TWI679470B - 陣列基板 - Google Patents

Abstract

一種陣列基板，包括基板、多條掃描線、絕緣層、多條第一轉接線、多條第二轉接線、多條資料線、第一畫素單元、第二畫素單元及第三畫素單元。多條掃描線配置於基板上。多條第一轉接線及多條第二轉接線配置於基板上，其中絕緣層位於各第一轉接線及各第二轉接線之間，各第一轉接線及各第二轉接線分別經由第一連接結構及第二連接結構電性連接至對應的掃描線。多條資料線配置於基板上。第一畫素單元、第二畫素單元及第三畫素單元位於基板上，且分別電性連接至掃描線中的一者及資料線中的一者。

Description

陣列基板

本發明是關於一種陣列基板，且特別是關於一種應用於顯示面板的陣列基板。

隨著液晶顯示面板的解析度提昇，液晶顯示器就必須藉由增加閘極驅動器與源極驅動器的使用數目來配合解析度之提昇，但閘極驅動器與源極驅動器的使用數目增加卻使得非顯示區（或稱為邊框）的面積變大。現行技術可藉由畫素設計搭配驅動方法的變更來縮減資料線的數量，例如兩行畫素共用一條資料線，並且將節省下來的佈局空間用來設置掃描訊號傳遞線，以符合窄邊框的需求。然而，前述現行技術對於能適用的面板螢幕尺寸存在極限。

本發明之一實施方式提供一種陣列基板，其符合窄邊框設計需求且具有改善的設計彈性。

本發明之一實施方式的陣列基板包括基板、多條掃描線、絕緣層、多條第一轉接線、多條第二轉接線、多條資料線、第一畫素單元、第二畫素單元及第三畫素單元。多條掃描線配置於基板上。多條第一轉接線及多條第二轉接線配置於基板上，其中絕緣層位於各第一轉接線及各第二轉接線之間，各第一轉接線及各第二轉接線分別經由第一連接結構及第二連接結構電性連接至對應的掃描線。多條資料線配置於該基板上。第一畫素單元、第二畫素單元及第三畫素單元位於基板上，且分別電性連接至掃描線中的一者及資料線中的一者。

基於上述，本發明之一實施方式的陣列基板透過包括多條第一轉接線與多條第二轉接線，其中多條第一轉接線與多條第二轉接線之間設置有絕緣層，以及每一第一轉接線及每一第二轉接線分別經由第一連接結構及第二連接結構電性連接至對應的掃描線，使得陣列基板應用於面板中時，在不受螢幕尺寸限制的情況下，能達成減少掃描線末端之扇出線路的數量，及不需在周邊區的左右兩側設置掃描線末端的扇出線路的佈線設計，藉以輕易地達成窄邊框的需求及高設計彈性。

為讓本發明的上述特徵和優點能更明顯易懂，下文特舉實施方式，並配合所附圖式作詳細說明如下。

圖1是依照本發明的一實施方式的陣列基板的上視示意圖。圖2是圖1的局部放大示意圖。圖3是沿圖1之剖線I-I’的剖面示意圖。圖4是沿圖1之剖線II-II’的剖面示意圖。

請參照圖1至圖4，陣列基板10包括基板100、多條掃描線SL1~SL6、絕緣層PL、多條第一轉接線L1a~L8a、多條第二轉接線L1b~L4b、多條資料線DL1~DL3、畫素單元P1、畫素單元P2及畫素單元P3。在本實施方式中，陣列基板10可選擇性地更包括共用電極層CM、絕緣層I1以及絕緣層I2。為了方便說明，圖1中僅繪示出30個畫素單元，且僅在其中三個畫素單元標號（即畫素單元P1~P3），但本發明並不限於此。在其他實施方式中，應用本實施方式者亦可依其設計需求而調整畫素單元的數目。另外，為了方便說明起見，圖1中省略繪示絕緣層PL、絕緣層I1以及絕緣層I2。

在本實施方式中，基板100的材質可為玻璃、石英或有機聚合物。在本實施方式中，基板100具有顯示區A以及周邊區B，其中周邊區B位於顯示區A的至少一側。

在本實施方式中，多條掃描線SL1~SL6及多條資料線DL1~DL3配置於基板100上且位於顯示區A內。在本實施方式中，資料線DL1~DL3分別與掃描線SL1~SL6交叉設置。也就是說，在本實施方式中，掃描線SL1~SL6的延伸方向與資料線DL1~DL3的延伸方向不相同。如圖1所示，掃描線SL1~SL6實質上沿第一方向X延伸，且資料線DL1~DL3實質上沿第二方向Y延伸，其中第一方向X與第二方向Y相交，例如第一方向X與第二方向Y彼此實質上垂直。此外，掃描線SL1~SL6與資料線DL1~DL3可分別位於不相同的膜層，且掃描線SL1~SL6與資料線DL1~DL3之間夾有絕緣層GI（於後文進行詳細描述）。基於導電性的考量，掃描線SL1~SL6以及資料線DL1~DL3一般是使用金屬材料來製作。然而，本發明並不限於此，根據其他實施方式，掃描線SL1~SL6以及資料線DL1~DL3也可以使用例如合金、金屬材料之氮化物、金屬材料之氧化物、金屬材料之氮氧化物、非金屬但具導電特性的材料、或是其它合適的材料。

在本實施方式中，畫素單元P1、畫素單元P2及畫素單元P3位於基板100上。在本實施方式中，畫素單元P1包括主動元件T1及畫素電極E1，畫素單元P2包括主動元件T2及畫素電極E2，畫素單元P3包括主動元件T3及畫素電極E3。在本實施方式中，主動元件T1為底部閘極型薄膜電晶體，其包括閘極G1、與閘極G1對應設置的通道層CH1、位於通道層CH1上的汲極D1以及源極S1，主動元件T2為底部閘極型薄膜電晶體，其包括閘極G2、與閘極G2對應設置的通道層CH2、位於通道層CH2上的汲極D2以及源極S2，主動元件T3為底部閘極型薄膜電晶體，其包括閘極G3、與閘極G3對應設置的通道層CH3、位於通道層CH3上的汲極D3以及源極S3。然而，本發明並不限於此。在其他實施方式中，主動元件T1、主動元件T2及主動元件T3例如分別是頂部閘極型薄膜電晶體、垂直型薄膜電晶體、或雙閘極型薄膜電晶體。雖然圖3中僅揭示與主動元件T2關聯的剖面結構，但本技術領域中具有通常知識者應可理解，與主動元件T1及主動元件T3關聯的剖面結構。

