JPH1078468A - パッチコードのためのテスト用計測器、測定方法、およびテスト方法 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】 ＬＡＮパッチコードの相対性能およびアセン
ブリの仕上がりの質を評価するために、ＬＡＮパッチコ
ードのクロストーク特性の測定値を周波数の関数として
得る、ＬＡＮケーブルのパルスベースのテスト用計測器
を提供する。 【解決手段】 ＬＡＮケーブルのテスト用計測器は、Ｌ
ＡＮパッチコードの選択された１本の伝送ラインに狭幅
パルスの形のテスト信号を与え、その一方で、同じパッ
チコード内の別の伝送ラインに誘起されたクロストーク
応答を測定して、時間記録として記憶する。この時間記
録の近端パルス応答と遠端パルス応答とを分離し、近端
パルス応答のみを残して、それに離散的フーリエ変換を
行なうことにより、近端のクロストーク対周波数の情報
が得られる。その後、パッチケーブルの両端部における
仕上がりの質のテストをより完全にするために、パッチ
コードの遠端で同じテストを行なってもよい。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の背景】本発明は一般に電気ケーブルのテストお
よびトラブルシューティングに関し、より特定的には、
ローカルエリアネットワークのパッチコードのクロスト
ーク特性の測定に関する。

【０００２】ローカルエリアネットワーク（ＬＡＮ）は
今や、現在のオフィスにおいて、数多くのパーソナルコ
ンピュータ、ワークステーション、プリンタ、およびフ
ァイルサーバを接続している。ＬＡＮシステムは典型的
に、これらのデバイスすべてを、銅導体のツイストされ
たワイヤの対（「ツイストペア」）のＬＡＮケーブルを
用いて物理的に接続することで実現されるが、最も一般
的なのは、シールドされないツイストペア（「ＵＴＰ」
型）のＬＡＮケーブルであって、これは、４つのツイス
トペアとして構成された８本のワイヤのケーブルであ
る。これら４つのツイストペアの各々は伝送ラインとし
て機能し、ＬＡＮケーブルを通じてデータ信号を運ぶ。
ＬＡＮケーブルの各端部は一般に、モジュラ（ＲＪ−４
５）コネクタと称される「ＲＪ−４５」型のピン配列を
有する、国際標準ＩＥＣ６０３−７に従ったモジュラ型
のコネクタで終端される。モジュラ（ＲＪ−４５）コネ
クタは、プラグまたはジャックの形を取り得る。プラグ
とジャックを嵌め合わせたものが接続と見なされる。

【０００３】典型的な据付において、ＬＡＮケーブルは
建物の壁、床、天井を通して引回され得る。ＬＡＮケー
ブルシステムは絶え間ないメンテナンス、アップグレー
ド、およびトラブルシューティングを要するが、これは
ＬＡＮケーブルおよびコネクタが破損しやすく、オフィ
スおよび機器は移動されなければならず、新しい機器が
付加されるためである。各端部にコネクタが装着され
た、ＬＡＮケーブルの比較的短い長さを、一般にパッチ
コードと呼ぶ。パッチコードは、建物の固定された配線
とＬＡＮケーブルシステムの各端部にある移動可能な機
器とを相互接続するのに使用される。

【０００４】ＬＡＮケーブルシステムにわたるデータ通
信の相対速度は増すばかりである。毎秒１００メガビッ
トを超えるデータ速度が、ますます一般的になりつつあ
る。銅線のＬＡＮケーブルシステムは、商業用の建物に
一般に見られる伝統的な多導体電話ケーブルシステムに
密接に関連しているが、これらのより高いデータ速度に
適応することが求められている。銅線のＬＡＮケーブル
システムは、光ファイバの相当物よりも、実質的により
低価格でより多様性があるという利点を有する。しかし
ながら、ネットワークの速度および関連する帯域幅への
高まる要望は、より高いデータ速度で直面するますます
難解な問題にもかかわらずネットワークの信頼性を維持
するという、ますます大きな負担を、ネットワーク専門
家にもたらしている。

【０００５】ＬＡＮケーブルの据付、置換、または再度
の引回しのタスクは、典型的にケーブル据付を専門とす
る者、または社内のネットワーク専門家に任される。据
付段階で、各ケーブルは建物を通して引回され、コネク
タは新しいケーブルの各端部に取付けられる。ケーブル
内の各ワイヤは、ＬＡＮ接続が機能するよう、ケーブル
の両端部でそれぞれ、それに適切な電気的接続に繋がれ
なくてはならない。不適切に据付られた、または欠陥の
あるケーブルもしくはコネクタを有するＬＡＮケーブル
システムは、データの伝送エラーを起こし得る。したが
って、ＬＡＮケーブルシステムは、その構成要素である
パッチコードも含めて、適正な接続および伝送性能を実
証するためにテストされなくてはならない。

【０００６】ＬＡＮケーブルシステムが確実に適正に機
能するようにするには、ある特定のネットワークリンク
を通じて適正な電気的接続を得るだけではもはや十分で
はない。より高いデータ速度では、ネットワーク性能を
累積的に破壊し得る、より微妙な問題が浮かび上がって
くるかもしれない。この理由により、ＬＡＮケーブルは
今では、高速データトラフィックを扱う能力に基づいて
さまざまな性能レベルに分類されている。ネットワーク
専門家はここで、適切な最小レベルを注意深く選択しな
くてはならない。たとえば、電話線級のケーブルがネッ
トワークの一部分に偶然含まれてしまうと、これはより
高性能なＬＡＮケーブルと物理的には同様に見えても、
帯域幅およびクロストークに関する特性は受入れられな
いものであるため、ネットワーク接続を機能させなくす
るおそれがある。

【０００７】ネットワーク専門家が知っておくべき重要
なネットワークパラメータには、（周波数に対する信号
の減衰として測定される）ネットワークの帯域幅およ
び、やはり周波数の関数として変化する、パッチコード
内の伝送ラインを形成するツイストペア間の近端クロス
トーク（一般に「ＮＥＸＴ」と称される）がある。減衰
とＮＥＸＴはその両方が、伝送ラインの質を示す重要な
値である、信号対雑音比に影響を及ぼす。ＮＥＸＴは信
号対雑音比に関する最も重要なパラメータであり、これ
は仕上がりの質による影響を直接被る。ＮＥＸＴおよび
クロストークの両語は、この本文中ではクロストークの
測定がリンク中、最悪の信号対雑音状態が発生する近端
部で行なわれるため、交換可能に使用される。

【０００８】クロストークとは、ＬＡＮケーブル内のい
ずれか２つのツイストペア間の絶縁のレベルの尺度であ
る。ネットワークの信頼性を維持するために近接するツ
イストペア間の混信を阻止するには、特定された最小レ
ベルのクロストーク絶縁を維持することが重要である。
インダストリーワーキンググループ、テレコミュニケー
ションズ・インダストリ・アソシエーション（the indu
stry working group,Telecommunications Industry Ass
ociation ）（ＴＩＡ）は、１メガヘルツないし１００
メガヘルツの周波数範囲にわたるクロストーク絶縁の最
小レベルを特定する、一般にＴＳＢ ６７と呼ばれる、
クロストーク測定値の標準を公表した。このクロストー
ク標準は本質的に、基本的なリンク構成およびチャネル
構成の両方のための合格／不合格限界ラインを規定す
る。いずれかの周波数でクロストークが限界ラインより
も劣るＬＡＮケーブルネットワークは、不合格と見なさ
れる。ＴＩＡ標準に応ずるＬＡＮケーブルネットワーク
を維持していれば、ネットワーク専門家は、ツイストペ
ア間のクロストークがエラーに大きく影響することのな
い、十分なネットワーク性能を合理的に確信できる。

【０００９】パッチコードとは、各端部にプラグを有す
る撓みを持たせたパッチケーブルの集まりである。パッ
チコードは、ワークステーションを他のＬＡＮ機器に接
続するリンクの必須のエレメントである。リンクは、そ
の一方の端部がパッチコードから始まる。そのパッチコ
ードのプラグは、建物の固定された配線部分のジャック
に接続する。そのケーブルの他方の端部はジャックで終
端し、その他方の端部で、別のパッチコードが、機器ま
たはネットワークインタフェースに接続するために使用
される。プラグがジャックに嵌め合わせられるわけであ
るが、プラグもジャックもどちらもコネクタであって、
この両語は交換可能に使用できる。

