TWI654903B - 發光二極體的驅動裝置及其驅動方法 - Google Patents
發光二極體的驅動裝置及其驅動方法Info
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Abstract
一種驅動裝置及其驅動方法。驅動裝置包括至少一個驅
動信號產生器,分別耦接至至少一個發光二極體串,產生至少一個驅動信號以分別驅動發光二極體串。至少一個檢測裝置,耦接各發光二極體串的檢測端點,並分別耦接該些驅動信號產生器,並且使對應的發光二極體串的檢測電壓與其餘的多個發光二極體串的檢測端點上的檢測電壓進行比較。各驅動信號產生器依據對應的各檢測裝置產生的檢測結果以決定是否產生各驅動信號。
Description
本發明是有關於一種驅動裝置,且特別是有關於一種可以在多組發光二極體串中,當偵測出至少一組發光二極體串發生損壞時,以使對應的驅動信號產生器停止產生驅動信號至該發光二極體串的驅動裝置及其方法。
隨著半導體技術的進步,傳統的照明設備皆已逐漸由發光二極體(light emitting diode,LED)所替代並藉以產生照明光源。其中,發光二極體具有省電、使用壽命長、體積小以及高可靠度等優點,成為兼具省電以及環保的照明裝置。
一般來說,發光二極體串容易在工廠加工或組裝時,受到組裝環境等因素影響,使得發光二極體串發生靜電放電(Electrostatic Discharge,ESD)或是電超載(Electrical Over Stress,EOS)的問題,以致於在出貨前已有部份發光二極體串受到損壞。然而,當上述的情況發生且多組發光二極體已組裝至照明設備中時,工作人員較難以針對該些發光二極體來逐一的進行檢測,不
僅耗費時間更嚴重影響後續的生產進度。因此,如何有效地檢測出發生故障的發光二極體,以利後續進行維修或更換,將是本領域相關技術人員的課題。
本發明提供一種可以在多組發光二極體串中,當偵測出至少一個發光二極體串發生損壞時,以使對應的驅動信號產生器停止產生驅動信號至該發光二極體串的驅動裝置及其方法。
本發明的驅動裝置,包括至少一個驅動信號產生器,分別耦接至至少一個發光二極體串,分別產生至少一個驅動信號以分別驅動該些發光二極體串。至少一個檢測裝置,耦接各發光二極體串的檢測端點,並分別耦接該些驅動信號產生器,各檢測裝置使對應的第一發光二極體串的檢測端點上的第一檢測電壓與其餘的多個第二發光二極體串的檢測端點上的多個第二檢測電壓進行比較以產生檢測結果。其中,各驅動信號產生器依據對應的各檢測裝置產生的檢測結果以決定是否停止產生各驅動信號。
在本發明的驅動方法,適於驅動至少一個發光二極體串,包括:分別產生至少一個驅動信號,以分別驅動該些發光二極體串,並在該些發光二極體串的多個檢測端點產生多個檢測電壓;使該些檢測電壓中的第一檢測電壓與該些檢測電壓中其餘的多個第二檢測電壓相比較,以產生對應第一檢測電壓的發光二極體串的檢測結果;依據對應第一檢測電壓的檢測結果來決定是否停止產生對應的發光二極體串的驅動信號。
基於上述,針對在驅動裝置中,當驅動信號產生器傳輸驅動信號至一個或多個發光二極體串時,容易受到組裝環境等因素影響,導致該些發光二極體串發生損壞。然而,當上述的情況發生時,本發明可以利用一個或多個檢測裝置來對該些發光二極體串進行檢測,並同時產生出各別的檢測電壓。除此之外,所述檢測裝置將會進一步的針對受檢測的發光二極體串的檢測電壓與其餘的發光二極體串的檢測電壓以進行比較,並產生出一檢測結果。如此一來,可以利用所述驅動信號產生器依據所述檢測結果以判斷出是否停止傳輸驅動信號至發生損壞的發光二極體串中。
為讓本發明的上述特徵和優點能更明顯易懂,下文特舉實施例,並配合所附圖式作詳細說明如下。
100、400‧‧‧驅動裝置
110-11N、200、411-413‧‧‧檢測裝置
120-12N、421-423、610-660‧‧‧驅動信號產生器
130-13N、431-433、601-606‧‧‧發光二極體串
210、220、300‧‧‧電壓減法器
230‧‧‧運算電路
310‧‧‧運算放大器
