TWI528240B - 觸控面板及其觸控電極結構與偵測方法 - Google Patents

Description

觸控面板及其觸控電極結構與偵測方法

本發明係有關於觸控技術領域，特別涉及一種觸控面板及其觸控電極結構與偵測方法。

觸控感應技術在近年來迅速地發展，目前已有許多具備觸控功能的消費性電子產品陸續推出。觸控面板的技術發展非常多樣化，目前較常見能支援多點觸控的觸控面板是電容式觸控面板，其電極架構是由兩軸向上的多條電極交錯排列而成的一矩形陣列，如N乘M的矩形陣列，並且兩軸向電極大體上是呈垂直交錯。在其掃描檢測方式上則是以一軸向上逐條驅動搭配另一軸向上逐條掃描的方式來完成矩形陣列上每一交錯點的定址，藉以達成多點觸控的定位判斷。但此觸控面板及其掃描檢測方式的掃描檢測時間(N×M)會受到觸控面板的尺寸或分辨率增加的影響而降低觸控反應速度。

本發明對觸控面板中以陣列方式排列的觸控電極結構的電連接設計進行調整，並且通過觸控電極結構中的每一軸向電極對應的電阻變化來判斷觸控位置，使得觸控電極結構可同步進行驅動和掃描，除了可 達到多點觸控定位，更可提高觸控反應速度。

本發明提供一種觸控電極結構，包括多個第一觸控單元以及多個第二觸控單元。第一觸控單元以及第二觸控單元是以一陣列方式排列，同一行中的第一觸控單元與第二觸控單元交替間隔設置，同一行中的第一觸控單元是彼此電連接以形成多個第一軸向電極，且至少部分的第二觸控單元是沿一延伸方向與位于不同行且不同列的至少一第二觸控單元電連接，以形成多個第二軸向電極。

本發明提供一種觸控面板，包括基板及形成于基板上的觸控電極結構。觸控電極結構包括多個第一觸控單元以及多個第二觸控單元。第一觸控單元以及第二觸控單元是以一陣列方式排列。同一行(row)中的各第一觸控單元是與各第二觸控單元交替間隔設置。同一行中的第一觸控單元是彼此電連接以形成多個第一軸向電極。且至少部分的第二觸控單元是沿一延伸方向與不同行且不同列的至少一第二觸控單元電連接以形成多個第二軸向電極。

本發明提供一種觸控面板的偵測方法，包括下列步驟。首先，同時驅動所有的第一軸向電極與第二軸向電極，且同時檢測第一軸向電極與第二軸向電極所產生的輸出信號。接著，根據該些輸出信號計算得出觸碰點位置。

本發明的觸控面板及其觸控電極結構是由呈陣列方式排列的第一觸控單元及第二觸控單元所構成，並通過電連接設計的調整，讓由同一行的第一觸控單元所電連接而成的第一軸向電極與沿一延伸方向由不同行且不同列的第二觸控單元所電連接而成的第二軸向電極之間構成有一 小于90度的夾角。如此一來，即可對第一軸向電極與第二軸向電極同時驅動及掃描，並通過計算每一軸向電極在觸控前後對應的電阻變化來實現多點觸控檢測，並且有效提高觸控反應的速度。

