TW201322097A - 有源觸控系統的驅動方法 - Google Patents

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Abstract

本發明係揭露一種有源觸控系統的驅動方法，是關於觸控面板，特別是關於有源觸控面板及其驅動方法。本發明揭示了一種有源觸控系統的驅動方法，提出了有源觸控系統中各電極線的驅動訊號波形，以及相配合的偵測方法，有效地實現對陣列排佈的感測電極單元的逐點獨立偵測。利用控制電極線上和檢測電極線上驅動訊號波形的配合，來區分操作者觸碰檢測電極線與觸碰感測電極單元間訊號的差別，避免操作者觸碰檢測電極線時可能產生誤動作的訊號；藉由對遮罩電極施加遮罩訊號，來排除與有源觸控面板重疊使用的顯示面板對觸控訊號的影響。

Description

有源觸控系統的驅動方法
本發明是有關於一種觸控面板，特別是有關於一種有源觸控系統的驅動方法。
觸摸是人類最重要的感知方式，是人與機器進行互動的最自然的方式。觸控面板發展至今已廣泛用於個人電腦、智慧型電話、公共資訊、智慧家電、工業控制等眾多領域。在目前的觸控領域，主要有電阻式觸控面板、光電式觸控面板、超聲波式觸控面板、平面電容式觸控面板，近年來投射電容式觸控面板發展迅速。
電阻式觸控面板仍是目前市場上的主導產品，但電阻式觸控面板的雙層基板的結構，使得觸控面板和顯示面板層疊在一起使用時，觸控面板的反光非常影響顯示的亮度、對比度、色飽和度等顯示品質，使整個顯示品質大大下降，而加大顯示面板背光的亮度，還會使功耗大漲；模擬式電阻觸控面板還存在定位漂移的問題，不時要進行位置校準；另外，電阻式觸控面板電極接觸的工作方式，又使得觸控面板的壽命較短。
紅外線式觸控面板和超聲波式觸控面板不會影響顯示品質。但紅外線式觸控面板和超聲波式觸控面板成本高，水滴和塵埃都會影響觸控面板工作的可靠性，特別是紅外線式觸控面板和超聲波式觸控面板結構複雜、功耗大，使得紅外線式觸控面板和超聲波式觸控面板基本無法應用在可攜式產品上。
平面電容式觸控面板的單層基板的結構，使得觸控面板和顯示面板層疊在一起使用時，觸控面板對顯示品質的影響不大。但平面電容式觸控面板也存在定位漂移的問題，不時要進行位置校準；水滴也會影響觸控面板工作的可靠性；特別是平面電容式觸控面板功耗大、成本高，也讓平面電容式觸控面板基本無法應用在可攜式產品上。
投射電容式觸控面板仍然可以是單層基板結構，也使得觸控面板和顯示面板層疊在一起使用時，觸控面板對顯示品質的影響不大。但投射電容式觸控面板是藉由測量手指或其他觸控物對觸控面板電極間耦合電容的影響，實際是藉由測量手指或其他觸控物對觸控面板電極充放電的影響，來探測手指或其他觸控物在觸控面板上的位置。定位點需要經過類比計算，而非真正的數位式觸控面板。製造和使用環境中的分佈電容都會影響觸控面板工作的可靠性，顯示驅動訊號及其他電訊號的干擾都會影響觸控面板的工作，水滴也會影響觸控面板工作的可靠性；另外，投射電容式觸控面板對探測電極線的電阻值方面有較高要求，往往需要有金屬類的高電導率電極層，制做工藝複雜、成本高，特別是在大尺寸、超大尺寸觸控面板方面成本過高。
隨著近年來iPhone手機和Windows 7作業系統的推出，人們對多點觸控的興趣驟然提升。無論是電阻式還是電容式觸控面板，由於螢幕上每一感測線直接連接多個感測單元，各感測單元之間並不完全獨立。為了能夠分辨多個觸控點，相對單點觸控來說，要麼檢測的掃描方式變得十分複雜，檢測要花費大量時間和功耗；要麼檢測後的判斷程式變得十分複雜，需要強大的計算能力和存儲空間，也要花費大量時間和功耗。
中國專利ZL2010202966254提出了一種有源觸控系統，藉由觸控面板上所設置的有源元件單元陣列，將觸控面板上陣列排佈的感測電極單元隔離開來，以使各個感測單元可以完全獨立地感測觸控物所引起的電容的變化，讓多點觸控變得輕鬆自然。
本發明就是為了提供一種有源觸控系統的驅動方法，對有源觸控面板各電極線有效地實施觸控激發訊號的施加，實現對陣列排佈的感測電極單元的逐點獨立偵測。
本發明的有源觸控系統的基本工作原理是：
在觸控基板上陣列狀地設置感測電極單元和有源元件單元，以及兩組相交的控制電極線和檢測電極線，檢測電極線藉由有源元件單元連接感測電極單元。用控制電極線來控制有源元件單元的通斷，用檢測電極線來向感測電極單元施加觸控激發訊號，並偵測感測電極單元與觸控物之間的電容性耦合。
當人的手指或其他觸控物靠近或接觸某感測電極單元時，手指或其他觸控物與感測電極單元間形成耦合電容，感測電極單元上的觸控激發訊號就會藉由此耦合電容部分洩漏出去，或藉由此耦合電容洩漏到觸控面板上的其他電極。觸控電路藉由檢測各條向感測電極單元提供觸控激發訊號的檢測電極線上觸控訊號變化的大小，找出漏電流最大的或漏電流超過某門檻值的檢測電極線，再結合此時開啟有源元件的控制電極線，來確定產生漏電流的感測電極單元，從而找出手指或其他觸控物在觸控基板上的位置。
薄膜場效應電晶體即TFT(Thin Film Transistor)是有源矩陣元件的典型代表，薄膜電晶體TFT閘極(Gate)連接至水準方向的控制電極線，源極(Source)連接至垂直方向的檢測電極線，汲極(Drain)則連接至感測電極單元(這裡的汲極、源極的定義只是習慣性定義，源極電平並不專指源極電極的電平，而是這裏說的源極和汲極兩電極中電平較小的那個電平)。陣列排佈的有源元件陣列讓每個感測電極單元均配置一個半導體開關元件，可以藉由脈衝進行選通，因而每個感測電極單元相對獨立。
薄膜場效應電晶體(TFT)有NMOS型和PMOS型兩種。目前絕大部分的TFT是採用非晶矽(amorphous silicon，a-Si)制程，其閘極絕緣層是氮化矽(SiNx)，容易攫取正電荷，要在非晶矽半導體層中形成溝道，恰好利用氮化矽中的正電荷來幫助吸引電子以形成溝道，因此使用非晶矽制程的TFT多為NMOS型。本說明書的內容主要是以NMOS型薄膜電晶體為代表進行闡述，PMOS型薄膜電晶體可遵循相同的原理，不再單獨列舉表述。
本發明的技術問題藉由以下的技術手段予以解決：