【００１０】建物の固定された配線（その構成はしばし
ば、ＴＳＢ ６７標準に規定された基本的なリンクであ
る）は、建物の固定された配線の一部である部品および
仕上がりの質を判定するのに、それだけでチェックする
ことができる。機器が据付られると、ユーザパッチコー
ドを使用して、各端部に最終的な相互接続が提供され
る。しかししばしば、端から端までのリンク（ＴＳＢ
６７では「チャネル」構成にあたる）はテストされな
い。

【００１１】端から端までのリンクの各端部におけるパ
ッチコードの質は、リンクの全体的な伝送の質に非常に
大きな影響を与えることがわかっている。パッチコード
を構成するケーブルおよびプラグがそれら自身は適切な
クロストーク標準に応じるものであったとしても、組立
てられたパッチコードがユーザリンクの一部分として使
用された場合、そのユーザリンクの構成を標準に合わな
いものにしてしまうおそれがある。加えて、パッチコー
ドはしばしば、ユーザの作業エリアで物理的に露出して
いるために、乱暴な扱いを受けるおそれがある。パッチ
コードは典型的に、予め定められた長さ、たとえば２メ
ートルの、撓みを持たせたパッチケーブルの両端部にモ
ジュラ（ＲＪ−４５）プラグを備付けて、製造されかつ
販売される。

【００１２】パッチケーブルのツイストペアの各々と、
各端部のコネクタ内のコンタクトとの接続の質は、集合
的に仕上がりの質と呼ばれる。パッチケーブルからプラ
グへの接続の仕上がりの質は、全体的なユーザリンクの
性能にとって重要である。このパッチケーブルが別個に
テストの済んだ建物内の固定された配線とともに使用さ
れたときに、端から端までのリンクの性能が満足のいく
ものとなるであろうと強く確信できるように、パッチコ
ードはパッチコードの製造業者によってテストされるこ
とが所望される。

【００１３】パッチコードがユーザリンク内で使用され
た場合にリンクが業界標準の要件に合致したままであろ
うと確信できるよう、受入れ可能なレベルの精度でパッ
チコードを測定することは、実験室の環境でも現場でも
実質的に難しい。掃引周波数、アナログ式測定技術を用
いたテスト用計測器では、パッチコードの近端と遠端と
の間の反射、および複数のワイヤペア間に発生するおそ
れのあるコモンモード信号によって起こる付加的な寄生
結合効果を、取除くことができない。パッチコードのた
めの開発中の業界標準は、実験室のグレードのベクトル
ネットワークアナライザを使用するが、これは容量が大
きく、高価であり、サービス環境には不適切である。パ
ッチケーブルからプラグへの接続の仕上がりの質を判定
するには、精巧な、埋め込まない技術を用いなくてはな
らない。これらの技術は、製造環境において大量に生産
がなされる中で仕上がりを制御するためには、容易に運
用できないものであり、リンク内で使用された場合のパ
ッチコードの性能とは相関関係があまりないことがわか
っている。

【００１４】１９９６年７月２日に出願人フルーク・コ
ーポレイション（Fluke Corporation ）のジェフリー・
エス・ボットマン（Jeffrey S. Bottman）に発行され
た、「近端補償を伴うクロストーク測定装置（CROSS-TA
LK MEASUREMENT APPARATUS WITH NEAR-END COMPENSATIO
N ）」と題された米国特許番号第５、５３２、６０３号
において、テスト用計測器に直接結合された近端コネク
タのクロストーク効果は、ＬＡＮケーブルシステムの残
りの部分とは別個に測定され、その後ＬＡＮケーブルシ
ステムのクロストーク測定値からその数値が減じられ
る。この技術は、所与の近端コネクタのクロストーク特
性はわからないものの、その物理的な場所と、時間記録
内の対応する場所とがわかっているために、近端コネク
タのクロストーク効果を別個に測定することができると
いう事実を利用している。クロストーク測定の過程にお
いて、テスト用計測器に結合された近端ネットワークコ
ネクタの近端クロストーク効果が測定され、その後、近
端コネクタおよびＬＡＮケーブルシステムの残りの部分
の両方を含む合成測定値からその数値が減じられ、より
精密な測定のためにＬＡＮケーブルシステムの応答のみ
が残る。

【００１５】パッチコードは、典型的なＬＡＮケーブル
システムとは実質的に異なった測定上の問題の組を有す
る。典型的に長さが２メートルであるパッチコードは、
典型的なＬＡＮケーブルシステムよりも実質的に短い。
パッチコードのコネクタ間で前後に反響するコモンモー
ド信号による過剰なクロストークおよびインピーダンス
の不整合による反射効果を減ずべき、物理的な分離と電
気的な減衰の量が少ないので、パッチコードの両端部に
あるコネクタは典型的にクロストークに最大の影響を及
ぼす。このため、パッチコードの各端部における仕上が
りの質を精密に判定するために、近端クロストーク応答
と遠端クロストーク応答を時間領域で分離することが必
要となる。パッチコードの近端および遠端のクロストー
ク間の位相の関係は本質的にランダムでわかっていない
ため、近端クロストーク応答と遠端クロストークとの間
に電圧の相殺および強化が起きるかもしれず、そのた
め、仕上がりの質の測定の精度を劣化するおそれがあ
る。近端クロストーク応答と遠端クロストーク応答との
この分離を達成するためには、パッチコードの各端部に
おけるクロストークの測定値が必要である。

【００１６】したがって、以下のようなＬＡＮケーブル
のテスト用計測器の提供が所望される。すなわち、１メ
ガヘルツないし１００メガヘルツの所望の周波数範囲に
わたるＬＡＮパッチコードのクロストーク応答を測定
し、かつ、パッチコードの反対の端部からの反射および
過剰なクロストークの効果を取除いて十分な精度のクロ
ストーク測定値を得ることで、パッチコードの各端部に
おける、集合的に仕上がりの質と称されるコネクタおよ
びケーブルの組合せの質を判定する、テスト用計測器で
ある。パッチコードの端部を逆転させる必要なくパッチ
コードのテストを完全に自動化して行なえるよう、パッ
チコードの遠端部で、テスト用計測器の延長部と関連し
て作動する、遠隔ユニットもまた提供が所望される。

【００１７】

【発明の概要】この発明に従って、ＬＡＮケーブルのパ
ルスベースのテスト用計測器は、ＬＡＮパッチコードの
クロストーク特性の測定値を、その相対性能および仕上
がりの質を評価するために、周波数の関数として提供す
る。

【００１８】ＬＡＮケーブルのテスト用計測器は、狭幅
パルスの形のテスト信号をＬＡＮパッチコードの選択さ
れた１本の伝送ラインに印加し、一方、同じＬＡＮパッ
チコード内の別の伝送ラインに誘起されたクロストーク
応答を測定しかつ近端パルス応答時間記録としてディジ
タルメモリ内に記憶する。テスト用計測器と協働して作
動する遠隔ユニットは、パッチコードのコネクタをテス
ト用計測器に逆に繋げ換える必要なく、パッチコードの
遠端コネクタのクロストーク性能を測定して遠端パルス
応答時間記録を作成するのに用いられる。

【００１９】代替案として、遠隔ユニットを使用するこ
となく、テスト用計測器をパッチコードの近端に接続し
て、測定されるべきコネクタのプラグを順次差込むこと
により、最初にパッチコードの一方の端部における、そ
の後他方の端部におけるＮＥＸＴ性能を測定することも
可能である。

