TWI491878B - 具有相對電極之雙腔室多分析物測試條 - Google Patents

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Description

具有相對電極之雙腔室多分析物測試條
一般而言，本發明係關於醫療裝置，特別是關於分析物測試條、測試計及相關方法。
一流體試樣中之一分析物的測定(例如，偵檢及/或濃度測量)在醫療領域中特別受到關注。舉例來說，可需要測定諸如尿液、血液或間質流體之一體液試樣中的葡萄糖、酮、膽固醇、乙醯胺酚及/或HbA1c的濃度。這類測定可以諸如光測定或電化技術為基礎，使用分析物測試條連同一關聯的測試計來達成。
典型以電化為基礎的分析物測試條利用一工作電極連同一關聯的對應/參考電極與酵素試劑，以幫助一具有單一受關注之分析物的電化反應，從而測定該單一分析物的濃度。舉例來說，一用於測定血液試樣中之葡萄糖濃度之以電化為基礎的分析物測試條可利用一酵素試劑，其包括酵素(葡萄糖氧化酵素)與媒介物(鐵氰化物)。這類習用的分析物測試條在諸如美國專利第5,708,247號、第5,951,836號、第6,241,862號及第6,284,125號中敘述；各篇之全文係併入於此以供參照。
一種雙腔室多分析物測試條，其包括：一第一絕緣層；一第一導電層，其配置在該第一絕緣層上，該導電層包括具有一第一分析物接觸墊之一第一工作電極；一第一圖案化間隔物層，其位在該導電層上方，該圖案化間隔物層在其中界定一覆蓋於該第一工作電極之上的第一試樣接收腔室，該第一試樣接收腔室具有一第一末端開口及一第二末端開口；一第一對應/參考電極層，其覆蓋於該第一試樣接收腔室之上並暴露至此，該第一對應/參考電極層係以一與該第一工作電極相對的關係建構，並具有一第一對應/參考接觸墊；一對應/參考絕緣層，其配置在該第一對應/參考電極層上方；一第二對應/參考電極層，其配置在該對應/參考絕緣層上方，該第二對應/參考電極層具有一第二對應/參考接觸墊；一第二圖案化間隔物層，其位在該第二對應/參考電極層上方，該第二圖案化間隔物層在其中界定一具有一第一末端開口及一第二末端開口的第二試樣接收腔室；一第二導電層，其配置在該第二圖案化間隔物層上方，該第二導電層包括一具有一第二分析物接觸墊的第二工作電極；一第二絕緣層，其配置在該第二導電層上方；一第一分析物試劑層，其配置於該第一試樣接收腔室內之至少一部分的該第一工作電極上；及一第二分析物試劑層，其配置於該第二試樣接收腔室內之至少一部分的該第二工作電極上；其中該第二試樣接收腔室覆蓋於該第二工作電極之上，且其中該第二對應/參考電極層暴露至該第二試樣接收腔室，並以一與該第二工作電極相對的關係建構。
下列詳細敘述必須參照圖式閱讀，其中不同圖式中的相同元件係為同樣的編號。不必按照比例繪製的圖式繪示僅用於解釋目的的例示性實施例，且並未打算限制本發明的範圍。詳細敘述係經由實例而非經由限制來說明本發明的原理。此敘述明顯將致能一熟悉此技術者實現並使用本發明，並敘述本發明的若干實施例、改編、變體、替代物與使用，包括當前咸信為實行本發明之最佳模式者。
根據本發明之實施例的雙腔室多分析物測試條(在此亦簡稱為測試條)包括一第一絕緣層、一配置在第一絕緣層上之第一導電層(具有一第一工作電極及一第一分析物接觸墊)及一第一圖案化間隔物層。第一圖案化間隔物層係位在第一導電層上方，並具有一界定在其中的第一試樣接收腔室(具有第一及第二末端開口)。第一試樣接收腔室覆蓋於第一工作電極之上。測試條亦包括一第一對應/參考電極層，其暴露至第一試樣接收腔室，且被建構成與第一工作電極處於相對(亦即<，共面)關係。第一對應/參考電極層具有一第一對應/參考接觸墊。
