TWI641971B - 輸入裝置檢測系統及其方法 - Google Patents
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Abstract
本發明提供一種輸入裝置檢測系統,包括:底座,包括:底板,具有上表面、下表面及檢測開口;形成於上表面的框架;形成於框架內緣的第一伸縮桿,用以於水平方向推抵並固定輸入裝置;蓋板,具有第二伸縮桿,用以於垂直方向推抵並固定輸入裝置;軌跡檢測板,設置於底板下方並鄰接於下表面;其中,輸入裝置的光學感測模組用以產生光束,光束通過檢測開口並投射至軌跡檢測板,軌跡檢測板相對於底座進行移動並反射光束至光學感測模組,使輸入裝置產生軌跡訊號。
Description
本發明係有關於一種檢測系統的應用領域,尤指一種輸入裝置的檢測系統及其方法。
輸入裝置,如滑鼠,係用於控制電腦螢幕上的游標並藉此對電腦進行操作。自1968年美國製作出了全世界第一隻滑鼠後,之後無論是文書處理、電玩競賽、工業製圖、設計製圖或媒體製作,滑鼠已經成為電腦設備中不可或缺的一部份。早期滑鼠係使用軌跡球作為滑鼠位移的偵測,隨著科技的進步且為提升其工作的效率,也慢慢演變成至今使用光學或雷射感測模組進行位移偵測的形式。
而滑鼠於生產製造的過程中,係將滑鼠放置於具有不同檢測表面的治具中,並藉由移動滑鼠或移動治具中的檢測表面,來檢測滑鼠的光學或雷射感測模組是否可於各種的表面上正常地運作。然而,當檢測人員將滑鼠放入治具中時,經常發生滑鼠未正確放入檢測區域,或滑鼠放置時並未維持於水平的狀態,進而導致錯誤的檢測結果產生。
有鑑於此,於輸入裝置之光學或雷射感測模組進行檢測時,如何避免因輸入裝置未正確定位而導致錯誤檢測結果的
產生,並同時提高檢測結果的精確度及可信度,為本發明欲解決的技術課題。
本發明之主要目的,在於提供一種可對待測之輸入裝置進行定位的檢測系統及其方法,並藉此提升輸入裝置檢測結果的精確度及可信度。
為達前述之目的,本發明提供一種輸入裝置檢測系統,用以檢測具有光學感測模組的輸入裝置,包括:底座,包括:底板,具有用以承載輸入裝置的上表面、相對於上表面的下表面及貫穿上表面與下表面的檢測開口;框架,形成於上表面;以及複數個第一伸縮桿,形成於框架的內緣,用以於水平方向推抵並固定輸入裝置,使光學感測模組移動至對應於檢測開口的位置;蓋板,具有複數個第二伸縮桿,用以於垂直方向推抵並固定輸入裝置,使底座呈水平狀態;軌跡檢測板,設置於底板下方並鄰接於下表面;以及控制裝置,連接並控制輸入裝置、底座、蓋板及軌跡檢測板;其中,光學感測模組用以產生光束,光束通過檢測開口並投射至軌跡檢測板,軌跡檢測板相對於底座進行移動並反射光束至光學感測模組,使輸入裝置產生軌跡訊號。
於上述較佳實施方式中,其中底座進一步包括水平偵測器,用以偵測底座是否呈水平狀態。
於上述較佳實施方式中,其中水平偵測器設置於底板或框架。
於上述較佳實施方式中,其中水平偵測器為:重力感
測模組或陀螺儀。
於上述較佳實施方式中,其中底板的上表面進一步包括凹槽,凹槽用以容置輸入裝置,並使光學感測模組對應於檢測開口的位置。
於上述較佳實施方式中,其中底座包括第一壓力幫浦,控制裝置用以控制第一壓力幫浦,以驅動第一伸縮桿於水平方向進行伸縮。
於上述較佳實施方式中,其中蓋板包括第二壓力幫浦,控制裝置用以控制第二壓力幫浦,以驅動第二伸縮桿於垂直方向進行伸縮。
於上述較佳實施方式中,其中蓋板包括影像擷取模組,用以擷取輸入裝置的外觀影像。
於上述較佳實施方式中,其中軌跡檢測板包括支撐板、位於支撐板之上的第一表面及移動裝置,第一表面用以反射光束至光學感測模組。
於上述較佳實施方式中,其中移動裝置用以移動軌跡檢測板,使軌跡檢測板相對於底座進行移動。
於上述較佳實施方式中,其中移動裝置用以將軌跡檢測板的第一表面替換為第二表面。
