TWI510914B - 觸控面板及其測試裝置 - Google Patents

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    • G01R1/07307—Multiple probes with individual probe elements, e.g. needles, cantilever beams or bump contacts, fixed in relation to each other, e.g. bed of nails fixture or probe card

Description

觸控面板及其測試裝置
本發明係有關一種面板與其對應的測試探針，特別是一種可以高速檢測其功能完整性的觸控面板。
在製造觸控面板的過程中，需要經過一道測試程序，以檢測基板上各觸控面板中各交錯點的驅動電路及感應電路運作是否正確，為了進行該檢測，各觸控面板皆設置有檢測電路佈線，以供測試探針接觸、發送測試訊號及接收回饋訊號。
由於測試探針為一具有實質大小機電裝置，無法以觸控面板製程的尺度實現，因此觸控面板上的探針接觸區往往造成較大面積的浪費，習知技術提出了兩種節約探針接觸區面積的方法。
(一)如第1圖，將觸控面板103上原有的訊號輸出/輸入區塊104a設計為兼具探針接觸區功能，該方案的好處是不需要在基板上額外設計探針接觸區，一塊面板可因此而切割成更多的觸控面板，產能可以提高，缺點是訊號輸出/輸入區塊原先可依照整體電路製程的水準，面積越小越好，若採用此方案，則必須加大訊號輸出/輸入區塊中每一個驅動線與感應線的線寬，以做為測試探針接觸區，導致每一塊觸控面板都會因此而浪費一部分的面積。
詳細說明之，該技術方案中，一塊大基板102在製程時就被 畫分為8塊觸控面板103以及觸控面板間的裁切區107，每一塊觸控面板都有訊號輸出/輸入區塊104a以方便與其它電路協同工作，此區塊雖可以兼做為探針接觸區，但是就必須配合測試探針的尺寸，製作的比電路需要的尺寸來的大，微觀地看訊號輸出/輸入區塊104b，這個區塊必須包含與觸控面板各驅動線耦合的驅動電極組105a~105c，該驅動電極組依次包含複數個驅動電極，本圖僅代表性列出三個105a、105b、105c，還有與觸控面板各驅動線耦合的感應電極組106a~106c，該感應電極組依次包含複數個感應電極，本圖僅代表性列出三個106a、106b、106c，即使是訂製的多接點測試探針，依然必須依序接觸基板上的每一個訊號輸出/輸入區塊以完成整個檢測流程。
(二)如第2圖，將觸控面板上每一條需要測試的驅動線與感應線都延伸設置到基板上不屬於觸控面板的裁切區，以形成獨立的探針接觸區，此方案的好處是每一塊觸控面板上都略去了探針接觸區，因此面積利用率提高，但不同尺寸的觸控面板有不同數量的驅動線與感應線，導致每次生產不同尺寸觸控面板時都必須重新計算一次最佳切割數，設計工程師也要重新設計裁切區上的探針接觸區，更嚴重的是，檢測工程師必須重新規劃探針接觸探針接觸區的路徑與順序。
詳細說明之，該習知的觸控面板中，每一條驅動線201都依序延伸到裁切區，同時必須放大尺寸以利探針接觸，每一條感應線202也必須有類似的配置，配合該種觸控面板的檢測機台具有獨立且單接點的驅動探針與感應探針，依序輪流對每一條驅動線201及每一條感應線202進行檢測，相當耗時。
就檢測程序的角度而言，為了適應各種不同的佈線方式、面 板尺寸，檢測機台的探針必須設計成單接點形式，意即發送檢測訊號的探針一次僅對一條驅動線的探針接觸區發送檢測訊號，而此時接收回饋訊號的探針保持與某一條感應線接觸以接收訊號，檢測完該條驅動線與該條感應線的功能後，發送檢測訊號的探針移往另一條驅動線的探針接觸區，再次發送檢測訊號，而此時接收回饋訊號的探針保持與同一條感應線的接觸而接收訊號，以檢測完該另一條驅動線與同一條感應線的功能，依此順序檢測完所有與同一條感應線交錯的驅動線後，接收回饋訊號的探針會移往下一條感應線，然後重複上述步驟逐一檢測，這種方法最大的卻點就是發送檢測訊號的探針與接收回饋訊號的探針必須逐一接觸驅動線與感應線的探針接觸區，探針的移動非常的耗時，在檢測大尺寸觸控面時，耗時尤為顯著。
