TWI624742B - 電子設備進行自動測試的程序控制方法、系統及其可編程邏輯控制器 - Google Patents

Abstract

本發明提供一種電子設備進行測試的自動化控制，分別提供了一種方法、系統及可編程邏輯控制器，主要為透過偵測系統來探測第一傳送帶上是否有需要進行測試的電子設備載盤送入，取放系統負責抓取該需要進行測試的電子設備載盤，並將其自動放入機櫃測試系統之機架之一適配位上進行測試；同時，還會依據測試的結果來將機架之適配位上的電子設備載盤抽出，並將其放入對應的傳送帶上予以送出。

Description

電子設備進行自動測試的程序控制方 法、系統及其可編程邏輯控制器

本發明涉及自動化技術在電子設備加工技術領域的應用，特別是涉及一種電子設備進行測試的自動化控制。

在電子設備組裝加工工序中，例如電子設備為筆記型電腦，需要在該筆記型電腦出廠前進行系統或預置軟體的下載或者進行相應的資料測試。現有對這個工序的做法為：由人工將需要資料下載的筆記型電腦放入一資料下載/測試工位中，並將該筆記型電腦與資料下載伺服器或者資料測試伺服器進行連接，然後啟動一預先設置好的下載程式或測試程式進行自動下載或自動測試，並在完成後進行提示，然後由工人再將資料下載或測試完成的筆記型電腦取出，以此完成整個工序。

上述做法具有一定的局限性，如果需要測 試的電子設備數量龐大時，這種人工作業的方式效率將顯得十分的低下，而且還容易出錯。

鑒於以上所述現有技術的缺點，本發明的目的在於提供一種電子設備進行測試的自動化控制，用於解決現有電子設備在進行資料測試或資料下載過程由人工作業而致效率低下、且容易出錯的問題。

為實現上述目的及其他相關目的，本發明提供一種電子設備進行自動測試的程序控制方法，包括以下步驟：利用一偵測系統偵測一電子設備載盤沿一第一傳送帶至一第一位置時，一控制系統啟動該第一傳送帶之該第一位置旁之一第一升降臺，將該電子設備載盤抬升至一第二位置，利用一取放系統依據該控制系統抓取該第二位置之該電子設備載盤至一機櫃測試系統之一機架，該電子設備載盤之一連接器電性連接該機架之一適配位上的插接器，利用該控制系統啟動一測試伺服器對該電子設備載盤進行至少一測試；利用該控制系統接收一第一指令，利用該取放系統將該電子設置載盤從所述機櫃測試系統抽出，放置於一第三位置，利用該控制系統啟動一第二傳送帶之該第三位置旁之一第二升降臺，將該電子設備載盤放置於一第四位置，或者，利用該控制系統接收一第二指令，利用該取放系統將該電子設置載盤從該機櫃測試系統抽出，放置於一第五位置，利用該控制系統啟動一第三傳送帶之 該第五位置旁之一第三升降臺，將該電子設備載盤放置於一第六位置。

本發明還提供一種電子設備進行自動測試的程序控制系統，包括一機櫃測試系統以及一控制系統，該機櫃測試系統包括一機架，該機架上設有多個適配位，各該適配位供容置一電子設備載盤進行測試，各該適配位上設有一插接器，該插接器連接於一測試伺服器，以及在該機架任一側並列設置有一第一傳送帶、一第二傳送帶及一第三傳送帶。該控制系統分別連接於一偵測系統和一取放系統以及該測試伺服器，該控制系統配置為：該偵測系統偵測該電子設備載盤沿該第一傳送帶至一第一位置時，通知該控制系統啟動該第一傳送帶之該第一位置旁之一第一升降臺，將該電子設備載盤抬升至一第二位置；該取放系統依據該控制系統抓取該第二位置之該電子設備載盤至該機櫃測試系統之該機架，該電子設備載盤之一連接器電性連接該機架之該適配位上的該插接器，該控制系統啟動該電子設備載盤並進行至少一測試；以及該控制系統接收一第一指令，該取放系統將該電子設置載盤從該機櫃測試系統抽出，放置於一第三位置，該控制系統啟動該第二傳送帶之該第三位置旁之一第二升降臺，將該電子設備載盤放置於一第四位置，或者，該控制系統接收一第二指令，該取放系統將該電子設置載盤從該機櫃測試系統抽出，放置於一第五位置，該控制系統啟動該第三傳送帶之該第五 位置旁之一第三升降臺，將該電子設備載盤放置於一第六位置。