為讓本發明之上述和其他目的、特徵、和優點能更明顯易懂，下文特舉出較佳實施例，並配合所附圖式，作詳細說明如下：

101‧‧‧觸控面板

101S‧‧‧觸控電極結構

102‧‧‧觸控面板

102S‧‧‧觸控電極結構

110‧‧‧第一觸控單元

110A‧‧‧第一軸向電極

120‧‧‧第二觸控單元

120A‧‧‧第二軸向電極

130‧‧‧第一連接線

140‧‧‧第二連接線

150‧‧‧觸控驅動組件

160‧‧‧觸控感應組件

170‧‧‧絕緣塊

201‧‧‧觸控面板

201S‧‧‧觸控電極結構

202‧‧‧觸控面板

202S‧‧‧觸控電極結構

A1‧‧‧夾角

A2‧‧‧夾角

D1‧‧‧延伸方向

D2‧‧‧延伸方向

P1‧‧‧觸碰點

P2‧‧‧觸碰點

P3‧‧‧觸碰點

P4‧‧‧觸碰點

RS‧‧‧輸出信號

S1‧‧‧步驟

S2‧‧‧步驟

S3‧‧‧步驟

X‧‧‧行方向

Y‧‧‧列方向

100‧‧‧基板

圖1所示為本發明的第一實施例的觸控面板的示意圖。

圖2所示為本發明的第一實施例的觸控面板的觸控檢測方式示意圖。

圖3所示為本發明的第一實施例的觸控面板在一多點觸控狀况下的觸控檢測示意圖。

圖4所示為本發明的第一實施例的觸控面板在另外一多點觸控狀况下的觸控檢測示意圖。

圖5所示為本發明一實施例的觸控面板的部分放大示意圖。

圖6所示為本發明的另一實施例的觸控面板的部分放大示意圖。

圖7所示為本發明的第二實施例的觸控面板的示意圖。

圖8所示為本發明的第三實施例的觸控面板的示意圖。

圖9所示為本發明的一實施例的觸控面板的偵測方法流程圖。

為使熟習本發明所屬技術領域的一般技藝者能進一步瞭解本發明，下文特列舉本發明的數個優選實施例，並配合附圖，詳細說明本發明的構成內容。需注意的是附圖僅以說明為目的，並未依照原尺寸作圖。此外，在文中使用例如”第一”與”第二”等叙述，僅用以區別不同的組 件，並不對其產生順序的限制。

請參考圖1。圖1所示為本發明的第一實施例的觸控面板的示意圖。如圖1所示，本實施例的觸控面板101包括基板100及形成于基板100上的觸控電極結構101S。其中，觸控電極結構101S包括多個第一觸控單元110以及多個第二觸控單元120。第一觸控單元110以及第二觸控單元120是以一陣列方式排列。舉例來說，圖1中的第一觸控單元110與第二觸控單元120是排列成一5乘8的矩形陣列，但並不以此為限。本實施例在同一行(row)中的各第一觸控單元110是與各第二觸控單元120交替間隔設置，且在同一列(column)中的各第一觸控單元110是與各第二觸控單元120交替間隔設置。換句話說，至少一第一觸控單元110是設置在同一行(或同一列)中兩相鄰的第二觸控單元120之間，且至少一第二觸控單元120是設置在同一行(或同一列)中兩相鄰的第一觸控單元110之間。此外，在本實施例中，在同一行中的第一觸控單元110是彼此電連接，以形成多個第一軸向電極110A，且至少部分的第二觸控單元120是沿一延伸方向D1與位于不同行且不同列的至少一第二觸控單元120電連接，以形成多個第二軸向電極120A。

進一步說明，在本實施例中，同一行中的第一觸控單元110與第二觸控單元120是沿一行方向X交替間隔設置，且同一行中的各第一觸控單元110與各第二觸控單元120的中心點是在行方向X上位于同一直線上。同一列中的第一觸控單元110與第二觸控單元120是沿一列方向Y交替間隔設置，且同一列中的各第一觸控單元110與各第二觸控單元120的中心點是在列方向Y上位于同一直線上。此外，同一列中的第一觸控單元110是彼此電分離，且同一列中的第二觸控單元120是彼此電分離。整體而言，各第 一觸控單元110是與在行方向X上相鄰的第一觸控單元110電連接，以形成多個第一軸向電極110A，而至少部分的第二觸控單元120是與在延伸方向D1上相鄰的第二觸控單元120電連接，以形成多個第二軸向電極120A。其中，在第一軸向電極110A之間、在第二軸向電極120A之間及任一第一軸向電極110A與任一第二軸向電極120A之間皆是彼此電分離。

再者，前述行方向X大體上是垂直于列方向Y，但並不以此為限。延伸方向D1與列方向Y之間具有一夾角A1，夾角A1是大體上小于90度，且夾角A1優選是約為45度，但並不以此為限。舉例來說，位于偶數列的至少部分第二觸控單元120是沿延伸方向D1與相鄰行中奇數列的至少一第二觸控單元120電連接，且位于奇數列的至少部分第二觸控單元120是沿延伸方向D1與相鄰行中偶數列的至少一第二觸控單元120電連接，但並不以此為限。也就是說，至少部分的第二觸控單元120是以一不同于行方向X與列方向Y的延伸方向D1而採用斜向方式形成電連接。

