TWI552604B - 圖像傳感器及其去除太陽黑斑方法和去除太陽黑斑裝置 - Google Patents

Description

圖像傳感器及其去除太陽黑斑方法和去除太陽黑斑裝置

本發明涉及影像處理技術領域，特別涉及一種圖像傳感器的去除太陽黑斑方法、一種圖像傳感器的去除太陽黑斑裝置和一種包括該圖像傳感器的去除太陽黑斑裝置的圖像傳感器。

互補型金屬氧化物半導體場效應圖像傳感器簡稱CMOS(Complementary Metal Oxide Semiconductor，互補型金屬氧化物半導體)圖像傳感器，CMOS圖像傳感器的主要構成為類比信號處理部分和數位圖像信號處理部分。具體地，CMOS圖像傳感器主要包括Pixel Array(圖元陣列)、控制電路、類比前端處理電路、A/D轉換器、圖像信號處理電路和相關儲存單元等。隨著CMOS圖像傳感器的發展，人們對CMOS圖像傳感器的研究也越來越深入，其性能也得到顯著的提升。但是，由於CMOS圖像傳感器製程結構及本身的原因，當光線過強時，圖像傳感器的重定採樣信號的電壓會下降，並且在光強超過一定限度後，重定採樣信號下降速率隨著光強的增大而增加。這種現象就會導致圖像傳感器在光強較強的情況下出現太陽黑斑現象，例如對著太陽拍照時，相片中太陽的中心區域出現一定範圍的黑斑。

相關技術為了避免出現這種太陽黑斑現象，通過以下兩種方式來去除太陽黑斑。1，通過數位的方式：首先對是否出現太陽黑斑現象進行判斷，當認為出現太陽黑斑現象時，對黑斑區域進行補償，即調整黑斑區域以使黑斑區域和黑斑周圍區域的亮度值達到一致。2，通過類比的方式：首先對是否出現太陽黑斑現象進行判斷，即判斷重定採樣電平和基準電平之間的差異，當差異超過一定值則判斷出現太陽黑斑現象，進而採用固定電平產生電路產生的固定電平充當重定採樣電平來矯正因重定採樣電平下降而造成的太陽黑斑現象。

相關技術中通過數位的方式和類比的方式進行太陽黑斑去除，存在以下缺點：1，數位的方式很容易出現誤判，即對是否出現太陽黑斑現象判斷不準確。例如可能對黑色物體進行誤判，因為黑色物體的表現形式類似於太陽黑斑，或不能對太陽黑斑進行正確判斷，例如認為太陽黑斑是黑色物體等。2，類比的方式採用固定電平產生電路產生的固定電平充當重定採樣電平來進行太陽黑斑矯正，雖然不至於出現誤判現象，但是，這樣會給採樣電路帶來過多的雜訊。因此，需要對相關技術進行改進。

本發明的目的旨在至少從一定程度上解決上述的技術問題之一。

為此，本發明的一個目的在於提出一種圖像傳感器的去除太陽黑斑方法，該圖像傳感器的去除太陽黑斑方法可以準確的去除太陽黑斑而無需採用固定電平充當重定採樣電平，大大減小了信號鏈的雜訊。

本發明的另一個目的在於提出一種圖像傳感器的去除太陽黑斑裝置。

本發明的再一個目的在於提出一種圖像傳感器。

為達到上述目的，本發明一方面實施例提出了一種圖像傳感器的去除太陽黑斑方法，該圖像傳感器的去除太陽黑斑方法包括以下步驟：獲取圖像傳感器圖元陣列中圖元單元的重定採樣信號值；根據預設採樣信號閥值對該重定採樣信號值進行比較，並當該重定採樣信號值小於該預設採樣信號閥值時生成比較信號；根據該比較信號生成該重定採樣信號值對應圖元單元的位置資訊；以及以圖像最亮值替換該位置資訊對應的該重定採樣信號值，以去除該位置資訊對應圖元單元的太陽黑斑。

本發明實施例提出的圖像傳感器的去除太陽黑斑方法，在獲取圖元陣列中圖元單元的重定採樣信號值後，根據預設採樣信號閥值對重定採樣信號值進行比較，並當重定採樣信號值小於預設採樣信號閥值時，生成重定採樣信號值對應圖元單元的位置資訊，進而以圖像最亮值替換位置資訊對應的重定採樣信號值，從而實現去除位置資訊對應圖元單元的太陽黑斑。該圖像傳感器的去除太陽黑斑方法可以準確的去除所有太陽黑斑而無需採用固定電平值充當重定採樣信號值，大大減小了信號鏈的雜訊。

