TWI457900B - 驅動電路回饋檢測方法 - Google Patents

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Description

驅動電路回饋檢測方法
本發明係相關於一種驅動電路回饋檢測方法，尤其為一種用於回饋校正場效發射顯示器電路之驅動電路回饋檢測方法。
傳統上在使用驅動電路驅動場效發射顯示器(FED)時，是利用一個TV generator產生影像訊號，在經過控制器將影像訊號輸出到FED panel上，透過panel來根據影像訊號顯示畫面。
請參閱第1圖，其係顯示傳統FED顯示器驅動電路方塊圖，FED顯示器驅動電路1包含TV generator11、控制器12以及FED panel13，TV generator11產生一個影像訊號後，將影像訊號傳輸至控制器12，藉由控制器12控制影像訊號的輸出，透過控制器12控制影像訊號的輸出以在FED panel上根據影像訊號產生設計者希望產生的影像。
然而這樣的設計在控制器中控制晶片有瑕疵時，很容易發生FED panel顯示異常的情形，並且無法判斷顯示異常的情形是由panel所引起或是由控制器異常所引起，因此如何解決這樣的問題成為目前迫切需要解決的。
因此，本發明的目的之一，在於提供一種驅動電路回 饋檢測方法，用以控制一場效發射顯示器並監測該場效發射顯示器驅動電路之運作，該驅動電路回饋檢測方法包含：提供一影像訊號；控制該影像訊號，以判斷該影像訊號之輸出；處理該影像訊號，並根據該影像訊號輸出複數個影像資訊；暫存並將該複數個影像資訊進行比較該複數個影像資訊是否相同；根據該複數個影像資訊是否相同輸出一影像資訊顯示結果；根據該影像資訊顯示結果，以修正該影像訊號，並輸出一修正後之影像訊號；以及顯示該修正後之影像訊號。
請參閱2圖，第2圖為本發明較佳實施例之場效發射顯示器驅動電路方塊圖，如第2圖所示，場效發射顯示器驅動電路2包含影像訊號產生器21、微控制單元22、第一控制裝置231、第二控制裝置232、顯示器24以及場效可程式化邏輯閘陣列(FPGA)25。
影像訊號產生器21一開始產生影像訊號，其中包含顯示影像的數據，讓顯示器24根據影像訊號來顯示影像，微控制單元22耦接至影像訊號產生器21，用以接收影像訊號產生器21所產生之影像訊號，並且根據外界操控所輸入的操控訊號，控制影像訊號的輸出。
其中影像訊號可能包含多組顯示訊號，例如時間顯示之影像訊號，頻道顯示之影像訊號，微控制單元22可以根據操控訊號來控制輸出不同之影像訊號。
第一控制裝置231及第二控制裝置232耦接至微控制單元22，用以接收微控制單元22所輸出之影像訊號，並控制影像訊號然後根據影像訊號分別輸出第一影像資訊以及第二影像資訊，顯示器24耦接至控制裝置23，用以接收第一控制裝置231所輸出之第一影像資訊，並根據第一控制裝置23所輸出之第一影像資訊來顯示畫面。
FPGA25同時耦接至第一控制裝置231和第二控制裝置232，接收來自第一控制裝置231所輸出之第一影像資訊，以及來自第二控制裝置232所輸出之第二影像資訊，FPGA25內包含一組運算邏輯電路，可接收來自第一控制裝置231和第二控制裝置232的第一及第二影像資訊，並將影像資訊進行比較以及暫存，FPGA25用以比較第一影像資訊和第二影像資訊的異同，在場效發射顯示器驅動電路2正常運作時，由於第一控制裝置231和第二控制裝置232對影像訊號的處理相同，因此第一影像資訊與第二影像資訊會相同；但是當場效發射顯示器驅動電路2運作異常時，第一控制裝置231或第二控制裝置232對影像訊號的處理會有誤差，FPGA可比較第一影像資訊和第二影像資訊的差異，並且根據比較的結果產生比較訊號，並將比較訊號輸出至微控制單元22進行回饋控制，讓微控制單元22可以根據FPGA產生的比較訊號，對輸出的影像訊號進行調整。
此外，場效發射顯示器驅動電路2另外包含暫存記憶體(SRAM)251，耦接至FPGA25，提供FPGA25在進行運算 處理時的一個緩衝記憶體，由於同一時間從第一控制裝置231和第二控制裝置232所輸出的第一及第二影像資訊資料非常龐大，FPGA25無法立刻將影像資訊運算後進行比較，因此可將來不及處理的訊號暫存於SRAM251中，以緩衝的方式將影像資訊暫存SRAM251，再讀取SRAM251中的影像資訊進行運算。
請參閱3圖，第3圖為本發明較佳實施例驅動電路回饋檢測方法之步驟圖，如第3圖所示，首先利用影像訊號產生器21產生影像訊號(S1)，然後將影像訊號輸出至微控制單元22，利用微控制單元22控制影像訊號(S2)，並將影像訊號輸出至第一控制裝置231和第二控制裝置232，第一控制裝置231和第二控制裝置232用以處理影像訊號，並且分別根據影像訊號輸出影像資訊(S3)，第一控制裝置231所輸出的影像資訊輸出到場效可程式化邏輯閘陣列25，第二控制裝置232所輸出的影像資訊同時輸出到顯示器24以及場效可程式化邏輯閘陣列25，顯示器24根據接收的影像資訊來顯示影像(S31)，場效可程式化邏輯閘陣列25接收第一控制裝置231和第二控制裝置232所出的影像資訊後，將影像資訊進行運算比較(S4)，來不及運算的影像資訊會先暫存在暫存記憶體251中(S41)，場效可程式化邏輯閘陣列25可以透過設計來配置不同邏輯電路，在本實施例中，場效可程式化邏輯閘陣列25將第一控制裝置231和第二控制裝置232所輸出的影像資訊進行比較，判斷第一控制裝置231和第二控制裝置232所輸出的影像資訊是 否相同(S5)，比較後，場效可程式化邏輯閘陣列2.5會判斷模擬的結果是否正確，並將比較的結果輸出至微控制單元22(S6)，微控制單元22根據場效可程式化邏輯閘陣列25所輸出之結果，將影像訊號的控制進行調整(S7)，最後控制裝置23根據微控制單元22調整後的影像訊號，輸出影像資訊，並利用顯示器來顯示修正後的影像訊號(S8)。
以上所述僅為本發明之較佳實施例，凡依本發明申請專利範圍所做之均等變化與修飾，皆應屬本發明之涵蓋範圍。
1‧‧‧FED顯示器驅動電路
11‧‧‧TV generator
12‧‧‧控制器
13‧‧‧FED panel
2‧‧‧場效發射顯示器驅動電路
21‧‧‧影像訊號產生器
22‧‧‧微控制單元
23‧‧‧控制裝置
24‧‧‧顯示器
25‧‧‧場效可程式化邏輯閘陣列
251‧‧‧暫存記憶體
26‧‧‧電腦模擬端
S1~S8‧‧‧方法步驟
第1圖係顯示習知技術中之FED顯示器驅動電路方塊圖；第2圖為本發明較佳實施例之場效發射顯示器驅動電路方塊圖；第3圖為本發明較佳實施例之驅動電路回饋檢測方法步驟圖。
S1~S8‧‧‧方法步驟

