TWI705274B - 連接器系統及其組件 - Google Patents

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Abstract

本發明公開一種連接器系統，其包括相互對接的第一連接器組件與第二連接器組件，所述第一、第二連接器組件均包括殼體及組裝於殼體內的一對透鏡模組，前述殼體具有平滑的對接介面。前述透鏡模組包括磁鐵及透鏡，前述兩個透鏡模組的磁鐵極性相反且具有中空部，前述透鏡收容於磁鐵的中空部內。藉磁鐵之間的校準趨勢使得透鏡模組對接時具有精確對位，從而保證了連接器組件之間定位的準確性。

Description

連接器系統及其組件
本發明係關於一種連接器系統，尤其涉及一種可精確對位的連接器組件。
先前的高頻微波晶片可在對接時進行高速資料速率傳輸，而對接時晶片與晶片之間則需要精確定位以避免過多的訊號損耗。設備的金屬機殼應用該晶片時，需要在機殼上開孔並安裝透鏡以集中訊號，然設備與外設之間皆為平滑表面且無對準特徵，造成對位困難。而傳統的機械校準裝置大體為板對板連接器，其連接器分別為具有凸起特徵與凹陷特徵的兩連接器，該等連接器又不利於設備一體美觀的需求。
是以，鑒於以上問題，實有必要提供一種新的技術方案，以克服前述問題。
本發明所要達成之目的係提供一種連接器系統，其包括相互對接的第一連接器組件與第二連接器組件，所述連接器組件為具有透鏡模組的連接器組件，前述透鏡模組可藉其磁鐵的磁性吸引而保證連接器組件的精確定位。
為解決前述問題，本發明可採用如下技術方案：一種連接器組件，其包括：殼體及組裝於殼體內的一對透鏡模組，前述殼體具有平滑的對接介面，前述模組包括磁鐵及透鏡，前述兩個透鏡模組的磁鐵極性相反且具有中空部，前述透鏡收容於磁鐵的中空部內。
與先前技術相比，本發明的連接器系統，其包括相互對接的第一連接器組件與第二連接器組件，當第一連接器組件與第二連接器組件對接時，前述第一連接器組件與第二連接器組件的磁鐵相互吸引，使得第一連接器組件與第二連接器組件的對接介面相對滑動直至前述第一連接器組件與第二連接器組件的磁鐵相互吸引對準。
1、2:連接器組件
10、20:殼體
11、21:電路板
12、22:透鏡模組
13、23:晶片
14、24:吸收裝置
15、25:電連接器
101、201:對接介面
120、220:圓形磁性元件
121、221:光學透鏡
第一圖係本發明連接器系統之立體示意圖。
第二圖係第一圖所示連接器系統的另一角度之立體示意圖。
第三圖係第一圖所示連接器系統的第一連接器組件之分解圖。
第四圖係第二圖所示連接器系統的第二連接器組件之分解圖。
第五圖係第一圖所示連接器系統中連接器組件對接時之剖視圖。
如第一圖至第二圖所示，本發明提供了一種連接器系統，前述連接器系統包括相互配接的第一連接器組件1和第二連接器組件2。前述第一連接器組件1和第二連接器組件2分別應用於電子設備及與電子設備配套的週邊設備上，且藉彼此的對接達到電子設備之間的訊號傳輸的功能。
如第三圖所示，前述第一連接器組件1包括殼體10、電路板11及位於殼體10內的一對透鏡模組12。前述殼體10具有平滑的對接介面101，以提供對位功能。前述電路板11設置於第一連接器組件1的殼體10內，且前述透鏡模組12安裝於前述電路板11上。前述透鏡模組12設置於對接介面101且未凸伸出對接介面101。每個透鏡模組12均包括圓形磁性元件120及光學透鏡121，前述磁性元件120具有中空部，前述透鏡121收容於磁性元件120的中空部內且磁性元件120與透鏡121的圓心相互重疊。
藉先前技術可知，由於磁鐵與鐵磁元件對接時所形成的磁力吸引較弱，且兩者之間對接時會有錯位發生的可能；而兩磁鐵對接時配接的磁鐵之間存在有校準的趨勢，當兩者校準時兩磁鐵之間的磁力吸引最強；是以本發明中磁性元件120均為磁鐵。此時透鏡模組12對接時具有精確對位，從而保證了定位的準確性。另前述兩個透鏡模組12的磁鐵120極性相反，使得前述第一連接器組件1僅能在單一方向上對接。
本實施方式中，前述磁鐵120為一體式結構，前述透鏡121安裝於磁鐵120的中空部內且藉膠粘方式固定於磁鐵120內。而在其他實施方式中，前述單個透鏡模組12的磁鐵120包括上磁鐵和下磁鐵，前述透鏡121安裝於上、下磁鐵之間且藉上、下磁鐵之間的相互吸引而夾持於磁鐵120內。結合第五圖所示，前述透鏡模組12還包括收容於磁鐵120的中空部內且與透鏡121對準的晶片13，前述晶片13為高頻微波晶片，可用於對接時進行高速資料傳輸。前述兩透鏡模組12的晶片13均安裝至電路板11上且分別用作發射晶片與接收晶片，用以訊號的發出與接收。而兩透鏡模組12的透鏡121也對應用作訊號的射出與射入。
前述第一連接器組件1還包括位於兩個透鏡模組12之間且安裝於電路板11上的吸收裝置14及電連接器15。結合第五圖所示，前述吸收裝置14和電連接器15均貫穿殼體10且暴露至殼體10的對接介面101上。前述吸收裝置14位於兩個透鏡模組12中間用以吸收晶片13傳輸訊號時所產生的向外發散的雜波，而前述電連接器15則臨近於其中一個透鏡模組12用以傳輸訊號與電流。在本實施方式中，前述第一連接器組件1的電連接器15為探針式連接器。
如第四圖所示，前述第二連接器組件2的結構與第一連接器組件1的結構大致相同。前述第二連接器組件包括殼體20、電路板21及位於殼體21內的一對透鏡模組22。前述殼體20具有平滑的對接介面201，以提供對位功能。每個透鏡模組22均包括圓形磁鐵220及光學透鏡221，前述磁鐵220具有中空部，前 述透鏡221收容於磁鐵220的中空部內且磁鐵220與透鏡221的圓心相互重疊。前述第二連接器組件2還包括收容於透鏡模組22內的晶片23、位於兩個透鏡模組22之間且安裝於電路板21上的吸收裝置24及電連接器25。前述第二連接器組件2與第一連接器組件的區別在於：前述第二連接器組件2的電連接器25的端子為非彈性端子。
如第五圖所示，當第一連接器組件1與第二連接器組件2對接時，前述第一連接器組件1與第二連接器組件2的磁鐵相互吸引，使得第一連接器組件1與第二連接器組件2的平滑對接介面相對滑動直至前述第一連接器組件1與第二連接器組件2的磁鐵相互吸引對準。此時，第一連接器組件1與第二連接器組件2相對接的磁鐵之間的磁力吸引最強，保證了第一連接器組件1與第二連接器組件2的透鏡模組中的透鏡相互之間精確定位，從而使得第一連接器組件1與第二連接器組件2中晶片的訊號傳輸達到最佳效果。
上述實施例為本發明的較佳實施方式，而非全部之實施方式。本領域普通技術人員通過閱讀本新型說明書而對本發明技術方案採取的任何等效的變化，均為本新型之申請專利範圍所涵蓋。
10、20:殼體
11、21:電路板
13、23:晶片
14、24:吸收裝置
15、25:電連接器
121、221:光學透鏡

