TWI498781B - 一種觸控裝置、觸控面板及其控制方法 - Google Patents

一種觸控裝置、觸控面板及其控制方法 Download PDF

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TWI498781B
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Mingchi Weng
Yunchih Chen
Hunghsiang Chen
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Chunghwa Picture Tubes Ltd
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Description

一種觸控裝置、觸控面板及其控制方法
本發明係有關於一種面板及其控制方法,且特別是有關於一種觸控裝置、觸控面板及其控制方法。
觸控式面板隸屬於人機介面,由於其直覺式的操作模式,使得人與機器之間的溝通更加便利,因此,近年來逐漸蓬勃發展。
單面多層結構為一般常見的觸控式面板種類,然而,由於其採用多層膜結構,因此,當單面多層結構應用於顯示產品時,將導致透光率下降。
此外,即便採用單面單層結構,並將其應用於顯示產品中,然而,一般單面單層結構分區偵測的方式,會導致多指觸控時,無法有效判別真實之手指觸碰位置。
由此可見,上述現有的方式,顯然仍存在不便與缺陷,而有待改進。為了解決上述問題,相關領域莫不費盡心思來謀求解決之道,但長久以來仍未發展出適當的解決方案。
本發明內容之一技術態樣係關於一種觸控面板。觸控面板包含基板以及第一電極陣列。第一電極陣列設置於基板上,並包含一第一觸控區域以及一第二觸控區域。第一電極陣列更包含第一電極、第二電極、第三電極以及第四電極。於結構上,第一電極設置於第一觸控區域內;第二電極設置於第一觸控區域內,並與第一電極相對應設置;第三電極設置於第二觸控區域內;第四電極設置於第二觸控區域內,並與第三電極相對應設置。此外,第一電極至第四電極皆設置於同一層,第一電極與第四電極彼此交錯,且第一電極電性耦接於第四電極。
根據本發明一實施例,前述第一、第二、第三及第四電極之形狀為一梯形。
根據本發明另一實施例,前述第一電極之梯形的上底與下底中較長者,與第二電極之梯形的上底與下底中較短者設置於同一側。
根據本發明再一實施例,前述第三電極之梯形的上底與下底中較長者,與第四電極之梯形的上底與下底中較短者設置於同一側。
根據本發明又一實施例,前述觸控面板更包含第二電極陣列。第二電極陣列設置於基板上,並包含一第三觸控區域以及一第四觸控區域。第二電極陣列更包含第五電極、第六電極、第七電極以及第八電極。第五電極設置於第三觸控區域內;第六電極設置於第三觸控區域內,並與 第五電極相對應設置;第七電極設置於第四觸控區域內;第八電極設置於第四觸控區域內,並與第七電極相對應設置。第五電極至第八電極皆設置於同一層,第六電極與第七電極彼此交錯,且第六電極電性耦接於第七電極。
為達上述目的,本發明內容之另一技術態樣係關於一種觸控裝置。觸控裝置包含處理器、基板以及電極陣列。電極陣列設置於基板上,並包含一第一觸控區域以及一第二觸控區域。前述電極陣列更包含第一電極、第二電極、第三電極以及第四電極。於結構上,第一電極設置於第一觸控區域內,並透過一第一線路電性耦接於處理器;第二電極設置於第一觸控區域內,並與第一電極相對應設置,且透過一第二線路電性耦接於處理器;第三電極設置於第二觸控區域內,並透過一第三線路電性耦接於處理器;第四電極設置於第二觸控區域內,並與第三電極相對應設置;第一電極至第四電極皆設置於同一層,第一電極與第四電極彼此交錯,且第一電極電性耦接於第四電極。於操作上,處理器循序掃描第一電極、第二電極以及第三電極,當處理器掃描第一電極時,對第二電極與第三電極進行偵測,當處理器掃描第二電極時,對第一電極及該第四電極進行偵測,當處理器掃描第三電極時,對第一電極及第四電極進行偵測。
