TWI413928B - 觸控面板及其差動辨識方法 - Google Patents

Description

觸控面板及其差動辨識方法

本發明是有關於觸控面板，且特別是有關於一種觸控面板的差動辨識方法。

近來各式電子產品朝向操作簡便、小體積以及大螢幕尺寸的方向發展。因此，許多電子產品都採用觸控面板以省略鍵盤或是操控按鍵，進而使螢幕可配置的面積擴大。現今最常見的觸控面板大致可區分為電阻式、電容式、紅外線式及超音波式等觸控面板。傳統觸控面板至少需要2片銦錫氧化物(indium tin oxide，以下稱ITO)膜，以分別測出X、Y方向的觸碰位置。傳統電容式觸控面板的觸控技術是利用在電容式觸控面板ITO膜的四角連接電極，並且加入一定的電訊號。待手指觸碰電容式觸控面板上的任一點時，手指會帶走耦合在電容式觸控面板上的電荷並使得四角連接電極的電流產生變化。電容式觸控面板則可以利用偵測上述的四角連接電極上的能量變化差異來判斷出觸碰的行為與位置。然而，此傳統電容式觸控面板只能判斷出單點的觸碰行為。

本發明提供一種觸控面板的差動辨識方法，可以精確辨識出單點、兩點甚至更多觸碰點的座標資訊。

本發明提出一種觸控面板的差動辨識方法。該觸控面板沿第一軸向與第二軸向各自具有多個掃描電極與多個感測電極。該差動辨識方法包括下述步驟：於該些掃描電極中選擇第i個掃描電極，以提供一驅動訊號至所述第i個掃描電極；在提供該驅動訊號至所述第i個掃描電極的期間，感測該些感測電極中第j個感測電極與相鄰近的另一個感測電極的特徵差值△C(i,j)，以及感測該些感測電極中第k個感測電極與一參考特徵值的特徵差值△Ci，前述i、j、k 為整數；將觸控面板的多個感測點中的一個基準感測點的特徵值設定為一基準特徵值；以及使用該基準特徵值、該些特徵差值△Ci與該些特徵差值△C(i,j)計算該些感測點的特徵值。

本發明提出一種觸控面板，包括一第一導電層、一第二導電層、多個掃描電極、多個掃描電極以及一控制器。掃描電極沿第一軸向配置於第一導電層的一側，而感測電極沿第二軸向配置於第二導電層的一側。控制器於該些掃描電極中選擇第i個掃描電極，以提供驅動訊號至所述第i個掃描電極。在提供驅動訊號至所述第i個掃描電極的期間，該控制器感測這些感測電極中第j個感測電極與相鄰近的另一個感測電極的特徵差值△C(i,j)，以及感測這些感測電極中第k個感測電極與一參考特徵值的特徵差值△Ci。此控制器將觸控面板的多個感測點中的一個基準感測點的特徵值設定為基準特徵值。控制器使用該基準特徵值、該些特徵差值△Ci與該些特徵差值△C(i,j)計算該些感測點的特徵值。

在本發明之一實施例中，上述之計算該觸控面板的多個感測點的特徵值的步驟包括：計算△C[i]=△Ci-△Ci+1，其中△C[i]表示第i個與第i+1個掃描電極的特徵差值；若該基準感測點位於第j列，則使用該基準特徵值計算C(i+1,j)=C(i,j)+△C[i]或計算C(i-1,j)=C(i,j)-△C[i]，其中C(i,j)表示該些感測點中第i行第j列感測點的特徵值；以及計算C(i,j+1)=C(i,j)+△C(i,j)或計算C(i,j-1)=C(i,j)-△C(i,j)。

在本發明之一實施例中，所述觸控面板的差動辨識方法，更包括：計算第i條掃描線上所有感測點的特徵值中最小特徵值與該基準特徵值的差值，作為一補償值；以及依據該補償值調整該第i條掃描線上所有感測點的特徵值。

在本發明之一實施例中，所述觸控面板的差動辨識方 法，更包括：計算第i條掃描線上所有感測點的一平均特徵值；計算該平均特徵值與該基準特徵值的差值，作為一補償值；以及依據該補償值調整該第i條掃描線上所有感測點的特徵值。

