TWI536216B - 靜電容量値分佈檢測裝置、觸控面板系統、以及靜電容量値分佈檢測裝置之檢測方法 - Google Patents

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Description

靜電容量值分佈檢測裝置、觸控面板系統、以及靜電容量值分佈檢測裝置之檢測方法
本發明係關於一種檢測分別形成於複數條第1信號線與複數條第2信號線之交點之複數個靜電容量之值之分佈的靜電容量值分佈檢測裝置。
觸控面板裝置中有各種方式之觸控面板裝置。其中，靜電容量方式之觸控面板裝置可不依賴於特殊之筆，而藉由使用者之手指或僅具導電性之筆等進行操作，因此具有較高之便利性。
然而，若人體接收電磁雜訊(螢光燈、開關電源、電子機器、無線等)，則雜訊會經由指示體(手指、導電性之筆)混入至觸控面板裝置中。如此，將人體等接收到之電磁雜訊經由指示體混入至觸控面板裝置中者稱為「外來雜訊」。若存在外來雜訊，則有誤識別觸控位置之可能性。
於先前之觸控面板裝置中，存在具有去除外來雜訊之系統者。
於專利文獻1中，記載有避免外來雜訊之影響之靜電容量方式之 觸控面板裝置。該觸控面板裝置係檢測自接收部輸出之位準信號之不均程度，於該不均程度變小之時序進行取樣。該觸控面板裝置係以不均程度變小之方式設定取樣保持部之取樣時序或設定驅動信號之頻率。藉此，可獲得不受外來雜訊之影響之穩定之輸出信號。
於專利文獻2中記載有避免外來雜訊之影響之靜電容量方式之觸控面板裝置。該觸控面板裝置於外來雜訊之頻率與驅動信號之任一頻率一致之情形時，切換為另一頻率。藉此，使與驅動信號之頻率相同之電壓信號之頻率與外來雜訊之頻率不同。而且，藉由切除與驅動信號之頻率不同之頻率成分之帶通濾波器而去除外來雜訊。
於專利文獻3中記載有表面聲波方式之觸控面板裝置。該觸控面板裝置自基於表面聲波方式之破裂波(burst wave)之接收信號，判斷是否存在雜訊。於判斷為存在雜訊之情形時，不進行基於該接收信號之物體之檢測。
[先前技術文獻] [專利文獻]
[專利文獻1]日本公開專利公報「日本專利特開2011-128858號公報(2011年6月30日公開)」
[專利文獻2]日本公開專利公報「日本專利特開2011-128857號公報(2011年6月30日公開)」
[專利文獻3]日本公開專利公報「日本專利特開2006-268288號公報(2006年10月5日公開)」
[專利文獻4]日本公開專利公報「日本專利特開2012-118957號公報(2012年6月21日公開)」
然而，於如專利文獻1、2般根據外來雜訊之頻率而去除外來雜 訊之情形時，若不瞭解外來雜訊之頻率則無效果。或者，若系統無法識別混入有外來雜訊，則無法適當地去除外來雜訊。
又，於先前之靜電容量方式之觸控面板裝置中，無法適當地偵測所混入之外來雜訊。
本發明係鑒於該現狀而完成者，根據本發明之一態樣，可實現一種能夠判定外來雜訊之有無之靜電容量值分佈檢測裝置。
本發明之一態樣之靜電容量值分佈檢測裝置之特徵在於：為了檢測分別形成於複數條第1信號線與複數條第2信號線之交點的複數個靜電容量之值之分佈，於第1時刻，驅動上述第1信號線而使與上述靜電容量對應之電荷自上述第2信號線輸出，於較上述第1時刻更後之第2時刻，切換控制上述第1及上述第2信號線之連接，於較上述第2時刻更後之第3時刻，驅動上述第2信號線而使與上述靜電容量對應之電荷自上述第1信號線輸出；且設置有外來雜訊判定部，該外來雜訊判定部判定通過所觸控之指示體而沿與上述靜電容量對應之電荷之輸出方向產生之外來雜訊之有無。
本發明之一態樣之靜電容量值分佈檢測裝置之特徵在於：為了檢測分別形成於複數條第1信號線與複數條第2信號線之交點的複數個靜電容量之值之分佈，於第1時刻，驅動上述第1信號線而使與上述靜電容量對應之電荷自上述第2信號線輸出，於較上述第1時刻更後之第2時刻，切換控制上述第1及上述第2信號線之連接，於較上述第2時刻更後之第3時刻，驅動上述第2信號線而使與上述靜電容量對應之電荷自上述第1信號線輸出；且設置有外來雜訊判定部，該外來雜訊判定部判定通過所觸控之第1及第2指示體而沿與上述靜電容量對應之電荷之輸出方向產生之外來雜訊之有無；於將與上述靜電容量值對應之信號超過檢測閾值之靜電容量數設為超閾值靜電容量數時，上述外來雜 訊判定部基於沿上述第1信號線之第1檢測區域內之超閾值靜電容量數、沿上述第2信號線之第2檢測區域內之超閾值靜電容量數、沿上述第1信號線之第3檢測區域內之超閾值靜電容量數、及沿上述第2信號線之第4檢測區域內之超閾值靜電容量數，而檢測上述外來雜訊，上述外來雜訊判定部於上述第1時刻檢測上述第2檢測區域內之超閾值靜電容量數與上述第4檢測區域內之超閾值靜電容量數，於上述第3時刻檢測上述第1檢測區域內之超閾值靜電容量數與上述第3檢測區域內之超閾值靜電容量數。
根據本發明之一態樣，於檢測靜電容量值之分佈之靜電容量值分佈檢測裝置中，可判定人體等所接收到之電磁雜訊經由指示體而混入之外來雜訊之有無。
1‧‧‧觸控感測器系統
2‧‧‧靜電容量值分佈檢測電路(靜電容量值分佈檢測裝置)
3‧‧‧觸控面板
4‧‧‧多工器
5‧‧‧驅動部
6‧‧‧感測信號處理部
7‧‧‧動作控制部(外來雜訊去除減少部)
8‧‧‧雜訊偵測部(外來雜訊判定部、幻像雜訊判定部、通知部)
9‧‧‧觸控位置檢測部
10‧‧‧參數記憶部
11‧‧‧連接切換部
100‧‧‧行動電話機
109‧‧‧顯示控制電路
110‧‧‧CPU
111‧‧‧ROM
112‧‧‧RAM
113‧‧‧相機
114‧‧‧麥克風
115‧‧‧揚聲器
116‧‧‧操作鍵盤
118‧‧‧顯示面板
A‧‧‧區域
B‧‧‧區域
C‧‧‧區域
C11~CMM‧‧‧靜電容量
CL‧‧‧控制線
D‧‧‧區域
DL1~DLM‧‧‧驅動線
HL1~HLM‧‧‧水平信號線(第2信號線)
inv‧‧‧反轉器
SL1~SLM‧‧‧感測線
SW1~SW4‧‧‧CMOS開關
VL1~VLM‧‧‧垂直信號線(第1信號線)
X‧‧‧方向
Y‧‧‧方向
圖1係表示本發明之一實施形態之觸控感測器系統之構成之方塊圖。
圖2係表示設置於本發明之一實施形態之觸控感測器系統之觸控面板之構成的模式圖。
圖3係表示本發明之一實施形態之多工器之概略構成之電路圖。
圖4係表示本發明之一實施形態之連接切換部之具體構成之一例的電路圖。
圖5(a)係表示於垂直信號線連接於驅動線且水平信號線連接於感測線時的感測信號之強度分佈之圖，(b)係表示於水平信號線連接於驅動線且垂直信號線連接於感測線時的感測信號之強度分佈之圖。
圖6(a)係表示於第1連接狀態下被觸控之區域與產生雜訊之區域之圖，(b)係表示於第2連接狀態下被觸控之區域與產生雜訊之區域之圖。
圖7係表示本發明之一實施形態之雜訊檢測之流程的圖。
圖8係表示於本發明之一實施形態之雜訊檢測中，通常結束時之複數次雜訊判定處理中之雜訊指標NoiseMetric之值之一例的圖。
圖9係表示於本發明之一實施形態之雜訊檢測中，附帶條件結束時之複數次雜訊判定處理中之雜訊指標NoiseMetric之值之一例的圖。
圖10(a)、(b)係用以說明本發明之一實施形態之雜訊檢測中之各參數的圖。
圖11係表示於上述實施形態之第1連接狀態下測定之感測信號之強度分佈之具體例的圖。
圖12係對應於圖11，表示於上述實施形態之第2連接狀態下測定之感測信號之強度分佈之具體例的圖。
圖13係表示於上述實施形態之第1連接狀態下測定之感測信號之強度分佈之另一具體例的圖。
圖14係對應於圖13，表示於上述實施形態之第2連接狀態下測定之感測信號之強度分佈之另一具體例的圖。
圖15係表示於上述實施形態之第1連接狀態下測定之感測信號之強度分佈之又一具體例的圖。
圖16係對應於圖15，表示於上述實施形態之第2連接狀態下測定之感測信號之強度分佈之又一具體例的圖。
圖17(a)係表示於指示體以高速移動之情形時之於第1時刻(第1訊框)之狀況的圖，(b)係表示於第5時刻(第3訊框)之狀況之圖。
圖18(a)係表示指示體以高速移動之情形時之於第3時刻(第2訊框)之狀況之圖，(b)係表示於第7時刻(第4訊框)之狀況之圖。
圖19係表示本發明之另一實施形態之雜訊檢測之流程之圖。
圖20係表示於上述實施形態之第1訊框(第1連接狀態)測定之感測信號之強度分佈之具體例的圖。
圖21係表示於上述實施形態之第2訊框(第2連接狀態)測定之感測信號之強度分佈之具體例的圖。
圖22係表示於上述實施形態之第3訊框(第1連接狀態)測定之感測信號之強度分佈之具體例的圖。
圖23係表示於上述實施形態之第4訊框(第2連接狀態)測定之感測信號之強度分佈之具體例的圖。
圖24係表示本發明之又一實施形態之行動電話機之構成之方塊圖。
圖25係表示本發明之又一實施形態之行動電話機之外觀之圖。
[實施形態1]
以下，對本發明之實施形態詳細地進行說明。
(觸控感測器系統1之構成)
圖1係表示本實施形態之觸控感測器系統1(觸控面板裝置)之構成之方塊圖。圖2係表示設置於觸控感測器系統1之觸控面板3之構成之模式圖。
觸控感測器系統1包括觸控面板3及靜電容量值分佈檢測電路2(靜電容量值分佈檢測裝置)。觸控面板3包括沿水平方向(橫向)延伸且相互平行地配置之水平信號線HL1~HLM(第2信號線)及沿垂直方向(縱向)延伸且相互平行地配置之垂直信號線VL1~VLM(第1信號線)。於水平信號線HL1~HLM與垂直信號線VL1~VLM之交點分別形成有靜電容量C11~CMM。
