CN108924386B - 一种太阳黑子实时处理的方法和图像处理器 - Google Patents
一种太阳黑子实时处理的方法和图像处理器 Download PDFInfo
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Abstract
本发明属于图像处理技术领域,提供了一种太阳黑子实时处理的方法,其包括以下步骤:将采集的图像传感器的复位电压和光电转换信号分别转换为用于表征复位电压的第一电压和用于表征光电转换信号的第二电压;比较所述第一电压和第一参考电压,比较所述第二电压和第二参考电压,并分别输出第一比较结果和第二比较结果;对所述第一比较结果和所述第二比较结果进行逻辑运算,并输出标志信号;确定所述标志信号的坐标信息,去除所述坐标信息所对应像素的太阳黑子。实时分析复位电压及光电转换信号电压的特征,进行太阳黑点的实时校正,减少了校正的时延,有效避免了对整帧图像分析所需要的帧存储空间,降低了成本及功耗。
Description
技术领域
本发明属于图像处理技术领域,尤其涉及一种太阳黑子实时处理的方法和图像处理器。
背景技术
图像传感器在对太阳等高亮度目标进行拍照的过程中,由于其光能量非常强,在通用的4T像素图像传感器中,会导致采样图像信号的采样电容被强光照射导致后其复位失效,从而对太阳等高亮度的图像感应失效,留下一个黑色的斑点。
现有的处理太阳黑点电路通常是在获取整帧图像后,对整幅图象进行分析,通过预设的太阳黑点特征判断太阳的区域,通过预设亮度或者用太阳周边亮度的像素值对太阳黑点的区域进行填充,从而对太阳黑点进行校正。但是,需要对每一帧的图像进行分析,增加了图像处理器对整帧图像分析所需要的帧存储空间,而且对太阳黑点校正有延迟。
因此,传统的技术方案中存在增加了图像处理器对整帧图像分析所需要的帧存储空间,而且对太阳黑点校正有延迟的问题。
发明内容
本发明的目的在于提供一种太阳黑子实时处理的方法,旨在解决传统的技术方案中存在的增加了图像处理器对整帧图像分析所需要的帧存储空间,而且对太阳黑点校正有延迟的问题。
一种太阳黑子实时处理的方法,所述方法包括以下步骤:
将采集的图像传感器的复位电压和光电转换信号分别转换为用于表征复位电压的第一电压和用于表征光电转换信号的第二电压;
比较所述第一电压和第一参考电压,比较所述第二电压和第二参考电压,并分别输出第一比较结果和第二比较结果;
对所述第一比较结果和所述第二比较结果进行逻辑运算,并输出标志信号;
确定所述标志信号的坐标信息,并对所述坐标信息所对应像素的太阳黑子进行校正。
此外,还提供了一种图像处理器,包括:
转换模块,将采集的图像传感器的复位电压和光电转换信号分别转换为用于表征复位电压的第一电压和用于表征光电转换信号的第二电压;
比较模块,比较所述第一电压和第一参考电压,比较所述第二电压和第二参考电压,并分别输出第一比较结果和第二比较结果;
运算模块,对所述第一比较结果和所述第二比较结果进行逻辑运算,并输出标志信号;
处理模块,确定所述标志信号的坐标信息,去除所述坐标信息所对应像素的太阳黑子。
上述的太阳黑子实时处理的方法,比较表征复位电压的第一电压和第一参考电压,比较表征光电转换信号的第二电压和第二参考电压,分别输出第一比较结果和第二比较结果,并对所述第一比较结果和所述第二比较结果进行逻辑运算,并输出标志信号,确认当前像素是否为太阳黑子区域,实时分析采样电容的复位电压及光电转换信号电压的特征,进而进行太阳黑点的实时校正,减少了校正的时延,同时有效避免了对整帧图像分析所需要的帧存储空间,降低对芯片存储空间的需求,降低了成本及功耗。
附图说明
图1为本发明一实施例提供的太阳黑子实时处理的方法的具体流程图;
图2为本发明一实施例提供的图像处理器结构示意图。
具体实施方式
为了使本发明的目的、技术方案及优点更加清楚明白,以下结合附图及实施例,对本发明进行进一步详细说明。应当理解,此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本发明,并不用于限定本发明。
