TWI468702B - 壓降測試系統、壓降控制裝置及其壓降測試方法 - Google Patents

Description

壓降測試系統、壓降控制裝置及其壓降測試方法

本發明涉及一種測試系統，更具體地，涉及一種基於Labview開發平臺的壓降測試系統、壓降控制裝置及其壓降測試方法。

電子設備在出廠前都需要做EMI電磁干擾壓降測試，通常使用壓降測試儀對電子設備作壓降測試，如PLD（Power line disturbance電源線干擾）測試儀。在PLD測試儀測試之前，用戶通常會準備好一張如圖3所示的記錄表，該記錄表中記錄提供的電源電壓、多個壓降百分比及多個測試時間。每當測試時，電子設備電連接該PLD測試儀後，用戶手動在PLD測試儀上輸入記錄表中的各個測試資料來做壓降測試，用戶通過觀察判斷來測試結果及記錄該測試結果到記錄表相應位置中。然而，整個測試過程都需要用戶一直手動輸入測試資料及時刻盯著測試儀來獲取測試結果，這樣大大浪費人力和時間。

為了解決上述存在的問題，本發明的目的在於，提供一種壓降測試系統，其用於對一待測電子設備做電磁干擾壓降測試，該壓降測試系統運行於一連接該待測電子設備的PLD測試儀及一Labview開發平臺之間，該Labview開發平臺提供一壓降測試圖框，該壓降測試圖框定義有實現壓降測試所需的測試參數區域及測試結果標識區域，所述測試參數區域包括供電電壓區域、壓降百分比區域及測試時間區域；該壓降測試系統包括：一參數載入模組，用於回應用戶的輸入把各測試資料載入到該壓降測試圖框中各個測試參數區域內；一資料傳輸模組，用於將該壓降測試圖框中各個測試參數區域內的測試資料分組的傳輸到該PLD測試儀進行對該待測電子設備的壓降測試，每一組測試資料包括一供電電壓、一壓降百分比和一測試時間；一判斷模組，用於當該資料傳輸模組傳輸一組測試資料到該PLD測試儀測試時，判斷該組測試資料的測試時間結束後一預定時間內是否接收到來自該PLD測試儀的一電壓訊號；一結果標識模組，用於當該預定時間內接收到該電壓訊號時，在該壓降測試圖框中將該組測試資料對應的測試結果標識區域標識一測試結果為測試通過；當該預定時間內沒有接收到該電壓訊號時，在該壓降測試圖框中將該組測試資料對應的測試結果標識區域標識一測試結果為測試失敗；及一輸出控制模組，用於將各測試結果輸出顯示於該壓降測試圖框中；其中，當該判斷模組在該預定時間內接收到來自該PLD測試儀的電壓訊號時，該資料傳輸模組傳輸該壓降測試圖框中的另一組測試資料到該PLD測試儀測試。

一種壓降控制裝置，其連接一PLD測試儀共同對一待測電子設備做電磁干擾壓降測試，該壓降控制裝置運行於一Labview開發平臺上，該Labview開發平臺提供一壓降測試圖框，該壓降測試圖框定義有實現壓降測試所需的測試參數區域及測試結果標識區域，所述測試參數區域包括供電電壓區域、壓降百分比區域及測試時間區域；該壓降控制裝置包括：一參數載入模組，用於回應用戶的輸入把各測試資料載入到該壓降測試圖框中各個測試參數區域內；一資料傳輸模組，用於將該壓降測試圖框中各個測試參數區域內的測試資料分組的傳輸到該PLD測試儀進行對該待測電子設備的壓降測試，每一組測試資料包括一供電電壓、一壓降百分比和一測試時間；一判斷模組，用於當該資料傳輸模組傳輸一組測試資料到該PLD測試儀測試時，判斷該組測試資料的測試時間結束後一預定時間內是否接收到來自該PLD測試儀的一電壓訊號；一結果標識模組，用於當該預定時間內接收到該電壓訊號時，在該壓降測試圖框中將該組測試資料對應的測試結果標識區域標識一測試結果為測試通過；當該預定時間內沒有接收到該電壓訊號時，在該壓降測試圖框中將該組測試資料對應的測試結果標識區域標識一測試結果為測試失敗；及一輸出控制模組，用於將各測試結果輸出顯示於該壓降測試圖框中；其中，當該判斷模組在該預定時間內接收到來自該PLD測試儀的電壓訊號時，該資料傳輸模組傳輸該壓降測試圖框中的另一組測試資料到該PLD測試儀測試。