靜電容量值分佈檢測電路2包括多工器4、驅動部5、感測信號處理部6、動作控制部7(外來雜訊去除減少部)、雜訊偵測部8(外來雜訊判定部)、觸控位置檢測部9及參數記憶部10。
驅動部5以時間序列對驅動線DL1~DLM供給驅動信號。若施加 驅動信號，則觸控面板3自感測線SL1~SLM輸出與靜電容量值對應之電荷。
感測信號處理部6經由感測線SL1~SLM接收與供給至觸控面板3之驅動信號及靜電容量對應之感測信號。感測信號處理部6接收與水平信號線HL1~HLM和垂直信號線VL1~VLM之各交點之靜電容量值對應之感測信號。所接收到之感測信號之強度之分佈係與觸控面板3上之靜電容量值之分佈對應之信號。感測信號處理部6將感測信號之強度分佈輸出至雜訊偵測部8。
圖3係表示多工器4之概略構成之電路圖。多工器4包括串聯連接之M個連接切換部11。來自動作控制部7之控制線CL被輸入至第1個連接切換部11。多工器4根據經由控制線CL自動作控制部7輸入之控制信號，切換第1連接狀態(第1動作模式)與第2連接狀態(第2動作模式)。於第1連接狀態下，垂直信號線VL1~VLM分別連接於驅動部5之驅動線DL1~DLM，水平信號線HL1~HLM分別連接於感測信號處理部6之感測線SL1~SLM。於第2連接狀態下，垂直信號線VL1~VLM分別連接於感測信號處理部6之感測線SL1~SLM，水平信號線HL1~HLM分別連接於驅動部5之驅動線DL1~DLM。
圖4係表示連接切換部11之具體構成之一例之電路圖。連接切換部11具有4個CMOS(Complementary Metal Oxide Semiconducto，互補金屬氧化物半導體)開關SW1~SW4。連接切換部11之控制線CL連接於前段之連接切換部11之控制線CL及後段之連接切換部11之控制線CL。即，來自動作控制部7之控制線CL由各連接切換部11所共有。控制線CL連接於CMOS開關SW1之p型電晶體之控制端子、CMOS開關SW2之n型電晶體之控制端子、CMOS開關SW3之p型電晶體之控制端子、CMOS開關SW4之n型電晶體之控制端子、及反轉器inv之輸入。反轉器inv之輸出連接於CMOS開關SW1之n型電晶體之控制端子、 CMOS開關SW2之p型電晶體之控制端子、CMOS開關SW3之n型電晶體之控制端子、及CMOS開關SW4之p型電晶體之控制端子。水平信號線HLk連接於CMOS開關SW1、SW2之一端。垂直信號線VLk連接於CMOS開關SW3、SW4之一端。驅動線DLk連接於CMOS開關SW1、SW4之另一端。感測線SLk連接於CMOS開關SW2、SW3之另一端。此處，例如HLk表示第k條(1≦k≦M)水平信號線。
若將控制線CL之控制信號設為High(高)，則水平信號線HL1~HLM分別相連於感測線SL1~SLM，垂直信號線VL1~VLM分別相連於驅動線DL1~DLM(第1連接狀態)。若將控制線CL之控制信號設為Low(低)，則水平信號線HL1~HLM分別相連於驅動線DL1~DLM，垂直信號線VL1~VLM分別相連於感測線SL1~SLM(第2連接狀態)。
動作控制部7對多工器4供給指示連接狀態之控制信號。動作控制部7產生規定驅動部5及感測信號處理部6之各者之動作之信號，並對驅動部5及感測信號處理部6之各者供給該信號。
雜訊偵測部8自感測信號之強度分佈判定外來雜訊之有無。雜訊偵測部8之詳細處理於下文敍述。雜訊偵測部8將外來雜訊之有無之判定結果及感測信號之強度分佈輸出至觸控位置檢測部9。本說明書中，將人體等接收到之電磁雜訊經由指示體混入至觸控感測器系統中者稱為「外來雜訊」。
觸控位置檢測部9自感測信號之強度分佈而特定出指示體觸控之位置。
參數記憶部10記憶有用以判定雜訊之有無或觸控位置之特定之參數。參數係藉由雜訊偵測部8及觸控位置檢測部9而讀出。
(雜訊檢測方法之概要)
此處，簡單地說明於存在外來雜訊之情形時如何對感測信號造成影響。
圖5(a)及(b)係表示存在外來雜訊之情形時之感測信號之強度分佈之曲線圖。圖5(a)表示垂直信號線連接於驅動線且水平信號線連接於感測線時之感測信號之強度分佈。曲線圖中之高度表示感測信號之強度。將對某垂直信號線(驅動線)供給有驅動信號時自某水平信號線(感測線)獲得之感測信號之強度繪製於該垂直信號線與水平信號線之交點。
圖5(a)中之中央之波峰為由觸控產生之感測信號。於存在外來雜訊之情形時，於除被觸控之位置以外亦檢測到較小之波峰。該較小之波峰為由外來雜訊產生之感測信號，該較小之波峰以複數個出現於被觸控之感測線上。
圖5(b)表示水平信號線連接於驅動線且垂直信號線連接於感測線時之感測信號之強度分佈。於此情形時，由外來雜訊產生之感測信號之波峰亦出現於被觸控之感測線上。
再者，雜訊中除人體等接收到之電磁雜訊經由指示體混入至觸控面板裝置之外來雜訊以外，亦有因指示體以高速於觸控面板上移動而產生之雜訊。本說明書中，將指示體以高速於觸控面板上移動而產生之雜訊稱為「幻像雜訊(phantom noise)」。於指示體以高速移動之情形時，於指示體所觸控之感測線上出現因幻像雜訊所產生之感測信號之複數個波峰。於存在幻像雜訊之情形時，亦獲得如圖5(a)及(b)之感測信號之強度分佈。
藉由比較感測信號之強度與閾值，可特定出被觸控之位置。然而，若為了不會誤檢測外來雜訊而過度增大閾值，則檢測觸控之感度降低。又，於欲同時觸控檢測信號強度大不同之指示體之情形時，必須設定複數個閾值、或以可檢測到信號強度較小之指示體之方式設定閾值。於任一情形時，雜訊均變得大於閾值，而誤檢測到雜訊作為觸控。因此，若僅根據感測信號之強度，則難以準確地判別為由雜訊所 產生之波峰抑或由觸控所產生之波峰。
因此，本實施形態之靜電容量值分佈檢測電路2係利用外來雜訊出現於所觸控之感測線上之性質。靜電容量值分佈檢測電路2係使用於第1連接狀態下獲得之感測信號之強度分佈與於第2連接狀態下獲得之感測信號之強度分佈而偵測外來雜訊之存在。
圖6(a)係表示於第1連接狀態下被觸控之區域與產生雜訊之區域之圖。圖6(b)係表示於第2連接狀態下被觸控之區域與產生雜訊之區域之圖。此處，將垂直信號線延伸之方向設為x方向，將水平信號線延伸之方向設為y方向。於第1連接狀態(圖6(a))下，於藉由指示體觸控區域A之情形時，外來雜訊出現於通過區域A之感測線(水平信號線)之感測信號。由此，於通過區域A之感測線(水平信號線)上之區域B之感測信號出現外來雜訊。同樣地，於第2連接狀態(圖6(b))下，於藉由指示體觸控區域A之情形時，外來雜訊出現於通過區域A之感測線(垂直信號線)之感測信號。由此，於通過區域A之感測線(垂直信號線)上之區域C之感測信號出現外來雜訊。
此處，若於被觸控之區域A以外之位置存在具有如超過特定之信號閾值之信號強度之部位(交點)，則認為存在外來雜訊。因此，於第1連接狀態下對信號強度超過信號閾值之交點數(靜電容量數)進行計數，設為b。可認為其表示於區域B(第2檢測區域)信號強度超過信號閾值之交點數。將信號強度超過信號閾值之交點數設為超閾值靜電容量數。同樣地，於第2連接狀態下對信號強度超過信號閾值之交點數進行計數，設為c。可認為其表示於區域C(第1檢測區域)信號強度超過信號閾值之交點數。將自b與c之和減去區域A中之交點數a之2倍所得者設為雜訊指標。將區域A中之交點數a設為觸控對應靜電容量數。若雜訊指標(b+c-2×a)大於零(0)，則認為於被觸控之區域A以外之位置存在具有如超過信號閾值之信號強度之交點。即，若雜訊指標 (b+c-2×a)大於0，則認為存在外來雜訊。若雜訊指標(b+c-2×a)為0以下，則認為不存在外來雜訊。
(雜訊檢測方法之詳情)
圖7係表示本實施形態之雜訊檢測之流程之圖。
於第1時刻，動作控制部7經由控制線CL對多工器4輸出控制信號，將多工器4切換為第1連接狀態(ST1)。於第1連接狀態下，垂直信號線VL1~VLM分別連接於驅動部5之驅動線DL1~DLM，水平信號線HL1~HLM分別連接於感測信號處理部6之感測線SL1~SLM。
接著於第2時刻，驅動部5對驅動線DL1~DLM供給驅動信號。又，感測信號處理部6經由感測線SL1~SLM接收感測信號(ST2)。感測信號係與交點之靜電容量值對應之信號。
雜訊偵測部8自參數記憶部10讀入特定之參數(外部參數)NoiseTh(雜訊閾值)及FingerWidthwithMargin(具有裕度之指寬)。
NoiseTh係用以偵測被觸控之位置及雜訊之信號閾值(檢測閾值)。即，於某交點之信號強度超過NoiseTh之情形時，認為該交點有可能由指示體觸控。但，亦考慮到信號強度因外來雜訊等而超過信號閾值NoiseTh之情形。
FingerWidthwithMargin表示所設想之指示體觸控到觸控面板3之情形時被觸控之區域之垂直方向或水平方向之寬度(交點數)之上限值(第1閾值、第2閾值)。FingerWidthwithMargin亦可於垂直方向與水平方向不同。於在無外來雜訊之狀態下設想之指示體觸控到觸控面板3之情形時，認為信號強度超過信號閾值NoiseTh之複數個交點之垂直方向之擴散及水平方向之擴散收斂於上限值FingerWidthwithMargin以下。即，於無外來雜訊之情形時，可設想圖6中之區域A之垂直方向之寬度及水平方向之寬度收斂於上限值FingerWidthwithMargin以下。