為達到上述目的，本發明另一方面實施例還提出了一種圖像傳感器的去除太陽黑斑裝置，該圖像傳感器的去除太陽黑斑裝置包括：重定採樣信號值獲取模組，用於獲取圖像傳感器圖元陣列中圖元單元的重定採樣信號值；比較模組，用於根據預設採樣信號閥值對該重定採樣信號值進行比較，並當該重定採樣信號值小於該預設採樣信號閥值時生成比較信號；位置資訊生成模組，用於根據該比較信號生成該重定採樣信號值對應圖元單元的位置資訊；以及處理模組，用於以圖像最亮值替換該位置資訊對應的該重定採樣信號值，以去除該位置資訊對應圖元單元的太陽黑斑。

本發明實施例提出的圖像傳感器的去除太陽黑斑裝置，在重定採樣信號值獲取模組獲取圖元陣列中圖元單元的重定採樣信號值後，比較模組根據預設採樣信號閥值對重定採樣信號值進行比較，並當重定採樣信號值小於預設採樣信號閥值時，位置資訊生成模組生成重定採樣信號值對應圖元單元的位置資訊，進而處理模組以圖像最亮值替換位置資訊對應的重定採樣信號值，從而實現去除位置資訊對應圖元單元的太陽黑斑。該圖像傳感器的去除太陽黑斑裝置可以準確的去除所有太陽黑斑而無需採用固定電平值充當重定採樣信號值，大大減小了信號鏈的雜訊。

為達到上述目的，本發明再一方面實施例還提出了一種圖像傳感器，該圖像傳感器包括所述的圖像傳感器的去除太陽黑斑裝置。

本發明實施例提出的圖像傳感器，可以通過圖像傳感器的去除太陽黑斑裝置準確的去除所有太陽黑斑，而無需採用固定電平值充當重定採樣信號值，大大減小了信號鏈的雜訊。

本發明附加的方面和優點將在下面的描述中部分給出，部分將從下面的描述中變得明顯，或通過本發明的實踐瞭解到。

1‧‧‧圖像傳感器的去除太陽黑斑裝置

2‧‧‧行解碼電路

3‧‧‧列信號讀出電路

4‧‧‧圖元陣列

5‧‧‧類比信號處理電路

10‧‧‧重定採樣信號值獲取模組

20‧‧‧比較模組

30‧‧‧位置資訊生成模組

40‧‧‧處理模組

ASP‧‧‧類比信號處理器

D1‧‧‧重定電晶體

D2‧‧‧傳輸電晶體

D3‧‧‧光電二極體

D4‧‧‧源跟隨電晶體

D5‧‧‧行選通電晶體

FD‧‧‧浮置擴散節點

HCYNC‧‧‧同步時鐘信號

RST‧‧‧重定電晶體D1的控制時序

TX‧‧‧傳輸電晶體D2的控制時序

Signal‧‧‧輸出端Vout的輸出電壓信號

SHR/SHS‧‧‧重定信號採集時序/光電子信號採集時序

Vout‧‧‧輸出端

Vshr‧‧‧重定採樣信號值

Vshs‧‧‧光電子採樣信號值

△V‧‧‧差值

本發明上述的和/或附加的方面和優點從下面結合附圖對實施例的描述中將變得明顯和容易理解，其中：第1圖為根據本發明實施例的圖像傳感器的圖元單元的結構示意圖；第2圖為根據本發明實施例的光線正常時，圖像傳感器的圖元單元的控制時序和輸出電壓信號的波形圖示意圖； 第3圖為根據本發明實施例的光線過強時，圖像傳感器的圖元單元的控制時序和輸出電壓信號的波形圖示意圖；第4圖為根據本發明實施例的圖像傳感器的去除太陽黑斑方法的流程圖；第5圖為根據本發明一個實施例的未出現太陽黑斑現象時，圖像傳感器圖元陣列中一行圖元單元的輸出電壓信號的波形圖示意圖；第6圖為根據本發明一個實施例的出現太陽黑斑現象時，圖像傳感器圖元陣列中一行圖元單元的輸出電壓信號的波形圖示意圖；第7圖為根據本發明實施例的圖像傳感器的去除太陽黑斑裝置的方框示意圖；第8圖為根據本發明一個實施例的圖像傳感器的結構示意圖；以及第9圖為根據本發明另一個實施例的圖像傳感器的結構示意圖。

