TWI596535B - 觸控面板裝置、控制裝置及控制方法 - Google Patents

觸控面板裝置、控制裝置及控制方法 Download PDF

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TWI596535B
TWI596535B TW100142334A TW100142334A TWI596535B TW I596535 B TWI596535 B TW I596535B TW 100142334 A TW100142334 A TW 100142334A TW 100142334 A TW100142334 A TW 100142334A TW I596535 B TWI596535 B TW I596535B
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Description

觸控面板裝置、控制裝置及控制方法
本發明主張2010年11月19日申請之JP2010-259170之優先權、亦引用其之全部內容。
實施形態係關於電阻膜式(resistive)觸控面板。
具備隔開間隙而被上下重疊之2片電阻膜的觸控面板為習知。各電阻膜係於對向之端邊具備端子。2片電阻膜係以端子彼此呈正交的方式被重疊。藉由觸控而使電阻膜彼此接觸時、端子電壓會變化。依據該端子電壓可以算出1點被觸控時之輸入座標。
2點被觸控時端子間之電阻值會減少，因此依據該電阻值之變化，可以判斷為1點觸控或者2點觸控。另外，判斷為2點觸控時，依據該電阻值之變化可以算出2點間之距離。
另外，電阻膜式觸控面板之中，2點觸控時算出彼等2點之輸入座標之手法為習知。藉由2點之輸入座標之算出，可以彼等作為有意義之輸入資訊而活用。
本發明欲解決之課題為，提供在電阻膜式觸控面板中，2點被觸控時可以算出彼等2點之輸入座標的觸控面板裝置、控制裝置及控制方法。
依據實施形態，控制裝置係用於控制第1電阻膜與第2電阻膜以被觸控位置之上述電阻膜彼此呈接觸的方式隔開間隔而被重疊的觸控面板者，該第1電阻膜，係在對向之端邊具備第1端子及第2端子，該第2電阻膜，係在和上述對向之端邊呈正交的對向端邊具有第3端子及第4端子：具備：施加部，用於在第1時序對上述第1端子與上述第2端子之間施加電壓；測定部，用於在上述第1時序分別測定上述第3端子及上述第4端子之電壓；及算出部，其依據在上述第1時序所測定之上述第3端子及上述第4端子之電壓，求出上述觸控面板被施加2點觸控時之上述2點間之位置關係。
依據另一實施形態，觸控面板裝置係具備：觸控面板，其為第1電阻膜與第2電阻膜以被觸控位置之上述電阻膜彼此呈接觸的方式隔開間隔而被重疊者，該第1電阻膜，係在對向之端邊具備第1端子及第2端子，該第2電阻膜，係在和上述對向之端邊呈正交的對向端邊具有第3端子及第4端子：施加部，用於在第1時序對上述第1端子與上述第2端子之間施加電壓；測定部，用於在上述第1時序分別測定上述第3端子及上述第4端子之電壓；及算出部，其依據在上述第1時序所測定之上述第3端子及上述第4端子之電壓，求出上述觸控面板被施予2點觸控時之上述2點間之位置關係。
另外，依據另一實施形態之控制方法，係用於控制第1電阻膜與第2電阻膜以被觸控位置之上述電阻膜彼此呈接觸的方式隔開間隔而被重疊的觸控面板者，該第1電阻膜，係在對向之端邊具備第1端子及第2端子，該第2電阻膜，係在和上述對向之端邊呈正交的對向端邊具有第3端子及第4端子：包含：在第1時序對上述第1端子與上述第2端子之間施加電壓；在上述第1時序分別測定上述第3端子及上述第4端子之電壓；依據在上述第1時序所測定之上述第3端子及上述第4端子之電壓，求出上述觸控面板被施加2點觸控時之上述2點間之位置關係。
依據上述構成之觸控面板裝置、控制裝置及控制方法，在電阻膜式觸控面板中被施予2點觸控時彼等2點之輸入座標可以被算出。
以下參照圖面說明實施形態。