320-350、R1-R3‧‧‧電阻
441-443、510‧‧‧電壓隨耦器
451-453、520‧‧‧電流產生電路
710、720‧‧‧曲線
V1-VN‧‧‧檢測電壓
V2a、V2b、Vo‧‧‧輸出信號
V1o-V3o‧‧‧檢測結果
VLED‧‧‧電源電壓
Vref‧‧‧參考電壓
V1’-V3’‧‧‧偏壓電壓
M1-M3‧‧‧功率放大器
SW1-SW3、500‧‧‧開關電路
SW4‧‧‧第一開關
SW5‧‧‧第二開關
GND‧‧‧參考接地端
AGND‧‧‧參考接地電壓
S610-S630‧‧‧驅動裝置的驅動步驟
圖1是依照本發明一實施例說明一種驅動裝置的示意圖。
圖2A是依照本發明一實施例說明圖1的檢測裝置的示意圖。
圖2B是依照本發明一實施例說明圖2A的電壓減法器的電路示意圖。
圖3是依照本發明另一實施例說明一種驅動裝置的示意圖。
圖4是依照本發明另一實施例說明圖3的開關電路的示意圖。
圖5是依照本發明一實施例說明一種發光二極體串的電流-電壓曲線圖。
圖6是依照本發明一實施例說明一種驅動裝置的驅動方法的流程圖。
請參照圖1,圖1是依照本發明一實施例說明一種驅動裝置的示意圖。驅動裝置100包括檢測裝置110-11N、驅動信號產生器120-12N。其中,驅動裝置100可以分別耦接至發光二極體串130-13N。在本實施例中,驅動信號產生器120-12N可以分別耦接至發光二極體串130-13N,藉以分別產生多個驅動信號以分別驅動發光二極體串130-13N,使得發光二極體串130-13N可以被點亮。另一方面,檢測裝置110-11N可以分別耦接於發光二極體串130-13N的檢測端點以及驅動信號產生器120-12N之間,藉以檢測發光二極體串130-13N的操作狀況以產生一檢測結果,並且將檢測結果傳送至驅動信號產生器120-12N。其中,在發光二極體串130-13N的檢測點上,分別具有檢測電壓V1-VN,檢測裝置110-11N可以分別依據檢測電壓V1-VN以進一步判斷發光二極體串130-13N是否發生異常狀態。值得一提的是,本實施例中的檢測裝置110-11N、驅動信號產生器120-12N以及發光二極體串130-13N,可以是一個或多個,在此並不限制其數量,其中,N為正整數。
以下敘述將以發光二極體串131作為範例進行說明。在圖1中,驅動裝置100中,檢測裝置111透過使發光二極體串131
的檢測點上的檢測電壓V2與其他的發光二極體串130、13N的檢測點上的檢測電壓進行比較,藉以產生一檢測結果。並且,驅動信號產生器121可以依據對應的檢測裝置111所產生的檢測結果,來決定是否停止產生驅動信號。換句話說,驅動信號產生器121依據檢測裝置111所產生的檢測結果,來判斷發光二極體串131是否發生異常狀態,若受測的發光二極體串131發生異常狀態,則停止驅動發光二極體串131,並使發光二極體串131被熄滅,相反地,若受測的發光二極體串131未發生異常狀態,則使發光二極體串131持續被點亮。
檢測裝置111是透過使所有的其他發光二極體串130、13N的檢測點上的檢測電壓(V1、VN),來與受測的發光二極體串131的檢測點上的檢測電壓V2相減來進行比較,並藉以獲得檢測結果。其中,若檢測電壓V1、VN與檢測電壓V2相減所獲得的電壓差值均沒有大於預設臨界值,可以代表發光二極體串131未發生異常狀態。相對的,若檢測電壓V1、VN的至少其中之一,與檢測電壓V2相減所獲得的差值大於預設臨界值時,則表示發光二極體串131發生異常狀態。
此外,檢測裝置111可檢測其他串的發光二極體串130、13N的檢測點上的檢測電壓V1、VN與檢測電壓V2相減的電壓差值有無大於預設臨界值來產生多個邏輯值,並將這些邏輯值進行或運算來產生檢測結果。也就是說,當有一個檢測電壓與檢測電壓V2相減的電壓差值大於預設臨界值時,檢測裝置111就可產生
指示發光二極體串131發生異常的檢測結果。
