TWI528744B - 射頻測試方法與裝置 - Google Patents

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Description

射頻測試方法與裝置
本揭露是有關於一種射頻(radio frequency,即RF)測試方法與裝置。
某些行業經常需要進行射頻測試,例如產品供應商或大型量販店等物流業者會將無線辨識標籤(radio frequency identification tag,簡稱為RFID tag)貼附在各種不同產品上,而無線辨識標籤很容易受到各種產品影響而產生性能的變化,需要改變貼附位置並改變標籤種類才能應付各種產品的應用。對這些業者而言,無線辨識標籤的啟動功率測試極為重要。所謂啟動功率是一個臨界值,當無線辨識標籤讀取器向無線辨識標籤發射訊號,只要無線辨識標籤接收到的訊號功率達到其啟動功率,就能啟動無線辨識標籤,使無線辨識標籤發出回應訊號。
這種射頻測試,最理想的環境是無響室(anechoic chamber),因為遍佈在無響室內的吸波體(absorber)可避免射頻訊號在傳遞中產生的反射及散射等干擾所造成之量測誤差,但是無響室的建置費用昂貴,還需要昂貴的特殊設備和專業人員操作。所以即使以租借方式,所需費用也很高,而且需要配合租借廠商的地點和時間。
然而,如果不在無響室內測試,而是在無響室外的非理想環境進行測試,一定會產生相當程度的誤差,而且在不同環境或條件下測試會有不同結果。
本揭露之實施例提供一種射頻測試方法與裝置,其亦可以解決上述的在無響室以外測試的問題。
本揭露提出一射頻測試方法實施例,此方法包括下列步驟。控制一接收器與一發射器的發射天線朝一方向移動,其中發射器經由發射天線向接收器發射一無線訊號。每當移動至預設的多個取樣點其中之一時,量測一特定功率。此特定功率為使接收器接收無線訊號的接收功率達到一臨界值所需的發射器的最低發射功率,或發射器以一固定功率發射無線訊號時,接收器接收無線訊號的接收功率。在上述移動與量測步驟中,接收器和發射天線的相對距離與相對角度固定不變,上述無線訊號的頻率也固定不變。
本揭露另提出一射頻測試裝置實施例,此裝置包括一載具、一發射器的發射天線、一驅動模組、以及一控制單元。有一個接收器固定於載具上。發射器經由發射天線向接收器發射一無線訊號。驅動模組根據控制單元的指令,驅動載具與發射天線朝一方向移動。每當移動至預設的多個取樣點其中之一時,控制單元量測上述的特定功率。在上述的移動和量測過程中,接收器和發射天線的相對距離與相對角度固定不變,上述無線訊號的頻率也固定不變。
為讓上述特徵和優點能更明顯易懂,下文特舉實施例,並配合所附圖式作詳細說明如下。
圖1是依照本揭露一實施例的一種射頻測試方法的流程圖。此方法可以協助評估非無響室的測試環境所產生的誤差範圍,幫助使用者選取或設計誤差較少的測試環境。依照本揭露之實施例的射頻測試方法與裝置讓使用者亦可於不需要無響室時進行測試,且經由預估、探測、修正、及修正後探測,可有彈性地選取和建立無響室以外的測試環境,並且在預估的容許範圍內進行射頻測試。
在步驟110,使用基本公式預估測試環境的影響所產生的誤差值,並實際量測環境影響所產生的誤差值(步驟120)。
在說明上述兩步驟之前,請參照圖2。圖2是依照本揭露一實施例的測試環境示意圖。圖2的測試中,有一個發射器(未繪示)經由其發射天線210向接收器220發射測試用的無線訊號。舉例而言,如果上述的射頻測試是測試無線辨識標籤的啟動功率,則發射天線210就是無線辨識標籤讀取器的發射天線,接收器220就是待測的無線辨識標籤或測試用的其他無線辨識標籤(例如後述的代表性標籤),發射天線210發射的無線訊號就是用來讀取無線辨識標籤的訊號。