在本實施方式中，絕緣層GI覆蓋主動元件T1的閘極G1、主動元件T2的閘極G2、主動元件T3的閘極G3，以作為閘絕緣層。另外，在本實施方式中，絕緣層PL覆蓋主動元件T1、主動元件T2、主動元件T3，以提供絕緣與保護的功能。絕緣層GI、絕緣層PL可為單層或多層結構，且絕緣層GI、絕緣層PL的材質可為無機材料、有機材料或其組合，無機材料例如包括（但不限於）：氧化矽、氮化矽、氮氧化矽、或上述至少二種材料的堆疊層。有機材料例如包括（但不限於）：聚醯亞胺系樹脂、環氧系樹脂或壓克力系樹脂等高分子材料。

在本實施方式中，閘極G1與掃描線SL5可構成連續的導電圖案，表示閘極G1與掃描線SL5彼此電性連接；閘極G2與掃描線SL4可構成連續的導電圖案，表示閘極G2與掃描線SL4彼此電性連接；閘極G3與掃描線SL3可構成連續的導電圖案，表示閘極G3與掃描線SL3彼此電性連接。也就是說，在本實施方式中，畫素單元P1、畫素單元P2及畫素單元P3電性連接至不同的掃描線。

請參考圖2，在本實施方式中，畫素電極E1藉由接觸窗H1與主動元件T1的汲極D1電性連接，畫素電極E2藉由接觸窗H2與主動元件T2的汲極D2電性連接，畫素電極E3藉由接觸窗H3與主動元件T3的汲極D3電性連接。也就是說，在本實施方式中，畫素電極E1、畫素電極E2及畫素電極E3分別電性連接於主動元件T1、主動元件T2及主動元件T3。如圖3所示，接觸窗H2是由形成在絕緣層PL、絕緣層I1（於後文進行詳細描述）及絕緣層I2（於後文進行詳細描述）中的接觸洞O2及畫素電極E2填入接觸洞O2的部分所構成。參閱前述描述，本技術領域中具有通常知識者應可類推接觸窗H1及接觸窗H3的結構。在本實施方式中，畫素電極E1、畫素電極E2、畫素電極E3的材質可包括金屬氧化物導電材料，例如銦錫氧化物、銦鋅氧化物、鋁錫氧化物、鋁鋅氧化物、銦鎵鋅氧化物、或其它合適的氧化物、或者是上述至少二者之堆疊層。另外，在本實施方式中，畫素電極E1、畫素電極E2、畫素電極E3分別包括多個條狀電極圖案。

在本實施方式中，源極S1與資料線DL1可構成連續的導電圖案，表示主動元件T1的源極S1與資料線DL1彼此電性連接。在本實施方式中，源極S2藉由接觸窗H4及連接圖案CP電性連接於畫素電極E1，且源極S3藉由接觸窗H5及連接圖案CP電性連接於畫素電極E2。連接圖案CP、畫素電極E1、畫素電極E2及畫素電極E3舉例係由相同膜層圖案化形成。如前文所述，畫素電極E1電性連接於主動元件T1、畫素電極E2電性連接於主動元件T2且主動元件T1電性連接於資料線DL1，因此在本實施方式中，主動元件T2的源極S2電性連接於資料線DL1，並且主動元件T3的源極S3電性連接於資料線DL1。也就是說，在本實施方式中，畫素單元P1、畫素單元P2及畫素單元P3電性連接至相同的資料線（即資料線DL1）。從另一觀點而言，在本實施方式中，陣列基板10採用三分之一源極驅動（one third source driving，簡稱OTSD）架構。值得一提的是，採用OTSD架構，能減少資料線（即源極配線）的數目，並使得原本部分的源極配線空間能用來配置多條第一轉接線L1a~L8a（於後文進行詳細描述）。

如圖3所示，接觸窗H4是由形成在絕緣層PL、絕緣層I1（於後文進行詳細描述）及絕緣層I2（於後文進行詳細描述）中的接觸洞O4及連接圖案CP填入接觸洞O4的部分所構成。參閱前述描述，本技術領域中具有通常知識者應可類推接觸窗H5的結構。另外，雖然為了清楚說明，本文僅對畫素單元P1~P3進行說明，但根據所述說明，本技術領域中具有通常知識者應可理解，其他27個畫素單元於陣列基板10中與其他構件的電性連接關係。

另外，在本實施方式中，連接圖案CP與畫素電極E2屬於同一膜層。也就是說，在本實施方式中，連接圖案CP與畫素電極E2可具有實質上相同的材質，以及連接圖案CP與畫素電極E2可在同一道光罩製程（photolithography and etching process，PEP）中形成。在本實施方式中，連接圖案CP的材質可包括金屬氧化物導電材料，例如銦錫氧化物、銦鋅氧化物、鋁錫氧化物、鋁鋅氧化物、銦鎵鋅氧化物、或其它合適的氧化物、或者是上述至少二者之堆疊層。

在本實施方式中，共用電極層CM配置於基板100上且位於顯示區A內。在本實施方式中，絕緣層I2設置於共用電極層CM與畫素電極E1、畫素電極E2及畫素電極E3之間，以使共用電極層CM與畫素電極E1、畫素電極E2及畫素電極E3在結構上彼此分離。在本實施方式中，共用電極層CM電性連接至共用電壓，例如約0伏特。值得一提的是，當施加電壓於共用電極層CM、畫素電極E1、畫素電極E2及畫素電極E3時，共用電極層CM與畫素電極E1、畫素電極E2及畫素電極E3之間可產生邊緣電場。換言之，在本實施方式中，共用電極層CM與畫素電極E1對應的部分即作為畫素單元P1的共用電極，共用電極層CM與畫素電極E2對應的部分即作為畫素單元P2的共用電極，共用電極層CM與畫素電極E3對應的部分即作為畫素單元P3的共用電極。從另一觀點而言，在本實施方式中，陣列基板10採用邊際場切換式（fringe field switching，FFS）架構。