在上述必要技術手段的基礎下，上述電子設備進行自動測試的程序控制系統還包含以下所述的較佳附屬技術手段。該偵測系統為一感應裝置。

在上述必要技術手段的基礎下，上述電子設備進行自動測試的程序控制系統還包含以下所述的較佳附屬技術手段。該第一升降臺、該第二升降臺及該第三升降臺分別為一氣缸結構，可執行頂起或降落的動作。

在上述必要技術手段的基礎下，上述電子設備進行自動測試的程序控制系統還包含以下所述的較佳附屬技術手段。該取放系統包含一XYZ向三向度結構及一托盤取放手臂結構，該托盤取放手臂結構透過在該XYZ向三向度結構上運動來確定取放該電子設備載盤的位置。

在上述必要技術手段的基礎下，上述電子設備進行自動測試的程序控制系統還包含以下所述的較佳附屬技術手段。該托盤取放手臂結構包括一臂架，該臂架的後端連接在該XYZ向三向度結構上，在該XYZ向三向度結構上進行移動，該臂架的前端連接一旋轉馬達，該旋轉馬達下方活動連接有一夾取機構，該夾取機構由一前後推動氣缸控制來沿插入或拔出該機架方向移動，該前後推動氣缸一端與該夾取機構連接，另一端與該旋轉馬達連接。

在上述必要技術手段的基礎下，上述電子設備進行自動測試的程序控制系統還包含以下所述的較佳 附屬技術手段。該夾取機構具有一兩懸臂滾輪結構，在插入或拔出該機架時候導引施力。

在上述必要技術手段的基礎下，上述電子設備進行自動測試的程序控制系統還包含以下所述的較佳附屬技術手段。該插接器包含至少一網路口及一電源口。

在上述必要技術手段的基礎下，上述電子設備進行自動測試的程序控制系統還包含以下所述的較佳附屬技術手段。該第一指令為測試OK指令，用於指示該取放系統將該電子設備載盤放入一測試OK傳送帶，該第二傳送帶為該測試OK傳送帶。

在上述必要技術手段的基礎下，上述電子設備進行自動測試的程序控制系統還包含以下所述的較佳附屬技術手段。該第二指令為測試NG指令，用於指示該取放系統將該電子設備載盤放入一測試NG傳送帶，該第三傳送帶為該測試NG傳送帶。

在上述必要技術手段的基礎下，上述電子設備進行自動測試的程序控制系統還包含以下所述的較佳附屬技術手段。該測試NG指令產生於該測試伺服器在一第一時間判斷該電子設備載盤連網超時的時候，發送一第一測試NG指令，或者該測試NG指令產生於該測試伺服器在一第二時間檢測該電子設備載盤未通過測試時，發送一第二測試NG指令，或者該測試NG指令產生於該測試伺服器在一第三時間檢測該電子設備載盤進行資料下載失敗時，發送一第三測試NG指令。

