TWI441048B - 觸控面板及觸碰點定位方法 - Google Patents

Description

觸控面板及觸碰點定位方法

本發明係有關觸控面板，特別是關於一種具電阻抗異向性導電膜之觸控面板及其觸碰點定位方法。

觸控面板(Touch Panel)或觸控螢幕(Touch Screen)逐漸普遍應用於電子裝置中，特別是可攜式或手持式電子裝置，例如個人數位助理(Personal Digital Assistant，PDA)或行動電話。觸控面板是將如電阻式、電容式(Capacitive)或光學式之觸控技術與顯示面板予以結合的一種應用技術。由於近年來液晶顯示(Liquid Crystal Display，LCD)面板技術的成熟發展，因此將觸控技術應用於液晶顯示面板上而發展出液晶觸控面板乃成為一種趨勢。

傳統電容式觸控面板主要包含透明導電材質所構成的二個圖案(Pattern)層，分別形成於玻璃的上、下表面，再藉由此二圖案層分別決定其二維座標。傳統觸控面板中所用之透明導電材質一般為氧化銦錫(Indium Tin Oxide，ITO)，而此一觸控面板的製造主要係使用半導體製造技術，例如微影、曝光、蝕刻等技術。由於製程中必須繁複進行多次的步驟，因此，造成觸控面板良率的無法提升，也無法降低製造成本及製造時間。再者，受到製程解析度的限制，傳統觸控面板的觸控精確度也無法突破瓶頸。

鑑於上述，因此亟需提出一種新穎的觸控面板架構及其定位方法，用以改善上述傳統觸控面板的各項缺點。

鑑於上述先前技術中傳統觸控面板的諸多缺點，本發明實施例的目的之一在於提出一種具電阻抗異向性導電膜之觸控面板及其觸碰點定位方法，用以提高製造良率、降低成本並提高解析度。

根據本發明一實施例，觸控面板的結構由下而上依序為第一絕緣基板、第一導電膜、絕緣層、第二導電膜、第二絕緣基板。其中，第一導電膜及第二導電膜具電阻抗異向性，例如為奈米碳管(Carbon Nano Tube，CNT)膜。複數第一電訊號接觸墊配置於第一導電膜周邊之第一方向上例如X軸上，而複數第二電訊號接觸墊配置於第二導電膜周邊之第二方向上例如Y軸上。其中，第一導電膜於第二方向之電阻抗小於其他方向之電阻抗，第二導電膜於第一方向之電阻抗小於其他方向之電阻抗。此外，依本發明實施例之觸控面板還包含驅動電路以輸入電訊號至第一或第二電訊號接觸墊，及感測電路以讀取第二或第一電訊號接觸墊所感應之電訊號。於定位觸碰點時，首先，輸入電訊號至第一或第二電訊號接觸墊，並讀取第二或第一電訊號接觸墊所感應之電訊號。最後，根據讀取之電訊號，判斷觸控面板之觸控表面上一觸碰點的位置。

，在製程上得以降低成本及簡化製程，並在觸控面板之觸碰點之定位上得以提升定位之精確度。

圖1A顯示本發明一實施例之觸控面板1的結構分解展開圖，而圖1B則顯示觸控面板1的剖面圖。在本實施例中，觸控面板1由下而上依序包含第一絕緣基板11、第一導電膜12、絕緣層13、第二導電膜14及第二絕緣基板15。在本說明書中，”上”、”下”僅指相對的方位，在本實施例中，”上”係指靠近觸控面板之觸碰表面的方向，而”下”則指遠離觸控面板之觸碰表面的方向。第二導電膜14較第一導電膜12靠近觸控面板之觸碰表面。

本實施例的第一絕緣基板11係作為下基板，第二絕緣基板15作為上基板，絕緣層13則設於第一絕緣基板11和第二絕緣基板15之間。此外，第一導電膜12設於第一絕緣基板11和絕緣層13之間，而第二導電膜14設於絕緣層13和第二絕緣基板15之間。然而，根據各種功能的需求，上述各層之間還可插入額外的其他層。