於上述較佳實施方式中,其中控制裝置接收軌跡訊號,並依據軌跡訊號產生檢測結果。
於上述較佳實施方式中,其中控制裝置為計算機。本發明另提供一種輸入裝置檢測方法,用以檢測具有光學感測模組的輸入裝置,包括下列步驟:(a).將輸入裝置置入底座;(b).擷取輸入裝置的外觀影像;(c).以底座的複數個第一伸縮桿於水平方向推抵輸入裝置,使光學感測模組移動至對應於底座之檢測開口的位置;(d).判斷底座是否呈水平狀態,若否,則以蓋板的複數個第二
伸縮桿於垂直方向推抵輸入裝置,以調整底座至水平狀態,若是,則進行下一步驟;(e).以第一伸縮桿及第二伸縮桿固定輸入裝置;(f).啟動輸入裝置;(g).移動底座下方的軌跡檢測板,以進行輸入裝置的軌跡檢測;(h).產生檢測結果;以及(i).紀錄檢測結果。
於上述較佳實施方式中,其中於步驟(c)中,底座包括凹槽,凹槽用以容置輸入裝置,使光學感測模組對應於檢測開口的位置。
於上述較佳實施方式中,其中於步驟(f)中,啟動輸入裝置使光學感測模組產生光束,光束通過檢測開口並投射至軌跡檢測板。
於上述較佳實施方式中,其中於步驟(g)中,進一步包括下列步驟:(g1).提供具有第一表面的軌跡檢測板;(g2).移動軌跡檢測板,以檢測輸入裝置於第一表面的軌跡訊號;(g3).替換為具有第二表面的軌跡檢測板;以及(g4).移動軌跡檢測板,以檢測輸入裝置於第二表面的軌跡訊號。
於上述較佳實施方式中,其中於步驟(h)中,其進一步產生檢測完成訊號。
A、B‧‧‧區域
F1‧‧‧上表面
F2‧‧‧下表面
LB‧‧‧光束
S100~S110、S1071~1074‧‧‧步驟
10‧‧‧輸入裝置檢測系統
11、11’‧‧‧底座
111‧‧‧底板
112‧‧‧凹槽
113‧‧‧檢測開口
114‧‧‧框架
115‧‧‧第一伸縮桿
1151、1311‧‧‧抵壓部
1152、1312‧‧‧伸縮部
1153、1313‧‧‧基座部
116‧‧‧水平偵測器
117‧‧‧第一壓力幫浦
12、12’‧‧‧軌跡檢測板
121‧‧‧支撐板
122‧‧‧第一表面
122’‧‧‧第二表面
123‧‧‧移動裝置
13‧‧‧蓋板
131‧‧‧第二伸縮桿
132‧‧‧影像擷取模組
133‧‧‧第二壓力幫浦
14‧‧‧控制裝置
90‧‧‧輸入裝置
91‧‧‧光學感測模組
圖1A:係為本發明所提供之輸入裝置檢測系統;圖1B:係為圖1A中區域A之放大圖;
圖2A:係為本發明所提供底座之第一實施例的上視圖;圖2B:係為圖2A中區域B之放大圖;圖3:係為本發明輸入裝置檢測系統擷取輸入裝置之外觀影像的示意圖;圖4:係為本發明以底座推抵輸入裝置的示意圖;圖5:係為本發明以蓋板推抵輸入裝置的示意圖;圖6:係為本發明所提供之軌跡檢測板移動的示意圖;圖7:係為本發明所提供之軌跡檢測板替換的示意圖;圖8:係為本發明所提供底座之第二實施例的上視圖;圖9A:係為本發明輸入裝置檢測方法的流程圖;以及圖9B:係為圖9A中步驟S107的詳細分解流程圖。
本發明的優點及特徵以及達到其方法將參照例示性實施例及附圖進行更詳細的描述而更容易理解。然而,本發明可以不同形式來實現且不應被理解僅限於此處所陳述的實施例。相反地,對所屬技術領域具有通常知識者而言,所提供的此些實施例將使本揭露更加透徹與全面且完整地傳達本發明的範疇。
首先,請參閱圖1A所示,圖1A係為本發明所提供之輸入裝置檢測系統。所述的輸入裝置檢測系統10用以檢測具有光學感測模組的輸入裝置,例如滑鼠,輸入裝置檢測系統10包括:底座11、軌跡檢測板12、蓋板13及控制裝置14。控制裝置14可以有線或無線的方式連結底座11、軌跡檢測板12、蓋板13,以藉此控制底座11、軌跡檢測板12、蓋板13的運動,其中,控制裝
置14可為具有顯示器(未示於圖中)的計算機。為便於進行說明,如圖1A所示,將相互正交的3個軸設為X軸、Y軸及Z軸。又,將X軸與Y軸稱為水平方向,Z軸稱為垂直方向。
