互重疊的第一半導體圖案111、第一量子井圖案121、第三半導體圖案131以及第五半導體圖案141可形成本實施例的光感測元件PSD。在基板100的法線方向上相互重疊的第二半導體圖案112、第二量子井圖案122、第四半導體圖案132以及第六半導體圖案142可形成本實施例的發光元件LED。也就是說,本實施例的光感測元件PSD例如是PIN二極體。然而,本發明不限於此,根據其他實施例,光感測元件PSD也可以是蕭基接面光電二極體(Schottky junction photodiode)、MSM(metal-semiconductor-metal)光電二極體、或光電晶體(phototransistor)。
從另一觀點來說,本實施例的光感測元件PSD與發光元件LED是由同一基板100(例如藍寶石基板)上的半導體磊晶結構所製作而成。也就是說,本實施例是以單片積體化(monolithic integration)的方式形成光感測元件PSD與發光元件LED,有助於警示模組10的微型化,並能增加警示模組10的成本優勢。需說明的是,在本實施例中,光感測元件PSD與發光元件LED的數量分別以一個為例進行示範性地說明,並不表示本發明以圖式揭示內容為限制。在其他實施例中,光感測元件PSD與發光元件LED的數量也可根據實際的應用需求而調整,本發明並不加以限制。
進一步而言,光感測元件PSD還包括第一電極E1與第二電極E2,設置於第一半導體圖案111的同一側。第一電極E1
與第二電極E2分別電性連接第一半導體圖案111與第三半導體圖案131。相似地,發光元件LED還包括第三電極E3與第四電極E4,設置於第二半導體圖案112的同一側。第三電極E3與第四電極E4分別電性連接第二半導體圖案112與第四半導體圖案132。在本實施例中,光感測元件PSD與發光元件LED還可分別包括第一歐姆接觸圖案151與第二歐姆接觸圖案152。第一歐姆接觸圖案151連接於第二電極E2與第三半導體圖案131之間,第二歐姆接觸圖案152連接於第四電極E4與第四半導體圖案132之間。特別說明的是,此處的第一歐姆接觸圖案151與第二歐姆接觸圖案152是由同一歐姆接觸層150在進行微影蝕刻製程後所形成的。
警示模組10更包括絕緣層160,覆蓋光感測元件PSD與發光元件LED。詳細而言,絕緣層160的一部分覆蓋光感測元件PSD的第一半導體圖案111、第一量子井圖案121、第三半導體圖案131以及第五半導體圖案141,並暴露出第三半導體圖案131的部分表面,且第一歐姆接觸圖案151直接接觸第三半導體圖案131的此部分表面。相似地,絕緣層160的另一部分覆蓋發光元件LED的第二半導體圖案112、第二量子井圖案122、第四半導體圖案132以及第六半導體圖案142,並暴露出第四半導體圖案132的部分表面,且第二歐姆接觸圖案152直接接觸第四半導體圖案132的此部分表面。另一方面,光感測元件PSD的第一電極E1與發光元件LED的第三電極E3貫穿絕緣層160以分別電性連接第一半導體圖案111與第二半導體圖案112。值得一提的是,透過絕
緣層160的設置,可確保光感測元件PSD與發光元件LED彼此電性獨立,有助於警示模組10的微型化。
請繼續參照圖1及圖2,光感測元件PSD的第一電極E1與第二電極E2可分別電性連接訊號轉換電路200的一輸入端與直流電壓源S1的負極,其中直流電壓源S1的正極接地。更具體地說,第一電極E1與第二電極E2可分別作為光感測元件PSD的陰極K1與陽極A1,且光感測元件PSD處於一逆向偏壓的狀態下進行光感測。然而,本發明不限於此,根據其他實施例,光感測元件PSD也可處於無偏壓的狀態下進行光感測。另一方面,發光元件LED的第三電極E3電性連接訊號轉換電路200的一輸出端,而第四電極E4接地。更具體地說,第三電極E3與第四電極E4可分別做為發光元件LED的陽極A2與陰極K2,且發光元件LED處於一順向偏壓的狀態下進行發光。
在本實施例中,訊號轉換電路200可包括運算放大器OPA以及電阻-電容(RC)電路,其中RC電路可包括相互並聯的電容器C1與電阻器R1,且連接於運算放大器OPA的反相輸入端(inverting input)與運算放大器OPA的輸出端之間,而運算放大器OPA的非反相輸入端(non-inverting input)接地。也就是說,本實施例的訊號轉換電路200可以是轉阻放大器(transimpedance amplifier,TIA),用以將光感測元件PSD所產生的光電流(或電流訊號)轉換成對應的數位信號(例如電壓訊號),致使發光元件LED處於一順向偏壓的狀態而發出第二光線L2,但本發明不以此