測試條進一步包括配置在第一對應/參考電極層上方之一對應/參考絕緣層及配置在對應/參考絕緣層上方之一第二對應/參考電極層(具有一第二對應/參考接觸墊)。同樣包括在測試條中的是一置於第二對應/參考電極層上方的第二圖案化間隔物層。該第二圖案化間隔物層具有一界定在其中的第二試樣接收腔室，並具有第一及第二末端開口。測試條另外具有一配置在第二圖案化間隔物層上方的第二導電層(具有一第二工作電極及一第二分析物接觸墊)、一配置在第二導電層上方的第二絕緣層、一在第一試樣接收腔室內配置於第一工作電極上的第一分析物試劑層及一在第二試樣接收腔室內配置於第二工作電極上的第二分析物試劑層。第二對應/參考電極層係暴露至第二試樣接收腔室，並處於與第二工作電極輔助(共面)的關係。
例如，根據本發明之實施例的雙腔室多分析物測試條的有利之處在於複數個不同分析物(例如，分析物葡萄糖及酮分析物3-羥丁酸酯)可在施加至測試條之一單一體液試樣(例如，一單一全血試樣)中進行測定。此外，由於雙腔室多分析物測試條具有兩個分開的試樣接收腔室，因而排除在測定兩分析物期間之有害的分析物試劑間的交叉污染、反應產物及/或副產物的交叉污染及/或交叉電子干擾的可能性。此外，由於第一對應/參考電極處於和第一工作電極相對(亦即，共面)的關係，且第二對應/參考電極層亦處於和第二工作電極相對(亦即，共面)的關係，雙腔室多分析物測試條有利地為小總尺寸，並具有小試樣接收腔室。此外，可使用習用之簡單且相對便宜的網基技術來製造根據本發明之實施例的雙腔室多分析物測試條。
圖1為根據本發明之一實施例的雙腔室多分析物測試條100的簡化透視分解圖。圖2A至2K為雙腔室多分析物測試條100的第一絕緣層102、第一導電層104、第一分析物試劑層106、第一圖案化間隔物層108、第一對應/參考電極層110、對應/參考絕緣層112、第二對應/參考電極層114(須注意到為了簡明易懂，層110、112及114在圖1中係顯示為一單一層，並在圖2E至2G中更準確地顯示為分開的層)、第二圖案化間隔物層116、第二分析物試劑層118、第二導電層120及第二絕緣層122的簡化頂視圖。圖3為雙腔室多分析物測試條100的簡化頂視圖。
參照圖1、圖2A至2K及圖3，雙腔室多分析物測試條100被建構成用於與一測試計(在此進一步針對例如圖4A及4B的實施例加以敘述)併用，且具有縱軸124(以圖3的虛線繪示)、左側邊126及右側邊128。
雙腔室多分析物測試條100包括第一絕緣層102，且在其上配置有第一導電層104。第一導電層104包括具有第一分析物接觸墊132的第一工作電極130(尤見於圖2B)。雙腔室多分析物測試條100的第一圖案化間隔物層108配置在第一導電層104上方(尤見於圖1)，且該圖案化間隔物層在其中界定覆蓋於第一工作電極130之上的第一試樣接收腔室134。此外，第一試樣接收腔室134具有第一末端開口134a及第二末端開口134b。
雙腔室多分析物測試條100的第一對應/參考電極層110覆蓋於第一試樣接收腔室134之上，並暴露至此，且被建構成與第一工作電極130處於輔助關係(參見圖1)。此外，第一對應/參考電極層110具有對應/參考電極接觸墊136(尤見於圖2E)。