針對此一缺點，習知技術提出了結合多工器(multiplexer，簡寫為MUX)及複數個電路開關的檢測電路，利用電子控制的方式使不同的驅動線對一探針接觸區輪流導通、且使不同的感應線對另一探針接觸區輪流導通，避免發送檢測訊號的探針與接收回饋訊號的探針必須逐一輪動，這個技術方案雖然節省了檢測時間，卻造成了檢測電路的極端複雜化，原先設計工程師只需要規劃不同探針接觸區，若採用該技術方案設計工程還必須在基板上設計多工器及配套的複數個電路開關，更嚴重的是，每一種不同尺寸的觸控面板都會有不同數量的驅動線與感應線，因此為了符合不同尺寸的觸控面板，多工器及配套的複數個電路開關都必須重新設計。
本發明為改善(一)測試探針接觸區銷耗部分的觸控面板面 積、(二)需重新規劃探針接觸探針接觸區的路徑與順序、(三)發送檢測訊號的探針與接收回饋訊號的探針必須逐一接觸驅動線與感應線的探針接觸區及(四)檢測電路的複雜化等習知技術的缺陷，提出一種觸控面板，在基板裁切區具有統一規格的多接點探針接觸區，足可同時適用於不同尺寸的觸控面板，同時藉由該多接點探針接觸區簡化探針接觸探針接觸區的路徑與順序，更進一步，透過探針接觸區接點的設置，免除設置複雜的檢測電路。
根據本發明的第一構想，提供一種觸控面板的基板，包含：一第一觸控面板，具有複數第一驅動線及複數第一感應線；一裁切區，環繞該第一觸控面板；一第二觸控面板，與該裁切區相接而與該第一觸控面板相鄰，且具有複數第二驅動線及複數第二感應線；及供測試探針接觸的測試座，設置於該裁切區中，具有一驅動電極組、一第一感應電極組及一第二感應電極組，其中該驅動電極組與該複數第一驅動線電性耦合且與該複數第二驅動線電性耦合、該第一感應電極組與該複數第一感應線電性耦合、及該第二感應電極組與該複數第二感應線電性耦合。
本發明的又一目的在於提供一種觸控基板，包含：一觸控基板本體，具有至少二觸控面板及一裁切區；以及一測試座，位於該裁切區，用以同時測試該二觸控面板。
本發明的另一目的在於提供一種測試座，包含：複數驅動電極；一第一複數感應電極；以及一第二複數感應電極，其中該測試座使用時，該複數驅動電極及該第一複數感應電極係電連接於一第一面板，且該複數驅動電極及該第二複數感應電極係電連接於一第二面板。
本發明的再一目的在於提供一種測試探針，包含：一驅動 探針組，具有複數個導體驅動接點以傳輸複數個檢測訊號；一第一感應探針組，具有複數個第一導體感應接點以接收複數個第一回饋訊號；一第二感應探針組，具有複數個第二導體感應接點以接收複數個第二回饋訊號；其中，該驅動探針組、該第一感應探針組及該第二感應探針組設置為一直線形排列。
101‧‧‧習知的探針移動路徑
102‧‧‧習知基板
103‧‧‧習知觸控面板
104a‧‧‧訊號輸出/輸入區塊
104b‧‧‧訊號輸出/輸入區塊放大圖
105a‧‧‧編號a的驅動線
105b‧‧‧編號b的驅動線
105c‧‧‧編號c的驅動線
106a‧‧‧編號a的感應線
106b‧‧‧編號b的感應線
106c‧‧‧編號c的感應線
107‧‧‧裁切區
201‧‧‧延伸到裁切區的驅動線
202‧‧‧延伸到裁切區的感應線
203‧‧‧習知的觸控面板
301‧‧‧探針移動路徑
302‧‧‧觸控基板
303a、303b‧‧‧觸控面板
304a、304b‧‧‧訊號輸出/輸入區塊
305a‧‧‧測試座
305b‧‧‧測試座放大圖
306A/308C、306B/308B、306C/308A‧‧‧與觸控面板303a、303b的驅動線共同耦合的驅動電極
306a、306b、306c‧‧‧與觸控面板303b的感應線耦合的感應電極
308a、308b、308c‧‧‧與觸控面板303a的感應線耦合的感應電極
309‧‧‧探針移動路徑
406A、406B、406C‧‧‧由遠到近編號A、B、C的驅動線
406a、406b、406b‧‧‧由左到右編號a、b、c的驅動線