為限。
從另一觀點來說,在光感測元件PSD上接收的第一光線L1(例如紫外線)的光強弱可透過上述電路的配置關係,直接反應在發光元件LED所發出的第二光線L2(例如可見光線)的光強度上。舉例來說,當第一光線L1的光強度超過警示模組10所預設的安全等級(safety level)越多,則發光元件LED所發出的第二光線L2的光強度越大。因此,使用者可以更為直覺的方式辨識警示模組10所即時提供的警示信號。換句話說,可提升警示模組10在使用上的便利性與即時性。
需說明的是,在本實施例中,第一光線L1可選擇性地由基板100的上方入射光感測元件PSD,但本發明不以此為限。根據其他未示出的實施例,第一光線L1的入射方向也可根據實際的應用需求與產品設計而調整,例如:第一光線L1可由基板100的下方入射光感測元件PSD,或者是由同一基板100上設有紫外光發光元件的一側入射光感測元件PSD,以達到監控所述紫外光發光元件的發光效率的目的。
以下將列舉另一些實施例以詳細說明本揭露,其中相同的構件將標示相同的符號,並且省略相同技術內容的說明,省略部分請參考前述實施例,以下不再贅述。
圖3是本發明的第二實施例的警示模組的剖視示意圖。請參照圖3,本實施例的警示模組11與圖2的警示模組10的差異在於:發光元件的組成不同。在本實施例中,警示模組11的發光
元件LED1更包括波長轉換層300,設置於第二歐姆接觸圖案152與絕緣層160上。詳細而言,波長轉換層300覆蓋發光元件LED的第二半導體圖案112、第二量子井圖案122與第四半導體圖案132,並暴露出第四電極E4。在本實施例中,波長轉換層300的材料例如是螢光粉(phosphor)。
特別說明的是,此處的波長轉換層300可用以將發光元件LED1所發出的第三光線L3(例如藍光或紫外光)轉換成第二光線L2(例如紅光或其他適合的可見光線)。據此,可增加半導體材料的選用彈性,有助於提升警示模組11的設計裕度。需說明的是,本發明並不以圖3揭示內容為限制,在其他實施例中,波長轉換層300的設置處也可根據實際的應用需求與設計而調整,例如:在一未示出的實施例中,發光元件所發出的第三光線L3是朝向基板100的方向射出。因此,波長轉換層300也可設置在基板100遠離發光元件的一側表面上,或者是位於基板100與發光元件之間。
應可理解的是,為了避免發光元件LED1所發出的第三光線L3橫向傳遞至光感測元件PSD而影響其感測的準確性,發光元件LED1與光感測元件PSD之間還可設有遮光結構(未繪示)。舉例而言,遮光結構的材質可包括金屬、黑色樹脂材料、或其他適於阻擋光線通過的材料。
圖4是本發明的第三實施例的警示模組的剖視示意圖。請參照圖4,本實施例的警示模組12與圖2的警示模組10的差異
在於:光感測元件的組成與構型不同。在本實施例中,光感測元件PSD1還具有第三型半導體層170,設置於第三半導體圖案131上。在本實施例中,第三型半導體層170例如是N型半導體層,而N型半導體層的材質可包括氮化鎵(GaN)、氮化鋁鎵(AlGaN)、氮化銦鎵(InGaN)、氮化鋁銦鎵(AlInGaN)至少其中之一摻雜II族元素或IV族元素所構成,其中本實施例是以氮化鎵(GaN)作為舉例說明。特別說明的是,本實施例的第三型半導體層170可透過反向摻雜(counter doping)第二型半導體層130(例如是P型半導體層)的部分區域而得,但本發明不以此為限。
進一步而言,光感測元件PSD1更包括第五電極E5,設置於第三型半導體層170上,且電性連接第三型半導體層170。在本實施例中,由於第二電極E2A與第五電極E5並列設置於第三半導體圖案131上,因此第二電極E2A與第一歐姆接觸圖案151A在基板100的法線方向上不重疊於第三型半導體層170。舉例而言,在本實施例中,光感測元件PSD1的第一電極E1、第二電極E2A與第五電極E5分別是集極(collector)、基極(base)與射極(emitter)。也就是說,本實施例的光感測元件PSD1為反應性(responsivity)更佳的雙極性光電晶體(bipolar phototransistor)。據此,可進一步提升警示模組12的感應靈敏度。
圖5是本發明的第四實施例的警示模組的示意圖。請參照圖5,本實施例的警示模組13與圖1的警示模組10的差異在於:光感測元件的種類不同以及訊號轉換電路的組成不同。在本
