TWI502953B - 數位用戶線之方法及器件 - Google Patents

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TWI502953B
TWI502953B TW098118592A TW98118592A TWI502953B TW I502953 B TWI502953 B TW I502953B TW 098118592 A TW098118592 A TW 098118592A TW 98118592 A TW98118592 A TW 98118592A TW I502953 B TWI502953 B TW I502953B
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Klas Ericson
Aldebaro Klautau
Roberto Menezes Rodrigues
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Ericsson Telefon Ab L M
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Description

數位用戶線之方法及器件
本發明係關於數位用戶線技術,及特定言之,係關於藉由(舉例來說)使用單端線路測試的迴路合格性檢定(loop qualification)。
數位用戶線(DSL)係一現代技術,其以一具有成本效益之方式實現經由電話網路之寬頻高速資料服務。但是,電話網路最初設計用於傳遞傳統舊式電話服務(POTS),即窄頻帶服務。因此,在開通一電話線路(迴路)之前評估該電話線路是否能夠支援某一DSL服務係重要的。該評估程序被稱作迴路合格性檢定(LQ)。
迴路合格性檢定之目標係估計藉由受測迴路(LUT)支援之可達到的位元速率。特定言之,理想的是不需派遣技術人員到用戶終端(customer premise;CP)側。因此,發展一種自電話總局(central office;CO)之基於單端線路測試(SELT)之迴路合格性檢定方法對於一致之大規模DSL部署至關緊要。若已知作為迴路之頻率及雜訊分佈之函數的轉移函數,則可決定該可達到的位元速率。舉例來說,可藉由CO側之測量來估計雜訊分佈,並且因此面臨之挑戰係估計該轉移函數,以執行該迴路合格性檢定。圖1繪示經受迴路合格性檢定之一電話線路。在電話總局(CO)側,測量電壓指示為V1且測量阻抗指示為Zin ;及在CP側,測量電壓指示為V2且該測量阻抗指示為Zout
通常,用於估計該轉移函數之基於SELT之方法相依於關於LUT拓撲之先驗知識或相依於估計後驗迴路轉移函數之一識別程序。可憑藉電話總局之一埠式散射參數測量來估計一用戶迴路之轉移函數。2002年6月《IEEE Journal on Selected Areas in Communications》20(5):936-948中提出該等方法中之一者,其提議用於三種預定義迴路拓撲之一轉移函數與散射參數S11 的參數化模型。使用實際拓撲S11 模型及S11 測量來構成最佳化程序之成本函數(cost-function),透過最大概似法(ML)估計找到此等參數之最佳值。接著,該等估計參數被應用於轉移函數模型,以估計該迴路轉移函數。一種使用時域反射量測法(TDR)之拓撲識別的方法描述於2006年4月《IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement》55(2):538-549由S. Galli與K. J. Kerpez提出的「Single-ended loop make-up identification-part I:A method of analyzing TDR measurements」及2006年4月《IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement》55(2):538-549由K. J. Kerpez與S. Galli提出的「Single-ended loop-makeup identification-part II:Improved algorithms and performance results」中。