在本發明之一實施例中，上述感測特徵差值△Ci的步驟包括：感測所述第k個感測電極與該觸控面板的閒置感測電極的特徵差值△Ci。

在本發明之一實施例中，上述感測特徵差值△Ci的步驟包括：感測所述第k個感測電極與一參考電容器的特徵差值△Ci。

基於上述，本發明實施例所揭露的差動辨識方法採用全平面掃描方式，可以精確辨識出在觸控面板上單點、兩點甚至更多觸碰點的座標資訊，且無鬼點問題。

為讓本發明之上述特徵和優點能更明顯易懂，下文特舉實施例，並配合所附圖式作詳細說明如下。

以下實施例所辨識的觸控面板可以是任何形式的觸控面板，例如電容式觸控面板、電阻式觸控面板或是具有奈米碳管(carbon nano-tube,CNT)薄膜的觸控面板等。此觸控面板沿第一軸向與第二軸向(例如X軸與Y軸，但不以此為限)各自具有多個掃描電極與多個感測電極。另外，基於所辨識之觸控面板的類型，欲辨識的特徵值也會有所不同。為了能更具體地說明實現方式，以下將以電容式觸控面板為示範例，且以電容值作為欲辨識的特徵值。所屬領域具有通常知識者當可依據下述實施例之教示而類推至其他類型的觸控面板。欲辨識的特徵值除了電容值外，也可能是電流值或電壓值。

圖1是依照本發明實施例說明一種觸控面板100的功能模塊示意圖。圖2是依照本發明其中一個實施例說明圖 1所示觸控面板100的組合圖。在圖2中引入笛卡兒座標系統(Cartesian coordinate system)，其包括相互垂直的X軸方向、Y軸方向和Z軸方向。為了簡化圖式及說明，圖2中之第一電極114及第二電極124僅分別以五電極表示，但實際應用時，第一感測電極114及第二感測電極124的數目，可根據實際觸控面板的面積及應用領域而定。

如圖2所示，觸控面板100由第一導電膜110與第二導電膜120相疊合而成。介電層結構配置於第一導電膜110與第二導電膜120之間。此介電層結構可以是圖2所示環形膠體層130，也可以是其他結構。第一導電膜110與第二導電膜120二者以環形膠體層130黏合固定。第一導電膜110與第二導電膜120之間均勻散佈多個絕緣間隔物(spacer)132，使二導電膜110、120維持一固定間距。

第一導電膜110包括第一導電層113與第一電極114。在第一導電層113的一側沿第一軸向(例如：X軸方向)設置多個第一電極114。其中，第一電極114間之間距相等，並分別與第一導電層113電性連接；第一電極114的末端延伸至第一導電膜110的下緣中央，作為對外部傳遞訊號之用。

第二導電膜120亦包括第二導電層123與第二電極124。在第二導體層123的一側沿第二軸向(例如：Y軸方向)設置多個第二電極124。第二電極124間之間距相等，並分別與第二導電層123電性連接；第二電極124與第二導電膜120右側數條平行排列的連接導線125連接，連接導線125沿著第二導電層123右側邊緣延伸，連接導線125的末端延伸至第二導電膜120的下緣中央，作為對外部傳遞訊號之用。

此外，觸控面板100另包括一軟性印刷電路板140，其具有複數個金屬接點141，在環形膠體層130下緣中央具有一缺口131。在組裝時，該缺口131與軟性電路板140 對應，軟性電路板140上下的金屬接點141可與第一導電膜110及第二導電膜120上的各導線的末端電性連接，可使外部電訊號傳遞到第一導電層110的第一電極114以及第二導電層120的第二電極124上。

在一較佳實施例中，本發明實施例觸控面板100所使用之環形膠體層130可以是熱固化膠或UV固化膠等。為了提高觸控面板100的可靠度，並縮減觸控面板100的邊框寬度，本實施例中之第一導電層113及第二導電層123是以奈米碳管薄膜所構成。此奈米碳管薄膜具有導電特性，其由超順垂直排列奈米碳管陣列(Super Vertical-Aligned Carbon Nanotube Array)透過拉伸方式製成，可應用於製作透明的導電薄膜。在拉伸製程中，長鍊狀奈米碳管約略沿著拉伸方向平行排列，因而奈米碳管導電薄膜在拉伸方向具有較低阻抗，在垂直拉伸方向阻抗約為拉伸方向阻抗的50至350倍之間，其表面電阻也因量測的位置不同、方向不同而介於1 K Ω至800 K Ω之間，因此第一導電層113及第二導電層123具有導電異向性(Anisotropic Conductivity)。

