TWI461035B - 用於補償ｉｑ失配及載波漏流之收發器電路及其控制方法 - Google Patents

用於補償ｉｑ失配及載波漏流之收發器電路及其控制方法 Download PDF

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Description

用於補償IQ失配及載波漏流之收發器電路及其控制方法
本發明係關於用於補償IQ失配及/或載波漏流之收發器電路。
用於使用IQ混波器將基頻信號(下文中稱為"BB信號")或中頻信號(下文中稱為"IF信號")轉換為射頻信號(下文中稱為"RF信號")或將RF信號轉換為BB信號或IF信號的技術廣泛地用於無線通信領域。
然而，真實IQ混波器內會發生載波漏流及IQ失配。載波漏流係當IQ本機振盪器(LO)信號洩漏至IQ混波器之輸出以及當將輸入信號與自本機振盪器發射之IQ LO信號的乘積發送至IQ混波器之輸出時發生的現象。IQ失配包括由於同相信號與自振盪器傳輸至IQ混波器的正交信號之振幅差異而發生的增益不平衡，以及由於同相信號與非90°之正交信號間的相位差而發生之相位不平衡。當發生載波漏流及IQ失配時，IQ混波器之輸出存在不需要之雜訊分量，從而使信號對雜訊比降級。
根據相關技術(例如美國專利第5,949,821；6,044,112號；韓國專利公開案第10－2005－66953號)，已揭示用於使用透過無線通信發射之已接收信號測量Rx IQ失配的方法。然而，根據該方法，使用已接收信號測量IQ失配。因此，該等方法不利的係在補償IQ失配前接收之信號的IQ失配無法加以補償，或者測量之IQ失配的準確性因包括在已接收信號內之無線頻道雜訊而降級。
其他相關技術，例如美國公開案第2005/0070236號，揭示一種方法，其中將測試信號輸入降頻轉換IQ混波器以測量Rx IQ失配。然而，該公開案所揭示之方法不利的係需要分離測試信號。
上述參考以提及方式併入本文中適合額外或替代細節、特徵及/或技術領域之適當教導內容處。
本發明之具體實施例的目的係提供一種補償Tx載波漏流、Tx IQ失配及/或Rx IQ失配之收發電路及方法。
本發明之具體實施例的另一目的係提供一種收發電路及其控制方法，其中可藉由將升頻轉換混波器之輸出信號輸入降頻轉換混波器測量Tx載波漏流、Tx IQ失配或Rx IQ失配，而非使用經由無線通信接收之信號來測量Tx載波漏流、Tx IQ失配或Rx IQ失配。
本發明之具體實施例的另一目的係提供一種收發電路及可藉由用於Tx載波漏流、Tx IQ失配或Rx IQ失配之無線通信改善測量程序之效率或減小雜訊引起之測量誤差的方法。
本發明之具體實施例的另一目的係提供一種收發電路及其控制方法，其中在測量Tx載波漏流、Tx IQ失配或Rx IQ失配之週期期間的負載狀況係保持相對於或等於在正常操作週期期間的負載狀況，以便可減小或防止Tx載波漏流、Tx IQ失配或Rx IQ失配回應本機振盪器之負載狀況變更的變更。
本發明之具體實施例的另一目的係提供一種收發電路及其控制方法，其中升頻轉換IQ混波器及降頻轉換IQ混波器在Tx載波漏流、Tx IQ失配或Rx IQ失配之測量期間使用不同IQ LO頻率，以增加Tx載波漏流、Tx IQ失配或Rx IQ失配測量之準確性。
為實現上述目的之整體或至少部分，提供一種用於控制收發器電路之方法，其可包括(a)使用藉由透過第二降頻轉換IQ混波器傳遞包括在第一升頻轉換IQ混波器之一輸出內的一Tx載波漏流而獲得的一信號測量一Tx載波漏流，(b)使用透過第一升頻轉換IQ混波器及第二降頻轉換IQ混波器傳遞之一信號測量一Tx IQ失配，(c)使用透過第二升頻轉換IQ混波器及第一降頻轉換IQ混波器傳遞之一信號測量一Rx IQ失配，以及(d)在一操作週期期間，使用第一升頻轉換IQ混波器及第一降頻轉換IQ混波器執行傳輸/接收，其中第一本機振盪器產生用於第一升頻轉換IQ混波器及第一降頻轉換IQ混波器內之一第一IQ LO信號，第二振盪器產生用於第二升頻轉換IQ混波器及第二降頻轉換IQ混波器內之一第二IQ LO信號。
為實現上述目的之整體或至少部分，提供一種用於控制收發器電路之方法，其可包括使用藉由透過第二降頻轉換IQ混波器傳遞包括在第一升頻轉換IQ混波器之一輸出內的一Tx載波漏流而獲得的一信號測量一Tx載波漏流，以及在一操作週期期間使用第一升頻轉換IQ混波器及第一降頻轉換IQ混波器實行傳輸/接收，其中第一本機振盪器產生用於第一升頻轉換IQ混波器及第一降頻轉換IQ混波器內之第一IQ LO信號，第二振盪器產生用於第二降頻轉換IQ混波器內之第二IQ LO信號。
為實現上述目的之整體或至少部分，提供一種用於控制收發器電路之方法，其可包括使用透過第一升頻轉換IQ混波器及第二降頻轉換IQ混波器傳遞之一信號測量一Tx IQ失配，以及在一正常操作週期期間使用第一升頻轉換IQ混波器及第一降頻轉換IQ混波器執行TDD型傳輸/接收，其中第一本機振盪器產生用於第一升頻轉換IQ混波器及第一降頻轉換IQ混波器內之第一IQ LO信號，第二振盪器產生用於第二降頻轉換IQ混波器內之第二IQ LO信號。
為實現上述目的之整體或至少部分，提供一種用於控制收發器電路之方法，其可包括使用透過第二升頻轉換IQ混波器及第一降頻轉換IQ混波器傳遞之一信號測量一Rx IQ失配，在一操作週期期間使用第一升頻轉換IQ混波器及第一降頻轉換IQ混波器執行傳輸/接收，使用第一本機振盪器產生用於第一升頻轉換IQ混波器及第一降頻轉換IQ混波器內之第一IQ LO信號，以及使用第二振盪器產生用於第二升頻轉換IQ混波器內之第二IQ LO信號。