依據實施形態，控制裝置係用於控制第1電阻膜與第2電阻膜以被觸控位置之上述電阻膜彼此呈接觸的方式隔開間隔而被重疊的觸控面板者，該第1電阻膜，係在對向之端邊具備第1端子及第2端子，該第2電阻膜，係在和上述對向之端邊呈正交的對向端邊具有第3端子及第4端子。施加部，係在第1時序對上述第1端子與上述第2端子之間施加電壓。測定部，係在上述第1時序分別測定上述第3端子及上述第4端子之電壓。算出部，係依據在上述第1時序所測定之上述第3端子及上述第4端子之電壓，求出上述觸控面板被施加2點觸控時之上述2點間之位置關係。
(第1實施形態)
如圖7所示，第1實施形態之4線式電阻膜方式之觸控面板裝置，係包含觸控面板100及控制裝置110。控制裝置110，係包含電壓施加部101、電壓測定部102、位置關係判定部103、距離算出部104、中心座標算出部105及輸入座標算出部106。亦可將位置關係判定部103、距離算出部104、中心座標算出部105及輸入座標算出部106之一部分或全部統合設為1個算出部。本實施形態之觸控面板裝置，例如可以作為POS(point-of-sale system；販売時點管理系統)端末、個人電腦等各種資訊處理裝置中之輸入裝置使用。
控制裝置110，係可以藉由半導體裝置(例如微控制器、邏輯電路等)來實現其之一部分或全部。控制裝置110，係具有包含檢測2點之輸入座標的觸控面板100之控制機能。
觸控面板100之一例如圖1所示。觸控面板100，係具備隔開間隙而被上下重疊的2片電阻膜RF1，RF2。電阻膜RF1，係於對向之端邊具備端子T1及端子T2。電阻膜RF2，係於對向之端邊具備端子T3及端子T4。2片電阻膜RF1，RF2，係以端子T1，T2與端子T3，T4呈交叉的方式被重疊。以下說明中為求簡單化，而將x軸定義為對端子T1及端子T2之正交方向，將y軸定義為對於端子T3及端子T4之正交方向。另外，定義為由端子T2起越接近端子T1則x座標值變為增大，由端子T4起越接近端子T3則y座標值變為增大。
端子T1及端子T3，係分別連接於電壓施加用之節點P1及節點P3。端子T2及端子T4係介由電阻器R2及電阻器R4分別連接於電壓施加用之節點P2及節點P4。又、電阻器R2及電阻器R4之電阻值為已知。如後述說明，電壓施加部101，可對節點P1與節點P2之間施加電壓，或對節點P3與節點P4之間施加電壓。電壓測定部102，可於特定時序針對端子T1、端子T2、端子T3及端子T4之電壓進行測定。
以下使用圖2說明圖7之觸控面板裝置之動作之一例。
處理開始後，電壓施加部101係對觸控面板100施加電壓，電壓測定部102係測定電壓施加時之觸控面板100各端子之電壓(步驟S201)。具體言之為，電壓施加部101，係於第1時序對節點P1-節點P2間施加電壓Vcc，於第2時序對節點P3-節點P4間施加電壓Vcc。亦即、於第1時序，節點P1係連接於正常直流電源，節點P2係連接於接地、節點P3及節點P4成為開放端。另外，於第2時序，節點P3係連接於正常直流電源，節點P4係連接於接地，節點P1及節點P2成為開放端。
於第1時序，電壓測定部102係測定端子T2之電壓V12(T2)、端子T3之電壓V12(T3)及端子T4之電壓V12(T4)。又，端子T1之電壓V12(T1)，理論上係和Vcc一致，因此無須測定。
但是，當端子T1與節點P1之間被插入電阻值為已知之電阻器R1(未圖示)時，第1時序之端子T1之電壓V12(T1)會變動。因此，對其進行測定亦可。依據本實施形態，只需利用上述電壓V12(T1)及V12(T2)之其中一方即可算出2點之輸入座標。但是，藉由測定兩方，則可以減輕測定次數之增加引起之測定誤差。
於第2時序，電壓測定部102係測定端子T1之電壓V34(T1)、端子T2之電壓V34(T2)及端子T4之電壓V34(T4)。又，端子T3之電壓V34(T3)，理論上係和Vcc一致，因此無須測定。但是，和前述端子T1同樣，在端子T3與節點P3之間插入電阻值為已知之電阻器R3(未圖示)，而測定第2時序中之端子T3之電壓V34(T3)亦可。