該方法係基於一反覆解除嵌入程序(使用一資料庫、一電纜模型及均方誤差準則識別LUT上的不連續部份),緊接著估計區段長度(section length)。最初在2003年5月《Proceedings of the IEEE International Conference on Communications. ICC '03.》第3卷第1998-2002頁由T. Vermeiren、T. Bostoen、P. Boets、X. Ochoa Chebab及F. Louage提出的「Subscriber loop topology classification by means of time domain reflectometry」中提議使用S11 測量以識別迴路拓撲的做法係藉由一組明確定義的階段完成:a)預處理經測量之S11 ,以產生該經測量之S11 之對應時間域S11 (t);b)提取存在於S11 (t)上之每一反射特徵;c)透過貝葉斯(Bayesian)網路與基於規則之系統來分析所提取的特徵,以獲得關於迴路拓撲的知識,如下列文獻中所描述:2006年10月《IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement》55(5):1590-1518由P. Boets、T. Bostoen、L. Biesen及T. Pollet提出的「Preprocessing of signals for single-ended subscriber line testing」;2007年5月《Proceedings of the IEEE Instrumentation and Measurement Technology Conference》第1-5頁由Carine Neus、Patrick Boets及Leo Van Biesen提出的「Transfer function estimation of digital subscriber lines with single ended line testing」;及2006《XVIII IMEKO World Congress》由Carine Neus、Patrick Boets,及Leo Van Biesen提出的「Feature extraction of one port scattering parameters for single ended line testing」。
以上描述基於SELT之方法取決於一或多個工具,諸如信號處理、貝葉斯網路、估計反射到達時間的演算法,及最佳化程序。大體上,此等工具係非普通的(non-trivial)工具,且應用於硬體實施方案中可能受限。此等方法亦使用電纜模型。電纜模型係根據一電纜區段的標準,用於該電纜區段之主要參數或次要參數的參數模型,且對預測雙絞線行為有用。但是,因為實際主要參數/次要參數可在同一電纜的一對對雙絞間變化平緩,由一電纜模型與測量提供之標稱值(靜態的)可存在固有的不匹配。此項事實可能使基於模擬結果與測量之比較的方法迷惑。BT#1、MAR#2及VUB0係電纜模型之實例,其等進一步描述於下列文獻中:1998年《ETSI STC. TM6》R.F.M. van den Brink「Cable reference models for simulating metallic access networks」;1998年《ETSI STC,TM6》J. Musson「Maximum likelihood estimation of the primary parameters of twisted pair cables」;2001年5月《Proceedings of the 18th IEEE Instrumentation and Measurement Technology Conference,IMTC '01》第2卷第1348-1353頁P. Boets、M. Zekri、L. Van Biesen及T. Pollet提出的「On the identification of cables for metallic access networks」。另外,估計區段長度考量到傳播速度(VoP)之平均值。一典型值係真空中光速之65%。但是,嚴格來說,不同電纜具有不同的傳播速度,溫度、使用年限、濕度,及其他因素可影響VoP。
