TWI719824B

TWI719824B - 天線結構

Info

Publication number: TWI719824B
Application number: TW109103648A
Authority: TW
Inventors: 魏仕強
Original assignee: 啓碁科技股份有限公司
Priority date: 2020-02-06
Filing date: 2020-02-06
Publication date: 2021-02-21
Also published as: US20210249776A1; TW202131548A; US11563275B2

Abstract

一種天線結構，包括：一金屬機構件、一介質基板、一饋入輻射部、一耦合輻射部、一接地面、一第一短路部、一第二短路部，以及一電路元件。金屬機構件具有一槽孔。介質基板具有相對之一第一表面和一第二表面。饋入輻射部係延伸跨越槽孔。耦合輻射部係鄰近於饋入輻射部。第一短路部係耦接至接地面上之一第一接地點。第二短路部係耦接至金屬機構件。電路元件係耦接於第一短路部和第二短路部之間。耦合輻射部係設置於介質基板之該第一表面上。饋入輻射部係設置於介質基板之第二表面上。

Description

天線結構

本發明係關於一種天線結構(Antenna Structure)，特別係關於一種寬頻(Wideband)天線結構。

隨著行動通訊技術的發達，行動裝置在近年日益普遍，常見的例如：手提式電腦、行動電話、多媒體播放器以及其他混合功能的攜帶型電子裝置。為了滿足人們的需求，行動裝置通常具有無線通訊的功能。有些涵蓋長距離的無線通訊範圍，例如：行動電話使用2G、3G、LTE(Long Term Evolution)系統及其所使用700MHz、850 MHz、900MHz、1800MHz、1900MHz、2100MHz、2300MHz以及2500MHz的頻帶進行通訊，而有些則涵蓋短距離的無線通訊範圍，例如：Wi-Fi、Bluetooth系統使用2.4GHz、5.2GHz和5.8GHz的頻帶進行通訊。

天線(Antenna)為無線通訊領域中不可缺少之元件。倘若用於接收或發射信號之天線其頻寬(Bandwidth)不足，則很容易造成行動裝置之通訊品質下降。因此，如何設計出小尺寸、寬頻帶之天線元件，對天線設計者而言是一項重要課題。

在較佳實施例中，本發明提出一種天線結構，包括：一金屬機構件，具有一槽孔，其中該槽孔具有一第一閉口端和一第二閉口端；一介質基板，具有相對之一第一表面和一第二表面；一饋入輻射部，耦接至一信號源，並延伸跨越該槽孔；一耦合輻射部，鄰近於該饋入輻射部；一接地面，耦接至該金屬機構件；一第一短路部，耦接至該接地面上之一第一接地點；一第二短路部，耦接至該金屬機構件；以及一電路元件，耦接於該第一短路部和該第二短路部之間；其中該耦合輻射部係設置於該介質基板之該第一表面上，而該饋入輻射部係設置於該介質基板之該第二表面上。

在一些實施例中，該接地面為一接地銅箔，並由該金屬機構件上延伸至該介質基板之該第一表面和該第二表面上。

在一些實施例中，該饋入輻射部為一不等寬結構，並包括一較窄部份和一較寬部份。

在一些實施例中，該耦合輻射部於該介質基板之該第二表面上具有一垂直投影，而該耦合輻射部之該垂直投影係與該饋入輻射部之該較寬部份至少部份重疊。

在一些實施例中，該耦合輻射部係呈現一T字形。

在一些實施例中，該耦合輻射部包括一中央加寬部份，而該中央加寬部份係呈現一較大矩形。

在一些實施例中，該耦合輻射部為浮接狀態(Floating)且未直接接觸該饋入輻射部。

在一些實施例中，該電路元件於該金屬機構件上具有一垂直投影，而該電路元件之該垂直投影係完全位於該槽孔之內部。

在一些實施例中，該電路元件為一電阻器、一電感器、一電容器，或是一調整晶片。

在一些實施例中，該天線結構涵蓋一第一頻帶和一第二頻帶，該第一頻帶係介於698MHz至960MHz之間，而該第二頻帶係介於1710MHz至3000MHz之間。

在一些實施例中，該槽孔之長度係大致等於該第一頻帶之0.5倍波長。

在一些實施例中，該耦合輻射部之長度係介於該第一頻帶之0.25倍至0.5倍波長之間。

在一些實施例中，該天線結構更包括：一第一寄生輻射部，設置於該介質基板之該第一表面或該第二表面上，並耦接至該接地面上之一第二接地點，其中該第一寄生輻射部係呈現一N字形。