電壓測定部102，係將第1時序及第2時序中之端子電壓之測定結果分別輸入至位置關係判定部103、距離算出部104及中心座標算出部105。
於步驟S202，中心座標算出部105，係依據步驟S201測定之端子電壓，來算出2點之輸入座標之中心座標(Cx，Cy)。其中，假設2點之輸入座標為(x1，y1)及(x2，y2)，則以下之關係式(1)之中心座標(Cx，Cy)成立。
以下說明1點觸控時之輸入點P0之座標之算出手法，以此作為2點之中心座標(Cx，Cy)之算出手法之說明之導入。
輸入點P0被觸控時，電阻膜RF1與電阻膜RF2呈接觸。輸入點P0被觸控時之觸控面板100、係如圖4所示，可以藉由包含電阻器R11、電阻器R12及電阻器R13的等效電路予以表現。假設忽視前述之電阻器R2，於第1時序在端子T1-端子T2間被施加Vcc之電壓。此情況下，輸入點P0中之電壓，係由電阻值R11與電阻值R12之分壓比決定。亦即，成為Vcc×R12/(R11+R12)。又，為求簡單化，於後續說明中，以RX表示電阻器RX(X為任意之參照符號)之電阻值。電阻值R11係和端子T1至輸入點P0為止之距離呈例增加，電阻值R12係和輸入點P0至端子T2之距離呈比例增加。亦即，輸入點P0之x座標，可依據輸入點P0中之電壓來算出。
輸入點P0之電壓係被施加於電阻器R13之一端。但是，於第1時序，端子T3及端子T4均成為開放端，因此，彼等電壓之測定時電壓測定部102所連接之阻抗變為極大。因此，於第1時序電流幾乎未流入電阻器R13，其引起之電壓降可以忽視。亦即，於第1時序，輸入點P0中之電壓係大略等於端子T3之電壓V12(T3)及端子T4之電壓V12(T4)。如上述說明，可由彼等電壓V12(T3)或電壓V12(T4)算出輸入點P0之x座標。同樣，可由第2時序中之端子T1之電壓V34(T1)或端子T2之電壓V34(T2)算出輸入點P0之y座標。
以下，詳細說明步驟S202。中心座標(Cx，Cy)之中之x座標值Cx，可由第1時序中之端子T3之電壓V12(T3)及端子T4之電壓V12(T4)算出。具體言之為，2點觸控之情況下，端子T3之電壓V12(T3)，係由輸入座標(x1，y1)至端子T3間之距離，以及(x2，y2)至端子T3之距離來決定。同樣，端子T4之電壓V12(T4)，亦由輸入座標(x1，y1)至端子T4之間之距離，以及(x2，y2)至端子T4之距離來決定。又，電壓V12(T3)及電壓V12(T4)之導出手法之詳細如後述說明。
例如，假設輸入座標(x1，y1)接近端子T3，輸入座標(x2，y2)接近端子T4。此情況下，端子T3之電壓V12(T3)成為接近輸入座標(x1，y1)中之電壓(以下說明中以V12(Px1)表示)，另外，端子T4之電壓V12(T4)成為接近輸入座標(x2，y2)中之電壓(以下說明中以V12(Px2)表示)。因此，成立下述關係式(2)。於關係式(2)，ABS(α)表示取α之絕對值之函數。另外，輸入座標(x1，y1)接近端子T4，輸入座標(x2，y2)接近端子T3時，下述關係式之不等號會反轉。
又，y1=y2時，電壓V12(T3)及電壓V12(T4)，係大略等於輸入座標(x1，y1)中之電壓與輸入座標(x2，y2)中之電壓之平均，亦即，大略等於中心座標(Cx，Cy)之電壓。
以電壓V12(T3)與電壓V12(T4)之平均作為中心座標(Cx，Cy)之電壓予以利用，則可以算出Cx。同樣，以電壓V34(T1)與電壓V34(T2)之平均作為中心座標(Cx，Cy)之電壓予以利用可以算出Cy。又，實際上，亦可取代電壓之平均之算出，而僅單純算出電壓之和。取代平均改為算出和時，可省略除算有助於減少計算成本。
於步驟S203，距離算出部104，係依據步驟S201測定之端子電壓，算出2點之輸入座標之間之距離之一半(Dx，Dy)。其中，Dx表示距離之一半之x軸方向成分，Dy表示距離之一半之y軸方向成分。關於距離之一半(Dx，Dy)，則成立下述之關係式(3)。