如上所述,該轉移函數估計係LQ程序之必要項。基於轉移函數與雜訊分佈,可計算藉由LUT支援之位元速率。但是,僅可憑藉CO側與CP側設備之間的通信而測量轉移函數。這可藉由讓熟悉此項服務的工作人員在CO側與CP側執行該等測量。但這成本貴。對於一些種類之DSL應用,可使用在CO處的收發器連同在CP處的數據機來自動執行這些測量。但是,這意謂著在DSL部署之前一工作中DSL連接當然並不存在。
客戶想要在購買服務前知道可達到的位元速率,旨在估計迴路轉移函數之基於SELT之迴路合格性檢定方法對於DSL服務供應商而言係一很大的挑戰。
本發明之目的旨在達成一種用於從CO至CP之迴路的轉移函數的單端迴路估計之方法與配置,其中要求並不派遣熟練的技術人員至CP。
此完成方式係:藉由假設CO側的LUT輸入阻抗係完全相同於CP側的輸入阻抗;及藉由在CP側的迴路斷開情況下測量CO側之阻抗以及在CP側的迴路短路情況下測量CO側之阻抗來決定轉移函數。
於CO處估計轉移函數,且本發明之方法與配置並不取決於待合格性檢定之迴路拓撲。在該方法中,當在CP處之線路末端短路時,在該CO處擷取該CO側的阻抗值,當在CP處之線路末端斷開時,CO側的阻抗值由CO擷取。假設待合格性檢定迴路係對稱性而獨立於該待合格性檢定迴路的對稱特徵,當在CP處之線路末端斷開時,基於在CO處的擷取值估計該轉移函數,當在CP處之線路末端短路時,基於在CO處的擷取值估計該轉移函數。
根據本發明之一第二態樣,一種用於在一電話總局處估計一轉移函數以用於執行介於一CO與一CP之間的一數位用戶線的迴路合格性檢定之配置,而不管該待合格性檢定之迴路之拓撲。該配置包括:用於當在CP處之線路末端短路時、在CO處擷取CP側的阻抗值之擷取構件,舉例來說,一阻抗計或一DSL無線收發器;及當在CP處之線路末端斷開時、在CO處擷取CO側的阻抗值之擷取構件,舉例來說,一阻抗計或一DSL無線收發器。進一步,該配置包括一計算器,其用於假設待合格性檢定迴路係對稱性而獨立於該待合格性檢定迴路的對稱特徵,當在CP處之線路末端斷開時,基於在CO處的擷取值估計該轉移函數,當在CP處之線路末端短路時,基於在CO處的擷取值估計該轉移函數。
本發明之一優點在於,本發明係一種基於經典理論的分析方法,可在硬體上直接實施。
一進一步優點在於,本發明避免任何先前迴路拓撲識別程序來估計轉移函數。
一進一步優點在於,本發明並不取決於任何電纜模型或任何關於LUT之先驗資訊。
一進一步優點在於,因為該方法係基於簡單數學計算,所以處理時間係可以忽略的。
一進一步優勢在於,儘管仍然需要在迴路的CP側配置一斷路與一短路,但本發明僅相依於來自CO的測量。
以下描述為了解釋之目的而非限制,為了徹底理解本發 明,提出具體細節,諸如步驟的特定順序、發信號協定及器件配置。顯然對於熟悉此項技術者來說本發明可實踐於脫離此等具體細節之其他實施例中。
本發明係關於一種基於二埠式網路(TPN)理論之方法與配置,其藉由利用事實上LUT可被認為係互易並且假設LUT係對稱的,容許自斷路輸入阻抗測量與短路輸入阻抗測量(舉例來說,SELT測量)而分析地估計迴路轉移函數。因此,藉由使用本發明與估計線路上雜訊,可憑藉CO處的SELT測量來決定用戶終端之可達到位元速率。
藉由來自CO側的阻抗測量,估計一銅製迴路電話之轉移函數,而不管銅製迴路電話的拓撲。明確言之,當假設互易與對稱時,自迴路之傳輸參數的計算來執行該估計,該等傳輸參數僅就CO處的斷路輸入阻抗測量與短路輸入阻抗測量方面予以表達。根據本發明之一實施例,可藉由很少之CP側配置或不藉由CP側配置來執行這些阻抗測量。
以此方式,連接CP至CO之線路(網路)201被模型化如圖2中所描述。具有固有阻抗ZS 之電壓源VS 代表位於CO處之測量設備202,TPN代表迴路201自身,及負載阻抗ZL 代表位於CP處的迴路終端208。圖2亦繪示待估計的轉移函數204之一實例。
如上所述,假設網路201可被認為係互易與對稱,可用自該網路之僅一端執行的阻抗測量來估計傳輸矩陣。由於可自TPN之傳輸矩陣T 導出TPN之轉移函數,因而斷定可藉由僅測量CO側的迴路輸入阻抗而估計一電話銅製迴路之轉移函數。
在下文中,就配合迴路斷開(即Z L =∞)與迴路短路(即Z L =0)所測量之阻抗而論來導出及表達模型化LUT之傳輸矩陣。為了便利,將省略構成傳輸矩陣之傳輸參數的頻率相依性。