一項具體實施例中，較佳的係第一升頻轉換IQ混波器及第二降頻轉換IQ混波器係可操作而第二升頻轉換IQ混波器及第一降頻轉換IQ混波器係不可操作，以測量Tx載波漏流或Tx IQ失配，以及第二升頻轉換IQ混波器及第一降頻轉換IQ混波器係可操作而第一升頻轉換IQ混波器及第二降頻轉換IQ混波器係不可操作，以測量Rx IQ失配。
為實現上述目的之整體或至少部分，提供一種收發器電路，其可包括一第一升頻轉換IQ混波器、一第二升頻轉換IQ混波器、一第一降頻轉換IQ混波器，其具有一輸入以接收第二升頻轉換IQ混波器之一輸出，一第二降頻轉換IQ混波器，其具有一輸入以接收該第一升頻轉換IQ混波器之一輸出，一第一本機振盪器，其係耦合至該第一升頻轉換IQ混波器及該第一降頻轉換IQ混波器以產生一第一IQ LO信號，一第二本機振盪器，其係耦合至第二升頻轉換IQ混波器及第二降頻轉換IQ混波器以產生一第二IQ LO信號。
現將參考附圖來說明依據本發明之具體實施例。用於說明及申請專利範圍內之術語及用詞的解釋不應限於普通或字面意義。提供具體實施例係為了熟習技術人士更完整地瞭解本發明。
圖1係說明根據本發明之一收發器電路之具體實施例的圖式。雖然圖1內顯示TDD(分時雙工)型收發器電路，根據本發明之具體實施例的收發器電路並非限於TDD型。
如圖1所示，收發器電路之一具體實施例可包括第一升頻轉換混波器10、第二升頻轉換混波器11、第一降頻轉換混波器12、第二降頻轉換混波器13、第一本機振盪器20及第二本機振盪器21。此外，收發器電路之具體實施例可進一步包括IQ DAC 30、IQ ADC 31、IQ濾波器32、控制器40、多工器41、Tx補償器42、Rx IQ失配補償器43、功率放大器50、低雜訊放大器51及雙工器52。
第一升頻轉換混波器10及第二升頻轉換混波器11可接收經傳輸至IQ DAC 30之信號(例如傳輸信號)並輸出經升頻轉換之信號。第一升頻轉換混波器10可接收第一同相信號I1及第一正交信號Q1(本文中稱為"IQ LO信號")以及由IQ DAC 30輸出之信號，並藉由將由IQ DAC 30輸出之信號乘以第一IQ LO信號I1、Q1而輸出經升頻轉換之信號。可在測試週期期間將第一升頻轉換混波器10之輸出輸入至第二降頻轉換混波器13。第一升頻轉換混波器10較佳的係在測量測試週期之Tx載波漏流及Tx IQ失配之週期期間操作，而在測量Rx IQ失配之週期期間不操作。在測量測試週期之Tx載波漏流之週期期間從IQ DAC 30輸入至第一升頻轉換混波器10的信號之功率可對應於零。可在正常操作週期期間將第一升頻轉換混波器10之輸出輸入至功率放大器50。當收發器電路作為TDD型操作時，第一升頻轉換IQ混波器10可在正常操作週期之傳輸週期期間操作，而在正常操作週期之接收週期期間不操作。
另一方面，第二升頻轉換混波器11可接收第二IQ LO信號I2、Q2及由IQ DAC 30輸出之信號，並藉由將由IQ DAC 30輸出信號乘以第二IQ LO信號I2、Q2而輸出經升頻轉換之信號。較佳的係在測試週期期間將第二升頻轉換混波器11之輸出輸入至第一降頻轉換混波器12。第二升頻轉換混波器11較佳的係在測量Rx IQ失配之週期期間操作，而在測量測試週期之Tx載波漏流及Tx IQ失配的週期期間不操作。
第一降頻轉換混波器12及第二降頻轉換混波器13可接收輸入之信號並輸出欲傳輸至IQ濾波器32的經降頻轉換之信號。第一降頻轉換混波器12可輸出藉由將經輸入之信號乘以由第一本機振盪器20輸出之第一IQ LO信號I1、Q1而獲得的經降頻轉換之信號。在測試週期期間將第二升頻轉換混波器11之輸出輸入至第一降頻轉換混波器12。第一降頻轉換混波器12較佳的係在測量Rx IQ失配之週期期間操作，而在測量測試週期之Tx載波漏流及Tx IQ失配的週期期間不操作。可將低雜訊放大器51之輸出輸入至第一降頻轉換混波器12。當收發器電路(例如作為TDD型)操作時，第一降頻轉換混波器12可在正常操作週期之接收週期期間操作，而在正常操作週期之傳輸週期期間不操作。
另一方面，第二降頻轉換混波器13可輸出藉由將輸入之信號乘以由第二本機振盪器21輸出之第二IQ LO信號I2、Q2而獲得的降頻轉換之信號。可在測試週期期間將第一升頻轉換混波器10之輸出輸入至第二降頻轉換混波器13。第二降頻轉換混波器13可在測量Tx載波漏流及Tx IQ失配之週期期間操作，而在測量測試週期之Rx IQ失配的週期期間不操作。
第一本機振盪器20可產生傳輸至第一升頻轉換混波器10及第一降頻轉換混波器12之第一IQ LO信號I1、Q1。第二本機振盪器21可產生欲傳輸至第二升頻轉換混波器11及第二降頻轉換混波器13之第二IQ LO信號I2、Q2。第一IQ LO信號I1、Q1及第二IQ LO信號I2、Q2之頻率可且較佳的係不同。
IQ DAC 30將由Tx補償器42輸出之數位信號轉換為類比信號。IQ ADC 31將由IQ濾波器32輸出之類比信號轉換為數位信號。
IQ濾波器32可位於第一及第二降頻轉換混波器12及13與IQ ADC 31之間。IQ濾波器32可為低通濾波器、帶通濾波器等等。
多工器41可選擇並輸出使用控制器40發射的測試信號及欲傳輸至天線的對應於已發射RF信號之傳輸信號之一。測試信號可為用於測量Tx IQ失配及Rx IQ失配之一的測試信號。傳輸信號可為BB信號或IF信號。