下面詳細描述本發明的實施例，該實施例的示例在附圖中示出，其中自始至終相同或類似的標號表示相同或類似的元件或具有相同或類似功能的元件。下面通過參考附圖描述的實施例是示例性的，僅用於解釋本發明，而不能解釋為對本發明的限制。

下文的揭露提供了許多不同的實施例或例子用來實現本發明的不同結構。為了簡化本發明的揭露，下文中對特定例子的部件和設置進行描述。當然，它們僅僅為示例，並且目的不在於限制本發明。此外，本發明可以在不同例子中重複參考數位和/或字母。這種重複是為了簡化和清楚的目的，其本身不指示所討論各種實施例和/或設置之間的關係。此外，本發明提供了的各種特定的製程和材料的例子，但是本領域普通技術人員可以 意識到其他製程的可應用於性和/或其他材料的使用。另外，以下描述的第一特徵在第二特徵之“上”的結構可以包括第一和第二特徵形成為直接接觸的實施例，也可以包括另外的特徵形成在第一和第二特徵之間的實施例，這樣第一和第二特徵可能不是直接接觸。

在本發明的描述中，需要說明的是，除非另有規定和限定，術語“安裝”、“相連”、“連接”應做廣義理解，例如，可以是機械連接或電連接，也可以是兩個元件內部的連通，可以是直接相連，也可以通過中間媒介間接相連，對於本領域的普通技術人員而言，可以根據具體情況理解上述術語的具體含義。

下面參照附圖來描述根據本發明實施例提出的圖像傳感器的去除太陽黑斑方法、圖像傳感器的去除太陽黑斑裝置1和包括該圖像傳感器的去除太陽黑斑裝置1的圖像傳感器。

首先參照附圖來描述圖像傳感器的圖元單元中出現太陽黑斑現象的原因。

第1圖為本發明實施例的圖像傳感器例如CMOS圖像傳感器的圖元單元的結構示意圖，其中，D1為重定電晶體，D2為傳輸電晶體，D3為光電二極體，D4為源跟隨電晶體，D5為行選通電晶體，FD為浮置擴散節點，Vout為輸出端，浮置擴散節點FD的電壓與輸出端Vout的電壓大小成比例關係。

第2圖為本發明實施例的光線正常時，圖像傳感器的圖元單元的控制時序和輸出電壓信號的示意圖。其中，RST為重定電晶體D1的控制時序，TX為傳輸電晶體D2的控制時序，SHR/SHS為重定信號採集時序/光電子信號採集時序，Signal為輸出端Vout的輸出電壓信號。具體地，當RST為高電 平時，重定電晶體D1導通，重定電晶體D1輸出重定信號至輸出端Vout，當SHR為高電平時，採集輸出端Vout的重定信號以獲取重定採樣信號值Vshr。當TX為高電平時，傳輸電晶體D2導通，傳輸電晶體D2輸出光電二極體D3的光電子信號至輸出端Vout，當SHS為高電平時，採集輸出端Vout的光電子信號以獲取光電子採樣信號值Vshs。如第2圖所示，重定採樣信號值Vshr和光電子採樣信號值Vshs的差值△V即為圖像信號，光電子信號越大即光線越強，重定採樣信號值Vshr和光電子採樣信號值Vshs的差值△V就會越大。但是，如第3圖所示，光線過強時，浮置擴散節點FD和輸出端Vout的電壓會在重定後迅速下降，此時，重定採樣信號值Vshr下掉。由於出現這樣的差異導致圖像信號即重定採樣信號值Vshr和光電子信號採樣Vshs的差值△V減小，從而出現太陽黑斑現象。需要說明的是，理想情況下，重定採樣信號值Vshr不下掉。

下面參照附圖來描述根據本發明實施例提出的圖像傳感器的去除太陽黑斑方法。

如第4圖所示，本發明實施例的圖像傳感器的去除太陽黑斑方法包括以下步驟：

S1，獲取圖像傳感器圖元陣列中圖元單元的重定採樣信號值。

在本發明的一個實施例中，圖像傳感器可以為CMOS圖像傳感器，在獲取圖像傳感器圖元陣列中所有圖元單元的重定採樣信號值後，進入步驟S2。

S2，根據預設採樣信號閥值對重定採樣信號值進行比較，並當重定採樣信號值小於預設採樣信號閥值時生成比較信號。

由於當太陽黑斑出現時，圖元單元的重定採樣信號值會比正常狀況下的重定採樣信號值小，因此，根據預設採樣信號閥值對重定採樣信號值進行比 較可以判斷該圖元單元是否出現太陽黑斑現象。並且，當重定採樣信號值小於預設採樣信號閥值時，說明此圖元單元出現太陽黑斑現象，進入步驟S3。