實施例中,警示模組13是採用如圖4所示的雙極性光電晶體作為光感測元件PSD1。也就是說,圖4的第一電極E1、第二電極E2A與第五電極E5可分別作為本實施例的光感測元件PSD1的集極C、基極B與射極E。有關雙極性光電晶體(即光感測元件PSD1)的詳細說明請參見前述實施例的相關段落,於此便不再重述。
在本實施例中,訊號轉換電路200A更包括非反相放大器(non-inverting amplifier)220,電性連接於轉阻放大器210的輸出端210a與發光元件LED的陽極A2之間。舉例而言,非反相放大器220可包括另一運算放大器OPA1、電阻器R2與電阻器R3,其中轉阻放大器210的輸出端210a電性連接於運算放大器OPA1的非反相輸入端,彼此串聯的電阻器R2與電阻器R3電性連接於運算放大器OPA1的輸出端,且運算放大器OPA1的反相輸入端電性連接於電阻器R2與電阻器R3之間,但本發明不以此為限。
值得注意的是,透過此非反相放大器220的設置,可進一步放大轉阻放大器210所產生的電壓訊號,有助於提升發光元件LED的警示效果。從另一觀點來說,也可增加光感測元件PSD的感測靈敏度,並降低警示模組13對於第一光線L1(例如紫外光)所能預警的最小光強度。特別說明的是,本實施例的運算放大器OPA的非反相輸入端與直流電壓源S1的正極都電性連接至另一直流電壓源S2的負極,而直流電壓源S2的正極接地。據此,可藉由直流電壓源S2所產生的反向偏壓預補償暗電流(dark current)經由轉阻放大器210所產生的電壓訊號中的直流偏移(DC
offset)。
圖6是本發明的第五實施例的警示模組的示意圖。請參照圖6,本實施例的警示模組14與圖1的警示模組10的差異在於:發光元件的數量不同。在本實施例中,發光元件LED2的數量為七個,且這些發光元件LED2是以數字「8」的形式排列於基板100上。更具體地說,本實施例的警示模組14是以七段顯示器(seven-segment display)240來顯示有害光線(例如紫外線)的危險等級。為了達到數值顯示的目的,警示模組14更包括控制電路250,電性連接於訊號轉換電路200與七段顯示器240之間。
舉例來說,訊號轉換電路200所產生的電壓訊號在傳遞至控制電路250後,產生對應的驅動訊號,且此驅動訊號可使至少部分的發光元件LED2被致能而顯示出代表危險等級的數值(例如數字1至數字9)。因此,本實施例的警示模組14在光感測元件PSD感測到有害光線時,透過七段顯示器240的數值呈現可提供更為明確且量化的危害警示。在本實施例中,控制電路250可包括解碼器、微控制器(microcontroller)、或其他適合的組合邏輯電路,但不以此為限。
綜上所述,在本發明的一實施例的警示模組中,透過電性連接於光感測元件與發光元件之間的訊號轉換電路,將光感測元件接收第一光線所產生的電流訊號轉換成用以驅使發光元件發出第二光線的電壓訊號,可有效提升警示模組之示警功能的即時性。另一方面,透過第二光線的波長範圍(例如可見光波段)不
同於第一光線的波長範圍(例如紫外光波段),可讓使用者以更為直覺的方式辨識警示模組所提供的警示信號。
10:警示模組
100:基板
200:訊號轉換電路
A1、A2:陽極
C1:電容器
K1、K2:陰極
L1:第一光線
L2:第二光線
LED:發光元件
OPA:運算放大器
PSD:光感測元件
R1:電阻器
S1:直流電壓源
Claims (9)
- 一種警示模組,適於接收一第一光線並發出一第二光線,該警示模組包括:一基板;一光感測元件,設置於該基板上,其中該光感測元件接收該第一光線以產生一電流訊號;一訊號轉換電路,電性連接該光感測元件,且該訊號轉換電路用以將該電流訊號轉換成一電壓訊號;至少一發光元件,電性連接該訊號轉換電路,其中該電壓訊號用以使該至少一發光元件發出該第二光線,且該第二光線的波長範圍不同於該第一光線的波長範圍;一第一型半導體層,具有一第一半導體圖案與一第二半導體圖案;一量子井層,設置於該第一型半導體層上,且具有一第一量子井圖案與一第二量子井圖案;以及一第二型半導體層,設置於該量子井層上,且具有一第三半導體圖案與一第四半導體圖案,其中該光感測元件包括彼此重疊的該第一半導體圖案、該第一量子井圖案與該第三半導體圖案,該發光元件包括彼此重疊的該第二半導體圖案、該第二量子井圖案與該第四半導體圖案。
