TWI656444B - Scope external reference detecting device, method and recording medium - Google Patents

Scope external reference detecting device, method and recording medium Download PDF

Info

Publication number
TWI656444B
TWI656444B TW105129741A TW105129741A TWI656444B TW I656444 B TWI656444 B TW I656444B TW 105129741 A TW105129741 A TW 105129741A TW 105129741 A TW105129741 A TW 105129741A TW I656444 B TWI656444 B TW I656444B
Authority
TW
Taiwan
Prior art keywords
mask value
base address
range
mask
segment
Prior art date
Application number
TW105129741A
Other languages
English (en)
Other versions
TW201729108A (zh
Inventor
樋口由利
Original Assignee
日電平臺股份有限公司
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 日電平臺股份有限公司 filed Critical 日電平臺股份有限公司
Publication of TW201729108A publication Critical patent/TW201729108A/zh
Application granted granted Critical
Publication of TWI656444B publication Critical patent/TWI656444B/zh

Links

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F12/00—Accessing, addressing or allocating within memory systems or architectures
    • G06F12/02—Addressing or allocation; Relocation
    • G06F12/06—Addressing a physical block of locations, e.g. base addressing, module addressing, memory dedication
    • G06F12/0646—Configuration or reconfiguration
    • G06F12/0684—Configuration or reconfiguration with feedback, e.g. presence or absence of unit detected by addressing, overflow detection
    • G—PHYSICS
    • G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F12/00—Accessing, addressing or allocating within memory systems or architectures
    • G06F12/02—Addressing or allocation; Relocation
    • G06F12/08—Addressing or allocation; Relocation in hierarchically structured memory systems, e.g. virtual memory systems
    • G—PHYSICS
    • G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F12/00—Accessing, addressing or allocating within memory systems or architectures
    • G06F12/14—Protection against unauthorised use of memory or access to memory
    • G06F12/1416—Protection against unauthorised use of memory or access to memory by checking the object accessibility, e.g. type of access defined by the memory independently of subject rights
    • G06F12/1425—Protection against unauthorised use of memory or access to memory by checking the object accessibility, e.g. type of access defined by the memory independently of subject rights the protection being physical, e.g. cell, word, block
    • G06F12/1441—Protection against unauthorised use of memory or access to memory by checking the object accessibility, e.g. type of access defined by the memory independently of subject rights the protection being physical, e.g. cell, word, block for a range
    • G—PHYSICS
    • G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F2212/00—Indexing scheme relating to accessing, addressing or allocation within memory systems or architectures
    • G06F2212/10—Providing a specific technical effect
    • G06F2212/1016—Performance improvement
    • G06F2212/1024—Latency reduction
    • G—PHYSICS
    • G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F2212/00—Indexing scheme relating to accessing, addressing or allocation within memory systems or architectures
    • G06F2212/15—Use in a specific computing environment
    • G06F2212/152—Virtualized environment, e.g. logically partitioned system
    • G—PHYSICS
    • G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F2212/00—Indexing scheme relating to accessing, addressing or allocation within memory systems or architectures
    • G06F2212/65—Details of virtual memory and virtual address translation
    • G06F2212/657—Virtual address space management

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Computer Security & Cryptography (AREA)
  • Debugging And Monitoring (AREA)
  • Memory System Of A Hierarchy Structure (AREA)
  • Storage Device Security (AREA)

Abstract

為了能夠快速進行範圍外參照判定，從將記憶有區段的基底位址之基底位址寄存器的基底位址寄存器編號、與顯示可從該基底位址連續參照之記憶體尺寸的罩幕值之間的對應關係予以記憶之罩幕值記憶部，取得特定的有效位址之與前述基底位址暫存器編號對應的前述罩幕值，判定前述有效位址是否超過前述罩幕值的範圍，輸出前述判定結果。

