TWI481867B - 與具有相對電極之雙腔室多分析物測試條併用的測試計 - Google Patents

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Description

與具有相對電極之雙腔室多分析物測試條併用的測試計
一般而言,本發明係關於醫療裝置,特別是關於分析物測試條、測試計及相關方法。
一流體試樣中之一分析物的測定(例如,偵檢及/或濃度測量)在醫療領域中特別受到關注。舉例來說,可能希望測定一體液(例如,尿液、血液或間質流體)試樣中之葡萄糖、酮體、膽固醇、乙醯胺酚及/或HbAlc的濃度。可使用以諸如光度或電化技術為基礎之分析物測試條連同一關聯的測試計來達成這類測定。
典型之以電化為基礎的分析物測試條利用一工作電極連同一關聯的相對/參考電極及一酵素試劑,以促進與受關注之一單一分析物的電化反應,從而測定該單一分析物的濃度。舉例來說,用於測定一血液試樣中之葡萄糖濃度之一以電化為基礎的分析物測試條可利用一酵素試劑,其包括酵素葡萄糖氧化酶及媒介鐵氰化物。這類習用的分析物測試條在諸如美國專利第5,708,247號、第5,951,836號、第6,241,862號及第6,284,125號中敘述;特將上述每一專利的全文併入於此以供參照。
一種與一雙腔室多分析物測試條併用的測試計,該測試計包括:一測試條接收模組,其具有:一第一電連 接器,其係建構成用於接觸該雙腔室多分析物測試條之一第一工作電極之一第一分析物接觸墊;一第二電連接器,其係建構成用於接觸該雙腔室多分析物測試條之一第二工作電極之一第二分析物接觸墊;一第三電連接器,其係建構成用於接觸該雙腔室多分析物測試條之一第一對應/參考電極層之一第一對應/參考接觸墊;以及一第四電連接器,其係建構成用於接觸該雙腔室多分析物測試條之一第二對應/參考電極層之一第二對應/參考接觸墊;以及一訊號處理模組,其中該訊號處理模組係建構成經由該第一電連接器及該第三電連接器接收一第一訊號,並將該第一訊號用於測定施加至該雙腔室多分析物測試條之一體液試樣中之一第一分析物;以及其中該訊號處理模組亦建構成經由該第二電連接器及該第四電連接器接收一第二訊號,並將該第二訊號用於測定施加至該雙腔室多分析物測試條之一體液試樣中之一第二分析物,以及其中相對於該第四電連接器及該第二對應/參考接觸墊的接觸,該第三電連接器係建構成以一相對方式接觸該第一對應/參考接觸墊。
下列詳細敘述應參照圖示閱讀,其中不同圖示中的相同元件具有相同編號。不須依比例繪製的圖示繪示例示性實施例,其僅用於解釋之目的而非打算限制本發明的範圍。詳細敘述係經由實例而非經由限制來說明本發明的原理。此敘述明顯將使一熟悉此項技術者得以製造並使用本發明,並敘述本發明的若干實施例、改編、變 異、替代及用途,包括當前咸信為實行本發明之最佳模式者。
根據本發明之實施例的雙腔室多分析物測試條(在此亦簡稱為測試條)包括一第一絕緣層、一配置在第一絕緣層上之第一導電層(具有一第一工作電極及一第一分析物接觸墊)及一第一圖案化間隔物層。第一圖案化間隔物層係位在第一導電層上方,並具有一界定在其中的第一試樣接收腔室(具有第一及第二末端開口)。第一試樣接收腔室覆蓋於第一工作電極之上。測試條亦包括一第一對應/參考電極層,其暴露至第一試樣接收腔室,且被組態成與第一工作電極處於相對(亦即,共面)關係。第一對應/參考電極層具有一第一對應/參考接觸墊。
