TWI471526B - 影像測量機 - Google Patents

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TWI471526B
TWI471526B TW99109545A TW99109545A TWI471526B TW I471526 B TWI471526 B TW I471526B TW 99109545 A TW99109545 A TW 99109545A TW 99109545 A TW99109545 A TW 99109545A TW I471526 B TWI471526 B TW I471526B
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Inventor
Chih Kuang Chang
Sen Zhang
Jin-Kui Zeng
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Hon Hai Prec Ind Co Ltd
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Description

影像測量機
本發明涉及一種測量設備,特別是涉及一種影像測量機。
影像測量機是一種透過顯微鏡技術對物體進行測量的設備,其不但能將所觀察的物體顯示在顯示裝置上,還能利用電腦圖像處理技術快速測量出所觀察的物體的幾何尺寸,以生成測量圖。
目前,市場上出現的影像測量機包括底座、控制櫃、測量平臺、顯示設備及控制主機,這些部件都用固定的方式(例如,鉸鏈、支架等)連接起來,這樣導致影像測量機測量空間較小,無法滿足大尺寸產品的量測需求,導致測量操作的不便和測量效率的低下。同時,這種影像測量機部件的集中配置,還容易出現某些工件測量不到的情況,不利於測量操作的展開,影響影像測量的穩定性和精確性。
鑒於以上內容,有必要提供一種影像測量機,能夠透過對影像測量機各部件進行的分散配置,擴展測量的空間,提高了影像測量精度和穩定性。
一種影像測量機,該影像測量機包括機台(1)、測量平臺(4)、顯示裝置(10)、電腦主機(11)。該影像測量機還包括測量控制部(8),所述機台(1)、測量平臺(4)、顯示裝置(10 )、電腦主機(11)之間透過測量控制部(8)通信連接,所述測量平臺(4)上嵌合有測量移動部(2),測量移動部(2)上嵌合有機台(1),機台(1)、測量移動部(2)及測量平臺(4)採用移動橋式結構。
相較於習知技術,本發明透過機台(1)、測量平臺(4)、顯示裝置(10)、電腦主機(11)之間透過測量控制部(8)通信連接,提高了影像測量精度和穩定性。
1‧‧‧機台
2‧‧‧測量移動部
3‧‧‧滑槽
4‧‧‧測量平臺
5‧‧‧整機支撐部
6‧‧‧整機移動部
7‧‧‧測量鏡頭
8‧‧‧測量控制部
9‧‧‧測量控制手柄
10‧‧‧顯示裝置
11‧‧‧電腦主機
12‧‧‧測量桌
圖1係本發明影像測量機較佳實施例的立體圖。
圖2係圖1中影像測量機的主視圖。
圖3係圖1中影像測量機的後視圖。
圖4係圖1中影像測量機的俯視圖。
下面結合附圖及較佳實施方式對本發明作進一步詳細描述。
參考圖1至圖4,該影像測量機主要由機台1、測量平臺4、顯示裝置10、電腦主機11及測量控制部8構成。機台1、測量平臺4、顯示裝置10、電腦主機11之間透過測量控制部8通信連接,測量平臺4上嵌合有測量移動部2,測量移動部2嵌合有機台1,機台1、測量移動部2及測量平臺4採用移動橋式結構。
測量平臺4用於放置待測物體(圖中未示出)。機台1嵌合在測量移動部2的滑軌(圖中未示出)上,以沿測量平臺4的座標平面的Y軸方向移動。該測量移動部2嵌合在測量平臺4的滑槽3上,以沿測量平臺4的座標平面的X軸方向移動。具體而言,伺服馬達經減 速機驅動帶輪帶動測量移動部2在滑槽3上沿X軸方向作最大行程1200mm的移動,伺服馬達經減速機驅動帶輪帶動機台1在滑軌上沿Y軸方向作最大行程1500mm的移動。測量鏡頭7與機台1固定連接,並安裝在機台1的下方,以對該測量平臺4上放置的待測物體進行影像測量。具體而言,該測量鏡頭7以沿測量平臺4的座標平面的Z軸方向移動,伺服馬達(圖中未示出)驅動螺杆帶動測量鏡頭7沿Z軸方向作最大行程300mm的移動。所述的測量鏡頭7可以是CCD(Charge Coupled Device,電荷耦合器)鏡頭,也可以是CMOS(Complementary Metal Oxide Semiconductor,互補金屬氧化物半導體)鏡頭,在本較佳實施例中,測量鏡頭7為CCD鏡頭。
測量平臺4與測量控制部8固定連接,並且安裝在測量控制部8的正上方。
測量控制部8透過線纜與電腦主機11通信連接。該電腦主機11放置在一測量桌12下面。測量桌12上設有一個測量控制手柄9。透過測量控制手柄9可控制測量控制部8向測量平臺4發出控制信號,以控制測量移動部2及機台1在測量平臺4的座標平面上移動。測量桌12上還放置有一顯示裝置10,該顯示裝置10與電腦主機11通信連接,顯示裝置10為用戶提供一測量操作介面。用戶可透過顯示裝置10上的測量操作介面向測量控制部8發出測量控制指令,以控制機台1的測量作業。測量桌12還用於放置滑鼠和鍵盤(圖中未示出),用於輸入控制指令。
測量平臺4內設有至少三條光柵尺(圖中未示出),用於精確測量機台1沿測量平臺4的座標平面Y軸方向、測量移動部2沿測量平 臺4的座標平面的X軸移動及測量鏡頭7沿測量平臺4的座標平面的Z軸移動的移動位置資訊,進而電腦主機11按照測量控制手柄9發出的控制信號控制機台1、測量移動部2及測量鏡頭7的移動。
測量控制部8下設有多個整機支撐部5及多個整機移動部6。如圖2所示,整機支撐部5及整機移動部6排佈於測量控制部8下方可受力的位置。所有整機支撐部5在整體受力時足以固定支撐測量控制部8並支援其測量作業。所有整機移動部6在整體受力時足以支撐測量控制部8並支援其移動。
在本實施例中,所有整機支撐部5都可透過螺紋緊固升降以帶動測量控制部8的升降,所升的高度足以使得整機移動部6不受力。對本領域的技術人員來說,利用螺紋緊固控制物件的升降是公知常識,在此不作贅述。
最後所應說明的是,以上實施例僅用以說明本發明的技術方案而非限制,儘管參照較佳實施例對本發明進行了詳細說明,本領域的普通技術人員應當理解,可以對本發明的技術方案進行修改或等同替換,而不脫離本發明技術方案的精神和範圍。
1‧‧‧機台
2‧‧‧測量移動部
3‧‧‧滑槽
4‧‧‧測量平臺
5‧‧‧整機支撐部
6‧‧‧整機移動部
7‧‧‧測量鏡頭
8‧‧‧測量控制部
9‧‧‧測量控制手柄
10‧‧‧顯示裝置
11‧‧‧電腦主機
12‧‧‧測量桌