Claims (4)

  1. 一種驅動電路回饋檢測方法，用以控制一場效發射顯示器並監測該場效發射顯示器驅動電路之運作，該驅動電路回饋檢測方法包含：提供一影像訊號；控制該影像訊號，以判斷該影像訊號之輸出；處理該影像訊號，並根據該影像訊號輸出複數個影像資訊；暫存並將該複數個影像資訊進行比較該複數個影像資訊是否相同；根據該複數個影像資訊是否相同輸出一影像資訊顯示結果；根據該影像資訊顯示結果，以修正該影像訊號，並輸出一修正後之影像訊號；以及顯示該修正後之影像訊號。
  2. 如申請專利範圍第1項所述之驅動電路回饋檢測方法，將該影像資訊進行運算及比較係透過一場效可程式化邏輯閘陣列來完成。
  3. 如申請專利範圍第1項所述之驅動電路回饋檢測方法，其中該影像訊號係由一影像訊號產生器產生。
  4. 一種驅動電路回饋檢測方法，用以控制一場效發射顯示器並監測該場效發射顯示器驅動電路之運作，該驅動電路回饋檢測方法包含：提供一影像訊號； 控制該影像訊號，以判斷該影像訊號之輸出；處理該影像訊號，透過使用相同操作之複數控制裝置，以根據該影像訊號個別輸出該等影像資訊；暫存並將該複數個影像資訊進行比較該複數個影像資訊是否相同；根據該複數個影像資訊是否相同輸出一影像資訊顯示結果；根據該影像資訊顯示結果，以修正該影像訊號，並輸出一修正後之影像訊號；以及顯示該修正後之影像訊號。
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