Tx補償器42可針對根據自控制器40發射之Tx載波漏流控制信號及Tx IQ失配控制信號的Tx載波漏流及Tx IQ失配，補償由多工器41輸出的信號。較佳的係Tx補償器42在測量Tx載波漏流及Rx IQ失配之週期期間不補償，而是將由多工器41輸出之信號"原樣"傳輸至IQ DAC 30。此外，Tx補償器42可僅針對Tx載波漏流補償由多工器41輸出之信號，並在測量Tx IQ失配之週期期間將已補償信號傳輸至IQ DAC 30。此外，Tx補償器42可針對Tx載波漏流及Tx IQ失配補償由多工器41輸出之信號，並在正常操作週期期間將已補償信號傳輸至IQ DAC 30。Tx補償器42可包括補償Tx載波漏流之Tx載波漏流補償器44，以及補償Tx IQ失配之Tx IQ失配補償器45。例如，Tx載波漏流補償器44可執行等式1所表達之運算，而Tx IQ失配補償器45可執行等式2所表達之運算。
[等式1]LC_I＝M_I＋C1_I LC_Q＝M_Q＋C1_Q [等式2]TMC_I＝LC_I TMC_Q＝C2_AMP×(LC_Q－C2_PHS×LC_I)其中LC_I及LC_Q表示Tx載波漏流補償器44之輸出的I頻道及Q頻道之信號，M_I及M_Q表示多工器41之輸出的I頻道及Q頻道之信號，C1_I及C1_Q表示控制器40之輸出的I頻道及Q頻道之信號，TMC_I及TMC_Q表示Tx IQ失配補償器45之輸出的I頻道及Q頻道之信號，C2_AMP及C2_PHS表示對應於由控制器40輸出之Tx IQ失配控制信號的增益錯誤及相位錯誤之控制信號。例如，當第一同相信號I1係cosωt，其係乘以由於IQ失配而在第一升頻轉換混波器10內由IQ DAC 30輸出之信號，以及第一正交信號Q1係(1＋α)sin(ωt＋θ)(1＋α){sinωt＋sinθ×I1}時，C2_AMP係對應於1/(1＋α)之控制信號且C2_PHS係對應於sinθ之控制信號。
Rx IQ失配補償器43可依據從控制器40發射之Rx IQ失配控制信號，針對Rx IQ失配補償輸入之信號。較佳的係Rx IQ失配補償器43在正常操作週期期間操作。Rx IQ失配補償器43可執行等式3所表達之運算。
[等式3]RMC_1＝DS_I RMC_Q＝C3_AMP×(DS_Q－C3_PHS×DS_I)其中RMC_I及RMC_Q表示Rx IQ失配補償器43之輸出的I頻道及Q頻道之信號，DS_I及DS_Q表示IQ ADC 31之輸出的I頻道及Q頻道之信號，C3_AMP及C3_PHS表示對應於由控制器40輸出之Rx IQ失配控制信號的增益錯誤及相位錯誤之控制信號。例如，當第一同相信號I1係cosωt，其係乘以由於IQ失配而輸入至第一降頻轉換混波器12之信號，以及第一正交信號Q1係(1＋β)sin(ωt＋Φ)(1＋β){sinωt＋sinΦ×I1}時，C3_AMP係對應於1/(1＋β)之控制信號且C2_PHS係對應於sinΦ之控制信號。控制器40可產生測試信號並將產生之測試信號傳輸至多工器41。控制器40可使用自IQ ADC 31發射之信號測量Tx載波漏流、Tx IQ失配及Rx IQ失配，並依據測量結果產生Tx載波漏流控制信號、Tx IQ失配控制信號及Rx IQ失配控制信號，以控制Tx補償器42及Rx IQ失配補償器43。
功率放大器50可放大第一升頻轉換混波器10之輸出並將放大之輸出發送至雙工器52。低雜訊放大器51可放大自雙工器52(例如自天線)發射之信號，並將放大之信號傳輸至第一降頻轉換混波器12。
雙工器52可在正常操作週期之傳輸週期期間，經由功率放大器50將傳輸RF信號自第一升頻轉換混波器10傳輸至天線，並在正常操作週期之接收週期期間，經由低雜訊放大器51將自天線發射的已接收RF信號傳輸至第一降頻轉換混波器12。
圖2係說明用於控制根據本發明之一具體實施例的收發器電路之方法的流程圖。使用圖1之收發器電路說明圖2內所示之方法。然而，依據本發明之方法的具體實施例並非受限於此。
圖3至5係說明分別在Tx載波漏流測量、Tx IQ失配測量及Rx IQ失配測量期間產生之頻域內的示範性信號之位置的圖式。
參考圖1至5，用於控制收發器電路之方法的一項具體實施例包括Tx載波漏流測量(步驟S1)、Tx IQ失配測量(步驟S2)或Rx IQ失配測量(步驟S3)及正常操作(步驟S4)。
在Tx載波漏流測量中(步驟S1)，控制器40可使用藉由透過第二降頻轉換混波器13傳遞包括在第一升頻轉換混波器10內之Tx載波漏流而獲得的信號測量Tx載波漏流。較佳的係控制器40使用藉由透過第二降頻轉換混波器13、IQ濾波器32及IQ ADC 31傳遞包括在第一升頻轉換混波器10內之Tx載波漏流而獲得的信號測量Tx載波漏流。
步驟S1中，第一升頻轉換混波器10及第二降頻轉換混波器13可操作，而第二升頻轉換混波器11及第一降頻轉換混波器12可不操作。因此，此情形中，對於步驟S1，要求第一本機振盪器20僅發射第一IQ LO信號I1、Q1至第一升頻轉換混波器10。例如，在正常操作之傳輸週期(步驟S4)及Tx載波漏流測量(步驟S1)期間，可將第一本機振盪器20內產生之第一IQ LO信號I1、Q1僅傳輸至第一升頻轉換混波器10。因此，第一本機振盪器20之負載狀況實質上相同。所以，由於在Tx載波漏流測量(步驟S1)中測量的Tx載波漏流值實質上等於在正常操作期間(步驟S4)測量的Tx載波漏流值，故可準確地補償Tx載波漏流。
與具體實施例相比，若使用第一升頻轉換混波器10及第一降頻轉換混波器12測量Tx載波漏流，則將第一本機振盪器20內產生之第一IQ LO信號I1、Q1傳輸至第一升頻轉換混波器10及第一降頻轉換混波器12。此一情形中，由於在測量Tx載波漏流時及正常操作期間第一本機振盪器20之負載狀況不同，未保持Tx載波漏流之恆等，並且未準確地補償Tx載波漏流。因此，根據本發明之收發器電路及其控制方法之具體實施例包括第二升頻轉換混波器11、第二降頻轉換混波器13及第二本機振盪器21(與僅使用一個升頻轉換混波器、一個降頻轉換混波器及一個本機振盪器之收發器相比)，以保持第一本機振盪器20之負載狀況在測量週期及正常操作週期期間實質上相同，其增加了補償Tx載波漏流時的準確性。