請繼續參閱圖1A,底座11包括:底板111及框架114。底板111具有上表面F1及下表面F2,上表面F1具有凹槽112,且凹槽112中的區域包括有貫穿上表面F1與下表面F2的檢測開口113。而框架114則設置於上表面F1的周圍,且框架114的內緣包括有複數個可於水平方向進行伸縮的第一伸縮桿115。另一方面,底座11具有第一壓力幫浦117,而第一壓力幫浦117連通(未示於圖中)各個第一伸縮桿115,使得控制裝置14可藉由控制第一壓力幫浦117分別驅動各個第一伸縮桿115於水平方向進行伸縮。框架114設置有至少一水平偵測器116,水平偵測器116係用以偵測底座11是否呈歪斜或是呈水平狀態。於本實施例中,水平偵測器116可為:重力感測模組或陀螺儀。本發明雖僅提出將水平偵測器116設置於框架114的實施方式,但於實際應用時,亦可將水平偵測器116設置於底板111,並不以本發明所提出的實施方式為限。
請繼續參閱圖1A,軌跡檢測板12則設置於底板111的下方,並鄰接於下表面F2。軌跡檢測板12則包括:支撐板121、位於支撐板121之上的第一表面122及固設在支撐板121與第一表面122一側邊的移動裝置123。其中,控制裝置14可控制移動裝置123,並利用移動裝置123移動軌跡檢測板12,使得軌跡檢測板12可相對於底座11進行移動。
請繼續參閱圖1A,蓋板13則具有複數個可於垂直方向進行伸縮的第二伸縮桿131、影像擷取模組132及第二壓力幫浦133。其中,第二壓力幫浦133連通(未示於圖中)各個第二伸縮桿131,使得控制裝置14可藉由控制第二壓力幫浦133分別驅動各個第二伸縮桿131於垂直方向進行伸縮。另一方面,控制裝置14亦可控制影像擷取模組132,並利用影像擷取模組132擷取待
測之輸入裝置的外觀影像。於本實施例中,第一壓力幫浦117及第二壓力幫浦133可為:氣壓幫浦或液壓幫浦。
接著,請參閱圖1B,圖1B係為圖1A中區域A之放大圖。於圖1B中,第二伸縮桿131包括:連接蓋板13(如圖1A所示)的基座部1313、可收納於基座部1313之中的伸縮部1312及抵壓部1311。舉例而言,當第二壓力幫浦133(如圖1A所示)的壓力增加時,伸縮部1312便自基座部1313之中伸出,使得抵壓部1311漸漸遠離基座部1313;而當第二壓力幫浦133的壓力減少時,伸縮部1312便縮回基座部1313之中,使得抵壓部1311漸漸靠近基座部1313,如此,使得第二伸縮桿131可於垂直方向進行伸縮。
請參閱圖2A,圖2A係為本發明所提供底座之第一實施例的上視圖。於圖2A中,底座11的框架114設置於底板111之上表面F1的周圍,第一壓力幫浦117設置於框架114的一側邊,且框架114的內緣包括有複數個可於水平方向進行伸縮的第一伸縮桿115。而水平偵測器116則設置於框架114的四個角落。位於上表面F1之凹槽112其形狀則可對應於待測輸入裝置之底面的形狀,而檢測開口113則依據輸入裝置之底面的形狀,設置在對應於光學感測模組的位置。本發明雖僅提出將第一伸縮桿115設置於框架114四個側邊的實施方式,但於實際應用時,亦可將第一伸縮桿115設置於框架114四個角落,而不以本發明所提出的實施方式為限。
接著,請參閱圖2B,圖2B係為圖2A中區域B之放大圖。於圖2B中,第一伸縮桿115包括:連接框架114(如圖1A所示)的基座部1153、可收納於基座部1153之中的伸縮部1152及抵壓部1151。舉例而言,當第一壓力幫浦117(如圖1A所示)的壓力增加時,伸縮部1152便自基座部1153之中伸出,使得抵壓部1151漸漸遠離基座部1153;而當第二壓力幫浦117的壓力減少時,伸縮部1152便縮回基座部1153之中,使得抵壓部1151漸漸
靠近基座部1153,如此,使得第一伸縮桿115可於水平方向進行伸縮。