在一些實施例中，該第一寄生輻射部包括一末端加寬部份，而該末端加寬部份係呈現一較小矩形。

在一些實施例中，該第一寄生輻射部之長度係介於該第二頻帶之0.25倍至0.5倍波長之間。

在一些實施例中，該天線結構更包括：一第二寄生輻射部，設置於該介質基板之該第一表面或該第二表面上，並耦接至該接地面上之一第三接地點，其中該第二寄生輻射部包括一U字形部份。

在一些實施例中，該第二寄生輻射部之長度係介於該第二頻帶之0.25倍至0.5倍波長之間。

在一些實施例中，該天線結構更包括：一第三寄生輻射部，設置於該介質基板之該第一表面或該第二表面上，並耦接至該第一短路部，其中該第三寄生輻射部係呈現一L字形。

在一些實施例中，該第三寄生輻射部之長度係介於該第二頻帶之0.25倍至0.5倍波長之間。

在一些實施例中，該天線結構更包括：一電容器，耦接於該信號源和該饋入輻射部之間；以及一電感器，耦接於該饋入輻射部和該接地面之間。

為讓本發明之目的、特徵和優點能更明顯易懂，下文特舉出本發明之具體實施例，並配合所附圖式，作詳細說明如下。

在說明書及申請專利範圍當中使用了某些詞彙來指稱特定的元件。本領域技術人員應可理解，硬體製造商可能會用不同的名詞來稱呼同一個元件。本說明書及申請專利範圍並不以名稱的差異來作為區分元件的方式，而是以元件在功能上的差異來作為區分的準則。在通篇說明書及申請專利範圍當中所提及的「包含」及「包括」一詞為開放式的用語，故應解釋成「包含但不僅限定於」。「大致」一詞則是指在可接受的誤差範圍內，本領域技術人員能夠在一定誤差範圍內解決所述技術問題，達到所述基本之技術效果。此外，「耦接」一詞在本說明書中包含任何直接及間接的電性連接手段。因此，若文中描述一第一裝置耦接至一第二裝置，則代表該第一裝置可直接電性連接至該第二裝置，或經由其它裝置或連接手段而間接地電性連接至該第二裝置。

第1A圖係顯示根據本發明一實施例所述之天線結構(Antenna Structure)100之俯視圖。天線結構100可以套用於一行動裝置(Mobile Device)，例如：一智慧型手機(Smart Phone)、一平板電腦(Tablet Computer)，或是一筆記型電腦(Notebook Computer)。如第1A圖所示，天線結構100至少包括：一金屬機構件(Metal Mechanism Element)110、一介質基板(Dielectric Substrate)130、一饋入輻射部(Feeding Radiation Element)140、一耦合輻射部(Coupling Radiation Element)150、一接地面(Ground Plane)160、一第一短路部(Shorting Element)170、一第二短路部180，以及一電路元件(Circuit Element)190，其中饋入輻射部140、耦合輻射部150、接地面160、第一短路部170，以及第二短路部180皆可用金屬材質製成，例如：銅、銀、鋁、鐵，或是其合金。

金屬機構件110可以是行動裝置之一金屬外殼。在一些實施例中，金屬機構件110為一筆記型電腦之一金屬上蓋，或為一平板電腦之一金屬背蓋，但亦不僅限於此。舉例而言，若行動裝置為一筆記型電腦，則金屬機構件110可為筆記型電腦領域中俗稱之「A件」。金屬機構件110具有一槽孔120，其中金屬機構件110之槽孔120可大致呈現一直條形。詳細而言，槽孔120可具有互相遠離之一第一閉口端(Closed End)121和一第二閉口端122。天線結構100亦可包括一非導體材質，其係填充於金屬機構件110之槽孔120中，以達成防水或防塵之功能。