由於發射天線210的輻射特性,以及非理想環境中有眾多物體會反射無線訊號,接收器220接收到的無線訊號其實是來自不同方向的無線訊號的疊加結果。這些方向包括從發射天線210直接到達接收器220的方向240、經由地板反射而到達接收器220的方向241、經由天花板反射而到達接收器220的方向242、以及經由牆壁反射而到達接收器220的方向243。若是在無響室測試時,只會有來自方向240的無線訊號,沒有方向241至243的反射訊號。但是在圖2的非理想環境中,來自方向241至243的無線訊號各有不同的振幅與相位差,會干擾來自方向240的無線訊號,造成測試誤差,這就是無響室以外的非理想環境的影響。在非理想環境中,會反射射頻訊號的常見物體包括附近的牆壁、地板、天花板、汽車、電線桿、路燈桿、以及任何金屬物體。
在步驟110,由於測試環境中各種物體的射頻訊號反射特性、尺寸大小、以及表面結構等因素都會影響反射訊號強度,這些因素的組合非常複雜,想做到準確預估非常困難。不過,可使用弗利斯傳導公式(Friis transmission equation)做為步驟110的基本公式,以計算訊號反射所產生的誤差的近似值。只要給定發射天線各角度增益值、反射係數、各方向的反射物體距離,就可以利用弗利斯傳導公式計算測試環境中各方向的反射訊號所產生的最大誤差值。弗利斯傳導公式是已經存在的傳統技術,在此不予贅述。若依照計算結果,發現有太強的反射訊號,使用者可以在影響較大的方向擺放吸波體以調整測試環境,將吸波體的衰減值併入計算。如果使用吸波體之後,測試誤差仍然超出容許範圍,使用者可以擺放更多吸波體,或選取另一個測試環境,並重複以上計算,直到環境所造成的最大誤差值在容許範圍內。
在圖1的步驟110以基本公式預估環境反射所造成的誤差值,可評估一個測試環境中有哪些物體的反射干擾比較嚴重,以及反射所造成的誤差是否超出容許範圍。也就是說,可初步評估一個非理想的測試環境是否可用。不過如上所述,步驟110所預估的誤差只是近似值,所以還必須在步驟120實際量測環境反射所造成的誤差,有實際數據才能真正決定一個測試環境是否可用。
圖3是依照本揭露一實施例的一種射頻測試裝置300的示意圖。射頻測試裝置300可以在無響室以外的測試環境自動執行步驟120的實際量測。射頻測試裝置300包括載具302、旋臂304、活動臂308、發射器的發射天線310、垂直桿件312、底座314、多個轉輪320、驅動模組316、訊號傳輸線322、以及控制單元318。可將一個接收器固定在載具302之上,由發射器經由發射天線310向上述接收器發射無線訊號,以進行射頻測試。上述接收器對應圖2的接收器220,而發射天線310對應圖2的發射天線210。上述發射器受控制單元318控制。發射器可以固定在底座314,隨底座314一起移動,或如同控制單元318,獨立於底座314之外,或直接併入控制單元318。
載具302和發射天線310都固定在旋臂304,旋臂304藉由支點306樞設於活動臂308。活動臂308可沿垂直桿件312上下滑動。垂直桿件312固定在底座314。多個轉輪320設置在底座314的底部。控制單元318經由傳輸線322耦接驅動模組316。驅動模組316可依據控制單元318的控制指令,驅動轉輪320在地面上朝前後左右等方向移動,也可驅使活動臂308沿垂直桿件312上下移動,也可驅使旋臂304和載具302轉動。
活動臂308的上下移動以及轉輪320的前後左右移動可提供三軸的移動自由度。旋臂304可以支點306為軸旋轉,載具302有兩軸的旋轉自由度。如圖3所示,旋臂304的一個轉軸和載具302的兩個轉軸彼此正交,可提供三軸的旋轉自由度,這有助於射頻測試,例如無線辨識標籤的啟動功率需要在各種角度測試。
控制單元318控制上述的移動和轉動,以進行步驟120的實際量測。本實施例的控制單元318是筆記型電腦或任何種類之處理器,但不以此為限。控制單元318和驅動模組316之間也可以去除訊號傳輸線322,採用無線的連接方式。