請參照圖2A,圖2A是依照本發明一實施例說明圖1的檢測裝置的示意圖。檢測裝置200包括電壓減法器210、220以及運算電路230。其中,電壓減法器210、220的輸入端可以分別接收來自發光二極體串130-13N上的檢測電壓V1-VN,並用於計算檢測電壓V1-VN之間的電壓差值,且依據所述電壓差值是否大於一預設臨界值來分別產生一輸出信號。另一方面,運算電路230的輸入端可以分別耦接至電壓減法器210、220,以分別接收輸出信號,並且依據所述輸出信號來進行或邏輯運算,以產生對應的檢測結果。
在本實施例中,電壓減法器210、220可以是本發明圖2B中的電壓減法器300的電路,或也可以是本領域所屬相關技術人員所熟知的減法器電路,而關於圖2B中的電壓減法器300的詳細操作方法將於後續進行說明。
在另一方面,運算電路230可以例如是或閘(OR Gate)或是任意類型的一個或多個邏輯閘所產生的組合式邏輯電路,但不限於此。值得注意的是,圖2A中的檢測裝置200可以用以實施圖1中的驅動信號產生器120-12N中的任一。請注意,以下敘述同樣是以發光二極體串131作為範例進行說明。
關於驅動裝置100的工作細節,請同時參照圖1以及圖2A。電壓減法器210可以接收來自發光二極體串130、131上的檢測電壓V1、V2,其中,檢測裝置200可以透過電壓減法器210將
檢測電壓V1減去受測的檢測電壓V2,以產生輸出信號V2a。另一方面,電壓減法器220可以接收來自發光二極體串131、13N上的檢測電壓V2、VN,其中,檢測裝置200可以透過電壓減法器220將檢測電壓VN減去受測的檢測電壓V2,以產生輸出信號V2b。值得注意的是,運算電路230的輸入端可以分別接收輸出信號V2a、V2b,並且依據輸出信號V2a、V2b來判斷受測的發光二極體串131是否發生異常,以輸出對應的檢測結果V2o。
詳細來說,當檢測裝置200透過電壓減法器210來計算出檢測電壓V1與檢測電壓V2之間的電壓差值(例如是檢測電壓V1減去受測的檢測電壓V2),以及透過電壓減法器220來計算出檢測電壓V2與檢測電壓VN之間的電壓差值(例如是檢測電壓VN減去受測的檢測電壓V2)時,若輸出信號V2a、V2b的電壓值中的其中之一大於預設臨界值時,則表示受測的發光二極體串131中的檢測電壓V2與發光二極體串130、13N中的檢測電壓V1、VN的電壓值並不相同,並且可以進一步判斷出受測的發光二極體串131可能有損壞的情況發生。此時,運算電路230可以依據輸出信號V2a、V2b來產生指示對應的發光二極體131為異常狀態的檢測結果V2o。換言之,當驅動信號產生器121接收指示對應的發光二極體串131為異常狀態的檢測結果V2o時,驅動信號產生器121將會停止產生對應的驅動信號,進而使得受測的發光二極體串131被熄滅。
相反地,若輸出信號V2a、V2b的電壓值皆未大於上述的
預設臨界值時,則表示受測的發光二極體串131中的檢測電壓V2與發光二極體串130、13N中的檢測電壓V1、VN的電壓值相接近。也就是說,受測的發光二極體串131並未發生異常狀態。驅動信號產生器121可以持續產生驅動信號以使受測的發光二極體串131可以持續的被點亮。值得注意的是,本實施例中的預設臨界值可以例如是0.5V,但不以此為限。
以下請參照圖2A以及圖2B,圖2B是依照本發明一實施例說明圖2A的電壓減法器的電路示意圖。電壓減法器300包括運算放大器310以及電阻320-350。其中,電阻320的第一端可以接收來自多個檢測電壓V1-VN中的其中之一(例如接收檢測電壓V1),電阻320的第二端可以耦接至運算放大器310的負輸入端。電阻330的第一端可以接收受測的檢測電壓V1-VN中的其中之一(例如接收檢測電壓V2),電阻330的第二端可以耦接至運算放大器310的正輸入端。此外,電阻340串接於電阻320的第二端與運算放大器310的輸出端之間,且電阻350串接於電阻330的第二端與參考接地端GND之間。並且,運算放大器310可以依據所接收的檢測電壓V1、V2以產生對應的輸出信號Vo。
以下將藉由電壓減法器300來對照電壓減法器210的實施方式進行說明。在上述的情況下,可以透過電壓減法器300來計算出檢測電壓V1減去檢測電壓V2所產生的電壓差值。其中,當電阻320與電阻330的電阻值相同,並且電阻340與電阻350的電阻值亦相同時,則運算放大器310的輸出信號Vo=(V1-V2)×
