TWI689619B - 用於提供均勻流動的氣體的設備及方法 - Google Patents

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Abstract

描述外分配環及具有外分配環的氣體分配設備以輸送氣體流動至處理腔室的處理區域。外分配環包含與複數個開口流體地溝通的至少一個充氣部而形成複數個溝槽，以允許氣體自充氣部經由該等開口流下外分配環的內周邊面。

Description

用於提供均勻流動的氣體的設備及方法
本揭示案的實施例一般相關於用於流動氣體進入處理腔室的設備及方法。更特定地，本揭示案的實施例係用於引導氣體流動至處理腔室(例如，原子層沉積腔室或化學氣相沉積腔室)的線性流動設備。
在半導體處理的領域中，平板顯示處理或其他電子裝置處理、氣相沉積處理在於基板上沉積材料中扮演重要角色。隨著電子裝置的幾何形狀持續縮小及裝置密度持續增加，特徵的大小及長寬比變得更積極，例如，0.07µm的特徵大小及10或更大的長寬比。據此，共形的材料沉積以形成該等裝置變得漸增地重要。
在原子層沉積(ALD)處理期間，反應氣體被導入包含基板的處理腔室。一般而言，基板的區域與第一反應物接觸，第一反應物被吸收至基板表面上。接著，基板與第二反應物接觸，第二反應物與第一反應物反應以形成沉積材料。可在每一反應氣體的輸送之間導入沖洗氣體，以確保發生的反應僅在基板表面上。
一些處理為了多種原因使用多個氣體。例如，CVD處理可在處理腔室的處理區域中混合兩個反應性氣體，同時增加第三氣體為稀釋劑或催化劑。此外，一些處理可合併額外的氣體後處理以處置沉積的膜或清理處理腔室。因此，技術領域中針對改良的氣體分配設備存在有持續性的需求，該氣體分配設備可提供分離氣體的均勻供應至處理腔室。
本揭示案的一個或更多個實施例係邊緣環，包括一圓形主體，該圓形主體具有一頂部、底部、具有一內直徑面的內直徑及具有一外直徑面的外直徑。在該圓形主體的該頂部中形成一充氣部(plenum)。該充氣部具有一外周邊面及一內周邊面來界定一寬度。複數個開口位於該充氣部的該內周邊面中。複數個開口形成複數個溝槽連接該充氣部與該內直徑面。該複數個溝槽繞著該內周邊面實質相等間距。
本揭示案的額外實施例係氣體分配設備，包括一氣體分配平板及一邊緣環。該氣體分配平板具有一外周邊邊緣、一前側及一背側，其中至少一個輸送通道凹陷於該氣體分配平板的該背側中。該輸送通道具有一入口端、一出口端及一長度。該輸送通道包含複數個孔隙，該複數個孔隙沿著該長度間隔延伸穿過該氣體分配平板至該氣體分配平板的該前側。該邊緣環繞著該氣體分配平板的該外周邊邊緣。該邊緣環包括：一圓形主體，該圓形主體具有一頂部、底部、具有一內直徑面的內直徑及具有一外直徑面的一外直徑。放置該邊緣環以使該氣體分配平板的該外周邊邊緣及該邊緣環的該內直徑面之間存在一空隙。在該圓形主體的該頂部中形成一充氣部。該充氣部具有一外周邊面及一內周邊面來界定一寬度。至少一個氣體入口與該充氣部流體地溝通。複數個開口位於該充氣部的該內周邊面中，形成複數個溝槽連接該充氣部與該內直徑面及該氣體分配平板的該外周邊邊緣之間的該空隙。該複數個溝槽繞著該內周邊面實質相等間距。
本揭示案進一步的實施例係處理腔室，包括一基板支撐、一氣體分配設備及一邊緣環。該基板支撐具有一頂部表面，該頂部表面上方具有一處理區域。該氣體分配設備包括：一氣體分配平板，該氣體分配平板具有一外周邊邊緣、一前側及一背側，該前側界定該處理區域的一頂部，且該背側具有至少一個輸送通道凹陷於該氣體分配平板的該背側中。該輸送通道具有一入口端、一出口端及一長度。該輸送通道包含複數個孔隙，該複數個孔隙沿著該長度間隔延伸穿過該氣體分配平板至該氣體分配平板的該前側。該邊緣環繞著該氣體分配平板的該外周邊邊緣。該邊緣環包括：一圓形主體，該圓形主體具有一頂部、底部、具有一內直徑面的內直徑及具有一外直徑面的一外直徑。放置該邊緣環以使該氣體分配平板的該外周邊邊緣及該邊緣環的該內直徑面之間存在一空隙。在該圓形主體的該頂部中形成一充氣部。該充氣部具有一外周邊面及一內周邊面來界定一寬度。至少一個氣體入口與該充氣部流體地溝通。複數個開口位於該充氣部的該內周邊面中，形成複數個溝槽連接該充氣部與該內直徑面及該氣體分配平板的該外周邊邊緣之間的該空隙。該複數個溝槽繞著該內周邊面實質相等間距。塑形該邊緣環的該內直徑面及該氣體分配平板的該外周邊邊緣之間的該空隙，以引導氣體自該複數個溝槽向下流過該內直徑面，而在與該主體的一軸實質同心的一方向上離開該氣體分配設備的前方而進入該處理區域的一外邊緣區域。補充氣體入口與透過該氣體分配設備的一補充氣體線流體地溝通，以流動一補充氣體進入該處理區域。限制環界定該處理區域的一外邊緣且包括複數個開口以允許來自該處理區域的一氣體流動透過來排氣。
本揭示案的實施例係使用於化學氣相沉積類型處理的氣體分配設備。本揭示案的一個或更多個實施例係原子層沉積處理及設備(亦稱為環狀沉積)合併所述氣體分配設備。所述氣體分配設備可稱為如噴淋頭或氣體分配平板，但發明所屬領域具有通常知識者將認知到：該設備無須塑形如同噴淋頭或平板。用語「噴淋頭」及「平板」不應視為限制本揭示案的範圍。
本揭示案的第一實施例係具有單一螺旋氣體輸送通道的設備。所有氣體依序流動穿過相同通道。入口位於螺旋外徑向邊緣上，亦稱為如外周邊，且可接合至氣體來源。真空接合連接至螺旋的內端。入口及出口可反向，氣體來源可連接至螺旋內部而出口閥處於螺旋的外端處。可以表1中所展示的序列來使用第一實施例。 表 1
Figure 108136553-A0305-0001
第二實施例具有兩個交纏的螺旋通道。每一通道具有螺旋的外徑向端上的氣體入口及每一螺旋的內徑向端上的出口閥。可反向或混合入口及出口。可針對不同先質使用不同通道。
在第三組實施例中，通道為線性氣體線。線性氣體線可採用任何合適形狀，非僅線性。可針對不同先質具有多個線性氣體線。一些實施例針對序列中所有氣體具有多個平行路徑，其中氣體通道的傳導性實質相同。
在一個或更多個實施例中，在個別通道中，藉由調變或改變出口端處的真空壓力來控制經過通道及經過孔隙的氣體之傳導性。改變真空壓力依序產生在傳統氣體分配設備中無法達到的獨特流動動態。在一些實施例中，沿著每一通道的長度及穿過沿著通道長度間隔的孔隙來提供更均勻的氣體流動。根據一個或更多個實施例的均勻氣體流動意指：實質上沒有禁止流動或氣體抽吸經過通道的死角。在通道的一個末端上具有或沒有閥(在該通道的另一端處具有一閥)的真空規定允許不同種類的氣體之間的快速切換，例如先質或反應氣體。
在一些實施例中，在氣體輸送通道末端處的真空致能自通道內氣體的快速沖洗。沖洗氣體可連接至氣體輸送通道的入口且與通道出口處的真空合作運作以更加快速地自通道移除反應性氣體。此外，可沿著氣體輸送通道的長度將真空埠間隔，而非僅在通道末端。
本揭示案的實施例可能夠增加穿過沿著氣體輸送通道間隔的孔洞的氣體之傳導性。不受限於任何特定操作理論，相信在通道的出口端(或在中間)控制真空壓力改變相對於傳統噴淋頭或氣體分配平板的流動動態。
參考第1及2圖，一個或更多個實施例係氣體分配設備100用以輸送氣體至處理腔室(未展示)。氣體分配設備100包括具有入口端104及出口端106的輸送通道102。輸送通道102具有沿著輸送通道102的長度間隔的複數個孔隙108。入口110連接至且與輸送通道102的入口端104流體地溝通。出口112連接至且與輸送通道102的出口端106流體地溝通。入口端110經適用以連接至氣體來源且可包含入口閥114，入口閥114能夠控制進入(或離開)輸送通道102的氣體流動或完全切斷氣體流動。出口112經適用以連接至真空來源且可包含出口閥116，出口閥116能夠控制進入(或離開)輸送通道102的氣體流動或完全切斷氣體流動。出口112可連接至真空來源(未展示)，使得藉由出口閥116可控制穿過出口112的真空壓力以提供出口112處減低的壓力。
控制器150調整經過輸送通道102及進入處理腔室的氣體流動。控制器150藉由在氣體輸送及氣體沖洗期間開啟或關閉(或完全開啟及完全關閉之間中的任何點)出口閥來進行此操作。此控制經過孔隙的氣體流動(例如第4圖中所見)，該等孔隙沿著通道長度間隔。
可控制輸送通道102的橫截面形狀，使得流動經過輸送通道的氣體經歷到對流動最小的阻抗。在一些實施例中，輸送通道102具有圓的或卵形橫截面形狀。在一個或更多個實施例中，輸送通道102具有足以提供實質無死角的(例如彎曲、回轉、扭曲等)橫截面形狀。
可視需要修改輸送通道102的總體形狀(相對於橫截面形狀)。例如，輸送通道102可塑形以符合於特定面積內或匹配基板的形狀。輸送通道102可例如為直的、圓形、正方形、卵形、矩形、或橢圓形。此外，輸送通道的總體形狀可由彼此平行、垂直或同心的重複單元組成。在一個或更多個實施例中，輸送通道具有一總體形狀，其中實質無死角以禁止氣體流動或沖洗。如本說明書及所附申請專利範圍中所使用，用語「實質無死角」意指氣體的流動或沖洗被禁止(導因於死角)低於約10%或低於約5%。