雜訊偵測部8自所獲得之感測信號之強度分佈，求出第1連接狀 態下之參數NoiseIndicator(雜訊指示)(i)、NoisyLineSet(雜訊線集)(first)、NumNoisyLine(雜訊線數)(first)及NumNoise(雜訊數)(first)(ST3)。
雜訊偵測部8針對各感測線之每一者求出具有超過信號閾值NoiseTh之信號強度(信號絕對值)之交點(靜電容量)數作為NoiseIndicator(i)。NoiseIndicator(i)係表示第i條感測線上之具有超過信號閾值NoiseTh之信號強度(信號絕對值)之交點數(超閾值靜電容量數)的變數。
NoisyLineSet(first)係於第1連接狀態下滿足NoiseIndicator(i)>FingerWidthwithMargin之關係之感測線之集合。例如，於第3條感測線至第6條感測線滿足上述關係之情形時，NoisyLineSet(first)可規定為包含作為要素之3、4、5、6之序列。
NumNoisyLine(first)係表示第1連接狀態下之集合NoisyLineSet(first)之要素個數的變數。即，NumNoisyLine(first)表示滿足NoiseIndicator(i)>FingerWidthwithMargin之關係之感測線之條數(第2線數)。
NumNoise(first)係表示關於第1連接狀態下之NoisyLineSet(first)所包含之感測線之NoiseIndicator(i)之和的變數。即，滿足NoiseIndicator(i)>FingerWidthwithMargin之關係之感測線之NoiseIndicator(i)之合計(第2合計)為NumNoise(first)。
於較第2時刻更後之第3時刻，動作控制部7經由控制線CL對多工器4輸出控制信號，將多工器4切換為第2連接狀態(ST4)。於第2連接狀態下，垂直信號線VL1~VLM分別連接於感測信號處理部6之感測線SL1~SLM，水平信號線HL1~HLM分別連接於驅動部5之驅動線DL1~DLM。
接著於第4時刻，驅動部5對驅動線DL1~DLM供給驅動信號。 又，感測信號處理部6經由感測線SL1~SLM接收感測信號(ST5)。
雜訊偵測部8自所獲得之感測信號之強度分佈求出第2連接狀態下之參數NoiseIndicator(i)、NoisyLineSet(second)、NumNoisyLine(second)及NumNoise(second)(ST6)。
NoisyLineSet(second)係於第2連接狀態下滿足NoiseIndicator(i)>FingerWidthwithMargin之關係之感測線之集合。
NumNoisyLine(second)係表示第2連接狀態下之集合NoisyLineSet(second)之要素個數的變數。即，NumNoisyLine(second)表示滿足NoiseIndicator(i)>FingerWidthwithMargin之關係之感測線之條數(第1線數)。
NumNoise(second)係表示關於第2連接狀態下之NoisyLineSet(second)所包含之感測線之NoiseIndicator(i)之和的變數。即，滿足NoiseIndicator(i)>FingerWidthwithMargin之關係之感測線之NoiseIndicator(i)之合計(第1合計)為NumNoise(second)。
雜訊偵測部8自第1連接狀態之參數及第2連接狀態之參數求出以下之雜訊指標NoiseMetric。
NoiseMetric=NumNoise(first)+NumNoise(second)-2×NumNoisyLine(first)×NumNoisyLine(second)
認為外來雜訊越大，則雜訊指標NoiseMetric變得越大。雜訊偵測部8於NoiseMetric>0之情形時(ST7中為是(Yes))，判定為存在外來雜訊。
於NoiseMetric≦0之情形時(ST7中為否(No))，雜訊偵測部8判定為不存在外來雜訊，並將判定結果通知給觸控位置檢測部9。觸控位置檢測部9基於第1連接狀態及/或第2連接狀態之感測信號之強度分佈，而特定出被指示體觸控之位置(ST8)。
於NoiseMetric>0之情形時(ST7中為是)，雜訊偵測部8判定為存 在雜訊。繼而，雜訊偵測部8判定是否進行了特定次數以上之ST1至ST7之雜訊判定處理。再者，雜訊偵測部8預先儲存(記憶)雜訊指標NoiseMetric及所對應之信號之強度分佈。
於進行了特定次數以上之ST1至ST7之雜訊判定處理之情形時(ST9中為是)，雜訊偵測部8將複數次雜訊判定處理中NoiseMetric最小時之感測信號之強度分佈輸出至觸控位置檢測部9。於NoiseMetric之值較小之情形時，認為外來雜訊之影響亦較小。繼而，觸控位置檢測部9基於接收到之感測信號之強度分佈，而特定出被指示體觸控之位置(ST8)。再者，雜訊偵測部8(通知部)亦可將外來雜訊之有無通知給觸控位置檢測部9或利用觸控感測器系統1之裝置(主機裝置)。
於已進行之ST1至ST7之雜訊判定處理未達特定次數之情形時(ST9中為否)，雜訊偵測部8判定為存在外來雜訊，對動作控制部7輸出進行雜訊去除之指示。動作控制部7為進行雜訊去除而變更動作條件(ST10)。例如，為進行雜訊去除而變更驅動信號之頻率。再者，亦可應用其他雜訊去除手段。其後，靜電容量值分佈檢測電路2於經變更之動作條件下重複進行ST1~ST7之雜訊判定處理。
再者，於NoiseMetric>0之情形時，亦可在雜訊偵測部8對主機通知有表示存在外來雜訊之警告後，由觸控位置檢測部9特定出被指示體觸控之位置。該警告亦可包含NoiseMetric之值。認為NoiseMetric越小，外來雜訊之影響越小，因此主機可識別外來雜訊之影響量(強度)。
圖8係表示通常結束時之複數次雜訊判定處理中之雜訊指標NoiseMetric之值之一例的圖。於圖8所示之例中，藉由變更雜訊去除之動作條件，而於第4次處理中雜訊指標NoiseMetric成為0。雜訊偵測部8為進行觸控位置之檢測而採用第4次處理中之感測信號之強度分佈。
圖9係表示附帶條件結束時之複數次雜訊判定處理中之雜訊指標NoiseMetric之值之一例的圖。於圖9所示之例中，即便變更雜訊去除之動作條件，雜訊指標NoiseMetric亦不成為0，雜訊判定處理達到特定次數(6次)，因此結束處理。於此情形時，雜訊偵測部8為進行觸控位置之檢測而採用雜訊指標NoiseMetric為最小時(第4次)之感測信號之強度分佈。又，其後動作控制部7可於雜訊指標NoiseMetric成為最小之第4次動作條件下進行雜訊去除。
如此，根據本實施形態，靜電容量值分佈檢測電路2可偵測到存在外來雜訊，並於存在外來雜訊之情形時進行雜訊去除之處理。又，雜訊去除之結果為，靜電容量值分佈檢測電路2可判定是否已去除外來雜訊或尚殘存有外來雜訊。靜電容量值分佈檢測電路2可定量地求出信號中所含之外來雜訊之大小作為雜訊指標NoiseMetric。因此，可以外來雜訊成為極小之方式選擇最佳之雜訊去除處理。
圖10係用以說明各參數之圖。圖10(a)係表示各交點之感測信號之強度分佈之曲線圖，圖10(b)係表示第i條感測線之強度分佈之曲線圖。NoiseTh為信號強度之閾值。信號強度(信號絕對值)超過NoiseTh之交點數為NoiseIndicator(i)。NoiseIndicator(i)超過FingerWidthwithMargin之感測線之集合為NoisyLineSet。圖10中之{Ai、Aj、Ak}表示第i~第k條感測線。NoiseIndicator(i)超過FingerWidthwithMargin之感測線之數為NumNoisyLine。
(雜訊檢測之具體例1)
列舉垂直信號線為21條、水平信號線為11條之觸控面板作為示例，而說明雜訊判定處理之具體例。
圖11係表示於第1連接狀態下測定之感測信號之強度分佈之具體例之圖。圖12係與圖11對應，表示於第2連接狀態下測定之感測信號之強度分佈之具體例之圖。此處，信號閾值NoiseTh為100， FingerWidthwithMargin為7。
於第1連接狀態(圖11)下，垂直信號線為驅動線，水平信號線為感測線。於圖11中，S0~S10表示感測線之編號，D0~D20表示驅動線之編號。如圖11之NoiseIndicator(i)所示，於第1連接狀態下，存在若干信號強度超過信號閾值NoiseTh(=100)之交點，但NoiseIndicator(i)超過FingerWidthwithMargin(=7)之感測線為0條。因此，NumNoisyLine(first)為0，NumNoise(first)亦為0。
於第2連接狀態(圖12)下，水平信號線為驅動線，垂直信號線為感測線。於圖12中，S0~S20表示感測線之編號，D0~D10表示驅動線之編號。如圖12之NoiseIndicator(i)所示，於第2連接狀態下，存在若干信號強度超過信號閾值NoiseTh之交點，但NoiseIndicator(i)超過FingerWidthwithMargin(=7)之感測線為0條。因此，NumNoisyLine(second)為0，NumNoise(second)亦為0。