Rf/R,其中Rf、R代表電阻320-350的電阻值。然而,若電阻320-350的電阻值皆不相同時,則運算放大器310的輸出信號Vo將依據電阻320-350的電阻值適度地調整。值得注意的是,圖2B中的檢測電壓V1、V2可以是圖1中的多個檢測電壓V1-VN中的其中任兩個檢測電壓,並沒有特定的限制。
請參照圖3,圖3是依照本發明另一實施例說明一種驅動裝置的示意圖。驅動裝置400包括檢測裝置411-413、驅動信號產生器421-423。其中,驅動裝置400可以分別耦接至發光二極體串431-433。值得注意的是,驅動信號產生器421-423可以分別包括電壓隨耦器441-443、開關電路SW1-SW3以及電流產生器451-453,此外,發光二極體串431-433可以受控於電源電壓VLED。
在圖3中,電壓隨耦器441-443可以分別具有輸入端以分別接收參考電壓Vref,並且分別具有輸出端以分別產生偏壓電壓V1’-V3’。開關電路SW1-SW3可以分別耦接至電壓隨耦器441-443的輸出端以接收偏壓電壓V1’-V3’,其中,開關電路SW1-SW3可以分別依據檢測裝置411-413所輸出的檢測結果V1o-V3o,來判斷是否將開關電路SW1-SW3進行導通或斷開。除此之外,電流產生器451-453可以分別耦接於對應的發光二極體串431-433以及開關電路SW1-SW3之間,其中,電流產生器451-453中更包括功率放大器M1-M3以及電阻R1-R3。
另一方面,功率放大器M1-M3中的第一端可以分別耦接至對應的發光二極體串431-433,並且分別提供對應的驅動信號,
此外,功率放大器M1-M3中的控制端可以分別耦接至開關電路SW1-SW3,並透過開關電路SW1-SW3以接收偏壓電壓V1’-V3’。此外,電阻R1-R3可以分別耦接於功率放大器M1-M3的第二端與參考接地電壓之間。
在本實施例中,開關電路SW1-SW3可以分別依據檢測結果V1o-V3o以決定是否分別提供偏壓電壓V1’-V3’至電流產生器451-453中。值得一提的是,當電流產生器451-453分別接收偏壓電壓V1’-V3’時,電流產生器451-453可以分別依據偏壓電壓V1’-V3’產生對應的驅動信號,以驅動所對應的發光二極體串431-433,並使對應的發光二極體串431-433可以被點亮。相反的,當電流產生器451-453分別不接收偏壓電壓V1’-V3’時,則電流產生器451-453停止產生對應的驅動信號,使得所對應的發光二極體串431-433被熄滅。
關於驅動裝置400的工作細節,以下敘述將以發光二極體串432作為範例說明。詳細來說,驅動裝置400將會透過檢測裝置412的輸入端分別接收檢測電壓V1-V3,並用於分別計算出受測的檢測電壓V2與檢測電壓V1、V3之間的電壓差值。其中,若所述電壓差值中的其中之一大於一預設臨界值(例如是0.5V)時,則表示受測的發光二極體串432中的檢測電壓V2與發光二極體串431、433中的檢測電壓V1、V3的其中之一的電壓值並不相同,並且可以進一步判斷出發光二極體串432可能有損壞的情況發生。此時,檢測裝置412將會產生一指示發光二極體串432為
異常的檢測結果V2o(例如為高邏輯)。如此一來,開關電路SW2將被導通,並使得偏壓電壓V2’的電壓值被下拉至等於參考接地電壓AGND。在此同時,功率放大器M2將會被截止,使得電流產生電路452停止產生並提供驅動信號至受測的發光二極體432中。換言之,電流產生電路452將依據對應的檢測裝置412所產生的檢測結果V2o,來停止產生對應於發光二極體串432的驅動信號,以使得受測的發光二極體串432被熄滅。