Claims (10)

  1. 一種連接器組件，用於與另一連接器組件對接並定義有一對接方向，其包括：殼體，具有平滑的對接介面；一對透鏡模組，組裝於殼體內，所述一對透鏡模組沿與所述對接方向垂直的橫向方向彼此平行設置；其中所述透鏡模組包括磁鐵及透鏡，前述兩個透鏡模組的磁鐵極性相反且具有中空部，前述透鏡收容於磁鐵的中空部內。
  2. 如請求項1所述之連接器組件，其中所述透鏡模組設置於對接介面且未凸伸出對接介面，所述透鏡模組包括收容於磁鐵的中空部內且與透鏡對準的晶片，前述兩透鏡模組的晶片分別用作發射晶片與接收晶片，用以訊號的發出與接收。
  3. 如請求項2所述之連接器組件，其中所述連接器組件包括收容於殼體內且位於兩透鏡模組之間的吸收裝置，前述吸收裝置用以吸收透鏡傳輸訊號時所產生的向外發散的雜波。
  4. 如請求項1所述之連接器組件，其中所述磁鐵為一體式中空結構，前述透鏡安裝於磁鐵的中空部內且藉膠粘方式固定於磁鐵內，且前述磁鐵與透鏡的圓心相互重疊。
  5. 如請求項1所述的連接器組件，其中所述透鏡模組的磁鐵包括上、下磁鐵，前述透鏡安裝於上、下磁鐵之間且藉上、下磁鐵之間的相互吸引而夾持於磁鐵內。
  6. 如請求項1所述的連接器組件，其中所述連接器組件包括用以傳輸電流的電連接器，前述電連接器設置於對接介面且臨近於其中一個透鏡模組。
  7. 如請求項1所述的連接器組件，其中所述連接器組件還包括設置於殼體內的電路板，前述透鏡模組安裝於前述電路板上。
  8. 一種連接器系統，其包括相互對接的第一連接器組件與第二連接器組件，第一連接器組件與第二連接器組件結構相同，均包括如請求項1至請求項5中任一項所述的連接器組件；其中當第一連接器組件與第二連接器組件對接時，前述第一連接器組件與第二連接器組件的磁鐵相互吸引，使得第一連接器組件與第二連接器組件的對接介面相對滑動直至前述第一連接器組件與第二連接器組件的磁鐵相互吸引對準。
  9. 如請求項8所述的連接器系統，其中所述第一連接器組件與第二連接器組件僅能在單一方向上對接。
  10. 如請求項8所述的連接器系統，其中所述第一連接器組件與第二連接器組件均設有用以傳輸電流的電連接器，且前述第一連接器組件的電連接器為探針式連接器。
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