測試條進一步包括配置在第一對應/參考電極層上方之一相對/參考絕緣層及配置在相對/參考絕緣層上方之一第二對應/參考電極層(具有一第二對應/參考接觸墊)。同樣包括在測試條中的是一置於第二對應/參考電極層上方的第二圖案化間隔物層。第二圖案化間隔物層具有一界定在其中的第二試樣接收腔室(具有第一及第二末端開口)。測試條另外具有一配置在第二圖案化間隔物層上方的第二導電層(具有一第二工作電極及一第二分析物接觸墊)、一配置在第二導電層上方的第二絕緣層、一在第一試樣接收腔室內配置於第一工作電極上的第一分析物試劑層及一在第二試樣接收腔室內配置於第二工作電極上的第二分析物試劑層。第二對應/參 考電極層係暴露至第二試樣接收腔室,並處於與第二工作電極相對(共面)的關係。
例如,根據本發明之實施例的雙腔室多分析物測試條的有利之處在於複數個不同分析物(例如,分析物葡萄糖及酮體分析物3-羥丁酸)可在施加至測試條之一單一體液試樣(例如,一單一全血試樣)中進行測定。此外,由於雙腔室多分析物測試條具有兩個分開的試樣接收腔室,因而排除在測定兩分析物期間之有害的分析物試劑間的交叉污染、反應產物及/或副產物的交叉污染及/或交叉電子干擾的可能性。此外,由於第一對應/參考電極處於和第一工作電極相對(亦即,共面)的關係,且第二對應/參考電極層亦處於和第二工作電極相對(亦即,共面)的關係,雙腔室多分析物測試條有利地為小總尺寸,並具有小試樣接收腔室。此外,可使用習用之簡單且相對便宜的網基技術來製造根據本發明之實施例的雙腔室多分析物測試條。
圖1為根據本發明之一實施例的雙腔室多分析物測試條100的簡化透視分解圖。圖2A至2K為雙腔室多分析物測試條100的第一絕緣層102、第一導電層104、第一分析物試劑層106、第一圖案化間隔物層108、第一對應/參考電極層110、相對/參考絕緣層112、第二對應/參考電極層114(須注意為了簡明易懂,層110、112及114在圖1中係顯示為一單一層,並在圖2E至2G中更準確地顯示為分開的層)、第二圖案化間隔物層116、第二分析物試劑層118、第二導電層120 及第二絕緣層122的簡化頂視圖。圖3為雙腔室多分析物測試條100的簡化頂視圖。
參照圖1、圖2A至2K及圖3,雙腔室多分析物測試條100被組態成用於與一測試計(在此進一步針對例如圖4A及4B的實施例加以敘述)併用,且具有縱軸124(以圖3的虛線繪示)、左側稜126及右側稜128。
雙腔室多分析物測試條100包括第一絕緣層102,且在其上配置有第一導電層104。第一導電層104包括具有第一分析物接觸墊132的第一工作電極130(尤見於圖2B)。雙腔室多分析物測試條100的第一圖案化間隔物層108係配置在第一導電層104上方(特參見圖1),且圖案化間隔物層在其中定義覆蓋於第一工作電極130之上的第一試樣接收腔室134。此外,第一試樣接收腔室134具有第一末端開口134a及第二末端開口134b。
雙腔室多分析物測試條100的第一對應/參考電極層110覆蓋於第一試樣接收腔室134之上,並暴露至此,且被組態成與第一工作電極130處於相對關係(參見圖1)。此外,第一對應/參考電極層110具有相對/參考電極接觸墊136(尤見於圖2E)。
雙腔室多分析物測試條100亦包括配置在第一對應/參考電極層110上方的相對/參考絕緣層112。第二對應/參考電極層114係配置在相對/參考絕緣層112上方,並具有第二對應/參考接觸墊138(特參見圖2G及3)。相對/參考絕緣層112提供第一對應/參考電極層110與第二對應/參考電極層114之間的電絕緣。