图1示出了本发明较佳实施例提供的太阳黑子实时处理的方法的具体流程图,如图1所示,该方法包括以下步骤:
S110,将采集的图像传感器的复位电压和光电转换信号分别转换为用于表征复位电压的第一电压和用于表征光电转换信号的第二电压。
作为优选的,第一电压与复位电压成比例关系,第二电压与光电转换信号成比例关系。在CMOS图像传感器中,在强光照射下会产生复位电压的降低,同时导致像素的光电转换信号的电压的降低,而且在复位电压的下降程度随着光强的增强而增加,所以导致太阳黑子现象的产生,通过采样电容可以直接对复位电压和光电转换信号的电压进行采样。
S120,比较第一电压和第一参考电压,比较第二电压和第二参考电压,并分别输出第一比较结果和第二比较结果。
通过分析图像传感器的复位电压及光电转换信号的特征,可以发现在太阳等强光的区域,基于4T结构的图像传感器的复位电压较非太阳黑子区域的复位电压低;同时,太阳黑子区域的光电转换信号电压较非太阳区域的光电转换信号的电压低。据此,本发明实施例提供了第一参考电压和第二参考电压,第一参考电压大于第二参考电压,具体来说,该第一参考电压大于太阳黑子区域的复位电压且小于图像传感器的复位电压,第二参考电压大于太阳黑子区域的光电转换信号的电压且小于非太阳区域的光电转换信号的电压,通过比较表征复位电压的第一电压和第一参考电压,比较表征复位电压的第二电压和第一参考电压,以此判断当前像素是否处于太阳黑子区域。其中,上述的第一参考电压和第二参考电压的电压值取决于图像传感器中像素单元的工艺和结构,对于不同的图像传感器中像素单元的工艺和结构,可以选择不同的第一参考电压和第二参考电压,即可以对第一参考电压和第二参考电压的电压值进行调节,以适应不同的图像传感器导致的偏差。
S130,对第一比较结果和第二比较结果进行逻辑运算,并输出标志信号。
在实际情况下,第一比较结果和第二比较结果的输出为高电平或低电平,第一比较结果和第二比较结果有四种组合,以此判断该像素点是否为太阳黑子区域,对第一比较结果和第二比较结果进行相应的逻辑运算,逻辑运算的结果即为当前像素的标志信号,根据该标志信号判断当前像素是否为太阳黑子区域。
其中,该逻辑运算为与逻辑运算,具体的,若第一电压大于第一参考电压,第二电压大于第二参考电压,此时第一比较结果的输出低电平,第二比较结果的输出为低电平,则对第一比较结果和第二比较结果进行与逻辑运算后的结果为低电平,即当前像素标志信号输出为0,则判定当前像素为非太阳黑子区域内;若第一电压大于第一参考电压,第二电压小于第二参考电压,此时第一比较结果的输出低电平,第二比较结果的输出为高电平,则对第一比较结果和第二比较结果进行与逻辑运算后的结果为低电平,即当前像素标志信号输出为0,则判定当前像素为非太阳黑子区域内;若第一电压小于第一参考电压,第二电压大于第二参考电压,此时第一比较结果的输出高电平,第二比较结果的输出为低电平,则对第二比较结果和第一比较结果进行与逻辑运算后的结果为低电平,即当前像素标志信号输出为0,则判定当前像素为非太阳黑子区域内;若第一电压小于第一参考电压,第二电压小于第二参考电压,此时第一比较结果的输出高电平,第二比较结果的输出为高电平,则对第二比较结果和第一比较结果进行与逻辑运算后的结果为高电平,即当前像素标志信号输出为1,则判定当前像素为太阳黑子区域内。以此实时对每一位像素进行检测标识,得到一个与当前像素同步的标志信号,标志信号为1对应的像素即为太阳黑子区域的像素,方便实时对太阳黑子区域的校正。
S140,确定标志信号的坐标信息,去除坐标信息所对应像素的太阳黑子。
标志信号与当前像素的像素数据同步,根据像素对应的标志信号,判断当前像素是否为太阳黑子区域,并同步获取该像素的坐标值,对太阳黑子区域进行实时处理。