如圖2所示，在本發明實施例中，第一導電層113具有一主導電方向CD1(原導電膜拉伸方向)，第二導電層123具有另一主導電方向CD2。在此實施例中，第一導電層113的主導電方向(即低阻抗方向)CD1及第二導電層123的主導電方向CD2相互垂直。例如，第二導電層123的低阻抗方向CD2為X軸方向，而第一導電層113的低阻抗方向CD1為Y軸方向。在此，第一導電層113與第二導電層123在主導電方向之垂直方向的阻抗，約為主導電方向CD1、CD2阻抗的100至200倍之間。

如圖1所示，控制器10電性連接至第一電極114與第二電極124。在辨識Y軸向的碰觸位置時，第一電極114被當作掃描電極，因此控制器10同時提供驅動訊號(例如 邏輯高準位)給所有第一電極114，並在提供驅動訊號至所有第一電極114的期間，逐一感測每一個第二電極124的特徵值(例如電容值、電阻值或電壓值)。然後，控制器10再同時將驅動訊號改提供給所有第二電極124，並在提供驅動訊號至所有第二電極124的期間，逐一感測每一個第一電極114的特徵值。控制器10完成上述辨識的動作後，便可以得到觸碰點的X、Y軸座標資訊。

為了簡化說明，以下實施例以觸控面板100在操作時，僅有二個觸控點舉例。但實際操作時，本發明實施例觸控面板之多點辨識方法亦可適用於更多觸控點的情形。圖3是依照本發明實施例說明圖2所示觸控面板100的辨識方法示意圖。假設觸控面板100上有兩個觸碰點，其座標分別是(x1,y2)與(x2,y1)。控制器10進行上述操作而同時提供驅動訊號給所有第一電極114，並感測每一個第二電極124的電容值。由每一個第二電極124的電容值可以求得觸碰點的Y軸座標是y2與y1。接下來，控制器10進行上述操作而同時將驅動訊號改提供給所有第二電極124，並感測每一個第一電極114的電容值。由每一個第一電極114的電容值可以求得觸碰點的X軸座標是x1與x2。完成上述辨識的動作後，控制器10便可以得到兩個觸碰點的X、Y軸的座標資訊。然而，此辨識方式會有鬼點的問題與訊號遮蔽問題。例如，控制器10無法判斷兩個觸碰點座標到底是(x1,y2)、(x2,y1)，還是(x1,y1)、(x2,y2)。

圖4是依照本發明實施例說明圖1所示觸控面板100的示意圖。為了簡化圖式及說明，圖4中僅以掃描電極S1~S5表示第一電極114，以及用感測電極D1~D5表示第二電極124，但實際應用時，掃描電極及感測電極的數目可根據實際觸控面板的面積及應用需求而定。藉由圖2中第一導電層113及第二導電層123所具有的導電異向性，掃描電極S1~S5相當於各自電性連接至對應的一條掃描 線，而感測電極D1~D5亦相當於各自電性連接至對應的一條感測線。前述掃描線與感測線的每一個交會處形成一個感測電容，而每一個感測電容可以作為一個感測點，如圖4所示。

在辨識過程中，掃描電極S1~S5會以一次一個的方式輪流被選擇並且被提供驅動訊號。前述掃描電極S1~S5的順序可以是以循序方式選擇下一個掃描電極，也可以是交錯方式，例如先掃S1、S3、S5，再掃S2、S4…，或是以S3、S2、S4、S1、S5的順序進行掃描。在其他實施例中，掃描電極S1~S5的驅動順序也可以是任何有規則或無規則的順序，例如隨機決定驅動順序，或是其他任何方式決定驅動順序。本實施例將以循序方式決定掃描電極S1~S5的掃描順序。圖5是依照本發明實施例說明圖4中掃描電極S1~S5被提供驅動訊號的時序關係示意圖。也就是說，於掃描電極S1~S5中選擇第i個掃描電極Si，以提供驅動訊號至所述掃描電極Si；接下來選擇並提供驅動訊號至第i+1個掃描電極S(i+1)。前述i為整數。