Tx載波漏流測量(步驟S1)中，較佳的係由IQ DAC 30輸出之信號的功率為零，且第一IQ LO信號I1、Q1之頻率ωL01 不同於第二IQ LO信號I2、Q2之頻率ωL02 。由IQ DAC 30輸出之示範性信號、由第一升頻轉換混波器10輸出之信號及由第二降頻轉換混波器13輸出之信號分別在圖3之(a)、(b)及(c)中予以顯示。由於傳輸至控制器40之信號具有如圖3之(c)內所示的頻率(ωL02 －ωL01 )，且較少受或不受1/F雜訊或DC偏移之影響，可準確地測量Tx載波漏流。相比之下，當僅使用第一升頻轉換混波器10、第一降頻轉換混波器12及將第一IQ LO信號I1、Q1提供至第一升頻轉換混波器10、第一降頻轉換混波器12之第一本機振盪器20測量Tx載波漏流時，發送至控制器40之Tx載波漏流的頻率為零。因此，Tx載波漏流難以區分或無法與1/F雜訊及DC偏移區分，並且無法準確地測量Tx載波漏流。因此，包括第二升頻轉換混波器11、第二降頻轉換混波器13及第二本機振盪器21之收發器電路的具體實施例以及根據本發明之方法的具體實施例具有各種優於僅使用第一升頻轉換混波器(例如10)、第一降頻轉換混波器(例如12)及第一本機振盪器(例如20)之收發器電路的優點，例如可更準確地測量Tx載波漏流。
在Tx載波漏流測量(步驟S1)中，控制器40使用帶通濾波器使信號對應於(ωL01 －ωL02 )，其對應於Tx載波漏流，並移除1/F雜訊及DC偏移之效應。之後，控制器40可獲得Tx載波漏流控制信號，其減小或最小化Tx載波漏流值。藉由測量Tx載波漏流值，同時改變Tx載波漏流控制信號，可獲得對應於已減小或較佳的係最小Tx載波漏流值之Tx載波漏流控制信號。
在Tx IQ失配測量(步驟S2)中，控制器40可使用已通過第一升頻轉換混波器10、第二降頻轉換混波器13之信號測量Tx IQ失配。較佳的係控制器40使用藉由透過第一升頻轉換混波器10、第二降頻轉換混波器13、IQ濾波器32及IQ ADC 31傳遞由IQ DAC 30輸出之信號而獲得的信號測量Tx IQ失配。
在Tx IQ失配測量(步驟S2)中，僅第一升頻轉換混波器10及第二降頻轉換混波器13係可操作，而第二升頻轉換混波器11及第一降頻轉換混波器12係不可操作(例如，類似於Tx載波漏流測量(步驟S1)之一項具體實施例)。因此，由於步驟S2中要求第一本機振盪器20僅向第一升頻轉換混波器10發射第一IQ LO信號I1、Q1，步驟S2期間第一本機振盪器20之負載狀況與傳輸週期期間的第一本機振盪器20類似或相同。所以，依據本發明之收發器電路及方法的具體實施例具有優於僅使用一個升頻轉換混波器、一個降頻轉換混波器及一個本機振盪器之收發器電路的各種優點，因為依據具體實施例之一本機振盪器的負載狀況在Tx IQ失配測量(例如步驟S2)及正常操作(例如步驟S4)期間相同，因而可更準確地測量Tx IQ失配。
較佳的係在Tx IQ失配測量(步驟S2)期間，由IQ DAC 30輸出之信號係藉由補償Tx載波漏流而獲得之信號。因此，可移除在Tx IQ失配之測量期間由Tx IQ載波漏流引起之效應。亦可使用濾波器來移除該效應。
較佳的係在Tx IQ失配測量(步驟S2)期間，由IQ DAC 30輸出之信號具有預定頻率，且包括在由IQ DAC 30輸出之信號內的I頻道信號及Q頻道信號之功率具有預定值。此外，包括在由IQ DAC 30輸出之信號內的I頻道信號及Q頻道信號具有90°之相位差，使得無任何IQ失配時，由第一升頻轉換混波器10輸出之信號可為單一旁帶信號。例如，包括在由IQ DAC 30輸出之信號內的I頻道信號及Q頻道信號可分別為cosωB t及－sinωB t。
較佳的係第一IQ LO信號I1、Q1之頻率ωBL01 不同於第二IQ LO信號I2、Q2之頻率ωBL02 ，並且大於或小於第二IQ LO信號I2、Q2之頻率ωBL02 。相應地，根據本發明之收發器電路及其控制方法的具體實施例包括第二升頻轉換混波器11、第二降頻轉換混波器13及第二本機振盪器21，以在Tx IQ失配之測量中對升頻轉換及降頻轉換使用不同頻率，其可區分Tx IQ失配引起之效應與Rx IQ失配引起之效應。因此，根據本發明之收發器電路及其控制方法的具體實施例具有優於對升頻轉換及降頻轉換使用相同頻率的方法之各種優點，因為可更準確地補償Tx IQ失配。
由IQ DAC 30輸出之示範性信號、由第一升頻轉換混波器10輸出之信號及由第二降頻轉換混波器13輸出之信號分別在圖4之(a)、(b)及(c)中予以顯示。圖4之(a)中顯示一測試信號T1。測試信號T1之I頻道及Q頻道信號可分別為cosωB t及－sinωB t。圖4之(b)中顯示通過第一升頻轉換混波器10後之測試信號T1及由第一升頻轉換混波器10之失配引起的測試信號T1之影像信號IS1。由於測試信號之I頻道及Q頻道信號較佳的係具有90°之相位差，通過第一升頻轉換混波器10之信號原理上僅應包括測試信號T1。然而，通過第一升頻轉換混波器10之信號額外地包括不需要之IS1，其係由於真實或實際第一升頻轉換混波器10具有IQ失配而造成的第一雜訊分量。圖4之(c)內顯示通過第二降頻轉換混波器13之測試信號T1、第一升頻轉換混波器10引起之影像信號IS1及由於第二降頻轉換混波器13之IQ失配引起的測試信號T1之影像信號IS2以及由於第二降頻轉換混波器13之IQ失配引起的IS1之影像信號IS3。