介質基板130可以是一FR4(Flame Retardant 4)基板、一印刷電路板(Printed Circuit Board，PCB)，或是一軟性電路板(Flexible Circuit Board，FCB)。介質基板130具有相對之一第一表面E1和一第二表面E2，其中介質基板130之第二表面E2係鄰近於金屬機構件110之槽孔120。必須注意的是，本說明書中所謂「鄰近」或「相鄰」一詞可指對應之二元件間距小於一既定距離(例如：5mm或更短)，但通常不包括對應之二元件彼此直接接觸之情況(亦即，前述間距縮短至0)。耦合輻射部150係設置於介質基板130之第一表面E1上，而饋入輻射部140係設置於介質基板130之第二表面E2上。抑或，耦合輻射部150可設置於介質基板130之第二表面E2上，而饋入輻射部140可設置於介質基板130之第一表面E1上。另一方面，第一短路部170、第二短路部180，以及電路元件190可皆設置於介質基板130之第一表面E1上，或是可皆設置於介質基板130之第二表面E2上，此二種設計均不影響本發明之功效。在一些實施例中，天線結構100更包括一支撐元件115，其可由非導體材質所製成，例如：塑膠材質。支撐元件115係設置於金屬機構件110上，並用於支撐及固定介質基板130和其上之所有元件。支撐元件115可用於避免饋入輻射部140直接接觸金屬機構件110。必須理解的是，支撐元件115為一選用元件(Optional Element)，在其他實施例中亦可移除之。第1B圖係顯示根據本發明一實施例所述之天線結構100於介質基板130之第一表面E1上之一部份元件之俯視圖。第1C圖係顯示根據本發明一實施例所述之天線結構100於介質基板130之第二表面E2上之另一部份元件之透視圖(亦即，將介質基板130視為一透明元件)。第1D圖係顯示根據本發明一實施例所述之天線結構100之側視圖。請一併參考第1A、1B、1C、1D圖以理解本發明。

饋入輻射部140可為一不等寬結構(Variable-Width Structure)，並可包括一較窄部份141和一較寬部份142，其中較寬部份142可經由較窄部份141係耦接至一信號源(Signal Source)199。例如，信號源199可以是一射頻(Radio Frequency，RF)模組，其可用於激發天線結構100。饋入輻射部140係延伸跨越槽孔120。亦即，饋入輻射部140於金屬機構件110上具有一垂直投影(Vertical Projection)，其中饋入輻射部140之垂直投影係與槽孔120至少部份重疊。

耦合輻射部150可以大致呈現一T字形。詳細而言，耦合輻射部150具有一第一端151、一第二端152，以及一第三端153，並可包括一中央加寬部份(Central Widening Portion)155，而中央加寬部份155可呈現一較大矩形。耦合輻射部150之第一端151、第二端152，以及第三端153皆為開路端(Open End)，而中央加寬部份155係位於耦合輻射部150之第一端151處。耦合輻射部150係鄰近於饋入輻射部140。必須注意的是，耦合輻射部150為浮接狀態(Floating)且未直接接觸饋入輻射部140。耦合輻射部150於介質基板130之第二表面E2上具有一垂直投影，而耦合輻射部150之垂直投影係與饋入輻射部140之較寬部份142至少部份重疊。

接地面160可呈現一階梯狀。例如，接地面160可經由一銅箔、一鋁箔、一導電布、一螺絲鎖附、一彈片，或是一導電海綿(未顯示)耦接至金屬機構件110，再由金屬機構件110上延伸至介質基板130之第一表面E1和第二表面E2上。在一些實施例中，天線結構100更包括一或複數個導電貫通元件(Conductive Via Element)162。該等導電貫通元件162可穿透介質基板130，並可連接於其第一表面E1和第二表面E2之間。