本實施例的第一觸控單元110以及第二觸控單元120優選可採用一力敏導電材料或一熱敏導電材料。藉此，利用力敏導電材料或熱敏導電材料在觸發時會產生電阻變化的特性原理，讓本實施例得以檢測第一軸向電極110A及第二軸向電極120A在觸控前後的電阻變化，進而進行觸控點的定位。

如圖1所示，本實施例的觸控面板101可還包括一第一總線150與一第二總線160。第一總線150是電連接到第一軸向電極110A以及第二軸向電極120A的一端，且第二總線160是電連接到第一軸向電極110A以及第二軸向電極120A的另一端。以圖1所設置的觸控面板101的方向具體舉例 來說，第一總線150可設置在觸控面板101的上側與右側，並與位于最上行的第二觸控單元120、位于最右列的第一觸控單元110與第二觸控單元120以及位于右側第二列的第一觸控單元110電連接。相對地，第二總線160可設置在觸控面板101的下側與左側，並與位于最下行的第二觸控單元120、位于最左列的第一觸控單元110與第二觸控單元120以及位于左側第二列的第一觸控單元110電連接，但本發明並不以上述的設置方式為限。在本發明的其他優選實施例中也可視設計需要調整第一總線150以及第二總線160的設置位置與電連接狀况。

在本實施例中，第一總線150可用以傳遞一觸控信號例如一驅動電壓到各第一軸向電極110A與各第二軸向電極120A，並且第二總線160則是用以傳遞各第一軸向電極110A及各第二軸向電極120A所產生的輸出信號RS。藉此，讓電連接于觸控面板101的後端控制器(圖未示)得以通過輸出信號RS的變化來判斷觸控面板101被觸碰的位置。值得說明的是，本實施例的第一總線150優選是同時傳遞觸控信號到第一軸向電極110A以及第二軸向電極120A，且第二總線160同時偵測所有的第一軸向電極110A以及第二軸向電極120A的輸出信號RS，但並不以此為限。

為了進一步說明本實施例的觸控面板101的觸控檢測與定位方式，請同時再參考圖2到圖4。圖2所示為本實施例的觸控面板的觸控檢測方式示意圖。圖3所示為本實施例的觸控面板在一多點觸控狀况下的觸控檢測示意圖。圖4所示為本實施例的觸控面板在另外一多點觸控狀况下的觸控檢測示意圖。如圖2所示，當觸控物例如手指按壓第一觸控單元110或第二觸控單元120時，位于觸控中心的第一觸控單元110或第二觸控單元120的電 阻變化將最大，而離觸控中心越遠的電阻變化將越小，根據其電阻變化的不同可進一步取得其所對應的第一軸向電極110A或第二軸向電極120A在觸控前後的電阻變化。

進一步說明，本實施例是假設以三階位置來設計不同的電阻變化，其中觸控中心所對應的第一觸控單元110或第二觸控單元120可定義為第一階，其電阻變化為△R1；離觸控中心點次近的第一觸控單元110或第二觸控單元120(也可說是與觸控中心點同一列或同一行上相鄰的第一觸控單元110或第二觸控單元120)可定義為第二階，其電阻變化為△R2；而與觸控中心點不同一列且不同一行上相鄰的第一觸控單元110或第二觸控單元120可定義為第三階，其電阻變化為△R3。△R1是大體上大于△R2，且△R2是大體上大于△R3。其中，本實施例僅以三階位置來定義不同層級的電阻變化，在這三階位置以外的電阻變化，本實施例將其忽略不計以方便接下來的舉例說明。當然，根據實際設計需求，亦可定義出更多階位置的電阻變化來做更精確的計算判斷，在此並非為本發明所限制。

接下來，假設將圖3與圖4所示之方向中最上方定義為第一行且將最左方定義為第一列。當如圖3所示的觸碰點P1與觸碰點P2分別觸碰同一第三行中的第二列及第四列的第二觸控單元120時，以及如圖4所示的觸碰點P3與觸碰點P4分別觸碰同一第三列中的第二行及第四行的第二觸控單元120時，雖然圖3與圖4的觸控狀况下所取得的最大電阻變化均為△R1與三倍△R3的和且均由第一列第四行及第六行所對應的第二軸向電極120A來反應，但圖3與圖4的觸控狀况仍可通過其他第一軸向電極110A及/或第二軸向電極120A所產生的電阻變化的不同來進行多點觸控的定位，例如第一列第 三行所對應的第一軸向電極等所產生的電阻變化即有不同。