【００２０】近端コネクタのクロストークのディジタル
補償がないので、テスト用計測器のコネクタおよび遠隔
ユニットのコネクタは、公称コネクタに接続された際に
予め定められた量のクロストークを提供するよう、予め
適格にされなくてはならない。モジュラコネクタ（ＲＪ
−４５）において、３，６−４，５の対の組合せは、最
悪のＮＥＸＴを示すと通常考えられる。標準ＴＩＡ／Ｅ
ＩＡ−５６８−Ａ、セクションＢ．５は、基準プラグを
構築するための手順に関する詳細な情報および、同プラ
グがそれだけでテストされる際のＮＥＸＴの要件を含
む。計測器用ジャックを予め適格にする目的で、このプ
ラグは３，６−４，５の対の組合せでは、１００メガヘ
ルツで４０．５ｄＢ±０．５ｄＢを示すようになってい
る。このプラグが計測器用コネクタに嵌め合わせられた
場合、そうして得られるＮＥＸＴは、同じ対の組合せで
は、１００メガヘルツで、４０．５ｄＢ±０．５ｄＢと
なるはずである。

【００２１】ＴＩＡ／ＥＩＡ−５６８−Ａよりも狭い範
囲の許容公差およびより詳細な手続から、より高い精度
が得られる可能性がある。公称ジャックからの時間応答
と実際のテスト用計測器のジャックからの時間応答との
間の偏差を校正メモリ内に記憶し、実際のパッチコード
から測定された時間応答をこの偏差により修正すること
も可能である。しかしこの改善は行なわなかった。なぜ
なら、計測器用ジャックの性能を、上に示された公称値
と受入れ可能に近似となるように、制御が可能であった
ためである。

【００２２】測定値の有効時間解像度を改善するため
に、一連の測定値にわたって、逐次サンプリング技術を
使用して、近端パルス応答時間記録および遠端パルス応
答時間記録が各測定値に対して構築される。近端パルス
応答時間記録では、近端パルス応答と遠端パルス応答と
が分離され、遠端応答は廃棄される。同様に、遠端パル
ス応答時間記録では、遠端パルス応答と近端パルス応答
とが分離され、近端応答が廃棄される。

【００２３】その後、テスト用計測器は、クロストーク
対周波数の情報を提供するために、近端パルス応答時間
記録および遠端パルス応答時間記録のそれぞれに離散的
なフーリエ変換を施すことにより、近端クロストーク応
答および遠端クロストーク応答の周波数領域の表現を得
る。この周波数領域の表現はその後、仕様限界ラインと
比較されて合格／不合格決定がなされ得るが、これは典
型的にはテスト用計測器に含まれる視覚ディスプレイを
使用して、計測器ユーザに伝えられる。このようにし
て、仕上がりの質は、パッチコードの各端部で別々に評
価され、かつこの別々のプロセスのために精度を増して
評価することが可能となる。

【００２４】この発明の１つの目的は、ＬＡＮパッチコ
ードの伝送ライン間のクロストークを測定することので
きるテスト用計測器を提供することである。

【００２５】この発明の別の目的は、ＬＡＮパッチコー
ドの近端コネクタおよびケーブルのクロストークを、周
波数の関数として測定することのできる、テスト用計測
器を提供することである。

【００２６】この発明のさらなる目的は、パルスベース
の測定法を使用してＬＡＮパッチコードのクロストーク
を測定し、近端クロストーク効果と遠端クロストーク効
果とを分離することのできる、テスト用計測器を提供す
ることである。

【００２７】この発明の付加的な目的は、パッチコード
を自動でテストできるよう、パッチコードの対向する端
部に結合された遠隔ユニットと関連して動作する、テス
ト用計測器を提供することである。

【００２８】他の特徴、達成、および利点は、添付の図
面と関連して以下の説明を読むことにより、当業者には
明らかとなるであろう。

【００２９】

【詳細な説明】図１は、パッチコード１４の近端および
遠端にそれぞれ結合されたテスト用計測器１０および遠
隔ユニット１２を示した図（実物大ではない）である。
近端および遠端という語は慣用として採用されるもの
で、ＬＡＮパッチコードのそれぞれの端部を意味し、近
端はテスト用計測器１０に結合され、遠端は反対の端部
である。テスト用計測器１０は、近端コネクタ１６およ
びケーブル１８を介して遠端コネクタ２０に結合され
る。近端コネクタ１６、遠端コネクタ２０およびケーブ
ル１８が集合的に、パッチコード１４を構成する。近端
コネクタ１６および遠端コネクタ２０は典型的に、モジ
ュラ（ＲＪ−４５）コネクタと称される、「ＲＪ−４
５」型のピン配列を有する国際標準ＩＥＣ６０３−７に
従ったモジュラ型のコネクタである。モジュラ（ＲＪ−
４５）コネクタは、プラグまたはジャックの形であり、
嵌め合わせられたプラグとジャックが接続と見なされ
る。ほとんどすべての場合、近端コネクタ１６および遠
端コネクタ２０はモジュラプラグであり、これらはテス
ト用計測器１０および遠隔ユニット１２内のモジュラジ
ャックと嵌め合わせられる。

【００３０】パッチコード１４を完全にテストするに
は、ＮＥＸＴ測定はパッチケーブル１４の各端部から順
次行なわれなくてはならない。好ましい実施例におい
て、パッチコード１４を通じて近端接続および遠端接続
の両方のテストを容易にするために、遠隔ユニット１２
が図１に示されるように遠端コネクタ２０に結合され
る。遠隔ユニット１２は、テスト用計測器１０と同じ組
の測定機能を果たすが、それらの測定は、それぞれの測
定間の干渉を防ぐために、互いに異なった時間に調整し
て実行される。遠端測定の測定結果を得るための測定情
報の処理は、テスト用計測器１０または遠隔ユニット１
２のどちらかで行なわれ得る。遠隔ユニット１２は、パ
ッチコード１４の完全なテストの実施をより容易にする
が、テスト用計測器１０が遠端測定を行なうためには必
要ではない。

【００３１】この発明の別の実施例においては、パッチ
コード１４は、まず近端コネクタ１６に結合されたテス
ト用計測器１０によって測定され、次いでパッチコード
１４の近端と遠端とが交換され、今度はパッチコード１
４が遠端コネクタ２０に結合されたテスト用計測器１０
によって測定される。テスト用計測器１０のみを使用し
て、パッチコード１４の各端部を順次テストすること
で、パッチコード１４を完全にテストすることができ
る。

【００３２】図２は、クロストーク測定の目的で、パッ
チコード１４を電気的に規定する略図である。パッチコ
ード１４は典型的に、ケーブル１８内に、並列の伝送ラ
インとして機能する４つのツイストペア（図示せず）を
含む。ワイヤペアはケーブル１８内で、いずれの２つの
ワイヤペア間でも信号絶縁またはクロストーク性能を最
大にするように、互いに撚り合わせられている。所望の
レベルのクロストーク性能を達成するための鍵は、１つ
のツイストペア内の信号電圧が別のツイストペア内に電
圧を誘起しないよう、パッチコード１４内のいかなる２
つのツイストペア間でも平衡キャパシタンスおよび平衡
相互インダクタンスの両方を維持することである。この
キャパシタンスおよび相互インダクタンスの平衡は、パ
ッチコード１４を通じて送られるデータの高速化によ
り、信号電圧の周波数が高まるにつれ、ますます重要に
なってきている。近端コネクタ１６および遠端コネクタ
２０とケーブル１８との間の、ケーブル１８内の各ワイ
ヤペアの接続のクロストーク性能（集合的に仕上がりの
質と称される）は、キャパシタンスおよび相互インダク
タンスの平衡に大いに影響を及ぼすおそれがある。これ
は、個々のワイヤが近端コネクタ１６および遠端コネク
タ２０内の関連する電気接点に接続されるためにケーブ
ル１８から分離されているという、個々のワイヤの物理
的な幾何図形的配列のためである。これらの接続は図２
に示されるように、区域２２および区域２４でそれぞれ
実現される。

【００３３】ＬＡＮケーブル１４のそれぞれの端部に、
近端コネクタ１６および遠端コネクタ２０が存在し、こ
れらは他のＬＡＮケーブルコネクタと嵌め合わせられ
て、業界の規約に従った所望の電気的接続を形成する。
近端コネクタ１６および遠端コネクタ２０は典型的にモ
ジュラコネクタ（ＲＪ−４５）であるが、特定の用途に
適するものであれば、種々の複式接点コネクタのうちの
いずれであってもよい。ケーブル１８内で改善がなされ
ているために、主要なクロストーク源は今や典型的に近
端コネクタ１６、遠端コネクタ２０、ならびに、区域２
２および区域２４内のケーブル１８への関連した接続で
ある。このため、パッチコード１４内で評価されるべき
主要なパラメータは、ケーブル１８と近端コネクタ１６
および遠端コネクタ２０との間の集合的な接続のクロス
トーク性能である。