第一短路部170耦接至接地面160上之一第一接地點(Grounding Point)GP1。第二短路部180係耦接至金屬機構件110。第二短路部180可呈現另一階梯狀。例如，第二短路部180可經由一銅箔、一鋁箔、一導電布、一螺絲鎖附、一彈片，或是一導電海綿(未顯示)耦接至金屬機構件110，再由金屬機構件110上延伸至介質基板130之第一表面E1上。電路元件190係耦接於第一短路部170和第二短路部180之間。電路元件190於金屬機構件110上具有一垂直投影，其中電路元件190之垂直投影可以至少部份或是完全位於槽孔120之內部。在一些實施例中，電路元件190為一電阻器(Resistor)、一電感器(Inductor)、一電容器(Capacitor)、一調整晶片(Tuner IC)，或是其組合。例如，前述之電阻器可為一固定電阻器(Fixed Resistor)或是一可變電阻器(Variable Resistor)，前述之電感器可為一固定電感器(Fixed Inductor)或是一可變電感器(Variable Inductor)，而前述之電容器可為一固定電容器(Fixed Capacitor)或是一可變電容器(Variable Capacitor)。另外，前述之調整晶片可以具有切換(Switch)與電抗調整(Reactance Adjustment)之功能。

在一些實施例中，天線結構100更包括一第一寄生輻射部(Parasitic Radiation Element)210，其係由金屬材質所製成，並設置於介質基板130之第一表面E1上。在另一些實施例中，第一寄生輻射部210亦可改為設置於介質基板130之第二表面E2上，而不致影響本發明之功效。第一寄生輻射部210可以大致呈現一N字形。詳細而言，第一寄生輻射部210具有一第一端211和一第二端212，其中第一寄生輻射部210之第一端211係耦接至接地面160上之一第二接地點GP2，而第一寄生輻射部210之第二端212為一開路端。第一寄生輻射部210更可包括一末端加寬部份(Terminal Widening Portion)215，其中末端加寬部份215可以大致呈現一較小矩形，並可位於第一寄生輻射部210之第二端212處。第一寄生輻射部210之末端加寬部份215於金屬機構件110上具有一垂直投影，而末端加寬部份215之垂直投影可與槽孔120至少部份重疊。必須理解的是，第一寄生輻射部210為一選用元件，在其他實施例中亦可移除之。

在一些實施例中，天線結構100更包括一第二寄生輻射部220，其係由金屬材質所製成，並設置於介質基板130之第一表面E1上。在另一些實施例中，第二寄生輻射部220亦可改為設置於介質基板130之第二表面E2上，而不致影響本發明之功效。第二寄生輻射部220可以包括一U字形部份225。詳細而言，第二寄生輻射部220具有一第一端221和一第二端222，其中第二寄生輻射部220之第一端221係耦接至接地面160上之一第三接地點GP3，而第二寄生輻射部220之第二端222為一開路端。第二寄生輻射部220之第二端222和耦合輻射部150之第三端153可大致朝相反且互相靠近之方向作延伸。第二寄生輻射部220之U字形部份225於金屬機構件110上具有一垂直投影，而U字形部份225之垂直投影可與槽孔120至少部份重疊。必須理解的是，第二寄生輻射部220為一選用元件，在其他實施例中亦可移除之。

在一些實施例中，天線結構100更包括一第三寄生輻射部230，其係由金屬材質所製成，並設置於介質基板130之第一表面E1上。例如，第三寄生輻射部230與第一短路部170可位於介質基板130之同一表面上。在另一些實施例中，第三寄生輻射部230亦可改為設置於介質基板130之第二表面E2上，而不致影響本發明之功效。第三寄生輻射部230可以大致呈現一L字形。詳細而言，第三寄生輻射部230具有一第一端231和一第二端232，其中第三寄生輻射部230之第一端231係耦接至第一短路部170，而第三寄生輻射部230之第二端232為一開路端並鄰近於耦合輻射部150之第一端151。第三寄生輻射部230於金屬機構件110上具有一垂直投影，而第三寄生輻射部230之垂直投影可與槽孔120至少部份重疊。必須理解的是，第三寄生輻射部230為一選用元件，在其他實施例中亦可移除之。

