TWI531807B - 含蔽磁體之磁性元件之識別系統及其方法 - Google Patents
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Description
本發明係有關一種磁性元件之識別技術,尤指一種利用磁力感應技術區分或解析含蔽磁體之磁性元件之位置或方向的系統及方法。
近年來新的人機互動方式不斷地被提出,令使用者能夠以更直覺之自然行為操作的模式,與電子裝置進行互動。在現有的人機互動技術中,除了可以讓使用者從螢幕顯示中得到充分的視覺回饋效果外,更可以使用實物操作螢幕中的數位資訊,而能讓使用者得到豐富的觸覺回饋效果。
在現有的人機互動方式中,已具有以解析磁鐵的磁場資訊來決定該磁鐵之位置的技術手段。惟此種技術手段在將多個磁鐵同時放在同一平面上進行解析時,各磁鐵之間會因為磁力影響而相互吸引或相互排斥,而使得各磁鐵之磁場會彼此合併或相互抵銷,造成在偵測磁鐵之磁場資訊時會有干擾及識別問題,並阻礙使用者操作。
是以,如何提供一種磁鐵之識別系統及其方法,以有
效偵測多個磁鐵之同時,更可針對個別之磁鐵提供識別碼,來解決前述多個磁鐵之間的干擾及識別之缺失,為目前亟待解決的課題之一。
為解決前述先前技術之缺失,本發明之目的在於提供一種含蔽磁體之磁性元件之識別系統,包括:至少一磁性元件,其內設有至少一蔽磁體,其中,該蔽磁體包含有至少一磁鐵及設於該磁鐵周圍之遮蔽件;磁場感測器,係由以陣列形式設置之複數磁性感測元件所組成,而該磁場感測器係感測該蔽磁體之磁鐵之磁場以產生磁性感測訊號;以及計算單元,包括:特徵資料庫,儲存有複數組特徵資料曲線,該複數組特徵資料曲線係分別由對應不同極性、強度之蔽磁體所建立且分別具有不同的識別碼;曲線建立模組,用以將該磁性感測訊號轉換成待識別資料曲線;及識別模組,用以從該複數組特徵資料曲線中挑選出與該待識別資料曲線最相似者,以將該複數組特徵資料曲線中之最相似者所對應的識別碼定義為該磁性元件的識別碼。
本發明之另一目的在於提供一種含蔽磁體之磁性元件之識別方法,包括下列步驟:(1)取得一磁性元件內之一蔽磁體的點陣圖磁場圖像;(2)針對該點陣圖磁場圖像內之N極與S極磁場套用至少一個磁場強度閥值,以取得該N極與S極磁場之不同強度的至少一個等高線;(3)計算該等高線內之面積值,俾以該等高線內之面積值及該面積值所對應之磁場強度閥值為二維座標,繪製出該蔽磁體
之特徵資料曲線;以及(4)從至少一組已定義識別碼之特徵資料曲線中,挑選出與該蔽磁體之特徵資料曲線最相似者,以將該已定義識別碼之特徵資料曲線中之最相似者的識別碼定義為該磁性元件的識別碼。
本發明之再一目的在於提供一種含蔽磁體之磁性元件之識別方法,包括下列步驟:(1)取得一磁性元件內之複數個蔽磁體各自的點陣圖磁場圖像;(2)針對各該點陣圖磁場圖像內之N極與S極磁場套用至少一個磁場強度閥值,以取得各該點陣圖磁場圖像之該N極與S極磁場之不同強度的至少一個等高線;(3)分別計算各該點陣圖磁場圖像之該等高線內之面積值,俾以該等高線內之面積值及該面積值所對應之磁場強度閥值為二維座標,繪製出各該蔽磁體各自的特徵資料曲線;(4)從複數組已定義識別碼之特徵資料曲線中,分別挑選出與各該蔽磁體各自的特徵資料曲線最相似者,以將各該已定義識別碼之特徵資料曲線中之最相似者的識別碼分別定義為各該蔽磁體各自的識別碼;以及(5)透過一計算公式定義出該磁性元件的識別碼,該計算公式為:,其中,ID為該磁性元件的識別碼,k為該磁性元件內所設有之蔽磁體的個數,B為各該蔽磁體之各自的識別碼。
相較於先前技術,本發明所提供之含蔽磁體之磁性元件之識別系統及其方法,由於磁性元件之蔽磁體內之磁鐵周圍設有遮蔽件,而能將磁鐵之磁力線導回蔽磁體內部,