在提供該驅動訊號至所述第i個掃描電極Si的期間，控制器10以差動放大器感測該些感測電極D1~D5中第j個感測電極Dj與相鄰近的另一個感測電極的特徵差值△C(i,j)，以及以差動放大器感測該些感測電極D1~D5中第k個感測電極Dk與某一參考特徵值Cref的特徵差值△Ci，其中j、k為整數。前述「相鄰近的兩個感測電極」可以是相互鄰接的兩個感測電極，例如感測第j個感測電極Dj與第j+1個感測電極D(j+1)而獲得特徵差值△C(i,j)。或者，「相鄰近的兩個感測電極」也可以是中間隔著一個、二個或更多個其他感測電極的兩個感測電極，例如感測第j個感測電極Dj與第j+2個感測電極D(j+2)而獲得特徵差值△C(i,j)。於本實施例中，上述特徵差值△C(i,j)是指該些感測電極D1~D5中第j個感測電極Dj與第j+1個感測電極D(j+1) 的特徵差值，而上述特徵差值可以是電容差值。上述感測該些感測電極D1~D5中相鄰近的兩個感測電極的實現方式，可以是以一次一對感測電極的方式感測相鄰近的兩個感測電極的特徵差值△C(i,j)，也可以同時完成前述所有特徵差值的感測操作。

例如，假設上述「第k個感測電極」為D1，也就是控制器10以差動放大器感測這些感測電極D1~D5中的邊緣電極D1與某一參考特徵值Cref的特徵差值。在提供該驅動訊號至第1個掃描電極S1的期間，控制器10以差動放大器感測相鄰近的感測電極D1與D2的特徵差值△C(1,1)、感測電極D2與D3的特徵差值△C(1,2)、感測電極D3與D4的特徵差值△C(1,3)、感測電極D4與D5的特徵差值△C(1,4)、以及以差動放大器感測第1個感測電極D1與某一參考特徵值Cref的特徵差值△C1。前述參考特徵值Cref可以由配置在觸控面板100上的閒置感測電極(dummy detecting electrode)D0來提供。也就是說，在提供該驅動訊號至第1個掃描電極S1的期間，差動放大器感測第1個感測電極D1與觸控面板100的閒置感測電極D0的特徵差值△C1。於本實施例中，上述閒置感測電極D0並沒有連接實體感測線。應用本實施例者可以視其設計需求而任意決定閒置感測電極D0的連接架構，比如說將閒置感測電極D0連接至比較特別的線(例如地線)。在其他實施例中，在觸控面板100上可能沒有配置上述閒置感測電極D0，而前述參考特徵值Cref可以由配置在觸控面板100外的參考電容器來提供。也就是說，控制器10以差動放大器感測所述第1個感測電極D1與該參考電容器的特徵差值△C1。

接下來，在提供該驅動訊號至第2個掃描電極S2的期間，以差動放大器感測相鄰近的感測電極D1與D2的特徵差值△C(2,1)、感測電極D2與D3的特徵差值△C(2,2)、感測電極D3與D4的特徵差值△C(2,3)、感測電極D4與D5 的特徵差值△C(2,4)、以及以差動放大器感測第1個感測電極D1與該參考特徵值Cref的特徵差值△C2。以此類推，獲得特徵差值△C(3,1)~△C(3,4)、△C(4,1)~△C(4,4)、△C(5,1)~△C(5,4)以及特徵差值△C3、△C4、△C5。

需強調的是，前述「第k個感測電極」可以依據設計需求而任意決定。例如，以圖4為例，上述「第k個感測電極」可以是D5或其他感測電極。也就是說，可以視設計需求而從感測電極D1~D5中選擇任何一條感測電極來偵測出特徵差值△C1~△C5。另外，前述閒置感測電極D0的位置並不限於圖4所示。閒置感測電極D0的位置可以視設計需求而定，例如圖4中閒置感測電極D0’之位置或是其他任何位置。

利用上述特徵差值△C1~△C5可轉換為另一軸向的資訊。例如，計算△C[i]=△Ci-△Ci+1，其中△C[i]表示第i個掃描電極Si與第i+1個掃描電極S(i+1)的特徵差值。請參照圖4，由於△C1=C(1,1)-Cref，而△C2=C(2,1)-Cref，所以第1個掃描電極S1與第2個掃描電極S2的特徵差值△C[1]=C(1,1)-C(2,1)=△C1-△C2。以此類推，可以計算出特徵差值△C[2]~△C[4]。