本發明還提供了一種可編程邏輯控制器(Programmable Logic Controller；PLC)，包括一存儲器以及一處理器。該存儲器，用於存儲一處理器可執行指令，該處理器配置為執行以下的該處理器可執行指令：一偵測系統偵測一電子設備載盤沿一第一傳送帶至一第一位置時，一控制系統啟動該第一傳送帶之該第一位置旁之一第一升降臺，將該電子設備載盤抬升至一第二位置，一取放系統，依據該控制系統抓取該第二位置之該電子設備載盤至一機櫃測試系統之一機架，該電子設備載盤之一連接器電性連接該機架之一適配位上的插接器，該控制系統啟動一測試伺服器對該電子設備載盤進行至少一測試；以及該控制系統接收一第一指令，該取放系統將該電子設置載盤從該機櫃測試系統抽出，放置於一第三位置，該控制系統啟動一第二傳送帶之該第三位置旁之一第二升降臺，將該電子設備載盤放置於一第四位置，或者該控制系統接收一第二指令，該取放系統將該電子設置載盤從該機櫃測試系統抽出，放置於一第五位置，該控制系統啟動一第三傳送帶之該第五位置旁之一第三升降臺，將該電子設備載盤放置於一第六位置。

如上所述，本發明具有以下有益效果：本發明通過取放系統來代替現有人工取放電子設備的過程，並且在進行測試的機架側設置多條傳送帶來將測試前後取放的電子設備載盤放入不同的傳送帶，使測試過程中電子設備的流轉分類明確，互不干擾，以此可提高測試的整體 效率，特別是在進行大規模的測試時，效率更為突出。

本發明所採用的具體實施例，將藉由以下之實施例及圖式作進一步之說明。

1‧‧‧偵測系統

2‧‧‧控制系統

3‧‧‧取放系統

31‧‧‧托盤取放手臂結構

311‧‧‧臂架

312‧‧‧旋轉馬達

313‧‧‧夾取機構

314‧‧‧前後推動氣缸

315‧‧‧感應設備

316‧‧‧傳送托盤馬達

4‧‧‧電子設備載盤

5‧‧‧第一傳送帶

51‧‧‧第一升降臺

6‧‧‧第二傳送帶

61‧‧‧第二升降臺

7‧‧‧第三傳送帶

71‧‧‧第三升降臺

8‧‧‧機櫃測試系統

81‧‧‧機架

82‧‧‧適配位

83‧‧‧插接器

84‧‧‧測試伺服器

9‧‧‧PLC控制器

91‧‧‧存儲器

92‧‧‧處理器

C‧‧‧控制傳輸路徑

S‧‧‧信號傳輸路徑

T‧‧‧通信路徑

第一圖為本發明一種電子設備進行自動測試的程序控制系統在一實施例中的原理示意圖。

第二圖為第一圖中取放系統之托盤取放手臂結構在一實施例中的原理圖。

第三圖為本發明一種電子設備進行自動測試的程序控制方法的流程圖。

第四圖為本發明一種可編程邏輯控制器的原理圖。

以下由特定的具體實施例說明本發明的實施方式，熟悉此技術的人士可由本說明書所揭露的內容輕易地瞭解本發明的其他優點及功效。

須知，本說明書所附圖式所繪示的結構、比例、大小等，均僅用以配合說明書所揭示的內容，以供熟悉此技術的人士瞭解與閱讀，並非用以限定本發明可實施的限定條件，故不具技術上的實質意義，任何結構的修飾、比例關係的改變或大小的調整，在不影響本發明所能產生的功效及所能達成的目的下，均應仍落在本發明所揭 示的技術內容得能涵蓋的範圍內。同時，本說明書中所引用的如“上”、“下”、“左”、“右”、“中間”及“一”等的用語，亦僅為便於敍述的明瞭，而非用以限定本發明可實施的範圍，其相對關係的改變或調整，在無實質變更技術內容下，當亦視為本發明可實施的範疇。