408A、408B、408C‧‧‧由遠到近編號A、B、C的驅動線
408a、408b、408c‧‧‧由左到右編號a、b、c的驅動線
501‧‧‧測試探針
502‧‧‧驅動探針組
503‧‧‧第二感應探針組
504‧‧‧第一感應探針組
504A/503C、504B/503B、504C/503A‧‧‧複數個導體驅動接點
503a、503b、503b‧‧‧複數個第二導體感應接點
504a、504b、504b‧‧‧複數個第一導體感應接點
第1圖係為習知將訊號輸出/輸入區塊設計為兼具探針接觸區的技術方案；第2圖係為另一種習知的觸控面板；第3圖係為本發明提出的觸控面板之一實施方式的示意圖；第4圖係為第3圖中觸控面板303a、303b與測試座305a的佈線示意圖；以及第5圖係為本發明提出的檢測探針之一實施方式的示意圖。
第3圖所示係為本發明提出的觸控面板之一實施例，一塊大基板302上設置有裁切區309及複數對旋轉對稱的觸控面板303a、303b，該對面板各具有一組訊號輸出/輸入區塊304a、304b，由於不兼作探針接觸區，本發明的組訊號輸出/輸入區塊可在應用範圍內盡可能縮小面積，以提高觸控面板的可利用面積，訊號輸出/輸入區塊304a中較佳依次排列了觸控面板303a的各驅動線及各感應線，各驅動線及各感應線依次拉線至測試座305a，訊號輸出/輸入區塊304b中依次排列了觸控面板303b的各驅動線及各感應線，各驅動線及各感應線依次拉線至測試座305a。
如第4圖所示，放大觀測測試座305a、觸控面板303a及觸控面板303b，則可見觸控面板303a的各驅動線408A、408B及408C，由遠而近依序拉線至驅動電極，由左到右分別為驅動電極308A、驅動電極308B、驅動電極308C，各感應線則由左到右依序拉線，至感應電極，由左到右分別為感應電極308a、感應電極308b、感應電極308c，觸控面板303a的各驅動線及感應線便以此一線性次序與各驅動電極及感應電極耦合；同理，觸控面板303b的各驅動線依序拉至驅動電極306A、306B、306C、各感應線則依序拉至感應電極306a、306b、306c，由於觸控面板303a及觸控面板303b成旋轉對稱，觸控面板303b的各驅動線及感應線是以反向於該線性次序與各驅動電極及感應電極耦合，對驅動電極306C/308A傳輸檢測訊號時，觸控面板303a中及觸控面板303b中相應的交錯點皆會產生回饋訊號，因此觸控面板303b的回饋訊號可由感應電極306a、306b、306c中輪流接收回饋訊號，同時觸控面板303a的回饋訊號可由感應電極308a、308b、308c中輪流接收回饋訊號，發送一次檢測訊號即可對兩個觸控面板進行檢測。
第5圖所示係為本發明提出一測試探針501之一實施例，該測試探針501具有一驅動探針組502、及兩感應探針組503、504，驅動探針組專司輸送檢測訊號，在搭配本發明提出的觸控面板時，對一個受檢測的觸控面板而言，例如：觸控面板303a，驅動探針組的每一個驅動探針504A/503C、504B/503B、504C/503A輪流輸送檢測訊號，感應探針組的每一個感應探針504a、504b、504c則依序(或同時)接收回饋訊號；對另一個受檢測的觸控面板而言，例如：觸控面板303b，驅動探針組的每一個驅動探針504C/503A、504B/503B、504A/503C輪流輸送檢測訊號，感應探針組的 每一個感應探針503a、503b、503c則依序(或同時)接收回饋訊號，由於驅動探針組502對於兩感應探針組503、504是共用的，因此檢測操作時，輸送一次檢測訊號，可以接收來自兩個觸控面板的檢測訊號，例如：驅動探針504C/503A輸送檢測訊號，則可由感應探針504a、504b或504c、及感應探針503a、503b或503c接收回饋訊號。
本發明更具備另外一個顯著的優點，以第1圖的習知技術來看，8個觸控面板需要消耗掉8次檢測探針下降接觸/上升離開以及7次移動檢測探針的時間，相較之下以本發明的第3圖為例，8個觸控面板僅需要消耗掉4次檢測探針下降接觸/上升離開以及3次移動檢測探針的時間，應用本發明可節約大量的檢測探針移動時間。