因此，雜訊指標NoiseMetric=0。由於雜訊指標NoiseMetric不超過0，故於圖11及圖12所示之情形時，雜訊偵測部8判定為不存在外來雜訊。
(雜訊檢測之具體例2)
其次，對獲得另一強度分佈之情形時之雜訊判定處理之具體例進行說明。
圖13係表示於第1連接狀態下測定之感測信號之強度分佈之具體例之圖。圖14係與圖13對應，表示於第2連接狀態下測定之感測信號之強度分佈之具體例之圖。此處，信號閾值NoiseTh為100，FingerWidthwithMargin為7。
於第1連接狀態(圖13)下，垂直信號線為驅動線，水平信號線為感測線。信號強度超過信號閾值NoiseTh(=100)之交點數為NoiseIndicator(i)。如圖13之NoiseIndicator(i)所示，於第1連接狀態 下，存在4條NoiseIndicator(i)超過FingerWidthwithMargin(=7)之感測線。NumNoisyLine(first)=4。又，NumNoise(first)為該等感測線之NoiseIndicator(i)之和，因此NumNoise(first)=10+16+8+17=51。
於第2連接狀態(圖14)下，水平信號線為驅動線，垂直信號線為感測線。信號強度超過信號閾值NoiseTh(=100)之交點數為NoiseIndicator(i)。如圖14之NoiseIndicator(i)所示，於第2連接狀態下，存在2條NoiseIndicator(i)超過FingerWidthwithMargin(=7)之感測線。NumNoisyLine(second)=2。又，NumNoise(second)為該等感測線之NoiseIndicator(i)之和，因此NumNoise(second)=10+9=19。
因此，此情形時之雜訊指標NoiseMetric=51+19-2×4×2=54。由於雜訊指標NoiseMetric超過0，故於圖13及圖14所示之情形時，雜訊偵測部8判定為存在外來雜訊。
(雜訊檢測之具體例3)
其次，對獲得另一強度分佈之情形時之雜訊判定處理之具體例進行說明。此處，對由2個指示體對相互相隔之位置同時進行觸控之狀況進行說明。
圖15係表示於第1連接狀態下測定之感測信號之強度分佈之具體例的圖。圖16係與圖15對應，表示於第2連接狀態下測定之感測信號之強度分佈之具體例的圖。此處，信號閾值NoiseTh為100，FingerWidthwithMargin為7。
於第1連接狀態(圖15)下，垂直信號線為驅動線，水平信號線為感測線。由於2個指示體對觸控面板進行觸控，故於驅動線D5周圍及驅動線D15周圍之相隔之2個部位存在信號強度之波峰。信號強度超過信號閾值NoiseTh(=100)之交點數為NoiseIndicator(i)。如圖15之NoiseIndicator(i)所示，於第1連接狀態下，存在4條NoiseIndicator(i)超過FingerWidthwithMargin(=7)之感測線。NumNoisyLine(first)= 4。又，NumNoise(first)為該等感測線之NoiseIndicator(i)之和，因此NumNoise(first)=11+17+8+18=54。
於第2連接狀態(圖16)下，水平信號線為驅動線，垂直信號線為感測線。信號強度超過信號閾值NoiseTh(=100)之交點數為NoiseIndicator(i)。如圖16之NoiseIndicator(i)所示，於第2連接狀態下，NoiseIndicator(i)超過FingerWidthwithMargin(=7)之感測線於S5、S6存在2條，於S17、S18亦存在2條。即，於第2連接狀態下，NoiseIndicator(i)超過FingerWidthwithMargin(=7)之感測線合計存在4條。NumNoisyLine(second)=4。又，NumNoise(second)為該等感測線之NoiseIndicator(i)之和，因此NumNoise(second)=10+9+8+8=35。
因此，此情形時之雜訊指標NoiseMetric=54+35-2×4×4=57。由於雜訊指標NoiseMetric超過0，故於圖15及圖16所示之情形時，雜訊偵測部8判定為存在外來雜訊。如此，於本實施形態中，即便由複數個指示體同時觸控相隔之位置，亦可判定外來雜訊之存在。
(變化例)
再者，以上基於對各驅動線依序輸出驅動信號之形態進行了說明，但並不限定於此。本實施形態亦可適用於編碼複數個驅動信號，且並列驅動複數條驅動線之觸控面板裝置(例如參照專利文獻4)。複數個驅動信號具有如成為分別正交之信號(線性獨立之信號、基底向量)之脈衝。於此情形時，自感測線輸出之信號作為與複數個靜電容量(交點)對應之信號之線性和而獲得。藉由利用特定之運算解碼自感測線輸出之信號，可獲得具有與各靜電容量值對應之信號強度之信號。
動作控制部7亦可具有用以進行外來雜訊去除之子系統(外來雜訊去除減少部)。除上述變更驅動信號之頻率之方法以外，亦可考慮各 種去除或減少外來雜訊之方法。
例如，對觸控感測器系統為並列驅動複數條驅動線之構成之情形進行說明。動作控制部7包括以將基於相同之載體驅動且相同之相位驅動之複數個線性和信號進行算術平均之實施單位作為訊框單位的子系統、以進行算術平均之實施單位作為載體單位之子系統、及以進行算術平均之實施單位作為相位單位之子系統。動作控制部7亦可為以基於正規化頻率與振幅變化率之間之頻率特性而減少外來雜訊之方式選擇該等子系統之構成。
於該算術平均之實施單位為載體單位、相位單位之情形時，亦可將具備使驅動信號之碼反轉之功能之子系統設置於動作控制部7。於此情形時，亦可為於動作控制部7設置將驅動反轉週期設為2相位單位之子系統、設為1相位單位之子系統，並以基於上述頻率特性減少外來雜訊之方式選擇該等子系統之構成。
又，於具有驅動信號之驅動反轉功能之情形時，亦可設置縮短重設放大電路之重設信號之重設時間之子系統。
[實施形態2]
對本發明之另一實施形態進行說明。再者，為方便說明，對具有與上述實施形態中所說明之圖式相同之功能之構件標附相同之符號，並省略其說明。
本實施形態中，除判定因空間中之電磁波而產生之外來雜訊之有無以外，亦判定因指示體以高速於觸控面板上移動而產生之幻像雜訊之有無。如圖25所示，於指示體(手指)一面對觸控面板3進行觸控一面以高速進行移動之情形時，於指示體所觸控之感測線之感測信號出現幻像雜訊。
觸控感測器系統1之雜訊偵測部8於幻像雜訊檢測開關為ON(接通)之情形時，亦進行幻像雜訊之有無之判定。幻像雜訊檢測開關為 ON或OFF(斷開)之資訊例如可預先記憶於參數記憶部10中。於實施形態1中，對幻像雜訊檢測開關為OFF之情形進行了說明。觸控感測器系統1之構成與實施形態1相同，因此省略詳細之說明。
(雜訊檢測方法之概要)
於本實施形態中，觸控感測器系統1於第1連接狀態下進行2次各交點之靜電容量之測定，於第2連接狀態下進行2次各交點之靜電容量之測定。
圖17及圖18係表示於第1訊框至第4訊框觸控到觸控面板之指示體以高速進行移動之狀況之圖。於此種狀況下，無論指示體之移動方向如何，均於指示體所觸控之感測線上產生幻像雜訊。將移動之指示體所觸控之區域以D表示。此處，指示體沿垂直信號線VL3向下方以高速移動。
圖17(a)係表示第1時刻(第1訊框)之狀況之圖。於第1訊框中，觸控感測器系統1為第1連接狀態。於第1訊框中，自垂直信號線VL供給驅動信號，自水平信號線HL輸出感測信號。於第1訊框中，指示體位於作為感測線之水平信號線HL6、HL7上。由觸控產生之信號強度之波峰位置位於水平信號線HL6、HL7上。因此，幻像雜訊出現於水平信號線HL6、HL7之感測信號中。
於第1時刻之後之第2時刻，觸控感測器系統1自第1連接狀態切換至第2連接狀態。
圖18(a)係表示第3時刻(第2訊框)之狀況之圖。於第2訊框中，觸控感測器系統1為第2連接狀態。於第2訊框中，自水平信號線HL供給驅動信號，自垂直信號線VL輸出感測信號。於第2訊框中，指示體位於作為感測線之垂直信號線VL3上。由觸控產生之信號強度之波峰位置位於垂直信號線VL3上。因此，幻像雜訊出現於垂直信號線VL3之感測信號中。
於第3時刻之後之第4時刻，觸控感測器系統1自第2連接狀態切換至第1連接狀態。
圖17(b)係表示第5時刻(第3訊框)之狀況之圖。於第3訊框中，觸控感測器系統1為第1連接狀態。於第3訊框中，自垂直信號線VL供給驅動信號，自水平信號線HL輸出感測信號。於第3訊框中，指示體位於作為感測線之水平信號線HL8、HL9上。由觸控產生之信號強度之波峰位置位於水平信號線HL8、HL9上。因此，幻像雜訊出現於水平信號線HL8、HL9之感測信號中。由於指示體於時間經過之期間進行移動，故於第1訊框與第3訊框中，出現幻像雜訊之信號線不同。
於第5時刻之後之第6時刻，觸控感測器系統1自第1連接狀態切換至第2連接狀態。
圖18(b)係表示第7時刻(第4訊框)之狀況之圖。於第4訊框中，觸控感測器系統1為第2連接狀態。於第4訊框中，自水平信號線HL供給驅動信號，自垂直信號線VL輸出感測信號。於第4訊框中，指示體位於作為感測線之垂直信號線VL3上。由觸控產生之信號強度之波峰位置位於垂直信號線VL3上。因此，幻像雜訊出現於垂直信號線VL3之感測信號中。