- 如申請專利範圍第1項所述的警示模組,其中該第一光線的波長範圍介於100奈米至405奈米之間,且該第二光線的波長範圍介於405奈米至700奈米之間。
- 如申請專利範圍第1項所述的警示模組,其中該光感測元件更包括一第一電極與一第二電極,設置於該第一半導體圖案的同一側,且分別電性連接該第一半導體圖案與該第三半導體圖案,該發光元件更包括一第三電極與一第四電極,設置於該第二半導體圖案的同一側,且分別電性連接該第二半導體圖案與該第四半導體圖案。
- 如申請專利範圍第3項所述的警示模組,更包括:一第三型半導體層,重疊設置於該光感測元件,且不重疊於該發光元件,其中該第二型半導體層位於該第三型半導體層與該第一型半導體層之間;以及一第五電極,設置於該第三型半導體層上,且電性連接該第三型半導體層。
- 如申請專利範圍第1項所述的警示模組,其中該發光元件更包括一波長轉換層,覆蓋該發光元件的該第二半導體圖案、該第二量子井圖案與該第四半導體圖案。
- 如申請專利範圍第1項所述的警示模組,其中該訊號轉換電路包括一轉阻放大器,電性連接於該光感測元件與該發光元件之間。
- 如申請專利範圍第6項所述的警示模組,其中該訊號轉換電路更包括一非反相放大器,電性連接於該轉阻放大器的一輸出端與該發光元件之間。
- 如申請專利範圍第6項所述的警示模組,更包括一控制電路,電性連接於該訊號轉換電路與該至少一發光元件之間,其中該至少一發光元件為多個發光元件,且該電壓訊號傳遞至該控制電路並產生一驅動訊號,以致能至少部分該些發光元件。
- 如申請專利範圍第1項所述的警示模組,其中該基板為一藍寶石基板。
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Citations (5)
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---|---|---|---|---|
US4241258A (en) * | 1978-12-11 | 1980-12-23 | Firetek Corporation | Ultraviolet fire detector |
US6603126B2 (en) * | 2000-12-26 | 2003-08-05 | Glory Ltd. | UV/fluorescence detecting apparatus and sensing method thereof |
CN1864052A (zh) * | 2003-10-09 | 2006-11-15 | 皇家飞利浦电子股份有限公司 | 紫外辐射的检测和报警设备及方法 |
TWM444510U (zh) * | 2012-05-25 | 2013-01-01 | Yu Da High School | 紫外線偵測裝置 |
TWI432707B (zh) * | 2010-12-13 | 2014-04-01 | Au Optronics Corp | 紫外光感測顯示裝置 |
-
2020
- 2020-01-16 TW TW109101495A patent/TWI726583B/zh active
Patent Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4241258A (en) * | 1978-12-11 | 1980-12-23 | Firetek Corporation | Ultraviolet fire detector |
US6603126B2 (en) * | 2000-12-26 | 2003-08-05 | Glory Ltd. | UV/fluorescence detecting apparatus and sensing method thereof |
CN1864052A (zh) * | 2003-10-09 | 2006-11-15 | 皇家飞利浦电子股份有限公司 | 紫外辐射的检测和报警设备及方法 |
TWI432707B (zh) * | 2010-12-13 | 2014-04-01 | Au Optronics Corp | 紫外光感測顯示裝置 |
TWM444510U (zh) * | 2012-05-25 | 2013-01-01 | Yu Da High School | 紫外線偵測裝置 |
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