以減少同時偵測多個磁性元件時所產生的干擾現象。此外,藉由複數組特徵資料曲線的事先建立,從而使蔽磁體之待識別資料曲線得以與該複數組特徵資料曲線進行比對以挑選出最相似者,進而將該複數組特徵資料曲線中之最相似者所對應的識別碼定義為該磁性元件的識別碼,達到提供個別磁性元件有效識別資訊以供區別,可解決同時偵測多個磁性元件時所會有難以識別的問題。
1、4、5、6‧‧‧磁性元件
10、41、42、51、52、53、61、62、63、64‧‧‧蔽磁體
11‧‧‧磁鐵
12‧‧‧遮蔽件
13‧‧‧磁力線
2‧‧‧計算單元
21‧‧‧特徵資料庫
22‧‧‧曲線建立模組
23‧‧‧識別模組
24‧‧‧螢幕
3‧‧‧磁場感測器
40、50、60‧‧‧內接圓圓心
43、54、65‧‧‧方向向量
A、B、C‧‧‧點陣圖磁場圖像
A1~A3、B1~B5‧‧‧等高線
a1~a3、b1~b5‧‧‧面積-強度特徵點
S51~S55、S61~S66‧‧‧步驟
第1圖係為本發明之含蔽磁體之磁性元件之結構示意圖;第2A圖係為本發明之含蔽磁體之磁性元件之識別系統之示意圖;第2B圖係為本發明之含蔽磁體之磁性元件之識別系統之功能圖;第3圖係為本發明之蔽磁體之複數組等高線與特徵資料曲線之示意圖;第4圖係為本發明之磁性元件內含有多個蔽磁體時之識別方式示意圖;第5圖係為本發明之含蔽磁體之磁性元件之識別方法之第一實施例之流程圖;以及第6圖係為本發明之含蔽磁體之磁性元件之識別方法之第二實施例之流程圖。
以下藉由特定之具體實施例加以說明本發明之實施
方式,而熟悉此技術之人士可由本說明書所揭示之內容輕易地瞭解本發明之其他優點和功效,亦可藉由其他不同的具體實施例加以施行或應用。
請參閱第1、2A及2B圖,本發明之含蔽磁體之磁性元件之識別系統包括至少一磁性元件1、磁場感測器3以及計算單元2,而該計算單元2包括特徵資料庫21、曲線建立模組22以及識別模組23,其中,請參閱第1圖以瞭解本發明之磁性元件1的結構特徵,該磁性元件1係外形為圓柱體的壓克力外殼,該磁性元件1內設有至少一蔽磁體10,而該蔽磁體10包含有至少一磁鐵11及設於該磁鐵11周圍之遮蔽件12。於一實施例中,該磁鐵11為釹磁鐵,而遮蔽件12之材質為高磁導率材質,例如為鎳鐵合金、μ合金或鍍鋅鋼,本發明並不以此為限。
於一實施例中,該磁鐵11利用雷射切割壓克力而固定在磁性元件1中心底部。該磁鐵11亦可採用其他種不同的固定方式,如以膠材黏著等;另磁鐵11亦可固定在磁性元件1的其他位置,如中心頂部等;此外,磁鐵11之個數為至少一個以上,本發明並不以此為限。而遮蔽件12之環繞磁鐵11的形狀,可為如第1圖所示之圓形,亦可為多邊形,例如以四枚長方形鍍鋅鋼板組成方形,以環繞設置在磁鐵11周圍,本發明並不限制遮蔽件12環繞的形狀。此外,如第2A圖所示,為了使磁鐵11之N極與S極之磁力線13(如虛線所示)能夠被導回該磁鐵11之頂面或底面,因此遮蔽件12可僅環繞設置於該磁鐵11之周圍,而未設置在
該磁鐵11之頂面或底面。當然遮蔽件12亦可視需求而設置於該磁鐵11之頂面或底面,本發明並不以此為限。
而如第2B圖所示,本發明之計算單元2可為電腦、平板電腦或手機等計算裝置,磁場感測器3則是由以陣列方式設置之複數磁性感測元件所組成,該磁場感測器3係感測該蔽磁體10之該磁鐵11之磁場以產生磁性感測訊號,其中,磁性感測元件為霍爾效應感測器。於一實施例中,磁場感測器3係裝設於計算單元2之螢幕24背面,例如直接貼附在手機或平板電腦的觸控式螢幕之背面,但本發明並不以此為限。因此,使用者即可在計算單元2之螢幕24上放置磁性元件1,該磁性元件1之該蔽磁體10內磁鐵11之磁力線13則會被遮蔽件12導回至該蔽磁體10之頂面或底面,使裝設在計算單元2之螢幕24背面的磁場感測器3得以偵測到該磁力線13,以產生磁性感測訊號。而此磁性感測訊號則可進一步作為識別蔽磁體10之用。以下將進一步說明計算單元2如何對蔽磁體10進行識別。