於第一導電膜12之周邊上，沿第一方向例如X軸方向或橫軸方向，配置有多個第一電訊號接觸墊120。於第二導電膜14之周邊上，沿第二方向例如Y軸方向或縱軸方向，配置有多個第二電訊號接觸墊140。本實施例中的第一方向係選擇性地垂直於第二方向，但於其他態樣中，第一方向並不限於與第二方向垂直。

第一絕緣基板11或第二絕緣基板15的材質可選擇性地為下列材質之一或其部分的組合：聚對苯二甲酸乙二酯(Poly-Ethylene-Terephthalate，PET)、聚碳酸酯(Poly Carbon，PC)、聚甲基丙烯酸甲酯(Poly-Methyl-Meth-Acrylate，PMMA)、聚亞醯胺((Poly-Imide，PI)、聚乙烯(Poly-Ethylene，PE)。絕緣層13的材質可以但不限定為玻璃或高分子材。第一電訊號接觸墊120、第二電訊號接觸墊140的材質可以為導體，例如金屬。第一導電膜12和第二導電膜14一般來說係為具電阻抗異向性之導電膜，例如奈米碳管或稱為碳奈米管(Carbon Nano Tube，CNT)膜或者經蝕刻或雷射切割處理之CNT膜。在CNT膜經過雷射切割處理的情況下，CNT膜上將有複數雷射切割線，這樣的處理並不會影響CNT膜原先就具有的電阻抗異向性。在本實施例中，第一導電膜12及第二導電膜14係採未經蝕刻或雷射切割處理之CNT膜，其製造係首先於石英或晶圓或其他材質之基板上長出奈米碳管，例如使用化學氣相沈積(Chemical Vapor Deposition，CVD)方法；接著，以拉伸技術將一根根的奈米碳管逐一拉出而形成。這些奈米碳管藉由凡得瓦(Van Der Waals)力而得以前後端相連，形成具一定方向性且大致平行排列的導電細長結構。所形成的奈米碳管膜會在拉伸的方向具最小的電阻抗，而在垂直於拉伸方向具最大的電阻抗，因而具備電阻抗異向性。

圖1C顯示觸控面板1在一觸碰點處所形成的電容，其中第一導電膜12和第二導電膜14之間形成第一電容C1，而第二導電膜14和觸控筆或手指16之間形成第二電容C2。當手指16觸碰不同位置時，所形成的第二電容C2值及第一電容C1值會有所不同。因而，觸控面板1的結構形成一種電容式觸控面板。

圖2A顯示本發明第一實施例的觸控面板之觸碰點定位系統2A，其中，第一導電膜12沿第二方向例如Y軸方向或縱軸方向之電阻抗相對於其他方向上的電阻抗為最小；第二導電膜14沿第一方向例如X軸方向或橫軸方向之電阻抗相對於其他方向上的電阻抗為最小。各個第一電訊號接觸墊120分別以導線連接至一電訊號輸入電路或驅動(Driving)電路17，其逐一或同時輸入同樣的脈衝波形或其他波形之電訊號至各個第一電訊號接觸墊120。各個第二電訊號接觸墊140分別以導線連接至一電訊號讀取電路或感測(Sensing)電路18，其用以讀取各個第二電訊號接觸墊140的感應電訊號。換句話說，第一電訊號接觸墊120在此係作為驅動電訊號接觸墊，第二電訊號接觸墊140在此係作為感測電訊號接觸墊。驅動電路17及感測電路18係由一控制器19所控制。

圖2B顯示圖2A中第一導電膜12和第二導電膜14的合併示意圖。於圖2A及圖2B的示意圖中，顯示了十個第一電訊號接觸墊120，其編號分別為3、8、13、18、23、28、33、38、43及48，且顯示了十三個第二電訊號接觸墊140，其編號分別為3、8、13、18、23、28、33、38、43、48、53、58及63。藉由圖2A及圖2B所示之觸控面板之觸碰點定位系統2A，當觸控筆或手指16觸碰到觸控面板1時，所產生之第一電容C1值及第二電容C2值，將會造成所有第二電訊號接觸墊140之感測電訊號具有特定的特徵，因而可藉此判斷觸控面板1之觸碰表面上觸碰點的位置座標例如X軸或橫軸之座標及Y軸或縱軸之座標。

