TWI588470B

TWI588470B - 缺陷檢測裝置

Info

Publication number: TWI588470B
Application number: TW105120379A
Authority: TW
Inventors: 林寬宏; 黃傑治; 王喻柏
Original assignee: 住華科技股份有限公司
Priority date: 2016-06-28
Filing date: 2016-06-28
Publication date: 2017-06-21
Also published as: TW201800743A

Description

缺陷檢測裝置

本發明是關於一種缺陷檢測裝置，且特別是關於一種用於檢測偏光膜的缺陷檢測裝置。

偏光膜係具有廣泛的應用。舉例來說，液晶顯示器通常包括二偏光膜，分別配置在液晶層的二側。藉由偏光膜和液晶分子扭轉的共同作用，可以控制液晶顯示器的明暗。另外，有機發光二極體(OLED)顯示器則通常包括一偏光膜，利用圓偏振光降低OLED面板上的反射率，降低暗態亮度，以提升顯示器的對比。

一般而言，在將偏光膜應用至其他裝置之前，會先對其作缺陷檢測。就如同所有其他可透光的元件一樣，一種簡單且廣為應用的缺陷檢測方式可對偏光膜作光學檢測。

本發明提供一種缺陷檢測裝置，可適用於以光學方式檢測偏光膜。

根據一些實施例，此種缺陷檢測裝置包括一光發射裝置、一第一濾光片、一光接受裝置和一偏光片。光發射裝置配置於待檢測的偏光膜的一側。第一濾光片配置於待檢測的偏光膜和光發射裝置之間。第一濾光片用於過濾掉波長大於700奈米的光。光接受裝置配置於待檢測的偏光膜的另一側。偏光片配置於待檢測的偏光膜和光接受裝置之間。偏光片的偏光軸係實質上與待檢測的偏光膜的偏光軸直交。

根據一些實施例，此種缺陷檢測裝置包括一光發射裝置、一第一濾光片、一偏光片和一光接受裝置。第一濾光片用於過濾掉波長大於700奈米的光。偏光片的偏光軸係實質上與待檢測的偏光膜的偏光軸直交。光發射裝置、第一濾光片、偏光片和光接受裝置係依序配置。

為了對本發明之上述及其他方面有更佳的瞭解，下文特舉較佳實施例，並配合所附圖式，作詳細說明如下：

請參照第1圖，其繪示根據本發明實施例之缺陷檢測裝置100。缺陷檢測裝置100用於檢測一偏光膜200。根據一些實施例，缺陷檢測裝置100至少包括一光發射裝置110、一第一濾光片120、一光接受裝置130和一偏光片140，以光發射裝置110、第一濾光片120、偏光片140和光接受裝置130的順序依序配置。

具體來說，光發射裝置110配置於待檢測的偏光膜200的一側。第一濾光片120配置於待檢測的偏光膜200和光發射裝置110之間。第一濾光片120用於過濾掉波長大於700奈米的光(亦即紅外光)；在一些實施例中，第一濾光片120也可用於過濾掉波長小於400奈米的光(亦即紫外光)；在一些實施例中，第一濾光片120也可同時用於過濾掉波長小於400奈米的光(亦即紫外光)及大於700奈米的光(亦即紅外光)的光。光接受裝置130配置於待檢測的偏光膜200的另一側。偏光片140配置於待檢測的偏光膜200和光接受裝置130之間。偏光片140的偏光軸係實質上與待檢測的偏光膜200的偏光軸直交。在此，「實質上」一詞意味著容許些許誤差和可調整性。根據一些實施例，偏光片140較佳地可根據待檢測的偏光膜200的偏光軸進行調整。

在檢測時，光發射裝置110發出光。光在到達待檢測的偏光膜200之前先遇到第一濾光片120。藉此，通過待檢測的偏光膜200的光波長更為集中，可以減少最終紅外光和/或紫外光對於光接受裝置130和檢查軟體(未示於此)造成的雜訊，進而改善檢測效果。被過濾過後的光通過偏光膜200。由於偏光膜200本身具有偏光軸，因此在通過偏光膜200後，除非是在受到缺陷影響的部分，否則都會是沿著該偏光軸偏向的光。接著，被偏向的光到達偏光片140。由於偏光片140的偏光軸係配置在實質上與待檢測的偏光膜200的偏光軸直交的方向，因此沿著偏光膜200的偏光軸偏向的光會被擋下，而受到偏光膜200上缺陷的部分影響的光則可以通過。最終，光接受裝置130，例如一CCD鏡頭，檢測到的亮點即對應偏光膜200上的缺陷。藉此，缺陷檢測裝置100可用於檢測偏光膜200的缺陷。所述缺陷，包括但不限於傷痕、厚度不均、塗佈不均等等。