【００３４】掃引周波数の連続波（ＣＷ）技術を使用し
て、近端と遠端のクロストークへの個々の影響を分離す
ることは難しい。なぜなら、主に近端コネクタ１６およ
び遠端コネクタ２０により、パッチコード１４内には激
しい反射が起こり、これが測定したいクロストークと結
び付き、周波数領域では容易に分離できないためであ
る。この発明は時間領域のパルスベースの測定方法を提
供するが、この方法であれば下により詳細に説明するよ
うに、パッチコード１４の近端部のクロストークへの影
響を、遠端部の影響から、時間領域で分離することが可
能となる。

【００３５】図２で、パッチコード１４は計測器１０の
計測器用コネクタ１０２および遠隔ユニット１２の遠隔
ユニット用コネクタ１０３とそれぞれ電気的に嵌め合わ
せられて接続を形成する。電気信号は、比較的正確に知
られている速度で、すなわち、典型的には真空で光速の
約６７％でケーブル内を伝搬するので、ケーブルに沿っ
た位置は、時間または距離に関して規定することが可能
である。時間領域のパルスベースの測定が時間と距離と
の双対性を利用しているのは、集められるパルス応答の
時間記録内の位置が、パッチコード１４に沿った物理的
な位置と密接な相関関係にあり得るためである。

【００３６】パッチコード１４の電気的部分は、パッチ
コード１４の近端部で嵌め合わせられた接続から遠端部
で嵌め合わせられた接続へと延びる。パッチコード１４
の近端パルス応答を測定するのに、近端ウィンドウ５０
と規定された、パッチケーブル１４に沿ったある程度の
長さのみが使用される。近端ウィンドウ５０の長さは、
いかなる遠端パルス応答も伝搬してパッチコード１４の
近端部に戻って近端測定を妨害するだけの十分な時間が
ないように、選択される。このため、遠端パルス応答
は、パルス電圧対時間として規定される時間領域の近端
パルス応答から分離することができる。同様に、遠端ウ
ィンドウ５２もまた、いかなる近端パルス応答も伝搬し
てパッチコード１４の遠端部に戻って遠端測定を妨害す
るだけの十分な時間がないように、その長さが選択され
る。

【００３７】好ましい実施例においては、近端ウィンド
ウ５０は、かなりの遠端反射を有すると思われる遠端コ
ネクタ２０および区域２４を除く、パッチコード１４の
全区域を含み得る。同様に、遠端ウィンドウ５２は、か
なりの近端反射を有すると思われる近端コネクタ１６お
よび区域２２を除く、パッチコード１４の全区域を含む
ことが可能である。近端ウィンドウ５０は、近端コネク
タ１６、区域２２および関連するリンギングのみを網羅
する、短いものであってもよい。同様に、遠端ウィンド
ウ５２も、遠端コネクタ１０３、区域２４および関連す
るリンギングのみを網羅する、短いものであってもよ
い。好ましいインプリメンテーションにおいてテストさ
れ得るパッチコード１４の最小の長さは、およそ１メー
トルである。より短い長さのパッチコード１４をテスト
することも可能であるが、これは、クロストーク測定の
所望の精度レベル、ディジタイザ７９によってサンプリ
ングされるサンプルの時間解像度、刺激信号の利用可能
なパルス幅、ならびに、近端コネクタ１６、遠端コネク
タ２０、および区域２２と２４内の接続のクロストーク
による物理的なリンギングの時間、ならびに、信号評価
の質に依る。これらのパラメータは容易にトレードオフ
することが可能であり、それに応じてこの発明も妥当な
量の実験で修正され得る。

【００３８】図３は、この発明に従ったテスト用計測器
１０（図１に示される）の簡略化したブロック図であ
る。近端コネクタ１６は計測器用コネクタ１０２に結合
される。パッチコード１４内に含まれるワイヤペア１０
４ａ〜１０４ｄの各組は、業界の規約に従って、コネク
タ１０２に結合される。

【００３９】テスト用計測器１０が近端クロストーク測
定を適正に行なうために、どちらも典型的にモジュラ
（ＲＪ−４５）ジャックの形である計測器用コネクタ１
０２および遠隔ユニット用コネクタ１０３は、公称モジ
ュラ（ＲＪ−４５）プラグ（図示せず）に接続されたと
きに予め定められた量のクロストークを提供するよう
に、予め適格にされなくてはならない。このモジュラプ
ラグは、計測器用コネクタ１０２および遠隔ユニット用
コネクタ１０３の適格段階中に近端コネクタ１６と取替
えられると、既知のクロストーク特性を示す。

【００４０】近端コネクタのクロストークのディジタル
補償がないので、テスト計測器用コネクタ１０２および
遠隔ユニット用コネクタ１０３は、公称モジュラプラグ
に接続された際に予め定められた量のクロストークを提
供するよう、予め適格にされなくてはならない。３，６
−４，５の対の組合せのＮＥＸＴが、通常最悪のケース
であると考えられる。標準ＴＩＡ／ＥＩＡ−５６８−
Ａ、セクションＢ．５は、基準プラグを構築する手順に
ついての詳細な情報および、同プラグがそれだけでテス
トされる際のそのＮＥＸＴの要求を含む。

【００４１】計測器用コネクタ１０２を予め適格にする
目的のために、公称モジュラプラグは、３，６−４，５
の対の組合せでは、１００メガヘルツで４０．５ｄＢ±
０．５ｄＢを示すものとする。この公称モジュラプラグ
が計測器用コネクタ１０２に嵌め合わせられると、そう
して得られるＮＥＸＴは、同じ対の組合せでは、１００
メガヘルツで、４０．５ｄＢ±０．５ｄＢとなるはずで
ある。ＴＩＡ／ＥＩＡ−５６８−Ａ、セクションＢ．５
に記載されるよりも狭い範囲の許容公差およびより詳細
な手続から、より高い精度が得られる可能性がある。公
称ジャックからの時間応答と実際のテスト用計測器のジ
ャックからの時間応答との間の偏差を校正メモリ内に記
憶し、実際のパッチコードから測定された時間応答をこ
の偏差により修正することが可能である。しかしこの改
善は行なわなかった。なぜなら、計測器用コネクタ１０
２の性能を、上に示された公称値と受入れ可能に近似と
なるように、制御することが可能であったためである。
遠隔ユニット用コネクタ１０３は、実質的に同じ方法で
予め適格にされる。計測器用コネクタ１０２を予め適格
にするプロセスは、以下により詳細に述べられる、テス
ト用計測器１０の校正段階と同じものではないことが理
解されるであろう。

【００４２】ワイヤペア１０４ａ〜１０４ｄは、スイッ
チマトリックス７０にさらに結合される。スイッチマト
リックス７０は、ワイヤペア１０４ａ〜１０４ｄのうち
の１つをパルス発生器７２の出力に選択的に結合し、ワ
イヤペア１０４ａ〜１０４ｄのうちの別の１つをサンプ
ルホールド回路（Ｓ／Ｈ）７４の入力に選択的に結合す
る。サンプルホールド回路（Ｓ／Ｈ）７４は、制御入力
に信号を受信した時点で、入力に存在する電圧レベルを
捕らえる。各ワイヤペアは、本質的に平衡した伝送ライ
ンである。パルス発生器７２の出力およびＳ／Ｈ７４の
入力は、不平衡であるかまたは、この発明の好ましい実
施例においては接地を基準とするため、各ワイヤペアを
平衡した伝送ラインから不平衡の伝送ラインに変換する
ための変圧器（図示せず）を付加する必要がある。ワイ
ヤペア１０４ａ〜１０４ｄは、各ペアが単一の伝送ライ
ンを構成するために、単一のラインとして描かれてい
る。