見第一圖，本實施例提供了一種電子設備進行自動測試的程序控制系統，用於對電子設備上/下架執行資料測試或資料下載的過程進行自動化控制，如圖所示，該程序控制系統包括：機櫃測試系統8，包括機架81，設有多個供容置一電子設備載盤4進行測試的適配位82，各適配位82上設有插接器83，該插接器83連接於測試伺服器84；以及在機櫃測試系統8之機架81任一側並列設置有第一傳送帶5、第二傳送帶6及第三傳送帶7；控制系統2，分別連接於一偵測系統1和一取放系統3以及測試伺服器84，該控制系統2被配置為：偵測系統1，偵測電子設備載盤4沿第一傳送帶5至第一位置時，通知控制系統2啟動該第一傳送帶5之該第一位置旁之一第一升降臺51，將該電子設備載盤4抬升至第二位置；取放系統3，依據該控制系統2抓取該第二位置之該電子設備載盤4至機櫃測試系統8之機架81，該電子設備載盤4之一連接器電性連接該機架81之一插接器83，該控制系統2啟動該電子設備載盤4並進行至少一測試；以及該控制系統2接收一第一指令，該取放系統3將該電子設置載盤從該機櫃測試系統8抽出，放置於一第三位置，該控制系統2啟動第二傳送帶6之該第三位置旁之一第 二升降臺61，將該電子設備載盤4放置於一第四位置，或者，該控制系統2接收一第二指令，該取放系統3將該電子設置載盤從該機櫃測試系統8抽出，放置於一第五位置，該控制系統2啟動第三傳送帶7之該第五位置旁之一第三升降臺71，將該電子設備載盤4放置於一第六位置。

上述程序控制系統中，透過偵測系統1來探測第一傳送帶5上是否有需要進行測試的電子設備載盤4送入，取放系統3負責抓取該需要進行測試的電子設備載盤4，並將其自動放入機櫃測試系統8之機架81一適配位82上進行測試；同時，還會依據測試的結果來將機架81之適配位元82上的電子設備載盤4抽出，並將其放入對應的傳送帶上予以送出。上述過程包含了電子設備載盤4的上架過程和下架過程，這些過程都是透過上述各系統的協作來予以自動化實現，而且電子設備載盤4在上架或下架過程中都是經由專門的傳送帶來予以傳輸，彼此之間互不干擾，因此整個自動控制過程的效率極高。

在一具體實施例中，第一傳送帶5可以作為一待測傳送帶來專門傳送需要進行測試的電子設備載盤4，相應地，偵測系統1偵測到有電子設備載盤4沿第一傳送帶5到達第一位置時，會通知控制系統2啟動設置在第一傳送帶5之該第一位置旁之第一升降臺51將該電子設備載盤4抬升至第二位置，為抓取電子設備載盤4至機架81上的適配位82做好準備。

其中，上述第一位置為待測傳送帶上之升 降位，第二位置為待測傳送帶上之待取位，電子設備載盤4被第一升降臺51從第一位置抬升至第二位置，這樣電子設備載盤4可以脫離第一傳送帶5，到達等待抓取系統抓取的位置，這樣做的目的在於可以讓第一傳送帶5上其他的電子設備載盤4繼續通過第一位置，在電子設備載盤4在等待被抓取的期間不會對後面的電子設備載盤4造成干擾，實際中，第一傳送帶5上可以有多個升降臺，這樣可以使得在有電子設備載盤4通過一個正在被佔用的升降臺時不用停留，可以繼續沿第一傳送帶5流向下一個空閒的升降臺，進而保證了測試的效率。

此外，上述第二傳送帶6可以作為一測試OK傳送帶，用於專門傳送測試OK的電子設備載盤4。基於此，上述第一指令為測試OK指令，控制系統在接收到該測試OK指令時，啟動抓取系統將電子設備載盤4放入測試OK傳送帶予以送出。

具體來說，測試OK指令一般為整個測試成功結束時，由測試伺服器84發出。

同理，上述第三傳送帶7可以作為一測試NG傳送帶，用於專門傳送測試NG的電子設備載盤4。基於此，上述第二指令為測試NG指令，控制系統在接收到該測試NG指令時，啟動抓取系統將電子設備載盤4放入測試NG傳送帶予以送出。