S3，根據比較信號生成重定採樣信號值對應圖元單元的位置資訊。

具體地，根據比較信號生成重定採樣信號值對應圖元單元的位置資訊即步驟S3具體可以為：

S31，根據同步計數信號和比較信號生成重定採樣信號值對應圖元單元的位置資訊。

在本發明的一個實施例中，如第5圖和第6圖所示，當根據預設採樣信號閥值對圖像傳感器圖元陣列中圖元單元的重定採樣信號值進行比較時，相應的同步計數信號例如同步時鐘信號HCYNC的計數脈衝個數可以與圖像傳感器圖元陣列中一行圖元單元的個數例如n+1相等，n為大於或等於0的整數。需要說明的是，第5圖和第6圖中圖元單元的輸出電壓信號Signal的個數即為一行圖元單元的個數。

進一步地，根據同步計數信號和比較信號生成重定採樣信號值對應圖元單元的位置資訊即步驟S31具體可以為：

S311，對同步計數信號中的計數脈衝進行編號。

S312，當重定採樣信號值小於預設採樣信號閥值時，以同步計數信號中計數脈衝的編號作為對應圖元單元的位置資訊。

S4，以圖像最亮值替換位置資訊對應的重定採樣信號值，以去除位置資訊對應圖元單元的太陽黑斑。

在本發明的一個實施例中，在以圖像最亮值替換位置資訊對應的重定採樣信號值之前，還可以包括以下步驟：

S5，儲存位置資訊。

進一步地，如第5圖所示，在本發明的一個實施例中，圖像傳感器圖元陣列中所有圖元單元均未出現太陽黑斑現象，此時，在對圖元單元的重定採樣信號值和光電子信號採樣值進行圖像信號處理時，按正常情況處理，即不以圖像最亮值例如亮度255替換重定採樣信號值。另外，如第6圖所示，在本發明的一個實施例中，圖像傳感器圖元陣列中第11圖元單元、第12圖元單元、第13圖元單元、第14圖元單元、第n-14圖元單元、第n-13圖元單元、第n-12圖元單元和第n-11圖元單元出現太陽黑斑現象，儲存該八個圖元單元對應的位置資訊後，在進行圖像信號處理時，以圖像最亮值替換被儲存位置資訊的圖元單元的重定採樣信號值，即只需要對該八個圖元單元的重定採樣信號值進行替換，從而去除所有太陽黑斑。

本發明實施例提出的圖像傳感器的去除太陽黑斑方法，在獲取圖元陣列中圖元單元的重定採樣信號值後，根據預設採樣信號閥值對重定採樣信號值進行比較，並當重定採樣信號值小於預設採樣信號閥值時，生成重定採樣信號值對應圖元單元的位置資訊並進行儲存，進而以圖像最亮值替換被儲存位置資訊的圖元單元的重定採樣信號值，從而實現去除太陽黑斑。該圖像傳感器的去除太陽黑斑方法可以準確的去除所有太陽黑斑而無需採用固定電平值充當重定採樣信號值，有效減小了信號鏈的雜訊。

下面參照附圖來描述根據本發明實施例提出的圖像傳感器的去除太陽黑斑裝置1。

如第7圖所示，本發明實施例的圖像傳感器的去除太陽黑斑裝置1包括：重定採樣信號值獲取模組10、比較模組20、位置資訊生成模組30以及處理模組40。其中，重定採樣信號值獲取模組10用於獲取圖像傳感器圖 元陣列中圖元單元的重定採樣信號值Vshr。比較模組20例如比較器用於根據預設採樣信號閥值Vref對重定採樣信號值Vshr進行比較，並當重定採樣信號值Vshr小於預設採樣信號閥值Vref時生成比較信號。位置資訊生成模組30用於根據比較信號生成重定採樣信號值Vshr對應圖元單元的位置資訊。處理模組40例如ISP(Image Signal Processor，圖像信號處理器)用於以圖像最亮值替換位置資訊對應的重定採樣信號值Vshr，以去除位置資訊對應圖元單元的太陽黑斑。