一種壓降測試系統的壓降測試方法，一種壓降測試系統的壓降測試方法，該壓降測試系統用於對一待測電子設備做電磁干擾壓降測試，該壓降測試系統運行於一連接該待測電子設備的PLD測試儀及一Labview開發平臺之間，該方法包括步驟：提供一壓降測試圖框，該壓降測試圖框定義有實現壓降測試所需的測試參數區域及測試結果標識區域，所述測試參數區域包括供電電壓區域、壓降百分比區域及測試時間區域；回應用戶的輸入把各測試資料載入到該壓降測試圖框中各個測試參數區域內；傳輸該壓降測試圖框中的一組測試資料到該PLD測試儀進行對該待測電子設備的壓降測試，該組測試資料包括一供電電壓、一壓降百分比和一測試時間；判斷在該組測試資料的測試時間結束後一預定時間內是否接收到來自該PLD測試儀的一電壓訊號；如果該預定時間內接收到該電壓訊號，在該壓降測試圖框中將該組測試資料對應的測試結果標識區域標識一測試結果為測試通過及傳輸該壓降測試圖框中的另一組測試資料到該PLD測試儀；如果該預定時間內沒有接收到該電壓訊號，在該壓降測試圖框中該組測試資料對應的測試結果標識區域標識一測試結果為測試失敗；及將各測試結果輸出顯示於該壓降測試圖框中。

本發明涉及一種壓降測試系統、壓降控制裝置及其壓降測試方法，該壓降測試系統的Labview開發平臺運行時，各測試資料通過通訊鏈路傳遞到PLD測試儀，PLD測試儀測試完把測試結果回饋到Labview開發平臺，該Labview開發平臺利用其自帶的函數庫即時對傳遞資料進行處理、分析得到該測試完成的壓降測試圖框。通過該測試完成的壓降測試圖框，用戶很容易得知該待測電子設備的壓降測試情況。因此，本發明的壓降測試系統方便的將軟體硬體系統和軟體控制演算法建立在一個圖形化平臺上，通過圖形化的操作，大大的簡化了軟硬體投入，實現了電子設備壓降測試的自動化，大大節省了成本開支且提高了測試效率。

下面結合附圖，對本發明壓降測試系統作進一步的詳細描述。

圖1是本發明一壓降測試系統的硬體結構示意圖。該壓降測試系統1用於對待測電子設備2做電磁干擾壓降測試。該壓降測試系統1包括一壓降控制裝置10及一PLD（Power line disturbance電源線干擾）測試儀20。該壓降控制裝置10電連接該PLD測試儀20，彼此互相通信。該PLD測試儀20電連接該待測電子設備2。該壓降測試系統1運行於該PLD測試儀20和該Labview開發平臺12之間。該壓降控制裝置10運行於一Labview開發平臺12上。

該壓降控制裝置10包括一輸入單元11、一處理單元13及一顯示單元14。在本實施方式中，該壓降控制裝置10為一台電腦，電腦10未涉及的元件在圖中未示出。該輸入單元11用於回應用戶的輸入操作產生輸入訊號。該顯示單元14用於顯示資訊。

該Labview開發平臺12是一種基於儀器或虛擬儀器的開發平臺，其通過該平臺的圖形化編程控制方法將各種硬體模組執行機構圖框化，編譯出如圖4所示的壓降測試圖框，該壓降測試圖框定義有實現壓降測試所需的測試參數區域和測試結果標識區域，所述測試參數區域包括供電電壓區域3、壓降百分比區域4及測試時間區域5，從而取代了圖3所示的手工記錄表。在該壓降測試圖框中，該Labview開發平臺12還編譯了一開始測試標識“Test”8和一停止測試標識“STOP”9。

