CN203930724U - 触控基板及测试探针 - Google Patents

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Abstract

本实用新型提供一种触控基板、测试座以及测试探针，其中触控基板具有测试座，耦合第一触控面板及第二触控面板，该第一触控面板的各驱动线以线性次序拉线至驱动电极组，该第一触控面板的各感应线以该线性次序拉线至第一感应电极组，该第一触控面板的各驱动线及感应线便以此该线性次序与该驱动电极组及该第一感应电极组耦合；而该第二触控面板的各驱动线及感应线便以此反向该线性次序与该驱动电极组及该第二感应电极组耦合。对该驱动电极传输检测讯号时，发送一次检测讯号即可对该第一触控面板及该第二触控面板进行检测。

Description

触控基板及测试探针
技术领域
本实用新型系有关一种面板与其对应的测试探针，特别是一种可以高速检测其功能完整性的触控面板。
背景技术
在制造触控面板的过程中，需要经过一道测试程序，以检测基板上各触控面板中各交错点的驱动电路及感应电路运作是否正确，为了进行该检测，各触控面板皆设置有检测电路布线，以供测试探针接触、发送测试讯号及接收回馈讯号。
由于测试探针为具有实质大小机电装置，无法以触控面板制程的尺度实现，因此触控面板上的探针接触区往往造成较大面积的浪费，习知技术提出了两种节约探针接触区面积的方法。
(一)如图1，将触控面板103上原有的讯号输出/输入区块104a设计为兼具探针接触区功能，该方案的好处是不需要在基板上额外设计探针接触区，一块面板可因此而切割成更多的触控面板，产能可以提高，缺点是讯号输出/输入区块原先可依照整体电路制程的水平，面积越小越好，若采用此方案，则必须加大讯号输出/输入区块中每一个驱动线与感应线的线宽，以做为测试探针接触区，导致每一块触控面板都会因此而浪费一部分的面积。
详细说明之，该技术方案中，一块大基板102在制程时就被画分为8块触控面板103以及触控面板间的裁切区107，每一块触控面板都有讯号输出/输入区块104a以方便与其它电路协同工作，此区块虽可以兼做为探针接触区，但是就必须配合测试探针的尺寸，制作的比电路需要的尺寸来的大，微观地看讯号输出/输入区块104b，这个区块必须包含与触控面板各驱动线耦合的驱动电极组105a～105c，该驱动电极组依次包含多个驱动电极，本图仅代表性列出三个105a、105b、105c，还有与触控面板各驱动线耦合的感应电极组106a～106c，该感应电极组依次包含多个感应电极，本图仅代表性列出三个106a、106b、106c，即使是订制的多接点测试探针，依然必须依序接触基板上的每一个讯号输出/输入区块以完成整个检测流程。
(二)如图2，将触控面板上每一条需要测试的驱动线与感应线都延伸设置到基板上不属于触控面板的裁切区，以形成独立的探针接触区，此方案的好处是每一块触控面板上都略去了探针接触区，因此面积利用率提高，但不同尺寸的触控面板有不同数量的驱动线与感应线，导致每次生产不同尺寸触控面板时都必须重新计算一次最佳切割数，设计工程师也要重新设计裁切区上的探针接触区，更严重的是，检测工程师必须重新规划探针接触探针接触区的路径与顺序。
详细说明之，该习知的触控面板中，每一条驱动线201都依序延伸到裁切区，同时必须放大尺寸以利探针接触，每一条感应线202也必须有类似的配置，配合该种触控面板的检测机台具有独立且单接点的驱动探针与感应探针，依序轮流对每一条驱动线201及每一条感应线202进行检测，相当耗时。