在本實施方式中，共用電極層CM的材質可包括金屬氧化物導電材料，例如銦錫氧化物、銦鋅氧化物、鋁錫氧化物、鋁鋅氧化物、銦鎵鋅氧化物、或其它合適的氧化物、或者是上述至少二者之堆疊層。在本實施方式中，絕緣層I2可為單層或多層結構，且絕緣層I2的材質可為無機材料、有機材料或其組合，其中無機材料例如包括（但不限於）氧化矽、氮化矽、氮氧化矽、或上述至少二種材料的堆疊層；有機材料例如包括（但不限於）聚醯亞胺系樹脂、環氧系樹脂或壓克力系樹脂等高分子材料。

另外，在本實施方式中，共用電極層CM之設置平面異於畫素電極E1、畫素電極E2及畫素電極E3之設置平面，但本發明並不限於此。在其他實施方式中，共用電極層CM與畫素電極E1、畫素電極E2及畫素電極E3也可實質上設置於同一平面上，即陣列基板10例如可採用平面切換式（in plane switching，IPS）架構。另外，在本實施方式中，畫素電極E1、畫素電極E2及畫素電極E3設置在絕緣層I2的上方，且共用電極層CM設置在絕緣層I2的下方，但本發明並不限於此。

在本實施方式中，多條第一轉接線L1a~L8a配置於該基板100上。如圖1所示，第一轉接線L1a~L4a設置在資料線DL1與資料線DL2之間，且第一轉接線L5a~L8a設置在資料線DL2與資料線DL3之間。也就是說，在本實施方式中，任兩相鄰的資料線（例如資料線DL1與資料線DL2、資料線DL2與資料線DL3）之間設置有四條第一轉接線（例如第一轉接線L1a~L4a、第一轉接線L5a~L8a）。如圖1所示，第一轉接線L1a~L8a實質上沿第二方向Y延伸，且在第二方向Y上，第一轉接線L1a的延伸路徑與第一轉接線L2a的延伸路徑相重疊，第一轉接線L3a的延伸路徑與第一轉接線L4a的延伸路徑相重疊，第一轉接線L5a的延伸路徑與第一轉接線L6a的延伸路徑相重疊，第一轉接線L7a的延伸路徑與第一轉接線L8a的延伸路徑相重疊。從另一觀點而言，在本實施方式中，第一轉接線L1a與第一轉接線L2a不相連接，第一轉接線L3a與第一轉接線L4a不相連接，第一轉接線L5a與第一轉接線L6a不相連接，第一轉接線L7a與第一轉接線L8a不相連接。

如圖1及圖3所示，資料線DL1與第一轉接線L1a、第一轉接線L2a屬於同一膜層。也就是說，在本實施方式中，資料線DL1與第一轉接線L1a、第一轉接線L2a可具有實質上相同的材質，以及資料線DL1與第一轉接線L1a、第一轉接線L2a可在同一道光罩製程（photolithography and etching process，PEP）中形成。雖然圖3中僅揭示資料線DL1、第一轉接線L1a及第一轉接線L2a彼此之間的配置關係，但本技術領域中具有通常知識者應可理解，在本實施方式中，資料線DL1~DL3與第一轉接線L1a~L8a屬於同一膜層。

如圖1及圖3所示，第一轉接線L1a經由第一連接結構C1a電性連接至掃描線SL2，第一轉接線L2a經由第一連接結構C2a電性連接至掃描線SL4，第一轉接線L4a經由第一連接結構C3a電性連接至掃描線SL3，第一轉接線L5a經由第一連接結構C4a電性連接至掃描線SL1，第一轉接線L6a經由第一連接結構C5a電性連接至掃描線SL5，第一轉接線L8a經由第一連接結構C6a電性連接至掃描線SL6。也就是說，在本實施方式中，第一轉接線L1a、第一轉接線L2a、第一轉接線L4a、第一轉接線L5a、第一轉接線L6a及第一轉接線L8a電性連接至不相同的掃描線。從另一觀點而言，在本實施方式中，第一轉接線L1a、第一轉接線L2a、第一轉接線L4a、第一轉接線L5a、第一轉接線L6a及第一轉接線L8a可視為掃描信號傳遞線，用以傳遞掃描線SL2、掃描線SL4、掃描線SL3、掃描線SL1、掃描線SL5及掃描線SL6的掃描信號。

如圖1所示，第一連接結構C1a~C6a皆位於顯示區A內，舉例來說，第一連接結構C1a~C6a分別被多個畫素單元圍繞或是位於多個畫素單元之間。另外，如圖1所示，第一連接結構C1a~C6a在基板100上呈現X型分佈，但本發明不以此為限，只要掃描線SL1~SL6中的一條以一對一的關係電性連接至第一轉接線L1a~L8a中的一條即可。

從另一觀點而言，雖然圖1揭示第一轉接線L1a、第一轉接線L2a、第一轉接線L4a、第一轉接線L5a、第一轉接線L6a及第一轉接線L8a分別經由第一連接結構C1a、第一連接結構C2a、第一連接結構C3a、第一連接結構C4a、第一連接結構C5a及第一連接結構C6a電性連接至對應的掃描線，而第一轉接線L3a及第一轉接線L7a未與掃描線電性連接，但本發明並不以此為限。在其他實施方式中，第一轉接線L1a~L8a可以一對一的關係電性連接至對應的掃描線。也就是說，應用本實施方式者可依其設計需求而調整第一轉接線與掃描線的連接關係，只要每一掃描線以一對一的關係電性連接至一條第一轉接線即可。

如圖3所示，第一連接結構C1a是由形成在絕緣層GI中的接觸洞Q1及第一轉接線L1a填入接觸洞Q1的部分所構成，第一連接結構C2a是由形成在絕緣層GI中的接觸洞Q2及第一轉接線L2a填入接觸洞Q2的部分所構成。參閱前述描述，本技術領域中具有通常知識者應可類推第一連接結構C3a~C6a的結構。