如圖2所示，該處理單元13包括一參數載入模組210、一資料傳輸模組220、一判斷模組230、一結果標識模組240及一輸出控制模組250。該參數載入模組210用於回應輸入單元11的輸入訊號把各測試資料載入到該壓降測試圖框中各個測試參數區域內。例如，載入供電電壓200V，其壓降百分比為-70%、-80%、-90%及-100%，測試時間為25ms、60ms、90ms…2s。當回應輸入單元11的輸入訊號觸發該“Test”測試標識8時，該資料傳輸模組220將該壓降測試圖框中各個測試參數區域內的測試資料分組的傳輸到該PLD測試儀進行對該待測電子設備的壓降測試，例如，傳輸該壓降測試圖框中的一組測試資料（如供電電壓為200V、壓降百分比為-70%、測試時間為60ms）到該PLD測試儀20開始進行對該待測電子設備2的壓降測試。該判斷模組230判斷在該組測試資料的測試時間結束後一預定時間內是否接收到來自該PLD測試儀20的該電壓訊號。

當接收到一組測試資料時，該PLD測試儀20根據提供的電源電壓按照該壓降百分比降低待測電子設備2的供電電壓，在所提供的測試時間中，由於壓降後的供電電壓較低導致該PLD測試儀20斷電，若斷電後該PLD測試儀20立即重新啟動繼續開始工作時，說明該待測電子設備2在該電源電壓降低該壓降百分比的壓降測試通過，在測試結果標識區域標識pass6；若斷電後該PLD測試儀20無法立即重新啟動，需要通過手動撥電源或手動按開關時，說明該待測電子設備2在該電源電壓降低該壓降百分比的壓降測試失敗，在測試結果標識區域標識fail7。

當該組測試資料壓降測試通過時，該PLD測試儀20立即重新上電啟動會產生一電壓訊號到壓降控制裝置10，該判斷模組230判斷在該測試時間結束後該預定時間內接收到來自該PLD測試儀20的該電壓訊號，該結果標識模組240在該壓降測試圖框中該組測試資料對應的測試結果標識區域標識一測試結果為測試通過及該資料傳輸模組220傳輸該壓降測試圖框中的另一組測試資料（如供電電壓為200V、壓降百分比為-80%、測試時間為60ms）到該PLD測試儀20繼續對該待測電子設備2做壓降測試。如果該預定時間內沒有接收到該電壓訊號，該結果標識模組240在該壓降測試圖框中該組測試資料對應的測試結果標識區域標識一測試結果為測試失敗及該資料傳輸模組220停止傳輸該壓降測試圖框中的測試資料到該PLD測試儀。在本實施方式中，在該壓降測試圖框中測試通過的測試資料組的測試結果6用綠色標識，測試失敗的測試資料組的測試結果7用紅色標識。

依此類推，當PLD測試儀20測試完一組測試資料測試通過後，該資料傳輸模組220接著傳輸該壓降測試圖框中的其他組測試資料到該PLD測試儀20進行對該待測電子設備2的壓降測試。因此，只要有一組測試資料測試通過時才會繼續測試下一組測試資料，當所有組測試資料測試都通過時，說明該待測電子設備2的壓降測試是通過的，否則，一旦其中一組測試資料測試失敗時，就無需繼續測試，說明該待測電子設備2的壓降測試是失敗的。

該結果標識模組240在該壓降測試圖框中各組測試資料對應的測試結果標識區域標識測試結果。該Labview開發平臺12觸發該停止測試標識“STOP”9及形成該待測電子設備2的壓降測試圖框，該輸出控制模組250用於控制該顯示單元14顯示各測試結果於該壓降測試圖框中，從而實現對待測電子設備壓降測試的自動化。

與現有技術相比，本發明的壓降測試系統1的Labview開發平臺12運行時，各測試資料通過通訊鏈路傳遞到PLD測試儀20，PLD測試儀20測試完把測試結果回饋到Labview開發平臺12，該Labview開發平臺12利用其自帶的函數庫即時對傳遞資料進行處理、分析得到該測試完成的壓降測試圖框。通過該測試完成的壓降測試圖框，用戶很容易得知該待測電子設備2的壓降測試情況。因此，本發明的壓降測試系統1方便的將軟體硬體系統和軟體控制演算法建立在一個圖形化平臺上，通過圖形化的操作，大大的簡化了軟硬體投入，實現了電子設備壓降測試的自動化，大大節省了成本開支且提高了測試效率。