相反的,檢測裝置412所判斷受測的檢測電壓V2與檢測電壓V1、V3之間的電壓差值皆未大於一預設臨界值時,則表示受測的發光二極體串432中的檢測電壓V2與發光二極體串431、433中的檢測電壓V1、V3的電壓值皆相接近,並且可以進一步判斷出發光二極體串432並未有損壞的情況發生。此時,檢測裝置412將會產生指示發光二極體串432為正常的檢測結果V2o(例如為低邏輯),以使得開關電路SW2斷開,進而避免偏壓電壓V2’的電壓值被下拉至等於參考接地電壓AGND。在此同時,功率放大器M2可以正常地被導通。換句話說,電流產生電路452可以依據對應的檢測裝置412所產生的檢測結果V2o,來持續的產生驅動信號至發光二極體串432中,以使得受測的發光二極體串432持續被點亮。
在本實施例中,針對開關電路SW1-SW3具有另一種實施方式,以下請同時參照圖3以及圖4,圖4是依照本發明另一實施例說明圖3的開關電路的示意圖。開關電路500包括第一開關SW4
以及第二開關SW5。其中,第一開關SW4耦接於電流產生器520及參考接地GND之間,並且依據對應的檢測結果V2o以決定第一開關SW4是否導通。另一方面,第二開關SW5耦接於電壓隨耦器510的輸出端與第一開關SW4之間,並且同樣依據對應的檢測結果V2o以決定第二開關SW5是否導通。其中,第一開關SW4與第二開關SW5的導通或斷開狀態相反。
詳細來說,當開關電路500對應的檢測裝置所輸出的檢測結果為指示所受檢測的發光二極體串發生損壞狀況時,則第一開關SW4將被導通,在此同時,第二開關SW5將被斷開,使得電流產生器520被截止,並且電壓隨耦器510停止動作,進而使受測的發光二極體串被熄滅。相反地,當開關電路500對應的檢測裝置所輸出的檢測結果為指示所受檢測的發光二極體串並未發生損壞狀況時,則第一開關SW4將被斷開,在此同時,第二開關SW5將被導通,使得電流產生器520可以被導通,並且電壓隨耦器510可以持續動作,進而使受測的發光二極體串可以持續被點亮。
圖5是依照本發明一實施例說明一種發光二極體串的電流-電壓曲線圖。在圖5中,橫軸表示為發光二極體串的電壓狀態,縱軸表示為發光二極體串的電流狀態,其中,發光二極體串的電流-電壓曲線圖包括受檢測的發光二極體串未發生異常的檢測結果的曲線710以及受檢測的發光二極體串發生異常的檢測結果的曲線720。值得注意的是,在本實施例中,利用驅動裝置中的多個
驅動信號產生器在一測試時間區間中,分別提供小於一預設電流的驅動信號至多個發光二極體串,以檢測該些發光二極體串是否發生異常,並且多個檢測裝置在測試時間區間中產生對應的檢測結果。其中,本實施例中的預設電流可依據發光二極體串偏壓於臨界電壓Vt時產生的電流值來設置(例如小於發光二極體串偏壓於臨界電壓Vt時產生的電流值)。在測試時間區間中,本發明實施例的驅動信號產生器使對應的發光二極體串接收的偏壓電壓小於對應的發光二極體串的臨界電壓Vt。
圖6是依照本發明一實施例說明一種驅動裝置的驅動方法的流程圖。在步驟S610中,驅動信號產生器分別產生多個驅動信號以分別驅動多個發光二極體串,並在多個發光二極體串的多個檢測端點分別產生多個檢測電壓。在步驟S620中,檢測裝置使多個發光二極體串中的第一發光二極體串的檢測點上的第一檢測電壓,與其餘的第二發光二極體串的檢測點上的第二檢測電壓進行比較,以產生對應第一檢測電壓的第一發光二極體串的檢測結果。在步驟S630中,驅動信號產生器依據對應第一檢測電壓的第一發光二極體串的檢測結果,來決定是否停止產生第一發光二極體串的驅動信號。
關於各步驟的實施細節在前述的實施例及實施方式都有詳盡的說明,以下恕不多贅述。
綜上所述,本發明的實施例主要是針對在驅動裝置中,當發光二極體串發生損壞時,本發明可以利用一個或多個檢測裝
置來對該些發光二極體串進行檢測,並同時產生出各別的檢測電壓。除此之外,所述檢測裝置將會進一步的針對受檢測的發光二極體串的檢測電壓與其餘的發光二極體串的檢測電壓以進行比較,並產生出一檢測結果。如此一來,可以利用所述驅動信號產生器依據所述檢測結果以判斷出是否停止傳輸驅動信號至發生損壞的發光二極體串。
雖然本發明已以實施例揭露如上,然其並非用以限定本發明,任何所屬技術領域中具有通常知識者,在不脫離本發明的精神和範圍內,當可作些許的更動與潤飾,故本發明的保護範圍當視後附的申請專利範圍所界定者為準。
Claims (15)