該計算單元2之特徵資料庫21係儲存有複數組特徵資料曲線,該複數組特徵資料曲線係事先建立且分別具有不同的識別碼。所謂的識別碼,係用以作為識別不同蔽磁體內磁鐵之極性、強度之用,例如識別碼為10表示為S極且磁場強度為10高斯、識別碼為20表示為N極且磁場強度為20高斯等等。因此,特徵資料庫21所儲存的複數組特徵資料曲線即分別由對應不同極性、強度之蔽磁體所事先建立,且必須經由多次取樣,經計算出平均與標準差後,
方能得到該複數組特徵資料曲線。而此複數組特徵資料曲線即可作為比對的基礎。
計算單元2之曲線建立模組22,則是用以將磁場感測器3所產生的磁性感測訊號轉換成待識別資料曲線。詳言之,該磁性感測訊號具體為包括N極與S極磁場強弱分布資訊的點陣圖磁場圖像,對此點陣圖磁場圖像內之該N極與S極磁場套用多個磁場強度閥值後,可取得該N極與S極磁場之不同強度的複數個等高線。如第3圖所示,點陣圖磁場圖像A係套用了3個磁場強度閥值,如10、20、30高斯(Gauss),因此可得到3組等高線A1、A2、A3;點陣圖磁場圖像B則套用了5個磁場強度閥值,如10、20、30、40、50高斯(Gauss),故可得到5組等高線B1、B2、B3、B4、B5。
在將點陣圖磁場圖像套用多個磁場強度閥值以取得複數個等高線後,即可繪製出待識別資料曲線。繪製方法係計算該複數個等高線內各自的面積值後,以等高線之面積值及該面積值所對應之磁場強度閥值為二維座標,繪製出該待識別資料曲線。例如點陣圖磁場圖像A所對應的待識別資料曲線,則可以面積-強度特徵點a1、a2、a3之連線來加以呈現;又如點陣圖磁場圖像B所對應的待識別資料曲線,則可以面積-強度特徵點b1、b2、b3、b4、b5之連線來加以呈現。於一實施例中,對點陣圖磁場圖像亦可僅套用一個磁場強度閥值來取得一個等高線,本發明並不此以為限。
上述係以待識別資料曲線來作說明,然而,特徵資料庫21內所儲存的特徵資料曲線亦是由上述方法來加以繪製,相同之敘述內容於此不再贅述。惟特徵資料曲線係經由多次(例如1000次)取樣並計算出平均與標準差,方能得到該特徵資料曲線,故其準確度高於待識別資料曲線而能作為比對的基礎。其中,該特徵資料曲線包含曲線之平均與標準差資訊。
計算單元2之識別模組23則是用以識別該待識別資料曲線,其識別方式係從該特徵資料庫21所儲存的複數組特徵資料曲線中,挑選出與該待識別資料曲線最相似者。在找出該待識別資料曲線中之最相似的特徵資料曲線後,將該特徵資料曲線所對應的識別碼定義為該待識別資料曲線所對應之磁性元件1的識別碼。
於一實施例中,挑選最相似者的方法可依據磁場強度閥值的區段來一一比對。請再參閱第3圖,例如,待識別資料曲線在橫座標為10與20高斯區段之連線,即可與面積-強度特徵點b1、b2之連線來予以比較,或是與面積-強度特徵點a1、a2來予以比較。將各磁場強度閥值的各區段一一比對後,若待識別資料曲線有多個區段之連線較相似於面積-強度特徵點b1、b2、b3、b4、b5之連線時,則該待識別資料曲線之蔽磁體10之規格可視為近似於點陣圖磁場圖像B的蔽磁體10之規格。本實施例所述之挑選最近似者的方法僅為本發明之其一範例,本發明並不以此為限。
上述實施例係以磁性元件1內僅具有一蔽磁體10來作說明,惟本發明之磁性元件1內更可設有二個以上之蔽磁體10。請參閱第4圖,例如磁性元件4內設有二個蔽磁體41、42,磁性元件5內設有三個蔽磁體51、52、53,磁性元件6內設有四個蔽磁體61、62、63、64。