雙腔室多分析物測試條100進一步包括置於第二對應/參考電極層114上方的第二圖案化間隔物層116,且其具有定義於其中的第二試樣接收腔室140。第二試樣接收腔室140具有第一末端開口140a及第二末端開口140b。
雙腔室多分析物測試條100的第二導電層120係配置在第二圖案化間隔物層116上方。第二導電層120包括具有第二分析物接觸墊144的第二工作電極142(參見圖2J)。
雙腔室多分析物測試條100的第二絕緣層122係配置在第二導電層120上方。雙腔室多分析物測試條100亦具有第一分析物試劑層106(例如,一葡萄糖試劑層),其在第一試樣接收腔室134內配置於至少一部分的第一工作電極130之上;及第二分析物試劑層118(例如,一酮體試劑層),其在第二試樣接收腔室140內配置於至少一部分的第二工作電極142之上。
在雙腔室多分析物測試條100中,第二試樣接收腔室140覆蓋於第二工作電極142之上,且第二對應/參考電極層114係暴露至第二試樣接收腔室140,並被組態成處於和第二工作電極142相對(亦即,共面)的關係。
雙腔室多分析物測試條100係建構成致使第一試樣接收腔室134之第一末端開口134a及第二試樣接收腔室140之第一末端開口140a在右側稜128上對準。換言之,第一末端開口134a係直接位於第一末端開口140a下方,且兩開口僅藉由第一及第二對應/參考電極層及相對/參考絕緣層的厚度來分隔。此對準讓施加在 右側稜128上的單一體液試樣得以很快進入(經由毛細管作用)第一及第二試樣接收腔室兩者,並以第二末端開口134b及第二末端開口140b作為通氣孔。然而,由於第二末端開口134b係在左側稜126上與第二末端開口140b對準,單一血體液試樣因而可替代地施加至左側稜,從而經由第二末端開口134b及第二末端開口140b進入(經由毛細管作用)第一及第二試樣接收腔室,並以第一末端開口134a及第一末端開口140a作為通氣孔。
在圖1、2A至2K及3的實施例中,第一分析物接觸墊132、第一對應/參考電極接觸墊136、第二分析物接觸墊144及第二對應/參考接觸墊138係被組態成用於與一測試計的電連接器形成操作性電接觸。一這類墊與電連接器之例示性但非限制性的連接在本文他處針對圖4A及4B說明與敘述。
第一絕緣層102、相對/參考絕緣層112及第二絕緣層122可由例如適當的電絕緣塑膠(例如,PET、PETG、聚醯亞胺、聚碳酸酯、聚苯乙烯)、矽、陶瓷或玻璃材料構成。例如,第一和第二絕緣層及相對/參考絕緣層可由7密耳的聚酯基材構成。
在圖1、2A至2K及3的實施例中,第一工作電極130及第一對應/參考電極層110與第一分析物試劑層106係組態成用於使用一熟悉此項技術者已知之任何適當的以電化為基礎的技術電化測定一體液試樣中之一第一分析物(例如,一全血試樣中之葡萄糖)的濃度。此外,第二工作電極142及第二對應/參考電極層114與 第二分析物試劑層118係組態成用於電化測定相同體液試樣中之一第二分析物的濃度(例如,酮體3-羥丁酸的濃度)。在此情況下,第一分析物係在進入第一試樣接收腔室之一部分的單一體液試樣中測定,且第二分析物係在進入第二試樣接收腔室之一部分的單一體液試樣中測定。
第一導電層104及第二導電層120可由任何適當的導電材料(例如,金、鈀、碳、銀、鉑、氧化錫、銥、銦或其組合(例如,摻雜銦的氧化錫))構成。此外,可採用任何適當技術來形成第一導電層104及第二導電層120,這些技術包括例如濺射、蒸發、無電電鍍、網板印刷、接觸印刷或凹版印刷。例如,第一導電層104及第二導電層120可為分別藉由將鈀(Pd)濺射至第一絕緣層102及第二絕緣層122上所形成的鈀層。這一類的鈀可具有例如位於8至12ohm/cm2 之範圍內的片電阻值及接近60nm的厚度。