由於降頻轉換混波器能夠區分影像信號，可藉由在IQ失配未發生時使降頻轉換混波器輸出之信號經受預定操作完全移除影像分量。然而，當IQ失配發生時，影像信號，例如圖4之(c)內顯示的IS2及IS3，即使在使降頻轉換混波器輸出之信號經受預定操作後仍保留。由於在Tx IQ失配測量(步驟S2)內測量之值係關於TX IQ失配的值，第一升頻轉換混波器10產生的測試信號T1之影像信號IS1較關鍵。因此，當使用IQ濾波器32時，其係低通濾波器，可獲得IS1及由於第二降頻轉換混波器13產生的IS1之影像信號IS3。控制器40偵測IS1及IS3，且控制器40可移除Tx IQ失配以減小或最小化IS1。或者，控制器40可移除Tx IQ失配以減小或最小化IS1及IS2。例如，控制器40可改變傳輸至Tx IQ失配補償器45之Tx IQ失配控制信號，並測量IS1以獲得減小或最小化IS1之Tx IQ失配控制信號。
如圖4之(c)所示，第二降頻轉換混波器13所造成的測試信號T1之影像IS2具有負頻率。因此此可與IS1加以區分，其係對應於第一升頻轉換混波器10之Tx IQ失配的信號分量。所以，不需要第二降頻轉換混波器13之IQ失配振幅較小以補償第一升頻轉換混波器10之Tx IQ失配。
在Rx IQ失配測量(步驟S3)中，控制器40可使用已通過第二升頻轉換混波器11及第一降頻轉換混波器12之信號測量Rx IQ失配。較佳的係控制器40使用藉由透過第二升頻轉換混波器11、第一降頻轉換混波器12、IQ濾波器32及IQ ADC 31傳遞由IQ DAC 30輸出之信號而獲得的信號測量Rx IQ失配。
在Rx IQ失配測量(步驟S3)中，較佳的係僅第二升頻轉換混波器11及第一降頻轉換混波器12係可操作，而第一升頻轉換混波器10及第二降頻轉換混波器13係不可操作。因此，第一本機振盪器20之負載狀況可與正常操作週期之接收週期期間的第一本機振盪器20相同。因此，收發電路及其控制方法之具體實施例具有各種優點，其優於僅一個升頻轉換混波器、一個降頻轉換混波器及一個本機振盪器操作而一個本機振盪器之負載狀況不相同的方法，並且在Rx IQ失配測量(步驟S3)及正常操作(步驟S4)中不提供第一本機振盪器20之相似或相同負載狀況。然而，所揭示之具體實施例中可準確地補償Rx IQ失配。
較佳的係在Rx IQ失配測量(步驟S3)期間，由IQ DAC 30輸出之測試信號具有預定頻率，且包括在由IQ DAC 30輸出之測試信號內的I頻道信號及Q頻道信號之功率具有預定值。此外，包括在由IQ DAC 30輸出之信號內的I頻道信號及Q頻道信號具有90°之相位差，使得無任何IQ失配時，由第二升頻轉換混波器11輸出之信號可為單一旁帶信號。例如，包括在由IQ DAC 30輸出之信號內的I頻道信號及Q頻道信號可分別為cosωB t及sinωB t。
較佳的係第一IQ LO信號I1、Q1之頻率ωBL01 不同於第二IQ LO信號I2、Q2之頻率ωBL02 ，並且大於或小於第二IQ LO信號I2、Q2之頻率ωBL02 。相應地，根據本發明之收發器電路及其控制方法的具體實施例進一步包括第二升頻轉換混波器11、第二降頻轉換混波器13及第二本機振盪器21，以在Rx IQ失配之測量中對升頻轉換及降頻轉換使用不同頻率，其可區分RX IQ失配與Tx IQ失配引起之效應。因此，根據本發明之收發器電路及其控制方法的具體實施例具有優於對升頻轉換及降頻轉換使用相同頻率的方法之各種優點，因此可更準確地補償Rx IQ失配。
由IQ DAC 30輸出之示範性信號、由第二升頻轉換混波器11輸出之信號及由第一降頻轉換混波器12輸出之信號分別在圖5之(a)、(b)及(c)中予以顯示。圖5之(a)中顯示一測試信號T1。測試信號T1之I頻道及Q頻道信號可分別為cosωB t及sinωB t。圖5之(b)中顯示通過第二升頻轉換混波器11後之測試信號T1及由於第二升頻轉換混波器11之失配引起的測試信號T1之影像信號IS1。由於測試信號之I頻道及Q頻道信號具有90°之相位差，通過第二升頻轉換混波器11後之信號原理上僅應包括測試信號TI。然而，通過第二升頻轉換混波器11後之信號額外地包括不需要之IS1，其係由於真實第二升頻轉換混波器11具有IQ失配而造成的雜訊分量。圖5之(c)內顯示通過第一降頻轉換混波器12後之測試信號T1、第二升頻轉換混波器11引起之影像信號IS1及由於第一降頻轉換混波器12之IQ失配引起的測試信號T1之影像信號IS2以及由於第一降頻轉換混波器12之IQ失配引起的IS1之影像信號IS3。由於降頻轉換混波器能夠區分影像信號，可藉由在IQ失配未發生時使降頻轉換混波器輸出之信號經受預定操作而減小或完全移除影像分量。然而，當IQ失配發生時，影像信號，例如圖5之(c)內顯示的IS2及IS3，即使在使降頻轉換混波器輸出之信號經受預定操作後仍保留。由於在Rx IQ失配測量(步驟S3)內測量之值係關於RX IQ失配的值，第一降頻轉換混波器12產生的測試信號T1之影像信號IS2較關鍵。因此，當使用IQ濾波器32時，其係低通濾波器，可獲得T1及由於第一降頻轉換混波器12產生的T1之影像信號IS2。控制器40偵測T1及IS2，且控制器40可移除Rx IQ失配以減小或最小化IS2。例如，控制器40可藉由經由美國專利第5,949,821號或美國專利第6,044,112號中所揭示之方法接收T1及IS2測量Rx IQ失配。
如圖5之(b)及(c)所示，第二升頻轉換混波器11所造成的測試信號T1之影像IS1具有正頻率。此可用於區分IS2，IS2係對應於第一降頻轉換混波器12之Rx IQ失配的信號分量。因此，第二升頻轉換混波器11之IQ失配對Rx IQ失配測量程序無效應。所以，不需要第二升頻轉換混波器11之IQ失配振幅較小以補償第一降頻轉換混波器12之Rx IQ失配。