在磁性元件1僅具有單一蔽磁體10時,其在磁場感測器3上的位置即直接以該蔽磁體10為準,如第2A圖所示。然而,在磁性元件4內具有二個以上蔽磁體41、42時,該磁性元件4在磁場感測器3上的中心位置即以各該蔽磁體41、42之內接圓圓心40之位置所定義出者,如第4圖所示。
另設有二個以上蔽磁體之磁性元件亦可提供方向之資訊。以第4圖中磁性元件6為例,該磁性元件6內設有蔽磁體61、62、63、64,可從各該蔽磁體61、62、63、64中選取其一蔽磁體作為目標蔽磁體,例如選擇蔽磁體61作為目標蔽磁體,則磁性元件6在磁場感測器3上的方向即以磁性元件6之內接圓圓心60至蔽磁體61之圓心的方向向量65來加以定義。於一實施例中,選取目標蔽磁體之方法可為任意選擇,亦可以各蔽磁體之N極磁場強度最大值與S極磁場強度最大值之差值,來進行比較,如選擇差值最小者,本發明並不以此為限。
磁性元件內設有二個以上蔽磁體時,該磁性元件的識別碼係透過一計算公式來加以定義,該計算公式為:
,其中,ID為該磁性元件的識別碼,k為該磁性元件內所設有之蔽磁體的個數,B為該識別模組所定義之各該蔽磁體之各自的識別碼。以第4圖中磁性元件5為例,該計算單元2之識別模組23先定義出各蔽磁體51、52、53的各自識別碼,此一定義識別碼的方式如前所述,於此不再贅述。接著,選定蔽磁體51、52、53之一者作為目標蔽磁體來作為起點(即上述公式中i=0者),以逆時針或順時針的順序來套用該計算公式。例如蔽磁體51、52、53的各自識別碼為3、2、0,套用該計算公式後的蔽磁體51之計算式為3×30、蔽磁體52之計算式為2×31、蔽磁體53之計算式為0×32,而磁性元件5的識別碼則是此三個計算式的總和9。利用上述之計算方式,即可有效地在已建立單一蔽磁體之複數組特徵資料曲線的基礎上,定義磁性元件內具有二個以上蔽磁體的識別碼。
請參閱第5圖,本發明另提供一種磁性元件內僅具有一蔽磁體之識別方法,其步驟包括如下。
於步驟S51中,先取得一磁性元件內之一蔽磁體的點陣圖磁場圖像。接著進至步驟S52。
於步驟S52中,即針對該點陣圖磁場圖像內之N極與S極磁場套用至少一個磁場強度閥值,以取得該N極與S極磁場之不同強度的至少一個等高線。此一等高線即代表等高線上各點的磁場強度為相同。接著進至步驟S53。
於步驟S53中,計算該等高線內之面積值,據此可得
到該等高線內之面積值及該面積值所對應之磁場強度閥值的資料。接著進至步驟S54。
於步驟S54中,以該等高線內之面積值及該面積值所對應之磁場強度閥值為二維座標,繪製出該蔽磁體之特徵資料曲線,於一實施例中,磁場強度閥值可為多個,使得所取得的等高線亦為多個,據此繪製出該特徵資料曲線。接著進至步驟S55。
於步驟S55中,係定義該磁性元件的識別碼,以供系統作為識別之用。而定義的方式則是從至少一組已定義識別碼之特徵資料曲線中,挑選出與該蔽磁體之特徵資料曲線最相似者,以將該已定義識別碼之特徵資料曲線中之最相似者的識別碼定義為該磁性元件的識別碼。其中,步驟S51至步驟S54係進行複數次以取得複數蔽磁體之特徵資料曲線,俾計算出該複數蔽磁體之特徵資料曲線的平均與標準差,得到該至少一組已定義識別碼之特徵資料曲線,且該已定義識別碼之特徵資料曲線包含曲線之平均與標準差資訊。
請參閱第6圖,本發明更提供一種磁性元件內具有複數個蔽磁體之識別方法,其步驟包括如下。
於步驟S61中,係先取得一磁性元件內複數個蔽磁體各自的點陣圖磁場圖像,其中,該磁性元件之中心位置係以該複數個蔽磁體之內接圓圓心所定義出者。另從各該蔽磁體中選取其一蔽磁體作為目標蔽磁體,並以該內接圓圓心(即該磁性元件之中心位置)至該目標蔽磁體之圓心的