請參閱圖3及圖4,圖3係為本發明輸入裝置檢測系統擷取輸入裝置之外觀影像的示意圖;圖4係為本發明以底座推抵輸入裝置的示意圖。於圖3中,輸入裝置90的底面具有光學感測模組91,且輸入裝置90可以有線或無線的方式(未示於圖中)連結控制裝置14,而控制裝置14則可預先設定光學感測模組91的解析度或其它相關參數,以藉此調整輸入裝置90的靈敏度。而當輸入裝置90以人工或機械的方式放置於底板111的上表面F1時,輸入裝置90可能並未被正確地放置於凹槽112的位置,且輸入裝置90底面的光學感測模組91亦未精準地對應於檢測開口113的位置。此時控制裝置14利用影像擷取模組132擷取輸入裝置90的外觀影像,並藉此分析輸入裝置90的形狀、大小及放置位置。爾後,請參閱圖4,待輸入裝置90的形狀、大小及放置位置分析完成後,控制裝置14接著驅動各個第一伸縮桿115於水平方向進行伸縮,以藉此推抵輸入裝置90之側緣,使輸入裝置90移動至凹槽112的位置,並讓光學感測模組91可精準地對應於檢測開口113的位置。
請繼續參閱圖5,圖5係為本發明以蓋板推抵輸入裝置的示意圖。於圖5中,當第一伸縮桿115將輸入裝置90推抵至凹槽112後,第一伸縮桿115會持續地抵壓輸入裝置90的側緣,以藉此將輸入裝置90固定於凹槽112之中,如此光學感測模組91便可穩固並精準地對應於檢測開口113。接著,控制裝置14驅動蓋板13的各個第二伸縮桿131於垂直方向推抵輸入裝置90的頂面,並同時以框架114上的水平偵測器116偵測底座11是否呈歪斜或已呈水平狀態。倘若底座11仍呈歪斜狀態,則控制裝置14會持續驅動蓋板13的各個第二伸縮桿131推抵輸入裝置90的頂面,並藉由輸入裝置90頂壓底座11,直至水平偵測器116偵測到底座11已呈水平狀態為止。待底座11呈水平狀態之後,第二伸
縮桿131會持續地抵壓輸入裝置90的頂面,以藉此於垂直方向將輸入裝置90固定於凹槽112之中。
請繼續參閱圖5,待以第一伸縮桿115及第二伸縮桿131固定輸入裝置90後,控制裝置14隨即啟動輸入裝置90,使輸入裝置90之光學感測模組91產生光束LB,且光束LB會通過檢測開口113並投射至軌跡檢測板12的第一表面122上,而第一表面122則將光束LB反射回光學感測模組91。
請參閱圖6,圖6係為本發明所提供之軌跡檢測板移動的示意圖。於圖6中,待輸入裝置90啟動後,控制裝置14接著控制移動裝置123以藉此移動軌跡檢測板12,使得軌跡檢測板12可相對於底座11進行移動。在軌跡檢測板12移動的同時,第一表面122亦同時將光束LB(如圖5所示)反射至光學感測模組91,如此便可藉由軌跡檢測板12的移動模擬輸入裝置90於第一表面122的移動狀態,使得輸入裝置90可產生相應的軌跡訊號。於本實施例中,軌跡檢測板12可進行畫圓移動、畫方移動、畫三角移動或朝任意方向移動,而輸入裝置90則將所產生的軌跡訊號傳送至控制裝置14,控制裝置14則進一步分析及比對輸入裝置90所產生的軌跡訊號是否與軌跡檢測板12移動的方向、速率相符,以檢測輸入裝置90的光學感測模組91是否可在第一表面122上正常地運作。
請繼續參閱圖7,圖7係為本發明所提供之軌跡檢測板替換的示意圖。於圖7中,控制裝置14除了控制移動裝置123移動軌跡檢測板12外,亦可控制移動裝置123,將具有第一表面122的軌跡檢測板12替換為具有第二表面122’的軌跡檢測板12’,且亦可藉由移動裝置123控制軌跡檢測板12’的移動,進而模擬輸入裝置90於第二表面122’的移動狀態,使得輸入裝置90產生相應的軌跡訊號。而待檢測完成後,控制裝置14則依據軌跡訊號的分析及比對產生檢測結果,隨即將檢測結果儲存於控制裝置14的資料庫(未示於圖中)之中。此外,當檢測結果產生時,控制裝置