在一些實施例中，輸送通道102為具有實質平面配置的管狀螺旋。藉由第1及2圖中所展示的實施例來例證此特定形狀。如本說明書及所附申請專利範圍中所使用，用語「實質平面配置」意指輸送通道102中的複數個孔隙108幾乎位於相同平面中。第1及2圖中所展示的實施例具有實質平面配置，因為孔隙為共平面，即便入口端及出口端及靠近入口端及出口端的輸送通道的部分不與複數個孔隙共平面。
可使用輸送通道102於電漿處理。例如，可相對於處理腔室的另一部分極化輸送通道102以在腔室內點燃電漿。可相對於腔室的一部分偏壓輸送通道102，或可相對於輸送通道102偏壓腔室的一部分。例如，可相對於台座極化輸送通道102，或可相對於輸送通道極化台座。亦可調諧電漿頻率。在一個或更多個實施例中，電漿處於約13.56 MHz的頻率。在一些實施例中，電漿處於約40 MHz、50 MHz、60 MHz、70 MHz、80 MHz、90 MHz、100 MHz、110 MHz或120 MHz的頻率。
可使用任何合適的材料於輸送通道、噴淋頭或氣體分配設備。合適的材料包含但不限於不鏽鋼及惰性材料。在一些實施例中，輸送通道、噴淋頭或氣體分配平板由不鏽鋼製成。
第3圖根據一個或更多個實施例展示處理腔室的一部分的橫截面。氣體分配設備100置於基板支撐302及氣體分配平板306之間。基板支撐302被展示為支撐基板304。基板支撐302可為靜止或旋轉，或可針對部分處理為靜止及部分處理為旋轉。藉由最小化處理腔室間可發生的不同的氣體流動圖案，旋轉的基板支撐302可允許更均勻的基板處理。一些實施例的基板支撐302包含加熱器或加熱機制。加熱器可為任何合適類型的加熱器，包含電阻性加熱器。
氣體分配設備100被展示為具有實質平面配置的管狀螺旋。可與氣體分配平板306及氣體分配設備100之任一者或兩者一起處理基板304。可塑形氣體分配設備100，使得氣體分配設備100不會實質干擾來自氣體分配平板306的氣體流動。如本說明書及所附申請專利範圍中所使用，用語「實質干擾」意指氣體分配設備100不會干擾來自氣體分配平板多於約30%的氣體流動。例如，氣體分配平板306的前表面308具有氣體流過的複數個孔隙310。可塑形氣體分配設備100以避免阻斷孔隙310。
亦可使用如第3圖放置的輸送通道於電漿處理。可相對於腔室的一部分極化設備100，或可相對於設備100極化腔室的一部分。例如，可相對於基板支撐302極化輸送通道設備100，或可相對於設備100極化基板支撐302。在一些實施例中，相對於氣體分配平板306極化設備100。在一個或更多個實施例中，相對於基板支撐302極化氣體分配平板306且來自設備100的氣體流動形成電漿。亦可調諧電漿頻率。在一個或更多個實施例中，電漿處於約13.56 MHz的頻率。在一些實施例中，電漿處於約40 MHz、50 MHz、60 MHz、70 MHz、80 MHz、90 MHz、100 MHz、110 MHz或120 MHz的頻率。
第4至7圖展示氣體分配設備400的另一實施例，其中輸送通道402為氣體分配平板403的背側401中的凹陷通道。所展示的實施例在氣體分配平板403的背側401中具有凹陷的大的內區段，其中輸送通道402甚至凹陷了更多。此允許加入背蓋407，背蓋407可置於背側401中的凹陷面積中封閉輸送通道402。當將背蓋407插入某些實施例的凹陷背側401時，背蓋407產生實質齊平的氣體分配平板的背側表面。發明所屬領域具有通常知識者將理解：背蓋407無須符合於氣體分配平板403的背側401的凹陷面積內，但亦可直接安置於氣體分配平板403的背側401上。在此類實施例中，沒有輸送通道進一步凹陷的大的凹陷面積。取而代之地，輸送通道直接凹陷進入氣體分配平板403的背側401。
背蓋407可具有開口以允許入口及出口管的通路以允許與輸送通道402的流體溝通。此可見於第5及6圖中。入口及出口管可為背蓋407的整合部分，或可為連接至背蓋407的分離部件，該連接以一方式來防止或最小化流體逸漏。複數個孔隙408延伸穿過氣體分配平板403至氣體分配平板403的前側405。該等孔隙可見於第4、5、及7圖中。複數個孔隙408可沿著輸送通道的長度均勻地間隔，或可沿著通道長度具有變化的間隔。可變化的間隔可幫助產生來自輸送通道沿著輸送通道的點處更均勻的氣體流動。例如，在具有精巧形狀的氣體輸送通道中，孔隙的間隔可沿著長度變化。
在第4至7圖中所展示的實施例中，氣體分配平板403為圓形且輸送通道402形成螺旋形狀。在氣體分配平板403的外周邊區域420中的螺旋外部處表示入口端404，而在氣體分配平板403的中央區域422中的螺旋中央處表示出口端406。發明所屬領域具有通常知識者將理解：入口端404及出口端406可反向為入口端404位於螺旋中央且出口端406處於螺旋外部。在一些實施例中，放置入口端404及出口端406之其中一者於氣體分配平板403的外周邊區域420中，放置入口端404及出口端406之另一者於氣體分配平板403的中央區域422中。在一個或更多個實施例中，放置入口端404於氣體分配平板403的外周邊區域420處且放置出口端406於氣體分配平板403的中央區域422處。在某些實施例中，放置出口端406於氣體分配平板403的外周邊區域420處且放置入口端404於氣體分配平板403的中央區域422處。
在第5及6圖中，入口端404及出口端406被圖示為自氣體分配平板403的背蓋407延伸的小管子。該管子經過入口閥414於入口410及背蓋407之間延伸。另一管子可經過出口閥416於出口412及背蓋407之間延伸。管子可藉由對發明所屬領域具有通常知識者而言為已知的任何合適的連接來連接至背蓋407，且可密封管子以防止流經管子進入輸送通道402的流體逸漏。合適的密封裝置包含但不限於置於凸緣424及背蓋407之間的O形環。凸緣424可整合地與管子一起形成，或可為維持管子至背蓋的分離部件。凸緣424可藉由合適的機械連接來連接至背蓋407，包含但不限於螺釘。
第8A圖根據本揭示案的一個或更多個實施例展示氣體分配平板403中一個部分的輸送通道402及孔隙408的橫截面視圖。發明所屬領域具有通常知識者將理解：第8A圖中所描述的輸送通道及孔隙僅為圖示且不應視為限制本揭示案之範圍。發明所屬領域具有通常知識者將理解：存在有其他方式來產生自輸送通道402經過氣體分配平板403的流動。第8A圖中所展示的輸送通道402具有兩個部分：上方部分832及下方部分830。儘管該等部分被展示為分離的面積，應理解上方部分832及圓化的下方部分830之間可存在無縫的轉換。
此外，應理解上方部分832為可選的且無須包含在輸送通道402中。當沒有上方部分832時，下方部分830為唯一部分。因此，輸送通道可具有任何合適的形狀。在一些實施例中，輸送通道的形狀使得經由該通道實質無氣體流動的干擾。
上方部分832可具有任何合適形狀。在第8A圖中所展示的實施例中，上方部分832具有正交於氣體分配平板403的背側401表面而延伸的壁。然而，應理解上方部分832可具有自方形傾斜至背側401的壁。該傾斜可在氣體分配平板403的背側401處提供較大的開口，漸狹至較小的開口。據此，該傾斜可在背側401處提供較小開口，漸狹至較大的開口。可視需要修改上方部分832的長度。
在一些實施例中，上方部分具有實質垂直於氣體分配平板403的背側401且在背側401表面下方延伸長度L(在約0.01吋至約0.3吋的範圍中)的側面。如本說明書及所附申請專利範圍中所使用，用語「實質垂直於」意指上方部分的壁相對於氣體分配平板的背側具有在約85度至約95度的範圍中之角度。在一些實施例中，上方部分在背側表面下方延伸至長度L(在約0.02吋至約0.2吋的範圍中，或在約0.05吋至約0.15吋的範圍中，或在約0.08吋至約0.12吋的範圍中)。在一個或更多個實施例中，上方部分在背側表面下方延伸至約0.1吋的長度。
圓化的下方部分830可具有任何合適的橫截面，包含但不限於半圓及半橢圓。可視需要修改圓化的下方部分之寬度(亦稱為圓化的下方部分的直徑)。可視需要修改下方部分的寬度。一般而言，輸送通道的直徑可具有對螺旋中迴圈數量的影響。在一些實施例中，如第8A圖中所展示，上方部分的寬度約等於下方部分的直徑。多種實施例的輸送通道具有一直徑(在約0.3吋至約0.45吋的範圍中，或在約0.325吋至約0.425吋的範圍中，或在約0.35吋至約0.40吋的範圍中)。在一個或更多個實施例中，輸送通道具有約0.375吋的直徑。
孔隙408的特定形狀可依據穿過該孔隙所需氣體流動而變化。在第8A圖的實施例中，孔隙408具有三個分離的區段：第一區段834、第二區段836、及第三區段838。再次地，區段的數量及區段的形狀僅為一個實施例的圖示，而不應視為限制本揭示案的範圍。第一區段834自輸送通道402的圓化的下方部分830延伸朝向氣體分配平板403的前側405。第一區段834具有第一直徑D1。第二區段836自第一區段834延伸朝向前側405且具有自第一直徑D1漸狹至第二直徑D2的直徑，第二直徑D2一般較第一直徑小。第三區段838自第二區段836的末端延伸且終止於氣體分配平板403的前側405處。在第三區段838及前側405交界處形成孔洞840。流經輸送通道402的氣體經由孔洞840離開氣體分配平板403進入處理腔室。孔洞840具有與第二直徑D2約相同的直徑。在多種實施例中，孔洞840的直徑落於約0.01吋至約0.25吋的範圍中，或在約0.02吋至約0.2吋的範圍中，或在約0.03吋至約0.15吋的範圍中，或在約0.04吋至約0.1吋的範圍中。在一些實施例中，孔洞840具有小於約0.1吋、或小於約0.08吋、或小於約0.06吋、或小於約0.04吋、或小於約0.02吋、或小於約0.01吋的直徑。