補充說明的是，由于本實施例是採用力敏導電材料來設計，因此在上述的各第一軸向電極110A及第二軸向電極120A的電阻變化的計算上，若有不同觸碰點在所定義的三階位置範圍中形成重叠的話，則該重叠處所對應的第一觸控單元110或第二觸控單元120的電阻值會有加乘效果，依實際電路的電氣特性而定，本實施例是例如以兩倍效果來計算。例如：觸碰點P1及P2在第三列第二行的第二觸控單元120上即形成有第三階位置的電阻變化的重叠現象，因此在計算所屬的第二軸向電極120A的電阻變化時，該重叠處所對應的第二觸控單元120的電阻變化即以兩倍△R3來計算。

為進一步具體說明圖1中第一軸向電極110A及第二軸向電極120A之間的架構關係，請一並參考圖5。圖5所示為本發明的一實施例的觸控面板的部分放大示意圖。如圖5所示，本實施例的第一觸控單元110與第二觸控單元120的形狀可為一矩形或其他適合的形狀。此外，觸控電極結構還包括多條第一連接線130、多條第二連接線140以及多個絕緣塊170。其中，各第一軸向電極110A中的第一觸控單元110之間是通過第一連接線130來形成電連接，且各第二軸向電極120A中的第二觸控單元120之間是通過第二連接線140來形成電連接。

絕緣塊170設置在第一連接線130及第二連接線140之間，用以電隔離第一軸向電極110A與第二軸向電極120A。本實施例是以第二連接線140、絕緣塊170及第一連接線130依序設置的架構來舉例說明，在其他實施例中，亦可依序以第一連接線140、絕緣塊170及第二連接線130的設置來 設計。第一連接線130或第二連接線140可與第一觸控單元110以及第二觸控單元120以相同的材料一起形成，但並不以此為限。在本發明的其他優選實施例中也可視需要使用其他電阻較低的導電材料形成第一連接線130與第二連接線140，可降低阻抗，提高觸控面板靈敏度。值得說明的是，由于本實施例第一連接線130是在行方向X上繞過第二觸控單元120以連接相鄰的兩第一觸控單元110，因此各第二觸控單元120在進行觸控感應時可較不受第一連接線130的影響，且絕緣塊170只需要隔開第一連接線130與第二連接線140，因此絕緣塊170的面積較小。

請參考圖6。圖6所示為本發明的另一實施例的觸控面板的部分放大示意圖。如圖6所示，本實施例與上述圖5之實施例不同的地方在于第一連接線130及絕緣塊170的設置位置。在本實施例的觸控面板102的觸控電極結構102S中，在行方向X上的第一連接線130是設計跨越第二觸控單元120來電連接相鄰兩個第一觸控單元110因此絕緣塊170是設置在第二觸控單元120與第一連接線130之間，用以電隔離第一軸向電極與第二軸向電極。本實施例的觸控面板102除了第一連接線130以及絕緣塊170的設置位置之外，其餘各部件的材料特性、設置方式以及觸控檢測方式與上述圖5之選實施例相似，故在此並不再贅述。

下文將針對本發明的觸控面板的不同實施例進行說明，且為簡化說明，以下說明主要針對各實施例不同的部分進行詳述，而不再對相同的部分重複贅述。此外，本發明的各實施例中相同的組件是以相同的標號進行標示，用以方便在各實施例間互相對照。

請參考圖7。圖7所示為本發明的第二實施例的觸控面板的示 意圖。如圖7所示，與上述第一實施例不同的地方在于，在本實施例的觸控面板201的觸控電極結構201S中，同一列中是全設置第一觸控單元110或第二觸控單元120，而並非是由第一觸控單元110及第二觸控單元120交替設置。具體來說，本實施例第一觸控單元110是僅設置于偶數列，而第二觸控單元120是僅設置于奇數列。如此一來，本實施例至少部分的第二觸控單元120是與在一延伸方向D2上相鄰的第二觸控單元120電連接，其中延伸方向D2與列方向Y之間具有一夾角A2，夾角A2是大體上小于90度且大于45度，但並不以此為限。舉例來說，位于奇數列的至少部分第二觸控單元120是沿延伸方向D2與相鄰行中奇數列的至少一第二觸控單元120電連接。本實施例的觸控面板201及觸控電極結構201S除了第一觸控單元110與第二觸控單元120的設置位置以及各第二觸控單元120間電連接方式之外，其餘各部件的材料特性、設置方式以及觸控檢測方式是與上述第一實施例相似，故在此並不再贅述。