方向向量定義為該磁性元件所能提供的方向資訊。接著進至步驟S62。
於步驟S62中,即針對各該點陣圖磁場圖像內之N極與S極磁場套用至少一個磁場強度閥值,以取得各該點陣圖磁場圖像之該N極與S極磁場之不同強度的至少一個等高線。接著進至步驟S63。
於步驟S63中,則分別計算各該點陣圖磁場圖像之該等高線內之面積值。接著進至步驟S64。
於步驟S64中,係以該等高線內之面積值及該面積值所對應之磁場強度閥值為二維座標,繪製出各該蔽磁體各自的特徵資料曲線,於一實施例中,磁場強度閥值可為多個,使得所取得的等高線亦為多個,據此繪製出該特徵資料曲線。接著進至步驟S65。
於步驟S65中,從複數組已定義識別碼之特徵資料曲線中,分別挑選出與各該蔽磁體各自的特徵資料曲線最相似者,以將各該已定義識別碼之特徵資料曲線中之最相似者的識別碼分別定義為各該蔽磁體各自的識別碼。接著進至步驟S66。
於步驟S66中,則透過一計算公式定義出該磁性元件的識別碼,該計算公式為:,其中,k為該磁性元件內所設有之蔽磁體的個數,B為各該蔽磁體之各自的識別碼,ID為該磁性元件的識別碼。
藉由上述本發明之含蔽磁體之磁性元件之識別系統
及其方法,由於該蔽磁體內之磁鐵周圍設有遮蔽件,而能將磁鐵之磁力線導回蔽磁體內部,以減少同時偵測多個磁性元件時所產生的干擾現象。另由於複數組特徵資料曲線的事先建立,從而使蔽磁體之待識別資料曲線得以與該複數組特徵資料曲線進行比對以挑選出最相似者,進而將該複數組特徵資料曲線中之最相似者所對應的識別碼定義為該磁性元件的識別碼,達到提供個別磁性元件有效識別資訊以供區別,可解決同時偵測多個磁性元件時所會有難以識別的問題。
而在實際運用上,則可將本發明運用在方塊棋盤遊戲中。例如平板電腦之螢幕可顯示出棋盤,利用多個磁性元件及磁場感測器,即可讓使用者以磁性元件作為棋子在螢幕之棋盤上進行棋盤遊戲。而磁性元件的識別碼及位置資訊之設計,則可讓磁性元件之識別系統有效區分各個磁性元件,以將其代表不同的棋子,更可識別其在棋盤上的位置。而磁性元件內具有多個蔽磁體的情形,則可將此種磁性元件運用在即時音樂控制系統中。例如以磁性元件作為調整音樂聲音大小的旋鈕,即是利用磁性元件所提供的方向資訊,來得知磁性元件是否有進行旋轉。此外,尚可利用本發明達到更多的互動,本發明並不以上述運用為限。
上述實施形態僅為例示性說明本發明之技術原理、特點及其功效,並非用以限制本發明之可實施範疇,任何熟習此技術之人士均可在不違背本發明之精神與範疇下,對上述實施形態進行修飾與改變。然任何運用本發明所教示
內容而完成之等效修飾及改變,均仍應為下述之申請專利範圍所涵蓋。而本發明之權利保護範圍,應如下述之申請專利範圍所列。
10‧‧‧蔽磁體
11‧‧‧磁鐵
12‧‧‧遮蔽件
13‧‧‧磁力線
24‧‧‧螢幕
3‧‧‧磁場感測器
Claims (13)
- 一種含蔽磁體之磁性元件之識別系統,包括:至少一磁性元件,其內設有至少一蔽磁體,其中,該蔽磁體包含有至少一磁鐵及設於該磁鐵周圍之遮蔽件;磁場感測器,係由以陣列形式設置之複數磁性感測元件所組成,而該磁場感測器係感測該蔽磁體之磁鐵之磁場以產生磁性感測訊號;以及計算單元,包括:特徵資料庫,儲存有複數組特徵資料曲線,該複數組特徵資料曲線係分別由對應不同極性、強度之蔽磁體所建立且分別具有不同的識別碼;曲線建立模組,用以將該磁性感測訊號轉換成待識別資料曲線,其中,該待識別資料曲線或該複數組特徵資料曲線係由該點陣圖磁場圖像計算所得,其計算方式係為針對該點陣圖磁場圖像內之該N極與S極磁場套用多個磁場強度閥值,以取得該N極與S極磁場之不同強度的複數個等高線,接著計算各該複數個等高線內之面積值後,以各該複數個等高線內之面積值及該面積值所對應之磁場強度閥值為二維座標,繪製出該待識別資料曲線或該複數組特徵資料曲線;及識別模組,用以從該複數組特徵資料曲線中挑選出與該待識別資料曲線最相似者,以將該複 數組特徵資料曲線中之最相似者所對應的識別碼定義為該磁性元件的識別碼。