若比較於第1連接狀態之第1訊框及第3訊框之間產生有雜訊之感測線，產生有雜訊之感測線偏移，則可判定該雜訊為幻像雜訊。又，於指示體之移動方向沿水平信號線之情形時，藉由比較於第2連接狀態之第2訊框及第4訊框之間產生有雜訊之感測線，可偵測到產生有雜訊之感測線偏移。
(雜訊檢測方法之詳情)
圖19係表示本實施形態之雜訊檢測之流程之圖。於本實施形態中，觸控感測器系統1判定幻像雜訊及外來雜訊之兩者之有無。
於第0時刻，動作控制部7經由控制線CL對多工器4輸出控制信 號，將多工器4切換為第1連接狀態(ST21)。於第1連接狀態下，垂直信號線VL1~VLM分別連接於驅動部5之驅動線DL1~DLM，水平信號線HL1~HLM分別連接於感測信號處理部6之感測線SL1~SLM。
接著於第1時刻(第1訊框)，驅動部5對驅動線DL1~DLM供給驅動信號。又，感測信號處理部6經由感測線SL1~SLM接收感測信號。又，雜訊偵測部8自參數記憶部10讀入特定之參數(外部參數)NoiseTh及FingerWidthwithMargin。又，雜訊偵測部8自所獲得之感測信號之強度分佈求出第1訊框(第1連接狀態)中之參數NoiseIndicator(i)、NoisyLineSet(first)、NumNoisyLine(first)及NumNoise(first)(ST22)。
NoiseIndicator(i)係表示於第1訊框中第i條感測線上之具有超過信號閾值NoiseTh之信號強度(信號絕對值)之交點數的變數。
NoisyLineSet(first)係於第1訊框中滿足NoiseIndicator(i)>FingerWidthwithMargin之關係之感測線之集合。外來雜訊及幻像雜訊產生於被指示體觸控之位置之感測線，因此，認為第1訊框中之與由觸控產生之信號強度之波峰位置對應之感測線包含於集合NoisyLineSet(first)中。
NumNoisyLine(first)係表示第1訊框中之集合NoisyLineSet(first)之要素個數的變數。即，NumNoisyLine(first)表示滿足NoiseIndicator(i)>FingerWidthwithMargin之關係之感測線之條數。
NumNoise(first)係表示關於第1訊框中之NoisyLineSet(first)所包含之感測線之NoiseIndicator(i)之和的變數。即，滿足NoiseIndicator(i)>FingerWidthwithMargin之關係之感測線之NoiseIndicator(i)之合計為NumNoise(first)。
於較第1時刻更後之第2時刻，動作控制部7經由控制線CL對多工器4輸出控制信號，將多工器4切換為第2連接狀態(ST23)。於第2連接 狀態下，垂直信號線VL1~VLM分別連接於感測信號處理部6之感測線SL1~SLM，水平信號線HL1~HLM分別連接於驅動部5之驅動線DL1~DLM。
接著於第3時刻(第2訊框)，驅動部5對驅動線DL1~DLM供給驅動信號。又，感測信號處理部6經由感測線SL1~SLM接收感測信號。雜訊偵測部8自所獲得之感測信號之強度分佈，求出第2訊框(第2連接狀態)中之參數NoiseIndicator(i)、NoisyLineSet(second)、NumNoisyLine(second)及NumNoise(second)(ST24)。
NoiseIndicator(i)係表示於第2訊框中第i條感測線上之具有超過信號閾值NoiseTh之信號強度(信號絕對值)之交點數的變數。
NoisyLineSet(second)係於第2訊框中滿足NoiseIndicator(i)>FingerWidthwithMargin之關係之感測線之集合。認為第2訊框中之與由觸控產生之信號強度之波峰位置對應之感測線包含於集合NoisyLineSet(second)中。
NumNoisyLine(second)係表示第2訊框中之集合NoisyLineSet(second)之要素個數的變數。即，NumNoisyLine(second)表示滿足NoiseIndicator(i)>FingerWidthwithMargin之關係之感測線之條數。
NumNoise(second)係表示關於第2訊框中之NoisyLineSet(second)所包含之感測線之NoiseIndicator(i)之和的變數。即，滿足NoiseIndicator(i)>FingerWidthwithMargin之關係之感測線之NoiseIndicator(i)之合計為NumNoise(second)。
於較第3時刻更後之第4時刻，動作控制部7經由控制線CL對多工器4輸出控制信號，將多工器4切換為第1連接狀態(ST25)。
接著於第5時刻(第3訊框)，驅動部5對驅動線DL1~DLM供給驅動信號。又，感測信號處理部6經由感測線SL1~SLM接收感測信 號。又，雜訊偵測部8自所獲得之感測信號之強度分佈求出第3訊框(第1連接狀態)中之參數NoiseIndicator(i)、NoisyLineSet(third)、NumNoisyLine(third)及NumNoise(third)(ST26)。
NoiseIndicator(i)係表示於第3訊框中第i條感測線上之具有超過信號閾值NoiseTh之信號強度(信號絕對值)之交點數的變數。
NoisyLineSet(third)係於第3訊框中滿足NoiseIndicator(i)>FingerWidthwithMargin之關係之感測線之集合。認為第3訊框中之與由觸控產生之信號強度之波峰位置對應之感測線包含於集合NoisyLineSet(third)中。
NumNoisyLine(third)係表示第3訊框中之集合NoisyLineSet(third)之要素個數的變數。即，NumNoisyLine(third)表示滿足NoiseIndicator(i)>FingerWidthwithMargin之關係之感測線之條數。
NumNoise(third)係表示關於第3訊框中之NoisyLineSet(third)所包含之感測線之NoiseIndicator(i)之和的變數。即，滿足NoiseIndicator(i)>FingerWidthwithMargin之關係之感測線之NoiseIndicator(i)之合計為NumNoise(third)。
於較第5時刻更後之第6時刻，動作控制部7經由控制線CL對多工器4輸出控制信號，將多工器4切換為第2連接狀態(ST27)。
接著於第7時刻(第4訊框)，驅動部5對驅動線DL1~DLM供給驅動信號。又，感測信號處理部6經由感測線SL1~SLM接收感測信號。雜訊偵測部8自所獲得之感測信號之強度分佈求出第4訊框(第2連接狀態)中之參數NoiseIndicator(i)、NoisyLineSet(fourth)、NumNoisyLine(fourth)及NumNoise(fourth)(ST28)。
NoiseIndicator(i)係表示於第4訊框中第i條感測線上之具有超過信號閾值NoiseTh之信號強度(信號絕對值)之交點個數的變數。
NoisyLineSet(fourth)係於第4訊框中滿足NoiseIndicator(i)> FingerWidthwithMargin之關係之感測線之集合。認為第4訊框中之與由觸控產生之信號強度之波峰位置對應之感測線包含於集合NoisyLineSet(fourth)中。
NumNoisyLine(fourth)係表示第4訊框中之集合NoisyLineSet(fourth)之要素個數的變數。即，NumNoisyLine(fourth)表示滿足NoiseIndicator(i)>FingerWidthwithMargin之關係之感測線之條數。
NumNoise(fourth)係表示關於第4訊框中之NoisyLineSet(fourth)所包含之感測線之NoiseIndicator(i)之和的變數。即，滿足NoiseIndicator(i)>FingerWidthwithMargin之關係之感測線之NoiseIndicator(i)之合計為NumNoise(fourth)。
雜訊偵測部8自參數記憶部10讀入特定之參數(外部參數)MoveTh(移動閾值)。MoveTh為感測線之偏移量之閾值。
雜訊偵測部8將第1連接狀態之第1訊框之NoisyLineSet(first)與第1連接狀態之第3訊框之NoisyLineSet(third)進行比較。藉由該比較，雜訊偵測部8求出第1訊框與第3訊框之間的認為出現雜訊之感測線之偏移量。同樣地，雜訊偵測部8將第2連接狀態之第2訊框之NoisyLineSet(second)與第2連接狀態之第4訊框之NoisyLineSet(fourth)進行比較。藉由該比較，雜訊偵測部8求出第2訊框與第4訊框之間的認為出現雜訊之感測線之偏移量(ST29)。
再者，集合NoisyLineSet儲存有具有超過信號閾值NoiseTh之信號強度(信號絕對值)之交點超過閾值FingerWidthwithMargin的感測線。即，於集合NoisyLineSet中所含之感測線上包含大量信號強度較大之交點。集合NoisyLineSet中所含之感測線係產生雜訊之可能性較高之感測線。