第一對應/參考電極層110可為例如使用在此項技術中已知之習用技術所濺射塗覆至相對/參考絕緣層112之底面上的金層。類似地,第二對應/參考電極層114可為例如使用在此項技術中已知之習用技術所濺射塗覆至相對/參考絕緣層112之頂側上的金層。這一類的金層可具有例如位於8至12ohm/cm2 之範圍內的片電阻值及接近30nm的厚度。
雙腔室多分析物測試條100的第一圖案化間隔物層108係組態成將第一絕緣層102(其上具有第一導電層104)及相對/參考絕緣層112(其底面上具有第一對應/ 參考電極層110,且其頂側上具有第二對應/參考電極層114)黏合在一起。雙腔室多分析物測試條100的第二圖案化間隔物層116係用於將第二絕緣層122(其上具有第二導電層120)及第二對應/參考電極層114黏合在一起。
圖案化間隔物層108及116可為例如95μm厚的雙面感壓黏著層、熱活化黏著層或熱凝固黏著塑膠層。圖案化間隔物層108及116可具有諸如位於從約1微米至約500微米之範圍內的厚度,較佳的是介於約10微米及約400微米之間,更佳的是介於約40微米及約200微米之間。
雙腔室多分析物測試條100的第一分析物試劑層106可為那些熟悉此項技術者已知的任何適當試劑的混合物,其有選擇地與一體液試樣中之一第一分析物(例如,葡萄糖)反應,以形成一電活性物種,其可接著在根據本發明之實施例之雙腔室多分析物測試條的第一工作電極上進行定量測量。因此,第一分析物試劑層106包括至少一酶及一媒介物。適用媒介物的實例包括例如鐵氰化物、鐵莘、鐵莘衍生物、聯吡啶鋨的錯合物及苯醌衍生物。適用酶的實例包括葡萄糖氧化酶、使用吡咯並喹啉苯醌(PQQ)輔助因子的葡萄糖脫氫酶(GDH)、使用菸鹼醯胺腺嘌呤二核甘酸(NAD)輔助因子的GDH及使用黃素腺鹼二核苷酸(FAD)輔助因子的GDH。可使用任何適用的技術來施加第一分析物試劑層106。
雙腔室多分析物測試條100的第二分析物試劑層118可為那些熟悉此項技術者已知的任何適當試劑的混 合物,其有選擇地與一體液試樣中之一第二分析物(例如,酮體3-羥丁酸)反應,以形成一電活性物種,其可接著在根據本發明之實施例之雙腔室多分析物測試條的第二工作電極上進行定量測量。因此,第二分析物試劑層118包括至少一酶及一媒介物可使用任何適當的技術來施加第二分析物試劑部分118。須注意第一及第二分析物並不相同。換言之,第一及第二分析物並非相同的化學物種。因此,兩種不同的分析物係藉由根據本發明的雙腔室多分析物測試條來進行測定。
當第二分析物為酮體3-羥丁酸時,媒介物可為例如鐵氰化鉀及NAD的混合物,且酶可為例如黃遞酶及羥丁酸脫氫酶的混合物。
一旦獲悉本發明,一熟悉此項技術者將了解,若有需要的話,第一分析物試劑層106及第二分析物試劑層118亦可含有適當的緩衝液(例如,三(羥甲基)氨基甲烷鹽酸鹽(Tris HCI)、檸康酸鹽、檸檬酸鹽及磷酸鹽緩衝液)、界面活性劑(例如,Tritoan X100、Tergitol NP &、PLuronic F68、甜菜鹼(Betaine)及意格倍(Igepal)界面活性劑)、增稠劑(包括例如羥乙基纖維素、HEC、羧甲基纖維素、乙基纖維素及藻酸鹽增稠劑)及此領域中已知的其他添加劑。