可在適當時間執行Tx載波漏流測量(步驟S1)、Tx IQ失配測量(步驟S2)及Rx IQ失配測量(步驟S3)。例如，可在將電源供應至收發器電路時執行此類操作。然而，具體實施例並非受限於此。例如，甚至在開啟接收器後，可在溫度及供應電壓中之至少一者超出預定範圍時執行此類操作。對於此類操作，接收器可包括溫度感測器(未顯示)及測量電壓位準之感測器中之至少一者。熟習技術人士自會明白，當在開啟收發器後執行此類操作時，可在無需發射及接收信號之週期期間執行此類操作。
正常操作期間(步驟S4)，第一升頻轉換混波器10及第一降頻轉換混波器12可用於執行TDD型傳輸/接收。較佳的係在正常操作之傳輸週期期間(步驟S4)，第一升頻轉換混波器10可將傳輸至IQ DAC 30之信號轉換為傳輸RF信號，並經由功率放大器50及雙工器52將經轉換之信號傳輸至天線，同時此類剩餘IQ混波器11、12及13係不可操作。此外，在正常操作之接收週期期間(步驟S4)，第一降頻轉換混波器12可透過雙工器52及低雜訊放大器51將接收之RF信號轉換為BB或IF信號。可經由IQ濾波器32將經轉換之信號傳輸至IQ ADC 31，同時剩餘IQ混波器10、11及13係不可操作。
正常操作期間(步驟S4)，多工器41可輸出傳輸信號(例如在傳輸信號與測試信號之間)，可藉由Tx補償器42針對Tx載波漏流及IQ失配補償多工器41輸出之信號，並藉由IQ DAC 30將其轉換為類比信號，以便傳輸至第一升頻轉換混波器10。此外，可將輸入IQ ADC 31之已接收信號轉換為數位信號，並藉由Rx IQ失配補償器43針對Rx IQ失配加以補償。
一項具體實施例中，由於在測量第一升頻轉換IQ混波器的載波漏流及IQ失配之週期期間，其類似於正常操作週期之傳輸週期，第一升頻轉換IQ混波器係可操作而第一降頻轉換IQ混波器係不可操作，在正常操作週期期間操作的第一本機振盪器之負載狀況可接近或等同於測量週期之負載狀況。因此，載波漏流或IQ失配之已測量值具有與測量週期後之正常操作週期的對應性。當本機振盪器之輸出負載變更時，IQ失配值亦可變更。
一項具體實施例中，在正常操作週期期間操作之混波器，例如第一升頻轉換IQ混波器及第一降頻轉換IQ混波器應經受載波漏流或IQ失配之測量。然而，由於第二升頻轉換IQ混波器及第二降頻轉換IQ混波器係用於準確測量之輔助電路，而第一本機振盪器之輸出負載無變化，第二升頻轉換IQ混波器及第二降頻轉換IQ混波器之載波漏流或IQ失配對測量結構較不重要。
如上所述，根據本發明之方法、裝置及接收電路的具體實施例具有各種優點。例如，根據收發電路及對應方法之具體實施例，可單獨或組合地補償Tx載波漏流、Tx IQ失配及Rx IQ失配。
此外，根據依據具體實施例之收發電路及方法，藉由將升頻轉換混波器之輸出信號輸入降頻轉換混波器測量Tx載波漏流、Tx IQ失配及Rx IQ失配，而不使用經由無線通信接收之信號來測量Tx載波漏流、Tx IQ失配及Rx IQ失配，此可改善測量程序並減小因無線通信引起之雜訊而造成的測量錯誤。
此外，根據依據具體實施例之收發電路及方法，測量Tx載波漏流、Tx IQ失配及Rx IQ失配之週期期間的負載狀況可與正常操作期間之負載狀況保持相似或實質上相同，以便可減小或防止因本機振盪器之負載狀況引起的Tx載波漏流、Tx IQ失配及Rx IQ失配之變更。
此外，根據依據具體實施例之收發電路及其控制方法，升頻轉換IQ混波器及降頻轉換IQ混波器可在Tx載波漏流、Tx IQ失配及Rx IQ失配之測量期間使用不同IQ LO頻率，以便可改善Tx載波漏流、Tx IQ失配及Rx IQ失配測量之準確性。
此說明書中所參考的"一項具體實施例"、"一具體實施例"、"示範性具體實施例"等意味著結合具體實施例說明的特定功能、結構或特徵係包括於本發明至少一項具體實施例中。此類詞彙在說明書中各處之出現不必全部參考相同具體實施例。另外，當結合任何具體實施例說明特定功能、結構或特徵時，認定其屬於熟習技術人士之知識範圍內，以結合其他具體實施例來實現此類功能、結構或特徵。
儘管已參考許多說明性具體實施例來說明本發明，應瞭解熟習技術人士可設計眾多其他修改及具體實施例，其均屬於本揭示內容之原理的精神及範圍。更特定言之，可在本揭示內容、圖式及隨附申請專利範圍之範疇內對受測組合配置的部件及/或配置進行各種變更及修改。除了對部件及/或配置進行變更及修改之外，熟習技術人士亦非常明白各種替代用法。
10．．．第一升頻轉換混波器
11．．．第二升頻轉換混波器
12．．．第一降頻轉換混波器
13．．．第二降頻轉換混波器
20．．．第一本機振盪器
21．．．第二本機振盪器
30．．．IQ DAC
31．．．IQ ADC
32．．．IQ濾波器
40．．．控制器
41．．．多工器
42．．．Tx補償器
43．．．Rx IQ失配補償器
44．．．Tx載波漏流補償器
45．．．Tx IQ失配補償器
50．．．功率放大器
51．．．低雜訊放大器
52．．．雙工器
I1．．．第一同相信號/第一IQ LO信號
I2．．．第二IQ LO信號
IS1．．．影像信號
IS2．．．影像信號
IS3．．．影像信號
Q1．．．第一正交信號/第一IQ LO信號
Q2．．．第二IQ LO信號
T1．．．測試信號
已參考以下圖式詳細說明具體實施例，其中相似參考數字表示相似元件，其中：圖1係說明根據本發明之一具體實施例之收發器電路的圖式。