就检测程序的角度而言，为了适应各种不同的布线方式、面板尺寸，检测机台的探针必须设计成单接点形式，意即发送检测讯号的探针一次仅对一条驱动线的探针接触区发送检测讯号，而此时接收回馈讯号的探针保持与某一条感应线接触以接收讯号，检测完该条驱动线与该条感应线的功能后，发送检测讯号的探针移往另一条驱动线的探针接触区，再次发送检测讯号，而此时接收回馈讯号的探针保持与同一条感应线的接触而接收讯号，以检测完该另一条驱动线与同一条感应线的功能，依此顺序检测完所有与同一条感应线交错的驱动线后，接收回馈讯号的探针会移往下一条感应线，然后重复上述步骤逐一检测，这种方法最大的缺点就是发送检测讯号的探针与接收回馈讯号的探针必须逐一接触驱动线与感应线的探针接触区，探针的移动非常的耗时，在检测大尺寸触控面时，耗时尤为显著。
针对此一缺点，习知技术提出了结合多任务器(multiplexer，简写为MUX)及多个电路开关的检测电路，利用电子控制的方式使不同的驱动线对一探针接触区轮流导通、且使不同的感应线对另一探针接触区轮流导通，避免发送检测讯号的探针与接收回馈讯号的探针必须逐一轮动，这个技术方案虽然节省了检测时间，却造成了检测电路的极端复杂化，原先设计工程师只需要规划不同探针接触区，若采用该技术方案设计工程还必须在基板上设计多任务器及配套的多个电路开关，更严重的是，每一种不同尺寸的触控面板都会有不同数量的驱动线与感应线，因此为了符合不同尺寸的触控面板，多任务器及配套的多个电路开关都必须重新设计。
实用新型内容
本实用新型为改善(一)测试探针接触区销耗部分的触控面板面积、(二)需重新规划探针接触探针接触区的路径与顺序、(三)发送检测讯号的探针与接收回馈讯号的探针必须逐一接触驱动线与感应线的探针接触区及(四)检测电路的复杂化等习知技术的缺陷，提出一种触控面板，在基板裁切区具有统一规格的多接点探针接触区，足可同时适用于不同尺寸的触控面板，同时藉由该多接点探针接触区简化探针接触探针接触区的路径与顺序，更进一步，透过探针接触区接点的设置，免除设置复杂的检测电路。
根据本实用新型的第一构想，提供一种触控面板的基板，包含：第一触控面板，具有多个第一驱动线及多个第一感应线；裁切区，环绕该第一触控面板；第二触控面板，与该裁切区相接而与该第一触控面板相邻，且具有多个第二驱动线及多个第二感应线；及供测试探针接触的测试座，设置于该裁切区中，具有驱动电极组、第一感应电极组及第二感应电极组，其中该驱动电极组与该多个第一驱动线电性耦合且与该多个第二驱动线电性耦合、该第一感应电极组与该多个第一感应线电性耦合、及该第二感应电极组与该多个第二感应线电性耦合。
本实用新型的又一目的在于提供一种触控基板，包含：触控基板本 体，具有至少二触控面板及裁切区；以及测试座，位于该裁切区，用以同时测试该二触控面板。
本实用新型的另一目的在于提供一种测试座，包含：多个驱动电极；第一多个感应电极；以及第二多个感应电极，其中该测试座使用时，该多个驱动电极及该第一多个感应电极系电连接于第一面板，且该多个驱动电极及该第二多个感应电极系电连接于第二面板。
本实用新型的再一目的在于提供一种测试探针，包含：驱动探针组，具有多个导体驱动接点以传输多个检测讯号；第一感应探针组，具有多个第一导体感应接点以接收多个第一回馈讯号；第二感应探针组，具有多个第二导体感应接点以接收多个第二回馈讯号；其中，该驱动探针组、该第一感应探针组及该第二感应探针组设置为直线形排列。
附图说明
图1为习知将讯号输出/输入区块设计为兼具探针接触区的技术方案；
图2为另一种习知的触控面板；
图3为本实用新型提出的触控面板之一实施方式的示意图；
图4为图3中触控面板303a、303b与测试座305a的布线示意图；以及
图5为本实用新型提出的检测探针之一实施方式的示意图
具体实施方式