Description

範圍外參照檢測裝置、方法以及記錄媒體
本發明為有關一種檢測有效位址是否超過可參照的記憶體範圍之範圍外參照檢測裝置、方法以及記錄媒體。
在資訊處理裝置之記憶體管理方式之一，有分段方式。在分段方式中，利用可變長的區段單位管理虛擬位址空間上的程式。
在採用分段方式的資訊處理裝置中，在產生虛擬位址空間時，將具有區段的基底位址欄與區段尺寸欄之區段描述元保存在區段表。
圖10為區段表的例示。在基底位址欄中保存各區段之虛擬位址空間上的開始位址。又在區段尺寸欄中保存該區段的尺寸。
又，在基底位址指定方式或索引位址指定方式等、使用基底位址指定參照的虛擬位址之方法的情況，將基底位址寄存器編號與相對位址儲存在命令的操作部。接著，從該基底位址寄存器編號的基底位址寄存器取得基底位址，藉由將基底位址與相對位址相加，可以計算出有效位址。
另一方面，在執行的工序中，規定可參照的區段。在資訊處理裝置中，當作為欲參照的有效位址超過可參照 的區段之範圍時，判定為範圍外參照例外，進行對於範圍外參照例外的例外處理。
在檢測範圍外參照的方法中，例如專利文獻1記載的方法所示，檢索區段表取得與參照的區段對應之區段尺寸，判定有效位址的相對位址是否超過該區段尺寸之方法。
[先前技術文獻] [專利文獻]
【專利文獻1】日本特開昭60-114948號公報
但是，如專利文獻1的方法所示，為了從區段表取得與參照的區段對應之區段尺寸，首先，必須推算出參照的區段之區段編號。由於區段編號被包含在基底位址的一部分，因此可以藉由從與包含在命令的操作部之基底位址寄存器編號對應的基底位址寄存器讀出基底位址進行推算。接著，藉由將該區段編號作為關鍵字檢索區段表的基底位址欄，可以取得與參照的區段對應之區段尺寸。
如此一來，為了從區段表取得與參照的區段對應之區段尺寸，首先必須讀出基底位址寄存器後推算出區段編號，再來檢索區段表。為此，在區段尺寸的取得上會耗費時間。
再者，在檢索區段表的方法中，當區段表變複雜時，會造成在區段表的檢索耗費時間的情況。
在區段表為一個的情況下，如圖11所示，以基底位址寄存器的區段編號為關鍵字檢索區段表。相對於此，例 如，在多工序的情況下，由於在每個工序具有獨立的虛擬位址空間，如圖12所示，造成每個工序具有區段表的情況。在這樣的情況下，首先必須從工序編號選定該工序的區段表，之後再取得與區段編號對應之區段尺寸。
又，在區段數為多的情況下，如圖13所示，會有將區段編號的欄位分成幾個，將表構成為多段的情況。在這樣的構成之情況下，會發生必須檢索哪一段的區段表之情形。在圖13的例示中，將區段編號分成UPPER與LOWER 2個，而且每個UPPER具有區段表。在該例示中，首先必須選定與區段編號UPPER對應的區段表，之後，取得與區段編號的LOWER對應之區段尺寸。
如此一來，當使表變複雜時，由於區段表置放在記憶體乙事為多，會增加記憶體存取次數，使區段表的檢索更耗費時間。
本發明的目的為提供一種可快速進行範圍外參照判定之範圍外參照檢測裝置、方法以及記錄媒體。
為了解決上述問題，本發明之範圍外參照檢測裝置，其特徵為包括：取得手段，其從將記憶有區段的基底位址之基底位址寄存器的基底位址寄存器編號、與顯示可從該基底位址連續參照的記憶體尺寸之罩幕值之間的對應關係予以記憶之罩幕值記憶部，取得特定的有效位址之與前述基底位址寄存器編號對應的前述罩幕值；判定手段，其判定前述有效位址是否超過前述罩幕值的範圍；及輸出手段，其輸出前述判定的結果。
又，本發明之範圍外參照檢測方法，其特徵為；從將記憶有區段的基底位址之基底位址寄存器的基底位址寄存器編號、與顯示可從該基底位址連續參照的記憶體尺寸之罩幕值之間的對應關係予以記憶之罩幕值記憶部，取得特定的有效位址之與前述基底位址寄存器編號對應的前述罩幕值，判定前述有效位址是否超過前述罩幕值的範圍，輸出前述判定的結果。
又，本發明之記錄在電腦可讀取的記錄媒體之範圍外參照檢測程式，其特徵為在電腦上實現：取得機能，其從將記憶有區段的基底位址之基底位址寄存器的基底位址寄存器編號、與顯示可從該基底位址連續參照的記憶體尺寸之罩幕值之間的對應關係予以記憶之罩幕值記憶部，取得特定的有效位址之與前述基底位址寄存器編號對應的前述罩幕值；判定機能，其判定前述有效位址是否超過前述罩幕值的範圍；及輸出機能，其輸出前述判定的結果。
根據本發明之範圍外參照檢測裝置、方法以及記錄媒體，可以快速進行範圍外參照判定。
10、20、30‧‧‧範圍外參照檢測裝置
11‧‧‧取得部
12、32‧‧‧罩幕值記憶部
13、33‧‧‧判定部
14‧‧‧輸出部
25、35‧‧‧產生部
50‧‧‧資訊處理裝置
51‧‧‧通訊介面
52‧‧‧輸出/輸入介面
53‧‧‧運算裝置
54‧‧‧記憶裝置
55‧‧‧非揮發性記憶裝置
56‧‧‧驅動裝置
57‧‧‧記錄媒體
圖1為顯示本發明第一及第二實施形態之範圍外參照檢測裝置的構成例之圖面。
圖2為顯示本發明第一實施形態之範圍外參照檢測裝置的動作例之圖面。
圖3為顯示本發明各實施形態之罩幕值的例示之圖面。
圖4為顯示本發明各實施形態之從工序轉入到工序轉出的一連貫動作例之圖面。
圖5為顯示本發明第二及第三實施形態之有效位址計算的動作例之圖面。
圖6為顯示本發明第三實施形態之範圍外參照檢測裝置的構成例之圖面。
圖7為顯示本發明第四實施形態之範圍外參照檢測裝置的構成例之圖面。
圖8為顯示本發明第四實施形態之有效位址計算的動作例之圖面。
圖9為顯示本發明各實施形態之硬體構成例之圖面。
圖10為顯示區段表的例示之圖面。
圖11為顯示區段表檢索的例示之圖面。
圖12為顯示區段表檢索的例示之圖面。
圖13為顯示區段表檢索的例示之圖面。