圖3只是射頻測試裝置300的示意圖,其中並未繪示達成上述移動和轉動所需的各種機構細節,這些機構細節可用目前已知的相關技術達成,在此不予贅述。
對於步驟110的預估之中,反射干擾較嚴重的每一個反射物體,都必須執行步驟120的實際量測。具體來說,對於每一個反射物體,可在趨近該物體或遠離該物體的方向移動發射天線和接收器,依據此兩者和反射物體的距離預設多個取樣點,在每個取樣點量測一個特定功率。此特定功率可以是使接收器接收上述無線訊號的接收功率達到一個預設臨界值所需的發射器的最低發射功率。這樣的實際量測可以在整個測試環境的眾多反射物體當中,隔離並獲取每一個反射物體所造成的測試誤差大小,以協助使用者評估測試環境。
除了上述的針對每一個反射物體做移動量測,也可以改為對測試環境的三維空間的X、Y、Z座標軸做移動量測。每次只沿著一個座標軸移動,其他兩軸不移動,同樣是在每個預設取樣點量測一次特定功率。
圖4繪示射頻測試裝置300執行步驟120的實際量測流程。首先,將接收器固定在載具302之上,然後驅動模組316根據控制單元318的指令,驅動轉輪320以移動底座314,使固定在旋臂304的載具302和發射天線310一起朝一方向移動(步驟410)。如上所述,此方向可以是趨近或遠離某一個反射物體的方向,或與X、Y、Z座標軸其中之一平行的方向。控制單元318檢查底座314是否已移動到預設的多個取樣點其中之一(步驟420)。如果尚未移動至取樣點,則流程回到步驟410,繼續移動。如果已移動到取樣點,則控制單元318量測上述的特定功率(步驟430),然後返回步驟410,朝下一個取樣點移動。
在圖4的移動與量測過程中,接收器和發射天線310的相對距離與相對角度必須固定不變,發射天線310所發射的無線訊號的頻率也必須固定不變,如此特定功率的量測才有意義。圖4流程必須針對測試環境中反射干擾較明顯的每一個反射物體各執行一次,或針對測試環境的每一個三維座標軸各執行至少一次。
步驟120的實際量測,若以上述的無線辨識標籤的啟動功率測試為例,則接收器可以是待測的無線辨識標籤(以下簡稱為待測標籤)或校正用的代表性標籤(細節後述),發射器是無線辨識標籤讀取器,無線訊號是無線辨識標籤讀取器讀取待測標籤或代表性標籤所需的訊號。若接收器是待測標籤,則特定功率的上述臨界值就是待測標籤的啟動功率。若接收器是代表性標籤,則特定功率的上述臨界值就是代表性標籤的啟動功率。所以,特定功率就是使待測標籤或代表性標籤接收無線訊號的接收功率達到其啟動功率所需的無線辨識標籤讀取器的最低發射功率。
舉例而言,如果在一個空曠的測試環境中,例如停車場中,量測無線辨識標籤的啟動功率,則主要的反射訊號來自地面。此時可以在離地面的幾個不同高度預設取樣點,控制射頻測試裝置300的活動臂308上下移動,在每個取樣點量測特定功率,量測所得的數據例如圖5所示。其中圖5的縱軸是特定功率,單位是dBm;橫軸是發射天線和待測標籤或代表性標籤距離地面的高度,單位是公分。曲線510和520是在步驟110用基本公式計算所得的特定功率上限和下限,曲線510和520之間的差距代表理論計算所得的特定功率誤差範圍。曲線530是步驟120的實際量測所得的特定功率曲線,曲線530的上下擺動幅度代表實際量測所得的特定功率誤差範圍。曲線530會上下擺動是因為和反射物體(地面)之間的距離變化,會使無線訊號與其反射訊號的相位差隨之變化,兩訊號的波形會隨上述距離疊加或抵消。疊加時僅需要較低的特定功率就能啟動待測標籤或代表性標籤,互相抵消時則需要較高的特定功率才能啟動待測標籤或代表性標籤。如圖5所示,隨著和反射物體之間的距離增加,反射所造成的誤差會逐漸收斂。也就是說,特定功率的變動範圍會隨著上述距離的增加而縮小,使量測所得的數據更準確。