實施例：
1.一種觸控基板，包含：一第一觸控面板，具有複數第一驅動線及複數第一感應線；一裁切區，環繞該第一觸控面板；一第二觸控面板，與該裁切區相接而與該第一觸控面板相鄰，且具有複數第二驅動線及複數第二感應線；及一測試座，設置於該裁切區中，具有一驅動電極組、一第一感應電極組及一第二感應電極組，其中該驅動電極組與該複數第一驅動線電性耦合且與該複數第二驅動線電性耦合、該第一感應電極組與該複數第一感應線電性耦合、及該第二感應電極組與該複數第二感應線電性耦合。
藉由將測試座設置於裁切區中可以提高各觸控面板的可用面積，同時檢測所需的佈線會在後續切割面板時被裁切掉，避免不必要的干擾。
2.如實施例1所述的觸控基板，其中該測試座，設置於該第一觸控面板與該第二觸控面板間的該裁切區中，且該第一觸控面板與該第二觸控面板在一共同平面上呈旋轉對稱。
將測試座設置於兩觸控面板間的裁切區可以佈線的規劃較為簡潔，而兩面板旋轉對稱則有利於在基板的同側直接對兩觸控面板的複數驅動線及複數感應線拉線到測試座。
3.如實施例1~2所述的觸控基板，其中驅動電極組與該複數第一驅動線以一線性次序而電性耦合且與該複數第二驅動線以反向該線性次序而電性耦合、一第一感應電極組與該複數第一感應線以該線性次序而電性耦合、及一第二感應電極組與該複數第二感應線以反向該線性次序而電性耦合。
測試座中的各驅動電極與各感應電極可順兩旋轉對稱的面板方向設置，更可避免該複數第一驅動線與該複數第二驅動線在同一平面上交會，第4圖中測試座305a為各面板具有3條驅動線、3條感應線的例子。
4.如實施例1~3所述的觸控基板，其中該驅動電極組由N個驅動電極組成，成一列設置於該測試座中，該複數第一驅動線由M1 條驅動線組成，該複數第二驅動線由M2 條驅動線組成，N大於等於M1 或大於等於M2 。
然而，實際應用時測試座上驅動電極的數量可以大於成對觸控面板中任一觸控面板的驅動線數量，例如：測試座上具有9個驅動電極，則該測試座可適用於9條驅動線以下的觸控面板，測試時僅需忽略未與驅動線電性耦合的驅動電極即可，故本發明亦具有降低設計工程師負擔的好 處，工程師只需要將已有的驅動線拉線與驅動電極耦合即可，同樣的測試座電路可重複利用，不需要針對不同尺寸的觸控面板重新設計檢測電路。
5.如實施例1~4所述的觸控基板，其中該感應電極組由X個感應電極組成，成一列設置於該測試座中，該複數第一感應線由Y1 條感應線組成，該複數第二感應線由Y2 條感應線組成，X大於等於Y1 或大於等於Y2 。
如同驅動線與驅動電極之間的關係，感應線與感應電極亦可依循同樣的設置原則。
6.如實施例1~5所述的觸控基板，其中該驅動電極組由N個驅動電極組成、該第一感應電極組由Y1 個第一感應電極組成、該第二感應電極組由Y2 個第二感應電極組成，且以該第一感應電極組-該驅動電極組-該第二感應電極組的一順序或該第二感應電極組-該驅動電極組-該第一感應電極組的另一順序設置為一直線形排列，且該驅動電極組、該第一感應電極組、該第二感應電極組中的每一個電極間具有一固定間距。
同樣地，將測試座上的各驅動電極與各感應電極排列為一直線也有利於在基板的同側直接對兩觸控面板的複數驅動線及複數感應線拉線到測試座。
7.一種觸控基板，包含：一觸控基板本體，具有至少二觸控面板及一裁切區；以及一測試座，位於該裁切區，用以同時測試該二觸控面板。
8.如實施例7所述的觸控基板，其中，該至少兩個觸控面板，各具有複數驅動線及複數感應線；該測試座與該至少兩個觸控面板互 不重疊，且該測試座具有一驅動電極組、一第一感應電極組及一第二感應電極組，其中該驅動電極組與來自該至少二觸控面板中的一觸控面板的該複數條驅動線以一線性次序而電性耦合，且該驅動電極組與該至少二觸控面板中的另一觸控面板的該複數條驅動線以反向該線性次序而電性耦合，該第一感應電極組與該至少兩個觸控面板中的一觸控面板所具有的複數條感應線電性耦合，該第二感應電極組與該至少兩個觸控面板中的另一具觸控面板所具有的複數條感應線電性耦合。