具體地，在本發明的一個實施例中，圖像傳感器可以為CMOS圖像傳感器。需要說明的是，由於當太陽黑斑出現時，圖像傳感器圖元單元的重定採樣信號值Vshr會比正常狀況下的重定採樣信號值Vshr小，因此，比較模組20根據預設採樣信號閥值Vref對重定採樣信號值Vshr進行比較，可以判斷該圖元單元是否出現太陽黑斑現象。並且，當重定採樣信號值Vshr小於預設採樣信號閥值Vref時，說明此圖元單元出現太陽黑斑現象。

具體地，在本發明的一個實施例中，位置資訊生成模組30具體可以用於根據同步計數信號和比較信號生成重定採樣信號值Vshr對應圖元單元的位置資訊。進一步地，在本發明的一個實施例中，當比較模組20根據預設採樣信號閥值Vref對圖像傳感器圖元陣列中圖元單元的重定採樣信號值Vshr進行比較時，相應的同步計數信號例如同步時鐘信號HCYNC的計數脈衝個數可以與圖像傳感器圖元陣列中一行圖元單元的個數例如n+1相等，n為大於或等於0的整數。進一步地，在本發明的一個實施例中，位置資訊生成模組30具體可以用於對同步計數信號中的計數脈衝進行編號，進而當重定採樣信號值Vshr小於預設採樣信號閥值Vref時，以同步計數信號中計數脈衝的編號作為對應圖元單元的位置資訊。

進一步地，在本發明的一個實施例中，圖像傳感器的去除太陽黑斑裝置1還可以包括儲存模組50例如靜態隨機記憶體SRAM，儲存模組50用於儲存位置資訊。

進一步地，在本發明的一個實施例中，圖像傳感器圖元陣列中所有圖元單元均沒有出現太陽黑斑現象，此時，在處理模組40對圖元單元的重定採樣信號值Vshr和光電子採樣信號值Vshs進行圖像信號處理時，按正常情況處理，即處理模組40不以圖像最亮值例如亮度255替換重定採樣信號值Vshr。另外，在本發明的一個實施例中，圖像傳感器圖元陣列中圖元單元11、圖元單元12、圖元單元13、圖元單元14、圖元單元n-14、圖元單元n-13、圖元單元n-12和圖元單元n-11出現太陽黑斑現象，處理模組40將該八個圖元單元對應的位置資訊儲存至儲存模組50，進而在處理模組40進行圖像信號處理時，以圖像最亮值替換被儲存位置資訊的圖元單元的重定採樣信號值Vshr，即處理模組40只需要對該八個圖元單元的重定採樣信號值Vshr進行替換，從而去除所有太陽黑斑。

本發明實施例提出的圖像傳感器的去除太陽黑斑裝置，在重定採樣信號值獲取模組獲取圖元陣列中圖元單元的重定採樣信號值後，比較模組根據預設採樣信號閥值對重定採樣信號值進行比較，並當重定採樣信號值小於預設採樣信號閥值時，位置資訊生成模組生成重定採樣信號值對應圖元單元的位置資訊，儲存模組對對應圖元單元的位置資訊進行儲存，進而處理模組以圖像最亮值替換被儲存位置資訊的圖元單元的重定採樣信號值，從而實現去除太陽黑斑。該圖像傳感器的去除太陽黑斑裝置可以準確的去除所有太陽黑斑而無需加入固定電平產生電路，大大減小了信號鏈的雜訊。

下面參照附圖來描述根據本發明實施例提出的圖像傳感器。

本發明實施例的圖像傳感器包括上述圖像傳感器的去除太陽黑斑裝置1。

具體地，如第8圖所示，在本發明的一個實施例中，圖像傳感器例如CMOS圖像傳感器還可以包括行解碼電路2、列信號讀出電路3、圖元陣列4、類比信號處理電路5例如ASP(Analog Signal Processor，類比信號處理器)。