一種有源觸控系統的驅動方法，有源觸控系統由有源觸控面板和觸控電路等組成，有源觸控面板的基板上具有陣列排佈的有源元件單元、陣列排佈的感測電極單元、以及不少於兩組相交的控制電極線和檢測電極線，各控制電極線和各檢測電極線相交處有絕緣層相隔離；觸控電路具有觸控激發源、觸控訊號檢測電路和控制電路；有源觸控面板上的感測電極單元連接有源元件，有源元件連接控制電極和檢測電極，檢測電極連接觸控電路中的觸控激發源和觸控訊號檢測電路，控制電極連接觸控電路中的控制電路；觸控電路以掃描方式向各控制電極線施加控制訊號，控制有源元件單元的導通狀態，並藉由偵測檢測電極線上觸控訊號的變化，來確定觸控點的位置；所述觸控電路向控制電極線所施加的控制訊號是直流訊號，觸控電路在向某一條或多條控制電極線施加直流的控制訊號時，還藉由檢測電極線向感測電極單元施加觸控訊號，並偵測檢測電極線上觸控訊號的變化，來確定感測電極單元是否被觸控。
另一種技術手段是：一種有源觸控系統的驅動方法，有源觸控系統由有源觸控面板和觸控電路等組成，有源觸控面板的基板上具有陣列排佈的有源元件單元、陣列排佈的感測電極單元、以及不少於兩組相交的控制電極線和檢測電極線，各控制電極線和各檢測電極線相交處有絕緣層相隔離；觸控電路具有觸控激發源、觸控訊號檢測電路和控制電路；有源觸控面板上的感測電極單元連接有源元件，有源元件連接控制電極和檢測電極，檢測電極連接觸控電路中的觸控激發源和觸控訊號檢測電路，控制電極連接觸控電路中的控制電路；觸控電路以掃描方式向各控制電極線施加控制訊號，控制有源元件單元的導通狀態，並藉由偵測檢測電極線上觸控訊號的變化，來確定觸控點的位置；所述觸控電路向控制電極線所施加的控制訊號是交流訊號，觸控電路在向某一條或多條控制電極線施加交流的控制訊號時，還藉由檢測電極線向感測電極單元施加觸控訊號，並偵測檢測電極線上觸控訊號的變化，來確定感測電極單元是否被觸控。
本發明的技術問題藉由以下的技術手段進一步予以解決：
根據本發明的另一個具體方面，所述觸控電路向控制電極線施加直流的控制訊號時，藉由檢測電極線向感測電極單元施加的觸控訊號是直流訊號，觸控電路藉由偵測施加在檢測電極線上的直流觸控訊號的變化，來確定感測電極單元是否被觸控。
根據本發明的另一個具體方面，所述觸控電路向控制電極線施加直流的控制訊號時，藉由檢測電極線向感測電極單元施加的觸控訊號是交流訊號，觸控電路藉由偵測施加在檢測電極線上的交流觸控訊號的變化，來確定感測電極單元是否被觸控。
根據本發明的另一個具體方面，所述觸控電路向控制電極線施加交流的控制訊號時，藉由檢測電極線向感測電極單元施加的觸控訊號是直流訊號，觸控電路藉由偵測施加在檢測電極線上的直流觸控訊號的變化，來確定感測電極單元是否被觸控。
根據本發明的另一個具體方面，所述觸控電路向控制電極線施加交流的控制訊號時，藉由檢測電極線向感測電極單元施加的觸控訊號是交流訊號，觸控電路藉由偵測施加在檢測電極線上的交流觸控訊號的變化，來確定感測電極單元是否被觸控。
根據本發明的另一個具體方面，所述交流控制訊號的頻率，低於所述交流觸控訊號的頻率。
根據本發明的另一個具體方面，所述交流控制訊號的頻率，不低於所述交流觸控訊號的頻率。
根據本發明的另一個具體方面，所述交流訊號包括交流觸控訊號或交流控制訊號，頻率不小於10 KHz。
根據本發明的另一個具體方面，所述交流控制訊號的波形或交流觸控訊號的波形，可以是方波，也可以是正弦波，也可以是其他具有週期性的波形。
根據本發明的另一個具體方面，所述觸控電路中的觸控激發源具有不同激發端；所述有源觸控系統的檢測電極線組中，相鄰檢測電極線連接觸控電路中觸控激發源的不同激發端，所述觸控激發源的不同激發端上訊號的波形或頻率或相位，可以是相同的，也可以是不同的。
根據本發明的另一個具體方面，所述有源觸控系統的有源觸控面板與顯示面板重疊使用時，所述有源觸控面板上的感測電極單元、控制電極線組和檢測電極線組，與顯示面板電極之間具有遮罩電極；所述觸控電路具有連接遮罩電極的輸出端，在所述有源元件單元處於導通態的期間，觸控電路施加給遮罩電極的訊號是直流訊號。
根據本發明的另一個具體方面，所述有源觸控系統的有源觸控面板與顯示面板重疊使用時，所述有源觸控面板上的感測電極單元、控制電極線組和檢測電極線組，與顯示面板電極之間具有遮罩電極；所述觸控電路具有連接遮罩電極的輸出端，在所述有源元件單元處於導通態的期間，觸控電路施加給遮罩電極的訊號，與觸控電路施加在控制電極線上或檢測電極線上的訊號的波形、頻率和相位是相同的。
根據本發明的另一個具體方面，所述顯示面板是有源液晶顯示面板，所述觸控電路連接遮罩電極的輸出端，是連接到有源液晶顯示面板的顯示公共電極上，以顯示公共電極作為遮罩電極。
根據本發明的另一個具體方面，所述觸控電路偵測檢測電極線上觸控訊號的變化，是藉由檢測電極線測量其所連接感測電極單元充電或放電的幅值特徵。
根據本發明的另一個具體方面，所述觸控電路偵測檢測電極線上觸控訊號的變化，是藉由檢測電極線測量其所連接感測電極單元充電或放電的時間特徵。
根據本發明的另一個具體方面，所述觸控電路偵測檢測電極線上觸控訊號的變化，是藉由檢測電極線測量其所連接感測電極單元漏電流的幅值特徵。
根據本發明的另一個具體方面，所述觸控電路偵測檢測電極線上觸控訊號的變化，是藉由檢測電極線測量其所連接感測電極單元漏電流的相位特徵。
本發明的有益效果是：
本發明提出了有源觸控系統中各電極線的驅動訊號波形，以及相配合的偵測方法，有效地實現對陣列排佈的感測電極單元的逐點獨立偵測。利用控制電極線上和檢測電極線上驅動訊號波形的配合，來區分操作者觸碰檢測電極線與觸碰感測電極單元間訊號的差別，避免操作者觸碰檢測電極線時可能產生誤動作的訊號；藉由對遮罩電極施加直流的遮罩訊號，或施加與控制電極線上或檢測電極線上驅動訊號相同波形、頻率和相位的遮罩訊號，來排除與有源觸控面板重疊使用的顯示面板對觸控訊號的影響。