雜訊偵測部8(幻像雜訊判定部)於第1訊框與第3訊框之間之偏移 量超過閾值MoveTh之情形時、或第2訊框與第4訊框之間之偏移量超過閾值MoveTh之情形時(ST30中為是)，判定為存在幻像雜訊。於此情形時，雜訊偵測部8對主機裝置通知存在幻像雜訊(ST31)，並結束處理。於此情形時，觸控感測器系統1為了避免幻像雜訊之產生亦可於經過特定之時間後重新進行自ST21之感測。
雜訊偵測部8於第1訊框與第3訊框之間之偏移量為閾值MoveTh以下且第2訊框與第4訊框之間之偏移量為閾值MoveTh以下之情形時(ST30中為否)，進行ST32以後之外來雜訊之判定處理。
雜訊偵測部8自第1連接狀態之參數及第2連接狀態之參數求出雜訊指標NoiseMetric。此時，雜訊偵測部8自第1訊框之參數及第2訊框之參數求出第1雜訊指標NoiseMetric，自第2訊框之參數及第3訊框之參數求出第2雜訊指標NoiseMetric，自第3訊框之參數及第4訊框之參數求出第3雜訊指標NoiseMetric(ST32)。連續之2個訊框之連接狀態不同，因此雜訊偵測部8可求出複數個雜訊指標。
雜訊偵測部8於任一NoiseMetric為NoiseMetric>0之情形時(ST33中為是)，判定為存在外來雜訊。
於所有NoiseMetric均為NoiseMetric≦0之情形時(ST33中為否)，雜訊偵測部8判定為不存在外來雜訊，並將判定結果通知給觸控位置檢測部9。觸控位置檢測部9基於任一訊框之感測信號之強度分佈而特定出被指示體觸控之位置(ST34)。
於任一NoiseMetric為NoiseMetric>0之情形時(ST33中為是)，雜訊偵測部8判定為存在雜訊。繼而，雜訊偵測部8判定是否進行了特定次數以上之自ST21之雜訊判定處理。再者，雜訊偵測部8預先儲存(記憶)雜訊指標NoiseMetric及所對應之信號之強度分佈。
於進行了特定次數以上之自ST21之雜訊判定處理之情形時(ST35中為是)，雜訊偵測部8對觸控位置檢測部9輸出複數次雜訊判定處理 中NoiseMetric最小時之感測信號之強度分佈。於NoiseMetric之值較小之情形時，認為外來雜訊之影響亦較小。繼而，觸控位置檢測部9基於接收到之感測信號之強度分佈，而特定出被指示體觸控之位置(ST34)。
於已進行之自ST21之雜訊判定處理未達特定次數之情形時(ST35中為否)，雜訊偵測部8判定為存在外來雜訊，對動作控制部7輸出進行雜訊去除之指示。動作控制部7為進行雜訊去除而變更動作條件(ST36)。例如，為進行雜訊去除而變更驅動信號之頻率。再者，亦可應用其他雜訊去除方法。其後，靜電容量值分佈檢測電路2於經變更之動作條件下重複進行自ST21之雜訊判定處理。
再者，於任一NoiseMetric>0之情形時，亦可於雜訊偵測部8對主機通知表示存在外來雜訊之警告後，由觸控位置檢測部9特定出被指示體觸控之位置。該警告亦可包含NoiseMetric之值。認為NoiseMetric越小，外來雜訊之影響越小，因此主機可識別外來雜訊之影響量(強度)。
再者，上述例中求出了複數個雜訊指標NoiseMetric，但雜訊偵測部8亦可僅求出2個訊框間之1個雜訊指標NoiseMetric而用於外來雜訊判定處理。
根據本實施形態，靜電容量值分佈檢測電路2可判定幻像雜訊之存在之有無。又，靜電容量值分佈檢測電路2可區分原因互不相同之外來雜訊與幻像雜訊。因此，靜電容量值分佈檢測電路2可根據雜訊為外來雜訊抑或為幻像雜訊，而進行適當之處理(雜訊去除處理等)。
(雜訊檢測之具體例4)
列舉垂直信號線為21條、水平信號線為11條之觸控面板作為示例，說明雜訊判定處理之具體例。
圖20係表示於第1訊框(第1連接狀態)中測定之感測信號之強度分 佈之具體例的圖。圖21係表示於第2訊框(第2連接狀態)中測定之感測信號之強度分佈之具體例的圖。圖22係表示於第3訊框(第1連接狀態)中測定之感測信號之強度分佈之具體例的圖。圖23係表示於第4訊框(第2連接狀態)中測定之感測信號之強度分佈之具體例的圖。此處，信號閾值NoiseTh為100，FingerWidthwithMargin為7，閾值MoveTh為1。
於第1訊框(圖20)中，垂直信號線為驅動線，水平信號線為感測線。於圖20中，S0~S10表示感測線之編號，D0~D20表示驅動線之編號。信號強度超過信號閾值NoiseTh(=100)之交點數為NoiseIndicator(i)。如圖20之NoiseIndicator(i)所示，於第1訊框中，存在4條NoiseIndicator(i)超過FingerWidthwithMargin(=7)之感測線。集合NoisyLineSet(first)={S3、S4、S5、S6}。NumNoisyLine(first)=4。又，NumNoise(first)為該等感測線之NoiseIndicator(i)之和，因此NumNoise(first)=10+16+8+17=51。
於第2訊框(圖21)中，水平信號線為驅動線，垂直信號線為感測線。信號強度超過信號閾值NoiseTh(=100)之交點數為NoiseIndicator(i)。如圖21之NoiseIndicator(i)所示，於第2訊框中，存在2條NoiseIndicator(i)超過FingerWidthwithMargin(=7)之感測線。集合NoisyLineSet(second)={S6、S7}。NumNoisyLine(second)=2。又，NumNoise(second)為該等感測線之NoiseIndicator(i)之和，因此NumNoise(second)=10+9=19。
於第3訊框(圖22)中，垂直信號線為驅動線，水平信號線為感測線。信號強度超過信號閾值NoiseTh(=100)之交點數為NoiseIndicator(i)。如圖22之NoiseIndicator(i)所示，於第3訊框中，存在4條NoiseIndicator(i)超過FingerWidthwithMargin(=7)之感測線。集合NoisyLineSet(third)={S3、S4、S5、S6}。NumNoisyLine(third)= 4。又，NumNoise(third)為該等感測線之NoiseIndicator(i)之和，因此NumNoise(third)=11+15+8+17=51。
於第4訊框(圖23)中，水平信號線為驅動線，垂直信號線為感測線。信號強度超過信號閾值NoiseTh(=100)之交點數為NoiseIndicator(i)。如圖23之NoiseIndicator(i)所示，於第4訊框中，存在2條NoiseIndicator(i)超過FingerWidthwithMargin(=7)之感測線。集合NoisyLineSet(fourth)={S8、S9}。NumNoisyLine(fourth)=2。又，NumNoise(fourth)為該等感測線之NoiseIndicator(i)之和，因此NumNoise(fourth)=10+9=19。
第1訊框之集合NoisyLineSet(first)與第3訊框之集合NoisyLineSet(third)相同，因此第1訊框與第3訊框之間之偏移量為0。第2訊框之集合NoisyLineSet(second)={S6、S7}與第4訊框之集合NoisyLineSet(fourth)={S8、S9}中之2條感測線偏移。因此，第2訊框與第4訊框之間之偏移量為2。由於第2訊框與第4訊框之間之偏移量超過閾值MoveTh(=1)，故於圖20至圖23所示之情形時，雜訊偵測部8判定為存在幻像雜訊。
[實施形態3]
對本發明之另一實施形態進行說明。再者，為方便說明，對具有與上述實施形態中所說明之圖式相同之功能之構件標附相同之符號，並省略其說明。於本實施形態中，對作為搭載有實施形態1之觸控感測器系統1之電子機器之例的行動電話機100進行說明。
(行動電話機100之構成)
圖24係表示本實施形態之行動電話機100之構成之方塊圖。圖25係表示行動電話機100之外觀之圖。
行動電話機100(智慧型手機)包括CPU(Central Processing Unit，中央處理單元)110、RAM(Random Access Memory，隨機存取記憶 體)112、ROM(Read Only Memory，唯讀記憶體)111、相機113、麥克風114、揚聲器115、操作鍵盤116、顯示面板118、顯示控制電路109及觸控感測器系統1。各構成要素彼此藉由資料匯流排(data bus)而連接。
CPU110控制行動電話機100之動作。CPU110執行儲存於例如ROM111之程式。操作鍵盤116接收使用者對行動電話機100之指示之輸入。RAM112揮發性地儲存由CPU110執行程式而產生之資料、或經由操作鍵盤116輸入之資料。ROM111非揮發性地儲存資料。
又，ROM111係EPROM(Erasable Programmable Read-Only Memory，可抹除可程式化唯讀記憶體)或快閃記憶體等可進行寫入及抹除之ROM。又，雖然於圖24中未作揭示，但行動電話機100亦可設為具備用以藉由有線連接於其他電子機器之介面(IF)之構成。