在本實施方式中，多條第二轉接線L1b~L4b配置於該基板100上。如圖1所示，第二轉接線L1b~L2b設置在資料線DL1與資料線DL2之間，且第二轉接線L3b~L4b設置在資料線DL2與資料線DL3之間。也就是說，在本實施方式中，任兩相鄰的資料線之間設置有兩條第二轉接線。

如圖1所示，第二轉接線L1b~L4b實質上沿第二方向Y延伸，且於基板100的法線方向N上，第一轉接線L1a與第二轉接線L1b相重疊，第一轉接線L2a與第二轉接線L1b相重疊，第一轉接線L3a與第二轉接線L2b相重疊，第一轉接線L4a與第二轉接線L2b相重疊，第一轉接線L5a與第二轉接線L3b相重疊，第一轉接線L6a與第二轉接線L3b相重疊，第一轉接線L7a與第二轉接線L4b相重疊，第一轉接線L8a與第二轉接線L4b相重疊。也就是說，在本實施方式中，於基板100的法線方向N上，第一轉接線L1a~L8a之一者與第二轉接線L1b~L4b之一者相重疊。

如圖1及圖3所示，絕緣層PL位於第二轉接線L1b與第一轉接線L1a、第一轉接線L2a之間。舉例而言，第二轉接線L1b設置在絕緣層PL的上方，且第一轉接線L1a、第一轉接線L2a設置在絕緣層PL的下方。雖然圖3中僅揭示第二轉接線L1b、第一轉接線L1a及第一轉接線L2a彼此之間的配置關係，但本技術領域中具有通常知識者應可理解，在本實施方式中，絕緣層PL係位於第一轉接線L1a~L8a中的每一者與第二轉接線L1b~L4b中的每一者之間。換言之，在本實施方式中，第一轉接線L1a~L8a與第二轉接線L1b~L4b屬於不同膜層。如前文所述，第一轉接線L1a~L8a與資料線DL1~DL3屬於同一膜層，因此在本實施方式中，第二轉接線L1b~L4b與資料線DL1~DL3屬於不同膜層。

在本實施方式中，第二轉接線L1b~L4b一般是使用金屬材料來製作。然而，本發明並不限於此，根據其他實施方式，第二轉接線L1b~L4b也可以使用例如合金、金屬材料之氮化物、金屬材料之氧化物、金屬材料之氮氧化物、非金屬但具導電特性的材料、或是其它合適的材料。另外，在本實施方式中，第一轉接線L1a~L8a的材質可與第二轉接線L1b~L4b的材質相同或不同。

如圖1及圖3所示，絕緣層I1設置於共用電極層CM與第二轉接線L1b之間，以使共用電極層CM與第二轉接線L1b在結構上彼此分離。雖然圖3中僅揭示第二轉接線L1b與共用電極層CM之間的配置關係，但本技術領域中具有通常知識者應可理解，在本實施方式中，絕緣層I1係位於共用電極層CM與第二轉接線L1b~L4b之間。

在本實施方式中，絕緣層I1可為單層或多層結構，且絕緣層I1的材質可為無機材料、有機材料或其組合，其中無機材料例如包括（但不限於）氧化矽、氮化矽、氮氧化矽、或上述至少二種材料的堆疊層；有機材料例如包括（但不限於）聚醯亞胺系樹脂、環氧系樹脂或壓克力系樹脂等高分子材料。

如圖1及圖4所示，第二轉接線L1b經由第二連接結構C1b電性連接至第一轉接線L1a，第二轉接線L2b經由第二連接結構C2b電性連接至第一轉接線L3a，第二轉接線L3b經由第二連接結構C3b電性連接至第一轉接線L5a，第二轉接線L4b經由第二連接結構C4b電性連接至第一轉接線L7a，其中第二連接結構C1b、第二連接結構C2b、第二連接結構C3b及第二連接結構C4b皆位於周邊區B內。換言之，在本實施方式中，第二轉接線L1b~L4b、第一轉接線L1a、第一轉接線L3a、第一轉接線L5a及第一轉接線L7a皆自顯示區A延伸至周邊區B。

在本實施方式中，由於第一轉接線L1a經由第一連接結構C1a電性連接至掃描線SL2，且第一轉接線L5a經由第一連接結構C4a電性連接至掃描線SL1，故第二轉接線L1b會經由第二連接結構C1b、第一轉接線L1a及第一連接結構C1a而電性連接至掃描線SL2，且第二轉接線L3b會經由第二連接結構C3b、第一轉接線L5a及第一連接結構C4a而電性連接至掃描線SL1。換言之，在本實施方式中，第二轉接線L1b及第二轉接線L3b可視為掃描信號傳遞線，用以傳遞掃描線SL2及掃描線SL1的掃描信號。從另一觀點而言，在本實施方式中，陣列基板10是利用位於不同膜層的兩種掃描信號傳遞線（即第一轉接線L1a~L2a、L4a~L5a、L6a、L8a，及第二轉接線L1b、L3b）來進行掃描信號的傳遞。

值得一提的是，在本實施方式中，第一連接結構C1a~C6a設計成X型分佈，藉此可使得掃描線SL2及掃描線SL1的掃描信號傳遞路徑較短，從而達成降低陣列基板10整體阻抗值的效果。

另一方面，在本實施方式中，可視為掃描信號傳遞線的第一轉接線L1a~L2a、第一轉接線L4a~L5a、第一轉接線L6a、第一轉接線L8a、第二轉接線L1b及第二轉接線L3b的延伸方向實質上皆與資料線DL1~DL3的延伸方向平行，並且可視為掃描信號傳遞線的第一轉接線L1a~L2a、第一轉接線L4a~L5a、第一轉接線L6a、第一轉接線L8a、第二轉接線L1b及第二轉接線L3b分別皆設置在資料線DL1~DL3中的任兩相鄰者之間，此表示陣列基板10採用於畫素上沿閘極線（Tracking Gate-line in Pixel，TGP）的佈線架構。值得一提的是，陣列基板10透過採用TGP的佈線架構，使得能減少掃描線末端之扇出線路（fan-out trace）的數量。