觸控面板上各個感測電極單元能夠完全各自獨立地感測觸控物的觸控，實現觸控位置偵測的空間數位化，讓觸控訊號的來源準確到每一感測電極單元；讓後續判斷程式大大簡化，可以大量節省後處理晶片的資源；讓多點觸控的判斷變得不成問題；讓探測速度變得更快，可靠性提高；根據相鄰感測電極單元訊號的大小，或根據有觸控訊號的感測電極單元區域訊號的分佈，被觸位置定位的準確性可提高到相鄰感測電極單元間的細小位置。
實施方式一
如第1圖所示的有源觸控系統100，包括觸控基板110、有源元件陣列120、觸控電極、觸控電路140等。三端有源元件陣列120和觸控電極設置在觸控基板110上。觸控電極由感測電極陣列131以及兩組相交的列控制電極線組132(1321、1322、1323、…、132m)和行檢測電極線組133(1331、1332、1333、…、133n)組成，各控制電極線和各檢測電極線相交處有絕緣層相隔離。觸控基板110是透明基板，感測電極陣列131的各感測電極單元〔(132i,133j)；i=1,2,…,m；j=1,2,…,n；其中m和n是自然數〕是透明氧化銦錫(ITO)電極，感測電極陣列131、列控制電極線組132和行檢測電極線組133都設置在觸控基板110背向使用者的非觸摸面上。觸控電路140具有觸控激發源141、觸控訊號偵測電路142和控制電路143。
控制電極線組132和檢測電極線組133的各控制電極線和各檢測電極線，分別連接三端有源元件陣列120的各有源元件單元的兩個端子；感測電極陣列131的各感測電極單元分別連接各有源元件單元的另一端子；檢測電極線組133連接觸控電路140中的觸控激發源141和觸控訊號偵測電路142；控制電極線組132連接觸控電路140中的控制電路143。
如第4圖所示，觸控電路140的控制電路143以掃描方式，逐列向控制電極線組132各控制電極線輸出直流的控制訊號，讓與施加有直流控制訊號的控制電極線相連的有源元件單元處於導通狀態，與未施加直流控制訊號的控制電極線相連的有源元件單元處於截止狀態；觸控電路140的觸控激發源141同時向檢測電極線組133各檢測電極線施加直流的觸控激發。隨著控制電路143每讓一列控制電極線上的有源元件單元處於導通狀態，各檢測電極線上的直流觸控訊號就藉由該列有源元件單元流入與該列控制電極線相連接的各感測電極單元內；觸控電路140的觸控訊號偵測電路142，或同時偵測各條檢測電極線上觸控訊號的變化，或逐行偵測各條檢測電極線上直流觸控訊號的變化。這樣隨著控制電路143逐列向各控制電極線輸出直流控制訊號，觸控訊號偵測電路142就逐列的偵測藉由有源元件單元與此列控制電極線相連接的感測電極單元上直流觸控訊號的變化。
當操作者的手指或其他觸控物靠近或接觸某感測電極單元的瞬間，手指或其他觸控物與感測電極單元間形成耦合電容，藉由有源元件單元與此感測電極單元相連的檢測電極線上的直流觸控訊號，就會流入此感測電極單元，也就是向此耦合電容充電；觸控訊號偵測電路142藉由偵測各條檢測電極線上觸控訊號幅值的變化，就可找出充電電流最大的或充電電流超過某門檻值的檢測電極線；觸控訊號偵測電路142偵測各條檢測電極線上觸控訊號的變化，也可以是找充電時間最長或充電時間超過某門檻值的檢測電極線；再根據此時開啟有源元件單元的控制電極線，就可確定被觸的感測電極單元，從而找出手指或其他觸控物在觸控基板110上的位置。有源觸控系統100成為可探測觸控點位置的觸控系統。觸控訊號偵測電路142偵測檢測電極線組133各檢測電極線上觸控訊號的變化，也可以是在上述耦合電容的放電環節進行，偵測放電電流的幅值或放電時間的長短。
當操作者多隻手指或多個操作者的手指分別觸摸觸控基板110的多個位置時，觸控訊號偵測電路142就會在多個時刻的多條檢測電極線上，偵測到觸控訊號變化超過某門檻值，也就是偵測到多個感測電極單元的充電電流超過某門檻值，從而找出多個手指分別在觸控基板110上的位置。有源觸控系統100也就成為可辨別多個觸控點的觸控系統。
實施方式二
如第2圖所示的有源觸控系統200，包括觸控基板210、薄膜電晶體(TFT)陣列220、觸控電極、觸控電路240等。薄膜電晶體(TFT)陣列220和觸控電極設置在觸控基板210上。觸控電極由感測電極陣列231以及兩組相交的列控制電極線組232(2321、2322、2323、…、232m)和行檢測電極線組233(2331、2332、2333、…、233n)組成，各控制電極線和各檢測電極線相交處有絕緣層相隔離。觸控基板210是透明基板，感測電極陣列231的各感測電極單元〔(232i,233j)；i=1,2,…,m；j=1,2,…,n；其中m和n是自然數〕是透明ITO電極，感測電極陣列231、列控制電極線組232和行檢測電極線組233都設置在觸控基板210背向使用者的非觸摸面上。觸控電路240具有觸控激發源241、觸控訊號偵測電路242和控制電路243。
控制電極線組232和檢測電極線組233的各控制電極線和各檢測電極線，分別連接薄膜電晶體(TFT)陣列220的各TFT單元的閘極和源極；感測電極陣列231的各感測電極單元分別連接各TFT單元的汲極；檢測電極線組233連接觸控電路240中的觸控激發源241和觸控訊號偵測電路242；控制電極線組232連接觸控電路240中的控制電路243。
如第5圖所示，觸控電路240的控制電路243以掃描方式，逐列向控制電極線組232各控制電極線輸出直流的控制訊號，讓與施加有直流控制訊號的控制電極線相連的TFT單元處於導通狀態，與未施加直流控制訊號的控制電極線相連的TFT單元處於截止狀態；觸控電路240的觸控激發源241同時向檢測電極線組233的各檢測電極線施加交流觸控激發。隨著控制電路243每讓一列控制電極線上的TFT單元處於導通狀態，各檢測電極線上的交流觸控訊號就流入藉由TFT單元與該列控制電極線相連接的各感測電極單元內；觸控電路240的觸控訊號偵測電路242，在該列控制電極線相連接的TFT單元處於導通狀態期間，逐行檢測各條檢測電極線上觸控訊號的變化。這樣隨著控制電路243逐列向各控制電極線輸出直流控制訊號，觸控訊號偵測電路242就逐行的偵測藉由TFT單元與此列控制電極線相連接的感測電極單元上觸控訊號的變化。