相機113根據使用者之操作鍵盤116之操作而拍攝被攝體。再者，被拍攝之被攝體之圖像資料儲存於RAM112或外部記憶體(例如記憶卡)中。麥克風114受理使用者之聲音之輸入。行動電話機100將該輸入之聲音(類比資料)數位化。繼而，行動電話機100對通信對象(例如其他行動電話機)輸送經數位化之聲音。揚聲器115輸出基於例如記憶於RAM112之音樂資料等之聲音。
觸控感測器系統1包含觸控面板3及靜電容量值分佈檢測電路2。
顯示面板118藉由顯示控制電路109而顯示儲存於ROM111、RAM112之圖像。顯示面板118可重疊於觸控面板3，亦可內設於觸控面板3。
[總結]
本發明之一態樣之靜電容量值分佈檢測裝置係為了檢測分別形成於複數條第1信號線(垂直信號線VL)與複數條第2信號線(水平信號線HL)之交點的複數個靜電容量之值之分佈，而於第1時刻，驅動上 述第1信號線而使與上述靜電容量對應之電荷自上述第2信號線輸出，於較上述第1時刻更後之第2時刻，切換控制上述第1及上述第2信號線之連接，於較上述第2時刻更後之第3時刻，驅動上述第2信號線而使與上述靜電容量對應之電荷自上述第1信號線輸出者；且該靜電容量值分佈檢測裝置包括外來雜訊判定部(雜訊偵測部8)，該外來雜訊判定部(雜訊偵測部8)判定通過所觸控之指示體而沿與上述靜電容量對應之電荷之輸出方向產生之外來雜訊之有無。
根據上述構成，於檢測靜電容量值之分佈之靜電容量值分佈檢測裝置中，可判定人體等接收到之電磁雜訊經由指示體混入之外來雜訊之有無。
亦可構成為，於將與上述靜電容量值對應之信號超過檢測閾值之靜電容量數設為超閾值靜電容量數時，上述外來雜訊判定部基於沿上述第1信號線之第1檢測區域內之超閾值靜電容量數與沿上述第2信號線之第2檢測區域內之超閾值靜電容量數而判定上述外來雜訊之有無。
根據上述構成，可藉由信號超過檢測閾值之靜電容量之數而判定外來雜訊之有無。
亦可構成為，上述外來雜訊判定部自於上述第1時刻獲得之與上述靜電容量值對應之信號檢測上述第2檢測區域內之超閾值靜電容量數，自於上述第3時刻獲得之與上述靜電容量值對應之信號檢測上述第1檢測區域內之超閾值靜電容量數。
亦可構成為，上述外來雜訊判定部自於上述第1時刻獲得之與上述靜電容量值對應之信號，針對每條上述第2信號線，求出超過上述檢測閾值之靜電容量數作為上述超閾值靜電容量數，求出上述複數條第2信號線中上述超閾值靜電容量數超過第2閾值之上述第2信號線之條數作為第2線數，求出上述複數條第2信號線中上述超閾值靜電容量 數超過第2閾值之上述第2信號線之上述超閾值靜電容量數之合計作為第2合計，且自於上述第3時刻獲得之與上述靜電容量值對應之信號，針對每條上述第1信號線，求出超過上述檢測閾值之靜電容量數作為上述超閾值靜電容量數，求出上述複數條第1信號線中上述超閾值靜電容量數超過第1閾值之上述第1信號線之條數作為第1線數，求出上述複數條第1信號線中上述超閾值靜電容量數超過第1閾值之上述第1信號線之上述超閾值靜電容量數之合計作為第1合計，基於上述第1合計、上述第2合計、上述第1線數及上述第2線數，而判定上述外來雜訊之有無。
根據上述構成，可根據超過檢測閾值之靜電容量數之多少而判定外來雜訊之有無。
亦可構成為，上述外來雜訊判定部求出自上述第1合計及上述第2合計之和減去上述第1線數及上述第2線數之積之2倍值所得的值作為雜訊指標，於上述雜訊指標大於零之情形時，判定為產生了上述外來雜訊。
根據上述構成，可自由外來雜訊產生之信號與由指示體之觸控產生之信號，以雜訊指標表示由外來雜訊產生之信號之多少。因此，可藉由雜訊指標適當地判定外來雜訊之有無。
亦可構成為，上述外來雜訊判定部求出自上述第1合計及上述第2合計之和減去上述第1線數及上述第2線數之積之2倍值所得的值作為雜訊指標，於上述雜訊指標為零以下之情形時，判定為未產生上述外來雜訊。
亦可構成為，上述靜電容量值分佈檢測裝置進而包括基於上述外來雜訊判定部之判定結果而去除減少上述外來雜訊之外來雜訊去除減少部(動作控制部7)，上述外來雜訊判定部於利用上述外來雜訊去除減少部執行外來雜訊去除減少處理後，判定上述外來雜訊之有無。
亦可構成為，上述靜電容量值分佈檢測裝置進而包括將上述外來雜訊判定部之判定結果通知給主機裝置之通知部(雜訊偵測部8)。
亦可構成為，上述外來雜訊判定部測定並儲存上述外來雜訊之雜訊量，上述外來雜訊去除減少部基於上述儲存之雜訊量為最小時之條件而去除減少上述外來雜訊。
根據上述構成，外來雜訊去除減少部可基於雜訊量而適當地去除減少外來雜訊。
亦可構成為，上述靜電容量值分佈檢測裝置進而包括判定通過高速移動之指示體之觸控而沿與上述靜電容量對應之電荷之輸出方向產生之幻像雜訊之有無的幻像雜訊判定部(雜訊偵測部8)。
根據上述構成，亦可判定原因與外來雜訊不同之幻像雜訊之有無。
亦可構成為，上述靜電容量值分佈檢測裝置於較上述第3時刻更後之第4時刻，切換控制上述第1及上述第2信號線之連接，於較上述第4時刻更後之第5時刻，驅動上述第1信號線而使與上述靜電容量對應之電荷自上述第2信號線輸出，上述外來雜訊判定部於將與上述靜電容量值對應之信號超過檢測閾值之靜電容量數設為超閾值靜電容量數時，上述外來雜訊判定部基於沿上述第1信號線之第1檢測區域內之超閾值靜電容量數與沿上述第2信號線之第2檢測區域內之超閾值靜電容量數，而判定上述外來雜訊之有無，上述外來雜訊判定部於上述第1時刻檢測上述第2檢測區域內之超閾值靜電容量數，於上述第3時刻檢測上述第1檢測區域內之超閾值靜電容量數，上述幻像雜訊判定部於上述第1時刻檢測與上述靜電容量對應之信號之沿上述第2信號線之波峰位置，於上述第5時刻檢測與上述靜電容量對應之信號之沿上述第2信號線之波峰位置。
亦可構成為，上述靜電容量值分佈檢測裝置於較上述第5時刻更 後之第6時刻，切換控制上述第1及上述第2信號線之連接，於較上述第6時刻更後之第7時刻，驅動上述第2信號線而使與上述靜電容量對應之電荷自上述第1信號線輸出，上述外來雜訊判定部於上述第5時刻檢測上述第2檢測區域內之超閾值靜電容量數，於上述第7時刻檢測上述第1檢測區域內之超閾值靜電容量數。
亦可構成為，上述靜電容量值分佈檢測裝置於較上述第5時刻更後之第6時刻，切換控制上述第1及上述第2信號線之連接，於較上述第6時刻更後之第7時刻，驅動上述第2信號線而使與上述靜電容量對應之電荷自上述第1信號線輸出，上述幻像雜訊判定部基於第1判定結果與第2判定結果而判定上述幻像雜訊之有無，該第1判定結果係藉由於上述第1時刻檢測與上述靜電容量對應之信號之沿上述第2信號線之波峰位置、於上述第5時刻檢測與上述靜電容量對應之信號之沿上述第2信號線之波峰位置而獲得，該第2判定結果係藉由於上述第3時刻檢測與上述靜電容量對應之信號之沿上述第1信號線之波峰位置、於上述第7時刻檢測與上述靜電容量對應之信號之沿上述第1信號線之波峰位置而獲得。
根據上述構成，可基於根據2個時刻之與靜電容量對應之信號之波峰位置而獲得之判定結果，而判定幻像雜訊之有無。因此，可區分外來雜訊與幻像雜訊。
亦可構成為，上述靜電容量值分佈檢測裝置進而包括將上述幻像雜訊判定部之判定結果通知給主機裝置之通知部。
亦可構成為，上述靜電容量值分佈檢測裝置基於上述幻像雜訊判定部之判定結果而結束外來雜訊去除減少處理。
根據上述構成，可區分外來雜訊與幻像雜訊，因此可防止於存在幻像雜訊之情形時進行外來雜訊去除減少處理等不適當之處理。
亦可構成為，上述外來雜訊判定部基於由上述第1時刻之檢測結 果及上述第3時刻之檢測結果所得的第1判定結果、由上述第3時刻之檢測結果及上述第5時刻之檢測結果所得的第2判定結果、由上述第5時刻之檢測結果及上述第7時刻之檢測結果所得的第3判定結果，而判定上述外來雜訊之有無。
本發明之一態樣之靜電容量值分佈檢測裝置係為了檢測分別形成於複數條第1信號線與複數條第2信號線之交點的複數個靜電容量之值之分佈，而於第1時刻，驅動上述第1信號線而使與上述靜電容量對應之電荷自上述第2信號線輸出，於較上述第1時刻更後之第2時刻，切換控制上述第1及上述第2信號線之連接，於較上述第2時刻更後之第3時刻，驅動上述第2信號線而使與上述靜電容量對應之電荷自上述第1信號線輸出者；且該靜電容量值分佈檢測裝置設置有外來雜訊判定部，該外來雜訊判定部係判定通過所觸控之第1及第2指示體而沿與上述靜電容量對應之電荷之輸出方向產生之外來雜訊之有無；於將與上述靜電容量值對應之信號超過檢測閾值之靜電容量數設為超閾值靜電容量數時，上述外來雜訊判定部基於沿上述第1信號線之第1檢測區域內之超閾值靜電容量數、沿上述第2信號線之第2檢測區域內之超閾值靜電容量數、沿上述第1信號線之第3檢測區域內之超閾值靜電容量數、及沿上述第2信號線之第4檢測區域內之超閾值靜電容量數，而檢測上述外來雜訊，上述外來雜訊判定部係於上述第1時刻檢測上述第2檢測區域內之超閾值靜電容量數與上述第4檢測區域內之超閾值靜電容量數，於上述第3時刻檢測上述第1檢測區域內之超閾值靜電容量數與上述第3檢測區域內之超閾值靜電容量數。
根據上述構成，於複數個指示體觸控不同之區域之情形時，亦可適當地判定外來雜訊之有無。
本發明並不限定於上述各實施形態，可於申請專利範圍所示之範圍內進行各種變更，適當組合不同之實施形態中分別揭示之技術手 段而獲得之實施形態亦包含於本發明之技術範圍內。