其中,去除坐标信息所对应像素的太阳黑子,进一步包括:将标志信号与坐标信息对应的像素数值进行逐位或逻辑运算。具体来说,太阳黑子区域的像素的标志信号为1,图像的像素值一般为8位的二进制数值,数值在0-255之间,在对太阳黑子进行处理时,对该像素值的8位二进制数值与1进行逐位或逻辑运算,结果为255,即将太阳黑点校正为白色区域。例如,太阳黑子区域某一像素的像素值为38,二进制表示为00100110,将该像素值与1进行逐位或逻辑运算,得到的结果为11111111,将该结果作为该像素的像素值,即将该太阳黑点校正为白色区域。
进一步,在将采集的图像传感器的复位电压和光电转换信号分别转换为用于表征复位电压的第一电压和用于表征光电转换信号的第二电压步骤之前,还包括:采集采样电容的复位电压和光电转换信号。其中,采样电容用于采集图像传感器的复位电压和光电转换信号的电压。可以理解的是,可以通过电压传感器实时采集采样电容的复位电压和光电转换信号。
基于上述的太阳黑子实时处理的方法,本发明实施例还提供了一种图像处理器。
图2是本发明实施例提供的一个实施例的图像处理器的框图,如图2所示,该图像处理器包括:转换模块10、比较模块20、运算模块30和处理模块40。
转换模块10,用于将采集的图像传感器的复位电压和光电转换信号分别转换为用于表征复位电压的第一电压和用于表征光电转换信号的第二电压;
比较模块20,比较第一电压和第一参考电压,比较第二电压和第二参考电压,并分别输出第一比较结果和第二比较结果。通过分析采样电容的复位及光电转换信号的特征,可以发现在太阳等强光的区域,基于4T结构的图像传感器的复位电压较非太阳黑子区域的复位电压低,太阳黑子区域的光电转换信号电压较非太阳区域的光电转换信号的电压低。据此,本发明实施例提供了第一参考电压和第二参考电压,第一参考电压大于第二参考电压,具体来说,该第一参考电压大于太阳黑子区域的复位电压且小于图像传感器的复位电压,第二参考电压大于太阳黑子区域的光电转换信号的电压且小于非太阳区域的光电转换信号的电压,通过比较表征复位电压的第一电压和第一参考电压,比较表征复位电压的第二电压和第一参考电压,以此判断当前像素是否处于太阳黑子区域。
运算模块30对第一比较结果和第二比较结果进行逻辑运算,并输出标志信号。在实际情况下,第一比较结果和第二比较结果的输出为高电平或低电平,第一比较结果和第二比较结果有四种组合,以此判断该像素点是否为太阳黑子区域,对第一比较结果和第二比较结果进行相应的逻辑运算,逻辑运算的结果即为当前像素的标志信号,根据该标志信号判断当前像素是否为太阳黑子区域。
具体的,运算模块30包括与逻辑运算单元,该与逻辑运算单元对第一比较结果和第二比较结果进行与逻辑运算。若第一电压大于第一参考电压,第二电压大于第二参考电压,此时第一比较结果的输出低电平,第二比较结果的输出为低电平,由运算模块30对第一比较结果和第二比较结果进行与逻辑运算后的结果为低电平,即当前像素标志信号输出为0,则判定当前像素为非太阳黑子区域内;若第一电压大于第一参考电压,第二电压小于第二参考电压,此时第一比较结果的输出低电平,第二比较结果的输出为高电平,由运算模块30对第一比较结果和第二比较结果进行与逻辑运算后的结果为低电平,即当前像素标志信号输出为0,则判定当前像素为非太阳黑子区域内;若第一电压小于第一参考电压,第二电压大于第二参考电压,此时第一比较结果的输出高电平,第二比较结果的输出为低电平,由运算模块30对第一比较结果和第二比较结果进行与逻辑运算后的结果为低电平,即当前像素标志信号输出为0,则判定当前像素为非太阳黑子区域内;若第一电压小于第一参考电压,第二电压小于第二参考电压,此时第一比较结果的输出高电平,第二比较结果的输出为高电平,由运算模块30对第一比较结果和第二比较结果进行与逻辑运算后的结果为高电平,即当前像素标志信号输出为1,则判定当前像素为太阳黑子区域内。以此实时对每一位像素进行检测标识,得到一个与当前像素同步的标志信号,标志信号为1对应的像素即为太阳黑子区域的像素,方便实时对太阳黑子区域的校正。