14亦同步產生檢測完成訊號,並於控制裝置14的顯示器(未示於圖中)中進行顯示,如此進行輸入裝置90檢測的檢測人員便可由顯示器得知輸入裝置90已檢測完畢,便可停止第一伸縮桿115及第二伸縮桿131對於輸入裝置90的抵壓狀態,並自底座11之中取出輸入裝置90,再行放入另一個待測的輸入裝置90。
請參閱圖8,圖8係為本發明所提供底座之第二實施例的上視圖。於圖8中,底座11’的框架114、第一伸縮桿115、水平偵測器116及第一壓力幫浦117與圖2A相同,在此便不再作贅述。唯,差異之處在於設置於底板111之上表面F1的檢測開口113較大,且上表面F1上並未設置任何凹槽結構,使得底座11’可適用於各種不同外形的輸入裝置。因此,當不同外型的輸入裝置90放入底座11’時,控制裝置14則利用影像擷取模組132擷取不同外型之輸入裝置90的外觀影像(如圖3所示),並依據不同外型之輸入裝置90的形狀、大小及放置位置,驅動各個第一伸縮桿115於水平方向推抵不同外型之輸入裝置90的側緣(如圖4所示),使不同外型之輸入裝置90的光學感測模組91可移動至檢測開口113的位置,使光學感測模組91可精準地對應於檢測開口113。由於毋須設置對應於輸入裝置底面形狀的凹槽結構,如此便可有效提升底座11’的泛用性。
請一併參閱圖1A、圖3、圖4、圖5、圖6及圖9A,圖9A係為本發明輸入裝置檢測方法的流程圖。首先,將輸入裝置90置入底座11(步驟S100),於步驟S100中,輸入裝置90可以有線或無線的方式(未示於圖中)連結控制裝置14,並可以人工或機械的方式將輸入裝置90放入底板111的上表面F1;接著,擷取輸入裝置90的外觀影像(步驟S101),於步驟S101中,控制裝置14利用影像擷取模組132擷取輸入裝置90的外觀影像,以藉此分析輸入裝置90的形狀、大小及位置;再接著,以底座11的第一伸縮桿115於水平方向推抵輸入裝置90,使光學感測模組91移動至對應於底座11之檢測開口113的位置(步驟102),於步驟S102中,
控制裝置14驅動各個第一伸縮桿115於水平方向進行伸縮,以藉此推抵輸入裝置90之側緣,使輸入裝置90的光學感測模組91移動至檢測開口113的位置,使光學感測模組91可精準地對應於檢測開口113。
請繼續參閱圖9A,待光學感測模組91對準檢測開口113後,判斷底座11是否呈水平狀態(步驟S103),於步驟S103中,係以框架114上的水平偵測器116偵測底座11是否呈水平狀態,若判斷結果為否,則以蓋板13的第二伸縮桿131於垂直方向推抵輸入裝置90,以調整底座11至水平狀態(步驟S104),於步驟S104中,控制裝置14驅動蓋板13的各個第二伸縮桿131於垂直方向推抵輸入裝置90的頂面,並藉由輸入裝置90頂壓底座11,直至水平偵測器116偵測到底座11已呈水平狀態為止。當步驟S104中底座11的水平狀態已調整完畢,或於步驟S103中,其判斷結果為是,則以第一伸縮桿115及第二伸縮桿131固定輸入裝置90(步驟S105),於步驟S105中,第一伸縮桿115會持續地抵壓輸入裝置90的側緣,且第二伸縮桿131會持續地抵壓輸入裝置90的頂面,以藉此讓輸入裝置90的光學感測模組91穩固並精準地對應於檢測開口113。
隨後,啟動輸入裝置90(步驟S106),於步驟S106中,控制裝置14啟動輸入裝置90,使輸入裝置90之光學感測模組91產生光束LB,且光束LB會通過檢測開口113並投射至軌跡檢測板12的第一表面122,而第一表面122則將光束LB反射至光學感測模組91;接著,移動底座11下方的軌跡檢測板12,以進行輸入裝置90的軌跡檢測(步驟S107),於步驟S107中,控制裝置14藉由移動裝置123移動軌跡檢測板12,使得軌跡檢測板12可相對於底座11進行移動。而在軌跡檢測板12移動的同時,其中的第一表面122亦同時將光束LB反射至光學感測模組91,如此便可藉由軌跡檢測板12的移動模擬輸入裝置90於第一表面122的移動狀態,使得輸入裝置90產生相應的軌跡訊號,並將其