第2圖係顯示根據本發明一實施例所述之天線結構100之返回損失(Return Loss)圖，其中橫軸代表操作頻率(MHz)，而縱軸代表返回損失(dB)。根據第2圖之量測結果，天線結構100可以涵蓋一第一頻帶FB1和一第二頻帶FB2。例如，第一頻帶FB1可介於698MHz至960MHz之間，而第二頻帶FB2可介於1710MHz至3000MHz之間。因此，天線結構100至少可支援LTE(Long Term Evolution)之多頻帶操作。

在天線原理方面，第一頻帶FB1和第二頻帶FB2皆可由饋入輻射部140和金屬機構件110之槽孔120所共同激發產生。耦合輻射部150可用於微調第一頻帶FB1之頻率偏移量(Frequency Shift Amount)和阻抗匹配(Impedance Matching)。根據實際量測結果，電路元件190之加入可同時增加第一頻帶FB1和第二頻帶FB2之操作頻寬。當電路元件190為一可調元件(Tunable Element)時，第一頻帶FB1和第二頻帶FB2之操作頻寬還可進一步擴大。另外，第一寄生輻射部210、第二寄生輻射部220，以及第三寄生輻射部230皆可用於微調第二頻帶FB2之頻率偏移量和阻抗匹配。

在一些實施例中，天線結構100之元件尺寸可如下列所述。金屬機構件110之槽孔120之長度LS可以大致等於天線結構100之第一頻帶FB1之0.5倍波長(λ/2)。耦合輻射部150之長度L1可介於天線結構100之第一頻帶FB1之0.25倍至0.5倍波長之間(λ/4～λ/2)。第一寄生輻射部210之長度L2可介於天線結構100之第二頻帶FB2之0.25倍至0.5倍波長之間(λ/4～λ/2)。第二寄生輻射部220之長度L3可介於天線結構100之第二頻帶FB2之0.25倍至0.5倍波長之間(λ/4～λ/2)。第三寄生輻射部230之長度L4可介於天線結構100之第二頻帶FB2之0.25倍至0.5倍波長之間(λ/4～λ/2)。耦合輻射部150之長度L1和中央加寬部份155之長度L5之比值(L1/L5)可介於2至8之間，例如：大約為5。以上元件尺寸之範圍係根據多次實驗結果而得出，其有助於最佳化天線結構100之操作頻寬和阻抗匹配。

第3圖係顯示根據本發明一實施例所述之天線結構300之俯視圖。第3圖和第1A圖相似。在第3圖之實施例中，天線結構300更包括一電容器C和一電感器L，其中電容器C係耦接於信號源199和饋入輻射部140之較窄部份141之間，而電感器L係耦接於饋入輻射部140之較窄部份141和接地面160之間。電容器C和電感器L可用於微調天線結構300之饋入阻抗值。為了最佳化前述饋入阻抗值，電容器C之電容值(Capacitance)可以大於或等於5pF，例如：6pF，而電感器L之電感值(Inductance)可以大於或等於6nH，例如：10nH。第3圖之天線結構300之其餘特徵皆與第1A、1B、1C、1D圖之天線結構100類似，故此二實施例均可達成相似之操作效果。

第4圖係顯示根據本發明一實施例所述之天線結構300之返回損失圖，其中橫軸代表操作頻率(MHz)，而縱軸代表返回損失(dB)。根據第4圖之量測結果，天線結構300可以涵蓋一第一頻帶FB3和一第二頻帶FB4。例如，第一頻帶FB3可介於698MHz至960MHz之間，而第二頻帶FB4可介於1710MHz至3000MHz之間。因此，天線結構300至少可支援LTE之多頻帶操作。

必須注意的是，在加入電容器C和電感器L之後，天線結構300之一耦合輻射部350及其中央加寬部份355之尺寸可進一步微縮。例如，耦合輻射部350之長度L6可小於或等於天線結構300之第一頻帶FB3之0.25倍波長(λ/4)。耦合輻射部350之長度L6和中央加寬部份355之長度L7之比值(L6/L7)可介於1.5至5.5之間，例如：大約為3。以上元件尺寸之範圍係根據多次實驗結果而得出，其有助於最佳化天線結構300之操作頻寬和阻抗匹配。