- 一種發光二極體的驅動裝置,包括:多個驅動信號產生器,分別耦接至多個發光二極體串,分別產生多個驅動信號以分別驅動該些發光二極體串;至少一個檢測裝置,耦接各該發光二極體串的檢測端點,並分別耦接該些驅動信號產生器,各該檢測裝置使對應的一第一發光二極體串的檢測端點上的一第一檢測電壓分別與其餘的多個第二發光二極體串的檢測端點上的多個第二檢測電壓進行差值的比較以產生檢測結果,其中,各該驅動信號產生器依據對應的各該檢測裝置產生的該檢測結果以決定是否停止產生各該驅動信號。
- 如申請專利範圍第1項所述的發光二極體的驅動裝置,其中各該檢測裝置計算對應的第一發光二極體串的檢測端點上的該第一檢測電壓與該些第二發光二極體串的檢測端點上的該些第二檢測電壓的多個差值,當該些差值的至少其中之一大於一預設臨界值時,各該檢測裝置產生指示對應的該第一發光二極體串為異常的該檢測結果。
- 如申請專利範圍第2項所述的發光二極體的驅動裝置,其中當各該驅動信號產生器接收指示對應的該第一發光二極體串為異常的該檢測結果時,各該驅動信號產生器停止產生對應的驅動信號。
- 如申請專利範圍第2項所述的發光二極體的驅動裝置,其中各該檢測裝置包括:多個電壓減法器,計算該第一檢測電壓與該些第二檢測電壓的該些差值,依據該些差值是否大於該預設臨界值來分別產生多個輸出信號;以及一運算電路,耦接該些電壓減法器,依據該些輸出信號進行或邏輯運算,來產生對應的該檢測結果。
- 如申請專利範圍第4項所述的發光二極體的驅動裝置,其中各該電壓減法器包括:一運算放大器,產生對應的輸出信號;一第一電阻,其第一端接收該第一檢測電壓,其第二端耦接至該運算放大器的負輸入端;一第二電阻,其第一端接收該些第二檢測電壓的其中之一,該第二電阻的第二端耦接至該運算放大器的正輸入端;一第三電阻,串接在該第一電阻的第二端與該運算放大器的輸出端間;以及一第四電阻,串接在該第二電阻的第二端與一參考接地端間。
- 如申請專利範圍第5項所述的發光二極體的驅動裝置,其中該第一電阻與該第二電阻的電阻值相同,該第三電阻與該第四電阻的電阻值相同。
- 如申請專利範圍第1項所述的發光二極體的驅動裝置,其中各該驅動信號產生器包括:一電壓隨耦器,具有輸入端以接收一參考電壓,並具有輸出端以產生一偏壓電壓;一開關電路,耦接該電壓隨耦器的輸出端以接收該偏壓電壓,受控於對應的檢測結果;以及一電流產生器,耦接至對應的發光二極體串以及該開關電路,其中,該開關電路依據該檢測結果以決定是否提供該偏壓電壓至該電流產生器,當該電流產生器接收該偏壓電壓時,該電流產生器依據該偏壓電壓產生對應的驅動信號,當該電流產生器不接收該偏壓電壓時,該電流產生器停止產生對應的驅動信號。
- 如申請專利範圍第7項所述的發光二極體的驅動裝置,其中該開關電路包括:一第一開關,耦接在該電流產生器及一參考接地端間,依據對應的檢測結果以導通或斷開。
- 如申請專利範圍第8項所述的發光二極體的驅動裝置,其中該開關電路更包括:一第二開關,耦接在該電壓隨耦器的輸出端及該第一開關間,依據對應的檢測結果以導通或斷開,其中該第一開關與該第二開關的導通或斷開狀態相反。
- 如申請專利範圍第7項所述的發光二極體的驅動裝置,其中該電流產生器包括:一功率放大器,其第一端耦接至對應的發光二極體串,並提供對應的驅動信號,其控制端耦接至該開關電路,透過該開關電路以接收該偏壓電壓;以及一電阻,串接在該功率放大器的第二端與一參考接地電壓間。
- 如申請專利範圍第1項所述的發光二極體的驅動裝置,其中該些驅動信號產生器並在一測試時間區間,分別提供小於一預設電流的該些驅動信號至該些發光二極體串,各該檢測裝置並在該測試時間區間中產生對應的檢測結果。
- 如申請專利範圍第11項所述的發光二極體的驅動裝置,其中在該測試時間區間中,各該驅動信號產生器使對應的發光二極體串接收的偏壓電壓小於對應的發光二極體串的臨界電壓。
- 一種發光二極體的驅動方法,適於驅動多個發光二極體串,包括:分別產生多個驅動信號,以分別驅動該些發光二極體串,並在該些發光二極體串的多個檢測端點分別產生多個檢測電壓;使該些檢測電壓中的一第一檢測電壓分別與該些檢測電壓中其餘的多個第二檢測電壓進行差值的比較,以產生對應該第一檢測電壓的發光二極體串的檢測結果;以及依據對應該第一檢測電壓的檢測結果來決定是否停止產生對應該第一檢測電壓的發光二極體串的驅動信號。