- 如申請專利範圍第1項所述之含蔽磁體之磁性元件之識別系統,其中,該磁性感測訊號為點陣圖磁場圖像,該點陣圖磁場圖像包括N極與S極磁場強弱分布資訊。
- 如申請專利範圍第1項所述之含蔽磁體之磁性元件之識別系統,其中,該複數磁性感測元件為霍爾效應感測器,該磁鐵為釹磁鐵,且該遮蔽件之材質為高磁導率材質。
- 如申請專利範圍第1項所述之含蔽磁體之磁性元件之識別系統,其中,該遮蔽件係以圓形或多邊形的方式環設於該磁鐵之周圍。
- 如申請專利範圍第1項所述之含蔽磁體之磁性元件之識別系統,其中,當該磁性元件內係設有複數個蔽磁體時,該磁性元件於該磁場感測器上的中心位置為以各該蔽磁體之內接圓圓心所定義出者。
- 如申請專利範圍第5項所述之含蔽磁體之磁性元件之識別系統,其中,該複數個蔽磁體中之一者係選取為目標蔽磁體,俾以該磁性元件之中心位置至該目標蔽磁體之圓心的方向向量定義為該磁性元件於該磁場感測器上的方向。
- 如申請專利範圍第6項所述之含蔽磁體之磁性元件之識別系統,其中,透過一計算公式定義出該磁性元件的識別碼。
- 如申請專利範圍第1項所述之含蔽磁體之磁性元件之識別系統,其中,該計算單元為電腦、平板電腦或手機,該磁場感測器係裝設於該計算單元之螢幕背面。
- 一種含蔽磁體之磁性元件之識別方法,包括下列步驟:(1)取得一磁性元件內之一蔽磁體的點陣圖磁場圖像;(2)針對該點陣圖磁場圖像內之N極與S極磁場套用至少一個磁場強度閥值,以取得該N極與S極磁場之不同強度的至少一個等高線;(3)計算該等高線內之面積值,俾以該等高線內之面積值及該面積值所對應之磁場強度閥值為二維座標,繪製出該蔽磁體之特徵資料曲線;以及(4)從至少一組已定義識別碼之特徵資料曲線中,挑選出與該蔽磁體之特徵資料曲線最相似者,以將該已定義識別碼之特徵資料曲線中之最相似者的識別碼定義為該磁性元件的識別碼。
- 如申請專利範圍第9項所述之含蔽磁體之磁性元件之識別方法,其中,該步驟(1)至(3)係進行複數次以取得複數該蔽磁體之特徵資料曲線,俾計算出該蔽磁體之特徵資料曲線的平均與標準差,而得到該已定義識別碼之特徵資料曲線,且該已定義識別碼之特徵資料曲線包含曲線之平均與標準差資訊。
- 一種含蔽磁體之磁性元件之識別方法,包括下列步驟:(1)取得一磁性元件內之複數個蔽磁體各自的點 陣圖磁場圖像;(2)針對各該點陣圖磁場圖像內之N極與S極磁場套用至少一個磁場強度閥值,以取得各該點陣圖磁場圖像之該N極與S極磁場之不同強度的至少一個等高線;(3)分別計算各該點陣圖磁場圖像之該等高線內之面積值,俾以該等高線內之面積值及該面積值所對應之磁場強度閥值為二維座標,繪製出各該蔽磁體各自的特徵資料曲線;(4)從複數組已定義識別碼之特徵資料曲線中,分別挑選出與各該蔽磁體各自的特徵資料曲線最相似者,以將各該已定義識別碼之特徵資料曲線中之最相似者的識別碼分別定義為各該蔽磁體各自的識別碼;以及(5)透過一計算公式定義出該磁性元件的識別碼。
- 如申請專利範圍第11項所述之含蔽磁體之磁性元件之識別方法,其中,該磁性元件之中心位置為以各該蔽磁體之內接圓圓心所定義出者。
- 如申請專利範圍第12項所述之含蔽磁體之磁性元件之識別方法,其中,該複數個蔽磁體中之一者係選取為目標蔽磁體,俾以該磁性元件之中心位置至該目標蔽磁體之圓心的方向向量定義為該磁性元件所能提供的方向資訊。
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