圖2係說明用於控制根據本發明之一具體實施例的收發器之方法的流程圖。
圖3至5係分別說明為測量Tx載波漏流、Tx IQ失配及Rx IQ失配而產生之頻域內的示範性信號之位置的圖式。
10．．．第一升頻轉換混波器
11．．．第二升頻轉換混波器
12．．．第一降頻轉換混波器
13．．．第二降頻轉換混波器
20．．．第一本機振盪器
21．．．第二本機振盪器
30．．．IQ DAC
31．．．IQ ADC
32．．．IQ濾波器
40．．．控制器
41．．．多工器
42．．．Tx補償器
43．．．Rx IQ失配補償器
44．．．Tx載波漏流補償器
45．．．Tx IQ失配補償器
50．．．功率放大器
51．．．低雜訊放大器
52．．．雙工器
I1．．．第一同相信號/第一IQ LO信號
I2．．．第二IQ LO信號
Q1．．．第一正交信號/第一IQ LO信號
Q2．．．第二IQ LO信號

Claims (20)

  1. 一種用於控制包含一第一升頻轉換IQ混波器、一第二升頻轉換IQ混波器、一第一降頻轉換IQ混波器、一第二降頻轉換IQ混波器、一第一本機振盪器及一第二振盪器之一收發器電路的方法，該方法包含：(a)使用藉由透過該第二降頻轉換IQ混波器傳遞包括在該第一升頻轉換IQ混波器之一輸出內的一Tx載波漏流而獲得的一信號來測量一Tx載波漏流；(b)使用透過該第一升頻轉換IQ混波器及該第二降頻轉換IQ混波器傳遞之一信號來測量一Tx IQ失配；(c)使用透過該第二升頻轉換IQ混波器及該第一降頻轉換IQ混波器傳遞之一信號來測量一Rx IQ失配；以及(d)在一操作週期期間，使用該第一升頻轉換IQ混波器及該第一降頻轉換IQ混波器執行傳輸/接收，其中該第一本機振盪器產生用於該第一升頻轉換IQ混波器及該第一降頻轉換IQ混波器內之一第一IQ LO信號，並且該第二振盪器產生用於該第二升頻轉換IQ混波器及該第二降頻轉換IQ混波器內之一第二IQ LO信號，其中該第一IQ LO信號及該第二IQ LO信號之頻率不同。
  2. 如請求項1之方法，其中在該等步驟(a)及(b)中，該第一升頻轉換IQ混波器及該第二降頻轉換IQ混波器係可操作，而該第二升頻轉換IQ混波器及該第一降頻轉換IQ混波器係不可操作； 其中在該步驟(c)中，該第二升頻轉換IQ混波器及該第一降頻轉換IQ混波器係可操作，而該第一升頻轉換IQ混波器及該第二降頻轉換IQ混波器係不可操作；其中在該操作週期之一傳輸週期期間，該第一升頻轉換IQ混波器係可操作，而該第一降頻轉換IQ混波器、該第二升頻轉換IQ混波器及該第二降頻轉換IQ混波器係不可操作；以及其中在該操作週期之一接收週期期間，該第一降頻轉換IQ混波器係可操作，而該第一升頻轉換IQ混波器、該第二升頻轉換IQ混波器及該第二降頻轉換IQ混波器係不可操作。
  3. 如請求項1之方法，其中在該步驟(a)中輸入至該第一升頻轉換IQ混波器之一信號的一功率實質上具有一零值；其中在該步驟(b)中輸入至該第一升頻轉換IQ混波器之一信號具有一第一規定頻率，而輸入至該第一升頻轉換IQ混波器之該信號之I及Q頻道的信號具有一規定第一功率；以及其中在該步驟(c)中輸入至該第二升頻轉換IQ混波器之一信號具有一第二規定頻率，而輸入至該第一升頻轉換IQ混波器之該信號之I及Q頻道的信號具有一規定第二功率。
  4. 如請求項1之方法，其中在該步驟(b)中輸入至該第一升頻轉換IQ混波器之一信號的I及Q頻道之信號具有90°之一相位差，其中在該步驟(c)中輸入至該第二升頻轉換IQ 混波器之一信號的I及Q頻道之信號具有90°之一相位差，其中該收發器電路係一TDD型收發器電路，以及其中在開啟該收發器電路、該收發器電路之溫度超出一規定範圍或越過一規定臨界值或者供應至該收發器電路之一電壓超出一規定範圍或越過一規定臨界值時實行該等步驟(a)至(c)。
  5. 如請求項1之方法，其中在該步驟(b)中輸入至該第一升頻轉換IQ混波器之一信號包含已補償該Tx載波漏流之一信號；以及其中在該操作週期期間輸入至該第一升頻轉換IQ混波器之一信號包含已補償該Tx載波漏流及該Tx IQ失配之一信號，並且由該第一降頻轉換IQ混波器輸出之一信號在轉換為一數位信號後已補償該Rx IQ失配。
  6. 一種用於控制包含一第一升頻轉換IQ混波器、一第一降頻轉換IQ混波器、一第二降頻轉換IQ混波器、一第一本機振盪器及一第二振盪器之一收發器電路的方法，該方法包含：使用藉由透過該第二降頻轉換IQ混波器傳遞包括在該第一升頻轉換IQ混波器之一輸出內的一Tx載波漏流而獲得的一信號來測量一Tx載波漏流；以及在一操作週期期間，使用該第一升頻轉換IQ混波器及該第一降頻轉換IQ混波器執行傳輸/接收；其中該第一本機振盪器產生用於該第一升頻轉換IQ混波器及該第一降頻轉換IQ混波器內之一第一IQ LO信 號，該第二振盪器產生用於該第二降頻轉換IQ混波器內之一第二IQ LO信號，其中該第一IQ LO信號及該第二IQ LO信號之頻率不同。
  7. 如請求項6之方法，其中當測量該Tx載波漏流時，該第一升頻轉換IQ混波器及該第二降頻轉換IQ混波器係可操作，而該第一降頻轉換IQ混波器係不可操作；其中在該操作週期之一傳輸週期期間，該第一升頻轉換IQ混波器係可操作，而該第一降頻轉換IQ混波器及該第二降頻轉換IQ混波器係不可操作；以及其中在該操作週期之一接收週期期間，該第一降頻轉換IQ混波器係可操作，而該第一升頻轉換IQ混波器及該第二降頻轉換IQ混波器係不可操作。