傳送至控制裝置14;再接著,產生檢測結果(步驟S108),於步驟S108中,控制裝置14分析、比對輸入裝置90所產生的軌跡訊號,判斷其是否與軌跡檢測板12移動的方向、速率相符,以藉此檢測輸入裝置90的光學感測模組91是否可正常的運作,並可依據輸入裝置90軌跡訊號的分析及比對產生檢測結果,而在產生檢測結果時,亦可同步產生檢測完成訊號(步驟S109),於步驟S109中,控制裝置14可將所產生的檢測完成訊號顯示於控制裝置14之顯示器(未示於圖中)中,如此進行輸入裝置90檢測的檢測人員便可由顯示器得知輸入裝置90已檢測完畢,進而停止第一伸縮桿115及第二伸縮桿131對輸入裝置90的抵壓,而將輸入裝置90自底座11中取出。最後,紀錄檢測結果(步驟S110),於步驟S110中,控制裝置14將檢測結果儲存於控制裝置14的資料庫(未示於圖中)之中。
請參閱圖7及圖9B,圖9B係為圖9A.中步驟S107的詳細分解流程圖。於圖9B中,首先,提供具有第一表面122的軌跡檢測板12(步驟S1071);接著,移動軌跡檢測板12,以檢測輸入裝置90於第一表面122的軌跡訊號(步驟S1072);爾後,替換為具有第二表面122’的軌跡檢測板12’(步驟S1073),於步驟S1073中,控制裝置14藉由控制移動裝置123,將具有第一表面122的軌跡檢測板12替換為具有第二表面122’的軌跡檢測板12’。最後,移動軌跡檢測板12’,以檢測輸入裝置90於第二表面122’的軌跡訊號(步驟S1074),於步驟S1074中,控制裝置14藉由控制移動裝置123移動軌跡檢測板12’,以模擬輸入裝置90於第二表面122’的移動狀態,使得輸入裝置90產生相應的軌跡訊號。
相較於習知技術,本發明係利用第一伸縮桿及第二伸縮桿推抵輸入裝置,並將輸入裝置穩固並精確地定位在底座的檢測區域,避免輸入裝置於檢測過程中發生偏移。另一方面,亦可利用水平偵測器偵測放置輸入裝置的底座是否已呈水平狀態,使得輸入裝置可正確地模擬於不同平面上的移動狀態,如此便可
有效提升輸入裝置檢測結果的精確度及可信度;故,本發明實為一極具產業價值之創作。
本發明得由熟悉本技藝之人士任施匠思而為諸般修飾,然皆不脫如附申請專利範圍所欲保護。
Claims (18)
- 一種輸入裝置檢測系統,用以檢測具有一光學感測模組的一輸入裝置且該輸入裝置為滑鼠,包括:一底座,包括:一底板,具有用以承載該輸入裝置的一上表面、相對於該上表面的一下表面及貫穿該上表面與該下表面的一檢測開口;一框架,形成於該上表面;以及複數個第一伸縮桿,形成於該框架的內緣,用以於水平方向推抵並固定該輸入裝置,使該光學感測模組移動至對應於該檢測開口的位置;一蓋板,具有複數個第二伸縮桿,用以於垂直方向推抵並固定該輸入裝置,使該底座呈水平狀態;一軌跡檢測板,設置於該底板下方並鄰接於該下表面;以及一控制裝置,連接並控制該輸入裝置、該底座、該蓋板及該軌跡檢測板;其中,該光學感測模組用以產生一光束,該光束通過該檢測開口並投射至該軌跡檢測板,該軌跡檢測板相對於該底座進行移動並反射該光束至該光學感測模組,使該輸入裝置產生一軌跡訊號。
- 如申請專利範圍第1項所述之輸入裝置檢測系統,其中該底座進一步包括至少一水平偵測器,用以偵測該底座是否呈水平狀態。
- 如申請專利範圍第2項所述之輸入裝置檢測系統,其中該至少一水平偵測器設置於該底板或該框架。
- 如申請專利範圍第2項所述之輸入裝置檢測系統,其中該至少一水平偵測器為:重力感測模組或陀螺儀。
- 如申請專利範圍第1項所述之輸入裝置檢測系統,其中該底板 的該上表面進一步包括一凹槽,該凹槽用以容置該輸入裝置,使該光學感測模組對應於該檢測開口的位置。