若使用者覺得收斂後的誤差範圍仍然太大,無法接受,可以嘗試移動反射物體,或在發射天線和反射物體之間的關鍵位置放置吸波體。吸波體的位置必須能消除反射物體所反射的無線訊號,例如可將吸波體放在發射天線和待測標籤或代表性標籤下方的地面上,使反射訊號衰減。圖6是在圖5的測試中放置吸波體的量測結果,圖6的縱軸同樣是特定功率,橫軸同樣是發射天線和待測標籤或代表性標籤距離地面的高度。曲線630是放置吸波體之後,在步驟120的實際量測所得的特定功率曲線。由圖6可以看出,放置吸波體可以縮小特定功率的誤差變動範圍,使測試環境更加理想。上述的放置吸波體之後再實際量測的步驟,可以用來評估目前使用的吸波體是否足以改善測試環境。
如果反射物體可以移動,則除了移動射頻測試裝置300以外,也可以讓射頻測試裝置300保持靜止而移動反射物體,如此測量特定功率同樣可得到如圖5和圖6所示的結果。如圖5和圖6所示的實際量測,可以從眾多反射源當中萃取其中任一反射源的訊號反射特性以及對待測標籤的啟動功率測試的誤差的貢獻。在選擇測試位置或安裝吸波體時,只要觀察到實際量測所得的特定功率誤差範圍縮小到可接受的程度即可。
為了使上述的實際量測取得準確而且有意義的結果,在測試環境的眾多反射波之中,必須確保只有單一反射波隨著射頻測試裝置300或反射物體的移動而改變其相位差,而且在眾多的反射波當中,欲萃取之反射波必須小於其他反射波和發射天線的主發射波之總和。
如上所述,經過步驟110的公式計算和步驟120的實際量測,可讓使用者評估一個無響室之外的測試環境是否堪用。使用者可用圖1的射頻測試方法,獨立分析各方向的環境反射影響,統計測試環境所產生的最大誤差值,可以更精確地確認測試環境是否符合測試標準。圖1的射頻測試方法也能幫助使用者決定測試地點和每一個反射物體之間的較佳距離,或測試地點在整個測試環境之內的較佳位置,以控制量測誤差在可容許範圍內。
如果量測誤差無法收斂在容許範圍之內,可以嘗試移動反射物體的位置,或在關鍵位置放置吸波體,以改善測試環境,然後再進行一次步驟120的實際量測,如此循環,或直接選取另一個測試環境。當實際量測所得的最大誤差可以收斂在容許範圍之內,就是一個可用的測試環境。雖然這種測試的數據準確度不如在無響室內進行的測試,但是量測誤差可以控制在可容許且確定的範圍,而且測試成本遠低於無響室的測試成本,也更加便捷。
圖7是依照本揭露另一實施例的一種射頻測試方法的流程圖,其中步驟710和720分別與圖1的步驟110和120相同。圖7和圖1的主要區別是在步驟720確定測試環境可堪使用之後,控制單元318會使用一個代表性標籤(representative tag)執行校正程序,以計算待測標籤的啟動功率(步驟730)。上述的代表性標籤是另一個無線辨識標籤,而且代表性標籤的啟動功率已經在無響室中量測過,是準確的已知數值。利用代表性標籤,可以使待測標籤的啟動功率量測更準確。
圖8繪示控制單元318執行步驟730的流程。首先,將代表性標籤固定在載具302之上。控制單元318量測使代表性標籤接收無線訊號的接收功率達到代表性標籤的啟動功率所需的無線辨識標籤讀取器的第一最低發射功率Pr1(步驟810)。然後控制單元318將第一最低發射功率Pr1減去代表性標籤的啟動功率Pto1以計算校正值Pcal(步驟820)。算出校正值Pcal之後,進行待測標籤的測試。先將待測標籤固定在載具302(步驟830)。控制單元318量測使待測標籤接收無線訊號的接收功率達到待測標籤的啟動功率所需的無線辨識標籤讀取器的第二最低發射功率Pr2(步驟830)。然後控制單元318將第二最低發射功率Pr2減去校正值Pcal以計算待測標籤的啟動功率Pto2(步驟840)。圖8流程可用下列的公式(1)、(2)表示。
Pcal=Pr1-Pto1.........................................................(1)