- 如申請專利範圍第13項所述的發光二極體的驅動方法,其中使該些檢測電壓中的該第一檢測電壓與該些檢測電壓中其餘的該些第二檢測電壓進行差值的比較,以產生對應該第一檢測電壓的發光二極體串的檢測結果的步驟包括:計算該些發光二極體串中的一第一發光二極體串的檢測端點上的該第一檢測電壓與該些發光二極體串中的多個第二發光二極體串的檢測端點上的該些第二檢測電壓的多個差值,當該些差值的至少其中之一大於一預設臨界值時,產生指示對應的該第一發光二極體串為異常的該檢測結果。
- 如申請專利範圍第13項所述的發光二極體的驅動方法,其中依據對應該第一檢測電壓的檢測結果來決定是否停止產生對應該第一檢測電壓的發光二極體串的驅動信號的步驟包括:當該檢測結果指示該些發光二極體串中的一第一發光二極體串為異常時,停止產生對應該第一檢測電壓的該第一發光二極體串的驅動信號。
Priority Applications (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
TW106145140A TWI654903B (zh) | 2017-12-21 | 2017-12-21 | 發光二極體的驅動裝置及其驅動方法 |
CN201810114992.9A CN108174489B (zh) | 2017-12-21 | 2018-02-05 | 驱动装置及其驱动方法 |
US15/933,352 US10334690B1 (en) | 2017-12-21 | 2018-03-22 | Driving device and driving method thereof |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
TW106145140A TWI654903B (zh) | 2017-12-21 | 2017-12-21 | 發光二極體的驅動裝置及其驅動方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
TWI654903B true TWI654903B (zh) | 2019-03-21 |
TW201929602A TW201929602A (zh) | 2019-07-16 |
Family
ID=62512952
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
TW106145140A TWI654903B (zh) | 2017-12-21 | 2017-12-21 | 發光二極體的驅動裝置及其驅動方法 |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US10334690B1 (zh) |
CN (1) | CN108174489B (zh) |
TW (1) | TWI654903B (zh) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US11032896B2 (en) | 2019-08-28 | 2021-06-08 | Chicony Power Technology Co., Ltd. | Control apparatus for light emitting diodes |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US10820397B1 (en) * | 2019-04-15 | 2020-10-27 | Facebook Technologies, Llc | Test architecture for light emitting diode arrays |