可就迴路之傳輸參數及負載阻抗而論表達迴路輸入埠處的輸入阻抗Zin1 如下:
每當無負載或一高阻抗負載被連接至迴路之輸出埠(即Z L =∞)時,方程式(1)變為:
同樣地,每當一短路或一低阻抗負載被連接至迴路之輸出埠(即Z L =0)時,方程式(1)變為:
迴路之兩個屬性對於分析而言係重要的:互易性與對稱性。互易性係關於LUT不同埠之電壓與電流,一埠用於激發,而另一埠用於回應激發。以此方式,一TPN之互易性係藉由其轉移負載決定。每當該等轉移負載彼此相等時,該TPN係互易的。就傳輸參數而論,可被表達為:
AD -BC =f r , (4)
其中fr 係模型化TPN之傳輸矩陣之行列式的合成頻率相依向量,且及用符號表示TPN之互易位準。為了便利,整份文件將fr 稱作互易因數。每當該互易因數相對於頻率係恆定且等於1時,TPN係互易的。另一方面,藉由TPN埠之阻抗決定對稱。每當該等埠阻抗彼此相等時,TPN係對稱的(z 11 =z 22 ,使用阻抗參數術語)。就傳輸參數而論,可被表達為:
其中fs 係介於傳輸參數A與傳輸參數D之間的比率的平方根之合成頻率相依向量,且用符號表示TPN之對稱位準。為了便利,整份文件將fs 稱作的對稱因數。每當該對稱因數相對於頻率係恆定的且等於1,TPN係對稱的。
將方程式(3)與(5)應用至方程式(4),得出
以此方式,如果方程式(2)被應用於方程式(6),該傳輸參數C可被表達為
將方程式(7)應用於方程式(2),該傳輸參數A可被表達為
現在,若方程式(8)被應用於方程式(5),則該傳輸參數D可被表達為
最後,將方程式(9)應用到方程式(3),該傳輸參數B可被表達為
結果,特徵化迴路之該傳輸矩陣T係整體給出為
十分重要地指出方程式(11)不僅完全特徵化電話線路,但亦特徵化任何模型化為TPN之任何網路,且並不限制分析任何特殊的頻帶。
現在,該轉移函數被導出。
依據ABCD矩陣之定義:
從圖2可以得出結論
V 2 =I 2 Z L  (13)
V S =I 1 Z S +V 1 。 (14)
轉移函數H可寫為
矩陣方程式(12)之第一列可寫為
其中運用方程式(13)可達成最後一步驟。
對方程式(16)中的V 2 /V 1 求解給出
如上所述,該輸入阻抗可被寫為
其中可使用方程式(13)來替代I 2 ,在V 2 被抵消後,得出第三等值。
現在將方程式(17)及(18)應用到最後運算式(15)並且使用(CZ L +D )擴展該結果,導致該轉移函數H可被表達為
現在已呈現可藉由運用方程式(11),藉由擷取配合迴路斷開(即Z L =∞)與迴路短路(即Z L =0)所測量之CO側之阻抗測量來決定該轉移函數。事實上必須配合迴路斷開與迴路短路來執行阻抗測量可需要在CP側的一些動作。此可由非熟練的技術人員或由客戶來執行。
關於上文互易迴路之陳述,現在將藉由以下實例來呈現。包含電阻器、電感器、電容器及變壓器但是沒有相依源或獨立源的一電路係一互易網路(2001年《Oxford University Press》由Raymond A. DeCarlo、Pen-Min Lin提出的「Linear Circuit Analysis」)。由於一銅製迴路被模型化以致使銅製迴路係一互易網路。因此,根據方程式(4),模型化一互易線區段的傳輸矩陣T之行列式始終係單式(unitary)。而且,已熟知方陣乘積之行列式與每個方陣行列式的乘積相等,即,det(T 1 ×T 2 ×T 3 ×...)=det(T 1 )×det(T 2 )×det(T 3 )×... (20)
這些屬性指示由級聯之互易區段組成的一迴路係一互易迴路。因此,直接得出結論,任何電話迴路(無論其有多少區段)可被認為係一互易迴路,即,傳輸矩陣T之行列式始終係滿足運算式AD -BC =f r =1。此意謂著完全特徵化任何電話迴路之傳輸矩陣T可被表達為以下簡約版本方程式(21):
如上所述,該迴路亦被假設為係對稱的,即,根據本發明,f s 被設定為1,即使該迴路實際並不對稱。據此,可僅藉由在CO側實行之阻抗測量來表達完全特徵化任何電話迴路之傳輸矩陣T。
因此,如圖5中繪示,提供一種用於在一電話總局處估計一轉移函數以用於執行介於一電話總局與一用戶終端之間的一數位用戶線的迴路合格性檢定之方法,而不管該待合格性檢定之迴路之拓撲。該方法包括下列步驟:
501.當在CP處之線路末端短路時,在CO處擷取CO的阻抗值。