雙腔室多分析物測試條100亦包括配置在第一對應/參考電極層110上方的對應/參考絕緣層112。第二對應/參考電極層114係配置在對應/參考絕緣層112上方，並具有第二對應/參考接觸墊138(尤見於圖2G及圖3)。對應/參考絕緣層112提供第一對應/參考電極層110與第二對應/參考電極層114之間的電絕緣。
雙腔室多分析物測試條100進一步包括置於第二對應/參考電極層114上方的第二圖案化間隔物層116，且其具有界定於其中的第二試樣接收腔室140。第二試樣接收腔室140具有第一末端開口140a及第二末端開口140b。
雙腔室多分析物測試條100的第二導電層120係配置在第二圖案化間隔物層116上方。第二導電層120包括具有第二分析物接觸墊144的第二工作電極142(參見圖2J)。
雙腔室多分析物測試條100的第二絕緣層122係配置在第二導電層120上方。雙腔室多分析物測試條100亦具有在第一試樣接收腔室134內配置於第一工作電極130之至少一部分上的第一分析物試劑層106(例如，一葡萄糖試劑層)及在第二試樣接收腔室140內配置於第二工作電極142之至少一部分上的第二分析物試劑層118(例如，一酮試劑層)。
在雙腔室多分析物測試條100中，第二試樣接收腔室140覆蓋於第二工作電極142之上，且第二對應/參考電極層114係暴露至第二試樣接收腔室140，並被建構成處於和第二工作電極142相對(亦即，共面)的關係。
將雙腔室多分析物測試條100建構成使第一試樣接收腔室134的第一末端開口134a及第二試樣接收腔室140的第一末端開口140a在右側邊128上對齊。換言之，第一末端開口134a直接位於第一末端開口140a的下方，且兩開口僅藉由第一及第二對應/參考電極層與對應/參考絕緣層的厚度來分隔。此對齊讓施加在右側邊128上的單一體液試樣得以很快進入(經由毛細管作用)第一及第二試樣接收腔室兩者，並以第二末端開口134b及第二末端開口140b作為通氣孔。然而，由於第二末端開口134b係在左側邊126上與第二末端開口140b對齊，單一血體液試樣因而可替代地施加至左側邊，從而經由第二末端開口134b及第二末端開口140b進入(經由毛細管作用)第一及第二試樣接收腔室，並以第一末端開口134a及第一末端開口140a作為通氣孔。
在圖1、2A至2K及3的實施例中，第一分析物接觸墊132、第一對應/參考電極接觸墊136、第二分析物接觸墊144及第二對應/參考接觸墊138係被建構成用於與一測試計的電連接器形成操作性電接觸。一這類墊與電連接器之例示性但非限制性的連接在本文他處針對圖4A及4B說明與敘述。
第一絕緣層102、對應/參考絕緣層112及第二絕緣層122可由例如適當的電絕緣塑膠(例如，PET、PETG、聚醯亞胺、聚碳酸酯、聚苯乙烯)、矽、陶瓷或玻璃材料構成。例如，第一和第二絕緣層及對應/參考絕緣層可由7密耳的聚酯基材構成。
在圖1、2A至2K及3的實施例中，第一工作電極130及第一對應/參考電極層110與第一分析物試劑層106係建構成用於使用一熟悉此項技術者已知之任何適當的以電化為基礎的技術電化測定一體液試樣中之一第一分析物(例如，一全血試樣中之葡萄糖)的濃度。此外，第二工作電極142及第二對應/參考電極層114與第二分析物試劑層118係建構成用於電化測定相同體液試樣中之一第二分析物的濃度(例如，酮3-羥丁酸酯的濃度)。在此情況下，第一分析物係在進入第一試樣接收腔室之一部分的單一體液試樣中測定，且第二分析物係在進入第二試樣接收腔室之一部分的單一體液試樣中測定。