[第一實施形態]
針對本發明第一實施形態進行說明。
在圖1顯示範圍外參照檢測裝置10的構成例。本實施形態之範圍外參照檢測裝置10利用取得部11、判定部13及輸出部14構成。
取得部11為從罩幕值記憶部12取得特定的有效位址之與基底位址寄存器編號對應的罩幕值之部分。罩幕值 記憶部12為將記憶有區段的基底位址之基底位址寄存器的基底位址寄存器編號、與顯示可從該基底位址連續參照的記憶體尺寸之罩幕值之間的對應關係予以記憶之部分。
判定部13為判定有效位址是否超過罩幕值的範圍之部分。輸出部14為輸出判定的結果之部分。
藉由如此構成範圍外參照檢測裝置10，範圍外參照檢測裝置10從罩幕值記憶部12取得罩幕值。因此，不必進行區段編號的取得或區段表的檢索，可以直接從罩幕值記憶部12，取得與包含在命令的操作部之基底位址寄存器編號對應之罩幕值。為此，可以快速進行範圍外參照判定。
其次，在圖2顯示本實施形態之範圍外參照檢測裝置10的動作例示。
首先，範圍外參照檢測裝置10的取得部11從罩幕值記憶部12取得特定的有效位址之與基底位址寄存器編號對應的罩幕值(步驟S101)。其次，判定部13判定有效位址是否超過罩幕值的範圍(步驟S102)。接著，輸出部14輸出判定的結果(步驟S103)。
藉由如此使範圍外參照檢測裝置10動作，範圍外參照檢測裝置10從罩幕值記憶部12取得罩幕值。因此，不必進行區段編號的取得或區段表的檢索，可以直接從罩幕值記憶部12，取得與包含在命令的操作部之基底位址寄存器編號對應之罩幕值。為此，可以快速進行範圍外參照判定。
如以上說明所示，在本發明第一實施形態中，從記憶有與基底位址寄存器編號對應的罩幕值之罩幕值記憶 部取得罩幕值。藉此，不必進行區段編號的取得或區段表的檢索，可以直接從罩幕值記憶部，取得與包含在命令的操作部之基底位址寄存器編號對應之罩幕值。為此，可以快速進行範圍外參照判定。
[第二實施形態]
其次，針對本發明第二實施形態進行說明。
在本實施形態中，針對預先在罩幕值記憶部12記憶正確的罩幕值之情況，進行具體說明。
範圍外參照檢測裝置10的構成例與第一實施形態(圖1)相同。
在本實施形態中，在罩幕值記憶部12預先記憶與各個基底位址寄存器編號對應的罩幕值。罩幕值記憶部12構成在範圍外參照檢測裝置10之中或之外皆可。例如，罩幕值記憶部12確保在主記憶記憶體上亦可，分配到寄存器亦可。基底位址寄存器為保存各個區段的基底位址(開始位址)之寄存器，基底位址寄存器編號為辨識基底位址寄存器的編號。又，罩幕值為可從基底位址連續參照的記憶體尺寸。該記憶體尺寸以構成為包含在可連續參照的範圍內之位址數為佳。
在無法跨過區段的界限進行參照之區段的情況，使該區段的罩幕值與區段尺寸相同。但是，根據區段也會有可與其他區段連續參照的情況。如專利文獻1記載的方法所示，在從區段表取得區段尺寸後判定範圍外參照的方法中，即使是可與其他區段連續參照的區段，在參照其他區段的部分之情況下也會被判定為範圍外參照。為此，在本實施形態中，將 可連續參照的區段之總計尺寸為罩幕值。如此一來，藉由將可連續參照的區段之總計尺寸為罩幕值，即使在參照可與其他區段連續參照的區段之情況下，也可以正確判定範圍外參照。
在圖3顯示記憶在罩幕值記憶部12之罩幕值的例示。在該例示中，與基底位址寄存器編號i(i=1~n)對應的罩幕值設定為Mi。又，在該例示中，由於與基底位址寄存器編號1對應之區段A為可與區段B連續參照，因此與基底位址寄存器編號1對應之罩幕值M1為區段A與區段B的區段尺寸之總計。
取得部11為從罩幕值記憶部12取得特定的有效址之與基底位址寄存器編號對應的罩幕值之部分。基底位址寄存器編號被包含在命令的操作部。在圖3例示的情況，取得與基底位址寄存器編號i(i=1~n)對應的罩幕值Mi。
判定部13為判定參照的有效位址是否為可參照的範圍外之部分。在罩幕值為Mi時，判定有效位址從基底位址起算是否位於罩幕值Mi的範圍內。
輸出部14為輸出判定的結果，即是否為範圍外參照之部分。
藉由如此構成範圍外參照檢測裝置10，範圍外參照檢測裝置10從罩幕值記憶部12取得罩幕值。因此，不必進行區段編號的取得或區段表的檢索，可以直接從罩幕值記憶部12，取得與包含在命令的操作部之基底位址寄存器編號對應之罩幕值。為此，可以快速進行範圍外參照判定。
再者，在本實施形態中，由於將罩幕值成為可從基底位址 連續參照之尺寸，因此即使是可與其他區段連續參照的區段，也可以正確判定範圍外參照。
其次，使用圖4與圖5，針對範圍外參照檢測裝置10的動作例進行說明。
圖4為顯示電腦執行工序情況下之從工序轉入到工序轉出之一連貫動作的流程圖。在本實施形態中，針對執行運算命令的情況進行說明。
圖5為顯示圖4的步驟S204之有效位址計算的詳細動作例示之圖面。本實施形態之範圍外參照檢測裝置10的動作相當於圖5的步驟S302至步驟S304。在範圍外參照檢測裝置10中，根據工序的命令，進行參照的有效位址是否超過可參照的範圍之判定。
當電腦開始工序的執行時，首先進行工序轉入處理(步驟S201)。其次，取出命令(步驟S202)、進行已取出的命令之解讀(步驟S203)。接著，依據已解讀的命令，計算有效位址(步驟S204)、參照與有效位址相當的主記憶記憶體，取得運算所必要的資料(步驟S205)。其次，依據已解讀的命令執行運算(步驟S206)、將該運算結果儲存在寄存器或主記憶記憶體(步驟S207)。接著，若有下個命令(步驟S208)，回到步驟S202，若沒有下個命令，進行工序轉出處理(步驟S209)，結束工序的執行。
其次，針對步驟S204之有效位址計算的詳細動作之例示，使用圖5進行說明。