圖5是圖1的壓降測試系統做壓降測試的方法流程圖。該Labview開發平臺12提供該壓降測試圖框（步驟S300），該參數載入模組210回應輸入單元11的輸入訊號（即用戶的輸入操作）把各測試參數載入到該壓降測試圖框中各個測試參數區域內（步驟S310），該資料傳輸模組220從壓降測試圖框中獲取一組測試資料傳輸到PLD測試儀20（步驟S320），該PLD測試儀20根據該組測試資料開始測試（步驟S330），該判斷模組230判斷在該測試時間結束後該預定時間內是否接收到來自該PLD測試儀20的該電壓訊號（步驟S340），如果是，該判斷模組230判斷此組資料測試通過（步驟S350），上述步驟繼續進行測試其他組測試資料，即該測試流程回到步驟S320，如果否，該判斷模組230判斷此組資料測試失敗（步驟S345），該結果標識模組240在該壓降測試圖框中該組測試資料對應的測試結果標識區域標識測試結果（步驟S360），該輸出控制模組250控制顯示單元14顯示各測試結果於該壓降測試圖框中（步驟S370）。

儘管對本發明的優選實施方式進行了說明和描述，但是本領域的技術人員將領悟到，可以作出各種不同的變化和改進，這些都不超出本發明的真正範圍。因此期望，本發明並不局限於所公開的作為實現本發明所設想的最佳模式的具體實施方式，本發明包括的所有實施方式都有所附權利要求書的保護範圍內。

1．．．壓降測試系統

2．．．待測電子設備

3．．．供電電壓區域

4．．．壓降百分比區域

5．．．測試時間區域

6．．．測試結果標識區域標識測試通過

7．．．測試結果標識區域標識測試失敗

8．．．開始測試標識

9．．．停止測試標識

10．．．壓降控制裝置

11．．．輸入單元

12．．．Labview開發平臺

13．．．處理單元

14．．．顯示單元

20．．．PLD測試儀

210．．．參數載入模組

220．．．資料傳輸模組

230．．．判斷模組

240．．．結果標識模組

250．．．輸出控制模組

圖1是本發明一壓降測試系統的硬體結構示意圖；

圖2是圖1壓降測試系統的處理單元的硬體結構示意圖；

圖3是傳統做壓降測試所準備的記錄表的示意圖；

圖4是圖1的壓降測試系統通過Labview開發平臺編譯的壓降測試圖框的示意圖；及

圖5是圖1的壓降測試系統做壓降測試的方法流程圖。

13．．．處理單元

210．．．參數載入模組

220．．．資料傳輸模組

230．．．判斷模組

240．．．結果標識模組

250．．．輸出控制模組

Claims (6)