當操作者的手指或其他觸控物靠近或接觸某感測電極單元時，手指或其他觸控物與感測電極單元間形成耦合電容，感測電極單元上的交流觸控訊號就會藉由此耦合電容部分洩漏出去；觸控訊號偵測電路242藉由偵測各條檢測電極線上交流觸控訊號幅值的變化，就可找出漏電流最大的或漏電流超過某門檻值的檢測電極線；觸控訊號偵測電路242偵測各條檢測電極線上觸控訊號的變化，也可以是找交流觸控訊號相位變化最大或交流觸控訊號相位變化超過某門檻值的檢測電極線；再根據此時開啟TFT單元的控制電極線，就可確定被觸的感測電極單元，從而找出手指或其他觸控物在觸控基板210上的位置。有源觸控系統200成為可探測觸控點位置的觸控系統。
當操作者多隻手指或多個操作者的手指分別觸摸觸控基板210的多個位置時，觸控訊號偵測電路242就會在多個時刻的多條檢測電極線上，偵測到觸控訊號變化超過某門檻值，也就是檢測到多個感測電極單元的充電電流超過某門檻值，從而找出多個手指分別在觸控基板210上的位置。有源觸控系統200也就成為可辨別多個觸控點的觸控系統。
實施方式三
如第2圖所示的有源觸控系統200，包括觸控基板210、薄膜電晶體(TFT)陣列220、觸控電極、觸控電路240等。薄膜電晶體(TFT)陣列220和觸控電極設置在觸控基板210上。觸控電極由感測電極陣列231以及兩組相交的列控制電極線組232(2321、2322、2323、…、232m)和行檢測電極線組233(2331、2332、2333、…、233n)組成，各控制電極線和各檢測電極線相交處有絕緣層相隔離。觸控基板210是透明基板，感測電極陣列231的各感測電極單元〔(232i,233j)；i=1,2,…,m；j=1,2,…,n；其中m和n是自然數〕是透明ITO電極，感測電極陣列231、列控制電極線組232和行檢測電極線組233都設置在觸控基板210背向使用者的非觸摸面上。觸控電路240具有觸控激發源241、觸控訊號偵測電路242和控制電路243，觸控激發源241具有兩個輸出端。
控制電極線組232和檢測電極線組233的各控制電極線和各檢測電極線，分別連接薄膜電晶體(TFT)陣列220的各TFT單元的閘極和源極；感測電極陣列231的各感測電極單元分別連接各TFT單元的汲極；檢測電極線組233連接觸控電路240中的觸控激發源241和觸控訊號偵測電路242；控制電極線組232連接觸控電路240中的控制電路243。
如第6圖所示，觸控電路240的控制電路243以掃描方式，逐列向控制電極線組232各控制電極線輸出直流的控制訊號，讓與施加有直流控制訊號的控制電極線相連的TFT單元處於導通狀態，與未施加直流控制訊號的控制電極線相連的TFT單元處於截止狀態；觸控電路240的觸控激發源241的一個輸出端向檢測電極線組233的奇數行檢測電極線施加交流觸控激發，觸控激發源241的另一個輸出端向檢測電極線組233的偶數行檢測電極線施加零電位訊號。奇數行感測電極單元上的交流觸控訊號，就會藉由奇數行和偶數行感測電極單元間的耦合電容流入偶數行感測電極單元，形成感測電極單元間的耦合電流。隨著控制電路243每讓一列控制電極線上的TFT單元處於導通狀態，各奇數行檢測電極線上的直流觸控訊號就流入藉由TFT單元與該列控制電極線相連接的各感測電極單元內，各偶數行檢測電極線上藉由TFT單元與該列控制電極線相連接的感測電極單元處於零電位；觸控電路240的觸控訊號偵測電路242，在該列控制電極線相連接的TFT單元處於導通狀態期間，逐行檢測各條奇數行檢測電極線上觸控訊號的變化。這樣隨著控制電路243逐列向各控制電極線輸出直流控制訊號，觸控訊號偵測電路242就逐行的偵測藉由TFT單元與此列控制電極線相連接的奇數行感測電極單元上觸控訊號的變化。
當操作者的手指或其他觸控物靠近或接觸某感測電極單元的瞬間，手指或其他觸控物改變了奇數行感測電極單元和偶數行感測電極單元間的電介質，也就改變了奇數行感測電極單元和偶數行感測電極單元間的耦合電容值，感測電極單元間的耦合電流就會發生變化，與奇數行感測電極單元相連的檢測電極線上的交流觸控訊號也就會相應發生變化；觸控訊號偵測電路242藉由偵測各條奇數行檢測電極線上交流觸控訊號幅值的變化，就可找出耦合電流最大的或耦合電流超過某門檻值的檢測電極線；觸控訊號偵測電路242偵測各條檢測電極線上觸控訊號的變化，也可以是找交流觸控訊號相位變化最大或交流觸控訊號相位變化超過某門檻值的檢測電極線；再根據此時開啟TFT單元的控制電極線，就可確定被觸的感測電極單元，從而找出手指或其他觸控物在觸控基板210上的位置。有源觸控系統200成為可探測觸控點位置的觸控系統。
當操作者多隻手指或多個操作者的手指分別觸摸觸控基板210的多個位置時，觸控訊號偵測電路242就會在多個時刻的多條檢測電極線上，偵測到觸控訊號變化超過某門檻值，也就是檢測到多個感測電極單元的充電電流超過某門檻值，從而找出多個手指分別在觸控基板210上的位置。有源觸控系統200也就成為可辨別多個觸控點的觸控系統。
實施方式四
如第2圖所示的有源觸控系統200，包括觸控基板210、薄膜電晶體(TFT)陣列220、觸控電極、觸控電路240等。薄膜電晶體(TFT)陣列220和觸控電極設置在觸控基板210上。觸控電極由感測電極陣列231以及兩組相交的列控制電極線組232(2321、2322、2323、…、232m)和行檢測電極線組233(2331、2332、2333、…、233n)組成，各控制電極線和各檢測電極線相交處有絕緣層相隔離。觸控基板210是透明基板，感測電極陣列231的各感測電極單元〔(232i,233j)；i=1,2,…,m；j=1,2,…,n；其中m和n是自然數〕是透明ITO電極，感測電極陣列231、列控制電極線組232和行檢測電極線組233都設置在觸控基板210背向使用者的非觸摸面上。觸控電路240具有觸控激發源241、觸控訊號偵測電路242和控制電路243。
控制電極線組232和檢測電極線組233的各控制電極線和各檢測電極線，分別連接薄膜電晶體(TFT)陣列220的各TFT單元的閘極和源極；感測電極陣列231的各感測電極單元分別連接各TFT單元的汲極；檢測電極線組233連接觸控電路240中的觸控激發源241和觸控訊號偵測電路242；控制電極線組232連接觸控電路240中的控制電路243。