Pto2=Pr2-Pcal.........................................................(2)
控制單元318可以控制無線辨識標籤讀取器,從最低發射功率開始逐步提高其發射功率,或使用二分搜尋法(binary search),以量測最低發射功率Pr1和Pr2。依照圖8流程計算出的待測標籤啟動功率會比採用非代表性標籤更加準確。
圖8流程必須在固定地點進行,期間不可移動。此外,待測標籤的天線與代表性標籤的天線在每一角度的增益值都必須相似,至少要符合以下條件:若無線辨識標籤讀取器在某一個角度無法讀取代表性標籤與待測標籤其中之一,則上述無線辨識標籤讀取器在該角度也無法讀取代表性標籤與待測標籤其中的另一個標籤。待測標籤可能貼附在某一產品或其他測試物件上量測其啟動功率,在貼附的情況下,代表性標籤必須和貼附在測試物件上的待測標籤符合上述的相似條件。
圖8流程是在無響室以外的非理想測試環境進行,因為有反射波干擾,在圖8流程測得的最低發射功率Pr1和Pr2,其數值和無響室中測得的並不相同。不過,Pr1和Pr2是在同一個測試環境的同一地點測得,而且代表性標籤和待測標籤的天線增益值符合上述的相似條件,所以代表性標籤和待測標籤適用同一個校正值Pcal,可利用以上的公式(1)、(2)取得準確的待測標籤啟動功率Pto2
利用代表性標籤可以在有反射的非理想環境下大幅提升測試準確度。雖然代表性標籤需要無響室以量測其啟動功率,但是只要符合上述相似條件,同一個代表性標籤可用在無響室外的環境中測試多個待測標籤的啟動功率。平均下來依然可降低測試成本,而且能使待測標籤的測試非常準確。
對於產品製造廠商和物流業者來說,無線辨識標籤通常貼附在各種產品上。因此在圖8的量測步驟830中,可將待測標籤與其貼附的測試物件一同固定在載具302之上做為接收器,此時待測標籤的位置必須和步驟810的代表性標籤完全相同。如此,將待測標籤與其貼附的產品一同測試,可以使無線辨識標籤的性能測試更加完整。
無線辨識標籤的測試可能需要在各種不同方位角度,以各種不同頻率的射頻訊號進行。控制單元318可依使用者需求,控制旋臂304和載具302進行各種角度的旋轉,也可以控制發射器發射各種不同頻率的無線訊號,以進行無線辨識標籤與其貼附產品的全面測試。因此圖8當中,步驟810和820的校正程序以及步驟830和840的標籤測試,都可以在各種不同方位角度,以各種不同頻率的無線訊號進行。
以上的射頻測試方法與射頻測試裝置實施例很適合用在停車場之類的空曠環境測試無線辨識標籤的啟動功率。不過本揭露的射頻測試方法與裝置實施例並不限於測試無線辨識標籤。只要是使用成對的發射器與接收器的射頻測試,都適用所揭示的射頻測試方法與射頻測試裝置實施例。例如可用一個測試訊號產生器取代上述的無線辨識標籤讀取器,並且用一個功率儀(power meter)與其接收天線取代上述的無線辨識標籤。在此情況下,上述接收器就是功率儀的接收天線,發射器就是測試訊號產生器。特定功率的定義是當測試訊號產生器以固定功率發射無線訊號時,功率儀所測得的接收天線接收無線訊號的接收功率。這個測試方式一樣可進行步驟120與720的實際量測。
上述實施例的使用測試訊號產生器和功率儀的測試方法也可以用來評估如圖3所示的射頻測試裝置本身的建造材料是否合適。例如可使用比較便宜的材料,甚至用內含鐵釘的木頭等材料來建造射頻測試裝置,然後用測試訊號產生器搭配功率儀的測試方法來確認上述材料是否能將測試誤差控制在可容許的範圍內。上述實施例的使用測試訊號產生器和功率儀的測試方法也可以在包含眾多反射物體的複雜環境中量測單一物體的射頻反射特性。
綜上所述,以上實施例能幫助使用者以低成本方式,有彈性地在無響室外選取或設計一個可用的測試環境,以進行各種射頻測試。藉由上述實施例的射頻測試方法與裝置,使用者可評估測試環境的反射所導致的誤差,也可以評估對測試環境做各種調整所造成的影響,進而將誤差控制在容許範圍內。由於以上實施例不需要無響室,因此不需要專業技術人員和昂貴設備,有低成本的優點。此外,以上實施例能利用代表性標籤作校正,在有反射的環境下可大幅提升無線辨識標籤啟動功率的量測準確度。