第一導電層104及第二導電層120可由任何適當的導電材料(例如，金、鈀、碳、銀、鉑、氧化錫、銥、銦或其組合(例如，摻雜銦的氧化錫))構成。此外，可採用任何適當技術來形成第一導電層104及第二導電層120，這些技術包括例如濺射、蒸發、無電電鍍、網板印刷、接觸印刷或凹版印刷。例如，第一導電層104及第二導電層120可為分別藉由將鈀(Pd)濺射至第一絕緣層102及第二絕緣層122上所形成的鈀層。這一類的鈀可具有例如位於8至12 ohm/cm2 之範圍內的片電阻值及接近60 nm的厚度。
第一對應/參考電極層110可為例如使用在此項技術中已知之習用技術所濺射塗覆至對應/參考絕緣層112之底面上的金層。類似地，第二對應/參考電極層114可為例如使用在此項技術中已知之習用技術所濺射塗覆至對應/參考絕緣層112之頂側上的金層。這一類的金層可具有例如位於8至12 ohm/cm2 之範圍內的片電阻及接近30 nm的厚度。
雙腔室多分析物測試條100的第一圖案化間隔物層108係建構成將第一絕緣層102(其上具有第一導電層104)及對應/參考絕緣層112(其底面上具有第一對應/參考電極層110，且其頂側上具有第二對應/參考電極層114)黏合在一起。雙腔室多分析物測試條100的第二圖案化間隔物層116係用於將第二絕緣層122(其上具有第二導電層120)及第二對應/參考電極層114黏合在一起。
圖案化間隔物層108及116可為例如95 μm厚的雙面感壓黏著層、熱活化黏著層或熱凝固黏著塑膠層。圖案化間隔物層108及116可具有諸如位於從約1微米至約500微米之範圍內的厚度，較佳的是介於約10微米及約400微米之間，更佳的是介於約40微米及約200微米之間。
雙腔室多分析物測試條100的第一分析物試劑層106可為那些熟悉此項技術者已知的任何適當試劑的混合物，其有選擇地與一體液試樣中之一第一分析物(例如，葡萄糖)反應，以形成一電活性物種，其可接著在根據本發明之實施例之雙腔室多分析物測試條的第一工作電極上進行定量測量。因此，第一分析物試劑層106包括至少一酶及一媒介物。適用媒介物的實例包括例如鐵氰化物、鐵莘、鐵莘衍生物、聯吡啶鋨的錯合物及苯醌衍生物。適用酶的實例包括葡萄糖氧化酶、使用吡咯並喹啉苯醌(PQQ)輔助因子的葡萄糖脫氫酶(GDH)、使用菸鹼醯胺腺嘌呤二核甘酸(NAD)輔助因子的GDH及使用黃素腺鹼二核苷酸(FAD)輔助因子的GDH。可使用任何適用的技術來施加第一分析物試劑層106。
雙腔室多分析物測試條100的第二分析物試劑層118可為那些熟悉此項技術者已知的任何適當試劑的混合物，其有選擇地與一體液試樣中之一第二分析物(例如，酮3-羥丁酸酯)反應，以形成一電活性物種，其可接著在根據本發明之實施例之雙腔室多分析物測試條的第二工作電極上進行定量測量。因此，第二分析物試劑層118包括至少一酶及一媒介物可使用任何適當的技術來施加第二分析物試劑部分118。須注意第一及第二分析物並不相同。換言之，第一及第二分析物並非相同的化學物種。因此，兩種不同的分析物係藉由根據本發明的雙腔室多分析物測試條來進行測定。
當第二分析物為酮3-羥丁酸酯時，媒介物可為例如鐵氰化鉀及NAD的混合物，且酶可為例如黃遞酶及羥丁酸酯脫氫酶的混合物。