首先，從包含在利用圖4的步驟S203所解讀之 命令的操作部之基底位址寄存器編號或索引寄存器編號、偏置值(相對位址)等計算出有效位址(步驟S301)。又，從罩幕值記憶部12取得與包含在命令的操作部之基底位址寄存器編號對應之罩幕值(步驟S302)。
其次，使用藉由步驟S302取得的罩幕值，判定藉由步驟S301計算的有效位址是否超過可參照的範圍(步驟S303)。更具體而言，由於會有一次參照多個有效位址的情況，因此判定利用這次的命令參照的有效位址之最大值是否包含在基底位址~(基底位址+罩幕值-1)的虛擬位址的範圍。或是，藉由判定利用這次的命令參照的有效位址之相對位址的最大值是否比(罩幕值-1)更大，也可以判定是否為範圍外參照。
例如，在基底位址為Ai、罩幕值為Mi的情況，判定參照的有效位址之最大值是否超過Ai+Mi-1、或是參照的有效位址之相對位址的最大值是否超過Mi-1。
接著，輸出部14輸出判定結果、即檢測是否為範圍外參照。在電腦之輸出部14顯示輸出的判定結果為範圍外參照時，進行對於範圍外參照例外的例外處理(步驟S306)。
藉由如此使範圍外參照檢測裝置10動作，範圍外參照檢測裝置10從罩幕值記憶部12取得罩幕值。因此，不必進行區段編號的取得或區段表的檢索，可以直接從罩幕值記憶部12，取得與包含在命令的操作部之基底位址寄存器編號對應之罩幕值。為此，可以快速進行範圍外參照判定。
如以上說明所示，在本發明第二實施形態中，與第一實施形態相同，從記憶有與基底位址寄存器編號對應的 罩幕值之罩幕值記憶部取得罩幕值。藉此，不必進行區段編號的取得或區段表的檢索，可以直接從罩幕值記憶部，取得與包含在命令的操作部之基底位址寄存器編號對應之罩幕值。為此，可以快速進行範圍外參照判定。
再者，在本實施形態中，由於將罩幕值成為可從基底位址連續參照的尺寸，因此即使是可與其他區段連續參照之區段，也可以正確判定範圍外參照。
[第三實施形態]
其次，針對本發明第三實施形態進行說明。
在本實施形態中，針對在範圍外參照檢測裝置包括產生罩幕值的構成之情況進行說明。
在圖6顯示本實施形態之範圍外參照檢測裝置20的構成例。在範圍外參照檢測裝置20中，對於範圍外參照檢測裝置10追加產生部25。
產生部25為產生與各個基底位址寄存器編號對應之罩幕值，並使其記憶在罩幕值記憶部12之部分。在產生部25中，從所謂可否與其他區段連續參照之工序的執行條件、或所謂區段尺寸為固定或可變之區段構成等，決定罩幕值。
針對其他部分，由於與第二實施形態的說明相同，因此省略說明。
藉由如此構成範圍外參照檢測裝置20，範圍外參照檢測裝置20使與基底位址寄存器編號對應的罩幕值記憶在罩幕值記憶部12。因此，不必進行區段編號的取得或區段表的檢索，可以直接從罩幕值記憶部12，取得與包含在命令的操 作部之基底位址寄存器編號對應之罩幕值。為此，可以快速進行範圍外參照判定。
針對範圍外參照檢測裝置20的動作例，除了針對罩幕值的產生以外，其他與第二實施形態之範圍外參照檢測裝置10的動作例之說明(圖4及圖5)相同。針對罩幕值的產生，由於儘可能縮短罩幕值產生所耗費的時間，因此將對於各基底位址寄存器編號之罩幕值的產生為一次以下者為佳。例如，當在圖4的步驟S201之工序轉入處理後進行罩幕值的產生時，可以將對於各基底位址寄存器編號之罩幕值的產生成為一次。
藉由如此使範圍外參照檢測裝置20動作，可以快速進行範圍外參照判定。
如以上說明所示，在本發明第三實施形態中，使與基底位址寄存器編號對應的罩幕值記憶在罩幕值記憶部。藉此，不必進行區段編號的取得或區段表的檢索，可以直接從罩幕值記憶部，取得與包含在命令的操作部之基底位址寄存器編號對應之罩幕值。為此，可以快速進行範圍外參照判定。
[第四實施形態]
其次，針對本發明第四實施形態進行說明。
在本實施形態中，針對使第三實施形態之罩幕值產生更有效率化，只在必要時產生罩幕值的情況進行說明。
在圖7顯示本實施形態之範圍外參照檢測裝置30的構成例。範圍外參照檢測裝置30藉由取得部11、罩幕值記憶部32、判定部33、產生部35及輸出部14予以構成。針 對取得部11及輸出部14，與第二及第三實施形態之範圍外參照檢測裝置10及範圍外參照檢測裝置20相同。
在罩幕值記憶部32中，在工序的開始時，預先記憶對於各個基底位址寄存器編號之罩幕值的初始值。在初始值中，例如指定各區段之未滿最小尺寸之值。當如此一來，由於正確的罩幕值只能是區段的最小尺寸以上之值，因此能夠易於判斷罩幕值為初始值。之後，以罩幕值的初始值為0作為前提進行說明。
取得部11為從罩幕值記憶部32取得與包含在命令的操作部之基底位址寄存器編號對應的罩幕值之部分。
判定部33為使用藉由取得部11取得的罩幕值，判定有效位址是否位於可參照的範圍內之部分。再者，在本實施形態中，在產生部35產生新的罩幕值時，使用新的罩幕值進行有效位址是否位於可參照的範圍內之第2次判定。
產生部35為在藉由判定部33之判定結果為範圍外參照、且罩幕值為初始值時，產生新的罩幕值之部分。在產生部35中，從所謂可否與其他區段連續參照之工序的執行條件、或所謂區段尺寸為固定或可變之區段的構成等，決定罩幕值。
藉由如此構成範圍外參照檢測裝置30，範圍外參照檢測裝置30使與基底位址寄存器編號對應之罩幕值記憶在罩幕值記憶部32。因此，不必進行區段編號的取得或區段表的檢索，可以直接從罩幕值記憶部，取得與包含在命令的操作部之基底位址寄存器編號對應之罩幕值。為此，可以快速進行 範圍外參照判定。
再者，在本實施形態中，只有在判定為範圍外參照、且罩幕值為初始值時，產生新的罩幕值。為此，只對於必要的基底位址寄存器編號產生罩幕值，可以更快速產生罩幕值。