圖5表示2點觸控時之觸控面板100之等效電路。在輸入座標(x1，y1)與輸入座標(x2，y2)之間形成並聯電路。該並聯電路之電阻值Z22可由下述之數式(4)算出。
另外，未被實施2點觸控時，座標(x1，y1)與座標(x2，y2)間之電阻值成為R22。亦即，2點觸控引起之電阻值之減少量，可由下述之數式(5)算出。
由數式(5)可知，2點觸控之電阻值減少量，係相對於電阻值R22之增加而呈單調遞增。電阻值R22，係和座標(x1，y1)與座標(x2，y2)間之距離呈比例而增加。另外，於第1時序，端子T2之電壓V12(T2)，係由電阻值R2與端子T1-端子T2間之電阻值(亦即，R21+Z22+R23)的分壓比來決定。如上述說明，端子T1-端子T2間之電阻值，係相對於輸入座標(x1，y1)與輸入座標(x2，y2)間之距離增加而呈減少。亦即，相對於上述距離增加，端子T2之電壓V12(T2)係呈單調遞增。因此，準備適切之單調遞增函數，將電壓V12(T2)予以代入即可算出對應之Dx。同樣，利用電壓V34(T4)相對於2點間距離增加呈現單調遞增之性質，即可算出Dy。
亦可取代函數，改用表示函數之輸出入關係的表格。另外，不算出(Dx，Dy)本身之值，而算出(Dx，Dy)之常數倍之值(例如Dx×2=2點間距離之x軸方向成分、Dy×2=2點間距離之y軸方向成分)亦可。又，將前述電阻器R1插入端子T1與節點P1之間時，端子T1之電壓V12(T1)會隨上述距離增加而呈單調遞減，因此亦可利用該性質來算出Dx。另外，將前述電阻器R3插入端子T3與節點P3之間時，端子T3之電壓V34(T3)會隨上述距離增加而呈單調遞減，利用該性質可算出Dy。另外，欲算出距離之一半等時，並非利用測定之端子電壓本身，而是利用依據其算出之端子間之電阻值等亦可。
依據上述關係式(1)及關係式(3)，輸入座標(x1，y1)及輸入座標(x2，y2)係滿足下述關係式(6)及關係式(7)之其中一方。
又，於關係式(6)及關係式(7)係定義為x1≧x2，但是設為不同定義時只要適當讀出、替換以下說明即可算出2點之輸入座標。另外，變更軸方向之定義、變更電壓施加之方向時，亦只要適當讀出、替換以下說明即可算出2點之輸入座標。
於步驟S204，位置關係判定部103係判斷2輸入點之相對位置關係。以下說明中為求簡單化，而將上述位置關係分類為第1關係及第2關係。第1關係及第2關係係圖示於圖3。
第1關係，係對應於x座標之差分x1-x2之符號，與y座標之差分y1-y2之符號為同一之情況，2輸入點係滿足上述關係式(6)。換言之，2輸入點之構成直線為右上時，兩者具有第1關係。例如，圖6A所示輸入點Pa1，Pa2具有第1關係。第2關係係對應於兩符號互異之情況，2輸入點滿足上述關係式(7)。例如圖6B所示輸入點Pb1，Pb2具有第2關係。換言之，2輸入點之構成直線為右下，則兩者具有第2關係。
又，x1-x2=0時Dx=0，y1-y2=0時Dy=0。因此，若是Dx=0或Dy=0，則即使將2輸入點位置關係視為第1關係與第2關係之其中之一，亦可由關係式(6)或關係式(7)算出輸入座標。以下說明中為求簡單化，在無特別聲明之情況下係假設x1≠x2、y1≠y2。
以下具體說明位置關係之判定手法。
2輸入點為第1關係時，如圖6A所示，y1較y2為大。換言之，(x1，y1)接近端子T3，(x2，y2)接近端子T4。因此，於第1時序，端子T3之電壓V12(T3)受到來自(x1，y1)之電壓之相對強的影響，另外，端子T4之電壓V12(T4)受到來自(x2，y2)之電壓之相對強的影響。因為，x1>x2，因此(x1，y1)之電壓高於(x2，y2)之電壓。亦即，2輸入點具有第1關係時，端子T3之電壓V12(T3)，係較端子T4之電壓V12(T4)變高。