一旦獲悉本發明，一熟悉此項技術者將了解，若有需要的話，第一分析物試劑層106及第二分析物試劑層118亦可含有適當的緩衝液(例如，三(羥甲基)氨基甲烷鹽酸鹽(Tris HCI)、檸康酸鹽、檸檬酸鹽及磷酸鹽緩衝液)、界面活性劑(例如，Tritoan X100、Tergitol NP&、PLuronic F68、甜菜鹼(Betaine)及意格倍(Igepal)界面活性劑)、增稠劑(包括例如羥乙基纖維素、HEC、羧甲基纖維素、乙基纖維素及藻酸鹽增稠劑)及此領域中已知的其他添加劑。
須注意在圖1至3的實施例中，第一分析物接觸墊132及第二分析物接觸墊144係在雙腔室多分析物測試條100的相對側上暴露。換言之，在圖1的透視圖中，第一分析物接觸墊132係從雙腔室多分析物測試條100的頂側暴露，且第二分析物接觸墊144係從雙腔室多分析物測試條100的底側暴露。這一類組態幫助藉由一測試計的電連接器來建立安全而強健的電連接。
用於與根據本發明之實施例之雙腔室多分析物測試條併用的測試計包括一測試條接收模組及一訊號處理模組。測試條接收模組具有一第一電連接器，其係建構成用於接觸一測試條之一第一工作電極的第一分析物接觸墊；一第二電連接器，其係建構成用於接觸一測試條之一第二工作電極的第二分析物接觸墊；一第三電連接器，其係建構成用於接觸一測試條之一第一對應/參考電極層的第一對應/參考接觸墊；及一第四電連接器，其係建構成用於接觸一測試條之一第二對應/參考電極層的第二對應/參考接觸墊。
測試計的訊號處理模組係建構成經由第一電連接器及第三電連接器接收一第一訊號，並將第一訊號用於測定施加至雙腔室多分析物測試條之一體液試樣(例如，一全血試樣)中之一第一分析物(例如，葡萄糖)。此外，訊號處理模組亦被建構成經由第二電連接器及第四電連接器接收一第二訊號，並將第二訊號用於測定施加至雙腔室多分析物測試條之一體液試樣中之一第二分析物(例如，酮分析物)。另外，相對於第四電連接器及第二對應/參考接觸墊的接觸，第三電連接器係建構成以一相對方式接觸第一對應/參考接觸墊。
圖4A為根據本發明之一實施例之與測試計200併用之雙腔室多分析物測試條100的簡化圖。在圖4A中，虛線指示從圖4A之視圖的隱藏角度觀看的若干特徵結構。圖4B為雙腔室多分析物測試條100及測試計200之測試計電連接器的簡化端視圖。測試計200在殼體206內包括測試條接收模組202及訊號處理模組204。
測試條接收模組202具有建構成用於接觸測試條之第一分析物接觸墊的第一電連接器208、建構成用於接觸測試條之第二分析物接觸墊的第二電連接器210、建構成用於接觸測試條之第一對應/參考接觸墊的第三電連接器212及建構成用於接觸測試條之第二對應/參考接觸墊的第四電連接器214。
訊號處理模組204係建構成經由第一電連接器208及第三電連接器212接收一第一訊號，並將第一訊號用於測定施加至雙腔室多分析物測試條之一體液試樣中之一第一分析物。此外，訊號處理模組204亦建構成經由第二電連接器210及第四電連接器214接收一第二訊號，並將第二訊號用於測定施加至雙腔室多分析物測試條之該體液試樣中之一第二分析物。
建構測試計200，以致相對於第四電連接器及第二對應/參考接觸墊的接觸，第三電連接器以一相對方式接觸測試條的第一對應/參考接觸墊。換言之且如圖4A及4B中所繪示，第三電接觸從測試條的底側相接觸，而第四電接觸從測試條的頂側相接觸。此外，相對於第二電連接器及測試條之第二分析物接觸墊的接觸，第一電連接器係建構成以一相對方式接觸測試條的第一分析物接觸墊。這些相對的接觸組態使測試計有利地為小尺寸，同時仍提供針對測試計與雙腔室多分析物測試條之操作所必須的電連接。這些組態亦最小化測試計的機械複雜度，同時提供至測試條的連接。