請參考圖8。圖8所示為本發明的第三實施例的觸控面板的示意圖。如圖8所示，本實施例與上述第二實施例不同的地方在于，在本實施例的觸控面板202的觸控電極結構202S中，第一觸控單元110是僅設置在奇數列而第二觸控單元是僅設置在偶數列。藉此，位于偶數列的至少部分第二觸控單元120是沿延伸方向D2與相鄰行中偶數列的至少一第二觸控單元120電連接。本實施例的觸控面板202及觸控電極結構202S除了第一觸控單元110與第二觸控單元120的設置位置之外，其餘各部件的材料特性、設置方式以及觸控檢測方式是與上述第二實施例相似，故在此並不再贅述。

本發明還提供一種觸控面板的偵測方法，可適用于上述各實 施例提供的觸控面板的觸控位置偵測。下面僅以圖1對應的實施例的觸控面板來說明。請參考圖9，圖9所示為本發明的一優選實施例的觸控面板的偵測方法示意圖。如圖1與圖9所示，本實施例的觸控面板的偵測方法包括以下步驟。首先，進行步驟S1，提供一觸控面板101。其中，觸控面板101的觸控電極結構101S包括多個第一觸控單元110以及多個第二觸控單元120。第一觸控單元110以及第二觸控單元120是以一陣列方式排列。同一行中的各第一觸控單元110與各第二觸控單元120交替間隔設置，同一行中的第一觸控單元110是彼此電連接，以形成多個第一軸向電極110A，且至少部分的第二觸控單元120是沿一延伸方向D1與位于不同行且不同列的至少一第二觸控單元120電連接，以形成多個第二軸向電極120A。本實施例的觸控面板101的特徵已在上述內容詳細說明，故在此並不再贅述。

然後，進行步驟S2，同時驅動所有的第一軸向電極與第二軸向電極120A，且同時檢測第一軸向電極110A與第二軸向電極120A所產生的輸出信號RS。接著，進行步驟S3，根據該些輸出信號RS計算得出觸控位置坐標。

由前述圖3及圖4的說明可知，由于本發明對觸控電極結構的電連接設計進行調整，因此觸控面板101上的每一第一觸控單元110或第二觸控單元120被觸碰時，其皆會對應到唯一一組第一軸向電極110A及第二軸向電極120A的電阻變化組合。在一偵測計算實施例中，通過第一軸向電極110A及第二軸向電極120A的電阻變化與一數據表的比對，即可獲得實際觸碰點是發生在哪一軸向電極的哪個觸控單元。具體設計上，可預先針對不同的觸控位置以及不同的觸控狀態等觸控輸入來分別模擬量測出對應的第 一軸向電極110A及第二軸向電極120A的電阻變化組合，並存儲成一數據表，藉以讓各種觸控輸入唯一對應一組第一軸向電極110A及第二軸向電極120A的電阻變化組合。如此一來，當實際發生觸控時，前述步驟S3根據步驟S2中所檢測得到的輸出信號RS與預設的數據表中的電阻變化組合進行比較，可得到實際觸控點的位置。值得說明的是，本實施例在輸出信號RS所代表的電阻變化的比對上，可以單純是針對所有第一軸向電極與第二軸向電極進行比對。另外，也可以是先由所有輸出信號RS所代表的電阻變化來判斷出觸碰點發生的一特定區域，並僅針對該特定區域所對應的第一軸向電極110A及第二軸向電極120A來比對，由于不需要針對所有的第一軸向電極110A及第二軸向電極120A一一比對，可加快運算速度。