另外，2輸入點具有第2關係時，如圖6B所示，y1小於y2。換言之，(x1，y1)接近端子T4，(x2，y2)接近端子T3。因此，於第1時序，端子T3之電壓V12(T3)受到來自(x2，y2)之電壓之相對強的影響。另外，端子T4之電壓V12(T4)受到來自(x1，y1)之電壓之相對強的影響。x1>x2，因此(x1，y1)之電壓高於(x2，y2)之電壓。亦即，2輸入點為第2關係時，端子T3之電壓V12(T3)，係低於端子T4之電壓V12(T4)。
以下，使用數式詳細說明2輸入點之位置關係可以依據端子T3之電壓V12(T3)及端子T4之電壓V12(T4)之大小關係來判定。
首先，假設x1>x2，不論第1關係與第2關係之其中任一，(x1，y1)均接近端子T1，(x2，y2)均接近端子T2。電壓V12(T1)>電壓V12(T2)為明顯者，因此，V12(Px1)>V12(Px2)亦為明顯。另外，端子T3及端子T4為開放端，為了測定電壓V12(T3)及電壓V12(T4)，電壓測定部102所接續之阻抗(以下說明中以Z表示)為極大。因此，輸入座標(x1，y1)至端子T3及端子T4為止之電壓降，係小於輸入座標(x1，y1)至輸入座標(x2，y2)為止之電壓降。因此，V12(Px1)>V12(T3)>V12(Px2)成立，V12(Px1)>V12(T4)>V12(Px2)亦成立。但是，無法由彼等關係式直接導出電壓V12(T3)及電壓V12(T4)之大小關係。
因此，需要更詳細導出電壓V12(T3)及電壓V12(T4)。輸入座標(x1，y1)與端子T3間之電阻值以r1表示，輸入座標(x2，y2)與端子T3間之電阻值以r2表示。因為，Z>>r1而且Z>>r2，因此，電壓V12(T3)係如下述之數式(8)所示，可使電壓V12(Px1)及電壓V12(Px2)近似於藉由電阻值r1與r2內分之電壓。
因此，電壓V12(Px1)與電壓V12(T3)之差分、電壓V12(Px2)與電壓V12(T3)之差分可以分別近似於下述之數式(9)。
假設2輸入點具有第1關係，則輸入座標(x1，y1)較輸入座標(x2，y2)更接近端子T3，r1<r2為明顯者。因此，{V12(Px1)-V12(T3)}<{V12(T3)-V12(Px2)}成立。亦即，相較於電壓V12(Px2)，電壓V12(T3)成為更近似電壓V12(Px1)之值，此可以被確認。藉由同樣之計算可以確認，相較於電壓V12(Px1)，電壓V12(T4)成為更近似電壓V12(Px2)之值。因此，2輸入點具有第1關係時，V12(Px1)>V12(T3)>V12(T4)>V12(Px2)會成立。另外，2輸入點具有第2關係時，於前述說明中，r1>r2會成立，因此V12(Px1)>V12(T4)>V12(T3)>V12(Px2)成立。
如上述說明，位置關係判定部103，可以藉由第1時序測定之端子T3之電壓V12(T3)與端子T4之電壓V12(T4)之比較，來進行2輸入點之位置關係之判定。又，位置關係判定部103，亦可藉由其以外之電壓之比較來進行2輸入點位置關係之判定。
例如，依據前述定義，x1≧x2，因此(x1，y1)接近端子T1，(x2，y2)接近端子T2。因此，於第2時序，端子T1之電壓V34(T1)受到來自(x1，y1)之電壓相對強的影響。另外，端子T2之電壓V34(T2)受到來自(X2，y2)之電壓相對強的影響。2輸入點具有第1關係時，y1>y2，(x1，y1)之電壓高於(x2，y2)之電壓。亦即，端子T1之電壓V34(T1)，變為高於端子T2之電壓V34(T2)。另外，2輸入點具有第2關係時，y1<y2，(x1，y1)之電壓係低於(x2，y2)之電壓。亦即，端子T1之電壓V34(T1)，係低於端子T2之電壓V34(T2)。如上述說明，位置關係判定部103，係藉由第2時序所測定端子T1之電壓V34(T1)與端子T2之電壓V34(T2)之比較，可以進行2輸入點之位置關係之判定。
於步驟S204，當位置關係判定部103判斷2輸入點具有第1關係時，處理移至步驟S205，不是時則進入步驟S206。又，如上述說明，本例中將位置關係分類為第1關係與第2關係。依據該前提，2輸入點非為第1關係時，等同於彼等為第2關係。又，步驟S202、步驟S203及步驟S204為互不依存之關係，因此，藉由和圖2不同之順序實施亦可。