須注意在圖1至3的實施例中,第一分析物接觸墊132及第二分析物接觸墊144係暴露在雙腔室多分析物測試條100的相對側上。換言之,在圖1的透視圖中,第一分析物接觸墊132係從雙腔室多分析物測試條100的頂側暴露,且第二分析物接觸墊144係從雙腔室多分 析物測試條100的底側暴露。這一類配置幫助藉由一測試計的電連接器來建立牢固且強健的電連接。
用於與根據本發明之實施例之雙腔室多分析物測試條併用的測試計包括一測試條接收模組及一訊號處理模組。測試條接收模組具有一第一電連接器,其係組態成用於接觸一測試條之一第一工作電極的第一分析物接觸墊;一第二電連接器,其係組態成用於接觸一測試條之一第二工作電極的第二分析物接觸墊;一第三電連接器,其係組態成用於接觸一測試條之一第一對應/參考電極層的第一對應/參考接觸墊;及一第四電連接器,其係組態成用於接觸一測試條之一第二對應/參考電極層的第二對應/參考接觸墊。
測試計的訊號處理模組係組態成經由第一電連接器及第三電連接器接收一第一訊號,並將第一訊號用於測定施加至雙腔室多分析物測試條之一體液試樣(例如,一全血試樣)中之一第一分析物(例如,葡萄糖)。此外,訊號處理模組亦被組態成經由第二電連接器及第四電連接器接收一第二訊號,並將第二訊號用於測定施加至雙腔室多分析物測試條之一體液試樣中之一第二分析物(例如,酮體分析物)。另外,相較於第四電連接器與第二對應/參考接觸墊的接觸,第三電連接器係組態成以一相對方式接觸第一對應/參考接觸墊。
圖4A為根據本發明之一實施例之與測試計200併用之雙腔室多分析物測試條100的簡化圖。在圖4A中,虛線指示從圖4A之視圖的隱藏角度觀看的若干特徵結構。圖4B為雙腔室多分析物測試條100及測試計200之測試計電連接器的簡化端視圖。測試計200包括在殼體206內的測試條接收模組202及訊號處理模組204。
測試條接收模組202具有組態成用於接觸測試條之第一分析物接觸墊的第一電連接器208、組態成用於接觸測試條之第二分析物接觸墊的第二電連接器210、組態成用於接觸測試條之第一對應/參考接觸墊的第三電連接器212及組態成用於接觸測試條之第二對應/參考接觸墊的第四電連接器214。
訊號處理模組204係組態成經由第一電連接器208及第三電連接器212接收一第一訊號,並將第一訊號用於測定施加至雙腔室多分析物測試條之一體液試樣中之一第一分析物。此外,訊號處理模組204亦組態成經由第二電連接器210及第四電連接器214接收一第二訊號,並將第二訊號用於測定施加至雙腔室多分析物測試條之該體液試樣中之一第二分析物。
組態測試計200,以致相較於第四電連接器與第二對應/參考接觸墊的接觸,第三電連接器以一相對方式接觸測試條的第一對應/參考接觸墊。換言之且如圖4A及4B中所繪示,第三電接觸從測試條的底側相接觸,而第四電接觸從測試條的頂側相接觸。此外,相對於第二電連接器及測試條之第二分析物接觸墊的接觸,第一電連接器係組態成以一相對方式接觸測試條的第一分析物接觸墊。這些相對的接觸組態使測試計有利地為小尺寸,同時仍提供針對測試計與雙腔室多分析物測試條之操作所必須的電連接。這些組態亦最小化測試計的機械複雜度,同時提供至測試條的連接。
在圖4A及4B的實施例中,訊號處理模組204包括例如一訊號接收部件、一訊號測量部件、一處理器部件及一記憶體部件(每一個皆未顯示在圖4A及4B中)。測試計200可測量例如一第一工作電極及一第一對應/參考電極層之間與一第二工作電極及一第二對應/參考電極層之間的電阻、電連續性或其他電特性。一熟悉此項技術者將了解測試計200在測定宜第一及一第二分析物期間亦可利用未繪示於簡化的圖4A中的各種感測器及電路。