具體地，測試NG指令一般為測試失敗時發出，在一實際應用中，測試過程可以三個判斷步驟：在第 一時間進行連網超時判斷，在第二時間進行運行測試檢測，在第三時間進行資料下載檢測。只要上述任一步驟判斷結果為否定的，那麼都可由測試伺服器84發出一測試NG指令。

例如，該測試伺服器在第一時間判斷該電子設備載盤連網超時，發送一第一該測試NG指令；還可以為該測試伺服器在第二時間檢測該電子設備載盤未通過測試時，發送該一第二測試NG指令；以及還可以為該測試伺服器在第三時間檢測該電子設備載盤進行資料下載失敗時，發送該一第三測試NG指令。

具體來說，每條傳送帶上設置至少一升降臺，例如，第一傳送帶之該第一位置旁設有第一升降臺，第二傳送帶之該第三位置旁設有第二升降臺，第三傳送帶之該第五位置旁設有第三升降臺。其中，上述第三位置為測試OK傳送帶之待取位，上述第四位置為測試OK傳送帶之升降位，上述第五位置為測試NG傳送帶之待取位，上述第六位置為測試NG傳送帶之升降位。

在一具體實施例中，上述升降臺可以為一氣缸機構，執行頂起或降落的動作。對應於上述待取位和升降位來說，在氣缸機構執行定頂起動作後所處位置即為待取位，在氣缸機構執行定降落動作後所處位置即為升降位。

在一具體實施例中，該偵測系統1為設置於各升降臺旁的感應裝置，具體可以為感測器。

在一具體實施中，該取放系統3設置在各傳送帶上方，取放系統3具體可以包含一XYZ向三向度結構及一托盤取放手臂結構，根據該XYZ向三向度結構，該取放系統3可以在空間的X、Y、Z方向上進行移動，透過這種移動，取放系統3可以定位至機架81上的任一位置，以利於將電子設備準確的放入機架81或抽出機架81。另外，該托盤取放手臂結構可以將電子設備載盤4放入機架81或抽出機架81。

具體來說，見第二圖，托盤取放手臂結構31可以這樣來實施：托盤取放手臂結構31包括一臂架311，該臂架311的後端連接在該XYZ向三向度結構上，在該XYZ向三向度結構上進行移動，該臂架311的前端連接一旋轉馬達312，該旋轉馬達312下端連接有一夾取機構313，該夾取機構313上方連接有可沿電子設備推入/抽出機架方向移動的一前後推動氣缸314，在夾取機構313之電子設備推入/抽出機架方向的兩側至少各設有一傳送托盤馬達316，以及在夾取機構313之電子設備推入/抽出機架方向的前、後端各設有一感應裝置315。

詳細來說，結合第二圖，夾取機構313為一兩懸臂滾輪結構，兩懸臂滾輪結構由一氣缸控制來實現張開或收攏的動作，在抓取電子設備載盤時，先由氣缸將該兩懸臂滾輪結構張開來將該電子設備載盤包圍，然後再由該氣缸將該兩懸臂滾輪結構收攏來夾緊該電子設備載盤。

在具體實施例中，結合夾取機構313上的傳 送托盤馬達316，該傳送托盤馬達316可以為連接有一滾輪的電動馬達，該滾輪與該兩懸臂滾輪結構並列設置。由於該滾輪和兩懸臂滾輪結構都與電子設備載盤邊緣接觸，在傳送托盤馬達316啟動時會帶動電子設備載盤邊緣在該兩懸臂滾輪結構之間運動，即該兩懸臂滾輪結構在插入或拔出機架時候導引施力。

