TWI597503B - 探針卡 - Google Patents

Description

探針卡

本發明係有關一種電性檢測裝置，尤指一種探針卡。

探針卡係以其探針接觸晶片或封裝件等電子元件的電性接點，以測試電子元件之電路是否正常。目前探針卡之種類繁多，包含有垂直式探針卡及懸臂式探針卡，例如我國專利第200700729號、第200938848號及第97110223號所揭露之探針卡。

如第1圖所示，習知探針卡1係包括一電路板10、一貫穿該電路板10之觀測口100、一固設於該觀測口100周圍之環狀座11、以黏著材12結合至該環狀座11相對兩側邊11a,11b上之複數探針13，且該些探針13之其中一端部13a結合至該電路板10上以電性連接該電路板10，而另一端部13b則用以接觸欲檢測之電子元件之電性接點。

於使用該探針卡1進行電子元件(圖略)之電性測試時，係將該些探針13接觸該電子元件上之電性接點，再透過該觀測口100觀測該些探針13與該些電性接點之情況。

惟，習知探針卡1中，由於該環狀座11之相對兩側邊11a,11b之距離d係為定值，亦即無法改變該兩側邊11a,11b 之距離d，故佈設於該兩側邊11a,11b上之探針13間的距離d亦無法改變，以致於習知探針卡1只能測試單一種電性接點範圍規格的電子元件，而無法測試多種電性接點範圍規格之電子元件；亦即，若需測試不同電性接點範圍規格的電子元件，則需使用不同規格的探針卡1(例如，配置不同尺寸大小的環狀座11)，但此方式需製作多種規格的探針卡1，因而造成測試成本的增加。

因此，如何克服上述習知技術的問題，實已成目前亟欲解決的課題。

鑑於上述習知技術之種種缺失，本發明係提供一種探針卡，係包括：板件；第一支撐部，係設於該板件上；第二支撐部，係設於該板件上，且該第一支撐部與該第二支撐部能相對位移；以及探針部，係設於該第一支撐部與第二支撐部上。

前述之探針卡中，該板件為絕緣板體，以結合於一電路板上，且供該探針部電性連接該電路板之線路；或者，該板材可整合於一電路板中，即該板件屬於該電路板之一部分。

前述之探針卡中，該第一支撐部係可位移地設於該板件上。例如，該第二支撐部係固定地設於該板件上；或者，該第二支撐部係可位移地設於該板件上，且該第二支撐部之位移方式係與該第一支撐部之位移方式相同。

前述之探針卡中，該第一支撐部係藉由滑動結構設於 該板件上。

前述之探針卡中，該板件上設有軌道，以令該第一支撐部沿該軌道位移。例如，該第一支撐部係藉由導引件接合該軌道以沿該軌道位移。

前述之探針卡中，該探針部係包含複數探針及供該探針結合至該第一支撐部及第二支撐部之絕緣材。

前述之探針卡中，該板件上設有至少一觀測口可供進行探針卡與測試機台之定位及探針之檢視。

由上可知，本發明之探針卡，主要藉由該第一支撐部與該第二支撐部能相對位移，以調整該第一支撐部與該第二支撐部之間的距離，而能依需求調整該些探針之佈設範圍，故相較於習知技術，本發明之探針卡能測試多種電性接點範圍規格的電子元件，而無需額外製作多種規格的探針卡，因而能降低測試成本。

1,2,3‧‧‧探針卡

10‧‧‧電路板

100,200,200’‧‧‧觀測口

11‧‧‧環狀座

11a,11b‧‧‧側邊

12‧‧‧黏著材

13,230‧‧‧探針

13a,13b‧‧‧端部

20‧‧‧板件

21‧‧‧第一支撐部

22,32‧‧‧第二支撐部

23a,23b‧‧‧探針部

231‧‧‧絕緣材

24‧‧‧滑動結構

240‧‧‧軌道

241‧‧‧導引件

25‧‧‧鎖固件

A,B‧‧‧箭頭方向

d,t,t’‧‧‧距離

第1圖係習知探針卡的平面示意圖；第2A圖係本發明之探針卡之側視示意圖；第2A’圖係第2A圖之探針卡省略探針部之下視平面圖；第2B圖係第2A圖之探針卡於調整時之側視示意圖；第2B’圖係第2B圖之探針卡省略探針部之下視平面圖；以及第3圖係本發明之探針卡省略探針部之另一實施例之下視平面圖。