[產業上之可利用性]
本發明可利用於靜電容量值分佈檢測裝置、觸控面板裝置及行動電話機等電子機器。
1‧‧‧觸控感測器系統
2‧‧‧靜電容量值分佈檢測電路(靜電容量值分佈檢測裝置)
3‧‧‧觸控面板
4‧‧‧多工器
5‧‧‧驅動部
6‧‧‧感測信號處理部
7‧‧‧動作控制部(外來雜訊去除減少部)
8‧‧‧雜訊偵測部(外來雜訊判定部、幻像雜訊判定部、通知部)
9‧‧‧觸控位置檢測部
10‧‧‧參數記憶部
CL‧‧‧控制線
DL1~DLM‧‧‧驅動線
HL1~HLM‧‧‧水平信號線(第2信號線)
SL1~SLM‧‧‧感測線
VI1~VLM‧‧‧垂直信號線(第1信號線)

Claims (19)

  1. 一種靜電容量值分佈檢測裝置，其特徵在於：為了檢測分別形成於複數條第1信號線與複數條第2信號線之交點的複數個靜電容量值之分佈，於第1時刻，驅動上述第1信號線而使與上述靜電容量對應之電荷自上述第2信號線輸出，於較上述第1時刻更後之第2時刻，切換控制上述第1及上述第2信號線之連接，於較上述第2時刻更後之第3時刻，驅動上述第2信號線而使與上述靜電容量對應之電荷自上述第1信號線輸出；且設置有外來雜訊判定部，該外來雜訊判定部係判定通過所觸控之指示體而沿與上述靜電容量對應之電荷之輸出方向產生之外來雜訊之有無。
  2. 如請求項1之靜電容量值分佈檢測裝置，其中於將與上述靜電容量值對應之信號超過檢測閾值之靜電容量數設為超閾值靜電容量數時，上述外來雜訊判定部基於沿上述第1信號線之第1檢測區域內之超閾值靜電容量數與沿上述第2信號線之第2檢測區域內之超閾值靜電容量數，而判定上述外來雜訊之有無。
  3. 如請求項2之靜電容量值分佈檢測裝置，其中上述外來雜訊判定部係自於上述第1時刻獲得之與上述靜電容量值對應之信號檢測上述第2檢測區域內之超閾值靜電容量數，自於上述第3時刻獲得之與上述靜電容量值對應之信號檢測上述第1檢測區域內之超閾值靜電容量數。
  4. 如請求項2之靜電容量值分佈檢測裝置，其中上述外來雜訊判定部係自於上述第1時刻獲得之與上述靜電容量值對應之信號，針對 每條上述第2信號線，求出超過上述檢測閾值之靜電容量數作為上述超閾值靜電容量數，求出上述複數條第2信號線中上述超閾值靜電容量數超過第2閾值之上述第2信號線之數作為第2線數，求出上述複數條第2信號線中上述超閾值靜電容量數超過第2閾值之上述第2信號線之上述超閾值靜電容量數之合計作為第2合計，自於上述第3時刻獲得之與上述靜電容量值對應之信號，針對每條上述第1信號線，求出超過上述檢測閾值之靜電容量數作為上述超閾值靜電容量數，求出上述複數條第1信號線中上述超閾值靜電容量數超過第1閾值之上述第1信號線之數作為第1線數，求出上述複數條第1信號線中上述超閾值靜電容量數超過第1閾值之上述第1信號線之上述超閾值靜電容量數之合計作為第1合計，基於上述第1合計、上述第2合計、上述第1線數及上述第2線數，而判定上述外來雜訊之有無。
  5. 如請求項4之靜電容量值分佈檢測裝置，其中上述外來雜訊判定部求出自上述第1合計及上述第2合計之和減去上述第1線數及上述第2線數之積之2倍值所得的值作為雜訊指標，於上述雜訊指標大於零之情形時，判定為產生上述外來雜訊。
  6. 如請求項4之靜電容量值分佈檢測裝置，其中上述外來雜訊判定部求出自上述第1合計及上述第2合計之和減去上述第1線數及上述第2線數之積之2倍值所得的值作為雜訊指標，於上述雜訊指標為零以下之情形時，判定為未產生上述外來雜訊。
  7. 如請求項1之靜電容量值分佈檢測裝置，其進而包括外來雜訊去 除減少部，該外來雜訊去除減少部基於上述外來雜訊判定部之判定結果而去除減少上述外來雜訊，上述外來雜訊判定部於利用上述外來雜訊去除減少部執行外來雜訊去除減少處理後，判定上述外來雜訊之有無。
  8. 如請求項1之靜電容量值分佈檢測裝置，其進而包括將上述外來雜訊判定部之判定結果通知給主機裝置之通知部。
  9. 如請求項7之靜電容量值分佈檢測裝置，其中上述外來雜訊判定部測定並儲存上述外來雜訊之雜訊量，上述外來雜訊去除減少部基於上述儲存之雜訊量為最小時之條件而去除減少上述外來雜訊。
  10. 如請求項1之靜電容量值分佈檢測裝置，其進而包括幻像雜訊判定部，該幻像雜訊判定部係判定通過高速移動之指示體之觸控而沿與上述靜電容量對應之電荷之輸出方向產生之幻像雜訊之有無。
  11. 如請求項10之靜電容量值分佈檢測裝置，其中上述靜電容量值分佈檢測裝置於較上述第3時刻更後之第4時刻，切換控制上述第1及上述第2信號線之連接，於較上述第4時刻更後之第5時刻，驅動上述第1信號線而使與上述靜電容量對應之電荷自上述第2信號線輸出，上述外來雜訊判定部於將與上述靜電容量值對應之信號超過檢測閾值之靜電容量數設為超閾值靜電容量數時，上述外來雜訊判定部基於沿上述第1信號線之第1檢測區域內之超閾值靜電容量數與沿上述第2信號線之第2檢測區域內之超閾值靜電容量數，而判定上述外來雜訊之有無，上述外來雜訊判定部於上述第1時刻檢測上述第2檢測區域內之超閾值靜電容量數，於上述第3時刻檢測上述第1檢測區域內 之超閾值靜電容量數，上述幻像雜訊判定部於上述第1時刻檢測與上述靜電容量對應之信號之沿上述第2信號線之波峰位置，於上述第5時刻檢測與上述靜電容量對應之信號之沿上述第2信號線之波峰位置。
  12. 如請求項11之靜電容量值分佈檢測裝置，其中上述靜電容量值分佈檢測裝置於較上述第5時刻更後之第6時刻，切換控制上述第1及上述第2信號線之連接，於較上述第6時刻更後之第7時刻，驅動上述第2信號線而使與上述靜電容量對應之電荷自上述第1信號線輸出，上述外來雜訊判定部於上述第5時刻檢測上述第2檢測區域內之超閾值靜電容量數，於上述第7時刻檢測上述第1檢測區域內之超閾值靜電容量數。
  13. 如請求項11之靜電容量值分佈檢測裝置，其中上述靜電容量值分佈檢測裝置於較上述第5時刻更後之第6時刻，切換控制上述第1及上述第2信號線之連接，於較上述第6時刻更後之第7時刻，驅動上述第2信號線而使與上述靜電容量對應之電荷自上述第1信號線輸出，上述幻像雜訊判定部基於第1判定結果與第2判定結果而判定上述幻像雜訊之有無，該第1判定結果係藉由於上述第1時刻檢測與上述靜電容量對應之信號之沿上述第2信號線之波峰位置，於上述第5時刻檢測與上述靜電容量對應之信號之沿上述第2信號線之波峰位置而獲得，該第2判定結果係藉由於上述第3時刻檢測與上述靜電容量對應之信號之沿上述第1信號線之波峰位置，於上述第7時刻檢測與上述靜電容量對應之信號之沿上述第1信號線之波峰位置而獲得。
  14. 如請求項10之靜電容量值分佈檢測裝置，其進而包括對主機裝 置通知上述幻像雜訊判定部之判定結果之通知部。
  15. 如請求項13之靜電容量值分佈檢測裝置，其基於上述幻像雜訊判定部之判定結果而結束外來雜訊去除減少處理。
  16. 如請求項12之靜電容量值分佈檢測裝置，其中上述外來雜訊判定部基於由上述第1時刻之檢測結果及上述第3時刻之檢測結果所得的第1判定結果、由上述第3時刻之檢測結果及上述第5時刻之檢測結果所得的第2判定結果、及由上述第5時刻之檢測結果及上述第7時刻之檢測結果所得的第3判定結果，而判定上述外來雜訊之有無。
  17. 一種靜電容量值分佈檢測裝置，其特徵在於：為了檢測分別形成於複數條第1信號線與複數條第2信號線之交點的複數個靜電容量之值之分佈，而於第1時刻，驅動上述第1信號線而使與上述靜電容量對應之電荷自上述第2信號線輸出，於較上述第1時刻更後之第2時刻，切換控制上述第1及上述第2信號線之連接，於較上述第2時刻更後之第3時刻，驅動上述第2信號線而使與上述靜電容量對應之電荷自上述第1信號線輸出；且設置有外來雜訊判定部，該外來雜訊判定部係判定通過所觸控之第1及第2指示體而沿與上述靜電容量對應之電荷之輸出方向產生之外來雜訊之有無，於將與上述靜電容量值對應之信號超過檢測閾值之靜電容量數設為超閾值靜電容量數時，上述外來雜訊判定部基於沿上述第1信號線之第1檢測區域內之超閾值靜電容量數、沿上述第2信號線之第2檢測區域內之超閾值靜電容量數、沿上述第1信號線之第3檢測區域內之超閾值靜電容量數、及沿上述第2信號線之第4檢測區域內之超閾值靜電容量數，而檢測上述外來雜訊， 上述外來雜訊判定部於上述第1時刻檢測上述第2檢測區域內之超閾值靜電容量數與上述第4檢測區域內之超閾值靜電容量數，於上述第3時刻檢測上述第1檢測區域內之超閾值靜電容量數與上述第3檢測區域內之超閾值靜電容量數。
  18. 一種包含靜電容量值分佈檢測裝置之觸控面板系統，其特徵在於包括如請求項1至17中任一項之靜電容量值分佈檢測裝置。
  19. 一種靜電容量值分佈檢測裝置之檢測方法，其特徵在於：其係檢測分別形成於複數條第1信號線與複數條第2信號線之交點的複數個靜電容量之值之分佈的靜電容量值分佈檢測裝置之檢測方法，且包括如下步驟：驅動上述第1信號線，使與上述靜電容量對應之第1電荷自上述第2信號線輸出；驅動上述第2信號線，使與上述靜電容量對應之第2電荷自上述第1信號線輸出；及基於上述第1電荷與上述第2電荷，判定通過所觸控之指示體而沿與上述靜電容量對應之電荷之輸出方向產生之外來雜訊之有無。
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