圖3A顯示本發明第二實施例的觸控面板之觸碰點定位系統2B，和圖2A相同的是，第一導電膜12沿第二方向例如Y軸方向或縱軸方向之電阻抗相對於其他方向上的電阻抗為最小；第二導電膜14沿第一方向例如X軸方向或橫軸方向之電阻抗相對於其他方向上的電阻抗為最小。和圖2A不同的是，各個第二電訊號接觸墊140分別以導線連接至一電訊號輸入電路或驅動電路17，其逐一或同時輸入同樣的脈衝波形或其他波形之電訊號至各個第二電訊號接觸墊140。各個第一電訊號接觸墊120分別以導線連接至一電訊號讀取電路或感測電路18，其用以讀取或感測各個第一電訊號接觸墊120的感應電訊號。換句話說，第二電訊號接觸墊140在此係作為驅動電訊號接觸墊，第一電訊號接觸墊120在此係作為感測電訊號接觸墊。驅動電路17及感測電路18係由一控制器19所控制。

圖3B顯示圖3A中第一導電膜12和第二導電膜14的合併示意圖。於圖3A或圖3B的示意圖中，顯示了十個第一電訊號接觸墊120，其編號分別為3、8、13、18、23、28、33、38、43及48，且顯示了十三個第二電訊號接觸墊140，其編號分別為3、8、13、18、23、28、33、38、43、48、53、58及63。藉由圖3A及圖3B所示之觸控面板之觸碰點定位系統2B，當觸控筆或手指16觸碰到觸控面板1時，所產生之第一電容C1值及第二電容C2值，將會造成所有第一電訊號接觸墊120之感測電訊號具有特定的特徵，因而可藉此判斷觸控面板1之觸碰表面上觸碰點的位置座標例如X軸或橫軸之座標及Y軸或縱軸之座標。

圖4A顯示本發明一實施例的觸控面板之一觸碰點之定位方法。首先，於步驟31，自驅動電路17逐一或同時輸入同樣的脈衝波形或其他波形之電訊號至各個驅動電訊號接觸墊，其可以是圖2B的第一電訊號接觸墊120或圖3B的第二電訊號接觸墊140。接著，於步驟32，透過感測電路18讀取感測電訊號接觸墊所感應之電訊號，感測電訊號接觸墊可以是圖2B的第二電訊號接觸墊140或圖3B的第一電訊號接觸墊120。最後，於步驟33，透過控制器19，根據所讀取之電訊號判斷觸控面板1之觸碰表面上觸碰點的位置。

就圖2B所示的觸控面板之觸碰點定位系統2A而言，第一導電膜12係作為下導電膜而第二導電膜14係作為上導電膜，亦即其係驅動下導電膜且感測上導電膜。在此情況下，其觸碰點位置判斷步驟33的具體實施作法包含了圖4B所示的步驟331A及332A。其中，步驟331A係找出讀取之所有電訊號當中，波形幅度於觸碰時相較於未觸碰時之變化為最大之一電訊號所對應之感測電訊號接觸墊位置座標例如編號第13之第二電訊號接觸墊140之位置座標，得到觸碰點於第二方向或Y軸或縱軸之座標。步驟332A係比較步驟331A中讀取自所找到之感測電訊號接觸墊例如編號第13之第二電訊號接觸墊140之電訊號於未觸碰時及觸碰時之如圖2C之波形，找出波形幅度或振幅變化最大處所對應之驅動電訊號接觸墊或第一電訊號接觸墊120之位置座標，得到觸碰點於第一方向或X軸或橫軸之位置座標。

當各個第一電訊號接觸墊120所接收之電訊號為脈衝波形時，在一觸碰點產生之情況下各個第二電訊號接觸墊140所讀取之感測電訊號具有如圖2C所示之波形，其中，由左至右的各個波形區段係分別經由編號3至48之十個第一電訊號接觸墊120所輸入之脈衝訊號所造成之結果。另外，經由最靠近第二電訊號接觸墊140之編號為48之第一電訊號接觸墊120所輸入之脈衝訊號所造成之感應電訊號的波形幅度或振幅為最大。圖2D顯示在觸控面板上尚未有觸碰點時，對應於一特定驅動電訊號接觸墊或第一電訊號接觸墊120所輸入之脈衝訊號，某一感測電訊號接觸墊或第二電訊號接觸墊140所讀取之電訊號之波形20A的放大圖。圖2E顯示在觸控面板上有一觸碰點時，基於該特定驅動電訊號接觸墊或第一電訊號接觸墊120所輸入之脈衝訊號，在對應該觸碰點之感測電訊號接觸墊或第二電訊號接觸墊140例如編號為13之第二電訊號接觸墊所讀取之電訊號之波形21A的放大圖。