根據本發明一實施例,當處理器掃描第一電極,且一觸碰事件發生於第一觸控區域時,第二電極偵測觸碰事件所產生的觸碰面積,並根據觸碰面積而相應地輸出一觸 碰信號至處理器。
根據本發明另一實施例,當處理器掃描第一電極,且一觸碰事件發生於第二觸控區域時,第三電極偵測觸碰事件所產生的觸碰面積,並根據觸碰面積而相應地輸出一觸碰信號至處理器。
根據本發明再一實施例,當處理器掃描第一電極,且一觸碰事件同時發生於第一觸控區域與第二觸控區域時,第二電極與第三電極各自偵測觸碰事件所產生的觸碰面積,並根據該些觸碰面積分別輸出一觸碰信號至處理器。
根據本發明又一實施例,當處理器掃描第二電極,且一觸碰事件發生於第一觸控區域時,第一電極偵測觸碰事件所產生的觸碰面積,並根據觸碰面積而相應地輸出一觸碰信號至處理器。
根據本發明另一實施例,當處理器掃描第三電極,且一觸碰事件發生於第二觸控區域時,第一電極透過第四電極偵測觸碰事件所產生的觸碰面積,並根據觸碰面積而相應地輸出一觸碰信號至處理器。
根據本發明再一實施例,前述第一、第二、第三及第四電極之形狀為一梯形。
根據本發明又一實施例,當一觸碰事件沿著該些電極其中之一的梯形之上底至下底而發生時,觸碰事件所產生的一觸碰面積隨之變化,該些電極其中之一會根據觸碰面積而相應地輸出一觸碰信號至處理器。
根據本發明另一實施例,當該些電極其中之一作為 一訊號電極時,則該些電極其中另一作為一偵測電極,當該些電極其中之一作為偵測電極時,則該些電極其中另一作為訊號電極。
為達上述目的,本發明內容之又一技術態樣係關於一種觸控面板的控制方法,應用於上述觸控面板中。前述控制方法包含以下步驟:藉由一處理器循序掃描第一電極、第二電極以及第三電極;當處理器掃描第一電極時,對第二電極與第三電極進行偵測;當處理器掃描第二電極時,對第一電極及第四電極進行偵測;以及當處理器掃描第三電極時,對第一電極及第四電極進行偵測。
因此,根據本發明之技術內容,本發明實施例藉由提供一種觸控裝置、觸控面板及其控制方法,藉以改善單面多層結構中所存在製程困難以及光線穿透率低的問題,並可改善採用單面單層結構分區偵測的方式,會導致多指觸控時,無法有效判別真實之手指觸碰位置的問題。
100‧‧‧觸控裝置
146‧‧‧第七電極
110‧‧‧處理器
120‧‧‧基板
130‧‧‧第一電極陣列
131‧‧‧第一觸控區域
132‧‧‧第一電極
134‧‧‧第二電極
135‧‧‧第二觸控區域
136‧‧‧第三電極
138‧‧‧第四電極
140‧‧‧第二電極陣列
141‧‧‧第三觸控區域
142‧‧‧第五電極
144‧‧‧第六電極
145‧‧‧第四觸控區域
148‧‧‧第八電極
150‧‧‧第三電極陣列
160‧‧‧第四電極陣列
400‧‧‧觸控面板之控制方法
410~440‧‧‧步驟
A1 ~AN ‧‧‧線路
B1 ~BN ‧‧‧線路
C‧‧‧線路
D1 ~DN ‧‧‧線路
E1 ~EN ‧‧‧線路
F‧‧‧線路
A、B‧‧‧觸碰點
A’、B’‧‧‧觸碰面積
甲、乙‧‧‧觸碰信號
為讓本發明之上述和其他目的、特徵、優點與實施例能更明顯易懂,所附圖式之說明如下:第1圖係繪示依照本發明一實施例的一種觸控裝置之 示意圖。
第2圖係繪示依照本發明第1圖的一種電極陣列之示意圖。
第3圖係繪示依照本發明第1圖的一種電極陣列示意圖。
第4圖係繪示依照本發明另一實施方式的一種觸控面板之控制方法流程圖。
第1圖係依照本發明一實施例繪示一種觸控裝置100的示意圖。如圖所示,觸控裝置100包含處理器110、基板120以及設置於基板120上的電極陣列(例如:第一電極陣列130與第二電極陣列140等)。在此需說明的是,觸控面板為觸控裝置100未包含處理器110之部分。
由於本發明以電極陣列作為一個基本的感應單元,因此,將先行介紹單一電極陣列的結構及其感應方式,以使本發明之觸控裝置100更易於理解。