雖然已以實施例揭露如上,然其並非用以限定本揭露,任何所屬技術領域中具有通常知識者,在不脫離本揭露之精神和範圍內,當可作些許之更動與潤飾,故本揭露之保護範圍當視後附之申請專利範圍所界定者為準。
110、120‧‧‧流程步驟
210‧‧‧發射天線
220‧‧‧接收器
240~243‧‧‧無線訊號傳遞方向
300‧‧‧射頻測試裝置
302‧‧‧載具
304‧‧‧旋臂
306‧‧‧支點
308‧‧‧活動臂
310‧‧‧發射天線
312‧‧‧垂直桿件
314‧‧‧底座
316‧‧‧驅動模組
318‧‧‧控制單元
320‧‧‧轉輪
322‧‧‧訊號傳輸線
410、420、430‧‧‧流程步驟
510、520、530、630‧‧‧特定功率曲線
710、720、730、810、820、830、840‧‧‧流程步驟
圖1是依照本揭露一實施例的一種射頻測試方法的流程圖。
圖2是依照本揭露一實施例的測試環境示意圖。
圖3是依照本揭露一實施例的一種射頻測試裝置的示意圖。
圖4是依照本揭露另一實施例的一種射頻測試方法的流程圖。
圖5和圖6是依照本揭露一實施例的測量特定功率的示意圖。
圖7是依照本揭露另一實施例的一種射頻測試方法的流程圖。
圖8是依照本揭露另一實施例的一種射頻測試方法的流程圖。
110、120‧‧‧流程步驟

Claims (22)

  1. 一種射頻測試方法,包括:控制一接收器與一發射器的一發射天線朝一方向移動,其中該發射器經由該發射天線向該接收器發射一無線訊號;以及每當移動至預設的多個取樣點其中之一時,量測一特定功率,其中該特定功率為使該接收器接收該無線訊號的接收功率達到一臨界值所需的該發射器的最低發射功率,或該發射器以一固定功率發射該無線訊號時該接收器接收該無線訊號的接收功率;在上述移動與量測步驟中,該接收器和該發射天線的相對距離與相對角度固定不變,該無線訊號的頻率也固定不變。
  2. 如申請專利範圍第1項所述之射頻測試方法,其中該接收器包括一無線辨識標籤,該發射器為無線辨識標籤讀取器,該無線訊號為該無線辨識標籤讀取器讀取該無線辨識標籤所需的訊號,該臨界值為該無線辨識標籤的啟動功率,該特定功率為使該無線辨識標籤接收該無線訊號的接收功率達到該無線辨識標籤的啟動功率所需的該無線辨識標籤讀取器的最低發射功率。
  3. 如申請專利範圍第2項所述之射頻測試方法,其中該無線辨識標籤為一代表性標籤,而且該代表性標籤的啟動功率已在無響室中量測。
  4. 如申請專利範圍第2項所述之射頻測試方法,更包括: 使用一代表性標籤計算一待測標籤的啟動功率,其中該代表性標籤與該待測標籤皆為無線辨識標籤,而且該代表性標籤的啟動功率已在無響室中量測。
  5. 如申請專利範圍第4項所述之射頻測試方法,其中計算該待測標籤的啟動功率的步驟包括:量測使該代表性標籤接收該無線訊號的接收功率達到該代表性標籤的啟動功率所需的該無線辨識標籤讀取器的一第一最低發射功率;將該第一最低發射功率減去該代表性標籤的啟動功率,以計算一校正值;量測使該待測標籤接收該無線訊號的接收功率達到該待測標籤的啟動功率所需的該無線辨識標籤讀取器的一第二最低發射功率;將該第二最低發射功率減去該校正值,以計算該待測標籤的啟動功率。
  6. 如申請專利範圍第4項所述之射頻測試方法,其中若該無線辨識標籤讀取器在某一角度無法讀取該代表性標籤與該待測標籤其中之一,則該無線辨識標籤讀取器在該角度也無法讀取該代表性標籤與該待測標籤其中之另一。
  7. 如申請專利範圍第4項所述之射頻測試方法,其中該待測標籤貼附於一測試物件上。