如第7圖所示，觸控電路240的控制電路243以掃描方式，逐列向控制電極線組232各控制電極線輸出方波控制訊號，讓與施加有方波控制訊號的控制電極線相連的TFT單元在導通和截止狀態切換，方波控制訊號的頻率不小於10 KHz，與未施加方波控制訊號的控制電極線相連的TFT單元處於截止狀態；觸控電路240的觸控激發源241同時向檢測電極線組233的各檢測電極線施加直流觸控激發。隨著控制電路243每讓一列控制電極線上的TFT單元在導通和截止狀態間切換，各檢測電極線上的直流觸控訊號就間歇地流入藉由TFT單元與該列控制電極線相連接的各感測電極單元內，在感測電極單元上形成脈衝直流訊號；觸控電路240的觸控訊號偵測電路242，在與該列控制電極線相連接的TFT單元處於導通和截止狀態間切換期間，逐行檢測各條檢測電極線上觸控訊號的變化。這樣隨著控制電路243逐列向各控制電極線輸出方波控制訊號，觸控訊號偵測電路242就逐行偵測藉由TFT單元與此列控制電極線相連接的感測電極單元上觸控訊號的變化。
當操作者的手指或其他觸控物靠近或接觸某感測電極單元時，手指或其他觸控物與感測電極單元間形成耦合電容，感測電極單元上的脈衝直流訊號就會藉由此耦合電容部分洩漏出去，在與該感測電極單元相連接的檢測電極線上形成直流漏電流；觸控訊號偵測電路242藉由偵測各條檢測電極線上直流觸控訊號的變化，就可找出直流漏電流最大的或直流漏電流超過某門檻值的檢測電極線；再根據此時開啟TFT單元在導通和截止狀態間切換的控制電極線，就可確定被觸的感測電極單元，從而找出手指或其他觸控物在觸控基板210上的位置。有源觸控系統200成為可探測觸控點位置的觸控系統。
由於施加在各條檢測電極線上的觸控激發是直流訊號，當操作者的手指或其他觸控物靠近或接觸某檢測電極線時，檢測電極線上的直流觸控訊號，就基本不會從手指或其他觸控物與檢測電極線間的耦合電容洩漏出去；或者說，會從手指或其他觸控物與檢測電極線間的耦合電容洩漏出去的直流觸控訊號，比起從手指或其他觸控物與感測電極單元間的耦合電容洩漏出去的脈衝直流訊號要小得多，避免操作者觸碰檢測電極線時可能產生的動作誤判。
實施方式五
如第2圖所示的有源觸控系統200，包括觸控基板210、薄膜電晶體(TFT)陣列220、觸控電極、觸控電路240等。薄膜電晶體(TFT)陣列220和觸控電極設置在觸控基板210上。觸控電極由感測電極陣列231以及兩組相交的列控制電極線組232(2321、2322、2323、…、232m)和行檢測電極線組233(2331、2332、2333、…、233n)組成，各控制電極線和各檢測電極線相交處有絕緣層相隔離。觸控基板210是透明基板，感測電極陣列231的各感測電極單元〔(232i,233j)；i=1,2,…,m；j=1,2,…,n；其中m和n是自然數〕是透明ITO電極，感測電極陣列231、列控制電極線組232和行檢測電極線組233都設置在觸控基板210背向使用者的非觸摸面上。觸控電路240具有觸控激發源241、觸控訊號偵測電路242和控制電路243。
控制電極線組232和檢測電極線組233的各控制電極線和各檢測電極線，分別連接薄膜電晶體(TFT)陣列220的各TFT單元的閘極和源極；感測電極陣列231的各感測電極單元分別連接各TFT單元的汲極；檢測電極線組233連接觸控電路240中的觸控激發源241和觸控訊號偵測電路242；控制電極線組232連接觸控電路240中的控制電路243。
如第8圖所示，觸控電路240的控制電路243以掃描方式，逐列向控制電極線組232各控制電極線輸出正弦波交流控制訊號，讓與施加有正弦波交流控制訊號的控制電極線相連的TFT單元，在導通和截止狀態以正弦波的形式變換，與未施加交流控制訊號的控制電極線相連的TFT單元處於截止狀態；觸控電路240的觸控激發源241同時向檢測電極線組233的各檢測電極線施加正弦波交流觸控激發；控制訊號的頻率遠低於觸控激發訊號的頻率，觸控激發訊號的頻率不小於10 KHz。隨著控制電路243每讓一列控制電極線上的TFT單元在導通和截止狀態間正弦的變換，各檢測電極線上的交流觸控訊號被控制訊號調製後，流入藉由TFT單元與該列控制電極線相連接的各感測電極單元內，在感測電極單元上形成被調製的載波形式的訊號；觸控電路240的觸控訊號偵測電路242，在該列控制電極線相連接的TFT單元處於導通和截止狀態間正弦變換期間，逐行檢測各條檢測電極線上觸控訊號的變化。這樣隨著控制電路243逐列向各控制電極線輸出交流控制訊號，觸控訊號偵測電路242就逐行的偵測藉由TFT單元與此列控制電極線相連接的感測電極單元上觸控訊號的變化。
當操作者的手指或其他觸控物靠近或接觸某感測電極單元時，手指或其他觸控物與感測電極單元間形成耦合電容，感測電極單元上的載波訊號就會藉由此耦合電容部分洩漏出去，在與該感測電極單元相連接的檢測電極線上形成交流漏電流；觸控訊號偵測電路242藉由偵測各條檢測電極線上交流觸控訊號的變化，並對相對高頻的觸控訊號解調成控制訊號頻率的低頻訊號，找出交流漏電流最大的或交流漏電流超過某門檻值的檢測電極線；再根據此時開啟TFT單元在導通和截止狀態間正弦變換的控制電極線，就可確定被觸的感測電極單元，從而找出手指或其他觸控物在觸控基板210上的位置。有源觸控系統200成為可探測觸控點位置的觸控系統。
由於對相對高頻的觸控訊號解調成控制訊號頻率的低頻訊號，對特定頻率的低頻訊號進行測量，藉由成熟的選頻濾波技術，可以避免穿透性強的高頻噪音的干擾和顯示面板對觸控訊號的影響。
實施方式六
如第2圖所示的有源觸控系統200，包括觸控基板210、薄膜電晶體(TFT)陣列220、觸控電極、觸控電路240等。薄膜電晶體(TFT)陣列220和觸控電極設置在觸控基板210上。觸控電極由感測電極陣列231以及兩組相交的列控制電極線組232(2321、2322、2323、…、232m)和行檢測電極線組233(2331、2332、2333、…、233n)組成，各控制電極線和各檢測電極線相交處有絕緣層相隔離。觸控基板210是透明基板，感測電極陣列231的各感測電極單元〔(232i,233j)；i=1,2,…,m；j=1,2,…,n；其中m和n是自然數〕是透明ITO電極，感測電極陣列231、列控制電極線組232和行檢測電極線組233都設置在觸控基板210背向使用者的非觸摸面上。觸控電路240具有觸控激發源241、觸控訊號偵測電路242和控制電路243。