基於上述托盤取放手臂結構31，可以這樣來實施將電子設備載盤放入機架上適配位的過程：透過托盤取放手臂結構31上的夾取機構313來抓取位於待取的電子設備載盤，並透過XYZ向三向度結構來將該電子設備載盤運送至機架上一指定座標位置的適配位，此時，透過臂架311上旋轉馬達312對夾取機構313進行旋轉來將電子設備載盤正對該適配位，接著夾取機構313上方的前後推動氣缸314向該適配位方向推動夾取機構313，同時夾取機構313上的傳送托盤馬達316開始工作，以此配合來將電子設備載盤緩緩送入該適配位中，在夾取機構313前端的感應設備探測不到電子設備載盤時，表示已經完全將電子設備載盤送入該適配位中，然後前後推動氣缸314向相反方向推回夾取機構313，並停止旋轉馬達312工作，至此完成電子設備載盤放入機架的過程，以進入下一工作過程。

同理，基於上述托盤取放手臂結構31，如果要將電子設備載盤抽出機架，那麼按照上述放入過程相反的步驟操作即可，不同之處在於，在抽出過程是由夾取機構313後端的感應設備探測電子設備載盤是否已經完全 抽出該適配位，其餘重複之處，不予贅述。

在一具體實施例中，上述該機櫃測試系統之機架上的適配位上設有供電子設備載盤導入的導向結構，該導向機構可以為一導槽。

另外，在適配位上的插接器上包含至少一網路口及一電源口。

根據本發明的另一方面，基於上述程序控制系統，在本實施例中還提供了一種電子設備進行測試的程序控制方法，見第三圖，該程序控制方法包括：

S101，電子設備上架的控制過程：利用偵測系統偵測電子設備載盤沿第一傳送帶至第一位置時，利用控制系統啟動該第一傳送帶之該第一位置旁之第一升降臺，將該電子設備載盤抬升至第二位置，以及利用取放系統依據該控制系統抓取該第二位置之該電子設備載盤至機櫃測試系統之機架，該電子設備載盤之連接器電性連接該機架之插接器，利用該控制系統啟動該電子設備載盤並進行至少一測試。

S102，電子設備下架的控制過程：利用該控制系統接收一第一指令，該取放系統將該電子設置載盤從該機櫃測試系統抽出，放置於第三位置，利用該控制系統啟動第二傳送帶之該第三位置旁之第二升降臺，將該電子設備載盤放置於第四位置，或者，利用該控制系統接收一第二指令， 該取放系統將該電子設置載盤從該機櫃測試系統抽出，放置於第五位置，利用該控制系統啟動第三傳送帶之該第五位置旁之第三升降臺，將該電子設備載盤放置於第六位置。

根據上述程序控制方法，在偵測系統、取放系統及控制系統的協作控制下，可以將電子設備載盤(其上裝載有電子設備)送入機櫃測試系統的機架進行自動測試，並可以依據測試的結果將該電子設備從機架上抽出並送入對應的傳送帶上，予以送出，從而實現整個測試過程的自動化控制，提高測試效率。

考慮到本實施例中技術方案是基於上述實施例提出的，故涉及重複的技術內容，在此不做贅述。

進一步地，根據本發明的又一方面，上述各實施例中的控制過程在實際應用中可以由一現場的可編程邏輯控制器(Programmable Logic Controller；PLC)來執行，故本實施例提供了一種可編程邏輯控制器，見第四圖，該PLC控制器9包括一存儲器91以及一處理器92。該存儲器91用於儲存一處理器可執行指令，該處理器92配置為用於執行以下的該處理器可執行指令：偵測系統偵測電子設備載盤沿第一傳送帶至第一位置時，通知控制系統啟動該第一傳送帶之該第一位置旁之第一升降臺，將該電子設備載盤抬升至第二位置；取放系統，依據該控制系統抓取該第二位置之該電子設備載盤至機櫃測試系統之機架，該電子設備載盤之連接器電性連接該機架之插接器，該控制系統啟動一測試伺服器對該電子設備載盤並進行至少一測 試；以及該控制系統接收第一指令，該取放系統將該電子設置載盤從該機櫃測試系統抽出，放置於第三位置，該控制系統啟動第二傳送帶之該第三位置旁之第二升降臺，將該電子設備載盤放置於第四位置，或者，該控制系統接收一第二指令，該取放系統將該電子設置載盤從該機櫃測試系統抽出，放置於第五位置，該控制系統啟動第三傳送帶之該第五位置旁之第三升降臺，將該電子設備載盤放置於第六位置。

