TWI693390B - 用於檢測水中餘氯之光學檢測裝置 - Google Patents
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Abstract
一種用於檢測水中餘氯之光學檢測裝置。光學檢測裝置適用以檢測待測水中是否含有餘氯。光學檢測裝置包含電源供應器、光源、光導結構以及光偵測器。光源電性連接該電源供應器，且光源用以提供至少一特定波長之光線。光導結構具有連接段、導光段以及檢測段。連接段連接光源，配置以接收光源所提供之光線。檢測段配置以浸入待測水中。光偵測器分別耦合光源與光導結構，配置以取得經由光導結構反射之光線的強度。
Description
本發明是有關於一種光學檢測裝置，且特別是有關於一種用於檢測水中餘氯之光學檢測裝置。
目前的自來水多以氯氣消毒，當氯氣溶於水中會變成次氯酸或次氯酸根離子，即俗稱有效餘氯。有效餘氯在配水管中停留時可預防細菌的滋生，因此有效餘氯在自來水的安全衛生上扮演極重要的角色。
根據台灣自來水公司表示，餘氯含量需在0.2~1ppm的範圍內，此範圍可有效的殺菌，且對人體無害。然而，一般民眾在家並無簡易的儀器或方法來得知餘氯含量是否超出標準，若長期使用或飲用到餘氯超出含量的水的話，則會危害身體健康。
因此，本發明之一目的是在提供一種檢測水中餘氯之光學檢測裝置，主要是利用光導結構來增強光能量，藉此增強水中之餘氯檢測之感測效率。
根據本發明之上述目的，提出一種用於檢測水中餘氯之光學檢測裝置。光學檢測裝置適用以檢測待測水中是否含有餘氯。光學檢測裝置包含電源供應器、光源、光導結構以及光偵測器。光源電性連接該電源供應器，且光源用以提供至少一特定波長之光線。光導結構具有連接段、導光段以及檢測段。連接段連接光源，配置以接收光源所提供之光線，檢測段配置以浸入待測水中。光偵測器分別連接光源與光導結構，配置以取得經由光導結構反射之光線的強度。
依據本發明之一實施例，上述之待測水中之餘氯量需大於0ppm且小於或等於10ppm。
依據本發明之一實施例，上述之電源供應器提供之電壓需大於1V，電流需大於0.1A。
依據本發明之一實施例，上述之特定波長光線之波長範圍為350nm~850nm。
依據本發明之一實施例，上述之光導結構為多模光纖。光導結構包含芯軸以及保護層包覆在芯軸外。其中，芯軸靠近其兩端的部分不具有保護層，且芯軸不具有保護層的部分分別定義為連接段以及檢測段。
依據本發明之一實施例，上述之檢測段之長度大於0mm且小於或等於200mm，光導結構總長之長度大於0mm且小於或等於3400mm。
依據本發明之一實施例，上述之連接段之長度大於0mm且小於或等於200mm、該導光段之長度大於0mm且小於或等於3000mm、以及該檢測段之長度大於0mm且
小於或等於200mm。
依據本發明之一實施例，上述之光源是透過光纖分路器耦合光偵測器以及光導結構。
依據本發明之一實施例，上述之光纖分路器連接第一光纖、第二光纖、以及第三光纖。其中，第一光纖是耦合至光源，第二光纖是耦合至光偵測器，第三光纖是耦合至光導結構。
依據本發明之一實施例，上述之光源外罩設有燈罩，第三光纖是透過光纖固定器耦合光導結構。
依據本發明之一實施例，上述之光學檢測裝置更包含處理裝置。處理裝置訊號連接光偵測器，且該處理裝置配置以根據一關係式來計算待測水中之餘氯濃度與光偵測器所取得之光線強度的關係。
由上述可知，利用本發明之光導結構來使光線產生全反射，以與餘氯多次作用，可有效感測待測水中之餘氯，並可進一步取得餘氯濃度與光線強度的線性關係。另一方面，藉由餘氯與光線強度之線性關係亦可提升光學檢測裝置檢測餘氯之準確性。
100‧‧‧光學檢測裝置
110‧‧‧電源供應器
120‧‧‧光源
121‧‧‧燈罩
130‧‧‧光導結構
130a‧‧‧連接段
130b‧‧‧導光段
130c‧‧‧檢測段
131‧‧‧芯軸
132‧‧‧保護層
140‧‧‧光偵測器
150‧‧‧處理裝置
200‧‧‧光纖分路器
210‧‧‧第一光纖
220‧‧‧第二光纖
230‧‧‧第三光纖
231‧‧‧光纖固定器
300‧‧‧光學檢測裝置
310‧‧‧光源
320‧‧‧光感測器
330‧‧‧電源供應器