控制電極線組232和檢測電極線組233的各控制電極線和各檢測電極線，分別連接薄膜電晶體(TFT)陣列220的各TFT單元的閘極和源極；感測電極陣列231的各感測電極單元分別連接各TFT單元的汲極；檢測電極線組233連接觸控電路240中的觸控激發源241和觸控訊號偵測電路242；控制電極線組232連接觸控電路240中的控制電路243。
如第9圖所示，觸控電路240的控制電路243以掃描方式，逐列向控制電極線組232各控制電極線輸出正弦波交流控制訊號，讓與施加有正弦波交流控制訊號的控制電極線相連的TFT單元，在導通和截止狀態以正弦波的形式變換，與未施加交流控制訊號的控制電極線相連的TFT單元處於截止狀態；觸控電路240的觸控激發源241同時向檢測電極線組233的各檢測電極線施加正弦波交流觸控激發；觸控激發訊號的頻率遠低於控制訊號的頻率，控制訊號的頻率不小於10 KHz。隨著控制電路243每讓一列控制電極線上的TFT單元在導通和截止狀態間正弦的變換，各檢測電極線上的交流觸控訊號搭載在控制訊號上，流入藉由TFT單元與該列控制電極線相連接的各感測電極單元內，在感測電極單元上形成以控制訊號頻率的載波訊號；觸控電路240的觸控訊號偵測電路242，在該列控制電極線相連接的TFT單元處於導通和截止狀態間正弦變換期間，逐行檢測各條檢測電極線上觸控訊號的變化。這樣隨著控制電路243逐列向各控制電極線輸出交流控制訊號，觸控訊號偵測電路242就逐行的偵測藉由TFT單元與此列控制電極線相連接的感測電極單元上觸控訊號的變化。
當操作者的手指或其他觸控物靠近或接觸某感測電極單元時，手指或其他觸控物與感測電極單元間形成耦合電容，感測電極單元上的載波訊號就會藉由此耦合電容部分洩漏出去，在與該感測電極單元相連接的檢測電極線上形成交流漏電流；觸控訊號偵測電路242藉由偵測各條檢測電極線上交流觸控訊號的變化，並對特定頻率的低頻觸控訊號進行測量，相對高頻的控制訊號解調成觸控訊號頻率的低頻訊號，找出交流漏電流最大的或交流漏電流超過某門檻值的檢測電極線；再根據此時開啟TFT單元在導通和截止狀態間正弦變換的控制電極線，就可確定被觸的感測電極單元，從而找出手指或其他觸控物在觸控基板210上的位置。有源觸控系統200成為可探測觸控點位置的觸控系統。
由於對特定頻率的低頻訊號進行測量，藉由成熟的選頻濾波技術，可以避免穿透性強的高頻噪音的干擾和顯示面板對觸控訊號的影響。
實施方式七
如第3圖所示的有源觸控系統300和顯示面板301，有源觸控系統300包括觸控基板310、薄膜電晶體(TFT)陣列320、觸控電極、觸控電路340等。薄膜電晶體(TFT)陣列320和觸控電極設置在觸控基板310上。觸控電極由感測電極陣列331以及兩組相交的列控制電極線組332(3321、3322、3323、…、332m)、行檢測電極線組333(3331、3332、3333、…、333n)和遮罩電極334組成，各控制電極線和各檢測電極線相交處有絕緣層相隔離。觸控基板310設置在顯示面板301之上；觸控基板310是透明基板，感測電極陣列331的各感測電極單元〔(332i,333j)；i=1,2,…,m；j=1,2,…,n；其中m和n是自然數〕是透明ITO電極，感測電極陣列331、列控制電極線組332、行檢測電極線組333和遮罩電極334都設置在觸控基板310背向使用者的非觸摸面上。觸控電路340具有觸控激發源341、觸控訊號偵測電路342、控制電路343和遮罩訊號輸出端344。
控制電極線組332和檢測電極線組333的各控制電極線和各檢測電極線，分別連接薄膜電晶體(TFT)陣列320的各TFT單元的閘極和源極；感測電極陣列331的各感測電極單元分別連接各TFT單元的汲極；檢測電極線組333連接觸控電路340中的觸控激發源341和觸控訊號偵測電路342；控制電極線組332連接觸控電路340中的控制電路343，遮罩電極334連接觸控電路340中的遮罩訊號輸出端344。
如第10圖所示，觸控電路340的控制電路343以掃描方式，逐列向控制電極線組332各控制電極線輸出方波控制訊號，讓與施加有方波控制訊號的控制電極線相連的TFT單元在導通和截止狀態間切換，與未施加交流控制訊號的控制電極線相連的TFT單元處於截止狀態；觸控電路340的觸控激發源341同時向檢測電極線組333的各檢測電極線施加直流觸控激發；觸控電路340的遮罩訊號輸出端344向遮罩電極334施加直流遮罩訊號。隨著控制電路343每讓一列控制電極線上的TFT單元在導通和截止狀態間切換，各檢測電極線上的直流觸控訊號就間歇地流入藉由TFT單元與該列控制電極線相連接的各感測電極單元內，在感測電極單元上形成脈衝直流訊號；觸控電路340的觸控訊號偵測電路342，在該列控制電極線相連接的TFT單元處於導通和截止狀態間切換期間，逐行檢測各條檢測電極線上觸控訊號的變化。這樣隨著控制電路343逐列向各控制電極線輸出交流控制訊號，觸控訊號偵測電路342就逐行的偵測藉由TFT單元與此列控制電極線相連接的感測電極單元上觸控訊號的變化。
當操作者的手指或其他觸控物靠近或接觸某感測電極單元時，手指或其他觸控物與感測電極單元間形成耦合電容，感測電極單元上的脈衝直流訊號就會藉由此耦合電容部分洩漏出去，在與該感測電極單元相連接的檢測電極線上形成直流漏電流；觸控訊號偵測電路342藉由偵測各條檢測電極線上直流觸控訊號的變化，就可找出直流漏電流最大的或直流漏電流超過某門檻值的檢測電極線；再根據此時開啟TFT單元在導通和截止狀態間切換的控制電極線，就可確定被觸的感測電極單元，從而找出手指或其他觸控物在觸控基板310上的位置。有源觸控系統300成為可探測觸控點位置的觸控系統。