隨著輸送通道自氣體分配平板的外周邊邊緣螺旋至中央區域(或反之)，可在橫截面上觀察到表面上複數個相鄰通道，即便可為單一通道。第5圖展示表面上複數個通道。該等通道(或螺旋迴圈之間的分離)由一距離來分離。在一些實施例中，自中央所量測的通道(或單一通道的迴圈)之間的距離落於約0.375吋至約0.475吋的範圍中，或在約0.40吋至約0.45吋的範圍中，或在約0.41吋至約0.43吋的範圍中。在一個或更多個實施例中，相鄰通道中央之間的平均距離為約0.42吋。
第4至7圖中所展示的氣體通道之長度可依據眾多因素而變化，包含但不限於通道直徑及相鄰通道之間的距離。在多種實施例中，輸送通道具有約140吋至約340吋的範圍中，或在約180吋至約300吋的範圍中，或在約200吋至約280吋的範圍中，或在約220吋至約260吋的範圍中之長度。在一個或更多個實施例中，輸送通道具有約240吋的長度。
孔隙的數量亦可依據多種因素，包含但不限於輸送通道的長度及孔隙的間隔。在具有單一螺旋通道的一些實施例中，具有在約300個及900個的範圍中之孔隙，或在約400個至約800個的範圍中之孔隙，或在約500個至約700個的範圍中之孔隙。在多種實施例中，沿著通道長度具有大於約300、400、500、600、700或800個孔隙。在一個或更多個實施例中，沿著輸送通道長度具有約600個孔隙。
在一些實施例中，複數個孔隙408之每一者具有獨立的孔洞直徑及相對於氣體分配平板的前側405的輸送角度。複數個孔隙403可具有一個或更多個的：(1) 沿著輸送通道長度的可變化間隔；(2) 沿著輸送通道長度的可變化孔洞直徑；及(3) 沿著通道長度的可變化輸送角度。
在一些實施例中，孔隙之間的間隔依據在通道的任何特定區域中所預期的氣體壓力而變化。例如，跨過通道長度的氣體壓力由於例如允許氣體離開通道的孔隙之呈現而改變。為了抵抗此壓力可變性，可在孔隙密度上增加或減少。通道的區域可為自整體通道長度至低於孔隙直徑的任何長度。例如，通道長度的第一個二分之一可具有第一數量間隔的孔隙，下一個四分之一具有較靠近在一起間隔的孔隙(亦即，較大的孔隙密度)，且最後四分之一具有甚至更大的密度。在一些實施例中，複數個孔隙之間隔沿著輸送通道的長度自入口端至出口端減少。減少的間隔可為每一通道之間或通道區塊之間。
例如，第8H圖展示具有三個區段的線性通道。自左至右流動的氣體會透過佔通道長度1/2的第一區段，接著透過每一佔通道長度約1/4的下兩個區段之每一者。第一區段中的孔隙808的間隔大於第二區段中的間隔，依序大於最後區段的間隔。此處，孔隙密度在區塊或區段中改變。第一區段具有最小的孔隙密度(亦即，最大的孔隙之間的間隔)。第一區段中的孔隙之每一者之間的間隔為相同的。第二區段中的孔隙之每一者之間的間隔小於第一區段。第二區段中的孔隙之每一者之間的間隔為相同的。第三區段中的孔隙之每一者之間的間隔為最小的，且該等孔隙之每一者之間的間隔為相同的。
第8I圖展示螺旋氣體輸送通道802的範例，具有漸漸減少的孔隙808之間的間隔。此處，孔隙之間的間隔在入口端為最大的，而朝向螺旋中央減少間隔(在此例中為出口端)。亦可見到：靠近螺旋中央，不僅沿著通道長度更靠近在一起間隔孔隙，亦跨過螺旋寬度更靠近在一起間隔孔隙，使得孔隙初始地在與入口端任何特定的距離處單獨出現至與入口端任何特定的距離處多個孔隙。
在一些實施例中，個別孔隙的直徑可沿著通道長度改變。隨著輸送通道中的氣體壓力沿著通道長度減少，孔隙的直徑可增加。第8J圖展示氣體輸送通道802的範例，具有氣體自左至右流動。孔隙808的直徑沿著通道長度漸漸增加，出口端處具有最大直徑。孔洞直徑被展示為漸漸增加，但該等直徑亦可在區塊或分段中改變，如上述的間隔。
孔隙可具有任何數量的可能橫截面。第8A至8G圖展示一數量的可能橫截面。孔隙可為自通道至前側的單一直線，或可具有一數量的區段。區段的數量及形狀可具有對經由孔隙離開氣體輸送通道的氣體噴灑圖案之影響。在一些實施例中，孔隙包括具有第一直徑的第一區段834及具有與第一直徑不同的第二直徑的第二區段836。第8B圖展示孔隙808，具有第一區段834相鄰於氣體輸送通道且延伸朝向前側405。第二區段836具有改變的直徑，自最靠近第一區段834的末端朝向前側405增加。不同地陳述：第二直徑自第一直徑轉換至第二直徑。第三區段838連接第二區段836至前側405。第三區段838的直徑為第二直徑。
如所展示以與第8A及8B圖比較，第一直徑可大於或小於第二直徑。在第8A圖中，第一直徑大於第二直徑，而在第8B圖中則為相反之範例。
第8C及8D圖展示孔隙之實施例，包含第四區段839。在第8C圖中，第一區段834具有第一直徑，第二區段836自第一直徑轉換至第二直徑，第三區段自第二區段836延伸朝向前側405。第四區段839以變化大小的直徑自第三區段838延伸至前側405。第四區段839的直徑在前側405處自第二直徑增加至第三直徑，使得孔洞840大於第二直徑。第三直徑可與第一直徑相同或不同且與第二直徑不同。第8D圖展示相似的情況，其中第一直徑與第二直徑反轉。孔洞840的大小及第四區段839的角度可變化且可影響氣體噴灑圖案。第8E圖展示另一實施例，其中具有兩個區段。第一區段834自氣體輸送通道延伸且具有第一直徑。第二區段836自第一區段834延伸至前側405，且具有始於第一直徑處且漸漸轉換至第二直徑的直徑。儘管所展示的第二直徑大於第一直徑，第二直徑亦可小於第一直徑。所展示實施例僅為示範性且不應視為限制本揭示案的範圍。
氣體輸送通道402的寬度W及跨過氣體輸送通道的寬度W的孔隙408的圖案/數量亦可變化。第8F圖展示具有兩個相鄰通道的氣體分配平板的一部分的橫截面。左邊通道具有遠大於右邊通道的寬度W。此外，左邊通道具有三個分離的孔隙408在跨過通道寬度的線上延伸。不同地陳述：通道中具有與入口端相同距離的三個孔隙。此意指複數個孔隙沿著通道長度延伸且亦可沿著通道寬度延伸。在第8F圖中展示的兩個通道可為相同通道的分離部分(例如，螺旋形狀的相鄰通道)。通道的直徑可沿著通道長度增加或減少以改變經過通道的氣體流動圖案。在第8F圖中展示的兩個通道亦可為具有不同氣體流經的分離通道。例如，流經較寬的左邊通道之氣體可不像流經較窄的右邊通道之氣體般具反應性，且離開通道的左邊氣體量大於右邊氣體量。再次，僅為可能安置的範例且不應視為限制本揭示案之範圍。請求項第1項的氣體分配設備，其中複數個孔隙之其中一些包括複數個通路而形成跨過輸送通道的寬度延伸的線。
在一些實施例中，個別孔隙以變化角度自氣體輸送通道延伸朝向前側405。該等孔隙亦可具有相對於氣體分配平板的前側的可變化輸送角度。第8G圖展示本揭示案的實施例，其中有兩個相鄰通道具有跨過每一通道的寬度延伸的三個孔隙。該等通道可輸送相同氣體或相鄰通道輸送不同氣體。三個通道中，一個自通道直線向下延伸以造成約90度的角度，側面通道以一角度延伸且造成相對於氣體分配平板前側的角度Θ。該角度可為約10度至約90度的範圍中的任何合適角度。在一個或更多個實施例中，該角度為約20度至約85度的範圍中、或約30度至約80度的範圍中、或約40度至約75度的範圍中。在一些實施例中，如可自第8G圖的通道外推的，至少一些複數個孔隙具有引導氣體流動朝向相鄰輸送通道下方區域的輸送角度。此可藉由最小化由通道形狀所造成的剝離來幫助沉積的均勻性。
在一實施例中，如第4圖中所展示，氣體分配平板403包括氣體輸送平板403的背側中的單一輸送通道402。輸送通道402具有位於氣體輸送平板403的外周邊區域420中的入口端404。輸送通道402跟著自入口端404至位於氣體輸送平板403的中央區域422中的出口端406的向內螺旋路徑。輸送通道402具有總體長度，該總體長度定義為：入口端404及出口端406之間的距離約240吋。複數個孔隙408沿著輸送通道402的總體長度間隔。沿著輸送通道402的總體長度，落於約500個孔隙及約700個孔隙的範圍中。輸送通道402具有約0.375吋的平均直徑，且螺旋通道的相鄰部分在中央上間隔約0.42吋。
本揭示案的一些實施例包含多於一個輸送通道402。該多通道可依據處理系統的需求交纏或分離。一些通道可凹陷進入如第4圖中所展示的氣體分配平板，或可為如第1圖中所展示的個別管子。在一些實施例中，具有個別管子及凹陷通道的組合。第3圖中展示此類示範性實施例，其中氣體分配平板可具有在氣體分配平板中的至少一個凹陷的輸送通道，及放置額外輸送通道於氣體分配平板及基板表面之間。