本發明提出一種新穎之天線結構，其可與行動裝置之一金屬機構件互相整合。由於金屬機構件可以視為天線結構之一延伸部份，其將不會對天線結構之輻射性能造成負面影響。相較於傳統設計，本發明可兼得小尺寸、寬頻帶，以及低製造成本等優勢，故其很適合應用於各種各式之行動通訊裝置當中。

值得注意的是，以上所述之元件尺寸、元件形狀、元件參數，以及頻率範圍皆非為本發明之限制條件。天線設計者可以根據不同需要調整這些設定值。本發明之天線結構並不僅限於第1-4圖所圖示之狀態。本發明可以僅包括第1-4圖之任何一或複數個實施例之任何一或複數項特徵。換言之，並非所有圖示之特徵均須同時實施於本發明之天線結構當中。

在本說明書以及申請專利範圍中的序數，例如「第一」、「第二」、「第三」等等，彼此之間並沒有順序上的先後關係，其僅用於標示區分兩個具有相同名字之不同元件。

本發明雖以較佳實施例揭露如上，然其並非用以限定本發明的範圍，任何熟習此項技藝者，在不脫離本發明之精神和範圍內，當可做些許的更動與潤飾，因此本發明之保護範圍當視後附之申請專利範圍所界定者為準。

100,300:天線結構 110:金屬機構件 115:支撐元件 120:槽孔 121:槽孔之第一閉口端 122:槽孔之第二閉口端 130:介質基板 140:饋入輻射部 141:饋入輻射部之較窄部份 142:饋入輻射部之較寬部份 150、350:耦合輻射部 151:耦合輻射部之第一端 152:耦合輻射部之第二端 153:耦合輻射部之第三端 155,355:耦合輻射部之中央加寬部份 160:接地面 162:導電貫通元件 170:第一短路部 180:第二短路部 190:電路元件 199:信號源 210:第一寄生輻射部 211:第一寄生輻射部之第一端 212:第一寄生輻射部之第二端 215:第一寄生輻射部之末端加寬部份 220:第二寄生輻射部 221:第二寄生輻射部之第一端 222:第二寄生輻射部之第二端 225:第二寄生輻射部之U字形部份 230:第三寄生輻射部 231:第三寄生輻射部之第一端 232:第三寄生輻射部之第二端 C:電容器 E1:介質基板之第一表面 E2:介質基板之第二表面 FB1:第一頻帶 FB2:第二頻帶 FB3:第三頻帶 FB4:第四頻帶 GP1:第一接地點 GP2:第二接地點 GP3:第三接地點 L:電感器 LS,L1,L2,L3,L4,L5,L6,L7:長度

第1A圖係顯示根據本發明一實施例所述之天線結構之俯視圖。第1B圖係顯示根據本發明一實施例所述之天線結構於介質基板之第一表面上之一部份元件之俯視圖。第1C圖係顯示根據本發明一實施例所述之天線結構於介質基板之第二表面上之另一部份元件之透視圖。第1D圖係顯示根據本發明一實施例所述之天線結構之側視圖。第2圖係顯示根據本發明一實施例所述之天線結構之返回損失圖。第3圖係顯示根據本發明一實施例所述之天線結構之俯視圖。第4圖係顯示根據本發明一實施例所述之天線結構之返回損失圖。