顯然地，當觸控筆或手指觸碰到觸控面板而產生如圖2B所示位置之觸碰點時，則如圖2E所示，對應於觸碰點之編號為13之感測電訊號接觸墊或第二電訊號接觸墊140所讀取之電訊號之波形21A相較於未觸碰時同一接觸墊所讀取之電訊號之波形20A會有最大變化。藉此，根據步驟331A即可判斷得知觸碰點於第二方向或Y軸或縱軸之位置座標。另外，根據步驟332A，即可判斷得知觸碰點於第一方向或X軸或橫軸之位置座標。

就圖3B所示的觸控面板之觸碰點定位系統2B而言，第一導電膜12係作為下導電膜而第二導電膜14係作為上導電膜，亦即其係驅動上導電膜且感測下導電膜。在此情況下，其觸碰點位置座標判斷步驟33的具體實施作法包含圖4C的步驟331B及332B所示。其中，步驟331B係找出讀取之一電訊號當中，波形幅度為最小處所對應之驅動電訊號接觸墊或第二電訊號接觸墊140之位置座標，得到觸碰點於第二方向或Y軸或縱軸之位置座標。步驟332B係用以決定觸碰點位置之第一方向或X軸或橫軸之座標。

當各個驅動電訊號接觸墊或第二電訊號接觸墊140所接收之電訊號為脈衝波形時，在一觸碰點產生之情況下各個感測電訊號接觸墊或第一電訊號接觸墊120所讀取之電訊號的波形係如圖3C所示，其中，由左至右的各個波形區段係分別經由編號3至63的十三個第二電訊號接觸墊140所輸入之脈衝訊號所造成之結果。另外，經由最靠近感測電訊號接觸墊或第一電訊號接觸墊120之編號為63之驅動電訊號接觸墊或第二電訊號接觸墊140所輸入之脈衝訊號所造成的感應電訊號的波形幅度或振幅為最大。圖3D顯示觸控面板上尚未有觸碰點時，對應於一特定驅動電訊號接觸墊或第二電訊號接觸墊140所輸入之脈衝訊號，某一感測電訊號接觸墊或第一電訊號接觸墊120所讀取之電訊號之波形20B的放大圖。圖3E顯示在觸控面板上有一觸碰點時，對應於該特定驅動電訊號接觸墊或第二電訊號接觸墊140所輸入之脈衝訊號，對應於該觸碰點之感測電訊號接觸墊或第一電訊號接觸墊120例如編號為13之第一電訊號接觸墊所讀取之電訊號之波形21B的放大圖。

顯然地，當觸控筆或手指觸碰到觸控面板而產生如圖3B所示位置之觸碰點時，則如圖3E所示，對應於觸碰點之編號為13之第一電訊號接觸墊120所讀取之電訊號之波形21B相較於同一電訊號接觸墊120所讀取之電訊號之波形20B在波形上會有明顯變化。惟，此處觸碰時之波形21B相較於未觸碰之波形20B的變化易受RC延遲之影響而反應不精確，因而不能夠僅以此作為觸碰點位置在第一方向或X軸或橫軸之座標的判斷參考。然而，如圖3C所示，就各個感測電訊號接觸墊或第一電訊號接觸墊120之讀取電訊號來看，經由編號為13之驅動電訊號接觸墊或第二電訊號接觸墊140所輸入之脈衝訊號所造成之波形的幅度最小，因而可據以決定第二方向或Y軸或縱軸之座標。