以下藉由特定的具體實施例說明本發明之實施方式，熟悉此技藝之人士可由本說明書所揭示之內容輕易地瞭解本發明之其他優點及功效。

須知，本說明書所附圖式所繪示之結構、比例、大小等，均僅用以配合說明書所揭示之內容，以供熟悉此技藝之人士之瞭解與閱讀，並非用以限定本發明可實施之限定條件，故不具技術上之實質意義，任何結構之修飾、比例關係之改變或大小之調整，在不影響本發明所能產生之功效及所能達成之目的下，均應仍落在本發明所揭示之技術內容得能涵蓋之範圍內。同時，本說明書中所引用之如“上”、“第一”、“第二”、及“一”等之用語，亦僅為便於敘述之明瞭，而非用以限定本發明可實施之範圍，其相對關係之改變或調整，在無實質變更技術內容下，當亦視為本發明可實施之範疇。

如第2A及2A’圖所示，本發明之探針卡2係包括：一板件20、一第一支撐部21、一第二支撐部22以及兩組探針部23a,23b。

所述之板件20係具有至少一觀測口200。於本實施例中，該板件20為絕緣板體，其可結合組裝(例如黏貼)於一電路板(圖略)上，以供該探針部23a,23b電性連接該電路板之線路；或者，該板件20可整合於一電路板(圖略)中，即該板件20屬於該電路板之一部分，例如該板件20位於該電路板之中心部分。

所述之第一支撐部21係可位移地設於該板件20上。於本實施例中，該第一支撐部21係例如為條桿狀陶瓷體，且該第一支撐部21係藉由滑動結構24設於該板件20上。

再者，該滑動結構24係例如由軌道240與導引件241所構成。具體地，於該板件20上設有該軌道240，且該導引件241固定於該第一支撐部21上並接合該軌道240，以令該第一支撐部21藉由該導引件241而沿該軌道240位移，其中，該軌道240係例如為凹槽，且該導引件241係例如為包含螺桿及螺帽之螺栓組件，使該導引件241之螺桿一端接合於該軌道240中並以螺帽鎖固該螺桿一端以防止該導引件241脫離該軌道240，而該導引件241之螺桿另一端(如第2A’圖所示)係固定於該第一支撐部21上，並藉由該螺帽之鎖固而使該第一支撐部21可固定於該凹槽中之任意位置。

應可理解地，有關該滑動結構24之種類繁多，並不限於上述。

所述之第二支撐部22係設於該板件20上，且該第一支撐部21與該第二支撐部22能相對位移。於本實施例中，該第二支撐部22係固定地設於該板件20上，例如，該第二支撐部22藉由鎖固件25固定於該板件20上，其中，該鎖固件25係例如為螺栓組件。應可理解地，有關使該第二支撐部22固定於該板件20上之方式繁多，如黏貼或其它方式。

再者，該第二支撐部22係為條桿狀陶瓷體，其構造與 該第一支撐部21之構造相同。或者，該第一支撐部21之構造與該第二支撐部22之構造亦可不相同。

應可理解地，有關使該第一支撐部21與該第二支撐部22相對位移之方式繁多，並不限於上述該滑動結構24之方式。

所述之探針部23a,23b係分別設於該第一支撐部21與第二支撐部22上。

於本實施例中，該探針部23a,23b係包含複數探針230、及用以將該些探針230結合至該第一支撐部21及第二支撐部22上之絕緣材231，且形成該絕緣材231之材質係例如為環氧樹脂(epoxy)以黏固該些探針230於該第一支撐部21及第二支撐部22上，另該探針230可為垂直式探針或懸臂式探針，以於測試電子元件之電路時，該探針230以第2A圖所示之箭頭方向A接觸電子元件之電性接點，再者，該探針230係電性連接該板件20外圍之電路板之線路。