如圖1所示，雖然第二轉接線L2b及第二轉接線L4b因第一轉接線L3a及第一轉接線L7a未與掃描線電性連接而不與掃描線電性連接，但基於前文針對第一轉接線L1a~L8a的描述，本技術領域中具有通常知識者應可理解，第二轉接線L1b~L4b也可以經由第一轉接線L1a、L3a、L5a、L7a而一對一的關係電性連接至對應的掃描線。

如圖1及圖4所示，第二連接結構C1b包含橋接線B1、接觸洞V1a以及接觸洞V1b，且第二轉接線L1b依序藉由接觸洞V1a、橋接線B1以及接觸洞V1b電性連接於第一轉接線L1a；第二連接結構C2b包含橋接線B2、接觸洞V2a以及接觸洞V2b，且第二轉接線L2b依序藉由接觸洞V2a、橋接線B2以及接觸洞V2b電性連接於第一轉接線L3a；第二連接結構C3b包含橋接線B3、接觸洞V3a以及接觸洞V3b，且第二轉接線L3b依序藉由接觸洞V3a、橋接線B3以及接觸洞V3b電性連接於第一轉接線L5a；第二連接結構C4b包含橋接線B4、接觸洞V4a以及接觸洞V4b，且第二轉接線L4b依序藉由接觸洞V4a、橋接線B4以及接觸洞V4b電性連接於第一轉接線L7a。

如圖4所示，接觸洞V1a形成在絕緣層I1及絕緣層I2中，接觸洞V1b形成在絕緣層PL、絕緣層I1及絕緣層I2中，橋接線B1填入接觸洞V1及接觸洞V1b中而與第二轉接線L1b及第一轉接線L1a接觸，並且如圖3及圖4所示，橋接線B1與畫素電極E2屬於同一膜層。也就是說，在本實施方式中，橋接線B1與畫素電極E2可具有實質上相同的材質，以及橋接線B1與畫素電極E2可在同一道光罩製程（photolithography and etching process，PEP）中形成。雖然圖4中僅揭示與第二連接結構C1b關聯的剖面結構，但本技術領域中具有通常知識者應可理解，與第二連接結構C2b~C4b關聯的剖面結構。

另外，雖然圖1中揭示第二轉接線L1b~L4b的寬度小於第一轉接線L1a~L8a的寬度，但本發明並不以此為限。在一實施方式中，第二轉接線L1b~L4b的寬度可實質上等於第一轉接線L1a~L8a的寬度。在另一實施方式中，第二轉接線L1b~L4b的寬度可大於第一轉接線L1a~L8a的寬度。

值得說明的是，在本實施方式中，陣列基板10透過包括位於不同膜層的第一轉接線L1a~L2a、L4a~L5a、L6a、L8a及第二轉接線L1b、L3b，其中第一轉接線L1a~L2a、L4a~L5a、L6a、L8a與第二轉接線L1b、L3b之間設置有絕緣層PL，且第一轉接線L1a經由第一連接結構C1a電性連接至掃描線SL2，第一轉接線L2a經由第一連接結構C2a電性連接至掃描線SL4，第一轉接線L4a經由第一連接結構C3a電性連接至掃描線SL3，第一轉接線L5a經由第一連接結構C4a電性連接至掃描線SL1，第一轉接線L6a經由第一連接結構C5a電性連接至掃描線SL5，第一轉接線L8a經由第一連接結構C6a電性連接至掃描線SL6，第二轉接線L1b經由第二連接結構C1b電性連接至掃描線SL2，第二轉接線L3b經由第二連接結構C3b電性連接至掃描線SL1，使得陣列基板10應用於面板中時，在不受螢幕尺寸限制的情況下，能達成減少掃描線末端之扇出線路的數量，及不需在周邊區B於第一方向X上的兩側設置掃描線末端的扇出線路的佈線設計，藉以輕易地達成窄邊框的需求及高設計彈性。舉例而言，在一實施方式中，陣列基板10可應用於螢幕尺寸具有18：9以上的比例的面板中，且周邊區B於第一方向X上的兩側的寬度為約0.35毫米。

另外，如圖4所示，第二連接結構C1b包含橋接線B1、接觸洞V1a以及接觸洞V1b，但本發明並不限於此。以下，將參照圖5對其他變化態樣進行詳細說明。在此必須說明的是，下述實施方式沿用了前述實施方式的元件符號與部分內容，其中採用相同或相似的符號來表示相同或相似的元件，並且省略了相同技術內容的說明。關於省略部分的說明可參考前述實施方式，下述實施方式不再重複贅述。

圖5是依照本發明的另一實施方式的陣列基板的剖面示意圖。值得注意的是，圖5的陣列基板20的上視示意圖可參考圖1，而圖5的剖面位置可參照圖1中之剖線II-II’的位置。

請同時參照圖5及圖4，圖5的陣列基板20與圖4的陣列基板10相似，因此相同或相似的元件以相同或相似的符號表示，並且省略了相同技術內容的說明。關於省略部分的說明可參考前述實施方式。以下，將就兩者間的差異處做說明。

請參照圖5，在本實施方式中，第二連接結構C1b是由形成在絕緣層PL中的接觸洞W1及第二轉接線L1b填入接觸洞W1的部分所構成。參閱前述描述，本技術領域中具有通常知識者應可類推第二連接結構C2b~C4b的結構。

在前述圖1至圖4的實施方式中，電性連接第一轉接線與掃描線的第一連接結構是位於顯示區內，而電性連接第二轉接線與掃描線的第二連接結構是位於周邊區內，但本發明並不限於此。在其他實施方式中，第一連接結構與第二連接結構可皆設置於顯示區內。以下，將參照圖6至圖9對其他變化態樣進行詳細說明。在此必須說明的是，下述實施方式沿用了前述實施方式的元件符號與部分內容，其中採用相同或相似的符號來表示相同或相似的元件，並且省略了相同技術內容的說明。關於省略部分的說明可參考前述實施方式，下述實施方式不再重複贅述。