在第9至14圖中展示本揭示案的另一實施例。氣體分配設備900包括凹陷於氣體分配平板903的背側901中的兩個輸送通道902a、902b。應理解輸送通道無須凹陷進入氣體分配平板的背部，但可為個別管子，如第1及15圖中所展示。第一輸送通道902a具有第一入口端904a及第一出口端906a及沿著第一輸送通道902a的長度間隔的複數個第一孔隙1908a。第二輸送通道902b具有第二入口端904b、第二出口端906b及沿著第二輸送通道902b的長度間隔的複數個第二孔隙1908b。
第一入口910a連接至第一輸送通道902a的第一入口端904a。第一入口910a經適用以連接至氣體來源。第一出口端912a連接至第一輸送通道902a的第一出口端906a。第一出口912a經適用以連接至真空來源。第二入口910b連接至第二輸送通道902b的第二入口端904b。第二入口910b經適用以連接至氣體來源。第二出口912b連接至第二輸送通道902b的第二出口端906b。第二出口912b經適用以連接至真空來源。
在第9至14圖中所展示的實施例中，輸送通道902a、902b的每一者形成螺旋形狀。如圖式中所展示的一個或更多個實施例中，具有沿著螺旋形狀的長度交纏的兩個輸送通道902a、902b。發明所屬領域具有通常知識者將理解：兩個輸送通道902a、902b可具有螺旋以外的形狀且無須交纏。在某些實施例中，複數個第一孔隙1908a及第二孔隙1908b延伸穿過氣體分配平板903至氣體分配平板903的前側905。
在一些實施例中，輸送通道902a、902b之每一者形成螺旋形狀，具有入口端904a、904b及出口端906a、906b之其中一者放置於氣體分配平板903的外周邊區域920中且入口端904a、904b及出口端906a、906b之另一者放置於氣體分配平板903的中央區域922中。在一個或更多個實施例中，兩個通道902a、902b的入口端904a、904b皆放置於外周邊區域920中且兩個通道902a、902b的入口端904a、904b皆放置於氣體分配平板903的中央區域922中。在某些實施例中，兩個通道902a、902b的入口端904a、904b皆放置於中央區域922中且兩個通道902a、902b的入口端904a、904b皆放置於氣體分配平板903的外周邊區域920中。在一個或更多個實施例中，入口端904a、904b之其中一者放置於外周邊區域920中且入口端904b、904a的另一者放置於中央區域922處，出口端906a、906b位於每一個別輸送通道902a、902b的另一端處。
第10A圖展示具有兩個氣體輸送通道的氣體分配平板的橫截面視圖。孔隙的形狀、數量、間隔及角度可變化，如前述。第10B圖展示具有第一氣體輸送通道902a及第二氣體輸送通道902b的氣體分配平板的實施例的一部分。該等通道902a、902b皆(至少在所展示的橫截面處)具有兩個孔隙自通道延伸至氣體分配平板的前側905。所展示的孔隙位於該等通道的外邊緣處，使得該等通道中的氣體在離開孔隙時非常靠近彼此。第一通道及第二通道之間的孔隙亦可偏移，使得僅有一個通道具有任何給定橫截面中可見的孔隙以防止氣相反應。
第10C圖展示另一實施例，其中具有兩個氣體通道，每一通道具有兩個孔隙自該通道延伸以在前側905處形成輸送角度。此處，沒有通道被展示為具有在孔隙下方直接排出氣體的孔隙，而代以引導氣體至相鄰通道下方的區域。第一輸送通道902a具有引導第二輸送通道902b下方的氣體的孔隙，且第二輸送通道902b具有引導第一輸送通道902a下方的氣體的孔隙。該等孔隙被展示為在前側上相同點處形成孔洞，但應理解該等孔隙可沿著通道長度錯開或針對每一通道所展示的橫截面可與入口相距不同長度。
第10C圖的實施例可特定地影響到防止沉積自氣體放置及定向而剝離。第10D圖展示氣體分配平板的一部分的表面，其中通道具有如第10C圖具有偏移橫截面的孔隙。前側905上的孔洞圖案呈現為大致交替的孔洞圖案。
第11圖展示針對第9圖中所展示的氣體分配平板903之背蓋907。有四個孔洞(未編號)位於背蓋907中，大致與輸送通道902a、902b的入口端904a、904b及出口端906a、906b對齊。可使用該等孔洞以在入口910a、910b及出口912a、912b中提供用於連接的存取點至通道902a、902b。在一些實施例中，入口910a、910b及出口912a、912b與背蓋907整體地形成。此外，如第12及13圖中所見，可有一個或更多個入口閥914a、914b及出口閥916a、916b。
第12及13圖根據本揭示案的多種實施例展示氣體分配設備900的透視視圖。展示入口910a、910b為以凸緣924a、924b連接至背蓋907。可藉由任何合適的機制及技術來達成凸緣924a、924b的連接及氣密密封，如發明所屬領域具有通常知識者所知。出口912a、912b亦可以凸緣或以區塊連接連接至背蓋907。區塊925可與背蓋907整體地形成或可為分離的部件。區塊925可針對出口閥916a、916b提供額外支撐及空間，允許連接管子以一角度自背蓋907突出。儘管入口910a、910b及入口閥914a、914b被展示為位於氣體分配平板903的外部周邊區域920上，且出口912a、912b及出口閥916a、916b被展示為位於氣體分配平板903的中央區域922處，應理解可反轉或混雜該等構件且圖式僅為一個實施例的圖示。
隨著輸送通道自氣體分配平板的外周邊邊緣螺旋至中央區域(或反之)，可在橫截面上觀察到表面上複數個相鄰通道。當螺旋交纏時，每一相鄰通道中的氣體來自其他入口910a、910b。該等通道藉由與相鄰通道之距離來分離。在一些實施例中，通道之間的距離(量測自通道中央)在約0.375吋至約0.475吋的範圍中，或在約0.40吋至約0.45吋的範圍中，或在約0.41吋至約0.43吋的範圍中。在一個或更多個實施例中，相鄰通道的中央之間的平均距離為約0.42吋。
第9至14圖中所展示的氣體通道之長度可依據一數量的因素而變化，包含但不限於通道直徑及相鄰通道之間的距離。在多種實施例中，輸送通道之每一者具有一長度，該長度在約70吋至約170吋的範圍中，或在約90吋至約150吋的範圍中，或在約100吋至約140吋的範圍中，或在約110吋至約130吋的範圍中。在一個或更多個實施例中，輸送通道具有約120吋的長度。
孔隙數量亦取決於一數量的因素，包含但不限於輸送通道長度及孔隙的間隔。在具有單一螺旋通道的一些實施例中，孔隙數量在約150個及450個孔隙的範圍中，或在約200個至約400個孔隙的範圍中，或在約250個至約350個孔隙的範圍中。在多種實施例中，沿著通道長度具有大於約150、200、250、300、350、或400個孔隙。在一個或更多個實施例中，沿著輸送通道之每一者的長度具有約300個孔隙。
可使用第4至14圖中所展示的設備於電漿處理。例如，可相對於處理腔室的另一部分極化輸送通道、氣體分配設備或噴淋頭，以點燃腔室內的電漿。可相對於腔室的一部分極化輸送通道、氣體分配設備或噴淋頭，或可相對於輸送通道、氣體分配設備或噴淋頭偏壓腔室的一部分。例如，可相對於台座極化輸送通道、氣體分配設備或噴淋頭，或可相對於輸送通道、氣體分配設備或噴淋頭極化台座。亦可調諧電漿的頻率。在一個或更多個實施例中，電漿處於約13.56 MHz的頻率。在一些實施例中，電漿處於約40 MHz、50 MHz、60 MHz、70 MHz、80 MHz、90 MHz、100 MHz、110 MHz或120 MHz的頻率。
在由第4至14圖所例證的設備的一些實施例中，存在有隔絕材料(未展示)置於背蓋及氣體分配設備的主體部分之間(亦即，該部分包含氣體輸送通道)。隔絕材料提供背蓋及氣體分配設備的主體部分之間的電性隔絕，使得可相對於主體部分極化背蓋。進行此行為可允許氣體分配設備內或輸送通道內的電漿點燃。接著電漿可經由複數個孔隙流動進入處理腔室的處理區域，該處理區域為氣體分配設備及台座之間的區域。此配置可稱為遠端電漿，因為電漿係在處理區域外部形成(例如，點燃)。
第15、16A及16B圖展示氣體分配設備1500的另一示範性實施例。所展示的氣體分配設備特定地針對空間分離的原子層沉積處理為有用的，其中基板的不同部分同時曝露於不同的沉積氣體，且基板1544相對於氣體分配設備移動，使得基板的所有部分依序曝露於每一沉積氣體。在該等實施例中，氣體分配設備1500包括複數個輸送通道1502，每一輸送通道1502實質直線且實質平行於相鄰輸送通道而延伸。每一輸送通道1502具有入口端1504及出口端1506，入口端1504及出口端1506之間具有複數個間隔的孔隙1508。
第15、16A及16B圖中所展示的氣體分配設備具有複數個加長的輸送通道1502及複數個加長的真空通道1550。每一輸送通道1502及真空通道1550在氣體分配設備的前側處連接至輸出通道1552。每一輸送通道1502經適用以流動反應性氣體及沖洗氣體之其中一者或更多者。每一輸送通道1502藉由複數個間隔的孔隙1508連接至輸出通道1552。每一真空通道1550藉由複數個間隔的真空孔隙1558連接至入口通道1554。每一輸送通道1502的複數個孔隙1508藉由來自真空通道1550的複數個真空孔隙1558之其中至少一者來與每一相鄰輸送通道1502的複數個孔隙1508分隔開。