圖8為顯示圖4之步驟S204的有效位址計算詳細動作之例示的圖面。本實施形態之範圍外參照檢測裝置30的動作相當於圖8之步驟S402至步驟S408。
首先，在圖4之步驟S201的工序轉入處理後等，使罩幕值的初始值記憶在罩幕值記憶部32。在本實施形態中，將對於所有基底位址寄存器編號之罩幕值為0。
接著，在步驟S204的有效位址計算中，首先，從包含在藉由圖4的步驟S203解讀的命令之基底位址寄存器編號或索引寄存器編號等，計算出有效位址(步驟S401)。又，從罩幕值記憶部32取得與包含在命令的操作部之基底位址寄存器編號i對應的罩幕值Mi(步驟S402)。
其次，使用藉由步驟S402取得的罩幕值，判定藉由步驟S401計算出的有效位址是否包含在參照範圍內(步驟S403)。到目前為止與圖5的步驟S301至步驟S303的動作相同。
在本實施形態中，在步驟S403的判定結果為範圍外參照(步驟S404之YES)、且罩幕值為初始值時(步驟S405之YES)，進行正確的罩幕值產生(步驟S406)。在產生部35中，從工序的執行條件或區段的構成決定罩幕值，並使其記憶在罩幕值記憶部32。接著，判定部33使用產生部35產生的罩幕值，判定有效位址是否為可參照的範圍內(步驟S407)。
在本實施形態中，將罩幕值Mi的初始值為0。為此，在使用於有效位址計算之基底位址寄存器編號為工序轉入後初次使用的基底位址寄存器編號的情況，步驟S404必定為YES。接著，將重新產生的罩幕值記憶在罩幕值記憶部32。
其中，藉由將重新產生的罩幕值記憶在罩幕值記憶部32，除非基底位址寄存器之值有所變更，否則在使用相同的基底位址寄存器判定範圍外參照的情況下可以使用該重新產生的罩幕值。
在使用於有效位址計算之基底位址寄存器編號為工序轉入後使用過一次以上之基底位址寄存器編號的情況，由於罩幕值變成重新產生的罩幕值，因此利用步驟S403進行正確的範圍外參照判定。為此，即使在步驟S404判定為範圍外參照，由於在步驟S405罩幕值為非初始值，因此也不會進行步驟S406之罩幕值產生。
輸出部14在步驟S404判定為非範圍外參照時、或是在步驟S405罩幕值為非初始值時，輸出步驟S403的判定結果。在步驟S405罩幕值為初始值時，輸出步驟S407的判定結果(步驟S408)。電腦之輸出部14在顯示輸出的判定結果為範圍外參照時(步驟S409)，進行對於範圍外參照例外之例外處理(步驟S410)。
藉由如此使範圍外參照檢測裝置30動作，範圍外參照檢測裝置30使與基底位址寄存器編號對應的罩幕值記憶在罩幕值記憶部32。因此，不必進行區段編號的取得或區段表的檢索，可以直接從罩幕值記憶部，取得與包含在命令的操 作部之基底位址寄存器編號對應之罩幕值。為此，可以快速進行範圍外參照判定。
又，在以上的說明中雖然是將罩幕值的初始值為0，但是從與各基底位址寄存器編號的基底位址對應之區段的區段尺寸減去特定值(例如1)後之值作為罩幕值的初始值亦可。當如此一來，除了在有效位址靠近與其他區段的界限之情況以外，由於在圖8的步驟S404中判定非範圍外參照(NO)，因此可進一步減少罩幕值的產生次數。
其中，當將初始值成為各區段的區段尺寸時，由於在沒有可連續參照的其他區段時之正確的罩幕值與初始值為相同值，因此在步驟S405中難以判斷罩幕值是否為初始值。為此，將從區段尺寸減去特定值後之值作為初始值為佳。
如以上的說明所示，在本發明第四實施形態中，與第三實施形態相同，使與基底位址寄存器編號對應的罩幕值記憶在罩幕值記憶部。藉此，不必進行區段編號的取得或區段表的檢索，可以直接從罩幕值記憶部，取得與包含在命令的操作部之基底位址寄存器編號對應之罩幕值。為此，可以快速進行範圍外參照判定。
再者，在本實施形態中，只有在判定為範圍外參照、且罩幕值為初始值時才會產生罩幕值。為此，只有在對於必要的基底位址寄存器編號產生罩幕值，可以更快速產生罩幕值。
又，在以上說明的各實施形態中，雖然是以資訊處理裝置且採用分段方式的情況為前提進行說明，但是即使是採用頁式分段方式之資訊處理裝置也可以實施上述各實施形態。
[硬體構成例]
針對使用一個資訊處理裝置(電腦)實現上述之本發明各實施形態中的範圍外參照檢測裝置(10、20、30)之硬體資源的構成例進行說明。又，範圍外參照檢測裝置以物理性或機能性使用至少二個資訊處理裝置予以實現亦可。又，將範圍外參照檢測裝置作為專用的裝置予以實現亦可。又，僅將範圍外參照檢測裝置的一部分機能使用資訊處理裝置予以實現亦可。
圖9為概略顯示可實現本發明各實施形態的範圍外參照檢測裝置之資訊處理裝置的硬體構成例之圖面。資訊處理裝置50包括：通訊介面51、輸出/輸入介面52、運算裝置53、記憶裝置54及非揮發性記憶裝置55、以及驅動裝置56。
通訊介面51為各實施形態的範圍外參照檢測裝置利用有線或無線與外部裝置進行通訊所用之通訊手段。又，在範圍外參照檢測裝置使用至少二個資訊處理裝置予以實現的情況，在該等裝置之間經由通訊介面51使其等可相互通訊的方式予以連接亦可。
輸出/輸入介面52為輸入裝置的一例之鍵盤、或是作為輸出裝置之顯示器等之人機介面。
運算裝置53為通用的CPU(Central Processing Unit；中央處理單元)或微處理器等運算處理裝置。運算裝置53例如可以在記憶裝置54讀出記憶在非揮發性記憶裝置55的各種程式，依據已讀出的程式執行處理。
記憶裝置54為可從運算裝置53參照之 RAM(Random Access Memory；隨機存取記憶體)等記憶體裝置，記憶程式或各種資料等。記憶裝置54為揮發性記憶體裝置亦可。
非揮發性記憶裝置55例如是ROM(Read Only Memory；唯讀記憶體)、快閃記憶體等非揮發性的記憶裝置，可以記錄各種程式或資料等。