Claims (8)

  1. 一種影像測量機,該影像測量機包括機台(1)、測量平臺(4)、顯示裝置(10)、電腦主機(11),該影像測量機還包括測量控制部(8),所述機台(1)、測量平臺(4)、顯示裝置(10)、電腦主機(11)之間透過測量控制部(8)通信連接,測量平臺(4)與測量控制部(8)固定連接,並且安裝在測量控制部(8)的正上方,測量控制部(8)透過線纜與電腦主機(11)通信連接,顯示裝置(10)與電腦主機(11)通信連接,所述測量平臺(4)上嵌合有測量移動部(2),測量移動部(2)上嵌合有機台(1),機台(1)、測量移動部(2)及測量平臺(4)採用移動橋式結構,測量控制部(8)與一個測量桌(12)連接,該測量桌(12)上設有一個測量控制手柄(9),測量控制手柄(9)控制測量移動部(2)及機台(1)在測量平臺(4)的座標平面上移動。
  2. 如申請專利範圍第1項所述之影像測量機,其中,機台(1)的下方安裝有一CCD鏡頭(7),該測量鏡頭(7)沿測量平臺(4)的座標平面的Z軸方向作最大行程300mm的移動,CCD鏡頭(7)用以對該測量平臺(4)上放置的待測物體進行影像測量。
  3. 如申請專利範圍第1項所述之影像測量機,其中,測量移動部(2)嵌合在測量平臺(4)的滑槽(3)上,該測量移動部(2)在滑槽(3)上沿測量平臺(4)的座標平面的X軸方向作最大行程1200mm的移動。
  4. 如申請專利範圍第1項所述之影像測量機,其中,機台(1)在測量移動部(2)的滑軌上沿測量平臺(4)的座標平面的Y軸方向作最大行程1500mm的移動。
  5. 如申請專利範圍第1項所述之影像測量機,其中,測量平臺(4)內設有 至少三條光柵尺。
  6. 如申請專利範圍第1至5中任一項所述的影像測量機,其中,測量控制部(8)下設有多個整機移動部(6),所有整機移動部(6)排佈於測量控制部(8)下方受力的位置,所有整機移動部(6)在整體受力時足以支撐測量控制部(8)並支援其移動。
  7. 如申請專利範圍第6項所述之影像測量機,其中,測量控制部(8)下設有多個整機支撐部(5),所有整機支撐部(5)排佈於測量控制部(8)下方受力的位置,所有整機支撐部(5)在整體受力時足以固定支撐測量控制部(8)並支援其測量作業。
  8. 如申請專利範圍第7項所述之影像測量機,其中,所有整機支撐部(5)透過螺紋緊固升降以帶動測量控制部(8)的升降,所升的高度足以使得所有整機移動部(6)不受力。
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Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
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CN1277368A (zh) * 1999-06-09 2000-12-20 株式会社三丰 测量顺序文件生成方法、测量系统和存储媒体
JP2005003583A (ja) * 2003-06-13 2005-01-06 Mitsutoyo Corp 駆動制御装置およびこれを用いた測定機
TW200630607A (en) * 2004-09-21 2006-09-01 Ngk Spark Plug Co Inspecting method for wiring board, manufacturing method for wiring board and inspecting device for wiring board
EP1777483A1 (en) * 2005-10-19 2007-04-25 Mitutoyo Corporation Probe observing device

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