在第16A圖中所展示的實施例中，每一中央真空通道1550(非為末端真空通道)藉由真空孔隙1508連接至兩個入口通道1554。末端真空通道1550僅連接至單一入口通道1554。應理解此僅為示範且不應視為限制本揭示案的範圍。每一入口通道1554可具有專用的真空通道1550，或單一真空通道1550可經由複數個真空孔隙1508連接至多於兩個入口通道1554。
儘管每一輸送通道同時出現，可具有不同氣體流經每一輸送通道。例如，沖洗通道(標示為P)可具有沖洗氣體流經沖洗通道，每一第一反應性氣體通道(標示為A)可具有第一反應性氣體流經每一第一反應性氣體通道，且每一第二反應性氣體通道(標示為B)可具有第二反應性氣體流經每一第二反應性氣體通道。真空通道(標示為V)連接至真空來源。參照第16A圖，自左至右移動的基板1544(或特定地，基板上的一固定點)將依序遭遇真空氣體通道、沖洗氣體通道、真空氣體通道、第一反應性氣體通道、真空氣體通道、沖洗氣體通道、真空氣體通道、第二反應性氣體通道、真空氣體通道等等(依據氣體分配平板的大小)。
具有入口及出口端的輸送通道之使用允許輸送通道內氣體的快速交換。例如，在基板(或基板上的固定點)曝露於第二反應性氣體通道(標示為B)之後，可開啟輸送通道的出口端，允許移除通道內的氣體，接著不同的反應性氣體(例如，氣體C)可流動進入輸送通道。因此，當基板透過返回氣體通道下方，基板將曝露於氣體C而非氣體B。儘管此範例相關於第二反應性氣體來進行，發明所屬領域具有通常知識者將理解：可沖洗及以不同氣體取代氣體輸送通道之其中一者(第一反應性氣體、第二反應性氣體、或沖洗氣體)。
亦可使用第15、16A及16B圖的輸送通道於電漿處理。可相對於腔室的另一部分偏壓氣體分配設備1500。例如，可相對於台座極化氣體分配設備1500，或相對於氣體分配設備極化台座。亦可調諧電漿的頻率。在一個或更多個實施例中，電漿處於約13.56 MHz的頻率。在一些實施例中，電漿處於約40 MHz、50 MHz、60 MHz、70 MHz、80 MHz、90 MHz、100 MHz、110 MHz或120 MHz的頻率。
第16B圖展示單一輸送通道1502及單一真空通道1550的實施例。輸送通道1502及真空通道1550之每一者具有自輸送通道1502及真空通道1550延伸的兩組孔隙。在真空通道1550的例子中，一組孔隙1558a連接至第一入口通道1554a且另一組孔隙1558b連接至第二入口通道1554b。另一方面，輸送通道1502具有延伸至單一輸出通道1552的兩組孔隙1508。
在一個或更多個實施例中，氣體分配組件包含連接至真空來源的多於一個出口。第17圖展示螺旋形狀的氣體分配設備1700，與第1圖中所展示的設備100相似。該設備包含具有入口端1704及出口端1706的輸送通道1702。入口1710連接至且與輸送通道1702的入口端1704溝通。出口1712連接至且與輸送通道1702的出口端1706溝通。入口1710可連接至氣體來源且可包含入口閥1714，入口閥1714可控制氣體流動進入(或離開)輸送通道1702或完全切斷氣體流動。出口1712可連接至真空來源(未展示)且可包含出口閥1716，出口閥1716可控制氣體流動離開(或進入)輸送通道1702或完全切斷真空來源與輸送通道1702。沿著輸送通道1702的長度放置可連接至真空來源(未展示)的中間出口1742。所展示的中間出口1742在約通道1702的長度中間處連接至輸送通道1702，且經由中間出口1740耦合至輸送通道1702。中間出口1742可包含中間出口閥1744，中間出口閥1744可控制氣體流動離開(或進入)輸送通道1702或完全切斷真空來源與輸送通道1702。入口1710的入口閥1714、出口1712的出口閥1716、及中間出口1740的中間出口閥1744連接至控制器1750。控制器能夠獨立開啟或關閉任何或所有的閥，以調整流經輸送通道1702的氣體壓力或沖洗輸送通道1702的既存氣體。例如，表2展示可使用於第17圖中所展示實施例的處理序列。發明所屬領域具有通常知識者將理解：此僅為一範例且不應視為限制本揭示案之範圍。 表 2
Figure 108136553-A0305-0002
表2中所展示的閥在處理期間在任何點處為開啟、關閉或部分開啟的。在步驟3a中，在沖洗輸送通道的先質A之後，部分開啟中間出口閥以加速先質B的流動經過輸送通道，接著在步驟3b中關閉中間出口閥。此僅為一個可使用的可能序列，且不應視為限制本揭示案的範圍。
第17圖中所展示的實施例有效地包含兩個出口，一個在輸送通道的末端處而一個在中間中。發明所屬領域具有通常知識者將理解：可具有沿著輸送通道的長度及沿著通道長度的任何位置處間隔的任何數量的出口。例如，可放置中間出口1740於通道長度的1/3處。此外，可具有任何數量的出口。例如，輸送通道可具有四個出口，一個在末端處且一個置於輸送通道的長度的1/4、1/2、及3/4之每一者處。在另一範例中，輸送通道包含四個出口，一個在末端處且一個置於輸送通道的長度的1/4、3/4、及9/10之每一者處。在一個實施例中，輸送通道包含總共2、3、4、5、6、7、8、9、10、或11個出口(包含通道出口端處的出口)。
一些螺旋噴淋頭允許增加補充氣體以注射進入處理腔室，同時維持補充氣體及沿著螺旋通道長度流動的氣體之間的分離。例如，可使用補充氣體於處理增強或清理。在一個或更多個實施例中，增加經過邊緣注射器環的補充氣體流動路徑以均勻地分配繞著基板的頂部邊緣的補充氣體，而無須與其他流經螺旋噴淋頭通道的處理化學物混合。可使用氣體線在連接至邊緣環之前將用於補充通道的氣體分成兩個或兩個以上路徑。補充氣體可流動進入邊緣環中的通道(充氣部)，在經由繞著環間隔的小溝槽離開之前均勻地分配氣體。氣體透過邊緣環內直徑表面及螺旋噴淋頭外直徑表面之間的空隙。
參照第18至21圖，本揭示案的一個或更多個實施例係基板處理腔室1800，包含具有氣體分配平板1900及邊緣環2000的氣體分配設備1805。基板處理腔室包含具有頂部表面1812以支撐基板1804的基板支撐1810。藉由基板支撐1810的頂部表面1812來界限處理區域1850，側面上係藉由限制環1820且頂部上係藉由氣體分配平板1900。
氣體分配平板1900具有外周邊邊緣1902、前側1906、及背側1904。至少一個輸送通道1903a、1903b凹陷於氣體分配平板1900的背側1904中。如第9圖的實施例中所展示，至少一個通道902a、902b具有入口端904a、904b、出口端906a、906b及長度。輸送通道包含沿著延伸穿過氣體分配平板1900至氣體分配平板1900的前側1906的長度間隔的複數個孔隙1908a、1908b。
如第18及19圖中所展示，繞著氣體分配平板1900的外周邊邊緣1902放置邊緣環2000。邊緣環2000具有圓形主體，具有頂部2012、底部2014、具有內直徑面2016的內直徑2015及具有外直徑面2018的外直徑2017。第20圖展示以透視展示的邊緣環2000的橫截面。
參照返回第18及19圖，放置邊緣環2000以使得氣體分配平板1900的外周邊邊緣1902及邊緣環2000的內直徑面2016之間存在一空隙2030。空隙2030的大小可為約0.02 mm至約3 mm的範圍中。空隙2030可繞著內直徑面2016為均勻的，或可形成為複數個通道或溝槽2040。
在一些實施例中，氣體分配平板1900的外周邊邊緣1902接觸邊緣環2000的內直徑面2016(除了溝槽2040處以外)而形成複數個空隙2030。第21圖中所展示的部分實施例圖示具有單一溝槽2040的邊緣環2000。當放置邊緣環2000的內直徑面2016以接觸氣體分配平板1900的外周邊邊緣1902時，空隙2030在由溝槽2040所界定的區域中形成。在一些實施例中，溝槽2040具有寬度(沿著內直徑面2016的距離)及深度(進入內直徑面2016的距離)且自內直徑面2016的頂部延伸至內直徑面2016的底部。溝槽2040的寬度及深度可獨立地變化。在一些實施例中，溝槽的寬度及/或深度為約0.02 mm至約3 mm的範圍中。
在邊緣環2000的圓形主體2010的頂部2012中形成充氣部2050。充氣部2050具有外周邊面2052及內周邊面2054而界定充氣部之寬度。充氣部2050的容積可依據例如邊緣環2000的大小而變化。在一些實施例中，充氣部2050具有在約100 mL至約900 mL的範圍中的容積，或在約200 mL至約800 mL的範圍中，或在約300 mL至約700 mL的範圍中，或在約400 mL至約600 mL的範圍中，或約500 mL。
充氣部2050中的氣體容積及開口2070及溝槽2040的組合容積可相關，以增加氣體流出溝槽2040的均勻性。當參照溝槽2040的容積時，發明所屬領域具有通常知識者將理解：此包含與溝槽2040整合的開口2070的容積。在一些實施例中，針對繞著邊緣環周邊的所有溝槽2040的溝槽2040中的組合容積在約20 mL至約240 mL的範圍中，或在約40 mL至約180 mL的範圍中，或在約60 mL至約120 mL的範圍中。