對遮罩電極334施加直流遮罩訊號，雖然會讓感測電極單元上的脈衝直流訊號，藉由感測電極單元與遮罩電極334間的耦合電容部分洩漏出去，讓檢測電極線上存在一個背景直流漏電流，但施加有直流遮罩訊號的遮罩電極334隔離了顯示面板301上顯示訊號對觸控訊號的影響。
也可以對遮罩電極334施加與控制訊號波形、頻率和相位相同的遮罩訊號，如第11圖所示，感測電極單元上的脈衝直流訊號也與控制訊號波形、頻率和相位相同，因而遮罩電極334上的遮罩訊號就與感測電極單元上的訊號波形、頻率和相位相同；就可以盡可能減少感測電極單元與遮罩電極334間的耦合電容的洩漏，同時遮罩電極334又可隔離顯示面板301上顯示訊號對觸控訊號的影響。
實施方式八
如第3圖所示的有源觸控系統300和顯示面板301，有源觸控系統300包括觸控基板310、薄膜電晶體(TFT)陣列320、觸控電極、觸控電路340等。薄膜電晶體(TFT)陣列320和觸控電極設置在觸控基板310上。觸控電極由感測電極陣列331以及兩組相交的列控制電極線組332(3321、3322、3323、…、332m)、行檢測電極線組333(3331、3332、3333、…、333n)和遮罩電極334組成，各控制電極線和各檢測電極線相交處有絕緣層相隔離。觸控基板310設置在顯示面板301之上；觸控基板310是透明基板，感測電極陣列331的各感測電極單元〔(332i,333j)；i=1,2,…,m；j=1,2,…,n；其中m和n是自然數〕是透明ITO電極，感測電極陣列331、列控制電極線組332、列檢測電極線組333和遮罩電極334都設置在觸控基板210背向使用者的非觸摸面上。觸控電路340具有觸控激發源341、觸控訊號偵測電路342、控制電路343和遮罩訊號輸出端344。
控制電極線組332和檢測電極線組333的各控制電極線和各檢測電極線，分別連接薄膜電晶體(TFT)陣列320的各TFT單元的閘極和源極；感測電極陣列331的各感測電極單元分別連接各TFT單元的汲極；檢測電極線組333連接觸控電路340中的觸控激發源341和觸控訊號偵測電路342；控制電極線組332連接觸控電路340中的控制電路343，遮罩電極334連接觸控電路340中的遮罩訊號輸出端344。
如第12圖所示，觸控電路340的控制電路343以掃描方式，逐列向控制電極線組332各控制電極線輸出直流控制訊號，讓與施加有直流控制訊號的控制電極線相連的TFT單元處於導通狀態，與未施加直流控制訊號的控制電極線相連的TFT單元處於截止狀態；觸控電路340的觸控激發源341同時向檢測電極線組333的各檢測電極線施加交流觸控激發；觸控電路340的遮罩訊號輸出端344向遮罩電極334施加交流遮罩訊號，交流遮罩訊號的波形、頻率和相位與施加在檢測電極線組333上觸控訊號的波形、頻率和相位相同。隨著控制電路343每讓一列控制電極線上的TFT單元處於導通狀態，各檢測電極線上的交流觸控訊號就流入藉由TFT單元與該列控制電極線相連接的各感測電極單元內；觸控電路340的觸控訊號偵測電路342，在與該列控制電極線相連接的TFT單元處於導通狀態期間，逐列檢測各條檢測電極線上觸控訊號的變化。這樣隨著控制電路343逐列向各控制電極線輸出直流控制訊號，觸控訊號偵測電路342就逐列的偵測藉由TFT單元與此列控制電極線相連接的感測電極單元上觸控訊號的變化。
當操作者的手指或其他觸控物靠近或接觸某感測電極單元時，手指或其他觸控物與感測電極單元間形成耦合電容，感測電極單元上的交流觸控訊號就會藉由此耦合電容部分洩漏出去；觸控訊號偵測電路342藉由偵測各條檢測電極線上交流觸控訊號的變化，就可找出漏電流最大的或漏電流超過某門檻值的檢測電極線；觸控訊號偵測電路342偵測各條檢測電極線上觸控訊號的變化，也可以是找交流觸控訊號相位變化最大或交流觸控訊號相位變化超過某門檻值的檢測電極線；再根據此時開啟TFT單元的控制電極線，就可確定被觸的感測電極單元，從而找出手指或其他觸控物在觸控基板310上的位置。有源觸控系統300成為可探測觸控點位置的觸控系統。
對遮罩電極334施加與檢測電極線組上的交流觸控訊號波形、頻率和相位相同的遮罩訊號；就可以盡可能減少觸控訊號從感測電極單元與遮罩電極334間耦合電容的洩漏，同時遮罩電極334又可隔離顯示面板301上顯示訊號對觸控訊號的影響。
以上內容是結合具體的較佳實施方式對本發明所作的進一步詳細說明，不能認定本發明的具體實施只侷限於這些說明。對於本發明所屬技術領域的普通技術人員來說，在不脫離本發明構思的前提下，更可以做出多個簡單推演或替換，都應當視為屬於本發明的保護範圍。
100、200、300．．．有源觸控系統
110、210、310．．．觸控基板
120．．．有源元件陣列
131、231、331．．．感測電極陣列
132、232、332．．．控制電極線組
133、233、333．．．檢測電極線組
140、240、340．．．觸控電路
141、241、341．．．觸控激發源
142、242、342．．．觸控訊號偵測電路
143、243、343．．．控制電路
220、320．．．薄膜電晶體(TFT)陣列
301．．．顯示面板
334．．．遮罩電極
344．．．遮罩訊號輸出端
第1圖係為本發明實施方式一之電氣連接示意圖。
第2圖係為本發明實施方式二、三、四、五、六之電氣連接示意圖。
第3圖係為本發明實施方式七、八之電氣連接示意圖。
第4圖係為本發明實施方式一之驅動波形示意圖。
第5圖係為本發明實施方式二之驅動波形示意圖。
第6圖係為本發明實施方式三之驅動波形示意圖。
第7圖係為本發明實施方式四之驅動波形示意圖。
第8圖係為本發明實施方式五之驅動波形示意圖。
第9圖係為本發明實施方式六之驅動波形示意圖。
第10圖係為本發明實施方式七之驅動波形示意圖。
第11圖係為本發明實施方式七另一手段之驅動波形示意圖。
第12圖係為本發明實施方式八之驅動波形示意圖。
232．．．控制電極線組
233．．．檢測電極線組

Claims (18)