【００４３】パルス発生器７２は、制御入力に信号を受
信した時点で、刺激パルスの形の刺激信号を送信する
が、これは狭幅方形パルスである。パルス発生器７２に
よって提供される刺激パルスは、対象となる周波数範囲
にわたって信号エネルギを提供するのに十分な、狭いパ
ルス幅を有する。好ましい実施例においては、パッチコ
ードをテストするために１メガヘルツから１００メガヘ
ルツの範囲の測定用刺激信号を提供するよう、５ナノセ
カンドのパルス幅が選択された。サンプルホールド回路
の出力は、アナログディジタル変換器（ＡＤＣ）７６の
入力に結合され、これは、制御入力に信号を受信した時
点で、Ｓ／Ｈ７４から受取った電圧レベルをディジタル
化する。ＡＤＣ７６の出力は、捕捉メモリ７８に結合さ
れ、これは、制御入力に信号を受信した時点で、そのデ
ィジタル測定値をディジタル時間記録として記憶する。
捕捉時間コントローラ８０は、Ｓ／Ｈ７４、ＡＤＣ７
６、およびパルス発生器７２の制御入力に結合される
が、これは、これらの制御入力のそれぞれに、適切な時
間に制御信号を連係して生成することにより、タイミン
グの誤りを最小限に抑えながら、高速の等価サンプリン
グを達成させるという、反復的ディジタルサンプリング
プロセスを容易にするためである。Ｓ／Ｈ７４、ＡＤＣ
７６、捕捉時間コントローラ８０および捕捉メモリ７８
は合わせて、ディジタイザ７９を含み、これは、実時間
サンプリング技術で容易に得られるものよりも、より高
い等価サンプリング速度を得るために、反復的逐次サン
プリングを使用して、受信されたパルス応答をディジタ
ル化する。

【００４４】この発明の好ましい実施例においては、デ
ィジタイザ７９の等価サンプリング速度は毎秒５００メ
ガサンプル、または逆に、毎ポイント２ナノセカンドの
時間解像度であり、刺激パルスは５ナノセカンドの最小
パルス幅を有する。その後の測定プロセスは、サンプル
ごとに２ナノセカンドの解像度で４，０９６ポイントの
時間記録を、およそ４メガヘルツの実サンプル速度で捕
捉メモリ７８内に集めるというものである。次いで、
４，０９６ポイントの離散的フーリエ変換が計算され
て、その時間記録の周波数領域の表現が得られる。

【００４５】マイクロプロセッサ８２は、全体の測定プ
ロセスを制御する。これは、スイッチマトリックス７０
の制御入力に結合されて、測定すべきそれぞれのワイヤ
ペアを選択し、かつ、捕捉時間コントローラ８０の制御
入力に結合されて、捕捉プロセスを制御する。マイクロ
プロセッサ８２はさらに、計測器用バス８４を介して、
ディスプレイ８６、キーパッド／ノブ８８、メモリ９
０、およびディジタル信号プロセッサ（ＤＳＰ）９２に
結合される。計測器用バス８４は並列のデータラインお
よびアドレスラインを含み、電子工学分野において周知
の態様で、デバイス間の通信を容易にする。捕捉メモリ
７８内に集められた時間記録は、メモリ９０に転送さ
れ、記憶されるかまたは、離散的フーリエ変換等のディ
ジタル操作がさらに行なわれる。

【００４６】離散的フーリエ変換関数を使用して時間記
録を周波数領域の表現に変換するために、専用信号処理
回路であるＤＳＰ９２がマイクロプロセッサ８２の代わ
りに使用されてもよい。ＤＳＰ９２は、高速フーリエ交
換を、汎用マイクロプロセッサよりも典型的により速
く、等価のクロック速度で行なう、市販の信号プロセッ
サ集積回路である。キーパッド／ノブ８８およびディス
プレイ８６は、計測器１０のユーザインタフェースを構
成する。メモリ９０は、ディジタル時間記録、周波数領
域の表現、および計測器の校正データを記憶するのに使
用され、電子工学分野で周知の技術を使用して、単一の
集積回路または多数の集積回路で構成され得る。

【００４７】図３の、テスト用計測器１０のためのブロ
ック図は、全体として、または部分的に、遠隔ユニット
１２にも当てはまる。遠隔ユニット１２は、このブロッ
ク図全体を含んで、テスト用計測器１０の機能を完全に
複製してもよい。代替案として、遠隔ユニットは、この
ブロック図のうち、測定を行なって時間記録を得るのに
不可欠な部分のみを含んでもよい。遠隔ユニット１２に
おけるこのように減じられた機能性は、さらなる処理が
テスト用計測器１０内で行なわれるのであれば、遠隔ユ
ニット用コネクタ１０３およびディジタイザ７９′、パ
ルス発生器７２′、ならびにスイッチマトリックス７
０′（図示せず）のみを含むことで、容易に達成され得
るが、ディジタイザ７９′によって集められた時間記録
をテスト用計測器１０に戻して結合する手段を、備えな
くてはならないであろう。遠隔ユニット１２はさらに、
パッチコード１４のテストを統合的に行なうために、遠
隔ユニット１２およびテスト用計測器１０のそれぞれの
測定のタイミングを定めて結果を共有するよう、テスト
用計測器１０と通信することが望ましい。好ましい実施
例において、テスト用計測器１０と遠隔ユニット１２と
の間のこの通信は、パッチコード１４を介して行なわれ
る。

【００４８】図４および図５は合わせて、この発明に従
ったテスト用計測器１０によって用いられる、全体的な
測定プロセスのフローチャートを含む。図４は、テスト
用計測器の校正段階を示す。これは、任意の伝送ライン
の対のための校正アーティファクトを挿入するステップ
と測定するステップ、および正規化データを得るステッ
プを含むが、正規化データはメモリ９２（図３に示され
る）内に記憶され得る。校正段階は、パルス発生器７２
によって生成されるテスト用信号の、ディジタイザ７９
によって測定される測定値を得るために、必要である。
図５は、測定段階を示し、これは、パッチコード１４の
近端ウィンドウにかかる近端パルス応答を測定するステ
ップと、所望の周波数範囲にわたるＮＥＸＴを計算する
ステップと、そのＮＥＸＴを予め定められた限界ライン
と比較するステップとを含む。より精度の高いＮＥＸＴ
測定値を得るために、近端パルス応答は、正規化データ
に対して正規化される。

【００４９】合成クロストーク応答を得るには、相当量
のデータ記憶および数学的操作を駆使する必要がある。
この発明では、主要な２種類のデータ記録、すなわち、
時間領域記録と周波数領域記録を用いる。周波数領域の
記録は、それらに等価の時間領域の記録にフーリエ変換
により関連付けられ、そのデータは、実数の成分および
虚数の成分を有する複素数の形である。時間領域の記録
は、虚数成分を含まず、実数のデータのみを含む。慣例
により、時間領域の記録は名称が小文字で付され、それ
に等価の周波数領域の記録は、同じ名称が大文字で付さ
れる。

【００５０】以下の表は、図４および図５で説明された
測定プロセスのステップに関連する、変数のすべてを要
約する。これらの変数の各々は、個々のデータ点が通
常、コンピュータ分野でよく知られている方法で指数を
使用してアクセスが可能な、配列データ構造として記憶
される、一連のデータを表わす。 ｎｏｒｍ…送信チャネルおよび受信チャネルが互いに接
続されている場合に得られる、校正パルス応答の時間記
録。ここで「ｎｏｒｍ」は、正規化データを表わす ＮＯＲＭ…ｎｏｒｍの周波数領域の表現であって、クロ
ストーク測定値を正規化するための０ｄＢの基準レベル
を表わす。ここで「ＮＯＲＭ」は、正規化データを表わ
す ｃｕｔ…送信チャネルがある伝送ラインに結合され、か
つ、受信チャネルが別の伝送ラインに結合された、ＬＡ
Ｎケーブルシステムのパルス応答の時間記録。ここで
「ｃｕｔ」は、被テストケーブルを表わす ＣＵＴ…ｃｕｔの周波数領域の表現。ここで「ＣＵＴ」
は、被テストケーブルを表わす ＮＣＲ…ＣＵＴ対ＮＯＲＭの比である、正規化されたク
ロストーク応答 ＰＣＮＸＴ…パッチコードの近端クロストーク応答。こ
れは、ＮＣＲをデシベルで表したものである ここで図４を参照して、この発明に従った測定プロセス
は、「開始」と表示されたステップ２００から始まる
が、ここでテスト用計測器１０（図３に示される）がま
ずスタートされ初期設定され得る。