Family Cites Families (21)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US8519680B2 (en) * | 2003-07-07 | 2013-08-27 | Rohm Co., Ltd. | Load driving device, and lighting apparatus and liquid crystal display device using the same |
JP2008130513A (ja) * | 2006-11-24 | 2008-06-05 | Matsushita Electric Works Ltd | Led点灯回路およびそれを用いる照明器具 |
JP2010056305A (ja) * | 2008-08-28 | 2010-03-11 | Panasonic Corp | 発光素子駆動装置 |
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KR101676440B1 (ko) * | 2010-01-18 | 2016-11-16 | 삼성디스플레이 주식회사 | 백라이트 유닛, 이의 구동 방법 및 이상 검출 방법 |
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JP2013021117A (ja) | 2011-07-11 | 2013-01-31 | Rohm Co Ltd | Led駆動装置、照明装置、液晶表示装置 |
US8760076B2 (en) * | 2011-07-15 | 2014-06-24 | Shenzhen China Star Optoelectronics Technology Co., Ltd. | PWM dimming circuit with multiple outputting paths of current for multiple LED strings |
KR101971287B1 (ko) | 2011-08-30 | 2019-04-23 | 매그나칩 반도체 유한회사 | Led구동장치 |
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TWI584674B (zh) | 2013-11-25 | 2017-05-21 | 登豐微電子股份有限公司 | 發光二極體驅動電路 |
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TWI594660B (zh) | 2016-12-02 | 2017-08-01 | Anwell Semiconductor Corp | High-performance linear LED driver circuit |
-
2017
- 2017-12-21 TW TW106145140A patent/TWI654903B/zh active
-
2018
- 2018-02-05 CN CN201810114992.9A patent/CN108174489B/zh active Active
- 2018-03-22 US US15/933,352 patent/US10334690B1/en active Active
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Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
CN108174489A (zh) | 2018-06-15 |
CN108174489B (zh) | 2020-03-06 |
US20190200428A1 (en) | 2019-06-27 |
US10334690B1 (en) | 2019-06-25 |
TW201929602A (zh) | 2019-07-16 |
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