  1. 一種有源觸控系統的驅動方法，一有源觸控系統係包含一有源觸控面板和一觸控電路，該有源觸控面板的ㄧ基板上具有陣列排佈的ㄧ有源元件單元、陣列排佈的ㄧ感測電極單元、以及不少於二組相交的一控制電極線及一檢測電極線，各該控制電極線和各該檢測電極線相交處有一絕緣層相隔離；該觸控電路具有一觸控激發源、一觸控訊號檢測電路及一控制電路；該有源觸控面板上的該感測電極單元連接該有源元件單元，該有源元件單元連接該控制電極線及該檢測電極線，該檢測電極線連接該觸控電路中的該觸控激發源及該觸控訊號檢測電路，該控制電極線連接該觸控電路中的該控制電路；該觸控電路以掃描方式向各該控制電極線施加一控制訊號，控制該有源元件單元的導通狀態，並藉由偵測該檢測電極線上一觸控訊號的變化，來確定一觸控點的位置；
    其中，該觸控電路向其中一該控制電極線施加該控制訊號，讓與施加有該控制訊號的該控制電極線相連接的該有源元件單元處於導通態，該控制訊號是一直流訊號；同時，該觸控電路藉由該檢測電極線向該感測電極單元施加該觸控訊號，並偵測該檢測電極線上該觸控訊號的變化，來確定該感測電極單元是否被觸控。
  2. 如申請專利範圍第1項所述之有源觸控系統的驅動方法，其中該觸控電路藉由該檢測電極線向該感測電極單元施加的該觸控訊號是該直流訊號，該觸控電路藉由偵測施加在該檢測電極線上的為該直流訊號的該觸控訊號的變化，來確定該感測電極單元是否被觸控。
  3. 如申請專利範圍第1項所述之有源觸控系統的驅動方法，其中該觸控電路藉由該檢測電極線向該感測電極單元施加的該觸控訊號是一交流訊號，該觸控電路藉由偵測施加在該檢測電極線上的為該交流訊號的該觸控訊號的變化，來確定該感測電極單元是否被觸控。
  4. 一種有源觸控系統的驅動方法，一有源觸控系統係包含一有源觸控面板和一觸控電路，該有源觸控面板的一基板上具有陣列排佈的一有源元件單元、陣列排佈的一感測電極單元、以及不少於二組相交的一控制電極線和一檢測電極線，各該控制電極線和各該檢測電極線相交處有一絕緣層相隔離；該觸控電路具有一觸控激發源、一觸控訊號檢測電路和一控制電路；該有源觸控面板上的該感測電極單元連接該有源元件單元，該有源元件單元連接該控制電極線和該檢測電極線，該檢測電極線連接該觸控電路中的該觸控激發源和該觸控訊號檢測電路，該控制電極線連接該觸控電路中的該控制電路；該觸控電路以掃描方式向各該控制電極線施加一控制訊號，控制該有源元件單元的導通狀態，並藉由偵測該檢測電極線上一觸控訊號的變化，來確定一觸控點的位置；
    其中，該觸控電路向其中一該控制電極線施加的該控制訊號是一交流訊號；同時，該觸控電路藉由該檢測電極線向該感測電極單元施加該觸控訊號，並偵測該檢測電極線上該觸控訊號的變化，來確定該感測電極單元是否被觸控。
  5. 如申請專利範圍第4項所述之有源觸控系統的驅動方法，其中該觸控電路藉由該檢測電極線向該感測電極單元施加的該觸控訊號是一直流訊號，該觸控電路藉由偵測施加在該檢測電極線上的為該直流訊號的該觸控訊號的變化，來確定該感測電極單元是否被觸控。
  6. 如申請專利範圍第4項所述之有源觸控系統的驅動方法，其中該觸控電路藉由該檢測電極線向該感測電極單元施加的該觸控訊號是該交流訊號，該觸控電路藉由偵測施加在該檢測電極線上的為該交流訊號的該觸控訊號的變化，來確定該感測電極單元是否被觸控。
  7. 如申請專利範圍第6項所述之有源觸控系統的驅動方法，其中該交流訊號的該控制訊號的頻率，低於該交流訊號的該觸控訊號的頻率。
  8. 如申請專利範圍第6項所述之有源觸控系統的驅動方法，其中該交流訊號的該控制訊號的頻率，不低於該交流訊號的該觸控訊號的頻率。
  9. 如申請專利範圍第1或4項所述之有源觸控系統的驅動方法，其中該交流信號包括為該交流信號的該觸控訊號或為該交流信號的該控制訊號，頻率不小於10 KHz。
  10. 如申請專利範圍第2、3、5或6項所述之有源觸控系統的驅動方法，其中該交流信號的該控制訊號的波形或該交流信號的該觸控訊號的波形，可以是方波，也可以是正弦波，也可以是其他具有週期性的波形。
  11. 如申請專利範圍第1或4項所述之有源觸控系統的驅動方法，其中該觸控電路中的該觸控激發源具有不同激發端；該有源觸控系統的該檢測電極線組中，相鄰該檢測電極線連接該觸控激發源的不同激發端；該觸控激發源的不同激發端上一觸控激發訊號的波形或頻率或相位，可以是相同的，也可以是不同的。
  12. 如申請專利範圍第1或4項所述之有源觸控系統的驅動方法，其中該觸控電路具有連接設置在該感測電極單元陣列和一顯示面板電極之間的一遮罩電極的一輸出端，在該有源元件單元處於導通態的期間，該觸控電路施加給該遮罩電極的一遮罩訊號是該直流訊號。
  13. 如申請專利範圍第1或4項所述之有源觸控系統的驅動方法，其中該觸控電路具有連接設置在該感測電極單元陣列和一顯示面板電極之間的一遮罩電極的一輸出端，在該有源元件單元處於導通態的期間，該觸控電路施加給該遮罩電極的一遮罩訊號，與該觸控電路施加在該控制電極線上或施加在該檢測電極線上訊號的波形、頻率和相位是相同的。
  14. 如申請專利範圍第1或4項所述之有源觸控系統的驅動方法，其中該顯示面板是一有源液晶顯示面板，該觸控電路連接該遮罩電極的該輸出端，是連接到該有源液晶顯示面板的一顯示公共電極上，以該顯示公共電極作為該遮罩電極。
  15. 如申請專利範圍第1或4項所述之有源觸控系統的驅動方法，其中該觸控電路偵測該檢測電極線上該觸控訊號的變化，是藉由該檢測電極線測量其所連接該感測電極單元充電或放電的幅值特徵。
  16. 如申請專利範圍第1或4項所述之有源觸控系統的驅動方法，其中該觸控電路偵測該檢測電極線上該觸控訊號的變化，是藉由該檢測電極線測量其所連接該感測電極單元充電或放電的時間特徵。
  17. 如申請專利範圍第1或4項所述之有源觸控系統的驅動方法，其中該觸控電路偵測該檢測電極線上該觸控訊號的變化，是藉由該檢測電極線測量其所連接該感測電極單元漏電流的幅值特徵。
  18. 如申請專利範圍第1或4項所述之有源觸控系統的驅動方法，其中該觸控電路偵測該檢測電極線上該觸控訊號的變化，是藉由該檢測電極線測量其所連接該感測電極單元漏電流的相位特徵。
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