9.如實施例7~8所述的觸控基板，其中該至少兩個觸控面板於共同平面上呈旋轉對稱。
10.如實施例7~9所述的觸控基板，如申請專利範圍第7項所述的觸控基板，其中該驅動電極組由複數個驅動電極組成、該第一感應電極組由複數個第一感應電極組成、該第二感應電極組由複數個第二感應電極組成，且該第一感應電極組、該第二感應電極組設置成以該驅動電極組為中心旋轉對稱排列。
11.一種測試座，包含：複數驅動電極；一第一複數感應電極；以及一第二複數感應電極，其中該測試座使用時，該複數驅動電極及該第一複數感應電極係電連接於一第一面板，且該複數驅動電極及該第二複數感應電極係電連接於一第二面板。
12.如實施例11所述的測試座，其中該第一面板包含一第一複數驅動線與一第一複數感應線，該第二面板包含一第二複數驅動線與一第二複數感應線，其中該複數驅動電極與來自該第一面板的該複數條驅動線以一線性次序而電性耦合，且複數驅動電極與該第二面板的該複數條驅 動線以反向該線性次序而電性耦合，該第一感應電極組與該第一複數條感應線電性耦合，該第二感應電極組與該第二複數條感應線電性耦合。
13.一種測試探針，包含：一驅動探針組，具有複數個導體驅動接點以傳輸複數個檢測訊號；一第一感應探針組，具有複數個第一導體感應接點以接收複數個第一回饋訊號；一第二感應探針組，具有複數個第二導體感應接點以接收複數個第二回饋訊號；其中，該驅動探針組、該第一感應探針組及該第二感應探針組設置為一直線形排列。
14.如實施例13.所述的測試探針，其中該驅動探針組、該第一感應探針組及該第二感應探針組以該第一感應探針組-該驅動探針組-該第二感應探針組順序設置為一直線形排列。
15.如實施例13~14所述的測試探針，更包含一二對一多工器，該二對一多工器具有一第一回饋訊號線與該第一感應探針組電性耦合、一第二回饋訊號線與該第二感應探針組電性耦合，藉以決定所述的測試探針輸出該複數個第一回饋訊號或該複數個第二回饋訊號。
測試探針上的兩組感應探針可以進一步與一多工器連結，檢測工程師可以設定測試探針以選擇由第一感應探針組或是第二感應探針組接收回饋訊號。
303a、303b‧‧‧觸控面板
304a、304b‧‧‧訊號輸出/輸入區塊
305a‧‧‧測試座
306A/308C、306B/308B、306C/308A‧‧‧與觸控面板303a、303b的驅動線共同耦合的驅動電極
306a、306b、306c‧‧‧與觸控面板303b的感應線耦合的感應電極
308a、308b、308c‧‧‧與觸控面板303a的感應線耦合的感應電極
406A、406B、406C‧‧‧由遠到近編號A、B、C的驅動線

Claims (15)

  1. 一種觸控基板，包含：一第一觸控面板，具有複數第一驅動線及複數第一感應線；一裁切區，環繞該第一觸控面板；一第二觸控面板，與該裁切區相接而與該第一觸控面板相鄰，且具有複數第二驅動線及複數第二感應線；及一測試座，設置於該裁切區中，具有一驅動電極組、一第一感應電極組及一第二感應電極組，其中該驅動電極組與該複數第一驅動線電性耦合且與該複數第二驅動線電性耦合、該第一感應電極組與該複數第一感應線電性耦合、及該第二感應電極組與該複數第二感應線電性耦合。
  2. 如申請專利範圍第1項所述的觸控基板，其中該測試座，設置於該第一觸控面板與該第二觸控面板間的該裁切區中，且該第一觸控面板與該第二觸控面板在一共同平面上呈旋轉對稱。
  3. 如申請專利範圍第2項所述的觸控基板，其中驅動電極組與該複數第一驅動線以一線性次序而電性耦合且與該複數第二驅動線以反向該線性次序而電性耦合、一第一感應電極組與該複數第一感應線以該線性次序而電性耦合、及一第二感應電極組與該複數第二感應線以反向該線性次序而電性耦合。
  4. 如申請專利範圍第2項所述的觸控基板，其中該驅動電極組由N個驅動電極組成，成一列設置於該測試座中，該複數第一驅動線由M1 條驅動線組成，該複數第二驅動線由M2 條驅動線組成，N大於等於M1 或大於等於M2 。