進一步地，如第9圖所示，在本發明的另一個實施例中，圖像傳感器可以在圖元陣列4中每列圖元單元的列輸出處加入圖像傳感器的去除太陽黑斑裝置1以去除每列圖元單元的太陽黑斑。具體地，如第9圖所示，圖元單元11和圖元單元21為一列，圖元單元12和圖元單元22為一列，圖元單元13和圖元單元23為一列。同一列的圖元單元共用列信號讀出電路3和圖像傳感器的去除太陽黑斑裝置1。假定圖元單元12出現太陽黑斑現象，而其周圍的圖元單元11、圖元單元13、圖元單元21、圖元單元22和圖元單元23都未出現太陽黑斑現象，圖元單元11、圖元單元13、圖元單元21、圖元單元22和圖元單元23的重定採樣信號值Vshr輸出正常。在列信號讀出電路3讀取圖元單元11、圖元單元12和圖元單元13的重定採樣信號值Vshr和光電子採樣信號值Vshs後，圖像傳感器的去除太陽黑斑裝置1根據預設採樣信號閥值Vref對每個圖元單元的重定採樣信號值Vshr進行比較。當根據預設採樣信號閥值Vref對圖元單元12的重定採樣信號值Vshr進行比較時，由於圖元單元12的重定採樣信號值Vshr下掉，圖像傳感器的去除太陽黑斑裝置1判斷該圖元單元出現太陽黑斑現象，進而處理模組40將圖元單元12對應的位置資訊儲存至儲存模組50，在進行圖像信號處理時，處理模組40對被儲存位置 資訊的圖元單元12的重定採樣信號值Vshr以圖像最亮值替換，圖元單元12的重定採樣信號值Vshr為圖像最亮值，從而實現去除圖元單元12的太陽黑斑。

本發明實施例提出的圖像傳感器，可以通過圖像傳感器的去除太陽黑斑裝置準確的去除當前行或列的所有太陽黑斑，而無需加入固定電平產生電路，大大減小了信號鏈的雜訊。

流程圖中或在此以其他方式描述的任何過程或方法描述可以被理解為，表示包括一個或更多個用於實現特定邏輯功能或過程的步驟的可執行指令的代碼的模組、片段或部分，並且本發明的較佳實施方式的範圍包括另外的實現，其中可以不按所示出或討論的順序，包括根據所涉及的功能按基本同時的方式或按相反的順序，來執行功能，這應被本發明的實施例所屬技術領域的技術人員所理解。

在流程圖中表示或在此以其他方式描述的邏輯和/或步驟，例如，可以被認為是用於實現邏輯功能的可執行指令的定序列表，可以具體實現在任何電腦可讀媒體中，以供指令執行系統、裝置或設備(如基於電腦的系統、包括處理器的系統或其他可以從指令執行系統、裝置或設備取指令並執行指令的系統)使用，或結合這些指令執行系統、裝置或設備而使用。就本說明書而言，"電腦可讀媒體"可以是任何可以包含、儲存、通信、傳播或傳輸程式以供指令執行系統、裝置或設備或結合這些指令執行系統、裝置或設備而使用的裝置。電腦可讀媒體的更具體的示例(非窮盡性列表)包括以下：具有一個或多個佈線的電連接部(電子裝置)、可攜式電腦硬碟(磁裝置)、隨機存取記憶體(RAM)、唯讀記憶體(ROM)、可擦除可編輯唯讀記憶體(EPROM或快閃記憶體)、光纖裝置、以及可攜式光碟 唯讀記憶體(CDROM)。另外，電腦可讀媒體甚至可以是可在其上列印該程式的紙或其他合適的媒體，因為可以例如通過對紙或其他媒體進行光學掃描，接著進行編輯、解譯或必要時以其他合適方式進行處理來以電子方式獲得該程式，然後將其儲存在電腦記憶體中。

應當理解，本發明的各部分可以用硬體、軟體、韌體或它們的組合來實現。在上述實施方式中，多個步驟或方法可以用儲存在記憶體中且由合適的指令執行系統執行的軟體或韌體來實現。例如，如果用硬體來實現，和在另一實施方式中一樣，可用本領域公知的下列技術中的任一項或他們的組合來實現：具有用於對資料信號實現邏輯功能的邏輯門電路的離散邏輯電路，具有合適的組合邏輯門電路的專用積體電路，可程式設計閘陣列(PGA)，現場可程式設計閘陣列(FPGA)等。

本技術領域的普通技術人員可以理解實現上述實施例方法攜帶的全部或部分步驟是可以通過程式來指令相關的硬體完成，所述的程式可以儲存於一種電腦可讀儲存媒體中，該程式在執行時，包括方法實施例的步驟之一或其組合。