图3所示为本实用新型提出的触控面板之一实施例，一块大基板302上设置有裁切区309及多个对旋转对称的触控面板303a、303b，该对面板各具有一组讯号输出/输入区块304a、304b，由于不兼作探针接触区，本实用新型的组讯号输出/输入区块可在应用范围内尽可能缩小面积，以提高触控面板的可利用面积，讯号输出/输入区块304a中较佳依次排列了触控面板303a的各驱动线及各感应线，各驱动线及各感应线依次拉线至测试座305a，讯号输出/输入区块304b中依次排列了触控面板303b的各驱动线及各感应线，各驱动线及各感应线依次拉线至测试座305a。
如图4所示，放大观测测试座305a、触控面板303a及触控面板303b，则可见触控面板303a的各驱动线408A、408B及408C，由远而近依序拉线至驱动电极，由左到右分别为驱动电极308A、驱动电极308B、驱动电极308C，各感应线则由左到右依序拉线，至感应电极，由左到右分别为感应电极308a、感应电极308b、感应电极308c，触控面板303a的各驱动线及感应线便以此线性次序与各驱动电极及感应电极耦合；同理，触控面板303b的各驱动线依序拉至驱动电极306A、306B、306C、各感应线则依序拉至感应电极306a、306b、306c，由于触控面板303a及触控面板303b成旋转对称，触控面板303b的各驱动线及感应线是以反向于该线性次序与各驱动电极及感应电极耦合，对驱动电极306C/308A传输检测讯号时，触控面板303a中及触控面板303b中相应的交错点皆会产生回馈讯号，因此触控面板303b的回馈讯号可由感应电极306a、306b、306c中轮流接收回馈讯号，同时触控面板303a的回馈讯号可由感应电极308a、308b、308c中轮流接收回馈讯号，发送一次检测讯号即可对两个触控面板进行检测。
图5所示为本实用新型提出一测试探针501之一实施例，该测试探针501具有一驱动探针组502、及两感应探针组503、504，驱动探针组专司输送检测讯号，在搭配本实用新型提出的触控面板时，对一个受检测的触控面板而言，例如：触控面板303a，驱动探针组的每一个驱动探针504A/503C、504B/503B、504C/503A轮流输送检测讯号，感应探针组的每一个感应探针504a、504b、504c则依序(或同时)接收回馈讯号；对另一个受检测的触控面板而言，例如：触控面板303b，驱动探针组的每一个驱动探针504C/503A、504B/503B、504A/503C轮流输送检测讯号，感应探针组的每一个感应探针503a、503b、503c则依序(或同时)接收回馈讯号，由于驱动探针组502对于两感应探针组503、504是共享的，因此检测操作时，输送一次检测讯号，可以接收来自两个触控面板的检测讯号，例如：驱动探针504C/503A输送检测讯号，则可由感应探针504a、504b或504c、及感应探针503a、503b或503c接收回馈讯号。
本实用新型更具备另外一个显著的优点，以图1的习知技术来看，8个触控面板需要消耗掉8次检测探针下降接触/上升离开以及7次移动检 测探针的时间，相较之下以本实用新型的图3为例，8个触控面板仅需要消耗掉4次检测探针下降接触/上升离开以及3次移动检测探针的时间，应用本实用新型可节约大量的检测探针移动时间。
实施例：
1.一种触控基板，包含：第一触控面板，具有多个第一驱动线及多个第一感应线；裁切区，环绕该第一触控面板；第二触控面板，与该裁切区相接而与该第一触控面板相邻，且具有第二驱动线及多个第二感应线；及一测试座，设置于该裁切区中，具有驱动电极组、第一感应电极组及第二感应电极组，其中该驱动电极组与该多个第一驱动线电性耦合且与该多个第二驱动线电性耦合、该第一感应电极组与该多个第一感应线电性耦合、及该第二感应电极组与该多个第二感应线电性耦合。
藉由将测试座设置于裁切区中可以提高各触控面板的可用面积，同时检测所需的布线会在后续切割面板时被裁切掉，避免不必要的干扰。