驅動裝置56例如是進行對於後述的記錄媒體57之資料讀入或寫入處理之裝置。
記錄媒體57例如是光碟、光磁碟、半導體快閃記憶體等可記錄資料的任意記錄媒體。
本發明各實施形態例如是利用圖9例示之資訊處理裝置50構成範圍外參照檢測裝置，藉由對於該範圍外參照檢測裝置，提供可實現在上述各實施形態中說明的機能之程式予以實現亦可。
在該情況下，藉由將對於範圍外參照檢測裝置提供的程式在運算裝置53予以執行，可以實現實施形態。又，並非是範圍外參照檢測裝置的所有機能，而是利用資訊處理裝置50構成一部分的機能亦可。
再者，構成為先將上述程式記錄在記錄媒體57，在範圍外參照檢測裝置的出貨階段、或是運用階段等，適當地將上述程式儲存到非揮發性記憶裝置55亦可。又，在該情況，上述程式的供給方法為採用在出貨前的製造階段、或是運用階段等，利用適當的治具安裝到範圍外參照檢測裝置內之方法亦可。又，在上述程式的供給方法採用透過網路等的通訊 電路從外部下載之方法等一般的順序亦可。
上述的實施形態之一部分或全部雖然如下述附記所記載，但是不限於以下。
(附記1)
一種範圍外參照檢測裝置，其特徵為包括：取得手段，其從將記憶有區段的基底位址之基底位址寄存器的基底位址寄存器編號、與顯示可從該基底位址連續參照的記憶體尺寸之罩幕值之間的對應關係予以記憶之罩幕值記憶部，取得特定的有效位址之與前述基底位址寄存器編號對應的前述罩幕值；判定手段，其判定前述有效位址是否超過前述罩幕值的範圍；及輸出手段，其輸出前述判定的結果。
(附記2)
如附記1所記載之範圍外參照檢測裝置，其中，前述罩幕值在與該罩幕值對應之前述基底位址的前述區段為可與其他前述區段連續參照的情況，為前述其他區段與該區段之總計區段尺寸。
(附記3)
如附記1或附記2所記載之範圍外參照檢測裝置，其中，包括：產生手段，其產生前述罩幕值並使其記憶到前述罩幕值記憶部。
(附記4)
如附記3所記載之範圍外參照檢測裝置，其中， 在前述有效位址超過前述罩幕值的前述範圍，且前述罩幕值為初始值的情況，前述產生手段產生新的前述罩幕值，前述判定手段進一步判定前述有效位址是否超過新前述罩幕值的前述範圍，前述輸出手段輸出使用新前述罩幕值之前述判定的前述結果。
(附記5)
如附記4所記載之範圍外參照檢測裝置，其中，前述罩幕值的前述初始值為低於前述區段的最小尺寸之值。
(附記6)
如附記4所記載之範圍外參照檢測裝置，其中，前述罩幕值的前述初始值只為比各個前述區段的區段尺寸小特定值之值。
(附記7)
一種範圍外參照檢測方法，其特徵為：從將記憶有區段的基底位址之基底位址寄存器的基底位址寄存器編號、與顯示可從該基底位址連續參照的記憶體尺寸之罩幕值之間的對應關係予以記憶之罩幕值記憶部，取得特定的有效位址之與前述基底位址寄存器編號對應的前述罩幕值，判定前述有效位址是否超過前述罩幕值的範圍，輸出前述判定的結果。
(附記8)
如附記7所記載之範圍外參照檢測方法，其中，前述罩幕值在與該罩幕值對應之前述基底位址的前述區段為可與其他前述區段連續參照的情況，為前述其他區段與該區段之總計區段尺寸。
(附記9)
如附記7或附記8所記載之範圍外參照檢測方法，其中，產生前述罩幕值並使其記憶到前述罩幕值記憶部。
(附記10)
如附記9所記載之範圍外參照檢測方法，其中，在前述有效位址超過前述罩幕值的前述範圍，且前述罩幕值為初始值的情況，產生新的前述罩幕值，判定前述有效位址是否超過新前述罩幕值的前述範圍，輸出使用新前述罩幕值之前述判定的前述結果。
(附記11)
如附記10所記載之範圍外參照檢測方法，其中，前述罩幕值的前述初始值為低於前述區段的最小尺寸之值。
(附記12)
如附記10所記載之範圍外參照檢測方法，其中，前述罩幕值的前述初始值為只比各個前述區段的區段尺寸小特定值之值。
(附記13)
一種範圍外參照檢測程式，其特徵為在電腦實現： 取得機能，其從將記憶有區段的基底位址之基底位址寄存器的基底位址寄存器編號、與顯示可從該基底位址連續參照的記憶體尺寸之罩幕值之間的對應關係予以記憶之罩幕值記憶部，取得特定的有效位址之與前述基底位址寄存器編號對應的前述罩幕值；判定機能，其判定前述有效位址是否超過前述罩幕值的範圍；及輸出機能，其輸出前述判定的結果。
(附記14)
如附記13所記載之範圍外參照檢測程式，其中，前述罩幕值在與該罩幕值對應之前述基底位址的前述區段為可與其他前述區段連續參照的情況，為前述其他區段與該區段之總計區段尺寸。
(附記15)
如附記13或附記14所記載之範圍外參照檢測程式，其中，在電腦實現：產生機能，其產生前述罩幕值並使其記憶到前述罩幕值記憶部。
(附記16)
如附記15所記載之範圍外參照檢測程式，其中，在前述有效位址超過前述罩幕值的前述範圍，且前述罩幕值為初始值的情況，前述產生機能產生新的前述罩幕值，前述判定機能進一步判定前述有效位址是否超過新前述罩幕值的前述範圍， 前述輸出機能輸出使用新前述罩幕值之前述判定的前述結果。
(附記17)
如附記16所記載之範圍外參照檢測程式，其中，前述罩幕值的前述初始值為低於前述區段的最小尺寸之值。
(附記18)
如附記16所記載之範圍外參照檢測程式，其中，前述罩幕值的前述初始值為只比各個前述區段的區段尺寸小特定值之值。
(附記19)
一種記錄媒體，其為電腦可讀取之記錄有附記13至附記18之任一項所記載之範圍外參照檢測程式之記錄媒體。
以上，將上述的實施形態作為模範例示說明本發明。但是，本發明並非限定於上述實施形態。即，本發明在本發明的範圍內能夠適用同業者可以理解的各種樣態。
本申請案主張以2015年11月13日申請之日本特願2015-232209為基礎之優先權，將其所有揭露都編入於本發明。