另一偵測計算實施例是採用删去法來實現。在具體設計上，直接根據輸出信號RS所代表的電阻變化大小，由大到小來縮小觸碰點可能發生的範圍，以由面範圍縮小到點範圍，進而獲得實際觸碰點是發生在哪一軸向電極的哪個觸控單元。換言之，先計算出產生最大電阻變化的第一軸向電極110A或第二軸向電極120A在觸控電極結構上所含蓋的區域，之後再計算產生次大電阻變化的第一軸向電極110A或第二軸向電極120A對于前述產生最大電阻變化的第一軸向電極110A或第二軸向電極120A的相對位置關係，以篩選並剔除該區域中不可能對應有觸碰點發生的第一觸控單元110或第二觸控單元120，以此類推。由于前述提過本發明的觸控面板101上的每一第一觸控單元110或第二觸控單元120被觸碰時，其皆會對應到唯一一組第一軸向電極110A及第二軸向電極120A的電阻變化組合，因此可以根據此删去法得到實際觸碰點的位置。以圖3和圖4所示的觸碰點產生的電 阻變化來舉例說明該删去法。首先，由圖3和圖4可知產生最大電阻變化的是對應輸出信號RS為△R1與三倍△R3之和的第二軸向電極120A，即位于第四行及第六行且沿D1方向的第二軸向電極120A，由此可知，觸碰點位于第四行及第六行且沿D1方向的第二軸向電極120A上，且觸碰點隻可能是圖3所示觸碰點P1和觸碰點P2或圖4所示觸碰點P3和觸碰點P4，如此只需要排除這兩種情形中一種即可確定觸碰點位置。之後，再計算次大電阻變化的第一軸向電極110A或第二軸向電極120A，如果次大電阻變化為位于第三行的第一軸向電極110A(如圖3所示)，則可確定觸碰點為P1和P2，即觸碰點位置為第三行第二列與第三行第四列，如果次大電阻變化為位于第二、三及四行的第一軸向電極110A(如圖4所示)，則可確定觸碰點為P3和P4，即觸碰點分別位于第二行第三列與第四行第三列。本實施例相較于前一偵測計算實施例而言，不需預先存儲數據表，也不需進行比對流程，而直接以篩選剔除的方式來計算出觸碰點的位置。

綜合以上所述，本發明的觸控面板及其觸控電極結構是由呈陣列方式排列的第一觸控單元及第二觸控單元所構成，並通過電連接設計的調整，讓由同一行的第一觸控單元所電連接而成的第一軸向電極與沿一延伸方向由不同行且不同列的第二觸控單元所電連接而成的第二軸向電極之間構成有一小于90度的夾角。如此一來，即可對第一軸向電極與第二軸向電極同時驅動及掃描，並通過計算每一軸向電極在觸控前後對應的電阻變化來實現多點觸控檢測，並且有效提高觸控反應的速度。

雖然本發明已以數個較佳實施例揭露如上，然其並非用以限定本發明，任何所屬技術領域中具有通常知識者，在不脫離本發明之精神 和範圍內，當可作任意之更動與潤飾，因此本發明之保護範圍當視後附之申請專利範圍所界定者為準。

101‧‧‧觸控面板

101S‧‧‧觸控電極結構

110‧‧‧第一觸控單元

110A‧‧‧第一軸向電極

120‧‧‧第二觸控單元

120A‧‧‧第二軸向電極

130‧‧‧第一連接線

140‧‧‧第二連接線

150‧‧‧觸控驅動組件

160‧‧‧觸控感應組件

A1‧‧‧夾角

D1‧‧‧延伸方向

RS‧‧‧輸出信號

X‧‧‧行方向

Y‧‧‧列方向

100‧‧‧基板

Claims (20)