如下述般進行根據本發明之一實施例之雙腔室多分析物測試條之成功操作的驗證。雙腔室多分析物測試條係由下列材料製成:第一及第二絕緣層與相對/參考絕緣層-具有~178 μm之厚度的聚酯薄膜(商業上可購自Dupont Teijin Films,Hopewell,Virginia,USA,且其所用的商標名為Melinex 329);第一及第二導電層-鈀第一及第二對應/參考層-金第一及第二圖案化間隔物層-接近95 μm的總厚度(由以接近22.5 μm厚的熱塑性熱活化黏著劑塗佈在兩主要表面上之接近50 μm厚的PET層所構成)第一分析物試劑層(用於葡萄糖測定):100 mM的Tris緩衝液,pH 7.4;% w/v羥乙基纖維素;10% w/v亞鐵氰化鉀(III);1% w/v葡萄糖氧化酶。
第二分析物試劑層(用於酮體測定)100mM的Tris緩衝液,pH 7.4;% w/v羥乙基纖維素;10% w/v亞鐵氰化鉀(III);1% w/v羥丁酸脫氫酶1% w/v黃遞酶。
一雙腔室多分析物測試條係使用習用之熱層壓及試劑層施加與乾燥技術來製造。所得的測試條係在一標準雙電位自調器上進行測試。雙電位自調器的參考及相對電極係連接至測試條的第一及第二對應/參考接觸墊。雙電位自調器的工作電極係連接至測試條的第一及第二分析物接觸墊。以一和圖4A所繪示者電等效的方式來形成連接。
將葡萄糖及酮體標準溶液施加至雙腔室多分析物測試條。在3秒預處理序列(等效於施加斷路至測試條3秒)之後,將0.4V的電位施加至測試條七秒。圖5顯示在0.4V的施加電位期間之雙腔室多分析物測試條的電流輸出。圖6指示一足夠穩定的電流係為了進入測試條之第一及第二試樣接收腔室兩者的控制溶液試樣而產生,指示測試條可成功用於葡萄糖及酮體兩者的偵檢,並指示在任一測定中均無明顯的交錯污染。
圖6為繪示用於測定一單一體液試樣(例如,一全血試樣)中之多個分析物(例如,分析物葡萄糖及酮體分析物3-羥丁酸)之方法300中之各階段的流程圖,該單一體液試樣係施加至根據本發明之一實施例的雙腔室多分析物測試條。
在方法300的步驟310,將一雙腔室多分析物測試條插入一測試計中。將測試條插入量計中,以致(i)一測試計的第一電連接器與一測試條之一第一工作電極的第一分析物接觸墊相接觸;(ii)一測試計的第二電連接器與一測試條之一第二工作電極的第二分析物接觸墊相接觸;(iii)一測試計的第三電連接器與一測試條的第一對應/參考電極接觸墊相接觸;及(iv)一測試計的第四電連接器與一測試條的第二對應/參考電極接觸墊相接觸。
該方法亦包括使用測試計之一訊號處理模組測定施加至測試條之一單一體液試樣中之一第一分析物及一第二分析物的至少一個(參見圖5的步驟320),在將體液試樣施加至測試條後,該單一體液試樣已進入雙腔室多分析物測試條之一第一試樣接收腔室及一第二試樣接收腔室。
在測定步驟期間,訊號處理模組經由第一電連接器及第三電連接器接收一第一訊號,並將第一訊號用於測定第一分析物。在測定步驟期間,訊號處理模組亦經由第二電連接器及第四電連接器接收一第二訊號,並將第二訊號用於測定第二分析物。在方法300中,第一對應/參考電極層係以一與第一工作電極相對的關係組態;且第二對應/參考電極層係以一與第二工作電極相對的關係組態。