  5. 如申請專利範圍第2項所述的觸控基板，其中該感應電極組由X個感應電 極組成，成一列設置於該測試座中，該複數第一感應線由Y1 條感應線組成，該複數第二感應線由Y2 條感應線組成，X大於等於Y1 或大於等於Y2 。
  6. 如申請專利範圍第2項所述的觸控基板，其中該驅動電極組由N個驅動電極組成、該第一感應電極組由Y1 個第一感應電極組成、該第二感應電極組由Y2 個第二感應電極組成，且以該第一感應電極組-該驅動電極組-該第二感應電極組的一順序或該第二感應電極組-該驅動電極組-該第一感應電極組的另一順序設置為一直線形排列，且該驅動電極組、該第一感應電極組、該第二感應電極組中的每一個電極間具有一固定間距。
  7. 一種觸控基板，包含：一觸控基板本體，具有至少二觸控面板及一裁切區；以及一測試座，位於該裁切區，用以同時測試該二觸控面板。
  8. 如申請專利範圍第7項所述的觸控基板，其中，該至少兩個觸控面板，各具有複數驅動線及複數感應線，該測試座與該至少兩個觸控面板互不重疊，且該測試座具有一驅動電極組、一第一感應電極組及一第二感應電極組，其中該驅動電極組與來自該至少二觸控面板中的一觸控面板的該複數條驅動線以一線性次序而電性耦合，且該驅動電極組與該至少二觸控面板中的另一觸控面板的該複數條驅動線以反向該線性次序而電性耦合，該第一感應電極組與該至少兩個觸控面板中的一觸控面板所具有的複數條感應線電性耦合，該第二感應電極組與該至少兩個觸控面板中的另一具觸控面板所具有的複數條感應線電性耦合。
  9. 如申請專利範圍第8項所述的觸控基板，其中該至少兩個觸控面板於一共同平面上呈旋轉對稱。
  10. 如申請專利範圍第7項所述的觸控基板，其中該驅動電極組由複數個驅動電極組成、該第一感應電極組由複數個第一感應電極組成、該第二感應電極組由複數個第二感應電極組成，且該第一感應電極組、該第二感應電極組設置成以該驅動電極組為中心旋轉對稱排列。
  11. 一種測試座，包含：複數驅動電極；一第一複數感應電極；以及一第二複數感應電極，其中該測試座使用時，該複數驅動電極及該第一複數感應電極係電連接於一第一面板，且該複數驅動電極及該第二複數感應電極係電連接於一第二面板，其中該第一面板包含一第一複數驅動線與一第一複數感應線，該第二面板包含一第二複數驅動線與一第二複數感應線，該複數驅動電極與該第一複數驅動線電性耦合且與該第二複數驅動線電性耦合，該第一複數感應電極與該第一複數感應線電性耦合、及該第二複數感應電極與該第二複數感應線電性耦合。
  12. 如申請專利範圍第11項所述的測試座，其中該複數驅動電極與來自該第一面板的該第一複數驅動線以一線性次序而電性耦合，且該複數驅動電極與該第二面板的該第二複數驅動線以反向該線性次序而電性耦合。
  13. 一種測試探針，包含：一驅動探針組，具有複數個導體驅動接點以傳輸複數個檢測訊號；一第一感應探針組，具有複數個第一導體感應接點以接收複數個第一回饋訊號；一第二感應探針組，具有複數個第二導體感應接點以接收複數個第二回 饋訊號；其中，該驅動探針組、該第一感應探針組及該第二感應探針組設置為一直線形排列。
  14. 如申請專利範圍第13項所述的測試探針，其中該驅動探針組、該第一感應探針組及該第二感應探針組以該第一感應探針組-該驅動探針組-該第二感應探針組順序設置為一直線形排列。
  15. 如申請專利範圍第13項所述的測試探針，更包含一二對一多工器，該二對一多工器具有一第一回饋訊號線與該第一感應探針組電性耦合、一第二回饋訊號線與該第二感應探針組電性耦合，藉以決定所述的測試探針輸出該複數個第一回饋訊號或該複數個第二回饋訊號。
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Families Citing this family (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