上述辨識所獲得的值都是相對特徵值，若欲獲得所有感測點的特徵值，則需要將觸控面板100多個感測點中任選一個感測點作為基準感測點，並將此基準感測點的特徵值預先設定為某一基準特徵值。接下來，便可以使用該基準特徵值、特徵差值△C1~△C5、與特徵差值△C(1,1)~△C(1,4)、特徵差值△C(2,1)~△C(2,4)、特徵差值△C(3,1)~△C(3,4)、特徵差值△C(4,1)~△C(4,4)、特徵差值△C(5,1)~△C(5,4)計算所有感測點的特徵值。

若該基準感測點位於第j列，則使用該基準特徵值計算C(i+1,j)=C(i,j)-△C[i](或計算C(i-1,j)=C(i,j)+△C[i])。其中，C(i,j)表示該些感測點中第i行第j列感測點 的特徵值。例如，假設感測點未被觸碰之特徵值為C0，且假設選擇第1行第1列感測點(即圖4標示C(1,1)處)作為基準感測點，則此基準感測點的特徵值C(1,1)會被設定為C0(即基準特徵值)。由於△C[1]=C(1,1)-C(2,1)，所以特徵值C(2,1)=C(1,1)-△C[1]=C0-△C[1]。依此類推，可以算出特徵值C(3,1)、C(4,1)與C(5,1)。

接下來計算C(i,j+1)=C(i,j)-△C(i,j)(或計算C(i,j-1)=C(i,j)+△C(i,j))，以算出其他感測點的特徵值。例如，請參照圖4，由於特徵差值△C(1,1)=C(1,1)-C(1,2)，所以特徵值C(1,2)=C(1,1)-△C(1,1)=C0-△C(1,1)。依此類推，可以算出特徵值C(1,3)、C(1,4)與C(1,5)。相類似地，使用特徵值C(2,1)、C(3,1)、C(4,1)與C(5,1)，以及使用特徵差值△C(2,1)~△C(2,4)、特徵差值△C(3,1)~△C(3,4)、特徵差值△C(4,1)~△C(4,4)、特徵差值△C(5,1)~△C(5,4)可以計算其他感測點的特徵值。

在獲得所有感測點的特徵值後，便可以決定哪一個或哪些個感測點是觸碰點。例如，可以將所有感測點的特徵值與一臨界值相比較，而特徵值超過臨界值的感測點則可以決定該感測點為觸碰點。又例如，若於這些感測點中，某一個感測點(以下稱第一感測點)的特徵值大於與此第一感測點相鄰接的所有感測點的特徵值，則決定此第一感測點為觸碰點。由於本實施例所揭露的差動辨識方法採用全平面掃描方式，可以精確辨識出在觸控面板上單點、兩點甚至更多觸碰點的座標資訊，且無鬼點問題。

應用上述實施例者可以依據設計需求而改變實施方式。例如，以圖4為例，上述「第k個感測電極」可以是D3。也就是說，選擇感測電極D3來偵測出特徵差值△C1~△C5。另外，假設選擇第3行第3列感測點(即圖4標示C(3,3)處)作為基準感測點，則此基準感測點的特徵值C(3,3)會被設定為基準特徵值C0。依前述假設，可以算出特徵值 C(4,3)=C0-△C[3]、C(5,3)=C(4,3)-△C[4]、C(2,3)=C0+△C[2]與C(1,3)=C(2,3)+△C[1]。然後，接著算出特徵值C(3,4)=C0-△C(3,3)、C(3,5)=C(3,4)-△C(3,4)、C(3,2)=C0+△C(3,2)與C(3,1)=C(3,2)+△C(3,1)。其它感測點的特徵值可以推算出，在此不再贅述。

依據實際應用條件的不同，上述實施例在計算出所有感測點的特徵值後，可以進一步進行校正步驟。例如，找出第i條掃描線Si上所有感測點的特徵值中最小特徵值，然後計算此最小特徵值與基準特徵值C0的差值作為補償值Coffset。然後，依據補償值Coffset調整該第i條掃描線Si上所有感測點的特徵值。