340‧‧‧資料擷取器
350‧‧‧處理裝置
400‧‧‧夾具
A1‧‧‧總長度
D1‧‧‧長度
D2‧‧‧長度
D3‧‧‧長度
LQ‧‧‧待測水
為了更完整了解實施例及其優點，現參照結合所附圖式所做之下列描述，其中：
〔圖1〕係繪示依照本發明之一實施方式之一種光學檢測裝置之裝置示意圖；〔圖2〕係繪示光線在本發明之一實施方式之一種光導結構中行徑之示意圖；〔圖3〕至〔圖5〕分別為使用樣本2、6及23之光導結構所獲得之氯濃度與光強度之關係圖；〔圖6〕為所有數據經正規化後所歸納出之氯濃度與光強度之關係圖；〔圖7〕係繪示依照一比較例之一種光學檢測裝置之裝置示意圖；〔圖8〕為利用比較例之光學檢測裝置做實驗所獲得之實驗結果。
請參照圖1，其係繪示依照本發明之一實施方式之一種光學檢測裝置之裝置示意圖。本實施方式之光學檢測裝置100主要適用以檢測待測水LQ中是否含有餘氯，其可應用於飲水機或一般自來水供應器。在本實施例中，光學檢測裝置100主要包含電源供應器110、光源120、光導結構130以及光偵測器140。電源供應器110電性連接光源120，以提供電源給光源120。光源120用以提供至少一特定波長之光線。光導結構130的一端連接光源120，另一端是浸入待測水LQ中。在一實施例中，光偵測器140可為光譜儀。光偵測器140分別連接光源120與光導結構130，且光偵測
器140可取得經由光導結構130反射之光線的強度。藉此，透過光偵測器140觀察特定波長之光強度，可進一步判斷待測水中之餘氯濃度。
在一些實施例中，光偵測器140可電性連接處理裝置150，且處理裝置150可進一步擷取光偵測器140之光強度以及其他相關訊號，藉以計算出待測水LQ中之餘氯濃度與光強度的關係。另一方面，本發明主要是利用光導結構130來使光線產生多次全反射，故光導結構130除了具有減少能量耗損之功能外，在光導結構130中多次全反射的光線亦可與待測水LQ中之餘氯進行多次反應，進而提升感測效率。
請再次參照圖1，光源120是透過光纖分路器200耦合光偵測器140以及光導結構130。也就是說，光源120所產生之光線可透過光纖分路器200而傳至光偵測器140以及光導結構130中。在本實施例中，光纖分路器200連接第一光纖210、第二光纖220、以及第三光纖230。第一光纖210是耦合至光源120。在一些實施例中，為了使光源120所產生之光線完全進入至第一光纖120中，光源120外可罩設燈罩121，且第一光纖210是固定在燈罩121上。第二光纖220是耦合至光偵測器140。第三光纖230是透過光纖固定器231耦合至光導結構130。藉此，光源120所產生之光線可透過光纖分路器200而傳至光偵測器140以及光導結構130中。
在一些實施例中，光導結構130可為多模光
纖。在一例子中，光導結構130的長度約為70mm，直徑約為400±8μm。如圖1所示，光導結構130包含芯軸131以及包覆在芯軸131外的保護層132，且芯軸131靠近其兩端的部分不具有保護層132。在本實施例中，芯軸131不具有保護層132的部分分別定義為連接段130a以及檢測段130c，芯軸131包含保護層132的部分定義為導光段130b。在一具體例子中，光導結構130的連接段130a以及檢測段130c是利用剝除在多模光纖之兩端的保護層132，並露出芯軸131所形成，其餘部分即為導光段130b。其中，連接段130a主要是用來固定在光纖固定器231中，檢測段130c則是用於浸入待測水中。另請一併參照圖2，其係繪示光線在本發明之一實施方式之一種光導結構中行徑之示意圖。光源120所提供之光線從連接段130a進入光導結構130後，可在光導結構130產生全反射，且到達檢測段130c的光線可與待測水LQ進行多次反應。因為入射光與含有餘氯的待測水LQ作用下會被吸收，故反射光的強度會有所變化。藉此，透過光偵測器140與處理裝置150觀測反射光的強度變化，可進一步得知待測水LQ中餘氯的濃度。
請繼續參照圖1，光導結構130具有總長度A1。其中，連接段130a具有長度D1，導光段130b具有長度D2，檢測段130c具有長度D3。在一些實施例中，連接段130a的長度D1、導光段130b的長度D2以及檢測段130c的長度D3比為0.75：1.75：1~1：1.5：1。為了獲得長度D1、長度D2及長度D3與餘氯檢測的關係為何，以下是利用總長度