於使用該探針卡2對第一種規格(電性接點範圍較大)的電子元件進行電性測試時，如第2A圖所示，係將該探針230接觸該第一種規格之電子元件上的電性接點，同時透過位於鄰近該第二支撐部22之觀測口200及位於鄰近該第一支撐部21之觀測口200’進行測試機台之定位及觀測該些探針230與該些電性接點之情況。若使用該探針卡2對第二種規格(電性接點範圍較小)的電子元件進行電性測試時，如第2B及2B’圖所示，先朝該第二支撐部22之 方向(如第2A圖所示之箭頭方向B)移動該第一支撐部21，以調整(縮小)該第一支撐部21與該第二支撐部22之間的距離t’，使該些探針230之佈設範圍縮小，之後再將該探針230接觸該第二種規格之電子元件上的電性接點。

於另一實施例中，如第3圖所示之探針卡3，該第二支撐部32與該第一支撐部21均可位移地設於該板件20上，使該第一支撐部21與該第二支撐部32能相對位移。例如，該第二支撐部32之位移方式可與該第一支撐部21之位移方式相同，亦即該第二支撐部32藉由滑動結構24設於該板件20上。

應可理解地，該第二支撐部32之位移方式亦可與該第一支撐部21之位移方式不相同。

綜上所述，本發明之探針卡2,3係藉由該第一支撐部21與該第二支撐部22,32能相對位移，以調整該第一支撐部21與該第二支撐部22,32之間的距離t,t’，而能依需求調整該些探針230之佈設範圍，故相較於習知技術，本發明之探針卡2,3能測試多種電性接點範圍規格的預定測試件(如晶片或封裝件等電子元件)，而無需額外製作多種規格的探針卡，因而能降低測試成本。

上述實施例係用以例示性說明本發明之原理及其功效，而非用於限制本發明。任何熟習此項技藝之人士均可在不違背本發明之精神及範疇下，對上述實施例進行修改。因此本發明之權利保護範圍，應如後述之申請專利範 圍所列。

2‧‧‧探針卡

20‧‧‧板件

200‧‧‧觀測口

21‧‧‧第一支撐部

22‧‧‧第二支撐部

23a,23b‧‧‧探針部

230‧‧‧探針

231‧‧‧絕緣材

240‧‧‧軌道

A,B‧‧‧箭頭方向

Claims (15)

1. 一種探針卡，係包括：板件；第一支撐部，係設於該板件上；第二支撐部，係設於該板件上，且該第一支撐部與該第二支撐部能相對位移，以調整該第一支撐部與該第二支撐部之間的距離；以及探針部，係設於該第一支撐部與第二支撐部上。
2. 如申請專利範圍第1項所述之探針卡，其中，該第一支撐部係可位移地設於該板件上。
3. 如申請專利範圍第2項所述之探針卡，其中，該第二支撐部係固定地設於該板件上。
4. 如申請專利範圍第2項所述之探針卡，其中，該第二支撐部係可位移地設於該板件上。
5. 如申請專利範圍第4項所述之探針卡，其中，該第二支撐部之位移方式係與該第一支撐部之位移方式相同。
6. 如申請專利範圍第2項所述之探針卡，其中，該第一支撐部係藉由滑動結構設於該板件上。
7. 如申請專利範圍第2項所述之探針卡，其中，該板件上設有軌道，以令該第一支撐部沿該軌道位移。
8. 如申請專利範圍第7項所述之探針卡，其中，該第一支撐部係藉由導引件接合該軌道以令該第一支撐部沿該軌道位移。
9. 如申請專利範圍第8項所述之探針卡，其中，該導引件 係為包含有螺桿及螺帽之螺栓組件。
10. 如申請專利範圍第8項所述之探針卡，其中，該軌道係為設於該板件上之凹槽。
11. 如申請專利範圍第1項所述之探針卡，其中，該探針部係包含複數探針及供該探針結合至該第一支撐部及第二支撐部之絕緣材。
12. 如申請專利範圍第1項所述之探針卡，其中，該板材結合於一電路板上。
13. 如申請專利範圍第1項所述之探針卡，其中，該板材整合於一電路板中。
14. 如申請專利範圍第12或13項所述之探針卡，其中，該探針部電性連接至該電路板。
15. 如申請專利範圍第1項所述之探針卡，復包括設於該板材上之至少一觀測口。