2.如实施例1所述的触控基板，其中该测试座，设置于该第一触控面板与该第二触控面板间的该裁切区中，且该第一触控面板与该第二触控面板在共同平面上呈旋转对称。
将测试座设置于两触控面板间的裁切区可以布线的规划较为简洁，而两面板旋转对称则有利于在基板的同侧直接对两触控面板的多个驱动线及多个感应线拉线到测试座。
3.如实施例1～2所述的触控基板，其中驱动电极组与该多个第一驱动线以一线性次序而电性耦合且与该多个第二驱动线以反向该线性次序而电性耦合、第一感应电极组与该多个第一感应线以该线性次序而电性耦合、及第二感应电极组与该多个第二感应线以反向该线性次序而电性耦合。
测试座中的各驱动电极与各感应电极可顺两旋转对称的面板方向设置，更可避免该多个第一驱动线与该多个第二驱动线在同一平面上交会，图4中测试座305a为各面板具有3条驱动线、3条感应线的例子。
4.如实施例1～3所述的触控基板，其中该驱动电极组由N个驱动电极组成，成一列设置于该测试座中，该多个第一驱动线由M1条驱动线组 成，该多个第二驱动线由M2条驱动线组成，N大于等于M1或大于等于M2。
然而，实际应用时测试座上驱动电极的数量可以大于成对触控面板中任一触控面板的驱动线数量，例如：测试座上具有9个驱动电极，则该测试座可适用于9条驱动线以下的触控面板，测试时仅需忽略未与驱动线电性耦合的驱动电极即可，故本实用新型亦具有降低设计工程师负担的好处，工程师只需要将已有的驱动线拉线与驱动电极耦合即可，同样的测试座电路可重复利用，不需要针对不同尺寸的触控面板重新设计检测电路。
5.如实施例1～4所述的触控基板，其中该感应电极组由X个感应电极组成，成一列设置于该测试座中，该多个第一感应线由Y1条感应线组成，该多个第二感应线由Y2条感应线组成，X大于等于Y1或大于等于Y2。
如同驱动线与驱动电极之间的关系，感应线与感应电极亦可依循同样的设置原则。
6.如实施例1～5所述的触控基板，其中该驱动电极组由N个驱动电极组成、该第一感应电极组由Y1个第一感应电极组成、该第二感应电极组由Y2个第二感应电极组成，且以该第一感应电极组-该驱动电极组-该第二感应电极组的一顺序或该第二感应电极组-该驱动电极组-该第一感应电极组的另一顺序设置为一直线形排列，且该驱动电极组、该第一感应电极组、该第二感应电极组中的每一个电极间具有一固定间距。
同样地，将测试座上的各驱动电极与各感应电极排列为一直线也有利于在基板的同侧直接对两触控面板的多个驱动线及多个感应线拉线到测试座。
7.一种触控基板，包含：触控基板本体，具有至少两个触控面板及裁切区；以及测试座，位于该裁切区，用以同时测试该两个触控面板。
8.如实施例7所述的触控基板，其中，该至少两个触控面板，各具有多个驱动线及多个感应线；该测试座与该至少两个触控面板互不重迭，且该测试座具有驱动电极组、第一感应电极组及第二感应电极组，其中该驱动电极组与来自该至少两个触控面板中的一触控面板的该多个条驱动线以线性次序而电性耦合，且该驱动电极组与该至少两个触控面板中 的另一触控面板的该多个条驱动线以反向该线性次序而电性耦合，该第一感应电极组与该至少两个触控面板中的一触控面板所具有的多个条感应线电性耦合，该第二感应电极组与该至少两个触控面板中的另一触控面板所具有的多个条感应线电性耦合。
9.如实施例7～8所述的触控基板，其中该至少两个触控面板于共同平面上呈旋转对称。
10.如实施例7～9所述的触控基板，如权利要求7所述的触控基板，其中该驱动电极组由多个驱动电极组成、该第一感应电极组由多个第一感应电极组成、该第二感应电极组由多个第二感应电极组成，且该第一感应电极组、该第二感应电极组设置成以该驱动电极组为中心旋转对称排列。
11.一种测试座，包含：多个驱动电极；第一多个感应电极；以及第二多个感应电极，其中该测试座使用时，该多个驱动电极及该第一多个感应电极电连接于一第一面板，且该多个驱动电极及该第二多个感应电极电连接于第二面板。