502.當在CP處之線路末端斷開時,在CO處擷取CO的阻抗值。
503.假設待合格性檢定迴路係對稱而獨立於該待合格性檢定迴路的對稱特徵,當CP處之數位用戶線的末端斷開時,基於在CO處擷取的阻抗值來估計該轉移函數,當CP處之數位用戶線的末端短路時,基於在CO處的擷取值來估計該轉移函數。
因此,提供一種用於在一電話總局(CO)600處估計一轉移函數以用於執行介於電話總局與用戶終端(CP)602之間之數位用戶線606之迴路合格性檢定的配置,而不管該待合格性檢定之迴路606的拓撲。如圖6繪示,該配置包括:用於當CP 602處之數位用戶線606的末端短路時,在CO 600處擷取CO 600側之阻抗值的擷取構件603;用於當CP 602之數位用戶線606的末端短路時,在CO 600處擷取CO 600側之阻抗值的擷取構件604;及一計算器605,用於假設待合格性檢定迴路606係對稱而獨立於待合格性檢定迴路606的對稱特徵,當CP 602之數位用戶線606的末端斷開時,基於在CO 600處之該擷取的阻抗值來估計該轉移函數,當CP 602之數位用戶線606的末端短路時,基於在CO 600處之該擷取的阻抗值來估計該轉移函數。
當CP處之數位用戶線的末端短路時,在CO處之擷取的阻抗值可憑藉一基於SELT的方法而擷取,並且當CP處之數位用戶線的末端斷開時,在CO處之擷取的阻抗值亦可憑藉一基於SELT的方法而擷取。在這種情況下,即,用戶終端的人員(例如,客戶自身)需要斷開及短路CP側的線路。
根據一進一步實施例,提供一種用於自動改變CP側之負載阻抗的配置607。為了簡化CO處的阻抗測量,一待連接至線路之CP側以用於配置一斷開線路與一短路線路的裝置607可被輸送至客戶。此等裝置607可經設計以由該CO之控制器608控制。
為了評估本發明,使用含專用測量儀器的一些Ericsson電纜執行的一測量活動獲得輸入阻抗測量與轉移函數測量。使用六個測試迴路,且於圖3繪示該六個測試迴路,進一步解說如下。
比較基於阻抗測量的轉移函數估計與直接測量對應的轉移函數。
如先前所述,在藉由計算迴路的傳輸參數期間假設迴路對稱,即,對於此等計算使用考慮f s =1的方程式(21)。
用於評估所估計之曲線的效益指數(figure of merit)係介於測量之轉移函數與估計之轉移函數的量值差值(以分貝為單位)。最大可接受效益指數之值被定義為2分貝/音調(曲線頻率樣本)。對於每個音調上的位元載入程序,約3分貝的轉移函數估計之誤差意謂著一個損失位元(關於此關係之解說進一步解說於2006年《Auerbach Publications》由Philip Golden、Dedieu及Krista S. Jacobsen編輯的「Fundamentals of DSL Technology」中)。
圖3 繪示:迴路1之拓撲具有0.4毫米的一直徑與500米的一長度,迴路2之拓撲具有0.5毫米的一直徑與1000米的一長度,迴路3之拓撲具有0.4毫米直徑與500米長度的一第一區段及0.5毫米直徑與1000米長度的一第二區段,迴路4之拓撲具有0.4毫米直徑與200米長度的一第一區段、0.5毫米直徑與1000米長度的一第二區段及0.4毫米直徑與500米長度的一第三區段,迴路5之拓撲具有0.4毫米直徑與200米長度的一第一區段、0.5毫米直徑與1000米長度的一第二區段及0.4毫米直徑與500米長度的一第三區段,該第三區段係延伸作為介於第一區段與第二區段之間的一分支(橋接式分接頭),及迴路6之拓撲具有0.4毫米直徑與200米長度的一第一區段、0.5毫米直徑與500米長度的一第二區段、0.5毫米直徑與500米長度的一第三區段及0.4毫米直徑與500米長度的一第四區段,該第四區段係延伸作為介於第二區段與第三區段之間的一分支(橋接式分接頭)。
該等結果係呈現於圖4之標繪圖中。
圖4 繪示:用於測試迴路1的測量的轉移函數與本發明揭示之估計的轉移函數,用於測試迴路2的測量的轉移函數與本發明揭示之估計的轉移函數,用於測試迴路3的測量的轉移函數與本發明揭示之估計的轉移函數,用於測試迴路4的測量的轉移函數與本發明揭示之估計的轉移函數,用於測試迴路5的測量的轉移函數與本發明揭示之估計的轉移函數,及用於測試迴路6的測量的轉移函數與本發明揭示之估計的轉移函數。