因而，根據步驟331B，找出讀取之一電訊號當中，如圖3C之波形之波形幅度為最小處所對應之驅動電訊號接觸墊位置座標，得到觸碰點於第二方向或Y軸或縱軸之位置座標。至於觸碰點於第一方向或X軸或橫軸座標之判斷，則是根據步驟332B，其係比較讀取之所有電訊號中對應於就步驟332B中所找到之驅動電訊號接觸墊之波形，找出波形在未觸碰時及觸碰時之波幅變化為最大之電訊號所對應之感測電訊號接觸墊例如編號13之第一電訊號接觸墊120之位置座標，得到觸碰點於第一方向或X軸或橫軸之位置座標。

然而，於上述步驟332B中，相鄰之感測電訊號接觸墊或第一電訊號接觸墊120之讀取電訊號基於同一個驅動電訊號接觸墊例如編號為13之第二電訊號接觸墊140所輸入之脈衝訊號所造成的波形在未觸碰及觸碰時的波幅變化近似，因此容易造成第一方向或X軸或橫軸座標的誤判斷。為此，圖4D顯示座標判斷步驟33的另一實施例作法。於此實施例中，第二方向或Y軸或縱軸座標的判斷步驟331C同於步驟331B。基於上述同一例子，第二方向或Y軸或縱軸之座標為編號13之第二電訊號接觸墊140的所在位置的座標。接下來，於步驟332C中，對應於已得出之第二方向或Y軸或縱軸座標之第一方向或X軸或橫軸之方向上選取數個觸碰點，如圖5A所示，這些觸碰點之X軸座標分別為編號為3、8、13、28及43之第一電訊號接觸墊120之座標。之後，於步驟333C中，計算並儲存分別對應於這些觸碰點之感測電訊號接觸墊或第一電訊號接觸墊120之感測電訊號於未觸碰及觸碰時的電訊號差值，電訊號差值之單位例如是毫伏特(mv)。其後，於步驟334C中，根據步驟333C中所儲存之電訊號差值及位置未知之觸碰點的電訊號差值求得位置未知之觸碰點之X軸座標。

下列表一顯示一個實際數值例子，其中第一方向或X軸或橫軸之座標及第二方向或Y軸或縱軸之座標係分別以感測電訊號接觸墊或第一電訊號接觸墊120及驅動電訊號接觸墊或第二電訊號接觸墊140的編號表示。

表一的資料可畫出如圖5B的曲線圖。曲線圖中的縱軸表示感測電訊號接觸墊所讀取之電訊號於未觸碰及觸碰時之電訊號差值，而橫軸則表示第一方向或X軸或橫軸之座標。表一或圖5B之資料可以事先儲存起來，或者於使用觸控面板前由使用者觸碰產生。當步驟331C得到第二方向或Y軸或縱軸之座標後，即可由步驟334C，根據電訊號差值而從表一或圖5B查詢得到對應的第一方向或X軸或橫軸之座標。