根據一些實施例，第一濾光片120可整合於光發射裝置110中。舉例來說，如第2圖所示，光發射裝置110可包括一燈箱112以及一燈源116。燈箱112具有一出光口114。燈源116配置於燈箱112中。第一濾光片120可配置於燈源116和出光口114之間。在一些實施例中，第一濾光片120和燈源116之間的距離D1可為1公分~4公分，第一濾光片120和出光口114之間的距離D2可為12公分~14公分。在第2圖所示的實施例中，藉由將第一濾光片120整合於燈箱112中，可更進一步加強第一濾光片120的過濾效果。即可在不受環境光影響下，將燈源116發出的光線，經由第一濾光片120的過濾後，再經出光口114發出。藉此，通過待檢測的偏光膜200的光波長更為集中，可以減少最終紅外光和/或紫外光對於光接受裝置130和檢查軟體(未示於此)造成的雜訊，進而改善檢測效果。

請再回頭參照第1圖，缺陷檢測裝置100還可包括一第二濾光片150。第二濾光片150配置於偏光片140和光接受裝置130之間。第二濾光片150用於過濾掉波長小於400奈米的光(亦即紫外光)。在一些實施例中，第二濾光片150也用於過濾掉波長大於700奈米的光(亦即紅外光)。比起第二濾光片150，配置第一濾光片120對於檢測效果的改善更為明顯。不過，第二濾光片150可進一步地減少環境光的干擾。特別是當缺陷檢測裝置100是配置在開放空間時，減少環境光的干擾對於改善檢測效果也具有其重要性。

根據一些實施例，缺陷檢測裝置100還可包括其他協助檢測的元件(未示於此)，例如用來定位缺陷在偏光膜200上之位置的元件、控制器、顯示器等等。

現在請參照第3圖，其繪示可使用根據本發明實施例之缺陷檢測裝置加以檢測的一種偏光膜200。偏光膜200典型地包括依序層疊的一表面保護層210、一保護層220、一偏光基體層230、一保護層240、一黏著層250和一離型層260。偏光基體層230為使得偏光膜200具有偏光性質的功能層。前述偏光膜200的偏光軸實質上即為偏光基體層230的偏光軸。保護層220和240分別配置在偏光基體層230的二側，以提供機械支撐。黏著層250用來接合其他元件，例如顯示面板。而在接合之前，以離型層260對黏著層250進行保護。在一些實施例中，於檢測偏光膜200時，是以離型層260該側面對光接受裝置130。此時，離型層260可能會對偏光軸造成干擾，因此偏光片140較佳地配置成可根據待檢測的偏光膜200的偏光軸進行調整，無論是自動調整或手動調整皆可。表面保護層210對偏光膜200進行保護。偏光膜200可以是在以切割成適當大小後方進行檢查，也可以是在產線上以展開的偏光膜卷的方式檢查等等，本發明並不特別加以限制。

偏光基體層230可為聚乙烯醇(PVA)樹脂膜，其可藉由皂化聚醋酸乙烯樹脂製得。聚醋酸乙烯樹脂的例子包括醋酸乙烯之單聚合物，即聚醋酸乙烯，以及醋酸乙烯之共聚合物和其他能與醋酸乙烯進行共聚合之單體。其他能與醋酸乙烯進行共聚合之單體的例子包括不飽和羧酸(例如丙烯酸、甲基丙烯酸、丙烯酸乙酯、正丙烯酸丙酯、甲基丙烯酸甲酯)、烯烴(例如乙烯、丙烯、1-丁烯、2-甲丙烯)、乙烯醚(例如乙基乙烯醚、甲基乙烯醚、正丙基乙烯醚、異丙基乙烯醚)、不飽和磺酸(例如乙烯基磺酸、乙烯基磺酸鈉)等等。

保護層220和/或保護層240的材料可分別選自由聚甲基丙烯酸甲酯(Polymethylmethacrylate，PMMA)、三聚醋酸纖維素(Triacetyl Cellulose，TAC)、丙烯酸樹脂膜、聚芳香羥樹脂膜、聚醚樹脂膜、環聚烯烴樹脂膜(例如聚冰片烯樹脂膜)、聚酯(Polyethylene Terephthalate，PET)、聚丙稀(Polypropylene，PP)、環烯烴聚合物(Cyclo Olefin Polymer，COP)、聚碳酸酯(Polycarbonate，PC)以及上述任意組合所組成的一族群。