在实际的应用中,可以调整第一参考电压与第二参考电压的值,对应的,在对第一比较结果和第二比较结果进行判断时,调整运算模块的运算逻辑或运算逻辑的组合,以使得运算模块可以准确用于太阳区域的判定。
处理模块40用于确定标志信号的坐标信息,去除坐标信息所对应像素的太阳黑子。标志信号与当前像素的像素数据同步,根据像素对应的标志信号,判断当前像素是否为太阳黑子区域,并同步获取该像素的坐标值,对太阳黑子区域进行实时处理。
具体来说,太阳黑子区域的像素的标志信号为1,图像的像素值一般为8位的二进制数值,数值在0-255之间,在对太阳黑子进行处理时,对该像素值的8位二进制数值与1进行逐位或逻辑运算,结果为255,即将太阳黑点校正为白色区域。例如,太阳黑子区域某一像素的像素值为38,二进制表示为00100110,将该像素值与1进行逐位或逻辑运算,得到的结果为11111111,将该结果作为该像素的像素值,即将该太阳黑点校正为白色区域。
进一步,还包括:采集模块,该采集模块用于采集采样电容的复位电压和光电转换信号。其中,采样电容用于采集图像传感器的复位电压和光电转换信号的电压。可以理解的是,可以通过电压传感器实时采集采样电容的复位电压和光电转换信号。
以上所述仅为本发明的较佳实施例而已,并不用以限制本发明,凡在本发明的精神和原则之内所作的任何修改、等同替换和改进等,均应包含在本发明的保护范围之内。
Claims (7)
1.一种太阳黑子实时处理的方法,其特征在于,所述方法包括以下步骤:
将采集的图像传感器的复位电压和光电转换信号分别转换为用于表征复位电压的第一电压和用于表征光电转换信号的第二电压;
比较所述第一电压和第一参考电压,比较所述第二电压和第二参考电压,并分别输出第一比较结果和第二比较结果;
对所述第一比较结果和所述第二比较结果进行与逻辑运算,并输出标志信号;其中,所述与逻辑运算的结果为当前像素的标志信号;
若所述与逻辑运算的结果为低电平,则标志信号输出为0,判定当前像素为非太阳黑子区域内;若所述与逻辑运算的结果为高电平,则标志信号的输出为1,判定当前像素为太阳黑子区域内;
确定所述标志信号的坐标信息,并对所述坐标信息所对应像素的太阳黑子进行校正;其中,标志信号与当前像素的像素数据同步,根据像素对应的标志信号,判断当前像素是否为太阳黑子区域,并同步获取该像素的坐标值,对太阳黑子区域进行实时处理。
2.如权利要求1所述的太阳黑子实时处理的方法,其特征在于,在将采集的图像传感器的复位电压和光电转换信号分别转换为用于表征复位电压的第一电压和用于表征光电转换信号的第二电压步骤之前包括:
采集采样电容的所述复位电压和所述光电转换信号;其中,所述采样电容用于采集图像传感器的复位电压和光电转换信号的电压。
3.如权利要求1所述的太阳黑子实时处理的方法,其特征在于,所述第一参考电压大于所述第二参考电压。
4.如权利要求1所述的太阳黑子实时处理的方法,其特征在于,确定所述标志信号的坐标信息,并对所述坐标信息所对应像素的太阳黑子进行校正,进一步包括:
将所述标志信号与所述坐标信息对应的像素数值进行逐位或逻辑运算。
5.一种图像处理器,其特征在于,包括:
转换模块,将采集的图像传感器的复位电压和光电转换信号分别转换为用于表征复位电压的第一电压和用于表征光电转换信号的第二电压;
比较模块,比较所述第一电压和第一参考电压,比较所述第二电压和第二参考电压,并分别输出第一比较结果和第二比较结果;
运算模块,包括与逻辑运算单元,所述与逻辑运算单元对所述第一比较结果和所述第二比较结果进行逻辑运算,并输出标志信号,若所述与逻辑运算的结果为低电平,则标志信号输出为0,判定当前像素为非太阳黑子区域内;若所述与逻辑运算的结果为高电平,则标志信号的输出为1,判定当前像素为太阳黑子区域内;其中,所述与逻辑运算的结果为当前像素的标志信号;
处理模块,确定所述标志信号的坐标信息,去除所述坐标信息所对应像素的太阳黑子;其中,标志信号与当前像素的像素数据同步,根据像素对应的标志信号,判断当前像素是否为太阳黑子区域,并同步获取该像素的坐标值,对太阳黑子区域进行实时处理。