圖6是依照本發明實施例說明觸控面板所有感測點的特徵值之示意圖。此觸控面板具有9個掃描線(即9個掃描電極S1~S9)與12個感測線(即12個感測電極D1~D12)。本實施例是假設有兩個觸碰點，其位置分別在掃描線S3與感測線D6交會處，以及在掃描線S6與感測線D6交會處，且假設基準特徵值C0為1023，並選擇掃描線S1與感測線D1交會處之感測點作為基準感測點。經過上述差動辨識方法後，可計算出觸控面板上所有感測點的特徵值，如圖6所示。由圖6所示特徵值可以找出相對極大值出現在掃描線S6與感測線D6交會處，則可以決定此感測點為觸碰點。然而，另一觸碰點可能會因為上述多個特徵差值的誤差而無法被辨識出。

因此，圖6所示感測點的特徵值需要進行校正。圖7是依照本發明實施例說明圖6所示特徵值校正後之示意圖。例如，找出第2條掃描線S2上所有感測點的特徵值中最小特徵值為1017，然後計算此最小特徵值與基準特徵值C0的差值作為補償值Coffset，也就是Coffset=1023-1017=6。然後，依據補償值Coffset調整掃描線S2上所有感測點的特徵值，也就是掃描線S2上所有感測點的特徵值 都加上6。依此類推，逐一校正每一條掃描線上所有感測點的特徵值，而獲得校正後的特徵值如圖7所示。由圖7所示特徵值可以找出有兩個相對極大值，分別出現在掃描線S6與感測線D6交會處，以及出現在掃描線S3與感測線D6交會處。因此，經過校正後更可以精確辨識出此二個觸碰點的位置。

應用本實施例者可以視其設計需求而改用其他校正方法來校正圖6所示特徵值。例如，計算第i條掃描線Si上所有感測點的平均特徵值，然後計算該平均特徵值與基準特徵值C0的差值作為補償值Coffset，最後依據補償值Coffset調整該第i條掃描線Si上所有感測點的特徵值。例如，計算第2條掃描線S2上所有感測點的平均特徵值，即(1039+1041+1048+1054+1106+1236+1119+1045+1041+1038+1037+1023)/12=1069。然後計算此平均特徵值與基準特徵值C0的差值作為補償值Coffset，也就是Coffset=1023-1069=-46。然後，依據補償值Coffset調整掃描線S1上所有感測點的特徵值，也就是掃描線S1上所有感測點的特徵值都加上-46。依此類推，其餘條掃描線上特徵值的校正過程不再贅述。

前述實施例雖以電容值作為欲感測的特徵值，然而本發明的實現方式不以此為限。例如，以電阻值作為欲感測的特徵值。當手指、觸控筆等外物壓按觸控面板100時，圖2所示第一導電層113與/或第二導電層123會因為外物施加的壓力而產生局部形變，使得第一導電層113與第二導電層123的壓按處相互電性碰觸。因此，控制器10可以進行上述差動辨識方法而計算出觸控面板100每一個感測點的電阻值，進而精確辨識出在觸控面板100上單點、兩點甚至更多觸碰點的座標資訊。

須強調的是，前述差動辨識方法可以應用於任何形式的觸控面板，而不限於圖2所示的觸控面板100。例如，圖8是依照本發明另一個實施例說明圖1所示觸控面板100 的組合圖。圖8所示觸控面板100大部分結構相似於圖2所示觸控面板100，因此圖8可以參照圖2的相關說明。與圖2不同之處，在於圖8所示觸控面板100的第二導電層123是圖形化的ITO膜層(或是其他透明導電材質)。第二導電層123具有多條感測線，而圖8的第二導電層123僅繪示5條感測線作為代表。控制器10透過第二電極124電性連接至所有感測線。每一條感測線與第一導電層113之間形成多個感測電容，而每一個感測電容可以作為一個感測點，如圖4所示。因此，圖8所示觸控面板100亦可進行上述差動辨識方法，以辨識出在觸控面板100上單點、兩點甚至更多觸碰點的座標資訊。

綜上所述，上述實施例所揭露的差動辨識方法採用全平面掃描方式，可以計算出每一個感測點的特徵值，因此能夠精確辨識出在觸控面板上單點、兩點甚至更多觸碰點的座標資訊，且無鬼點問題。

雖然本發明已以實施例揭露如上，然其並非用以限定本發明，任何所屬技術領域中具有通常知識者，在不脫離本發明之精神和範圍內，當可作些許之更動與潤飾，故本發明之保護範圍當視後附之申請專利範圍所界定者為準。