表面保護層210和離型層260之材料可選自聚酯樹脂、烯烴樹脂、乙酸纖維素樹脂、聚碳酸酯樹脂、丙烯酸樹脂、聚對苯二甲酸丁二酯(polyethylene terephthalate, PET)、聚乙烯(polyethylene, PE)或聚丙烯(Polypropylene, PP)、環烯烴樹脂或上述之組合。其中，聚酯樹脂可以例如是聚對苯二甲酸乙二酯或聚萘二甲酸乙二酯，而丙烯酸樹脂可以例如是聚甲基丙烯酸甲酯(PMMA)。

綜上所述，本發明藉由在缺陷檢測裝置中加入濾光片，可改善對於偏光膜的檢測效果。

雖然本發明已以較佳實施例揭露如上，然其並非用以限定本發明。本發明所屬技術領域中具有通常知識者，在不脫離本發明之精神和範圍內，當可作各種之更動與潤飾。因此，本發明之保護範圍當視後附之申請專利範圍所界定者為準。

100‧‧‧缺陷檢測裝置
110‧‧‧光發射裝置
112‧‧‧燈箱
114‧‧‧出光口
116‧‧‧燈源
120‧‧‧第一濾光片
130‧‧‧光接受裝置
140‧‧‧偏光片
150‧‧‧第二濾光片
200‧‧‧偏光膜
210‧‧‧表面保護層
220‧‧‧保護層
230‧‧‧偏光基體層
240‧‧‧保護層
250‧‧‧黏著層
260‧‧‧離型層
D1‧‧‧距離
D2‧‧‧距離

第1圖為根據本發明實施例之缺陷檢測裝置的示意圖。第2圖為根據本發明一實施例之光發射裝置和第一濾光片之配置的示意圖。第3圖為可使用根據本發明實施例之缺陷檢測裝置加以檢測的偏光膜的示意圖。

100‧‧‧缺陷檢測裝置

110‧‧‧光發射裝置

120‧‧‧第一濾光片

130‧‧‧光接受裝置

140‧‧‧偏光片

150‧‧‧第二濾光片

200‧‧‧偏光膜

Claims

一種缺陷檢測裝置，用於檢測一偏光膜，該缺陷檢測裝置包括：一光發射裝置，配置於待檢測的該偏光膜的一側；一第一濾光片，配置於待檢測的該偏光膜和該光發射裝置之間，該第一濾光片用於過濾掉波長大於700奈米的光；一光接受裝置，配置於待檢測的該偏光膜的另一側；以及一偏光片，配置於待檢測的該偏光膜和該光接受裝置之間，該偏光片的偏光軸係實質上與待檢測的該偏光膜的偏光軸直交。
如申請專利範圍第1項所述之缺陷檢測裝置，更包括：一第二濾光片，配置於該偏光片和該光接受裝置之間，該第二濾光片用於過濾掉波長小於400奈米的光，且/或該第二濾光片用於過濾掉波長大於700奈米的光。
如申請專利範圍第1項所述之缺陷檢測裝置，其中該第一濾光片也用於過濾掉波長小於400奈米的光。
如申請專利範圍第1項所述之缺陷檢測裝置，其中該第一濾光片係整合於該光發射裝置中。
如申請專利範圍第4項所述之缺陷檢測裝置，其中該光發射裝置包括：一燈箱，該燈箱具有一出光口；以及一燈源，配置於該燈箱中；其中該第一濾光片係配置於該燈源和該出光口之間。
如申請專利範圍第5項所述之缺陷檢測裝置，其中該第一濾光片和該燈源之間的距離為1公分~4公分，且/或該第一濾光片和該出光口之間的距離為12公分~14公分。
如申請專利範圍第1項所述之缺陷檢測裝置，其中該偏光片可根據待檢測的該偏光膜的偏光軸進行調整。
一種缺陷檢測裝置，用於檢測一偏光膜，該缺陷檢測裝置包括：一光發射裝置；一第一濾光片，該第一濾光片用於過濾掉波長大於700奈米的光；一偏光片，該偏光片的偏光軸係實質上與待檢測的該偏光膜的偏光軸直交；以及一光接受裝置；其中該光發射裝置、該第一濾光片、該偏光片和該光接受裝置係依序配置。
如申請專利範圍第8項所述之缺陷檢測裝置，其中該第一濾光片係整合於該光發射裝置中。
如申請專利範圍第9項所述之缺陷檢測裝置，其中該光發射裝置包括：一燈箱，該燈箱具有一出光口；一燈源，配置於該燈箱中；其中該第一濾光片係配置於該燈源和該出光口之間；且其中該第一濾光片和該燈源之間的距離為1公分~4公分，且/或該第一濾光片和該出光口之間的距離為12公分~14公分。