100:天線結構

110:金屬機構件

120:槽孔

121:槽孔之第一閉口端

122:槽孔之第二閉口端

130:介質基板

140:饋入輻射部

150:耦合輻射部

151:耦合輻射部之第一端

152:耦合輻射部之第二端

153:耦合輻射部之第三端

155:耦合輻射部之中央加寬部份

160:接地面

162:導電貫通元件

170:第一短路部

180:第二短路部

190:電路元件

199:信號源

210:第一寄生輻射部

211:第一寄生輻射部之第一端

212:第一寄生輻射部之第二端

215:第一寄生輻射部之末端加寬部份

220:第二寄生輻射部

221:第二寄生輻射部之第一端

222:第二寄生輻射部之第二端

225:第二寄生輻射部之U字形部份

230:第三寄生輻射部

231:第三寄生輻射部之第一端

232:第三寄生輻射部之第二端

E1:介質基板之第一表面

GP1:第一接地點

GP2:第二接地點

GP3:第三接地點

LS:長度

Claims

一種天線結構，包括：一金屬機構件，具有一槽孔，其中該槽孔具有一第一閉口端和一第二閉口端；一介質基板，具有相對之一第一表面和一第二表面；一饋入輻射部，耦接至一信號源，並延伸跨越該槽孔；一耦合輻射部，鄰近於該饋入輻射部；一接地面，耦接至該金屬機構件；一第一短路部，耦接至該接地面上之一第一接地點；一第二短路部，耦接至該金屬機構件；以及一電路元件，耦接於該第一短路部和該第二短路部之間；其中該耦合輻射部係設置於該介質基板之該第一表面上，而該饋入輻射部係設置於該介質基板之該第二表面上；其中該耦合輻射部為浮接狀態(Floating)且未直接接觸該饋入輻射部。
如申請專利範圍第1項所述之天線結構，其中該接地面為一接地銅箔，並由該金屬機構件上延伸至該介質基板之該第一表面和該第二表面上。
如申請專利範圍第1項所述之天線結構，其中該饋入輻射部為一不等寬結構，並包括一較窄部份和一較寬部份。
如申請專利範圍第3項所述之天線結構，其中該耦合輻射部於該介質基板之該第二表面上具有一垂直投影，而該耦合輻射部之該垂直投影係與該饋入輻射部之該較寬部份至少部份重疊。
如申請專利範圍第1項所述之天線結構，其中該耦合輻射部係呈現一T字形。
如申請專利範圍第1項所述之天線結構，其中該耦合輻射部包括一中央加寬部份，而該中央加寬部份係呈現一較大矩形。
如申請專利範圍第1項所述之天線結構，其中該電路元件於該金屬機構件上具有一垂直投影，而該電路元件之該垂直投影係完全位於該槽孔之內部。
如申請專利範圍第1項所述之天線結構，其中該電路元件為一電阻器、一電感器、一電容器，或是一調整晶片。
如申請專利範圍第1項所述之天線結構，其中該天線結構涵蓋一第一頻帶和一第二頻帶，該第一頻帶係介於698MHz至960MHz之間，而該第二頻帶係介於1710MHz至3000MHz之間。
如申請專利範圍第9項所述之天線結構，其中該槽孔之長度係大致等於該第一頻帶之0.5倍波長。
如申請專利範圍第9項所述之天線結構，其中該耦合輻射部之長度係介於該第一頻帶之0.25倍至0.5倍波長之間。
如申請專利範圍第9項所述之天線結構，更包括：一第一寄生輻射部，設置於該介質基板之該第一表面或該第二表面上，並耦接至該接地面上之一第二接地點，其中該第一寄生輻射部係呈現一N字形。
如申請專利範圍第12項所述之天線結構，其中該第一寄生輻射部包括一末端加寬部份，而該末端加寬部份係呈現一較小矩形。
如申請專利範圍第12項所述之天線結構，其中該第一寄生輻射部之長度係介於該第二頻帶之0.25倍至0.5倍波長之間。
如申請專利範圍第9項所述之天線結構，更包括：一第二寄生輻射部，設置於該介質基板之該第一表面或該第二表面上，並耦接至該接地面上之一第三接地點，其中該第二寄生輻射部包括一U字形部份。
如申請專利範圍第15項所述之天線結構，其中該第二寄生輻射部之長度係介於該第二頻帶之0.25倍至0.5倍波長之間。
如申請專利範圍第9項所述之天線結構，更包括：一第三寄生輻射部，設置於該介質基板之該第一表面或該第二表面上，並耦接至該第一短路部，其中該第三寄生輻射部係呈現一L字形。
如申請專利範圍第17項所述之天線結構，其中該第三寄生輻射部之長度係介於該第二頻帶之0.25倍至0.5倍波長之間。
如申請專利範圍第1項所述之天線結構，更包括：一電容器，耦接於該信號源和該饋入輻射部之間；以及一電感器，耦接於該饋入輻射部和該接地面之間。