10‧‧‧控制器

100‧‧‧觸控面板

110‧‧‧第一導電膜

113‧‧‧第一導電層

114‧‧‧第一電極

120‧‧‧第二導電膜

123‧‧‧第二導電層

124‧‧‧第二電極

125‧‧‧導線

130‧‧‧膠體層

131‧‧‧缺口

132‧‧‧絕緣間隔物

140‧‧‧軟性電路板

141‧‧‧金屬接點

CD1、CD2‧‧‧主導電方向

D0、D0’‧‧‧閒置感測電極

D1~D12‧‧‧感測電極

S1~S9‧‧‧掃描電極

C(1,1)~C(5,5)‧‧‧特徵值

△C(1,1)~△C(5,4)，△C1~△C5，△C[1]~△C[4]‧‧‧特徵差值

X、Y、Z‧‧‧笛卡兒座標系統的座標軸

圖1是依照本發明實施例說明一種觸控面板的功能模塊示意圖。

圖2是依照本發明其中一個實施例說明圖1所示觸控面板的組合圖。

圖3是依照本發明實施例說明圖2所示觸控面板的辨識方法示意圖。

圖4是依照本發明實施例說明圖1所示觸控面板的示意圖。

圖5是依照本發明實施例說明圖4中掃描電極S1~S5被提 供驅動訊號的時序關係示意圖。

圖6是依照本發明實施例說明觸控面板所有感測點的特徵值之示意圖。

圖7是依照本發明實施例說明圖6所示特徵值校正後之示意圖。

圖8是依照本發明另一個實施例說明圖1所示觸控面板100的組合圖。

100‧‧‧觸控面板

D0、D0’‧‧‧閒置感測電極

D1~D5‧‧‧感測電極

S1~S5‧‧‧掃描電極

C(1,1)~C(5,5)‧‧‧特徵值

△C1~△C5、△C(1,1)~△C(5,4)、△C[1]~△C[4]‧‧‧特徵差值

Claims (22)