12.如实施例11所述的测试座，其中该第一面板包含第一多个驱动线与第一多个感应线，该第二面板包含第二多个驱动线与第二多个感应线，其中该多个驱动电极与来自该第一面板的该多个条驱动线以线性次序而电性耦合，且多个驱动电极与该第二面板的该多个条驱动线以反向该线性次序而电性耦合，该第一感应电极组与该第一多个条感应线电性耦合，该第二感应电极组与该第二多个条感应线电性耦合。
13.一种测试探针，包含：驱动探针组，具有多个导体驱动接点以传输多个检测讯号；第一感应探针组，具有多个第一导体感应接点以接收多个第一回馈讯号；第二感应探针组，具有多个第二导体感应接点以接收多个第二回馈讯号；其中，该驱动探针组、该第一感应探针组及该第二感应探针组设置为直线形排列。
14.如实施例13所述的测试探针，其中该驱动探针组、该第一感应探针组及该第二感应探针组以该第一感应探针组-该驱动探针组-该第二感应探针组顺序设置为一直线形排列。
15.如实施例13～14所述的测试探针，更包含二对一多任务器，该二对一多任务器具有第一回馈讯号线与该第一感应探针组电性耦合、第二回馈讯号线与该第二感应探针组电性耦合，藉以决定所述的测试探针输出该多个第一回馈讯号或该多个第二回馈讯号。
测试探针上的两组感应探针可以进一步与多任务器链接，检测工程师可以设定测试探针以选择由第一感应探针组或是第二感应探针组接收回馈讯号。
【符号说明】
101 习知的探针动作路径
102 习知基板
103 习知触控面板
104a 讯号输出/输入区块
104b 讯号输出/输入区块放大图
105a 编号a的驱动线
105b 编号b的驱动线
105c 编号c的驱动线
106a 编号a的感应线
106b 编号b的感应线
106c 编号c的感应线
107 裁切区
201 延伸到裁切区的驱动线
202 延伸到裁切区的感应线
203 习知的触控面板
301 探针动作路径
302 触控基板
303a、303b 触控面板
304a、304b 讯号输出/输入区块
305a 测试座
305b 测试座放大图
306A/308C、306B/308B、306C/308A 与触控面板303a、303b的驱动线共同耦合的驱动电极
306a、306b、306c 与触控面板303b的感应线耦合的感应电极
308a、308b、308c 与触控面板303a的感应线耦合的感应电极
309 探针动作路径
406A、406B、406C 由远到近编号A、B、C的驱动线
406a、406b、406b 由左到右编号a、b、c的驱动线
408A、408B、408C 由远到近编号A、B、C的驱动线
408a、408b、408c 由左到右编号a、b、c的驱动线
501 测试探针
502 驱动探针组
503 第二感应探针组
504 第一感应探针组
504A/503C、504B/503B、504C/503A 多个导体驱动接点
503a、503b、503b 多个第二导体感应接点
504a、504b、504b 多个第一导体感应接点

Claims (13)

1.一种触控基板，包含：
第一触控面板，具有多个第一驱动线及多个第一感应线；
裁切区，环绕该第一触控面板；
第二触控面板，与该裁切区相接而与该第一触控面板相邻，且具有多个第二驱动线及多个第二感应线；及
测试座，设置于该裁切区中，具有驱动电极组、第一感应电极组及第二感应电极组，其中该驱动电极组与该多个第一驱动线以线性次序而电性耦合且与该多个第二驱动线以反向该线性次序而电性耦合、该第一感应电极组与该多个第一感应线以该线性次序而电性耦合、及该第二感应电极组与该多个第二感应线以反向该线性次序而电性耦合。
2.如权利要求1所述的触控基板，其中该测试座，设置于该第一触控面板与该第二触控面板间的该裁切区中，且该第一触控面板与该第二触控面板在共同平面上呈旋转对称。