1. 一種觸控電極結構，包括：多個第一觸控單元；以及多個第二觸控單元，其中該多個第一觸控單元以及該多個第二觸控單元是以一陣列方式排列，同一行中的各該第一觸控單元與各該第二觸控單元交替間隔設置，同一行中的該多個第一觸控單元是彼此電連接，以形成多個第一軸向電極，且至少部分的該多個第二觸控單元是沿同一延伸方向與位于不同行且不同列的至少一該第二觸控單元電連接，以形成多個第二軸向電極，且該些第一軸向電極與該些第二軸向電極之間構成一小於90度的夾角。
2. 如申請專利範圍第1項所述的觸控電極結構，其中，同一行中的該多個第一觸控單元以及該多個第二觸控單元的中心點是位于同一直線上。
3. 如申請專利範圍第1項所述的觸控電極結構，其中，該多個第一軸向電極之間、該多個第二軸向電極之間及任一該第一軸向電極與任一該第二軸向電極之間是彼此電分離。
4. 如申請專利範圍第1項所述的觸控電極結構，其中，位于偶數列的至少部分該多個第二觸控單元是沿該延伸方向與相鄰行中奇數列的至少一該第二觸控單元電連接。
5. 如申請專利範圍第1項所述的觸控電極結構，其中，位于奇數列的至少部分該多個第二觸控單元是沿該延伸方向與相鄰行中偶數列的至少一該第二觸控單元電連接。
6. 如申請專利範圍第1項所述的觸控電極結構，其中，位于偶數列的至少部 分該多個第二觸控單元是沿該延伸方向與相鄰行中偶數列的至少一該第二觸控單元電連接。
7. 如申請專利範圍第1項所述的觸控電極結構，其中，位于奇數列的至少部分該多個第二觸控單元是沿該延伸方向與相鄰行中奇數列的至少一該第二觸控單元電連接。
8. 如申請專利範圍第1項所述的觸控電極結構，其中，同一列中的各該第一觸控單元與各該第二觸控單元交替設置。
9. 如申請專利範圍第1項所述的觸控電極結構，其中，同一列中的該多個第一觸控單元以及該多個第二觸控單元的中心點是位于同一直線上。
10. 如申請專利範圍第1項所述的觸控電極結構，其中，該多個第一觸控單元以及該多個第二觸控單元採用一力敏導電材料或一熱敏導電材料。
11. 如申請專利範圍第1項所述的觸控電極結構，其中，還包括多條第一連接線以及多條第二連接線，其中各該第一軸向電極的該多個第一觸控單元之間通過所述第一連接線來形成電連接，且各該第二軸向電極的該多個第二觸控單元之間通過所述第二連接線來形成電連接。
12. 如申請專利範圍第11項所述的觸控電極結構，其中，還包括絕緣塊設置于所述第一連接線及所述第二觸控單元之間，用以電隔離所述第一軸向電極與所述第二軸向電極。
13. 如申請專利範圍第11項所述的觸控電極結構，其中，還包括絕緣塊設置于所述第一連接線及所述第二連接線之間，用以電隔離所述第一軸向電極與所述第二軸向電極。
14. 一種觸控面板，包括： 基板；以及如申請專利範圍第1項至第13項任一項所述的觸控電極結構，形成于該基板上。
15. 如申請專利範圍第14項所述的觸控面板，其中，還包括第一總線及第二總線，其中該第一總線電連接該多個第一軸向電極及該多個第二軸向電極的一端，該第二總線電連接該多個第一軸向電極及該多個第二軸向電極的另一端。
16. 如申請專利範圍第15項所述的觸控面板，其中，該第一總線傳遞觸控信號到該多個第一軸向電極以及該多個第二軸向電極，並且該第二總線傳遞該多個第一軸向電極以及該多個第二軸向電極所產生的輸出信號。
17. 一種觸控面板的偵測方法，該觸控面板的觸控電極結構包括多個第一觸控單元及多個第二觸控單元，其中該多個第一觸控單元以及該多個第二觸控單元是以一陣列方式排列，同一行中的各該第一觸控單元與各該第二觸控單元交替間隔設置，同一行中的該多個第一觸控單元是彼此電連接，以形成多個第一軸向電極，且至少部分的該多個第二觸控單元是沿一延伸方向與位于不同行且不同列的至少一該第二觸控單元電連接，以形成多個第二軸向電極，該觸控面板的偵測方法的步驟包括：同時驅動所有的該些第一軸向電極與該些第二軸向電極；同時檢測該些第一軸向電極與該些第二軸向電極所產生的輸出信號；以及根據該些輸出信號計算得出觸碰點位置。
18. 如申請專利範圍第17項所述的觸控面板的偵測方法，其中，所述根據該 些輸出信號計算得出觸碰點位置的步驟包括：比對該些輸出信號所代表的電阻變化與一預設的數據表。
19. 如申請專利範圍第17項所述的觸控面板的偵測方法，其中，所述根據該些輸出信號計算得出觸碰點位置的步驟包括：依序根據該些輸出信號所代表的電阻變化來計算對應的該些第一軸向電極及該些第二軸向電極之間的相對位置關係，以篩選該些第一軸向電極的該些第一觸控單元及該些第二軸向電極的該些第二觸控單元。
20. 如申請專利範圍第19項所述的觸控面板的偵測方法，其中，所述計算相對位置關係是根據該些輸出信號所代表的電阻變化由大到小依序進行計算。