A1為70mm的光導結構130，並搭配長度D1分別為15mm、16mm、17mm、18mm、19mm、20mm之連接段130a、以及長度D3分別為5mm、10mm、15mm、20mm之檢測段130c共24種不同的光導結構來進行實驗。實驗條件主要是使用可提供350~850nm波長光線之光源120，待測水中之餘氯量需大於0ppm且小於或等於10ppm。實驗步驟主要是將不同的光導結構分別固定在光纖固定器231上，再分別插入不同濃度的待測水LQ中，並透過光偵測器140以及處理裝置150取得餘氯濃度與光線強度之關係，實驗結果如下表一所示。
由表一可知，當檢測段130c的長度D3在20mm時，餘氯濃度與光強度的關係在線性回歸分析結果的R2均較接近1，具有線性關係。這表示，利用檢測段130c與光導結構130之總長度A1比例為2：7的光導結構130來做實驗，可取得餘氯濃度與光強度的線性關係。藉此，可利用此線性關係準確地計算出待測水中之餘氯濃度。另由表一可知，當連接段130a與檢測段130c均為20mm時，R2的數值最接近1，代表線性回歸解釋的能力最強，故以下進一步利用此長度來製作30組光導結構130，並分別以這些光導結構130來進行實驗，以進一步驗證使用光導結構130是否均能找到餘
氯濃度與光強度的線性關係。
請參照表二，表二為分別使用樣本1~30之光導結構做出之實驗結果。其中，在實驗條件中，電源供應器110設定之參數為電壓大於1V，電流大於0.1A，光源120所提供之光線波長為350nm~850nm。在實驗步驟中，先將光導結構固定在如圖1所示之光纖固定器231上，再將光導結構的檢測段分別插入不同含氯濃度的待測水中，並透過光偵測器140以及處理裝置150取得與記錄待測水中餘氯濃度與光強度之對應數據，最後再將這些實驗數據利用SigmaPlot來繪製成圖3至圖5所示之餘氯濃度與光強度之關係圖。圖3至圖5分別為使用樣本2、6及13之光導結構所獲得之氯濃度與光強度之關係圖。從圖3至圖5可看出，使用樣本2、6及13所做出之關係圖中，關係線的斜率均為負值，且R2都非常接近1，代表餘氯濃度與光強度成反比，且線性回歸方程式的解釋能力較高。從表二可知，利用30個樣本做30次同樣的實驗，都可得到負斜率趨勢，且R2數值均偏高，故具有統計意義。
另請參照圖6，其為所有數據經正規化後所歸納出之氯濃度與光強度之關係圖。由前述可知，將表二之30個樣本的實驗數據利用SigmaPlot來繪製餘氯濃度與光強度之關係圖後，均可得到每一個樣本之餘氯濃度與光強度關係的線性方程式。若先刪除這些數據中的離群值後，再將這些數據以正規化的方式進行比較，可歸納出如圖6所示之代表這些數據之趨勢線，從此趨勢線可推知待測水中之餘氯濃度與光線強度的關係。在一些特定例子中，發明人發現，當連接段130a之長度大於0mm且小於或等於200mm，導光段130b之長度大於0mm且小於或等於3000mm、以及檢測段之長度大於0mm且小於或等於200mm時，亦可獲得與前述實驗相同之結果。
另請參照圖7，其係繪示依照一比較例之一種光學檢測裝置之裝置示意圖。比較例的光學檢測裝置300主要包含光源310、光感測器320、電源供應器330、資料擷取
器340以及處理裝置350。電源供應器330用以提供電源。電源供應器330電性連接光源310，以供應電源給光源310。光源310可提供350~850nm波長之光線。光感測器320電性連接資料擷取器340，且資料擷取器340配置以取得光感測器320所感測到之電流變化，處理裝置350則是用來處理資料擷取器340所取得之電流變化等相關資料。
在利用比較例之光學檢測裝置300來進行餘氯檢測實驗時，可先設定電源供應器330對光源310提供大於0.1A的電流以及大於1V的電壓。然後，分別將裝有不同濃度之餘氯的待測水固定在一夾具400中，再將光源310與光感測器320分別固定在夾具之相對兩側，進而使得光感測器320感測光源310所產生之光線在射入待測水中之後的電流變化。