首先,將介紹電極陣列的基本結構,請參照第2圖,其係繪示依照本發明第1圖的一種電極陣列之示意圖。以第1圖中的第一電極陣列130為例,第一電極陣列130設置於基板120(圖中未示)上,其可被劃分成第一觸控區域131以及第二觸控區域135。此外,第一電極陣列130包含第一電極132、第二電極134、第三電極136以及第四電極138。於結構上,第一電極132與第二電極134皆設置於第一觸控區域131內,第二電極134與第一電極132相 對應設置,而第三電極136與第四電極138皆設置於第二觸控區域135內,第四電極138與第三電極136相對應設置。
再者,由於第一電極132、第二電極134、第三電極136及第四電極138皆設置於同一層,因此,相對於單面多層膜結構,本案之透光率較佳。另外,由圖2中得以看出第一電極132與第四電極138彼此交錯,且第一電極132電性耦接於第四電極138。
在一實施例中,第一電極132、第二電極134、第三電極136及第四電極138之形狀可為梯形,如此,得以避免前述電極被設置成三角形時,由於三角形尖端面積太小,導致觸碰事件發生於三角形尖端時,接觸面積不足,而影響偵測正確性的問題。
在一實施例中,如第2圖所示,第一電極132之梯形的上底與下底中較長者(例如第一電極132之右側),與第二電極134之梯形的上底與下底中較短者(例如第二電極134之右側)設置於同一側。相對應地,第一電極132之梯形的上底與下底中較短者(例如第一電極132之左側),與第二電極134之梯形的上底與下底中較長者(例如第二電極134之左側)設置於同一側
在另一實施例中,第三電極136之梯形的上底與下底中較長者(例如第三電極136之左側),與第四電極138之梯形的上底與下底中較短者(例如第四電極138之左側)設置於同一側。相對應地,第三電極136之梯形的上底與 下底中較短者(例如第三電極136之右側),與第四電極138之梯形的上底與下底中較長者(例如第四電極138之右側)設置於同一側。
在一實施例中,請參考第1圖,觸控面板包含第一電極陣列130以及第二電極陣列140。第二電極陣列140設置於基板120上,其可劃分為第三觸控區域141以及第四觸控區域145。此外,第二電極陣列140包含第五電極142、第六電極144、第七電極146以及第八電極148。於結構上,第五電極142與第六電極144皆設置於第三觸控區域141內,第六電極144與第五電極142相對應設置,而第七電極146與第八電極148皆設置於第四觸控區域145內,第八電極148與第七電極146相對應設置。
如此一來,由於觸控面板包含第一電極陣列130以及第二電極陣列140,亦即觸控面板包含多個感應單元,且每一感應單元內皆包含至少四個電極,因而當多指觸控時,本發明之觸控面板結構可有效判別多指觸控產生的位置,而得以改善採用一般單面單層結構分區偵測的方式,會導致多指觸控時,無法有效判別真實之手指觸碰位置的問題。
此外,第一電極132、第二電極134、第三電極136、第四電極138、第五電極142、第六電極144、第七電極146與第八電極148皆設置於同一層。另外,由第1圖中得以看出第六電極144與第七電極146彼此交錯,且第六電極144電性耦接於第七電極146。
接下來,將介紹電極陣列的感應方式。請參閱第1圖,第一電極132透過第一線路A1 電性耦接於處理器110,第二電極134透過第二線路B1 電性耦接於處理器110,第三電極136透過第三線路C電性耦接於處理器110,由於第四電極138電性耦接於第一電極132,因此,第四電極138可經由第一電極132透過第一線路A1 電性耦接於處理器110。
此外,由第1圖可以看出觸控裝置100更包含第三電極陣列150,其電極配置相似於第一電極陣列130,第三電極陣列150係透過線路A2 、B2 及C電性耦接於處理器110,上述觸控裝置100之電極陣列的數量可依照實際需求相對應地設置,如第1圖所示,觸控裝置100可配置N個相似於第一電極陣列130的電極陣列,而可透過線路A1 ~AN 、B2 ~BN 及C電性耦接於處理器110。
再者,由第1圖可以看出觸控裝置100更包含第四電極陣列160,其電極配置相似於第二電極陣列140,上述觸控裝置100之電極陣列的數量可依照實際需求相對應地設置,如第1圖所示,觸控裝置100可配置N個似於第二電極陣列140的電極陣列,而可透過線路D1 ~DN 、E2 ~EN 及F電性耦接於處理器110。