以上所述僅為本發明之較佳實施例而已，並非用以限定本發明之申請專利範圍；凡其它未脫離發明所揭示之精神下所完成之等效改變或修飾，均應包含在下述之申請專利範圍內。

1．．．觸控面板

11．．．第一絕緣基板

12．．．第一導電膜

120．．．第一電訊號接觸墊

13．．．絕緣層

14．．．第二導電膜

140．．．第二電訊號接觸墊

15．．．第二絕緣基板

16．．．手指

17．．．驅動電路

18．．．感測電路

19．．．控制器

20A．．．未觸碰時的波形

21A．．．觸碰時的波形

20B．．．未觸碰時的波形

21B．．．觸碰時的波形

2A．．．觸控面板之觸碰點定位系統

2B．．．觸控面板之觸碰點定位系統

31-33．．．步驟

331A-332A．．．步驟33的內含實施步驟

331B-332B．．．步驟33的內含實施步驟

331C-334C．．．步驟33的內含實施步驟

C1．．．第一電容

C2．．．第二電容

圖1A顯示本發明一實施例之觸控面板的結構分解展開圖。

圖1B顯示觸控面板的剖面圖。

圖1C顯示觸控面板在一觸碰點處所形成的電容。

圖2A顯示本發明第一實施例的觸控面板之觸碰點定位系統。

圖2B顯示圖2A中第一導電膜和第二導電膜的合併示意圖。

圖2C顯示圖2B之任一感測電訊號接觸墊在一觸碰點產生時所感測之電訊號的波形圖。

圖2D顯示在圖2B之觸控面板上尚未有觸碰點時，對應於一特定驅動電訊號接觸墊所輸入之脈衝電訊號，某一感測電訊號接觸墊所讀取之電訊號之波形的放大圖。

圖2E顯示在圖2B之觸控面板上有一觸碰點時，對應於一特定驅動電訊號接觸墊所輸入之脈衝電訊號，某一感測電訊號接觸墊於未觸碰及觸碰時所讀取之電訊號之波形比較放大圖。

圖3A顯示本發明第二實施例的觸控面板之觸碰點定位系統。

圖3B顯示圖3A中第一導電膜和第二導電膜的合併示意圖。

圖3C顯示圖3B之任一感測電訊號接觸墊在一觸碰點產生時所感測之電訊號的波形圖。

圖3D顯示在圖3B之觸控面板上尚未有觸碰點時，對應於一特定驅動電訊號接觸墊所輸入脈衝電訊號，某一感測電訊號接觸墊所讀取之電訊號之波形的放大圖。

圖3E顯示在圖3B之觸控面板上有一觸碰點時，對應於一特定驅動電訊號接觸墊所輸入之脈衝電訊號，某一感測電訊號接觸墊於未觸碰及觸碰時所讀取之電訊號之波形比較放大圖。

圖4A顯示本發明一實施例的觸控面板之觸碰點定位方法。

圖4B顯示依圖2B之系統之觸碰點位置座標判斷步驟的實施流程。

圖4C顯示依圖3B之系統之觸碰點位置座標判斷步驟的實施流程。

圖4D顯示依圖3B之系統之觸碰點位置座標判斷步驟的另一實施流程。

圖5A顯示對應於編號為13之驅動電訊號接觸墊之X軸方向上所選取之數個觸碰點。

圖5B顯示對應於編號為13之驅動電訊號接觸墊之X軸方向上所選取之數個觸碰點之電訊號差值資料所畫出的曲線圖。

1．．．觸控面板

11．．．第一絕緣基板

12．．．第一導電膜

120．．．第一電訊號接觸墊

13．．．絕緣層

14．．．第二導電膜

140．．．第二電訊號接觸墊

15．．．第二絕緣基板

Claims (19)