- 如申請專利範圍第1項所述之輸入裝置檢測系統,其中該底座包括一第一壓力幫浦,該控制裝置用以控制該第一壓力幫浦,以驅動該些第一伸縮桿於水平方向進行伸縮。
- 如申請專利範圍第1項所述之輸入裝置檢測系統,其中該蓋板包括一第二壓力幫浦,該控制裝置用以控制該第二壓力幫浦,以驅動該些第二伸縮桿於垂直方向進行伸縮。
- 如申請專利範圍第1項所述之輸入裝置檢測系統,其中該蓋板包括一影像擷取模組,用以擷取該輸入裝置的外觀影像。
- 如申請專利範圍第1項所述之輸入裝置檢測系統,其中該軌跡檢測板包括一支撐板、位於該支撐板之上的一第一表面及一移動裝置,該第一表面用以反射該光束至該光學感測模組。
- 如申請專利範圍第9項所述之輸入裝置檢測系統,其中該移動裝置用以移動該軌跡檢測板,使該軌跡檢測板相對於該底座進行移動。
- 如申請專利範圍第9項所述之輸入裝置檢測系統,其中該移動裝置用以將該軌跡檢測板的該第一表面替換為另一軌跡檢測板的一第二表面。
- 如申請專利範圍第1項所述之輸入裝置檢測系統,其中該控制裝置接收該軌跡訊號,並依據該軌跡訊號產生一檢測結果。
- 如申請專利範圍第12項所述之輸入裝置檢測系統,其中該控 制裝置為一計算機。
- 一種輸入裝置檢測方法,用以檢測具有一光學感測模組的一輸入裝置且該輸入裝置為滑鼠,包括下列步驟:(a).將該輸入裝置置入一底座;(b).擷取該輸入裝置的外觀影像;(c).以該底座的複數個第一伸縮桿於水平方向推抵該輸入裝置,使該光學感測模組移動至對應於該底座之一檢測開口的位置;(d).判斷該底座是否呈水平狀態,若否,則以一蓋板的複數個第二伸縮桿於垂直方向推抵該輸入裝置,以調整該底座至水平狀態,若是,則進行下一步驟;(e).以該些第一伸縮桿及該些第二伸縮桿固定該輸入裝置;(f).啟動該輸入裝置;(g).移動該底座下方的一軌跡檢測板,以進行該輸入裝置的軌跡檢測;(h).產生一檢測結果;以及(i).紀錄該檢測結果。
- 如申請專利範圍第14項所述之輸入裝置檢測方法,其中於該步驟(c)中,該底座包括一凹槽,該凹槽用以容置該輸入裝置,使該光學感測模組對應於該檢測開口的位置。
- 如申請專利範圍第14項所述之輸入裝置檢測方法,其中於該步驟(f)中,啟動該輸入裝置使該光學感測模組產生一光束,該光束通過該檢測開口並投射至該軌跡檢測板。
- 如申請專利範圍第14項所述之輸入裝置檢測方法,其中於該步驟(g)中,進一步包括下列步驟:(g1).提供具有一第一表面的該軌跡檢測板;(g2).移動該軌跡檢測板,以檢測該輸入裝置於該第一表面的 軌跡訊號;(g3).替換為具有一第二表面的另一軌跡檢測板;以及(g4).移動該另一軌跡檢測板,以檢測該輸入裝置於該第二表面的軌跡訊號。
- 如申請專利範圍第14項所述之輸入裝置檢測方法,其中於該步驟(h)中,其進一步產生一檢測完成訊號。
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
TW106137174A TWI641971B (zh) | 2017-10-27 | 2017-10-27 | 輸入裝置檢測系統及其方法 |
US15/906,626 US10691226B2 (en) | 2017-10-27 | 2018-02-27 | Input device detection system and method |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
TW106137174A TWI641971B (zh) | 2017-10-27 | 2017-10-27 | 輸入裝置檢測系統及其方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
TWI641971B true TWI641971B (zh) | 2018-11-21 |