Claims (10)

  1. 一種範圍外參照檢測裝置，其特徵為包括：取得手段，其從將記憶有區段的基底位址之基底位址寄存器的基底位址寄存器編號、與顯示可從該基底位址連續參照的記憶體尺寸之罩幕值之間的對應關係予以記憶之罩幕值記憶部，取得特定的有效位址之與前述基底位址寄存器編號對應的前述罩幕值；判定手段，其判定前述有效位址是否超過前述罩幕值的範圍；及輸出手段，其輸出前述判定的結果。
  2. 如申請專利範圍第1項之範圍外參照檢測裝置，其中，前述罩幕值在與該罩幕值對應之前述基底位址的前述區段為可與其他前述區段連續參照的情況，為前述其他區段與該區段之總計區段尺寸。
  3. 如申請專利範圍第1或2項之範圍外參照檢測裝置，其中，包括：產生手段，其產生前述罩幕值並使其記憶到前述罩幕值記憶部。
  4. 如申請專利範圍第3項之範圍外參照檢測裝置，其中，在前述有效位址超過前述罩幕值的前述範圍，且前述罩幕值為初始值的情況，前述產生手段產生新的前述罩幕值，前述判定手段進一步判定前述有效位址是否超過新前述罩幕值的前述範圍，前述輸出手段輸出使用新前述罩幕值之前述判定的前述結 果。
  5. 如申請專利範圍第4項之範圍外參照檢測裝置，其中，前述罩幕值的前述初始值為低於前述區段的最小尺寸之值。
  6. 如申請專利範圍第4項之範圍外參照檢測裝置，其中，前述罩幕值的前述初始值為只比各個前述區段的區段尺寸小特定值之值。
  7. 一種範圍外參照檢測方法，其特徵為：從將記憶有區段的基底位址之基底位址寄存器的基底位址寄存器編號、與顯示可從該基底位址連續參照的記憶體尺寸之罩幕值之間的對應關係予以記憶之罩幕值記憶部，取得特定的有效位址之與前述基底位址寄存器編號對應的前述罩幕值，判定前述有效位址是否超過前述罩幕值的範圍，輸出前述判定的結果。
  8. 如申請專利範圍第7項之範圍外參照檢測方法，其中，前述罩幕值在與該罩幕值對應之前述基底位址的前述區段為可與其他前述區段連續參照的情況，為前述其他區段與該區段之總計區段尺寸。
  9. 如申請專利範圍第7或8項之範圍外參照檢測方法，其中，在前述有效位址超過前述罩幕值的前述範圍，且前述罩幕值為初始值的情況，產生新的前述罩幕值並使其記憶到罩幕值記憶部，判定前述有效位址是否超過新前述罩幕值的前述範圍，輸出使用新前述罩幕值之前述判定的前述結果。
  10. 一種記錄媒體，其為電腦可讀取之記錄有範圍外參照檢測程式的記錄媒體，該範圍外參照檢測程式，其特徵為在電腦實現：取得機能，其從將記憶有區段的基底位址之基底位址寄存器的基底位址寄存器編號、與顯示可從該基底位址連續參照的記憶體尺寸之罩幕值之間的對應關係予以記憶之罩幕值記憶部，取得特定的有效位址之與前述基底位址寄存器編號對應的前述罩幕值；判定機能，其判定前述有效位址是否超過前述罩幕值的範圍；及輸出機能，其輸出前述判定的結果。
TW105129741A 2015-11-13 2016-09-13 Scope external reference detecting device, method and recording medium TWI656444B (zh)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2015223209A JP6525267B2 (ja) 2015-11-13 2015-11-13 範囲外参照検出装置、方法およびプログラム
JP2015-223209 2015-11-13