此外，在本發明各個實施例中的各功能單元可以集成在一個處理模組中，也可以是各個單元單獨物理存在，也可以兩個或兩個以上單元集成在一個模組中。上述集成的模組既可以採用硬體的形式實現，也可以採用軟體功能模組的形式實現。該集成的模組如果以軟體功能模組的形式實現並作為獨立的產品銷售或使用時，也可以儲存在一個電腦可讀取儲存媒體中。

上述提到的儲存媒體可以是唯讀記憶體、磁片或光碟等。

在本說明書的描述中，參考術語“一個實施例”、“一些實施 例”、“示例”、“具體示例”、或“一些示例”等的描述意指結合該實施例或示例描述的具體特徵、結構、材料或者特點包含於本發明的至少一個實施例或示例中。在本說明書中，對上述術語的示意性表述不一定指的是相同的實施例或示例。而且，描述的具體特徵、結構、材料或者特點可以在任何的一個或多個實施例或示例中以合適的方式結合。

儘管已經示出和描述了本發明的實施例，對於本領域的普通技術人員而言，可以理解在不脫離本發明的原理和精神的情況下可以對這些實施例進行多種變化、修改、替換和變型，本發明的範圍由所附申請專利範圍及其等同限定。

Claims (11)

1. 一種圖像傳感器的去除太陽黑斑方法，其特徵在於，包括以下步驟：獲取圖像傳感器圖元陣列中圖元單元的重定採樣信號值；根據預設採樣信號閥值對該重定採樣信號值進行比較，並當該重定採樣信號值小於該預設採樣信號閥值時生成比較信號；根據該比較信號生成該重定採樣信號值對應圖元單元的位置資訊；以及以圖像最亮值替換該位置資訊對應的該重定採樣信號值，以去除該位置資訊對應圖元單元的太陽黑斑。
2. 如申請專利範圍第1項所述的方法，其中，該根據該比較信號生成該重定採樣信號值對應圖元單元的位置資訊具體為：根據同步計數信號和該比較信號生成該重定採樣信號值對應圖元單元的位置資訊。
3. 如申請專利範圍第2項所述的方法，其中，該根據同步計數信號和該比較信號生成該重定採樣信號值對應圖元單元的位置資訊具體包括以下步驟：對該同步計數信號中的計數脈衝進行編號；以及當該重定採樣信號值小於該預設採樣信號閥值時，以該同步計數信號中計數脈衝的編號作為對應圖元單元的位置資訊。
4. 如申請專利範圍第1項所述的方法，其中，在該以圖像最亮值替換該位置資訊對應的該重定採樣信號值之前，還包括以下步驟：儲存該位置資訊。
5. 申請專利範圍第1項至第4項中任一項所述的方法，其中，該圖像傳感器為互補型金屬氧化物半導體CMOS圖像傳感器。
6. 一種圖像傳感器的去除太陽黑斑裝置，其特徵在於，包括：重定採樣信號值獲取模組，用於獲取圖像傳感器圖元陣列中圖元單元的重定 採樣信號值；比較模組，用於根據預設採樣信號閥值對該重定採樣信號值進行比較，並當該重定採樣信號值小於該預設採樣信號閥值時生成比較信號；位置資訊生成模組，用於根據該比較信號生成該重定採樣信號值對應圖元單元的位置資訊；以及處理模組，用於以圖像最亮值替換該位置資訊對應的該重定採樣信號值，以去除該位置資訊對應圖元單元的太陽黑斑。
7. 如申請專利範圍第6項所述的裝置，其中，該位置資訊生成模組具體用於：根據同步計數信號和該比較信號生成該重定採樣信號值對應圖元單元的位置資訊。
8. 如申請專利範圍第7項所述的裝置，其中，該位置資訊生成模組具體用於：對該同步計數信號中的計數脈衝進行編號；以及當該重定採樣信號值小於該預設採樣信號閥值時，以該同步計數信號中計數脈衝的編號作為對應圖元單元的位置資訊。
9. 如申請專利範圍第6項所述的裝置，其中，還包括：儲存模組，用於儲存該位置資訊。
10. 如申請專利範圍第6項至第9項中任一項所述的裝置，其中，該圖像傳感器為互補型金屬氧化物半導體CMOS圖像傳感器。
11. 一種圖像傳感器，其特徵在於，包括如申請專利範圍第6項至第10項中任一項所述的圖像傳感器的去除太陽黑斑裝置。