溝槽2040的組合容積對充氣部2050的容積之比例可影響氣體均勻性。在一些實施例中，溝槽2040的組合容積對充氣部2050的容積之比例在約10%至約30%的範圍中。在一個或更多個實施例中，溝槽2040的容積為充氣部2050的容積的約20%。
充氣部2050的內直徑面2016中的複數個開口2070形成複數個通道連接充氣部2050與空隙2030。在第21圖中所展示的實施例中，通道開口2070與溝槽2040對齊及連續。一些實施例的複數個開口2070及/或溝槽2040繞著內直徑面2016實質等距間隔。在此方面的使用，用語「實質等距間隔」意指繞著內直徑面2016每一開口2070之間的平均距離中沒有多於10%的相對差異。如第20圖中所展示，繞著內直徑面2016可有任何合適數量的溝槽2040及開口2070。在一些實施例中，在內直徑面2016中具有約12個及約120個開口2070的範圍中。在一些實施例中，在內直徑面2016中具有約36個開口2070，且每一開口2070與溝槽2040對齊及連續。
第22圖展示溝槽2040處所展示的橫截面視圖。內直徑面2016及外周邊邊緣1902之間具有空隙2030。外分配環2000的內直徑面2016及氣體分配平板1900的外周邊邊緣1902之間的空隙2030被塑形以引導氣體在溝槽2040內向下流過內直徑面2016。氣體自複數個溝槽2040流動離開氣體分配平板1900的前側1906。氣體流動離開空隙2030的方向或角度可自向內朝向外分配環2000的中央軸之角度變化至自中央軸向外的角度。在一些實施例中，氣體在與外分配環2000的主體2010之中央軸實質同心的方向上流動離開孔隙2030。與中央軸實質同心的方向意指：氣體沿著平行於中央軸的路徑流動離開空隙2030。
至少一個氣體入口2060與充氣部2050流體溝通，使得氣體可流動經過入口線2062及氣體入口2060進入充氣部2050。在一些實施例中，如第19圖中所展示，氣體入口2060經由外分配環2000的主體2010的頂部2012連接充氣部2050。在一些實施例中，如第23圖中所展示，氣體入口2060經由主體2010的外直徑面2018連接充氣部2050。一些實施例係外分配環2000可改裝成既存處理腔室。在此範例中，既存氣體分配組件上方可能不會有足夠空間以允許額外的氣體入口。
如第24圖中所展示，一些實施例包含第二充氣部2057。第二充氣部2057可允許經由溝槽2040流動進入處理區域之前在充氣部2050內進一步的氣體等化。第二充氣部2057可位於任何合適的位置且可位於氣體入口2060及充氣部2050之間。第二充氣部2057與充氣部2050經由複數個孔隙2058流體地溝通。可具有任何數量的孔隙2058繞著主體2010延伸。在一些實施例中，具有在約36個孔隙至約720個孔隙的範圍中。
第25圖展示相似於第20圖的另一實施例。在第25圖的實施例中，放置邊緣環2000以使得氣體分配平板1900的外周邊邊緣1902及邊緣環2000的內直徑面2016之間存在一空隙2030(見第18及19圖)。空隙2030的大小可為約0.02 mm至約3 mm的範圍中。在所展示的實施例中，空隙2030實質均勻地繞著內直徑面2016，使得不包含第20圖的溝槽2040。
在邊緣環2000的圓形主體2010的頂部2012中形成充氣部2050。充氣部2050具有外周邊面2052及內周邊面2054界定充氣部的寬度。充氣部2050的容積可依據例如邊緣環2000的大小而變化。在一些實施例中，充氣部2050具有在約100 mL至約900 mL的範圍中的容積，或在約200 mL至約800 mL的範圍中，或在約300 mL至約700 mL的範圍中，或在約400 mL至約600 mL的範圍中，或約500 mL。
充氣部2050中的氣體容積及開口2070的組合容積可相關，以增加氣體流出開口2070的均勻性。在一些實施例中，繞著邊緣環周邊的開口2070中的組合容積在約2 mL至約240 mL的範圍中，或在約20 mL至約180 mL的範圍中，或在約60 mL至約120 mL的範圍中。
開口2070的組合容積對充氣部2050的容積之比例可影響氣體均勻性。在一些實施例中，開口2070的組合容積對充氣部2050的容積之比例在約10%至約30%的範圍中。在一個或更多個實施例中，開口2070的容積為充氣部2050的容積的約20%。
一些實施例的複數個開口2070繞著內直徑面2016實質等距間隔。在此方面的使用，用語「實質等距間隔」意指繞著內直徑面2016每一開口2070之間的平均距離中沒有多於10%的相對差異。如第25圖中所展示，繞著內直徑面2016可有任何合適數量的開口2070。在一些實施例中，在內直徑面2016中具有約12個及約120個開口2070的範圍中。在一些實施例中，在內直徑面2016中具有約36個開口2070，且每一開口2070與溝槽2040對齊及連續。
參照第18及19圖，一些實施例包含溫度控制元件1830。溫度控制元件1830可為加熱器或冷卻器且可使用以維持針對經由通道1903a、1903b流動的處理氣體之設定溫度。氣體入口1840亦可連接至氣體分配平板1900，無論經由溫度控制元件1830或直接至氣體分配平板1900。氣體入口1840被展示為位於氣體分配平板1900的中間，但發明所屬領域具有通常知識者將理解，可放置於任何合適的位置且可為合適的大小。
限制環1820幫助包含處理區域1850中的處理氣體。第18及19圖中所展示的限制環1820包含複數個開口1822以允許氣體自處理區域1850透過以排出處理腔室。流經空隙2030的氣體流動進入處理區域1850的外邊緣區域1851。在外邊緣區域1851中的氣體流動與來自處理區域1850中央的氣體混合。混合氣體流動經由開口1822以排出。在一些實施例中，氣體流經外分配環2000的使用增加繞著基板1804的邊緣之沉積均勻性。
參照第18及26圖，一些實施例具有多個氣體入口2060。在所展示的實施例中，具有連接至外分配環2000的兩個氣體入口2060。氣體入口2060可具有獨立的氣體供應或可共用氣體供應。在一些實施例中，氣體入口2060共用單一氣體供應，該單一氣體供應在交界2064處被分隔。在所展示的實施例中，第一氣體線分段2063(可連接至氣體來源)與交界2064流體地溝通，交界2064將第一氣體線分段2063分成兩個第二氣體線分段而變成連接至氣體入口2060的入口線2062。繞著外分配環2000可具有任何合適數量的氣體入口2060。在一些實施例中，具有在約1個至約12個氣體入口的範圍中，或在約2個至約6個氣體入口的範圍中。在一些實施例中，具有兩個氣體入口，或四個氣體入口。可具有連接至入口的任何合適數量的氣體來源。例如，具有四個氣體入口的實施例可具有一個、兩個、三個或四個氣體來源。單一氣體來源可分成四個氣體線分段。為了增加氣體流動進入外分配環2000的均勻性，第二氣體線分段具有實質相同的氣體傳導性。在此方面的使用，用語「實質相同的氣體傳導性」意指穿過任何第二氣體線分段的傳導性為穿過所有第二氣體線分段的平均傳導性的±10%內。
在一些實施例中，補充氣體入口2092與補充氣體線2090流體地溝通。補充氣體入口2092允許補充氣體流動穿過補充氣體線2090以透過氣體分配設備1805以流動補充氣體進入處理區域1850。補充氣體可為任何合適氣體，包含但不限於反應性氣體、惰性氣體及清理氣體。補充氣體入口2092可將氣體流動繞過氣體分配設備1805不會干擾外分配環2000或氣體分配平板1900的氣體流動的任何部分。
第27圖展示外分配環2000的實施例的橫截面視圖，包含外分配環2000的外直徑面2018中的補充氣體入口2092。補充氣體可連接至補充氣體入口2092以流動進入可選補充充氣部2096且經由補充氣體通道2094進入處理區域1850。可具有繞著外分配環2000的周邊分配的任何合適數量的補充氣體通道2094。例如，在使用中，兩個反應性氣體可經由氣體分配平板1900流動進入處理區域1850，同時惰性氣體流動進入處理區域1850的外邊緣區域1851。外邊緣區域1851中的惰性氣體可幫助迫使反應性氣體自處理區域1850經由開口1822流動排出。處理之後，可停止流經氣體分配平板1900的反應性氣體及流經外分配環2000的惰性氣體，且可起始經過補充氣體入口2092的補充氣體流動。此可允許蝕刻劑或清理氣體經由專用氣體線獲准進入處理區域1850。發明所屬領域具有通常知識者將理解：可具有任何合適數量的補充氣體線經由外分配環2000或氣體分配平板1900連接至處理區域1850。發明所屬領域具有通常知識者亦將認知：具有可施用的其他處理序列，而不會偏離本揭示案的範圍。