另外,由第1圖可以看出第一電極陣列130中的第一電極132與第四電極138電性耦接,而第二電極陣列140中則是由第六電極142對稱地與第七電極146電性耦接,這是基於面板中走線不能過多,而如此相對稱地配置第一 電極陣列130與第二電極陣列140中之電極,由上述配置,可將第一電極陣列130、第三電極陣列150等之第三電極均透過單一條線路C,而電性耦接於處理器110,此外,可將第二電極陣列140、第四電極陣列160等之第五電極均透過單一條線路F,而電性耦接於處理器110。
於操作上,處理器110透過第一線路A1 、第二線路B1 以及第三線路C以循序掃描第一電極132、第二電極134以及第三電極136。當處理器110掃描第一電極132時,對第二電極134與第三電極136進行偵測;當處理器110掃描第二電極134時,對第一電極132及第四電極138進行偵測,當處理器110掃描第三電極136時,對第一電極132及第四電極138進行偵測。藉由處理器110循序掃描以及透過前述電極相對應地進行偵測,觸控裝置100得以對單指或多指觸碰事件進行偵測,並取得觸碰事件產生之位置,以下將詳細介紹單指或多指觸碰事件發生之感應狀況。
當處理器110掃描第一電極132,且一觸碰事件發生於第一觸控區域131時,第二電極134偵測觸碰事件所產生的觸碰面積,並根據觸碰面積而相應地輸出一觸碰信號至處理器110,處理器110即可根據觸碰信號計算出觸碰事件發生的位置。
當處理器110掃描第一電極132,且一觸碰事件發生於第二觸控區域135時,第三電極136偵測觸碰事件所產生的觸碰面積,並根據觸碰面積而相應地輸出一觸碰信號至處理器,處理器110即可根據觸碰信號計算出觸碰事 件發生的位置。
當處理器110掃描第一電極132,且一觸碰事件同時發生於第一觸控區域131與第二觸控區域135時,第二電極134與第三電極136各自偵測觸碰事件所產生的觸碰面積,並根據些觸碰面積分別輸出一觸碰信號至處理器110,處理器110即可根據觸碰信號計算出觸碰事件發生的位置。
當處理器110掃描第二電極134,且一觸碰事件發生於第一觸控區域131時,第一電極132偵測觸碰事件所產生的觸碰面積,並根據觸碰面積而相應地輸出一觸碰信號至處理器110,處理器110即可根據觸碰信號計算出觸碰事件發生的位置。
當處理器110掃描第三電極136,且一觸碰事件發生於第二觸控區域135時,第一電極132透過第四電極138偵測觸碰事件所產生的觸碰面積,並根據觸碰面積而相應地輸出一觸碰信號至處理器110,處理器110即可根據觸碰信號計算出觸碰事件發生的位置。
由上述各種狀況統計結果可知,無論於觸控裝置100上發生單指或多指觸碰事件,觸控裝置100均得以對單指或多指觸碰事件進行偵測,並取得觸碰事件產生之位置。
在一實施例中,當處理器110接收到由上述電極傳送回來的觸碰信號時,處理器110處於偵測模式,用以計算觸碰事件發生的位置,而當處理器110未接收到由上述電極傳送回來的觸碰信號時,處理器110處於掃描模式, 如此,得進一步節省電力。
此外,請看到第2圖,第一至第八電極132~148的長度L與寬度W均不超過約0.5公分,因此,上述第一至第四觸控區域131、135、141、148的長度L與寬度W亦不超過約0.5公分,而能避免兩根手指同時觸碰同一觸控區域的狀況,提升觸控裝置100的精確度。
在一實施例中,當一觸碰事件沿著前述電極其中之一的梯形之上底至下底而發生時,觸碰事件所產生的一觸碰面積隨之變化,前述電極之間的電容亦隨之變化,前述電極其中之一會根據觸碰面積而相應地輸出一觸碰信號至處理器110,處理器110可根據觸碰信號的變化而計算得知觸碰事件產生的位置。舉例而言,請看到第3圖,其係繪示依照本發明第1圖的一種電極陣列之示意圖,當觸碰事件發生於電極之A點時,觸碰面積為A’,電極會根據觸碰面積A’而相應地輸出觸碰信號甲至處理器110,處理器110可根據觸碰信號甲而計算得知觸碰事件產生於A點,此外,當觸碰事件發生於電極之B點時,觸碰面積為B’,電極會根據觸碰面積B’而相應地輸出觸碰信號乙至處理器110,處理器110可根據觸碰信號乙而計算得知觸碰事件產生於B點。