1. 一種觸控面板的差動辨識方法，該觸控面板沿一第一軸向與一第二軸向各自具有多個掃描電極與多個感測電極，該差動辨識方法包括：於該些掃描電極中選擇第i個掃描電極，以提供一驅動訊號至所述第i個掃描電極，其中i為整數；在提供該驅動訊號至所述第i個掃描電極的期間，感測該些感測電極中第j個感測電極與相鄰近的另一個感測電極的特徵差值△C(i,j)，其中j為整數；在提供該驅動訊號至所述第i個掃描電極的期間，感測該些感測電極中第k個感測電極與一參考特徵值的特徵差值△Ci，其中k為整數；將該觸控面板的多個感測點中的一個基準感測點的特徵值設定為一基準特徵值；以及使用該基準特徵值、該些特徵差值△Ci與該些特徵差值△C(i,j)計算該些感測點的特徵值；其中所述計算該觸控面板的多個感測點的特徵值的步驟包括：計算△C[i]=△Ci-△Ci+1，其中△C[i]表示第i個與第i+1個掃描電極的特徵差值；若該基準感測點位於第j列，則使用該基準特徵值計算C(i+1,j)=C(i,j)-△C[i]或計算C(i-1,j)=C(i,j)+△C[i]，其中C(i,j)表示該些感測點中第i行第j列感測點的特徵值；以及計算C(i,j+1)=C(i,j)-△C(i,j)或計算C(i,j-1)=C(i,j)+△C(i,j)。
2. 如申請專利範圍第1項所述觸控面板的差動辨識方法，其中該些感測點的特徵值為電容值、電流值或電壓值。
3. 如申請專利範圍第1項所述觸控面板的差動辨識方法，更包括：計算第i條掃描線上所有感測點的特徵值中最小特徵值與 該基準特徵值的差值，作為一補償值；以及依據該補償值調整該第i條掃描線上所有感測點的特徵值。
4. 如申請專利範圍第1項所述觸控面板的差動辨識方法，更包括：計算第i條掃描線上所有感測點的一平均特徵值；計算該平均特徵值與該基準特徵值的差值，作為一補償值；以及依據該補償值調整該第i條掃描線上所有感測點的特徵值。
5. 如申請專利範圍第1項所述觸控面板的差動辨識方法，其中感測特徵差值△Ci的步驟包括：感測所述第k個感測電極與該觸控面板的一閒置感測電極的特徵差值△Ci。
6. 如申請專利範圍第1項所述觸控面板的差動辨識方法，其中感測特徵差值△Ci的步驟包括：感測所述第k個感測電極與一參考電容器的特徵差值△Ci。
7. 如申請專利範圍第1項所述觸控面板的差動辨識方法，其中感測特徵差值△Ci的步驟所述第k個感測電極是該些感測電極中的邊緣電極。
8. 如申請專利範圍第1項所述觸控面板的差動辨識方法，其中於該些掃描電極中選擇第i個掃描電極的步驟，是以循序方式選擇下一個掃描電極。
9. 如申請專利範圍第1項所述觸控面板的差動辨識方法，更包括：若於該些感測點中，一第一感測點的特徵值大於與該第一感測點相鄰接的所有感測點的特徵值，則決定該第一感測點為一觸碰點。
10. 一種觸控面板，包括： 一第一導電層；多個掃描電極，沿一第一軸向配置於該第一導電層的一側；一第二導電層；多個感測電極，沿一第二軸向配置於該第二導電層的一側；以及一控制器，於該些掃描電極中選擇第i個掃描電極，以提供一驅動訊號至所述第i個掃描電極，其中在提供該驅動訊號至所述第i個掃描電極的期間，該控制器感測該些感測電極中第j個感測電極與相鄰近的另一個感測電極的特徵差值△C(i,j)；在提供該驅動訊號至所述第i個掃描電極的期間，該控制器感測該些感測電極中第k個感測電極與一參考特徵值的特徵差值△Ci，前述i、j、k為整數；該控制器將該觸控面板的多個感測點中的一個基準感測點的特徵值設定為一基準特徵值；以及該控制器使用該基準特徵值、該些特徵差值△Ci與該些特徵差值△C(i,j)計算該些感測點的特徵值；其中該控制器計算△C[i]=△Ci-△Ci+1，而△C[i]表示第i個與第i+1個掃描電極的特徵差值；若該基準感測點位於第j列，則該控制器使用該基準特徵值計算C(i+1,j)=C(i,j)-△C[i]或計算C(i-1,j)=C(i,j)+△C[i]，而C(i,j)表示該些感測點中第i行第j列感測點的特徵值；以及該控制器計算C(i,j+1)=C(i,j)-△C(i,j)或計算C(i,j-1)=C(i,j)+△C(i,j)。
11. 如申請專利範圍第10項所述的觸控面板，其中該些感測點的特徵值為電容值、電流值或電壓值。
12. 如申請專利範圍第10項所述的觸控面板，其中該控制器更計算第i條掃描線上所有感測點的特徵值中最小特徵值與該基準特徵值的差值，作為一補償值；以及該控制器依據該補償值調整該第i條掃描線上所有感測點的特徵值。
13. 如申請專利範圍第10項所述的觸控面板，其中該控制器更計算第i條掃描線上所有感測點的一平均特徵值；該控制 器計算該平均特徵值與該基準特徵值的差值，作為一補償值；以及該控制器依據該補償值調整該第i條掃描線上所有感測點的特徵值。
14. 如申請專利範圍第10項所述的觸控面板，其中該控制器感測所述第k個感測電極與該觸控面板的一閒置感測電極的特徵差值△Ci。
15. 如申請專利範圍第10項所述的觸控面板，其中該控制器感測所述第k個感測電極與一參考電容器的特徵差值△Ci。
16. 如申請專利範圍第10項所述的觸控面板，其中所述第k個感測電極是該些感測電極中的邊緣電極。
17. 如申請專利範圍第10項所述的觸控面板，其中該控制器是以循序方式選擇下一個掃描電極。
18. 如申請專利範圍第10項所述的觸控面板，該控制器更比較該些感測點的特徵值，其中若於該些感測點中，一第一感測點的特徵值大於與該第一感測點相鄰接的所有感測點的特徵值，則該控制器決定該第一感測點為一觸碰點。
19. 如申請專利範圍第10項所述的觸控面板，該第一導電層為奈米碳管膜。
20. 如申請專利範圍第10項所述的觸控面板，該第二導電層為奈米碳管膜。
21. 如申請專利範圍第10項所述的觸控面板，該第二導電層為銦錫氧化物膜。
22. 如申請專利範圍第10項所述的觸控面板，更包括：一介電層結構，配置於該第一導電層與該第二導電層之間。