於步驟S205，輸入座標算出部106係依據上述關係式(6)算出輸入座標(x1，y1)，(x2，y2)，處理進入步驟S207。於步驟S206，輸入座標算出部106係依據上述關係式(7)算出輸入座標(x1，y1)，(x2，y2)，處理則進入步驟S207。
於步驟S207，係將步驟S205或步驟S206算出之輸入座標(x1，y1)，(x2，y2)予以輸出，結束處理。又，本例中，係以2點觸控為前提而算出輸入座標，但實際上亦有可能1點觸控之狀況。因此，於步驟S207，若2點間距離之大小未滿特定臨限值，則判斷為1點觸控亦可。當判斷為1點觸控時，輸入座標算出部106，可以(Cx，Cy)、(x1，x2)、(x2，y2)等作為輸入座標而輸出。另外，該判定可以藉由步驟S203所算出之(Dx，Dy)來實現，因此，可於其以後任意時序予以實施。或者，將1點觸控定義為第3關係，而可將圖2之處理內容之一部分變形。
如上述說明，第1實施形態之觸控面板裝置，係依據電阻膜端邊具備的端子之電壓，而判定2輸入點之位置關係，進行和所判定之位置關係對應的運算，而算出2輸入點之座標。因此，依據本實施形態之觸控面板裝置，於電阻膜式觸控面板裝置可以將2點之輸入座標作為有意義之輸入資訊予以活用。例如，藉由和觸控面板上顯示之固定鍵同時進行文字鍵之輸入，而在切換文字種類之狀態下可以進行文字輸入等之操作。
(第2實施形態)
通常、觸控面板裝置係保持過去之輸入座標之履歷。第2實施形態之觸控面板裝置，係有效利用過去之輸入座標之履歷而算出2輸入點之座標。
本實施形態之觸控面板裝置，係將一方之點大略固定，將另一方之點移動而進行連續輸入時，藉由和第1實施形態不同之手法來算出2點之輸入座標。具體言之為，藉由參照過去輸入座標之履歷，而判定2輸入點之其中之一點是否被大略固定。例如，參照之前之複數組輸入座標，若是注目點之座標之變動幅未滿特定臨限值，則可以判定該輸入點被大略固定。輸入點未被固定時，可以適用第1實施形態而算出2輸入點之座標。反之，一方之輸入點例如被固定於(s，t)時，本實施形態之觸控面板裝置，係利用下述之數式(10)而算出另一方輸入點之座標(x2，y2)。又，於數式(10)，sign(x)為，當x非為負數時返回1、負數時返回-1之函數。
另外，若是算出之座標(x2，y2)與固定輸入點之座標(s，t)間之距離未滿臨限值，則判斷為1點觸控亦可。判斷為1點觸控時，可將(s，t)、(Cx，Cy)、(x2，y2)等作為1點之輸入座標而輸出。
如上述說明，第2實施形態之觸控面板裝置，係針對進行一方之點大略被固定，移動另一方之點的連續輸入時，藉由和1實施形態不同之手法來算出2輸入點之座標。因此，依據第2實施形態之觸控面板裝置，該輸入被被進行時，可以省略位置關係之判定處理，而簡單算出2輸入點之座標。
上述各實施形態之處理，可以使用汎用電腦作為基本硬體予以實現。實現上述各實施形態之處理的程式，可以儲存於電腦可讀取之記憶媒體而予以提供。程式，係以可安裝之形式之檔案或可執行之形式之檔案記憶於記憶媒體。記憶媒體，可為磁碟、光碟(CD-ROM、CD-R、DVD等)、光磁碟(MO等)、半導體記憶體等，可以記憶程式、而且電腦可讀取之記憶媒體，可為任意形態。又，實現上述各實施形態之處理的程式，可以儲存於連接於網際網路等網路的電腦(伺服器)上，介由網路下載至電腦(用戶端。
以上說明本發明幾個實施形態，但彼等實施形態僅為一例，並非用來限定發明範圍。彼等新規之實施形態，可於其他態樣之形態被實施、在不脫離發明要旨之範圍內，可進行各種省略、置換、變更。彼等實施形態或其變形亦包含於發明之範圍或要旨之同時，亦包含於申請專利範圍記載之發明及其均等之範圍。
100．．．觸控面板
110．．．控制裝置
101．．．電壓施加部
102．．．電壓測定部
103．．．位置關係判定部
104．．．距離算出部
105．．．中心座標算出部
106．．．輸入座標算出部