圖6是依照本發明的另一實施方式的陣列基板的上視示意圖。圖7是沿圖6之剖線I-I’的剖面示意圖。

請同時參照圖6及圖1，圖6的陣列基板30與圖1的陣列基板10相似，因此相同或相似的元件以相同或相似的符號表示，並且省略了相同技術內容的說明。關於省略部分的說明可參考前述實施方式。以下，將就兩者間的差異處做說明。

請同時參照圖6及圖7，在本實施方式中，第一轉接線L1a與第一轉接線L2a彼此連接成一體，第一轉接線L3a與第一轉接線L4a彼此連接成一體，第一轉接線L5a與第一轉接線L6a彼此連接成一體，第一轉接線L7a與第一轉接線L8a彼此連接成一體。也就是說，在本實施方式中，第一轉接線L1a與第一轉接線L2a可視為同一掃描信號傳遞線，用以傳遞相同的掃描信號；第一轉接線L3a與第一轉接線L4a可視為同一掃描信號傳遞線，用以傳遞相同的掃描信號；第一轉接線L5a與第一轉接線L6a可視為同一掃描信號傳遞線，用以傳遞相同的掃描信號；第一轉接線L7a與第一轉接線L8a可視為同一掃描信號傳遞線，用以傳遞相同的掃描信號。

在本實施方式中，陣列基板30包括位於資料線DL3同側的第一轉接線L9a~L10a及第二轉接線L5b~L6b，其中第一轉接線L9a~L10a及第二轉接線L5b~L6b實質上沿第二方向Y延伸，且於基板100的法線方向N上，第一轉接線L9a與第二轉接線L5b相重疊，第一轉接線L10a與第二轉接線L6b相重疊。基於前述實施方式中針對第一轉接線L1a~L8a及第二轉接線L1b~L4b的描述，本技術領域中具有通常知識者應可理解，絕緣層PL位於第一轉接線L9a~L10a與第二轉接線L5b~L6b之間，且絕緣層I1設置於共用電極層CM與第二轉接線L5b~L6b之間。另外，雖然圖6中繪示陣列基板30包括45個畫素單元，但基於前述實施方式的描述，本技術領域中具有通常知識者應可理解畫素單元的數目可依其設計需求而調整。

如圖6及圖7所示，第一轉接線L1a經由第一連接結構C1c電性連接至掃描線SL1，第一轉接線L6a經由第一連接結構C2c電性連接至掃描線SL5，第一轉接線L8a經由第一連接結構C3c電性連接至掃描線SL6，第一轉接線L10a經由第一連接結構C4c電性連接至掃描線SL2，第二轉接線L2b經由第二連接結構C1d電性連接至掃描線SL3，第二轉接線L5b經由第二連接結構C2d電性連接至掃描線SL4。也就是說，在本實施方式中，第一轉接線L1a(或第一轉接線L2a)、第一轉接線L6a(或第一轉接線L5a)、第一轉接線L8a(或第一轉接線L7a)、第一轉接線L10a、第二轉接線L2b及第二轉接線L5b分別電性連接至不相同的掃描線。從另一觀點而言，在本實施方式中，第一轉接線L1a、第一轉接線L6a、第一轉接線L8a、第一轉接線L10a、第二轉接線L2b及第二轉接線L5b可視為掃描信號傳遞線，用以傳遞掃描線SL1、掃描線SL5、掃描線SL6、掃描線SL2、掃描線SL3及掃描線SL4的掃描信號。

如圖6所示，第一連接結構C1c~C4c及第二連接結構C1d~C2d皆位於顯示區A內，舉例來說，第一連接結構C1c~C4c分別被多個畫素單元圍繞或是位於多個畫素單元之間。換言之，在本實施方式中，第一連接結構C1c~C4c及第二連接結構C1d~C2d皆不位於周邊區B內。

如圖7所示，第一連接結構C1c與第一轉接線L1a接觸且與掃描線SL1接觸，第二連接結構C1d與第二轉接線L2b接觸且與掃描線SL3接觸。參閱前述描述，本技術領域中具有通常知識者應可類推第一連接結構C2c~C4c及第二連接結構C2d的結構，亦即本技術領域中具有通常知識者應可理解，第一連接結構C2c與第一轉接線L6a接觸且與掃描線SL5接觸，第一連接結構C3c與第一轉接線L8a接觸且與掃描線SL6接觸，第一連接結構C4c與第一轉接線L10a接觸且與掃描線SL2接觸，及第二連接結構C2d與第二轉接線L5b接觸且與掃描線SL4接觸。

另外，如圖7所示，第一連接結構C1c是由形成在絕緣層GI中的接觸洞J1及第一轉接線L1a填入接觸洞J1的部分所構成，第二連接結構C1d是由形成在絕緣層GI中的接觸洞K1及第二轉接線L2b填入接觸洞K1的部分所構成。參閱前述描述，本技術領域中具有通常知識者應可類推第一連接結構C2c~C4c及第二連接結構C2d的結構。

雖然圖6揭示第一轉接線L1a、第一轉接線L6a、第一轉接線L8a、第一轉接線L10a、第二轉接線L2b及第二轉接線L5b分別經由第一連接結構C1c、第一連接結構C2c、第一連接結構C3c、第一連接結構C4c、第二連接結構C1d及第二連接結構C2d分別電性連接至對應的掃描線，而第一轉接線L3a（或第一轉接線L4a）、第一轉接線L9a、第二轉接線L1b、第二轉接線L3b、第二轉接線L4b及第二轉接線L6b未與掃描線電性連接，但本發明並不以此為限。在其他實施方式中，第一轉接線L1a（或第一轉接線L2a）、第一轉接線L3a（或第一轉接線L4a）、第一轉接線L5a（或第一轉接線L6a）、第一轉接線L7a（或第一轉接線L8a）及第二轉接線L1b~L6b可以一對一的關係電性連接至對應的掃描線。也就是說，應用本實施方式者可依其設計需求而調整第一及第二轉接線與掃描線的連接關係，只要每一掃描線以一對一的關係電性連接至第一及第二轉接線中的一者即可。

另外，如圖6所示，雖然第二連接結構C1d及第二連接結構C2d分別是透過第二轉接線L2b及第二轉接線L5b所具有的突出部分而電性連接第二轉接線L2b與掃描線SL3及電性連接第二轉接線L5b與掃描線SL4，但本發明並不限定第二轉接線與對應的掃描線之間的連接架構，只要第二轉接線能經由第二連接結構而電性連接至對應的掃描線即可。