一旦獲悉本揭示內容,一熟悉此項技術者將了解方法300可輕易修改,以涵括根據本發明之實施例及本文所述之雙腔室多分析物測試條與本文所述之根據本發明之實施例之測試計的任何技術、優點與特徵。此外,體液試樣可在插入步驟前或插入步驟後施加至雙腔室多分析物測試條。
雖然本發明的較佳實施例已在本文顯示及敘述,那些熟悉此項技術者當明白這類實施例僅經由實例提供。在不偏離本發明的情況下,那些熟悉此項技術者現將發想眾多變異、改變及置換物。須了解本文所述之本發明之實施例的各種替代可用於實行本發明。吾人意欲以下列的專利申請範圍定義本發明的範圍,並藉此涵蓋屬於這些專利申請範圍內的裝置、方法及其等同物。
100...雙腔室多分析物測試條
102...第一絕緣層
104...第一導電層
106...第一分析物試劑層
108...第一圖案化間隔物層
110...第一對應/參考電極層
112...相對/參考絕緣層
114...第二對應/參考電極層
116...第二圖案化間隔物層
118...第二分析物試劑層
120...第二導電層
122...第二絕緣層
124...縱軸
126‧‧‧左側稜
128‧‧‧右側稜
130‧‧‧第一工作電極
132‧‧‧第一分析物接觸墊
134‧‧‧第一試樣接收腔室
134a‧‧‧第一末端開口
134b‧‧‧第二末端開口
136‧‧‧相對/參考電極接觸墊
138‧‧‧第二對應/參考接觸墊
140‧‧‧第二試樣接收腔室
140a‧‧‧第一末端開口
140b‧‧‧第二末端開口
142‧‧‧第二工作電極
144‧‧‧第二分析物接觸墊
200‧‧‧測試計
202‧‧‧測試條接收模組
204‧‧‧訊號處理模組
206‧‧‧殼體
208‧‧‧第一電連接器
210‧‧‧第二電連接器
212‧‧‧第三電連接器
214‧‧‧第四電連接器
本發明的新式特徵結構特在附加的申請專利範圍中提出。參照下列提出例示性實施例的詳細敘述及伴隨圖示將獲得對本發明之特徵結構與優點的較佳了解,其中該例示性實施例係利用本發明的原理,且該些圖示中的相同數字指示相同元件,其中:
圖1為根據本發明之一實施例之一雙腔室多分析物測試條的簡化分解透視圖;
圖2A至2K分別為圖1的雙腔室多分析物測試條之第一絕緣層、第一導電層、第一分析物試劑層、第一圖案化間隔物層、第一對應/參考電極層、相對/參考絕緣層、第二對應/參考電極層、第二圖案化間隔物層、第二分析物試劑層、第二導電層及第二絕緣層的簡化頂視圖;
圖3為圖1的雙腔室多分析物測試條的簡化頂視圖;
圖4A為根據本發明之一實施例之與一測試計併用之圖1至3之雙腔室多分析物測試條的簡化圖;
圖4B為圖4A之雙腔室多分析物測試條及測試計電連接器的簡化端視圖;
圖5為在測試一根據本發明之一實施例的雙腔室多分析物測試條期間所獲得之一電流(以安培為單位)對時間(以秒為單位)的圖;以及
圖6為繪示用於測定一單一體液試樣中之多個分析物之一方法中之各階段的流程圖,該單一體液試樣係施加至根據本發明之一實施例的雙腔室多分析物測試條。
100‧‧‧雙腔室多分析物測試條
200‧‧‧測試計
204‧‧‧訊號處理模組
206‧‧‧殼體
208‧‧‧第一電連接器
210‧‧‧第二電連接器
212‧‧‧第三電連接器
214‧‧‧第四電連接器

Claims (10)