在圖4A及4B的實施例中，訊號處理模組204包括例如一訊號接收部件、一訊號測量部件、一處理器部件及一記憶體部件(每一個皆未顯示在圖4A及4B中)。測試計200可測量例如一第一工作電極及一第一對應/參考電極層之間與一第二工作電極及一第二對應/參考電極層之間的電阻、電連續性或其他電特性。一熟悉此項技術者將了解測試計200在測定宜第一及一第二分析物期間亦可利用未繪示於簡化的圖4A中的各種感測器及電路。
如下述般進行根據本發明之一實施例之雙腔室多分析物測試條之成功操作的驗證。雙腔室多分析物測試條係由下列材料製成：第一及第二絕緣層與對應/參考絕緣層-具有~178 μm之厚度的聚酯薄膜(商業上可購自Dupont Teijin Films，Hopewell，Virginia，USA，且其所用的商標名為Melinex 329)；第一及第二導電層-鈀第一及第二對應/參考層-金第一及第二圖案化間隔物層-接近95 μm的總厚度(由接近50 μm厚的PET層所構成，在其兩個主要表面上以一接近22.5 μm厚的熱塑熱活化黏著劑塗覆)第一分析物試劑層(用於葡萄糖測定)：100 mM的Tris緩衝液，pH 7.4；% w/v羥乙基纖維素；10% w/v亞鐵氰化鉀(III)；1% w/v葡萄糖氧化酶。
第二分析物試劑層(用於酮測定)100 mM的Tris緩衝液，pH 7.4；% w/v羥乙基纖維素；10% w/v亞鐵氰化鉀(III)；1% w/v羥丁酸酯脫氫酶1% w/v黃遞酶。
一雙腔室多分析物測試條係使用習用之熱層壓及試劑層施加與乾燥技術來製造。所得的測試條係在一標準雙電位自調器上進行測試。雙電位自調器的參考及相對電極係連接至測試條的第一及第二對應/參考接觸墊。雙電位自調器的工作電極係連接至測試條的第一及第二分析物接觸墊。以一和圖4A所繪示者電等效的方式來形成連接。
將葡萄糖及酮標準溶液施加至雙腔室多分析物測試條。在3秒預處理序列(等效於施加斷路至測試條3秒)之後，將0.4V的電位施加至測試條七秒。圖5顯示在0.4V的施加電位期間之雙腔室多分析物測試條的電流輸出。圖6指示一足夠穩定的電流係為了進入測試條之第一及第二試樣接收腔室兩者的控制溶液試樣而產生，指示測試條可成功用於葡萄糖及酮兩者的偵檢，並指示在任一測定中均無明顯的交錯污染。
圖6為繪示用於測定一單一體液試樣(例如，一全血試樣)中之多個分析物(例如，分析物葡萄糖及酮分析物3-羥丁酸酯)之方法300中之各階段的流程圖，該單一體液試樣係施加至根據本發明之一實施例的雙腔室多分析物測試條。
在方法300的步驟310，將一雙腔室多分析物測試條插入一測試計中。將測試條插入量計中，以致(i)一測試計的第一電連接器與一測試條之一第一工作電極的第一分析物接觸墊相接觸；(ii)一測試計的第二電連接器與一測試條之一第二工作電極的第二分析物接觸墊相接觸；(iii)一測試計的第三電連接器與一測試條的第一對應/參考電極接觸墊相接觸；及(iv)一測試計的第四電連接器與一測試條的第二對應/參考電極接觸墊相接觸。
該方法亦包括使用測試計之一訊號處理模組測定施加至測試條之一單一體液試樣中之一第一分析物及一第二分析物的至少一個(參見圖5的步驟320)，在將體液試樣施加至測試條後，該單一體液試樣已進入雙腔室多分析物測試條之一第一試樣接收腔室及一第二試樣接收腔室。