【００５１】「貫通コネクタを挿入する」と表示された
ステップ２０２は、計測器の校正プロセスであり、ここ
で、パルス発生器７２によって生成された、送信ライン
（図３に示される）上の５ナノセカンド幅のパルスが、
貫通コネクタ（図示せず）を介して、受信ラインおよび
Ｓ／Ｈ７４に結合される。この貫通コネクタは、実質的
に無損失の、０デジベルの基準接続を有する。これは、
テスト用計測器１０の校正段階中にはコネクタ１６と置
換され、また、スイッチマトリックス７０の設定に対応
するよう選ばれた、ワイヤペアの選択された組合せ間の
直接の電気接続を構成する。校正段階は必要な際にの
み、典型的には、予め定められた校正日程の一部とし
て、年に一度だけ実行される。

【００５２】「貫通コネクタを測定する」と表示された
ステップ２０４で、テスト用計測器１０は、パルス発生
器７２（図３参照）によって生成されたパルスを測定し
て、正規化されたパルス応答時間記録を得る。４，０９
６ポイントの測定されたパルス応答記録を含む校正パル
ス応答時間記録は、「ｎｏｒｍ」の記号が付され、メモ
リ９０内に記憶される。各パルス応答時間記録は、配列
内に配列インデックスを介してアクセス可能な個別のデ
ータ点を有する、配列データ構造の形の時間記録として
記憶された、振幅データの記号表現である。

【００５３】「校正データを計算する」と表示されたス
テップ２０６で、校正パルス応答時間記録の周波数表現
が計算されるが、これは、ＤＳＰ９２（図３参照）また
は、その代わりにマイクロプロセッサ８２を使用して、
電子工学分野においてよく知られている方法で高速フー
リエ変換を使用して計算される。この発明の好ましい実
施例において、パルス応答記録の選択された長さは４０
９６ポイントである。これは、２の累乗であって、ＤＳ
Ｐ９２によって用いられる離散的フーリエ変換アルゴリ
ズムの効率的な一例である、高速フーリエ変換（ＦＦ
Ｔ）を容易にする。

【００５４】ＮＯＲＭ＝ＦＦＴ（ｎｏｒｍ） 大文字のＮＯＲＭは、計測器１０の校正データを表わ
す、校正パルス応答時間記録であるｎｏｒｍの、周波数
領域の表現である。ＮＯＲＭに含まれる校正データは、
周波数の関数として変化する複素数値である。この発明
の好ましい実施例においては、測定されるであろうツイ
ストペアのあらゆる組合せについて、校正データの組が
通常得られて、メモリ９０内に記憶される。

【００５５】「校正データをメモリ内にセーブする」と
表示されたステップ２０８で、校正データがメモリ９０
（図３参照）内に記憶される。ＤＳＰ９２は、実数およ
び虚数の成分からなる複素数を含むデータファイルを作
成し、これらがＮＯＲＭとして、メモリ９０内に配列デ
ータ構造として記憶される。校正データを得るためのス
テップ２０２、２０４、２０６、および２０８は、典型
的に、テスト用計測器１０の工場での校正として行なわ
れ、ＮＯＲＭデータは、メモリ９０内に半永久的に、次
の計測器校正が行なわれるまで、記憶される。この発明
の好ましい実施例における、工場での校正の典型的な周
期は、１２ヶ月である。

【００５６】ここで図５を参照して、測定段階は、「パ
ッチコードを測定する」と表示されたステップ２１０か
ら始まる。校正測定のためにステップ２０２〜２０８
（図４参照）で選ばれたワイヤペアに対応する、同じ選
択されたワイヤペアが、ステップ２１０の測定のために
選ばれる。ステップ２１０で、パッチコード１４は、コ
ネクタ１６を計測器用コネクタ１０２に嵌め合わせるこ
とで、テスト用計測器１０に結合される（図２参照）。
パッチコードの、第１のワイヤペアと第２のワイヤペア
との間の近端クロストークは、パルス発生器７２によっ
て第１のワイヤペアから第２のワイヤペア内に誘起され
て受取られる、刺激パルスの流れを反復的にサンプリン
グすることにより測定される。選択された時間間隔で刺
激パルスによって誘起されたこのパルス応答が次いで測
定され、捕捉メモリ７８内の時間記録の、適切な位置に
記憶される（図３参照）。好ましい実施例においては、
５ナノセカンド幅の刺激パルスが選ばれたが、これは、
この幅の刺激パルスが、所望される最小の長さのパッチ
コード１４の近端および遠端のパルス応答を分離するの
に必要な十分な時間解像度を提供するためである。パッ
チコード１４の完成されたパルス応答時間記録が、その
後メモリ９０内に、「被テストケーブル」を意味する
「ｃｕｔ」に対応する配列データ構造として記憶され
る。

【００５７】「近端パルス応答と遠端パルス応答を分離
する」と表示されたステップ２１２で、パッチコード１
４の近端ウィンドウ５０（図２参照）内の近端クロスト
ーク応答が遠端パルス応答から分離され、この遠端パル
ス応答は測定値から廃棄される。パッチコード１４の近
端クロストーク応答は、「ｃｕｔ」内に含まれるデータ
から容易に抽出が可能であるが、これは、ワイヤペアと
して表わされる伝送ラインの対に沿ったその位置がわか
っておりかつ一定であるためである。これに対して、遠
端パルス応答は、パッチコード１４の長さに従って変化
し、近端パルス応答との位相の関係は前もってわからな
い。この理由により、パッチコード１４の各端部におけ
るケーブルの接続に関連したＮＥＸＴを計算して仕上が
りの質を評価するのに必要な、関連するパルス応答を分
離するために、パッチコード１４の両端部におけるパル
ス応答を測定することが必要である。近端ウィンドウ５
２に従ったクロストークパルス応答の位置は、「ｃｕ
ｔ」内に記憶されたパルス応答データの配列インデック
スの、対応する範囲を使用して選択される。

【００５８】ここで図６を参照して、上に記載された、
近端パルス応答と遠端パルス応答の分離を図示するグラ
フが示される。４，０９６ポイントの全体の配列から部
分的に取られた、関連する部分におけるトレース３００
が示されているが、これは、パルス応答の時間記録「ｃ
ｕｔ」内の配列インデックス対振幅として表示される。
近端ウィンドウ５０に対応する区域３０２が示される。
パッチコード１４の遠端パルス応答に対応するトレース
３０４もまた、トレース３００上に重ね合わせられて示
されている。パルス応答時間記録「ｃｕｔ」内の、近端
パルス応答に対する遠端パルス応答の位置は、パッチコ
ード１４の長さに応じて変化する。

【００５９】この発明に従ってテスト可能なパッチコー
ド１４の最小長さは、遠端パルス応答に対応するトレー
ス３０４が、近端ウィンドウ５０に対応する区域３０２
内に重複する量によって決まるが、この量が許容可能で
なおかつ所望のレベルの測定精度を維持できるものでな
くてはならない。近端パルス応答と遠端パルス応答との
間の十分な分離を確実にするには、３つの重要なパラメ
ータが計上されかつ互いにトレードオフされなくてはな
らない。これら３つのパラメータとは：（ａ）パッチコ
ード１４の最小長さ（図１参照）、（ｂ）テスト信号の
パルス幅、および、（ｃ）近端ウィンドウ５０に対応す
る区域３０２の長さである。この発明の好ましい実施例
において、このパッチコード１４の最小長さはおよそ１
メートルである。