  1. 一種與一雙腔室多分析物測試條併用的測試計,該測試計包括:一測試條接收模組,其具有:一第一電連接器,其係建構成用於接觸該雙腔室多分析物測試條之一第一工作電極之一第一分析物接觸墊;一第二電連接器,其係建構成用於接觸該雙腔室多分析物測試條之一第二工作電極之一第二分析物接觸墊;一第三電連接器,其係建構成用於接觸該雙腔室多分析物測試條之一第一對應/參考電極層之一第一對應/參考接觸墊;以及一第四電連接器,其係建構成用於接觸該雙腔室多分析物測試條之一第二對應/參考電極層之一第二對應/參考接觸墊;以及一訊號處理模組,其中該訊號處理模組係建構成經由該第一電連接器及該第三電連接器接收一第一訊號,並將該第一訊號用於測定施加至該雙腔室多分析物測試條之一體液試樣中之一第一分析物;其中該訊號處理模組亦建構成經由該第二電連接器及該第四電連接器接收一第二訊號,並將該第二訊號用於測定施加至該雙腔室多分析物測試條之一體液試樣中之一第二分析物; 其中相對於該第四電連接器及該第二對應/參考接觸墊的接觸,該第三電連接器係建構成以一相對方式接觸該第一對應/參考接觸墊;其中該第三電連接器與該第四電連接器為相對的建構;其中該測試條接收模組係建構成操作性地接收一多分析物測試條而包含:一第一絕緣層;一第一導電層,係配置於該第一絕緣層上,該第一導電層包含具有該第一分析物接觸墊的該第一工作電極;一第一圖案化間隔物層,係配置於該第一導電層上,該第一圖案化間隔物層具有界定在其中的一第一試樣接收腔室,該第一試樣接收腔室覆蓋該第一工作電極,且第一試樣接收腔室具有一第一末端開口及一第二末端開口;該第一對應/參考電極層,係覆蓋並暴露於該第一試樣接收腔室,該第一對應/參考電極層係建構成與該第一工作電極處於相對關係,並具有該第一對應/參考接觸墊;一對應/參考絕緣層,係配置於該第一對應/參考電極層上;該第二對應/參考電極層,係配置於該對應/參考絕緣層上,該第二對應/參考電極層具有該第二對應/參考接觸墊; 一第二圖案化間隔物層,係配置於該第二對應/參考電極層上,該第二圖案化間隔物層具有界定在其中的一第二試樣接收腔室,該第二試樣接收腔室具有一第一末端開口及一第二末端開口;一第二導電層,係配置於該第二圖案化間隔物層上,該第二導電層包含具有該第二分析物接觸墊的該第二工作電極;一第二絕緣層,係配置於該第二導電層上;一第一分析物試劑層,係配置於該第一試樣接收腔室內之該第一工作電極的至少一部分上;以及一第二分析物試劑層,係配置於該第二試樣接收腔室內之該第二工作電極的至少一部分上;其中該第二試樣接收腔室覆蓋該第二工作電極;且其中該第二對應/參考電極層係暴露於該第二試樣接收腔室,並建構成與該第二工作電極處於相對關係。
  2. 如申請專利範圍第1項之測試計,其中相對於該第二電連接器與該第二分析物接觸墊的接觸,該第一電連接器係建構成以一相對方式接觸該第一分析物接觸墊。
  3. 如申請專利範圍第1項之測試計,其中相較於該第二分析物,該第一分析物並不相同。
  4. 如申請專利範圍第3項之測試計,其中該第一分析物為葡萄糖。
  5. 如申請專利範圍第4項之測試計,其中該第二分析物為一酮體。
  6. 如申請專利範圍第5項之測試計,其中該酮體為3-羥丁酸。
  7. 如申請專利範圍第1項之測試計,其中該體液試樣為一全血試樣。
  8. 如申請專利範圍第1項之測試計,其中該訊號處理模組係建構成用於經由一以電化為基礎的測定技術來進行該第一分析物的測定及該第二分析物的測定。
  9. 如申請專利範圍第1項之測試計,其中該訊號處理模組係建構成以一循序方式接收該第一訊號及該第二訊號。
  10. 如申請專利範圍第1項之測試計,其中該訊號處理模組係建構成以一同步方式接收該第一訊號及該第二訊號。
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