在測定步驟期間，訊號處理模組經由第一電連接器及第三電連接器接收一第一訊號，並將第一訊號用於測定第一分析物。在測定步驟期間，訊號處理模組亦經由第二電連接器及第四電連接器接收一第二訊號，並將第二訊號用於測定第二分析物。在方法300中，第一對應/參考電極層係以一與第一工作電極相對的關係建構；且第二對應/參考電極層係以一與第二工作電極相對的關係建構。
一旦獲悉本揭示內容，一熟悉此項技術者將了解方法300可輕易修改，以涵括根據本發明之實施例及本文所述之雙腔室多分析物測試條與本文所述之根據本發明之實施例之測試計的任何技術、優點與特徵。此外，體液試樣可在插入步驟前或插入步驟後施加至雙腔室多分析物測試條。
雖然本發明的較佳實施例已在本文顯示及敘述，那些熟悉此項技術者當明白這類實施例僅經由實例提供。在不偏離本發明的情況下，那些熟悉此項技術者現將發想眾多變異、改變及置換物。須了解本文所述之本發明之實施例的各種替代可用於實行本發明。吾人意欲以下列的專利申請範圍界定本發明的範圍，並藉此涵蓋屬於這些專利申請範圍內的裝置、方法及其等同物。
100．．．雙腔室多分析物測試條
102．．．第一絕緣層
104．．．第一導電層
106．．．第一分析物試劑層
108．．．第一圖案化間隔物層
110．．．第一對應/參考電極層
112．．．對應/參考絕緣層
114．．．第二對應/參考電極層
116．．．第二圖案化間隔物層
118．．．第二分析物試劑層
120．．．第二導電層
122．．．第二絕緣層
124．．．縱軸
126．．．左側邊
128．．．右側邊
130．．．第一工作電極
132．．．第一分析物接觸墊
134．．．第一試樣接收室
134a．．．第一末端開口
134b．．．第二末端開口
136．．．對應/參考電極接觸墊
138．．．對應/參考接觸墊
140．．．第二試樣接收室
140a．．．第一末端開口
140b．．．第二末端開口
142．．．第二工作電極
144．．．第二分析物接觸墊
200．．．測試計
202．．．測試條接收模組
204．．．訊號處理模組
206．．．殼體
208．．．第一電連接器
210．．．第二電連接器
212．．．第三電連接器
214．．．第四電連接器
本發明之新式特徵在附加的申請專利範圍中闡明其特殊性。對本發明之特徵與優點的較佳了解將藉由參照下列提出說明實施例的詳細敘述與伴隨圖式而獲得，在說明實施例中係利用本發明的原理，且在伴隨圖式中，相同數字指示相同元件，其中：
圖1為根據本發明之一實施例之一雙腔室多分析物測試條的簡化透視分解圖；
圖2A至2K分別為圖1的雙腔室多分析物測試條之第一絕緣層、第一導電層、第一分析物試劑層、第一圖案化間隔物層、第一對應/參考電極層、對應/參考絕緣層、第二對應/參考電極層、第二圖案化間隔物層、第二分析物試劑層、第二導電層及第二絕緣層的簡化頂視圖；
圖3為圖1的雙腔室多分析物測試條的簡化頂視圖；
圖4A為根據本發明之一實施例之圖1至3之雙腔室多分析物測試條與一測試計併用的簡化圖；
圖4B為圖4A之雙腔室多分析物測試條及測試計電連接器的簡化端視圖；
圖5為在測試一根據本發明之一實施例的雙腔室多分析物測試條期間所獲得之一電流(以安培為單位)對時間(以秒為單位)的圖；且
圖6為繪示用於測定一單一體液試樣中之多個分析物之一方法中之各階段的流程圖，該單一體液試樣係施加至根據本發明之一實施例的雙腔室多分析物測試條。
100．．．雙腔室多分析物測試條
102．．．第一絕緣層
104．．．第一導電層
106．．．第一分析物試劑層
108．．．第一圖案化間隔物層