TW201917535A TW201917535A (zh) | 2019-05-01 |
Family
ID=65034403
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
TW106137174A TWI641971B (zh) | 2017-10-27 | 2017-10-27 | 輸入裝置檢測系統及其方法 |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US10691226B2 (zh) |
TW (1) | TWI641971B (zh) |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN113376511B (zh) * | 2021-06-22 | 2022-10-28 | 江苏富联通讯技术有限公司 | 一种5g通讯模组加工用检测装置及其检测方法 |
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TWM419137U (en) * | 2011-07-29 | 2011-12-21 | Primax Electronics Ltd | Mouse testing device |
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US20130019127A1 (en) * | 2011-07-15 | 2013-01-17 | Primax Electronics Ltd. | Mouse motion trajectory testing system |
CN202939186U (zh) * | 2012-11-27 | 2013-05-15 | 深圳市振云精密测试设备有限公司 | 一种鼠标测试夹具 |
CN103699468A (zh) * | 2013-12-31 | 2014-04-02 | 上海亨井联接件有限公司 | 鼠标自动化测试设备及方法 |
Family Cites Families (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2005101169A1 (en) * | 2004-04-15 | 2005-10-27 | University Of Northern British Columbia | Methods and systems for interacting with virtual objects |
TWI378371B (en) * | 2009-08-10 | 2012-12-01 | Primax Electronics Ltd | Optical mouse testing device |
-
2017
- 2017-10-27 TW TW106137174A patent/TWI641971B/zh active
-
2018
- 2018-02-27 US US15/906,626 patent/US10691226B2/en active Active
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Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
TW201917535A (zh) | 2019-05-01 |
US10691226B2 (en) | 2020-06-23 |
US20190129523A1 (en) | 2019-05-02 |
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