【００６０】下方のトレース３０６は、区域３０２の外
側に残ったデータポイントをゼロにセットし、したがっ
てトレース３０４および遠端パルス応答を廃棄した後
の、区域３０２に対応する近端パルス応答の切捨て推定
値を示す。トレース３００内に見られる、近端パルス応
答からの区域３０２外のいくらかの情報は、遠端パルス
応答とともに消去され、そのために、精度がいくぶん損
なわれる。したがって、区域３０２のサイズおよびパッ
チコード１４の最小長さが、仕上がりの測定の精度のレ
ベルを決定する。通常、仕上がりの質を決定するための
最適な量の精度は、（図２に示される）区域２２および
近端コネクタ１６のパルス応答に最もよく合致する区域
３０２が選ばれた場合に得られる。

【００６１】再び図５を参照して、「ＮＥＸＴを計算す
る」と表示されたステップ２１４で、時間記録ｃｕｔは
今や、記載されたように獲得された近端クロストークの
パルス応答のみを含む。ｃｕｔの周波数領域の表現は、
ＤＳＰ９２（図３参照）を使用して計算される： ＣＵＴ＝ＦＦＴ（ｃｕｔ） 各計算の結果は、ＣＵＴとしてメモリ９０内に記憶され
る。ＣＵＴは、近端パルス応答の時間記録の、近端の周
波数領域の表現を含む。遠端パルス応答の時間記録の、
遠端の周波数領域の表現もまた、同様に得ることが可能
である。データファイルＣＵＴ内のポイントの周波数解
像度は、以下の公式を使用して導き出される： 周波数解像度（ヘルツ）＝（有効サンプル速度／時間記録の長さ） ＝５００メガヘルツ／４，０９６ポイント ＝１２２．０７キロヘルツ／ポイント ＮＣＲによって表わされる正規化されたクロストーク応
答は、以下のように計算される： ＮＣＲ＝ＣＵＴ／ＮＯＲＭ ＮＯＲＭとは、ステップ２０２〜２０８からなる校正段
階中に得られた、正規化データである。ＣＵＴとは、ス
テップ２１０〜２１４で得られた、近端クロストーク応
答の周波数表現である。この応答ＣＵＴを刺激ＮＯＲＭ
によって正規化することにより、パッチコード１４の正
規化されたクロストーク応答ＮＣＲが導き出され、これ
は、ＣＵＴにわたる測定の精度を高め、かつ、比の形の
測定値を提供する。最後に、デジベルで示される、パッ
チコードの近端クロストークパルス応答ＰＣＮＸＴが、
以下のように計算される： ＰＣＮＸＴ＝２０ ｌｏｇ｜ＮＣＲ｜ 「ＮＥＸＴを仕様限界と比較する」と表示されたステッ
プ２１６で、ＰＣＮＸＴは、この場合１メガヘルツから
１００メガヘルツの、全体の周波数範囲にわたる、受入
れられる合格−不合格限界として計算され得る、仕様限
界ラインと比較される。ここで、比較の結果に応答し
て、合格−不合格の決定がなされる。ＰＣＮＸＴ内にそ
の対応する仕様限界を上回るポイントがあれば、パッチ
コード１４は「不合格」と見なされる。

【００６２】図７は、ステップ２１２で遠端パルス応答
を取除いた後に、ステップ２１４で図６の時間記録から
計算された、ＮＥＸＴ応答を周波数にわたって示したグ
ラフである。ステップ２１６で行なわれる比較におい
て、近端クロストーク応答ＰＣＮＸＴに対応するトレー
ス３０８が、１メガヘルツから１００メガヘルツの周波
数範囲にわたって、ｄＢ表示のＮＥＸＴ損失として作図
される。限界ライン３１０もまた作図されるが、これ
は、近端ウィンドウ５２にわたるケーブルおよびコネク
タの組合せの許容可能なクロストークの最大値に基づい
て導かれた値に対応する。

【００６３】「各対についておよび遠端について繰返
す」と表示されたステップ２１８で、ワイヤペア１０４
ａ〜１０４ｄの、パッチコードの近端における他の所望
の組合せのクロストークを、およびパッチコードの遠端
におけるクロストークをテストするために、ステップ２
１０〜２１６を繰返すかどうかの決定がなされる。遠端
は、テスト用計測器１０内でパッチコード１４の端部を
逆転させるか、または、ステップ２００〜２１６に従っ
てテスト用計測器１０と実質的に同じ方法で独自の測定
を行なう、遠隔ユニット１２を使用するかのどちらか
で、測定される。このようにして、パッチコード１４の
近端および遠端における、すべての所望のワイヤペアの
組合せについて、一連の合格／不合格決定がなされる。

【００６４】「合格／不合格情報をユーザに伝える」と
表示されたステップ２２０で、ステップ２１８の合格／
不合格決定の結果が、計測器１０のディスプレイ８６
（図３参照）を介して、ユーザに伝えられる。簡単な合
格もしくは不合格の表示に加えて、またはその代わり
に、メモリ９０内に含まれるデータを使用した、パッチ
コード１４のクロストーク応答の図形表示が示されても
よい。

【００６５】「終了」と表示されたステップ２２２で、
測定のプロセスが終了する。計測器の制御の下、測定プ
ロセスは自動的に「開始」ステップ２００（図４参照）
に戻って、新しい測定プロセスを開始して継続的に測定
を繰返すか、または、単に停止してさらなる命令を待つ
ことが可能である。

【００６６】この発明の上に記載した好ましい実施例の
詳細に、この発明の精神から離れることなく、より広い
局面で、多くの変更がなされ得ることが当業者には明ら
かであろう。たとえば、この発明は、伝送ライン間にク
ロストークを引起こす他の顕著な原因が近端ウィンドウ
５０の範囲外にある限り、いかなる長さのいかなる所与
の伝送ラインの対についても、その対の間の近端におけ
るコネクタおよびケーブルの組合せのクロストークを測
定するのに用いることが可能である。したがって、この
発明の範囲は、前掲の請求項によって決定されるものと
する。

【図面の簡単な説明】

【図１】ＬＡＮパッチコードの近端および遠端にそれぞ
れ結合された、ＬＡＮケーブルのテスト用計測器および
遠隔ユニットを示した図である。

【図２】この発明に従った、ＬＡＮケーブルのテスト用
計測器および遠隔ユニットによってテストされる、図１
のＬＡＮパッチコードの概略図である。

【図３】この発明に従った、図１のＬＡＮケーブルのテ
スト用計測器の簡素化されたブロック図である。

【図４】この発明に従った、図１のＬＡＮケーブルのテ
スト用計測器によって用いられる、全体の測定プロセス
のうちの一部を示したフローチャート図である。

【図５】この発明に従った、図１のＬＡＮケーブルのテ
スト用計測器によって用いられる、測定プロセスの残り
の部分を示したフローチャート図である。

【図６】この発明に従った、近端パルス応答および遠端
パルス応答の分離を示したグラフ図である。

【図７】遠端パルス応答を分離した後の、図６の時間記
録から計算される、ＬＡＮパッチコードの周波数にわた
るＮＥＸＴ応答を示すグラフ図である。

【符号の説明】

１０ テスト用計測器 １４ パッチコード １６ 近端コネクタ １８ ケーブル ７２ パルス発生器 ７９ ディジタイザ ８２ マイクロプロセッサ １０２ 計測器用コネクタ