3.如权利要求2所述的触控基板，其中该驱动电极组由N个驱动电极组成，成一列设置于该测试座中，该多个第一驱动线由M1条驱动线组成，该多个第二驱动线由M2条驱动线组成，N大于等于M1或大于等于M2。
4.如权利要求2所述的触控基板，其中该第一感应电极组及该第二感应电极组均分别由X个感应电极组成，成一列设置于该测试座中，该多个第一感应线由Y1条感应线组成，该多个第二感应线由Y2条感应线组成，X大于等于Y1或大于等于Y2。
5.如权利要求2所述的触控基板，其中该驱动电极组由N个驱动电极组成、该第一感应电极组由Y1个第一感应电极组成、该第二感应电极组由Y2个第二感应电极组成，且以该第一感应电极组-该驱动电极组-该第二感应电极组的一顺序或该第二感应电极组-该驱动电极组-该第一感应电极组的另一顺序设置为一直线形排列，且该驱动 电极组、该第一感应电极组、该第二感应电极组中的每一个电极间具有一固定间距。
6.一种触控基板，包含：
触控基板本体，具有至少两个触控面板及一裁切区；以及
测试座，位于该裁切区，用以同时测试该至少两个触控面板，
其中该至少两个触控面板，各具有多个驱动线及多个感应线，且该测试座具有驱动电极组、第一感应电极组及第二感应电极组，该驱动电极组与来自该至少两个触控面板中的一触控面板的该多个驱动线以线性次序而电性耦合，且该驱动电极组与该至少二触控面板中的另一触控面板的该多个驱动线以反向该线性次序而电性耦合，该第一感应电极组与该至少两个触控面板中的一触控面板所具有的多条感应线电性耦合，该第二感应电极组与该至少两个触控面板中的另一触控面板所具有的多条感应线电性耦合。
7.如权利要求6所述的触控基板，其中该测试座与该至少两个触控面板互不重迭。
8.如权利要求7所述的触控基板，其中该至少两个触控面板于共同平面上呈旋转对称。
9.如权利要求6所述的触控基板，其中该驱动电极组由多个驱动电极组成、该第一感应电极组由多个第一感应电极组成、该第二感应电极组由多个第二感应电极组成，且该第一感应电极组、该第二感应电极组设置成以该驱动电极组为中心旋转对称排列。
10.一种触控基板，包含：
测试座，所述的测试座包含：
多个驱动电极；
第一多个感应电极；以及
第二多个感应电极，其中该测试座使用时，该多个驱动电极及该第一多个感应电极电连接于第一面板，且该多个驱动电极及该第二多个感应电极电连接于第二面板，
其中该第一面板包含第一多个驱动线与第一多个感应线，该第二 面板包含第二多个驱动线与第二多个感应线，其中该多个驱动电极与来自该第一面板的该多个驱动线以线性次序而电性耦合，且多个驱动电极与该第二面板的该多个驱动线以反向该线性次序而电性耦合，该第一多个感应电极与该第一多个感应线电性耦合，该第二多个感应电极与该第二多个感应线电性耦合。
11.一种与权利要求1至10中任一项的触控基板相配合的测试探针，包含：
驱动探针组，具有多个导体驱动接点以传输多个检测讯号；
第一感应探针组，具有多个第一导体感应接点以接收多个第一回馈讯号；
第二感应探针组，具有多个第二导体感应接点以接收多个第二回馈讯号；
其中，该驱动探针组、该第一感应探针组及该第二感应探针组设置为直线形排列。
12.如权利要求13所述的测试探针，其中该驱动探针组、该第一感应探针组及该第二感应探针组以该第一感应探针组-该驱动探针组-该第二感应探针组顺序设置为直线形排列。
13.如权利要求13所述的测试探针，更包含二对一多任务器，该二对一多任务器具有第一回馈讯号线与该第一感应探针组电性耦合、第二回馈讯号线与该第二感应探针组电性耦合，藉以决定所述测试探针输出该多个第一回馈讯号或该多个第二回馈讯号。
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