1. 一種壓降測試系統，其用於對一待測電子設備做電磁干擾壓降測試，該壓降測試系統運行於一連接該待測電子設備的PLD測試儀及一Labview開發平臺之間，其改良在於，
   該Labview開發平臺提供一壓降測試圖框，該壓降測試圖框定義有實現壓降測試所需的測試參數區域及測試結果標識區域，所述測試參數區域包括供電電壓區域、壓降百分比區域及測試時間區域；
   該壓降測試系統包括：
   一參數載入模組，用於回應用戶的輸入把各測試資料載入到該壓降測試圖框中各個測試參數區域內；
   一資料傳輸模組，用於將該壓降測試圖框中各個測試參數區域內的測試資料分組的傳輸到該PLD測試儀進行對該待測電子設備的壓降測試，每一組測試資料包括一供電電壓、一壓降百分比和一測試時間；
   一判斷模組，用於當該資料傳輸模組傳輸一組測試資料到該PLD測試儀測試時，判斷該組測試資料的測試時間結束後一預定時間內是否接收到來自該PLD測試儀的一電壓訊號；
   一結果標識模組，用於當該預定時間內接收到該電壓訊號時，在該壓降測試圖框中將該組測試資料對應的測試結果標識區域標識一測試結果為測試通過；當該預定時間內沒有接收到該電壓訊號時，在該壓降測試圖框中將該組測試資料對應的測試結果標識區域標識一測試結果為測試失敗；及
   一輸出控制模組，用於將各測試結果輸出顯示於該壓降測試圖框中；
   其中，當該判斷模組在該預定時間內接收到來自該PLD測試儀的電壓訊號時，該資料傳輸模組傳輸該壓降測試圖框中的另一組測試資料到該PLD測試儀測試。
2. 如申請專利範圍第1項所述的壓降測試系統，其中，當該判斷模組判斷出該預定時間內沒有接收到來自該PLD測試儀的電壓訊號時，該資料傳輸模組停止傳輸該壓降測試圖框中的其他組測試資料到該PLD測試儀。
3. 一種壓降控制裝置，其連接一PLD測試儀共同對一待測電子設備做電磁干擾壓降測試，該壓降控制裝置運行於一Labview開發平臺上，其改良在於，
   該Labview開發平臺提供一壓降測試圖框，該壓降測試圖框定義有實現壓降測試所需的測試參數區域及測試結果標識區域，所述測試參數區域包括供電電壓區域、壓降百分比區域及測試時間區域；
   該壓降控制裝置包括：
   一參數載入模組，用於回應用戶的輸入把各測試資料載入到該壓降測試圖框中各個測試參數區域內；
   一資料傳輸模組，用於將該壓降測試圖框中各個測試參數區域內的測試資料分組的傳輸到該PLD測試儀進行對該待測電子設備的壓降測試，每一組測試資料包括一供電電壓、一壓降百分比和一測試時間；
   一判斷模組，用於當該資料傳輸模組傳輸一組測試資料到該PLD測試儀測試時，判斷該組測試資料的測試時間結束後一預定時間內是否接收到來自該PLD測試儀的一電壓訊號；
   一結果標識模組，用於當該預定時間內接收到該電壓訊號時，在該壓降測試圖框中將該組測試資料對應的測試結果標識區域標識一測試結果為測試通過；當該預定時間內沒有接收到該電壓訊號時，在該壓降測試圖框中將該組測試資料對應的測試結果標識區域標識一測試結果為測試失敗；及
   一輸出控制模組，用於將各測試結果輸出顯示於該壓降測試圖框中；
   其中，當該判斷模組在該預定時間內接收到來自該PLD測試儀的電壓訊號時，該資料傳輸模組傳輸該壓降測試圖框中的另一組測試資料到該PLD測試儀測試。
4. 如申請專利範圍第3項所述的壓降控制裝置，其中，當該判斷模組判斷出該預定時間內沒有接收到來自該PLD測試儀的電壓訊號時，該資料傳輸模組停止傳輸該壓降測試圖框中的其他組測試資料到該PLD測試儀。
5. 一種壓降測試系統的壓降測試方法，該壓降測試系統用於對一待測電子設備做電磁干擾壓降測試，該壓降測試系統運行於一連接該待測電子設備的PLD測試儀及一Labview開發平臺之間，其改良在於，該方法包括步驟：
   提供一壓降測試圖框，該壓降測試圖框定義有實現壓降測試所需的測試參數區域及測試結果標識區域，所述測試參數區域包括供電電壓區域、壓降百分比區域及測試時間區域；
   回應用戶的輸入把各測試資料載入到該壓降測試圖框中各個測試參數區域內；
   傳輸該壓降測試圖框中的一組測試資料到該PLD測試儀進行對該待測電子設備的壓降測試，該組測試資料包括一供電電壓、一壓降百分比和一測試時間；
   判斷在該組測試資料的測試時間結束後一預定時間內是否接收到來自該PLD測試儀的一電壓訊號；
   如果該預定時間內接收到該電壓訊號，在該壓降測試圖框中將該組測試資料對應的測試結果標識區域標識一測試結果為測試通過及傳輸該壓降測試圖框中的另一組測試資料到該PLD測試儀；
   如果該預定時間內沒有接收到該電壓訊號，在該壓降測試圖框中該組測試資料對應的測試結果標識區域標識一測試結果為測試失敗；及
   將各測試結果輸出顯示於該壓降測試圖框中。
6. 如申請專利範圍第5項所述的壓降測試方法，其中，還包括步驟：如果該預定時間內沒有接收到來自該PLD測試儀的電壓訊號時，停止傳輸該壓降測試圖框中的其他組測試資料到該PLD測試儀。