6.如权利要求5所述的图像处理器,其特征在于,还包括:
采集模块,采集采样电容的所述复位电压和所述光电转换信号;其中,所述采样电容用于采集图像传感器的复位电压和光电转换信号的电压。
7.如权利要求5所述的图像处理器,其特征在于,所述比较模块包括第一比较器和第二比较器,所述第一比较器用于比较所述第一电压和第一参考电压,所述第二比较器用于比较所述第二电压和第二参考电压。
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Families Citing this family (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2021016921A1 (zh) * | 2019-07-31 | 2021-02-04 | 深圳市大疆创新科技有限公司 | 图像传感器以及获取像素信息的方法和装置 |
CN114125337B (zh) * | 2021-11-12 | 2023-05-23 | 四川创安微电子有限公司 | 一种消除图像传感器的太阳黑子现象的校正结构和方法 |
Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN101309369A (zh) * | 2007-05-16 | 2008-11-19 | 夏普株式会社 | 图像传感器和电子信息设备 |
CN101753800A (zh) * | 2008-11-29 | 2010-06-23 | 比亚迪股份有限公司 | Cmos图像传感器的模拟图像信号处理方法及电路 |
JP2011160046A (ja) * | 2010-01-29 | 2011-08-18 | Sony Corp | 固体撮像装置、固体撮像装置の駆動方法 |
CN104052940A (zh) * | 2013-03-14 | 2014-09-17 | 株式会社东芝 | 固体拍摄装置 |
CN105338268A (zh) * | 2014-08-12 | 2016-02-17 | 比亚迪股份有限公司 | 图像传感器及其去除太阳黑斑方法和去除太阳黑斑装置 |
Family Cites Families (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
GB201408082D0 (en) * | 2014-05-07 | 2014-06-18 | St Microelectronics Res & Dev | Photosensor arrangements |
-
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Patent Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN101309369A (zh) * | 2007-05-16 | 2008-11-19 | 夏普株式会社 | 图像传感器和电子信息设备 |
CN101753800A (zh) * | 2008-11-29 | 2010-06-23 | 比亚迪股份有限公司 | Cmos图像传感器的模拟图像信号处理方法及电路 |
JP2011160046A (ja) * | 2010-01-29 | 2011-08-18 | Sony Corp | 固体撮像装置、固体撮像装置の駆動方法 |
CN104052940A (zh) * | 2013-03-14 | 2014-09-17 | 株式会社东芝 | 固体拍摄装置 |
CN105338268A (zh) * | 2014-08-12 | 2016-02-17 | 比亚迪股份有限公司 | 图像传感器及其去除太阳黑斑方法和去除太阳黑斑装置 |
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