1. 一種觸控面板，包含：一第一絕緣基板；一第二絕緣基板；一絕緣層，設於該第一絕緣基板和該第二絕緣基板之間；一第一導電膜，具電阻抗異向性，設於該第一絕緣基板和該絕緣層之間；一第二導電膜，具電阻抗異向性，設於該絕緣層和該第二絕緣基板之間；複數第一電訊號接觸墊，配置於該第一導電膜周邊之一第一方向上；及複數第二電訊號接觸墊，配置於該第二導電膜周邊之一第二方向上；其中該第一導電膜於該第二方向之電阻抗小於其他方向之電阻抗；該第二導電膜於該第一方向之電阻抗小於其他方向之電阻抗。
2. 如申請專利範圍第1項所述之觸控面板，其中該第一導電膜及該第二導電膜其中之一包含一奈米碳管(CNT)膜。
3. 如申請專利範圍第2項所述之觸控面板，其中該CNT膜上具複數雷射切割線。
4. 如申請專利範圍第1項所述之觸控面板，其中該第一絕緣基板及該第二絕緣基板其中之一之材質為下列之一或部分之組合：聚對苯二甲酸乙二酯(PET)、聚碳酸酯(PC)、聚甲基丙烯酸甲酯(PMMA)、聚亞醯胺(PI)及聚乙烯(PE)。
5. 如申請專利範圍第1項所述之觸控面板，其中該第一方向垂直於該第二方向。
6. 如申請專利範圍第1項所述之觸控面板，更包含：一驅動電路，其輸入電訊號至該等第一電訊號接觸墊；及一感測電路，其讀取該等第二電訊號接觸墊所感應之電訊號。
7. 如申請專利範圍第6項所述之觸控面板，更包含一控制器，其控制該驅動電路及該感測電路，並根據該感測電路所讀取之電訊號判斷該觸控面板上一觸碰點的位置。
8. 如申請專利範圍第1項所述之觸控面板，更包含：一驅動電路，其輸入電訊號至該等第二電訊號接觸墊；及一感測電路，其讀取該等第一電訊號接觸墊所感應之電訊號。
9. 如申請專利範圍第8項所述之觸控面板，更包含一控制器，其控制該驅動電路及該感測電路，並根據該感測電路所讀取之電訊號判斷該觸控面板上一觸碰點的位置。
10. 一種觸控面板之觸碰點定位方法，該觸控面板包含一具電阻抗異向性之第一導電膜、一具電阻抗異向性之第二導電膜、一絕緣層位於該第一導電膜和該第二導電膜之間、複數第一電訊號接觸墊配置於該第一導電膜周邊之一第一方向上、複數第二電訊號接觸墊配置於該第二導電膜周邊之一第二方向上，該第二導電膜較該第一導電膜接近該觸控面板的觸控表面，該定位方法包含下列步驟：輸入電訊號至該等第一電訊號接觸墊；讀取該等第二電訊號接觸墊所感應之電訊號；及根據讀取之該等電訊號，判斷該觸碰表面上一觸碰點的位置。
11. 如申請專利範圍第10項所述觸控面板之觸碰點定位方法，其中該第一導電膜及該第二導電膜其中之一包含一CNT膜。
12. 如申請專利範圍第10項所述觸控面板之觸碰點定位方法，其中該第一方向垂直於該第二方向。
13. 如申請專利範圍第10項所述觸控面板之觸碰點定位方法，其中根據讀取之該等電訊號，判斷該觸碰表面上該觸碰點之位置的步驟包含：找出讀取之所有電訊號當中波形幅度於觸碰時相較於未觸碰時之變化為最大之一電訊號所對應之第二電訊號接觸墊之位置座標；及比較讀取自該第二電訊號接觸墊之電訊號於未觸碰時及觸碰時之波形，找出波形幅度變化最大處所對應之第一電訊號接觸墊之位置座標。
14. 一種觸控面板之觸碰點定位方法，該觸控面板包含一具電阻抗異向性之第一導電膜、一具電阻抗異向性之第二導電膜、一絕緣層位於該第一導電膜和該第二導電膜之間、複數第一電訊號接觸墊配置於該第一導電膜周邊之一第一方向上、複數第二電訊號接觸墊配置於該第二導電膜周邊之一第二方向上，該第二導電膜較該第一導電膜接近該觸控面板的觸控表面，其中該定位方法包含下列步驟：輸入電訊號至該等第二電訊號接觸墊；讀取該等第一電訊號接觸墊所感應之電訊號；及根據讀取之該等電訊號，判斷該觸碰表面上一觸碰點的位置。
15. 如申請專利範圍第14項所述觸控面板之觸碰點定位方法，其中該第一導電膜及該第二導電膜其中之一包含一CNT膜。
16. 如申請專利範圍第15項所述觸控面板之觸碰點定位方法，其中該CNT膜上具有複數雷射切割線。
17. 如申請專利範圍第14項所述觸控面板之觸碰點定位方法，其中該第一方向垂直於該第二方向。
18. 如申請專利範圍第14項所述觸控面板之觸碰點定位方法，其中根據讀取之該等電訊號，判斷該觸碰表面上該觸碰點的位置步驟包含：找出讀取之一電訊號當中波形幅度為最小處所對應之第二電訊號接觸墊之位置座標；及比較讀取之所有電訊號之對應於該第二電訊號接觸墊的波形，找出波形在未觸碰時及觸碰時之波幅變化為最大之電訊號所對應之第一電訊號接觸墊之位置座標。
19. 如申請專利範圍第14項所述觸控面板之觸碰點定位方法，其中根據讀取之該等電訊號，判斷該觸碰表面上該觸碰點的位置之步驟包含：找出讀取之一電訊號當中波形幅度為最小處所對應之第二電訊號接觸墊之位置座標；計算及儲存分別對應於該第二電訊號接觸墊之位置座標之該第一方向上所選取之複數觸碰點之讀取電訊號於未觸碰時及觸碰時之電訊號差值；及根據所儲存之電訊號差值判斷該觸碰點於該第一方向上的位置座標。