在一實施例中,當前述電極其中之一(例如第一電極132)作為訊號電極時,則前述電極其中另一(例如第二電極134)作為偵測電極,當前述電極其中之一(例如第一電極132)作為偵測電極時,則該些電極其中另一(例如第二電極 134)作為訊號電極,亦即觸控裝置100上的訊號源與偵測點可進行互換,透過上述訊號源與偵測點的互換,反覆對偵測觸控事件進行偵測,而更能確保觸控裝置100偵測觸控事件之發生位置的正確性。
第4圖係繪示依照本發明另一實施方式的一種觸控面板之控制方法400流程圖,此觸控面板的控制方法400應用於上述觸控面板中。前述觸控面板的控制方法400包含以下步驟:步驟410:藉由一處理器循序掃描第一電極、第二電極以及第三電極;步驟420:當藉由處理器掃描第一電極時,對第二電極與第三電極進行偵測;步驟430:當藉由處理器掃描第二電極時,對第一電極及第四電極進行偵測;以及步驟440:當藉由處理器掃描第三電極時,對第一電極及第四電極進行偵測。
為使觸控面板之控制方法400更易於理解,以下將一併配合第1圖與第4圖來例示性地進行說明。在步驟410中,可藉由處理器110循序掃描第一電極132、第二電極134以及第三電極136,接著,於步驟420,當藉由處理器110掃描第一電極132時,第二電極134與第三電極136進行偵測。
同樣地,於步驟430,當藉由處理器110掃描第二電極134時,對第一電極132及第四電極138進行偵測, 而於步驟440,當藉由處理器110掃描第三電極136時,對第一電極132及第四電極138進行偵測。
此外,由於觸控面板之控制方法400可藉由處理器110循序掃描以及透過前述電極相對應地進行偵測,觸控裝置100得以對單指或多指觸碰事件進行偵測,並取得觸碰事件產生之位置。
由上述本發明實施方式可知,應用本發明具有下列優點。本發明實施例藉由提供一種觸控裝置、觸控面板及其控制方法,藉以改善單面多層結構中所存在製程困難以及光線穿透率低的問題,並可改善採用單面單層結構分區偵測的方式,會導致多指觸控時,無法有效判別真實之手指觸碰位置的問題。
此外,由於觸控面板之前述電極形狀可為梯形,而得以避免前述電極被設置成三角形時,由於三角形尖端面積太小,導致觸碰事件發生於三角形尖端時,接觸面積不足,而影響偵測正確性的問題。另外,由於觸控面板之前述電極的長度與寬度均不超過約0.5公分,而能避免兩根手指同時觸碰同一觸控區域的狀況,提升觸控面板的精確度。
再者,透過觸控裝置中訊號源與偵測點的互換,反覆對偵測觸控事件進行偵測,而更能確保觸控裝置偵測觸控事件之發生位置的正確性。
100‧‧‧觸控裝置
110‧‧‧處理器
144‧‧‧第六電極
145‧‧‧第四觸控區域
120‧‧‧基板
130‧‧‧第一電極陣列
131‧‧‧第一觸控區域
132‧‧‧第一電極
134‧‧‧第二電極
135‧‧‧第二觸控區域
136‧‧‧第三電極
138‧‧‧第四電極
140‧‧‧第二電極陣列
141‧‧‧第三觸控區域
142‧‧‧第五電極
146‧‧‧第七電極
148‧‧‧第八電極
150‧‧‧第三電極陣列
160‧‧‧第四電極陣列
A1 ~AN ‧‧‧線路
B1 ~BN ‧‧‧線路
C‧‧‧線路
D1 ~DN ‧‧‧線路
E1 ~EN ‧‧‧線路
F‧‧‧線路

Claims (15)

  1. 一種觸控面板,包含:一基板;一第一電極陣列,設置於該基板上,包含一第一觸控區域以及一第二觸控區域,更包含:一第一電極,設置於該第一觸控區域內;一第二電極,設置於該第一觸控區域內,並與該第一電極相對應設置;一第三電極,設置於該第二觸控區域內;以及一第四電極,設置於該第二觸控區域內,並與該第三電極相對應設置;其中該第一電極至第四電極皆設置於同一層,該第一電極與該第四電極彼此交錯,且該第一電極電性耦接於該第四電極;其中該第一電極、該第二電極以及該第三電極被循序掃描,當該第一電極被掃描時,藉由該第二電極與該第三電極進行偵測,當該第二電極被掃描時,藉由該第一電極及該第四電極進行偵測,當該第三電極被掃描時,藉由該第一電極及該第四電極進行偵測。