值得說明的是，在本實施方式中，陣列基板30透過包括位於不同膜層的第一轉接線L1a、L6a、L8a、L10a及第二轉接線L2b、L5b，其中第一轉接線L1a、L6a、L8a、L10a與第二轉接線L2b、L5b之間設置有絕緣層PL，且第一轉接線L1a經由第一連接結構C1c電性連接至掃描線SL1，第一轉接線L6a經由第一連接結構C2c電性連接至掃描線SL5，第一轉接線L8a經由第一連接結構C3c電性連接至掃描線SL6，第一轉接線L10a經由第一連接結構C4c電性連接至掃描線SL2，第二轉接線L2b經由第二連接結構C1d電性連接至掃描線SL3，第二轉接線L5b經由第二連接結構C2d電性連接至掃描線SL4，使得陣列基板30應用於面板中時，在不受螢幕尺寸限制的情況下，能達成減少掃描線末端之扇出線路的數量，及不需在周邊區B於第一方向X上的兩側設置掃描線末端的扇出線路的佈線設計，藉以輕易地達成窄邊框的需求及高設計彈性。具體而言，在一實施方式中，陣列基板30可應用於螢幕尺寸具有18：9以上的比例的面板中，且周邊區B於第一方向X上的兩側的寬度為約0.35毫米。

另外，如圖6所示，第一連接結構C1c~C4c及第二連接結構C1d~C2d在基板100上呈現V型分佈，但本發明不以此為限。在其他實施方式中，第一連接結構及第二連接結構在基板100上也可呈現雙V型分佈。以下，將參照圖8對其他變化態樣進行詳細說明。在此必須說明的是，下述實施方式沿用了前述實施方式的元件符號與部分內容，其中採用相同或相似的符號來表示相同或相似的元件，並且省略了相同技術內容的說明。關於省略部分的說明可參考前述實施方式，下述實施方式不再重複贅述。

圖8是依照本發明的另一實施方式的陣列基板的上視示意圖。請同時參照圖8及圖6，圖8的陣列基板40與圖6的陣列基板30相似，因此相同或相似的元件以相同或相似的符號表示，並且省略了相同技術內容的說明。關於省略部分的說明可參考前述實施方式。以下，將就兩者間的差異處做說明。

請參照圖8，在本實施方式中，第一轉接線L1a經由第一連接結構C1e電性連接至掃描線SL1，第一轉接線L5a經由第一連接結構C2e電性連接至掃描線SL3，第一轉接線L9a經由第一連接結構C3e電性連接至掃描線SL2，第二轉接線L2b經由第二連接結構C1f電性連接至掃描線SL4，第二轉接線L4b經由第二連接結構C2f電性連接至掃描線SL6，第二轉接線L6b經由第二連接結構C3f電性連接至掃描線SL5。也就是說，在本實施方式中，第一轉接線L1a（或第一轉接線L2a）、第一轉接線L5a（或第一轉接線L6a）、第一轉接線L9a、第二轉接線L2b、第二轉接線L4b及第二轉接線L6b電性連接至不相同的掃描線。從另一觀點而言，在本實施方式中，第一轉接線L1a、第一轉接線L5a、第一轉接線L9a、第二轉接線L2b、第二轉接線L4b及第二轉接線L6b可視為掃描信號傳遞線，用以傳遞掃描線SL1、掃描線SL3、掃描線SL2、掃描線SL4、掃描線SL6及掃描線SL5的掃描信號。

另一方面，如圖8所示，第一連接結構C1e~C3e及第二連接結構C1f~C3f在基板100上呈現雙V型分佈，但本發明不以此為限。

值得說明的是，在本實施方式中，陣列基板40透過包括位於不同膜層的第一轉接線L1a、L5a、L9a及第二轉接線L2b、L4b、L6b，其中第一轉接線L1a、L5a、L9a與第二轉接線L2b、L4b、L6b之間設置有絕緣層PL，且第一轉接線L1a經由第一連接結構C1e電性連接至掃描線SL1，第一轉接線L5a經由第一連接結構C2e電性連接至掃描線SL3，第一轉接線L9a經由第一連接結構C3e電性連接至掃描線SL2，第二轉接線L2b經由第二連接結構C1f電性連接至掃描線SL4，第二轉接線L4b經由第二連接結構C2f電性連接至掃描線SL6，第二轉接線L6b經由第二連接結構C3f電性連接至掃描線SL5，使得陣列基板40應用於面板中時，在不受螢幕尺寸限制的情況下，能達成減少掃描線末端之扇出線路的數量，及不需在周邊區B於第一方向X上的兩側設置掃描線末端的扇出線路的佈線設計，藉以輕易地達成窄邊框的需求及高設計彈性。具體而言，在一實施方式中，陣列基板40可應用於螢幕尺寸具有18：9以上的比例的面板中，且周邊區B於第一方向X上的兩側的寬度為約0.35毫米。

在前述圖6至圖8的實施方式中，於基板100的法線方向N上，第二轉接線L1b與第一轉接線L1a及第一轉接線L2a相重疊，第二轉接線L2b與第一轉接線L3a及第一轉接線L4a相重疊，第二轉接線L3b與第一轉接線L5a及第一轉接線L6a相重疊，第二轉接線L4b與第一轉接線L7a及第一轉接線L8a相重疊，第二轉接線L5b與第一轉接線L9a相重疊，第二轉接線L6b與第一轉接線L10a相重疊，但本發明並不限於此。在其他實施方式中，第一轉接線與第二轉接線可不相重疊。以下，將參照圖9對其他變化態樣進行詳細說明。在此必須說明的是，下述實施方式沿用了前述實施方式的元件符號與部分內容，其中採用相同或相似的符號來表示相同或相似的元件，並且省略了相同技術內容的說明。關於省略部分的說明可參考前述實施方式，下述實施方式不再重複贅述。