Publications (2)

Publication Number Publication Date
TW201729108A TW201729108A (zh) 2017-08-16
TWI656444B true TWI656444B (zh) 2019-04-11

Family

ID=58690105

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
TW105129741A TWI656444B (zh) 2015-11-13 2016-09-13 Scope external reference detecting device, method and recording medium

Country Status (3)

Country Link
US (1) US10078586B2 (zh)
JP (1) JP6525267B2 (zh)
TW (1) TWI656444B (zh)

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
TWI220032B (en) * 1999-06-01 2004-08-01 Ibm Data processing system and method for performing address translation
TW200627271A (en) * 2004-10-01 2006-08-01 Advanced Micro Devices Inc Sharing monitored cache lines across multiple cores
TWI502348B (zh) * 2014-05-02 2015-10-01 Via Tech Inc 延伸唯讀記憶體管理系統、方法及其管理主機

Family Cites Families (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS60114948A (ja) 1983-11-25 1985-06-21 Nec Corp 例外検出装置
GB2484927A (en) * 2010-10-26 2012-05-02 Advanced Risc Mach Ltd Provision of access control data within a data processing system
US9286235B2 (en) * 2012-06-29 2016-03-15 Intel Corporation Virtual memory address range register

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
TWI220032B (en) * 1999-06-01 2004-08-01 Ibm Data processing system and method for performing address translation
TW200627271A (en) * 2004-10-01 2006-08-01 Advanced Micro Devices Inc Sharing monitored cache lines across multiple cores
TWI366132B (en) * 2004-10-01 2012-06-11 Advanced Micro Devices Inc System and method for monitoring an address range and processor core comprising a monitoring unit
TWI502348B (zh) * 2014-05-02 2015-10-01 Via Tech Inc 延伸唯讀記憶體管理系統、方法及其管理主機

Also Published As

Publication number Publication date
TW201729108A (zh) 2017-08-16
JP6525267B2 (ja) 2019-06-05
US10078586B2 (en) 2018-09-18
US20170139828A1 (en) 2017-05-18
JP2017091374A (ja) 2017-05-25

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP6804668B2 (ja) ブロックデータ検証方法および装置
JP6198939B2 (ja) ドライバをロードする方法及び組み込みデバイス
EP3547168A1 (en) Block chain based data processing method and device
JP4902547B2 (ja) フラッシュメモリのデータ処理装置及び方法
JP5832954B2 (ja) タグ付与装置及びタグ付与方法
JP2018537800A (ja) メモリアクセスコマンドの転送記述子
US20140195794A1 (en) Electronic device with baseboard management controller updating system
TWI502345B (zh) 快閃記憶體控制晶片以及資料儲存裝置以及快閃記憶體控制方法
JP2015001909A (ja) 情報処理装置、制御回路、制御プログラム、および制御方法
US20230334094A1 (en) Graph data processing method, apparatus, and device, and medium
US10353816B2 (en) Page cache in a non-volatile memory
TWI656444B (zh) Scope external reference detecting device, method and recording medium
JPWO2009028106A1 (ja) 情報処理装置
JP2018536230A (ja) キャッシュへのアクセス
JPWO2012108020A1 (ja) ログ記録装置
CN113436668B (zh) 一种多内存芯片的产品信息辨别方法及装置
JP2009157441A (ja) 情報処理装置、ファイル再配置方法およびプログラム
GB2544356B (en) Mobile device and monitoring method adaptable to mobile device
JP6974772B2 (ja) 仕様記述プログラム及び仕様記述方法
JP6132010B2 (ja) 制御装置、制御プログラム、および制御方法
US10983892B2 (en) Method and system for estimating efficiency of machine vision
US20210132564A1 (en) Control device for industrial machine, setting system for control device for industrial machine, method of setting control device for industrial machine, and information storage medium
JP2018181196A (ja) 情報処理装置、プログラム、情報処理方法及びデータ構造
JP5440024B2 (ja) 記録装置、記録方法、及び記録プログラム
JP5807693B2 (ja) メモリコントローラ、メモリシステム及びアドレス変換方法