在比較例的實驗中，可取得不同濃度對應不同電流平均數之數據，最後再將這些實驗數據利用SigmaPlot來繪製成圖8所示之餘氯濃度與電流之關係圖。如圖8所示，餘氯濃度與電流並沒有任何的線性關係，故無法用來檢測餘氯濃度。
由前述實施例與比較例的實驗結果可知，利用本發明之光導結構來使光線產生全反射，以與餘氯多次作用，可有效感測待測水中之餘氯，並可進一步取得餘氯濃度與光線強度的線性關係。另一方面，藉由餘氯與光線強度之線性關係亦可提升光學檢測裝置檢測餘氯之準確性。欲陳明者，前述實施例已證明光導結構能夠強化餘氯檢測之效果，
雖然前述實施例是使用總光導長度全長為70mm的光導結構來做實驗，但以目前生產技術及應用經驗上，光導結構的長度為3400mm的產品，亦可適用於本發明之光學檢測裝置中，以達到相同之效果。
雖然本發明已以實施例揭露如上，然其並非用以限定本發明，任何所屬技術領域中具有通常知識者，在不脫離本發明的精神和範圍內，當可作些許的更動與潤飾，故本發明的保護範圍當視後附的申請專利範圍所界定者為準。
100‧‧‧光學檢測裝置
110‧‧‧電源供應器
120‧‧‧光源
121‧‧‧燈罩
130‧‧‧光導結構
130a‧‧‧連接段
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130c‧‧‧檢測段
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A1‧‧‧總長度
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D3‧‧‧長度
LQ‧‧‧待測水
Claims (8)
- 一種用於檢測水中餘氯之光學檢測裝置，適用以檢測一待測水中是否含有餘氯，該光學檢測裝置包含：一電源供應器；一光源，電性連接該電源供應器，且該光源用以提供至少一特定波長之光線；一光導結構，具有一連接段、一導光段以及一檢測段，其中該連接段與該檢測段設置在該導光段的相對兩側，該連接段連接該光源且配置以接收該光源所提供之光線，該檢測段配置以浸入該待測水中；一光偵測器，透過一光纖分路器連接該光源與該光導結構，且該光偵測器用以取得經由該光導結構反射之光線的強度，其中該光纖分路器連接一第一光纖、一第二光纖、以及一第三光纖，其中該第一光纖是耦合至該光源，該第二光纖是耦合至該光偵測器，該第三光纖是耦合至該光導結構；以及一處理裝置，訊號連接該光偵測器，且該處理裝置配置以根據一關係式來計算該待測水中之餘氯濃度與該光偵測器所取得之光線強度的關係。
- 如申請專利範圍第1項所述之光學檢測裝置，其中該待測水中之一餘氯量需大於0ppm且小於或等於10ppm。
- 如申請專利範圍第1項所述之光學檢測裝置，其中該電源供應器提供之電壓需大於1V，電流需大於0.1A。
- 如申請專利範圍第1項所述之光學檢測裝置，其中該特定波長光線之波長範圍為350nm~850nm。
- 如申請專利範圍第1項所述之光學檢測裝置，其中該光導結構為一多模光纖，該光導結構包含一芯軸以及一保護層包覆在該芯軸外，其中該芯軸靠近其兩端的部分不具有該保護層，且該芯軸不具有該保護層的該些部分分別定義為該連接段以及該檢測段。
- 如申請專利範圍第1項所述之光學檢測裝置，其中該檢測段之長度大於0mm且小於或等於200mm，該光導結構總長之長度大於0mm且小於或等於3400mm。
- 如申請專利範圍第1項所述之光學檢測裝置，其中該連接段之長度大於0mm且小於或等於200mm、該導光段之長度大於0mm且小於或等於3000mm、以及該檢測段之長度大於0mm且小於或等於200mm。
- 如申請專利範圍第1項所述之光學檢測裝置，其中該光源外罩設有一燈罩，該第三光纖透過一光纖固定器耦合該光導結構。
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- 2018-11-22 TW TW107141738A patent/TWI693390B/zh not_active IP Right Cessation
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