圖9是依照本發明的另一實施方式的陣列基板的上視示意圖。請同時參照圖9及圖8，圖9的陣列基板50與圖8的陣列基板40相似，因此相同或相似的元件以相同或相似的符號表示，並且省略了相同技術內容的說明。關於省略部分的說明可參考前述實施方式。以下，將就兩者間的差異處做說明。

請參照圖9，在本實施方式中，陣列基板50僅包括彼此連接成一體的第一轉接線L1a與第一轉接線L2a、彼此連接成一體的第一轉接線L5a與第一轉接線L6a、第一轉接線L9a、第二轉接線L2b、第二轉接線L4b、及第二轉接線L6b。舉例而言，在本實施方式中，於基板100的法線方向N上，第一轉接線L1a、L5a、L9a不重疊於第二轉接線L2b、L4b、L6b，第一轉接線L1a、L5a、L9a與第二轉接線L2b、L4b、L6b交錯排列。

綜上所述，前述各實施方式之陣列基板透過包括多條第一轉接線與多條第二轉接線，其中多條第一轉接線與多條第二轉接線之間設置有絕緣層（即多條第一轉接線與多條第二轉接線位於不同膜層），以及每一第一轉接線及每一第二轉接線分別經由第一連接結構及第二連接結構電性連接至對應的掃描線，使得陣列基板應用於面板中時，面板舉例為液晶顯示面板，在不受螢幕尺寸限制的情況下，能達成減少掃描線末端之扇出線路的數量，及不需在周邊區的左右兩側設置掃描線末端的扇出線路的佈線設計，藉以輕易地達成窄邊框的需求及高設計彈性。

雖然本發明已以實施方式揭露如上，然其並非用以限定本發明，本技術領域中具有通常知識者，在不脫離本發明的精神和範圍內，當可作些許的更動與潤飾，故本發明的保護範圍當視後附的申請專利範圍所界定者為準。

10、20、30、40、50‧‧‧陣列基板

100‧‧‧基板

A‧‧‧顯示區

B‧‧‧周邊區

B1~B4‧‧‧橋接線

C1a~C6a、C1c~C4c、C1e~C3e‧‧‧第一連接結構

C1b~C4b、C1d~C2d、C1f~C3f‧‧‧第二連接結構

CH1~CH3‧‧‧通道層

CM‧‧‧共用電極層

CP‧‧‧連接圖案

D1~D3‧‧‧汲極

DL1~DL3‧‧‧資料線

E1~E3‧‧‧畫素電極

G1~G3‧‧‧閘極

GI、I1、I2、PL‧‧‧絕緣層

H1~H5‧‧‧接觸窗

J1、K1、O2、O4、Q1、Q2、V1a、V1b、V2a、V2b、V3a、V3b、V4a、V4b、W1‧‧‧接觸洞

L1a~L10a‧‧‧第一轉接線

L1b~L6b‧‧‧第二轉接線

N‧‧‧法線方向

P1~P3‧‧‧畫素單元

S1~S3‧‧‧源極

SL1~SL6‧‧‧掃描線

T1~T3‧‧‧主動元件

X‧‧‧第一方向

Y‧‧‧第二方向

圖1是依照本發明的一實施方式的陣列基板的上視示意圖。 圖2是圖1的局部放大示意圖。 圖3是沿圖1之剖線I-I’的剖面示意圖。 圖4是沿圖1之剖線II-II’的剖面示意圖。 圖5是依照本發明的另一實施方式的陣列基板的剖面示意圖。 圖6是依照本發明的另一實施方式的陣列基板的上視示意圖。 圖7是沿圖6之剖線I-I’、剖線II-II’的剖面示意圖。 圖8是依照本發明的另一實施方式的陣列基板的上視示意圖。 圖9是依照本發明的另一實施方式的陣列基板的上視示意圖。

Claims (10)

1. 一種陣列基板，包括： 一基板； 多條掃描線，配置於該基板上； 一絕緣層； 多條第一轉接線及多條第二轉接線，配置於該基板上，其中該絕緣層位於各該第一轉接線及各該第二轉接線之間，各該第一轉接線及各第二轉接線分別經由一第一連接結構及一第二連接結構電性連接至對應的掃描線； 多條資料線，配置於該基板上；以及 一第一畫素單元、一第二畫素單元及一第三畫素單元，位於該基板上，且分別電性連接至該些掃描線中的一者及該些資料線中的一者。
2. 如申請專利範圍第1項所述的陣列基板，其中於該基板的一法線方向上，該些第一轉接線之一者與該些第二轉接線之一者相重疊。
3. 如申請專利範圍第1項所述的陣列基板，其中該些第一轉接線與該些資料線屬於同一膜層，該些第一轉接線與該些第二轉接線屬於不同膜層。
4. 如申請專利範圍第1項所述的陣列基板，其中任兩相鄰的資料線之間設置有至少兩條第一轉接線。
5. 如申請專利範圍第1項所述的陣列基板，其中該第一畫素單元、該第二畫素單元及該第三畫素單元電性連接至不同的掃描線，以及電性連接至相同的資料線。
6. 如申請專利範圍第1項所述的陣列基板，其中該基板具有一顯示區以及一周邊區，該周邊區位於該顯示區的至少一側，該些第一連接結構與該些第二連接結構位於該顯示區內。
7. 如申請專利範圍第6項所述的陣列基板，其中，該些第一連接結構與該些第二連接結構不位於該周邊區內，各該第一連接結構與對應的第一轉接線接觸且與對應的掃描線接觸，各該第二連接結構與對應的第二轉接線接觸且與對應的掃描線接觸。
8. 如申請專利範圍第1項所述的陣列基板，其中該基板具有一顯示區以及一周邊區，該周邊區位於該顯示區的至少一側，該些第一連接結構位於該顯示區內，且該些第二連接結構位於該周邊區。
9. 如申請專利範圍第8項所述的陣列基板，其中各該第二連接結構包含一橋接線、一第一接觸洞以及一第二接觸洞，各該第二轉接線依序藉由該第一接觸洞、該橋接線以及該第二接觸洞電性連接於對應的第一轉接線。
10. 如申請專利範圍第1項所述的陣列基板，其中於該基板的一法線方向上，該些第一轉接線與該些第二轉接線不相重疊。