  8. 一種用於控制包含一第一升頻轉換IQ混波器、一第一降頻轉換IQ混波器、一第二降頻轉換IQ混波器、一第一本機振盪器及一第二振盪器之一收發器電路的方法，該方法包含：使用透過該第一升頻轉換IQ混波器及該第二降頻轉換IQ混波器傳遞之一信號來測量一Tx IQ失配；在一正常操作週期期間，使用該第一升頻轉換IQ混波器及該第一降頻轉換IQ混波器執行一TDD型傳輸/接收；其中該第一本機振盪器產生用於該第一升頻轉換IQ混波器及該第一降頻轉換IQ混波器內之一第一IQ LO信號，該第二振盪器產生用於該第二降頻轉換IQ混波器內 之一第二IQ LO信號，其中該第一IQ LO信號及該第二IQ LO信號之頻率不同。
  9. 如請求項8之方法，其中當測量該Tx IQ失配時，該第一升頻轉換IQ混波器及該第二降頻轉換IQ混波器係可操作而該第一降頻轉換IQ混波器係不可操作；其中在該正常操作週期之一傳輸週期期間，該第一升頻轉換IQ混波器係可操作，而該第一降頻轉換IQ混波器及該第二降頻轉換IQ混波器係不可操作；以及其中在該正常操作週期之一接收週期期間，該第一降頻轉換IQ混波器係可操作，而該第一升頻轉換IQ混波器及該第二降頻轉換IQ混波器係不可操作。
  10. 一種用於控制包含一第一升頻轉換IQ混波器、一第二升頻轉換IQ混波器、一第一降頻轉換IQ混波器、一第一本機振盪器及一第二振盪器之一收發器電路的方法，該方法包含：使用透過該第二升頻轉換IQ混波器及該第一降頻轉換IQ混波器傳遞之一信號來測量一Rx IQ失配；在一操作週期期間，使用該第一升頻轉換IQ混波器及該第一降頻轉換IQ混波器執行一傳輸/接收；使用該第一本機振盪器產生用於該第一升頻轉換IQ混波器及該第一降頻轉換IQ混波器內之一第一IQ LO信號；以及使用該第二振盪器產生用於該第二升頻轉換IQ混波器 內之一第二IQ LO信號，其中該第一IQ LO信號及該第二IQ LO信號之頻率不同。
  11. 如請求項10之方法，其中當測量該Rx IQ失配時，該第二升頻轉換IQ混波器及該第一降頻轉換IQ混波器係可操作，而該第一升頻轉換IQ混波器係不可操作；其中在該操作週期之一傳輸週期期間，該第一升頻轉換IQ混波器係可操作，而該第一降頻轉換IQ混波器及該第二升頻轉換IQ混波器係不可操作；以及其中在該正常操作週期之一接收週期期間，該第一降頻轉換IQ混波器係可操作，而該第一升頻轉換IQ混波器及該第二升頻轉換IQ混波器係不可操作。
  12. 一種收發器電路，其包含：一第一升頻轉換IQ混波器；一第二升頻轉換IQ混波器；一第一降頻轉換IQ混波器，其具有一輸入以接收該第二升頻轉換IQ混波器之一輸出；一第二降頻轉換IQ混波器，其具有一輸入以接收該第一升頻轉換IQ混波器之一輸出；一第一本機振盪器，其係耦合至該第一升頻轉換IQ混波器及該第一降頻轉換IQ混波器，以產生一第一IQ LO信號；以及一第二本機振盪器，其係耦合至該第二升頻轉換IQ混波器及該第二降頻轉換IQ混波器，以產生一第二IQ LO 信號，其中該第一IQ LO信號及該第二IQ LO信號之頻率不同。
  13. 如請求項12之電路，其進一步包含：一IQ DAC，其具有分別耦合至該第一升頻轉換IQ混波器及該第二升頻轉換IQ混波器之一輸入的一輸出；一IQ濾波器，其係耦合以接收該第一降頻轉換IQ混波器及該第二降頻轉換IQ混波器之輸出；一IQ ADC，其係耦合以接收該IQ濾波器之一輸出；一功率放大器，用以接收該第一升頻轉換IQ混波器之該輸出；一低雜訊放大器，其具有耦合至該第一降頻轉換IQ混波器之一輸入的一輸出；以及一雙工器，用以採用一天線收發一RF信號，其中該雙工器係耦合以從該功率放大器接收一傳輸RF信號並向該低雜訊放大器輸出一經接收之RF信號。
  14. 如請求項13之電路，其進一步包含：一多工器，用以選擇並輸出對應於該傳輸RF信號之一傳輸信號與一測試信號中之一者；一Tx補償器，其經組態用以接收該多工器之一輸出，以補償依據一Tx載波漏流控制信號及一Tx IQ失配控制信號接收的一信號之一Tx載波漏流及一Tx IQ失配，並將該已補償信號輸出至該IQ DAC；一Rx IQ失配補償器，其經組態用以接收該IQ ADC之 一輸出以補償依據一Rx IQ失配控制信號接收的一信號之一Rx IQ失配；以及一控制器，其經組態用以產生該測試信號，以接收該IQ ADC之該輸出，從而測量該Tx載波漏流、該Tx IQ失配及該Rx IQ失配，並產生該Tx載波漏流控制信號、該Tx IQ失配控制信號及該Rx IQ失配控制信號。
  15. 如請求項12之電路，其中在測量該Tx載波漏流之一週期期間，該第一升頻轉換IQ混波器及該第二降頻轉換IQ混波器係可操作，而該第二升頻轉換IQ混波器及該第一降頻轉換IQ混波器係不可操作。
  16. 如請求項15之電路，其中在測量該Tx載波漏流之該週期期間，輸入至該第一升頻轉換IQ混波器之一信號的一功率為零。
  17. 如請求項12之電路，其中當測量該Tx IQ失配時，該第一升頻轉換IQ混波器及該第二降頻轉換IQ混波器係可操作，而該第二升頻轉換IQ混波器及該第一降頻轉換IQ混波器係不可操作。
  18. 如請求項17之電路，其中當測量該Tx IQ失配時，補償輸入至該第一升頻轉換IQ混波器之一信號的該Tx載波漏流。
  19. 如請求項12之電路，其中在測量該Rx IQ失配之一週期期間，該第二升頻轉換IQ混波器及該第一降頻轉換IQ混波器係可操作，而該第一升頻轉換IQ混波器及該第二降頻轉換IQ混波器係不可操作。
  20. 如請求項12之電路，其中該第二升頻轉換IQ混波器及該第二降頻轉換IQ混波器係不可操作，而該第一升頻轉換IQ混波器及該第一降頻轉換IQ混波器分別用於實行一TDD型傳輸/接收操作。
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