圖1表示電阻膜式觸控面板之例示之圖。
圖2表示第1實施形態之觸控面板裝置之動作例之流程圖。
圖3表示第1關係及第2關係之說明圖。
圖4表示1點輸入時之觸控面板之等效電路之例示圖。
圖5表示2點輸入時之觸控面板之等效電路之例示圖。
圖6A表示處於第1關係之2點之例示圖。
圖6B表示處於第2關係之2點之例示圖。
圖7表示第1實施形態之觸控面板裝置之例示之方塊圖。
100．．．觸控面板
110．．．控制裝置
101．．．電壓施加部
102．．．電壓測定部
103．．．位置關係判定部
104．．．距離算出部
105．．．中心座標算出部
106．．．輸入座標算出部

Claims (17)

  1. 一種控制裝置，係用於控制第1電阻膜與第2電阻膜以被觸控位置之上述電阻膜彼此呈接觸的方式隔開間隔而被重疊的觸控面板者，該第1電阻膜，係在對向之端邊具備第1端子及第2端子，該第2電阻膜，係在和上述對向之端邊呈正交的對向端邊具有第3端子及第4端子：其特徵為具備：施加部，用於在第1時序對上述第1端子與上述第2端子之間施加電壓；測定部，用於在上述第1時序分別測定上述第3端子及上述第4端子之電壓；算出部，其依據在上述第1時序所測定之上述第3端子及上述第4端子之電壓，求出上述觸控面板被施加2點觸控時之上述2點間之位置關係；上述算出部，係依據上述第1時序所測定之上述第3端子之電壓與上述第4端子之電壓之間的大小關係，而求出上述2點間之位置關係。
  2. 如申請專利範圍第1項之裝置，其中，上述位置關係係包含：上述2點座標間之構成之直線為右上的第1關係，及上述2點座標間之構成之直線為右下的第2關係。
  3. 如申請專利範圍第1項之裝置，其中，上述施加部，係另外在第2時序對上述第3端子與上述第4端子之間施加電壓； 上述測定部，係另外在上述第1時序針對上述第1端子與上述第2端子之其中至少一方之電壓進行測定，在上述第2時序針對上述第3端子與上述第4端子之其中至少一方，上述第1端子、及上述第2端子之電壓進行測定；上述算出部，係另外依據在上述第1時序及上述第2時序所測定之各端子之電壓，針對上述觸控面板被施予2點觸控時之，上述2點之中心座標、上述2點間之第1座標間距離與上述中心座標起至上述2點個別為止的第2座標間距離之其中至少一方予以算出，依據上述2點之中心座標、上述第1座標間距離與上述第2座標間距離之其中至少一方，以及上述2點間之位置關係，來算出上述2點之座標。
  4. 如申請專利範圍第3項之裝置，其中，上述算出部，依據在上述第1時序所測定之上述第3端子及上述第4端子之電壓，及在上述第2時序所測定之上述第1端子及上述第2端子之電壓，而算出上述中心座標。
  5. 如申請專利範圍第3項之裝置，其中上述算出部，係依據在上述第1時序所測定之上述第1端子與上述第2端子之其中至少一方之電壓，及在上述第2時序所測定之上述第3端子與上述第4端子之其中至少一方之電壓，而算出上述第1座標間距離與上述第2座標間距離之其中至少一方。
  6. 如申請專利範圍第3項之裝置，其中上述算出部，在上述第1座標間距離與上述第2座標間距離之其中 至少一方未滿特定臨限值時，係取代上述2點座標，而改為輸出上述2點之中心座標。
  7. 一種觸控面板裝置，其特徵為具備：觸控面板，其為第1電阻膜與第2電阻膜以被觸控位置之上述電阻膜彼此呈接觸的方式隔開間隔而被重疊者，該第1電阻膜，係在對向之端邊具備第1端子及第2端子，該第2電阻膜，係在和上述對向之端邊呈正交的對向端邊具有第3端子及第4端子：施加部，用於在第1時序對上述第1端子與上述第2端子之間施加電壓；測定部，用於在上述第1時序分別測定上述第3端子及上述第4端子之電壓；及算出部，其依據在上述第1時序所測定之上述第3端子及上述第4端子之電壓，求出上述觸控面板被施予2點觸控時之上述2點間之位置關係；上述算出部，係依據在上述第1時序所測定之上述第3端子之電壓與上述第4端子之電壓之間的大小關係，而求出上述2點間之位置關係。