  8. 如申請專利範圍第1項所述之射頻測試方法,其中該接收器包括一功率儀的一接收天線,該發射器為一測試訊號產生器,該特定功率為該測試訊號產生器以該固定功 率發射該無線訊號時,該接收天線接收該無線訊號的接收功率,該功率儀量測該接收功率。
  9. 如申請專利範圍第1項所述之射頻測試方法,其中該方向存在一物體,該物體反射該無線訊號至該接收器。
  10. 如申請專利範圍第1項所述之射頻測試方法,其中該方向存在一物體與一吸波體,該吸波體的位置使該吸波體能消除該物體所反射的該無線訊號。
  11. 如申請專利範圍第9項所述之射頻測試方法,其中該方向包括趨近或遠離該物體的方向,或與X、Y、Z座標軸其中之一平行的方向。
  12. 一種射頻測試裝置,包括:一載具,其中一接收器固定於該載具上;一發射器的一發射天線,其中該發射器經由該發射天線向該接收器發射一無線訊號;一驅動模組;以及一控制單元,其中該驅動模組根據該控制單元的指令驅動該載具與該發射天線朝一方向移動;每當移動至預設的多個取樣點其中之一時,該控制單元量測一特定功率;該特定功率為使該接收器接收該無線訊號的接收功率達到一臨界值所需的該發射器的最低發射功率,或該發射器以一固定功率發射該無線訊號時該接收器接收該無線訊號的接收功率;在上述移動和量測過程中,該接收器和該發射天線的相對距離與相對角度固定不變,該無線訊號的頻率也固定不變。
  13. 如申請專利範圍第12項所述之射頻測試裝置,其中該接收器包括一無線辨識標籤,該發射器為無線辨識標籤讀取器,該無線訊號為該無線辨識標籤讀取器讀取該無線辨識標籤所需的訊號,該臨界值為該無線辨識標籤的啟動功率,該特定功率為使該無線辨識標籤接收該無線訊號的接收功率達到該無線辨識標籤的啟動功率所需的該無線辨識標籤讀取器的最低發射功率。
  14. 如申請專利範圍第13項所述之射頻測試裝置,其中該無線辨識標籤為一代表性標籤,而且該代表性標籤的啟動功率已在無響室中量測。
  15. 如申請專利範圍第13項所述之射頻測試裝置,其中該控制單元使用一代表性標籤計算一待測標籤的啟動功率,該代表性標籤與該待測標籤皆為無線辨識標籤,而且該代表性標籤的啟動功率已在無響室中量測。
  16. 如申請專利範圍第15項所述之射頻測試裝置,其中該控制單元量測該代表性標籤固定於該載具時,使該代表性標籤接收該無線訊號的接收功率達到該代表性標籤的啟動功率所需的該無線辨識標籤讀取器的一第一最低發射功率,將該第一最低發射功率減去該代表性標籤的啟動功率以計算一校正值,量測該待測標籤固定於該載具時,使該待測標籤接收該無線訊號的接收功率達到該待測標籤的啟動功率所需的該無線辨識標籤讀取器的一第二最低發射功率,並且將該第二最低發射功率減去該校正值以計算該待測標籤的啟動功率。
  17. 如申請專利範圍第15項所述之射頻測試裝置,其中若該無線辨識標籤讀取器在某一角度無法讀取該代表性標籤與該待測標籤其中之一,則該無線辨識標籤讀取器在該角度也無法讀取該代表性標籤與該待測標籤其中之另一。
  18. 如申請專利範圍第15項所述之射頻測試裝置,其中該待測標籤貼附於一測試物件上。
  19. 如申請專利範圍第12項所述之射頻測試裝置,其中該接收器包括一功率儀的一接收天線,該發射器為一測試訊號產生器,該特定功率為該測試訊號產生器以該固定功率發射該無線訊號時,該接收天線接收該無線訊號的接收功率,該功率儀量測該接收功率。
  20. 如申請專利範圍第12項所述之射頻測試裝置,其中該方向存在一物體,該物體反射該無線訊號至該接收器。
  21. 如申請專利範圍第12項所述之射頻測試裝置,其中該方向存在一物體與一吸波體,該吸波體的位置使該吸波體能消除該物體所反射的該無線訊號。
  22. 如申請專利範圍第20項所述之射頻測試裝置,其中該方向包括趨近或遠離該物體的方向,或與X、Y、Z座標軸其中之一平行的方向。
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