可使用所描述的氣體分配設備以在電漿增強原子層沉積(PEALD)處理期間形成一個或更多個層。在一些處理中，電漿的使用提供足夠能量以促使氣體種類進入激發狀態，該激發狀態中表面反應變得適宜且可能。將電漿導入處理可為連續的或脈衝式的。在一些實施例中，使用序列脈衝之先質(或反應性氣體)及電漿以處理一層。在一些實施例中，可局部地(亦即，處理面積內)或遠端地(亦即，處理面積的外部)離子化試劑。遠端離子化可發生於沉積腔室上游，使得離子或其他賦能或發光氣體種類不會直接接觸沉積膜。在一些PEALD處理中，自處理腔室外產生電漿，例如藉由遠端電漿產生器系統。電漿可經由任何合適的電漿產生處理或對發明所屬領域具有通常知識者為已知的技術而產生。例如，電漿可藉由微波(MW)頻率產生器或射頻(RF)產生器之其中一者或更多者而產生。可依據所使用的特定反應性氣體種類來調諧電漿之頻率。合適的頻率包含但不限於2 MHz、13.56 MHz、40 MHz、60 MHz及100 MHz。儘管可在此處揭露的沉積處理期間使用電漿，應注意電漿可為非必須。
根據一個或更多個實施例，可使用氣體分配設備以使基板在形成層之前及/或之後進行處理。可在相同腔室中或在一個或更多個分離的處理腔室中執行該處理。在一些實施例中，基板自第一腔室移動至分離的第二腔室以進一步處理。基板可自第一腔室直接移動至分離處理腔室，或該基板可自第一腔室移動至一個或更多個傳輸腔室，接著移動至所需分離處理腔室。據此，處理設備可包括與傳輸站溝通的多個腔室。此類設備可稱為「叢集工具」或「叢集系統」，諸如此類。
一般而言，叢集工具為模組化系統，包括執行多種功能的多個腔室，包含基板中央尋找及定向、脫氣、退火、沉積及/或蝕刻。根據一個或更多個實施例，叢集工具包含至少第一腔室及中央傳輸腔室。中央傳輸腔室可收容機械手，機械手可使基板在處理腔室及負載鎖腔室之間及當中穿梭。傳輸腔室典型地維持在真空條件且提供用於使基板自一個腔室穿梭至另一腔室及/或置於叢集工具前端處的負載鎖腔室的中間台。可適用於本揭示案的兩個廣為人知的叢集工具為Centura®及Endura®，皆可由加州的Santa Clara的Applied Materials公司取得。然而，可針對執行此處描述處理的特定步驟的目的而更改腔室的真實安置及組合。可使用的其他處理腔室包含但不限於環狀層沉積(CLD)、原子層沉積(ALD)、化學氣相沉積(CVD)、物理氣相沉積(PVD)、蝕刻、預清理、化學清理、熱處理例如RTP、電漿氮化、脫氣、定向、羥基化及其他基板處理。藉由實現叢集工具上腔室中的處理，可避免具有空氣雜質的基板的表面汙染，而不會在沉積下一膜之前氧化。
根據一個或更多個實施例，基板持續處於真空或「負載鎖」條件下，且在自一個腔室移動至下一個腔室時未曝露於大氣。傳輸腔室因而處於真空且在真空壓力下「向下抽吸」。惰性氣體可出現在處理腔室或傳輸腔室中。在一些實施例中，在基板表面上形成矽層之後，使用惰性氣體為沖洗氣體以移除一些或所有反應物。根據一個或更多個實施例，在沉積腔室的出口處注射沖洗氣體，以防止反應物自沉積腔室移動至傳輸腔室及/或額外處理腔室。因此，惰性氣體的流動形成腔室出口處的窗簾。
可使用例如所描述的氣體分配設備在單一基板沉積腔室處理基板。在該等腔室中，在處理另一基板之前裝載、處理、及卸載單一基板。亦可以連續方式處理基板，例如輸送系統，其中多個基板個別裝載進入腔室的第一部分，移動穿過腔室且自腔室的第二部分卸載。腔室的形狀及相關聯的輸送系統可形成直線路徑或彎曲路徑。此外，處理腔室可為圓盤傳送帶，其中多個基板繞著中央軸移動且在圓盤傳送帶各處曝露於沉積、蝕刻、退火、清理等處理。
在處理期間，可加熱或冷卻基板。該加熱或冷卻可藉由任何合適的構件來達成，包含但不限於改變基板支撐的溫度且流動加熱或冷卻氣體至基板表面。在一些實施例中，基板支撐包含加熱器/冷卻器，可控制以傳導地改變基板溫度。在一個或更多個實施例中，加熱或冷卻施用的氣體(無論反應性氣體或惰性氣體)以局部地改變基板溫度。在一些實施例中，相鄰於基板表面放置加熱器/冷卻器於腔室內以對流地改變基板溫度。
基板在處理期間亦可為靜止或旋轉。旋轉基板可持續地或在分離步驟中旋轉。例如，基板可在整體處理間旋轉，或基板可在曝露於不同反應性或沖洗氣體之間小量旋轉。在處理期間旋轉基板(無論持續地或依步驟)可藉由最小化例如氣體流動幾何形狀中局部可變化性的影響來幫助產生更均勻的沉積或蝕刻。
儘管此處揭示案參考特定實施例而描述，應理解該等實施例僅圖示本揭示案的原則及應用。對發明所屬領域具有通常知識者而言，對本揭示案的方法及設備進行多種修改及變化可為顯而易見的，而不遠離本揭示案之精神及範圍。因此，本揭示案意圖包含落於所附申請專利範圍及其等效物之範圍內的修改及變化。
100 氣體分配設備 102 輸送通道 104 入口端 106 出口端 108 孔隙 110 入口 112 出口 114 入口閥 116 出口閥 150 控制器 302 基板支撐 304 基板 306 氣體分配平板 308 前表面 310 孔隙 400 氣體分配設備 401 背側 402 輸送通道 403 氣體分配平板 404 入口端 405 前側 406 出口端 407 背蓋 408 孔隙 410 入口 412 出口 414 入口閥 416 出口閥 420 外周邊區域 422 中央區域 424 凸緣 802 氣體輸送通道 808 孔隙 830 下方部分 832 上方部分 834 第一區段 836 第二區段 838 第三區段 839 第四區段 840 孔洞 900 氣體分配設備 901 背側 902a 第一輸送通道 902b 第二輸送通道 903 氣體分配平板 904a 第一入口端 904b 第二入口端 905 前側 906a 第一出口端 906b 第二出口端 907 背蓋 910a 第一入口 910b 第二入口 912a 第一出口 912b 第二出口 914a 第一入口閥 914b 第二入口閥 916a 第一出口閥 916b 第二出口閥 920 外周邊區域 922 中央區域 924a 凸緣 924b 凸緣 925 區塊 1500 氣體分配設備 1502 輸送通道 1504 入口端 1506 出口端 1508 孔隙 1544 基板 1550 真空通道 1552 輸出通道 1554 入口通道 1554a 第一入口通道 1554b 第二入口通道 1558 真空孔隙 1558a 孔隙 1558b 孔隙 1700 氣體分配設備 1702 輸送通道 1704 入口端 1706 出口端 1710 入口 1712 出口 1714 入口閥 1716 出口閥 1740 中間出口 1742 中間出口 1744 中間出口閥 1800 基板處理腔室 1804 基板 1805 氣體分配設備 1810 基板支撐 1812 頂部表面 1820 限制環 1822 開口 1830 溫度控制元件 1840 氣體入口 1850 處理區域 1851 外邊緣區域 1900 氣體分配平板 1902 外周邊邊緣 1903a 輸送通道 1903b 輸送通道 1904 背側 1906 前側 1908a 第一孔隙 1908b 第二孔隙 2000 邊緣環 2012 頂部 2014 底部 2015 內直徑 2016 內直徑面 2017 外直徑 2018 外直徑面 2030 空隙 2040 溝槽 2050 充氣部 2052 外周邊面 2054 內周邊面 2057 第二充氣部 2058 孔隙 2060 氣體入口 2062 入口線 2063 第一氣體線分段 2064 交界 2070 開口 2090 補充氣體線 2092 補充氣體入口 2094 補充氣體通道 2096 可選補充充氣部
於是達到且可詳細理解本揭示案上述特徵中的方式，可藉由參考實施例而具有本揭示案的更特定描述(簡短總結如上)，其中一些圖示於所附圖式中。然而，注意所附圖式僅圖示本揭示案典型的實施例，因此不考慮限制其範圍，因為本揭示案可允許其他等效實施例。
第1圖根據本揭示案的一個或更多個實施例展示氣體分配設備的視圖；
第2圖根據本揭示案的一個或更多個實施例展示氣體分配設備的視圖；
第3圖根據本揭示案的一個或更多個實施例展示處理腔室的視圖，包含一個或更多個氣體分配設備；
第4圖根據本揭示案的一個或更多個實施例展示氣體分配設備的頂部視圖；
第5圖根據本揭示案的一個或更多個實施例展示氣體分配設備的透視視圖的橫截面；
第6圖根據本揭示案的一個或更多個實施例展示氣體分配設備的透視視圖；
第7圖根據本揭示案的一個或更多個實施例展示氣體分配設備的底部視圖；
第8A圖根據本揭示案的一個或更多個實施例展示氣體分配設備的部分橫截面視圖；
第8B至8G圖根據本揭示案的一個或更多個實施例展示氣體輸送通道及孔隙的部分橫截面視圖；
第8H及8I圖根據本揭示案的一個或更多個實施例展示在氣體輸送通道中的孔隙之間的間隔的範例；
第8J圖根據本揭示案的一個或更多個實施例展示具有變化的孔隙直徑的氣體輸送通道的範例；
第9圖根據本揭示案的一個或更多個實施例展示氣體分配設備的頂部視圖；
第10A圖根據本揭示案的一個或更多個實施例展示氣體分配設備的部分橫截面視圖；
第10B及10C圖根據本揭示案的一個或更多個實施例展示氣體輸送通道及孔隙的部分橫截面視圖；第10D圖根據本揭示案的一個或更多個實施例展示氣體分配設備的前視圖；