  8. 如申請專利範圍第7項之裝置，其中，上述位置關係係包含：上述2點座標間構成之直線為右上的第1關係，及上述2點座標間構成之直線為右下的第2關係。
  9. 如申請專利範圍第7項之裝置，其中，上述施加部，係另外在第2時序對上述第3端子與上述第4端子之間施加電壓； 上述測定部，係另外在上述第1時序針對上述第1端子與上述第2端子之其中至少一方之電壓進行測定，在上述第2時序針對上述第3端子與上述第4端子之其中至少一方，上述第1端子、及上述第2端子之電壓進行測定；上述算出部，係另外依據在上述第1時序及上述第2時序所測定之各端子之電壓，針對上述觸控面板被施予2點觸控時之，上述2點之中心座標、上述2點間之第1座標間距離與上述中心座標起至上述2點個別為止的第2座標間距離之其中至少一方予以算出，依據上述2點之中心座標、上述第1座標間距離與上述第2座標間距離之其中至少一方，以及上述2點間之位置關係，來算出上述2點之座標。
  10. 如申請專利範圍第9項之裝置，其中，上述算出部，依據在上述第1時序所測定之上述第3端子及上述第4端子之電壓，及在上述第2時序所測定之上述第1端子及上述第2端子之電壓，而算出上述中心座標。
  11. 如申請專利範圍第9項之裝置，其中上述算出部，係依據在上述第1時序所測定之上述第1端子與上述第2端子之其中至少一方之電壓，及在上述第2時序所測定之上述第3端子與上述第4端子之其中至少一方之電壓，而算出上述第1座標間距離與上述第2座標間距離之其中至少一方。
  12. 如申請專利範圍第9項之裝置，其中上述算出部，在上述第1座標間距離與上述第2座標間距離之其中 至少一方未滿特定臨限值時，係取代上述2點座標，而改為輸出上述2點之中心座標。
  13. 一種控制方法，係用於控制第1電阻膜與第2電阻膜以被觸控位置之上述電阻膜彼此呈接觸的方式隔開間隔而被重疊的觸控面板者，該第1電阻膜，係在對向之端邊具備第1端子及第2端子，該第2電阻膜，係在和上述對向之端邊呈正交的對向端邊具有第3端子及第4端子：其特徵為包含：在第1時序對上述第1端子與上述第2端子之間施加電壓；在上述第1時序藉由測定部測定上述第3端子及上述第4端子之電壓；依據在上述第1時序所測定之上述第3端子及上述第4端子之電壓，求出上述觸控面板被施加2點觸控時之上述2點間之位置關係；上述位置關係，係依據在上述第1時序所測定之上述第3端子之電壓與上述第4端子之電壓之間的大小關係，而被求出。
  14. 如申請專利範圍第13項之方法，其中，上述位置關係係包含：上述2點座標間構成之直線為右上的第1關係，及上述2點座標間構成之直線為右下的第2關係。
  15. 如申請專利範圍第13項之方法，其中，另外包含：在上述第1時序對上述第1端子與上述第2端子之其 中至少一方端子之電壓進行測定；在第2時序對上述第3端子與上述第4端子之間施加電壓；在上述第2時序針對上述第3端子與上述第4端子之其中至少一方，上述第1端子、及上述第2端子之電壓進行測定；依據在上述第1時序及上述第2時序所測定之各端子之電壓，將針對上述觸控面板被施予2點觸控時之，上述2點之中心座標、上述2點間之第1座標間距離與上述中心座標起至上述2點個別為止的第2座標間距離之其中至少一方予以算出，依據上述2點之中心座標，上述第1座標間距離及上述第2座標間距離之其中至少一方以及上述2點間之位置關係，來算出上述2點之座標。
  16. 如申請專利範圍第15項之方法，其中，上述中心座標，係依據在上述第1時序所測定之上述第3端子及上述第4端子之電壓，及在上述第2時序所測定之上述第1端子及上述第2端子之電壓，而被算出。
  17. 如申請專利範圍第15項之方法，其中上述第1座標間距離與上述第2座標間距離之其中至少一方，係依據在上述第1時序所測定之上述第1端子與上述第2端子之其中至少一方之電壓，及在上述第2時序所測定之上述第3端子與上述第4端子之其中至少一方之電壓，而被算出。
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