根據上述可編程邏輯控制器，透過對偵測系統、取放系統進行控制，可以將電子設備載盤(其上裝載有電子設備)送入機櫃測試系統的機架進行自動測試，並可以依據測試的結果將該電子設備從機架上抽出並送入對應的傳送帶上，予以送出，從而實現整個測試過程的自動化控制，提高測試效率。

綜合以上所述，本發明透過取放系統來代替現有人工取放電子設備的過程，並且在進行測試的機架側設置多條傳送帶來將測試前後取放的電子設備載盤放入不同的傳送帶，使測試過程中電子設備的流轉分類明確，互不干擾，以此可提高測試的整體效率，特別是在進行大規模的測試時，效率更為突出。所以，本發明有效克服了現有技術中的種種缺點而具高度產業利用價值。

上述實施例僅例示性說明本發明的原理及其功效，而非用於限制本發明。任何熟悉此技術的人士皆可在不違背本發明的精神及範疇下，對上述實施例進行修 飾或改變。因此，舉凡所屬技術領域中具有通常知識者在未脫離本發明所揭示的精神與技術思想下所完成的一切等效修飾或改變，仍應由本發明的權利要求所涵蓋。

Claims (12)

1. 一種電子設備進行自動測試的程序控制方法，包括以下步驟：利用一偵測系統偵測一電子設備載盤沿一第一傳送帶至一第一位置時，利用一控制系統啟動該第一傳送帶之該第一位置旁之一第一升降臺，將該電子設備載盤抬升至一第二位置；利用一取放系統依據該控制系統抓取該第二位置之該電子設備載盤至一機櫃測試系統之一機架，該電子設備載盤之一連接器電性連接該機架之一適配位上的插接器，利用該控制系統啟動一測試伺服器對該電子設備載盤進行至少一測試；以及在該控制系統接收一第一指令時，利用該取放系統將該電子設置載盤從該機櫃測試系統抽出，放置於一第三位置，利用該控制系統啟動一第二傳送帶之該第三位置旁之一第二升降臺，將該電子設備載盤放置於一第四位置；在該控制系統接收一第二指令時，利用該取放系統將該電子設置載盤從該機櫃測試系統抽出，放置於一第五位置，利用該控制系統啟動一第三傳送帶之該第五位置旁之一第三升降臺，將該電子設備載盤放置於一第六位置。
2. 一種電子設備進行自動測試的程序控制系統，包括： 一機櫃測試系統，包括一機架，該機架上設有多個適配位，各該適配位供容置一電子設備載盤進行測試，各該適配位上設有一插接器，該插接器連接於一測試伺服器，以及在該機架任一側並列設置有一第一傳送帶、一第二傳送帶及一第三傳送帶；以及一控制系統，分別連接於一偵測系統和一取放系統以及該測試伺服器，該控制系統配置為：該偵測系統偵測該電子設備載盤沿該第一傳送帶至一第一位置時，通知該控制系統啟動該第一傳送帶之該第一位置旁之一第一升降臺，將該電子設備載盤抬升至一第二位置；該取放系統依據該控制系統抓取該第二位置之該電子設備載盤至該機櫃測試系統之該機架，該電子設備載盤之一連接器電性連接該機架之該適配位上的該插接器，該控制系統啟動一測試伺服器對該電子設備載盤並進行至少一測試；其中，在該控制系統接收一第一指令時，該取放系統將該電子設置載盤從該機櫃測試系統抽出，放置於一第三位置，該控制系統啟動該第二傳送帶之該第三位置旁之一第二升降臺，將該電子設備載盤放置於一第四位置；在該控制系統接收一第二指令時，該取放系統將該電子設置載盤從該機櫃測試系統抽出，放置於一第五位置，該控制系統啟動該第三傳送帶之該第五位置旁之一第三升降臺，將該電子設備載盤放置於一第六位置。