第11圖根據本揭示案的一個或更多個實施例展示氣體分配設備的分解部分橫截面視圖的視圖；
第12圖根據本揭示案的一個或更多個實施例展示氣體分配設備的透視視圖的橫截面；
第13圖根據本揭示案的一個或更多個實施例展示氣體分配設備的透視視圖；
第14圖根據本揭示案的一個或更多個實施例展示氣體分配設備的底部視圖；
第15圖根據本揭示案的一個或更多個實施例展示氣體分配設備的透視視圖；
第16A圖根據本揭示案的一個或更多個實施例展示氣體分配設備的部分橫截面視圖；
第16B圖根據本揭示案的一個或更多個實施例展示氣體分配設備的部分橫截面視圖；
第17圖根據本揭示案的一個或更多個實施例展示氣體分配設備；
第18圖根據本揭示案的一個或更多個實施例展示處理腔室的交叉參考；
第19圖根據本揭示案的一個或更多個實施例展示處理腔室的部分視圖；
第20圖根據本揭示案的一個或更多個實施例展示邊緣環的透視視圖的分段；
第21圖根據本揭示案的一個或更多個實施例展示邊緣環的部分透視視圖；
第22圖根據本揭示案的一個或更多個實施例展示邊緣環的橫截面視圖；
第23圖根據本揭示案的一個或更多個實施例展示邊緣環的橫截面視圖；
第24圖根據本揭示案的一個或更多個實施例展示邊緣環的橫截面視圖；
第25圖根據本揭示案的一個或更多個實施例展示邊緣環的透視視圖的分段；
第26圖根據本揭示案的一個或更多個實施例展示氣體分配設備的透視視圖；及
第27圖根據本揭示案的一個或更多個實施例展示邊緣環的橫截面視圖。
國內寄存資訊 (請依寄存機構、日期、號碼順序註記) 無
國外寄存資訊 (請依寄存國家、機構、日期、號碼順序註記) 無
1804 基板 1810 基板支撐 1820 限制環 1822 開口 1830 溫度控制元件 1840 氣體入口 1900 氣體分配平板 1902 外周邊邊緣 1903a 輸送通道 1903b 輸送通道 1904 背側 1906 前側 1908a 第一孔隙 2000 邊緣環 2016 內直徑面 2018 外直徑面 2030 空隙 2052 外周邊面 2054 內周邊面 2060 氣體入口 2062 入口線 2070 開口

Claims (20)

  1. 一種氣體分配設備，包括： 一氣體分配平板，該氣體分配平板具有一外周邊邊緣、一前側及一背側，其中至少一個輸送通道凹陷於一氣體分配平板的該背側中，該輸送通道具有一入口端、一出口端及一長度，該輸送通道包含複數個孔隙，該複數個孔隙沿著該長度間隔延伸穿過該氣體分配平板至該氣體分配平板的該前側；及一外分配環，該外分配環繞著該氣體分配平板的該外周邊邊緣，該外分配環包括：一圓形主體，該圓形主體具有一頂部、底部、具有一內直徑面的內直徑及具有一外直徑面的一外直徑，放置該外分配環以使在該氣體分配平板的該外周邊邊緣及該外分配環的該內直徑面之間存在一空隙；一充氣部，該充氣部在該圓形主體的該頂部中形成，該充氣部具有一外周邊面及一內周邊面來界定一寬度；至少一個氣體入口，該至少一個氣體入口與該充氣部流體地溝通；及複數個開口，該複數個開口位於該充氣部的該內周邊面中，形成複數個溝槽連接該充氣部與在該內直徑面及該氣體分配平板的該外周邊邊緣之間的該空隙，該複數個溝槽繞著該內周邊面實質相等地隔開。
  2. 如請求項1所述之氣體分配設備，其中該充氣部具有約400 mL至約600 mL的範圍中的一容積。
  3. 如請求項2所述之氣體分配設備，其中該等溝槽具有約40 mL至約180 mL的範圍中的一組合容積。
  4. 如請求項1所述之氣體分配設備，其中該等溝槽的一組合容積對該充氣部的一容積之一比例為在約10%至約30%的範圍中。
  5. 如請求項1所述之氣體分配設備，進一步包括一第二充氣部，該第二充氣部與該充氣部經由複數個孔隙流體地溝通。
  6. 如請求項1所述之氣體分配設備，其中塑形在該外分配環的該內直徑面及該氣體分配平板的該外周邊邊緣之間的該空隙，以引導一氣體自該複數個溝槽向下流過該內直徑面，而在與該主體的一軸實質同心的一方向上離開該氣體分配設備的一前方。
  7. 如請求項1所述之氣體分配設備，進一步包括一氣體線，該氣體線與該至少一個入口流體地溝通。
  8. 如請求項7所述之氣體分配設備，其中具有兩個氣體入口，且該氣體線包括一第一氣體線段，該第一氣體線段連接至一交界且與該交界流體地溝通，該交界將該第一氣體線段分成兩個第二氣體線段。
  9. 如請求項8所述之氣體分配設備，其中該等第二氣體線段之每一者具有實質相同的傳導性。
  10. 如請求項1所述之氣體分配設備，進一步包括一補充氣體入口，該補充氣體入口藉由透過該氣體分配設備的一補充氣體線流體地溝通。
  11. 一種處理腔室，包括： 一基板支撐，該基板支撐具有一頂部表面，該頂部表面上方具有一處理區域；氣體分配設備，包括：一氣體分配平板，該氣體分配平板具有一外周邊邊緣、一前側及一背側，該前側界定該處理區域的一頂部，且該背側具有至少一個輸送通道凹陷於該氣體分配平板的該背側中，該輸送通道具有一入口端、一出口端及一長度，該輸送通道包含複數個孔隙，該複數個孔隙沿著該長度間隔延伸穿過該氣體分配平板至該氣體分配平板的該前側；及一外分配環，該外分配環繞著該氣體分配平板的該外周邊邊緣，該外分配環包括：一圓形主體，該圓形主體具有一頂部、底部、具有一內直徑面的內直徑、及具有一外直徑面的一外直徑，放置該外分配環以使在該氣體分配平板的該外周邊邊緣及該外分配環的該內直徑面之間存在一空隙；一充氣部，該充氣部在該圓形主體的該頂部中形成，該充氣部具有一外周邊面及一內周邊面來界定一寬度；至少一個氣體入口，該至少一個氣體入口與該充氣部流體地溝通；及複數個開口，該複數個開口位於該充氣部的該內周邊面中，形成複數個溝槽連接該充氣部與在該內直徑面及該氣體分配平板的該外周邊邊緣之間的該空隙，該複數個溝槽繞著該內周邊面實質相等地隔開，其中塑形在該外分配環的該內直徑面及該氣體分配平板的該外周邊邊緣之間的該空隙，以引導一氣體自該複數個溝槽向下流過該內直徑面，而在與該主體的一軸實質同心的一方向上離開該氣體分配設備的一前方而進入該處理區域的一外邊緣區域；一補充氣體入口，該補充氣體入口藉由透過該氣體分配設備的一補充氣體線流體地溝通，以流動一補充氣體進入該處理區域；及一限制環，該限制環界定該處理區域的一外邊緣，該限制環包括複數個開口以允許來自該處理區域的一氣體流動透過來排氣。
  12. 一種氣體分配設備，包括： 一氣體分配平板，該氣體分配平板具有一外周邊邊緣、一前側及一背側，其中至少一個輸送通道凹陷於一氣體分配平板的該背側中，該輸送通道具有一入口端、一出口端及一長度，該輸送通道包含複數個孔隙，該複數個孔隙沿著該長度間隔延伸穿過該氣體分配平板至該氣體分配平板的該前側；及一外分配環，該外分配環繞著該氣體分配平板的該外周邊邊緣，該外分配環包括：一圓形主體，該圓形主體具有一頂部、底部、具有一內直徑面的內直徑及具有一外直徑面的一外直徑，放置該外分配環以使在該氣體分配平板的該外周邊邊緣及該外分配環的該內直徑面之間存在一空隙；一充氣部，該充氣部在該圓形主體的該頂部中形成，該充氣部具有一外周邊面及一內周邊面來界定一寬度並具有約100 mL至約900 mL的範圍中的一容積；至少一個氣體入口，該至少一個氣體入口與該充氣部流體地溝通；及複數個開口，該複數個開口位於該充氣部的該內周邊面中，形成複數個溝槽連接該充氣部與在該內直徑面及該氣體分配平板的該外周邊邊緣之間的該空隙，該複數個溝槽繞著該內周邊面實質相等地隔開，該複數個溝槽從該內姪鏡面的一頂部延伸至該內姪鏡面的一底部，且該等溝槽具有約20 mL至約240 mL的範圍中的一組合容積，其中該等溝槽的該組合容積對該充氣部的該容積之一比例為在約10%至約30%的範圍中。
  13. 如請求項12所述之氣體分配設備，其中該充氣部具有約400 mL至約600 mL的範圍中的一容積。
  14. 如請求項13所述之氣體分配設備，其中該等溝槽具有約40 mL至約180 mL的範圍中的一組合容積。
  15. 如請求項12所述之氣體分配設備，進一步包括一第二充氣部，該第二充氣部與該充氣部經由複數個孔隙流體地溝通。
  16. 如請求項12所述之氣體分配設備，其中塑形在該外分配環的該內直徑面及該氣體分配平板的該外周邊邊緣之間的該空隙，以引導一氣體自該複數個溝槽向下流過該內直徑面，而在與該主體的一軸實質同心的一方向上離開該氣體分配設備的一前方。
  17. 如請求項12所述之氣體分配設備，進一步包括一氣體線，該氣體線與該至少一個入口流體地溝通。
  18. 如請求項17所述之氣體分配設備，其中具有兩個氣體入口，且該氣體線包括一第一氣體線段，該第一氣體線段連接至一交界且與該交界流體地溝通，該交界將該第一氣體線段分成兩個第二氣體線段。
  19. 如請求項18所述之氣體分配設備，其中該等第二氣體線段之每一者具有實質相同的傳導性。
  20. 如請求項12所述之氣體分配設備，進一步包括一補充氣體入口，該補充氣體入口藉由透過該氣體分配設備的一補充氣體線流體地溝通。
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