Claims (26)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 パッチコード内の近端クロストーク応答
   を測定するためのテスト用計測器であって、 （ａ） 前記パッチコードの近端コネクタを受取るため
   に結合された計測器用コネクタと、 （ｂ） 前記パッチコード内の選択された対の伝送ライ
   ンの一方内に刺激パルスを生成するためのパルス発生器
   と、 （ｃ） 前記近端コネクタに結合されて、前記選択され
   た対の伝送ラインの別の一方内に前記刺激パルスによっ
   て誘起されたクロストーク信号を受取って、前記クロス
   トーク信号の近端パルス応答時間記録を作成するための
   ディジタイザと、 （ｄ） 前記ディジタイザに結合されて、前記近端パル
   ス応答時間記録を受取り、前記近端クロストーク応答を
   遠端クロストーク応答から分離し、かつ、近端の周波数
   領域の表現を計算するためのマイクロプロセッサとを含
   む、テスト用計測器。
2. 【請求項２】 前記近端の周波数領域の表現は、校正デ
   ータに対して正規化される、請求項１に記載のテスト用
   計測器。
3. 【請求項３】 前記マイクロプロセッサは、前記近端の
   周波数領域の表現を限界ラインと比較することにより、
   合格および不合格のうちの一方の決定を下す、請求項２
   に記載のテスト用計測器。
4. 【請求項４】 前記近端クロストーク応答は、近端ウィ
   ンドウに従って、前記遠端クロストーク応答から分離さ
   れる、請求項１に記載のテスト用計測器。
5. 【請求項５】 前記近端ウィンドウは、前記パッチコー
   ドの、前記遠端クロストーク応答を有する区域を排除す
   るよう選択される、請求項４に記載のテスト用計測器。
6. 【請求項６】 遠隔ユニットをさらに含み、前記遠隔ユ
   ニットは、 （ａ） 前記パッチコードの遠端コネクタを受取るため
   に結合された第２の計測器用コネクタと、 （ｂ） 前記第２の計測器用コネクタに結合されて、前
   記パッチコード内の選択された対の伝送ラインのうちの
   前記一方に、前記テスト用計測器とは異なる時間に前記
   刺激パルスを生成するための第２のパルス発生器と、 （ｃ） 前記第２の計測器用コネクタに結合されて、前
   記選択された対の伝送ラインの前記別の一方から前記ク
   ロストーク信号を受取り、かつ、前記クロストーク信号
   の遠端パルス応答時間記録を作成するための第２のディ
   ジタイザとを含み、前記遠端パルス応答時間記録は、前
   記遠端クロストーク応答を前記近端クロストークから分
   離して遠端の周波数領域の表現を計算するために前記マ
   イクロプロセッサに結合される、請求項１に記載のテス
   ト用計測器。
7. 【請求項７】 前記遠端の周波数領域の表現は、前記校
   正データに対して正規化される、請求項６に記載のテス
   ト用計測器。
8. 【請求項８】 前記マイクロプロセッサは、前記第２の
   周波数領域の表現を前記限界ラインと比較することによ
   り、合格および不合格のいずれかの第２の決定を下す、
   請求項７に記載のテスト用計測器。
9. 【請求項９】 前記マイクロプロセッサに結合されて、
   前記決定および前記第２の決定を視覚的に表示するため
   のディスプレイをさらに含む、請求項８に記載のテスト
   用計測器。
10. 【請求項１０】 前記遠端クロストーク応答は、遠端ウ
    ィンドウに従って前記近端クロストーク応答から分離さ
    れる、請求項６に記載のテスト用計測器。
11. 【請求項１１】 前記遠端ウィンドウは、前記パッチコ
    ードの、前記近端クロストーク応答を有する区域を排除
    するように選択される、請求項１０に記載のテスト用計
    測器。
12. 【請求項１２】 前記計測器用コネクタは、許容公差の
    値の組内の、予め定められた最大レベルのクロストーク
    を生成するよう予め適格にされる、請求項１に記載のテ
    スト用計測器。
13. 【請求項１３】 パッチコード内の近端クロストーク応
    答を測定するための方法であって、 （ａ） 前記パッチコードの近端で、１対の伝送ライン
    の一方内に刺激パルスを生成するステップと、 （ｂ） 前記パッチコードの前記近端で前記刺激パルス
    によって前記対の伝送ラインの別の一方内に誘起された
    クロストーク信号をディジタル化して、近端パルス応答
    時間記録を作成するステップと、 （ｃ） 前記近端パルス応答時間記録内で、前記近端ク
    ロストーク応答を遠端クロストーク応答から分離するス
    テップと、 （ｄ） 前記近端パルス応答時間記録の近端の周波数領
    域の表現を計算するステップとを含む、測定方法。
14. 【請求項１４】 近端ウィンドウに従って、前記近端ク
    ロストーク応答を前記遠端クロストーク応答から分離す
    るステップをさらに含む、請求項１３に記載の測定方
    法。
15. 【請求項１５】 前記パッチコードの、遠端クロストー
    ク応答を有する区域を排除するように前記近端ウィンド
    ウを選択するステップをさらに含む、請求項１４に記載
    の測定方法。
16. 【請求項１６】 （ａ） 前記パッチコードの遠端で、
    前記対の伝送ラインの前記一方内に前記刺激パルスを生
    成するステップと、 （ｂ） 前記刺激信号に応答して、前記パッチコードの
    前記遠端で前記刺激パルスによって前記対の伝送ライン
    の前記別の一方内に誘起されたクロストーク信号をディ
    ジタル化して、遠端パルス応答時間記録を作成するステ
    ップと、 （ｃ） 前記遠端パルス応答時間記録内で、前記遠端ク
    ロストーク応答を前記近端クロストーク応答から分離す
    るステップと、 （ｄ） 前記遠端パルス応答時間記録の遠端の周波数領
    域の表現を計算するステップとをさらに含む、請求項１
    ３に記載の測定方法。
17. 【請求項１７】 遠端ウィンドウに従って、前記遠端ク
    ロストーク応答を前記近端クロストーク応答から分離す
    るステップをさらに含む、請求項１６に記載の測定方
    法。
18. 【請求項１８】 前記パッチコードの、前記近端クロス
    トーク応答を有する区域を排除するように前記遠端ウィ
    ンドウを選択するステップをさらに含む、請求項１７に
    記載の測定方法。
19. 【請求項１９】 前記近端の周波数領域の表現および前
    記遠端の周波数領域の表現を限界ラインに対して比較す
    ることにより、合格および不合格のうちの一方の決定を
    下すステップをさらに含む、請求項１６に記載の測定方
    法。
20. 【請求項２０】 前記決定を視覚的に表示するステップ
    をさらに含む、請求項１９に記載の測定方法。
21. 【請求項２１】 パッチコードのクロストーク性能をテ
    ストするための方法であって、 （ａ） 前記パッチコードの近端で、１対の伝送ライン
    の一方内に刺激パルスを生成するステップと、 （ｂ） 前記パッチコードの前記近端で、前記刺激パル
    スによって前記対の伝送ラインの別の一方内に誘起され
    たクロストーク信号をディジタル化して、近端パルス応
    答時間記録を作成するステップと、 （ｃ） 前記パッチコードの遠端で、前記対の伝送ライ
    ンの前記一方内に前記刺激パルスを生成するステップ
    と、 （ｄ） 前記パッチコードの前記遠端で、前記刺激パル
    スによって前記対の伝送ラインの前記別の一方内に誘起
    されたクロストーク信号をディジタル化して、遠端パル
    ス応答時間記録を作成するステップと、 （ｅ） 前記近端パルス応答時間記録内でおよび前記遠
    端パルス応答時間記録内で、前記近端クロストーク応答
    を遠端クロストーク応答から分離するステップと、 （ｆ） 前記近端パルス応答時間記録の近端の周波数領
    域の表現および、前記遠端パルス応答時間記録の遠端の
    周波数領域の表現を計算するステップとを含む、テスト
    方法。
22. 【請求項２２】 遠端ウィンドウに従って、前記遠端ク
    ロストーク応答を前記近端クロストーク応答から分離す
    るステップと、 近端ウィンドウに従って、前記近端クロストーク応答を
    前記遠端クロストーク応答からさらに分離するステップ
    とをさらに含む、請求項２１に記載のテスト方法。
23. 【請求項２３】 前記パッチコードの、前記近端クロス
    トーク応答を有する区域を排除するように前記遠端ウィ
    ンドウを選択するステップと、 前記パッチコードの、前記遠端クロストーク応答を有す
    る区域を排除するように前記近端ウィンドウをさらに選
    択するステップとをさらに含む、請求項２２に記載のテ
    スト方法。
24. 【請求項２４】 前記近端の周波数領域の表現および前
    記遠端の周波数領域の表現は、校正データに対して正規
    化される、請求項２１に記載のテスト方法。
25. 【請求項２５】 前記近端の周波数領域の表現および前
    記遠端の周波数領域の表現を限界ラインと比較すること
    により、合格および不合格のうちの１つである決定を下
    すステップをさらに含む、請求項２１に記載のテスト方
    法。
26. 【請求項２６】 前記決定を視覚的に表示するステップ
    をさらに含む、請求項２５に記載のテスト方法。