3. 如申請專利範圍第2項所述的電子設備進行自動測試的程序控制系統，其中，該偵測系統為一感應裝置。
4. 如申請專利範圍第2項所述的電子設備進行自動測試的程序控制系統，其中，該第一升降臺、該第二升降臺及該第三升降臺分別為一氣缸結構，用以執行頂起或降落的動作。
5. 如申請專利範圍第2項所述的電子設備進行自動測試的程序控制系統，其中，該取放系統包含一XYZ向三向度結構及一托盤取放手臂結構，該托盤取放手臂結構透過在該XYZ向三向度結構上運動來確定取放該電子設備載盤的位置。
6. 如申請專利範圍第5項所述的電子設備進行自動測試的程序控制系統，其中，該托盤取放手臂結構包括一臂架，該臂架的後端連接在該XYZ向三向度結構上，在該XYZ向三向度結構上進行移動，該臂架的前端連接一旋轉馬達，該旋轉馬達下方活動連接有一夾取機構，該夾取機構由一前後推動氣缸控制來沿插入或拔出該機架方向移動，該前後推動氣缸一端與該夾取機構連接，另一端與該旋轉馬達連接。
7. 如申請專利範圍第6項所述的電子設備進行自動測試的程序控制系統，其中，該夾取機構具有一兩懸臂滾輪結構，在插入或拔出該機架時導引施力。
8. 如申請專利範圍第2項所述的電子設備進行自動測試的程序控制系統，其中，該插接器包含至少一網路口及一電源口。
9. 如申請專利範圍第2-8項任一所述的電子設備進行自動測試的程序控制系統，其中，該第一指令為測試OK指令，用於指示該取放系統將該電子設備載盤放入一測試OK傳送帶，該第二傳送帶為該測試OK傳送帶。
10. 如申請專利範圍第9項所述的電子設備進行自動測試的程序控制系統，其中，該第二指令為測試NG指令，用於指示該取放系統將該電子設備載盤放入一測試NG傳送帶，該第三傳送帶為該測試NG傳送帶。
11. 如申請專利範圍第10項所述的電子設備進行自動測試的程序控制系統，其中，該測試NG指令產生於該測試伺服器在一第一時間判斷該電子設備載盤連網超時時，發送一第一測試NG指令；該測試NG指令產生於該測試伺服器在一第二時間檢測 該電子設備載盤未通過測試時，發送一第二測試NG指令；該測試NG指令產生於該測試伺服器在一第三時間檢測該電子設備載盤進行資料下載失敗時，發送一第三測試NG指令。
12. 一種執行電子設備進行自動測試的程序控制系統之可編程邏輯控制器(Programmable Logic Controller；PLC)，包括：一存儲器，用於存儲一處理器可執行指令；以及一處理器，配置為執行以下的該處理器可執行指令：一偵測系統偵測一電子設備載盤沿一第一傳送帶至一第一位置時，一控制系統啟動該第一傳送帶之該第一位置旁之一第一升降臺，將該電子設備載盤抬升至一第二位置，一取放系統依據該控制系統抓取該第二位置之該電子設備載盤至一機櫃測試系統之一機架，該電子設備載盤之一連接器電性連接該機架之一適配位上的插接器，該控制系統啟動一測試伺服器對該電子設備載盤進行至少一測試；其中，在該控制系統接收一第一指令時，該取放系統將該電子設置載盤從該機櫃測試系統抽出，放置於一第三位置，該控制系統啟動一第二傳送帶之該第三位置旁之一第二升降臺，將該電子設備載盤放置於一第四位置；在該控制系統接收一第二指令時，該取放系統 將該電子設置載盤從該機櫃測試系統抽出，放置於一第五位置，該控制系統啟動一第三傳送帶之該第五位置旁之一第三升降臺，將該電子設備載盤放置於一第六位置。