TWI510914B (zh) * 2013-11-19 2015-12-01 Henghao Technology Co Ltd 觸控面板及其測試裝置
CN112698057A (zh) * 2019-10-23 2021-04-23 高天星 电性测试的传导装置
TWI747303B (zh) * 2020-05-29 2021-11-21 友達光電股份有限公司 測試電極組及測試系統

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2009108765A2 (en) * 2008-02-28 2009-09-03 3M Innovative Properties Company Touch screen sensor having varying sheet resistance
TW201040552A (en) * 2009-05-14 2010-11-16 Nidec Read Corp Touch panel inspection equipment
TW201118680A (en) * 2009-11-16 2011-06-01 Au Optronics Corp Multi-channel touch panel

Family Cites Families (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
GB2437983B (en) * 2006-05-02 2009-01-14 Harald Philipp Touch sensitive sensor with an electrical connector for connecting a sensor substrate to a control circuit board
KR101005624B1 (ko) * 2009-02-20 2011-01-05 마이크로 인스펙션 주식회사 터치패널의 검사장치
CN201689237U (zh) * 2010-05-26 2010-12-29 福州华映视讯有限公司 主动组件数组基板
CN202025305U (zh) * 2011-05-04 2011-11-02 京东方科技集团股份有限公司 一种具有测试接口的触摸屏
CN102402031B (zh) * 2011-12-14 2014-01-22 深圳市华星光电技术有限公司 测试系统
CN103365470B (zh) * 2013-07-01 2016-02-10 友达光电股份有限公司 触控面板及其制造方法
TWI510914B (zh) * 2013-11-19 2015-12-01 Henghao Technology Co Ltd 觸控面板及其測試裝置

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2009108765A2 (en) * 2008-02-28 2009-09-03 3M Innovative Properties Company Touch screen sensor having varying sheet resistance
TW201001264A (en) * 2008-02-28 2010-01-01 3M Innovative Properties Co Touch screen sensor having varying sheet resistance
TW201040552A (en) * 2009-05-14 2010-11-16 Nidec Read Corp Touch panel inspection equipment
TW201118680A (en) * 2009-11-16 2011-06-01 Au Optronics Corp Multi-channel touch panel

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