  2. 如請求項1所述之觸控面板,其中該第一、第二、第三及第四電極之形狀為一梯形。
  3. 如請求項2所述之觸控面板,其中該第一電極之梯形的上底與下底中較長者,與該第二電極之梯形的上底與下底中較短者設置於同一側。
  4. 如請求項2所述之觸控面板,其中該第三電極之梯形的上底與下底中較長者,與該第四電極之梯形的上底與下底中較短者設置於同一側。
  5. 如請求項1所述之觸控面板,更包含:一第二電極陣列,設置於該基板上,包含一第三觸控區域以及一第四觸控區域,更包含:一第五電極,設置於該第三觸控區域內;一第六電極,設置於該第三觸控區域內,並與該第五電極相對應設置;一第七電極,設置於該第四觸控區域內;以及一第八電極,設置於該第四觸控區域內,並與該第七電極相對應設置;其中該第五電極至第八電極皆設置於同一層,該第六電極與該第七電極彼此交錯,且該第六電極電性耦接於該第七電極。
  6. 一種觸控裝置,包含:一處理器; 一基板;一電極陣列,設置於該基板上,包含一第一觸控區域以及一第二觸控區域,更包含:一第一電極,設置於該第一觸控區域內,並透過一第一線路電性耦接於該處理器;一第二電極,設置於該第一觸控區域內,並與該第一電極相對應設置,且透過一第二線路電性耦接於該處理器;一第三電極,設置於該第二觸控區域內,並透過一第三線路電性耦接於該處理器;以及一第四電極,設置於該第二觸控區域內,並與該第三電極相對應設置;其中該第一電極至第四電極皆設置於同一層,該第一電極與該第四電極彼此交錯,且該第一電極電性耦接於該第四電極;其中該處理器循序掃描該第一電極、該第二電極以及該第三電極,當該處理器掃描該第一電極時,對該第二電極與該第三電極進行偵測,當該處理器掃描該第二電極時,對該第一電極及該第四電極進行偵測,當該處理器掃描該第三電極時,對該第一電極及該第四電極進行偵測。
  7. 如請求項6所述之觸控裝置,其中當該處理器掃描該第一電極,且一觸碰事件發生於該第一觸控區域時, 該第二電極偵測該觸碰事件所產生的觸碰面積,並根據該觸碰面積而相應地輸出一觸碰信號至該處理器。
  8. 如請求項6所述之觸控裝置,其中當該處理器掃描該第一電極,且一觸碰事件發生於該第二觸控區域時,該第三電極偵測該觸碰事件所產生的觸碰面積,並根據該觸碰面積而相應地輸出一觸碰信號至該處理器。
  9. 如請求項6所述之觸控裝置,其中當該處理器掃描該第一電極,且一觸碰事件同時發生於該第一觸控區域與該第二觸控區域時,該第二電極與該第三電極各自偵測該觸碰事件所產生的觸碰面積,並根據該些觸碰面積分別輸出一觸碰信號至該處理器。
  10. 如請求項6所述之觸控裝置,其中當該處理器掃描該第二電極,且一觸碰事件發生於該第一觸控區域時,該第一電極偵測該觸碰事件所產生的觸碰面積,並根據該觸碰面積而相應地輸出一觸碰信號至該處理器。
  11. 如請求項6所述之觸控裝置,其中當該處理器掃描該第三電極,且一觸碰事件發生於該第二觸控區域時,該第一電極透過該第四電極偵測該觸碰事件所產生的觸碰面積,並根據該觸碰面積而相應地輸出一觸碰信號至該處理器。
  12. 如請求項6所述之觸控裝置,其中該第一、第二、第三及第四電極之形狀為一梯形。
  13. 如請求項12所述之觸控裝置,其中當一觸碰事件沿著該些電極其中之一的梯形之上底至下底而發生時,該觸碰事件所產生的一觸碰面積隨之變化,該些電極其中之一會根據該觸碰面積而相應地輸出一觸碰信號至該處理器。
  14. 如請求項6所述之觸控裝置,其中當該些電極其中之一作為一訊號電極時,則該些電極其中另一作為一偵測電極,當該些電極其中之一作為該偵測電極時,則該些電極其中另一作為該訊號電極。
  15. 一種觸控面板的控制方法,應用於一如請求項1所述之觸控面板中,包含:藉由一處理器循序掃描該第一電極、該第二電極以及該第三電極;當藉由該處理器掃描該第一電極時,對該第二電極與該第三電極進行偵測;當藉由該處理器掃描該第二電極時,對該第一電極及該第四電極進行偵測;以及 當藉由該處理器掃描該第三電極時,對該第一電極及該第四電極進行偵測。
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