量值子標繪圖中的黑色短破折虛線代表用於各自待測試迴路的估計之轉移函數曲線,而連續黑色曲線代表測量之轉移函數曲線;偏差子標繪圖中的具有星號標記的黑色曲線代表用於各自待測試迴路的介於測量之轉移函數曲線的量值與估計之轉移函數曲線的量值之間的偏差(差值)(以分貝為單位)。
當研究圖4a至圖4f的標繪圖時,應注意,藉由使用本發明估計的估計之轉移函數實質上沿循測量之轉移函數。因此,得出的結論係該方法與配置提供可靠的結果。
雖然已關於特定實施例(包含一定配置與在不同方法內的一定步驟順序)描述本發明,然而熟悉此項技術者會認識到,本發明並不限制於本文中描述與繪示之具體實施例。因此,應瞭解本發明僅具繪示性。相應地,希望本發明係僅藉由附加於此之申請專利範圍而限制。
200...二埠式網路(TPN)
201...網路
202...測量設備
204...轉移函數
600...CO
601...配置
602...CP
603...阻抗計
604...阻抗計
605...計算器
606...數位用戶線
607...負載/連接控制器
608...控制器
CO...電話總局
CP...用戶終端
Loop1...迴路1
Loop2...迴路2
Loop3...迴路3
Loop4...迴路4
Loop5...迴路5
Loop6...迴路6
T...轉移函數
V2...CP側測量電壓
V1...CO側測量電壓
ZinCO...CO側測量阻抗
ZinCP...CP側測量阻抗
圖1繪示一電話線路及其相關聯之轉移函數;
圖2繪示根據本發明之實施例的連接用戶終端至一電話總局的電話線路之一模型;
圖3(包含圖3a至圖3b)繪示用以評估本發明之測試迴路1至6之拓撲;
圖4(包含圖4a至圖4f)繪示使用圖3之迴路拓撲闡釋本發明之效能之圖表;
圖5係一流程圖,其繪示根據本發明之一實施例的一方法;及
圖6繪示根據本發明之一實施例的配置。
600...CO
601...配置
602...CP
603...阻抗計
604...阻抗計
605...計算器
606...數位用戶線
607...負載/連接控制器
608...控制器

Claims (8)

  1. 一種用於在一電話總局(CO)處估計一轉移函數以待用於執行介於該CO與一用戶終端(CP)之間之一數位用戶線之迴路合格性檢定而不管該待合格性檢定之迴路之拓撲的方法,該方法包括下列步驟:當該CP處之該數位用戶線之末端短路時,在該CO處擷取該CO側的阻抗值,當該CP處之該數位用戶線之末端斷開時,在該CO處擷取該CO的阻抗值,及基於表達為以下方程式之一傳輸矩陣T,使用一計算器估計該轉移函數: 其中f s 被設定為1,假設該迴路之多個埠之一阻抗彼此相等,使得待合格性檢定之該迴路係假設為對稱而獨立於待合格性檢定之該迴路的對稱特徵。
  2. 如請求項1之方法,其中當該CP處之該數位用戶線的末端短路時,在該CO處之該擷取的阻抗值係憑藉一基於單端線路傳輸(SELT)之方法而擷取。
  3. 如請求項1之方法,其中當該CP處之該數位用戶線的末端斷開時,在該CO處之該擷取的阻抗值係憑藉一基於SELT的方法而擷取。
  4. 一種用於在一電話總局(CO)處估計一轉移函數以用於執 行介於該CO與一用戶終端(CP)之間之一數位用戶線之迴路合格性檢定而不管該待合格性檢定之迴路之拓撲的器件(device),該器件包括:用於當該CP處之該數位用戶線的末端短路時,在該CO處擷取該CO側之阻抗值的擷取構件;用於當該CP處之該數位用戶線的末端斷開時,在該CO處擷取該CO側之阻抗值的擷取構件;及一計算器,用於基於表達為以下方程式之一傳輸矩陣T來估計該轉移函數: 其中f s 被設定為1,假設該迴路之多個埠之一阻抗彼此相等,使得待合格性檢定之該迴路係對稱而獨立於待合格性檢定之該迴路的對稱特徵。
  5. 如請求項4之器件,其中當該CP處之該數位用戶線的末端短路時,在該CO處之該擷取的阻抗值係憑藉一基於SELT之方法而擷取。
  6. 如請求項4之器件,其中當該CP處之該數位用戶線的末端斷開時,在該CO處之該擷取的阻抗值係憑藉一基於SELT之方法而擷取。
  7. 如請求項4之器件,其進一步包括一控制器,用於在該CP處控制一配置以,自動改變在該CP處之負載阻抗。
  8. 如請求項4之器件,其進一步包括一控制器,用於在該CP處控制一配置,以配置一斷開線與一短路線。
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