110．．．第一對應/參考電極層
112．．．對應/參考絕緣層
114．．．第二對應/參考電極層
116．．．第二圖案化間隔物層
118．．．第二分析物試劑層
120．．．第二導電層
122．．．第二絕緣層

Claims (10)

  1. 一種雙腔室多分析物測試條，其包括：一第一絕緣層；一第一導電層，其配置在該第一絕緣層上，該第一導電層包括具有一第一分析物接觸墊之一第一工作電極；一第一圖案化間隔物層，其位在該第一導電層上方，該圖案化間隔物層在其中界定一覆蓋於該第一工作電極之上的第一試樣接收腔室，該第一試樣接收腔室具有一第一末端開口及一第二末端開口；一第一對應/參考電極層，其覆蓋於該第一試樣接收腔室之上並暴露至此，該第一對應/參考電極層係以一與該第一工作電極相對的關係建構，並具有一第一對應/參考接觸墊；一對應/參考絕緣層，其配置在該第一對應/參考電極層上方；一第二對應/參考電極層，其配置在該對應/參考絕緣層上方，該第二對應/參考電極層具有一第二對應/參考接觸墊；一第二圖案化間隔物層，其位在該第二對應/參考電極層上方，該第二圖案化間隔物層在其中界定一具有一第三末端開口及一第四末端開口的第二試樣接收腔室； 一第二導電層，其配置在該第二圖案化間隔物層上方，該第二導電層包括一具有一第二分析物接觸墊的第二工作電極；一第二絕緣層，其配置在該第二導電層上方；一第一分析物試劑層，其配置於該第一試樣接收腔室內之至少一部分的該第一工作電極上；及一第二分析物試劑層，其配置於該第二試樣接收腔室內之至少一部分的該第二工作電極上；其中該第二試樣接收腔室覆蓋於該第二工作電極之上，且其中該第二對應/參考電極層暴露至該第二試樣接收腔室，並以一與該第二工作電極相對的關係建構。
  2. 如申請專利範圍第1項之雙腔室多分析物測試條，其中該雙腔室多分析物測試條具有一縱軸、一左側邊及一右側邊，且其中該第一試樣接收腔室的該第一末端開口及該第二試樣接收腔室的該第一末端開口係位於該右側邊上，且其中該第一試樣接收腔室的該第二末端開口及該第二試樣接收腔室的該第二末端開口係位於該左側邊上。
  3. 如申請專利範圍第1項之雙腔室多分析物測試條，其中該第一試樣接收腔室的該第一末端開口及該第 二試樣接收腔室的該第一末端開口係在該右側邊上對齊，且其中該第一試樣接收腔室的該第二末端開口及該第二試樣接收腔室的該第二末端開口係在該左側邊上對齊。
  4. 如申請專利範圍第1項之雙腔室多分析物測試條，其中該雙腔室多分析物測試條具有一底側及一頂側，且其中該第一對應/參考接觸墊係在該底側上暴露，且其中該第二對應/參考接觸墊係在該頂側上暴露。
  5. 如申請專利範圍第4項之雙腔室多分析物測試條，其中該第一分析物接觸墊係在該頂側上暴露，且其中該第二分析物接觸墊係在該底側上暴露。
  6. 如申請專利範圍第1項之雙腔室多分析物測試條，其中該體液試樣為一全血試樣。
  7. 如申請專利範圍第1項之雙腔室多分析物測試條，其中相較於該第二分析物試劑層，該第一分析物試劑層並不相同。
  8. 如申請專利範圍第1項之雙腔室多分析物測試條，其中該第一分析物試劑層為一葡萄糖分析物試劑層。
  9. 如申請專利範圍第8項之雙腔室多分析物測試條，其中該第二分析物試劑層為一酮分析物試劑層。
  10. 如申請專利範圍第9項之雙腔室多分析物測試條，其中該酮為3-羥丁酸酯。
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